JPH06282385A

JPH06282385A - 記憶制御装置および記憶制御装置を備える情報処理システム

Info

Publication number: JPH06282385A
Application number: JP5067017A
Authority: JP
Inventors: Takashi Kaga; 隆志加賀; Takao Sato; 孝夫佐藤; Akira Yamamoto; 山本　　彰; Hiroharu Arai; 弘治荒井
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1993-03-25
Filing date: 1993-03-25
Publication date: 1994-10-07

Abstract

(57)【要約】（修正有）【目的】記憶制御装置内のパスを多重に備え、複数の記
憶装置を並列制御し、信頼性の向上を図る。【構成】情報を分割して誤り訂正用の情報を生成し、分
割した情報とともに転送路を介して複数の記憶手段１０
３−１〜１０３−ｎに書き込む制御、並びに読み出し時
に前記分割した情報及び誤り訂正用の情報に基づいて情
報の誤り検出を行い、誤りがあった場合には情報を回復
する記憶制御装置であって、複数の記憶手段との間で第
１の転送路群を介して情報の転送を行う第１の転送手段
１０２５−１、及び第２の転送路群を介して情報の転送
を行う第２の転送手段１０２５−２とを備え、双方の転
送路は、転送路が故障していることを検出する検出手
段、故障している転送路を使用しないように閉塞状態に
する閉塞手段、及び故障している転送路に接続されてい
る記憶手段に接続される他の転送路群の転送路を使用し
ないように論理的に閉塞状態にする論理閉塞手段を備え
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ディスクアレイを構成
する記憶装置を、複数のパスで制御する記憶制御装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】記憶制御装置の性能と信頼性を向上する
技術として、エー・シー・エムシグモッド８８（１
９８８年）の第１０９頁から第１１６頁の論文「アケ
イスフォ− リダンダントアレイズオブインエク
スペンシブディスクス(ACase for Redundant Arrays
of Inexpensiv Disks(RAID)」(David A.Patterson,Gart
h Gibson and Randy H.Katz)においてＲＡＩＤ(Redunda
nt Arrays of Inexpensive Disks)と呼ばれる技術が紹
介されている。

【０００３】上記ＲＡＩＤの特徴は、複数の記憶装置を
並列制御することにより応答性能またはスループットを
従来の記憶制御装置より高めることにある。また、記憶
装置毎にデータを選び、それらデータに対する誤り訂正
符号（以下ＥＣＣ）に代表される冗長データを格納する
記憶装置を設ける。このため、故障した記憶装置の個数
が冗長データで訂正可能な個数ならば、故障した記憶装
置のデータを失わない。つまり、ＲＡＩＤの他の特徴は
信頼性が優れていることにある。

【０００４】前記論文では、ＲＡＩＤは５つのグループ
に分類されている。その中の２番目（以下、ＲＡＤＩ２
という）と、３番目（以下、ＲＡＩＤ３という）とは、
データレコードを分割して複数の記憶装置と一斉にデー
タ転送をおこなうので応答性能に優れている。ＲＡＩＤ
２とＲＡＩＤ３との違いは、ＲＡＩＤ２がＥＣＣにハミ
ング符号を使うのに対し、ＲＡＩＤ３はパリティを用い
ることにある。

【０００５】一方、記憶制御装置の信頼性を向上するこ
とを目的に、記憶制御装置内の構成要素を多重に備える
ことが従来とられている。例えば、アイビーエムシス
テムズジャーナル、Ｖｏｌ．２８、Ｎｏ．２（１９８
９年）第１９６頁から第２２６頁(IBM SYSTEMS JOURNA
L,VOL.28,No.2,1989)において、１個のディスクボリュ
ームに対し２個のパスでデータ転送できる３８８０モデ
ル３と、１個のディスクボリュームに対し４個のパスで
データ転送できる３９９０モデル２とが紹介されてい
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】制御装置内のパスを多
重に持つ上記技術を、上記ＲＡＩＤ２またはＲＡＩＤ３
に適用する場合について考える。前記２つの技術は、共
に記憶制御装置の信頼性を向上させるので、個々の技術
のみを用いるよりさらに信頼性の向上が期待できる。

【０００７】ここで、データレコードを分割してＥＣＣ
を付加した結果の複数のデータを格納する記憶装置の集
合体をＥＣＣグループ（以下、ＥＣＣ−Ｇｒ）と呼ぶ。
また、ＥＣＣ−Ｇｒの個々の記憶装置に接続されている
データ転送路（以下、パス）の集合体をデータ転送路グ
ループ（以下、パスＧｒ）と呼ぶ。パスＧｒが複数ある
時、個々の記憶装置に対するパスの故障が独立に発生し
うるために、パスＧｒ毎に転送不可能な記憶装置が異な
る場合がある。転送不可能な記憶装置が存在するパスＧ
ｒで書き込みをすると、古いデータが残る記憶装置がで
きる。この時、この記憶装置と転送可能なパスＧｒでＥ
ＣＣ−Ｇｒからの読み出しをおこなうと、この記憶装置
の古いデータを読み出してしまう。記憶制御装置は、そ
のデータが古いということを認識できないので、古いデ
ータを含んだデータレコードを正しいものとしてＣＰＵ
に転送してしまう。また、読み出したデータを必ずＥＣ
Ｃでチェックするとしても、記憶装置としては故障して
いないので、ＥＣＣがパリティであるＲＡＩＤ３では誤
り位置が分からず訂正ができない。つまり、書き込みに
使用したパスＧｒと転送不可能な記憶装置が一致するパ
スＧｒで読み出さないとデータの訂正ができない。

【０００８】以上のように、あるパスＧｒが使用不可能
になると、そのパスＧｒを使用して書き込んだデータレ
コードを正しく読み出せなくなる。つまり、従来のよう
に記憶制御装置の信頼性の向上を目的としてパスＧｒを
複数個設けても従来通りの効果を望めない。

【０００９】例えば、図２を参照して課題を詳細に説明
する。図２において、複数の磁気ディスク装置１０３−
１〜１０３−ｎと記憶制御装置１０２５−１および１０
２５−２とを備えている。記憶制御装置と磁気ディスク
装置間は、書き込みに使用するパス１０５−１〜１０５
−ｎのパスＧｒ１０２６−１と、読み込みに使用するパ
ス１０６−１〜１０６−ｎのパスＧｒ１０２６−２とが
ある。図２に示すような構成において、パス１０５−１
が故障している状態でパスＧｒ１０２６−１でデータレ
コードを書き込んだ場合、磁気ディスク装置１０３−１
には書き込みが行われず、古いデータが残る。この状態
でパスＧｒ１０２６−２でデータレコードを読み出す
と、磁気ディスク装置１０３−１から古いデータを読み
出してしまう。したがって、不正なデータレコードをＣ
ＰＵ１０１に転送してしまう。また、パスＧｒ１０２６
−１が使用不可能になると、パスＧｒ１０２６−２を構
成するパスが全く故障していなくても、パスＧｒ１０２
６−１で書き込んだデータレコードを正しく読み出せな
くなる。

【００１０】さらに、前記論文「アケイスフォ−
リダンダントアレイズオブインエクスペンシブ
ディスクス」には複数のパスＧｒを使用してＲＡＩＤ２
およびＲＡＩＤ３を制御する場合のことは言及されてい
ないので、どのように制御を行うかは考慮されていな
い。

【００１１】そこで、本発明の目的は、記憶制御装置内
のパスを多重に備え、複数の記憶装置を並列制御し、信
頼性の向上を図ることができる記憶制御装置を提供す
る。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、情報を分割し、該情報に基づいて誤り訂
正用の情報を生成し、前記分割した情報と該誤り訂正用
の情報とを転送路を介して複数の記憶手段に書き込む制
御と、該複数の記憶手段からの読み出しの制御とを行
い、読み出し時に前記分割した情報と該誤り訂正用の情
報とに基づいて情報の誤り検出を行い、誤りがあった場
合には情報を回復する記憶制御装置であって、前記複数
の記憶手段との間で第１の転送路群を介して情報の転送
を行う第１の転送手段と、前記複数の記憶手段との間で
第２の転送路群を介して情報の転送を行う第２の転送手
段とを備え、該第１の転送手段および第２の転送手段の
各々は、前記転送路が故障していることを検出する検出
手段と、該検出手段で検出した故障している転送路を使
用しないように閉塞状態にする閉塞手段と、該検出手段
で検出した故障している前記転送路に接続されている記
憶手段に接続されている、他の転送路群の転送路を使用
しないように論理的に閉塞状態にする論理閉塞手段とを
備える。この場合、前記論理的閉塞状態を使用可能な状
態にする閉塞解除手段をさらに備えるようにしてもよ
い。

【００１３】また、記憶制御装置は、前記情報の転送時
に、前記検出手段で検出した転送路に接続されている記
憶手段に接続されている転送手段を読み出し専用とする
ことができる。

【００１４】さらに、全ての転送路のうち、前記記憶手
段に対応する使用可能な転送路を選択して転送路群と
し、該選択された転送路群を介して情報を転送する選択
転送手段とを備えることができる。また、前記第１の転
送手段と第２の転送手段と前記選択転送手段とのうち、
閉塞状態にある前記転送路の数がより少ないものを利用
して転送することができる。この場合において、記憶制
御装置は、情報の転送時に、前記検出手段で検出した転
送路に接続されている記憶手段に接続されている前記第
１の転送手段または第２の転送手段を読み出し専用とす
ることができる。また、前記転送路が閉塞状態か否かの
状態を示す情報を格納する格納手段を備え、転送時に該
格納手段を参照して転送の制御をすることができる。

【００１５】また、上記記憶制御装置を、情報の処理を
するホスト計算機と、情報を記憶する複数の記憶装置と
を備える情報処理システムに適用してもよい。

【００１６】

【作用】本発明の記憶制御装置は、情報を分割し、該情
報に基づいて誤り訂正用の情報を生成し、前記分割した
情報と該誤り訂正用の情報（ＥＣＣ）とを転送路（パ
ス）を介して記憶手段に書き込む制御と、該複数の記憶
手段からの読み出しの制御とを行い、読み出し時に前記
分割した情報と該誤り訂正用の情報とに基づいてデータ
の誤り検出を行い、誤りがあった場合にはデータを回復
する。

【００１７】また、記憶制御装置は、前記複数の記憶手
段との間で第１の転送路群（パスＧｒ１）を介して情報
の転送を行う第１の転送手段と、前記複数の記憶手段と
の間で第２の転送路群を介して情報の転送を行う第２の
転送手段（パスＧｒ２）とを備える。該第１の転送手段
および第２の転送手段の各々の検出手段は、前記転送路
が故障していることを検出する。閉塞手段は、該検出手
段で検出した故障している転送路を使用しないように閉
塞状態にする。論理閉塞手段は、該検出手段で検出した
故障している前記転送路に接続されている記憶手段に接
続されている、他の転送路群の転送路を使用しないよう
に論理的に閉塞状態にする。すなわち、故障したパスに
接続されている記憶手段に対しては、読み書き込みをし
ないように、該記憶手段に接続されているパスを擬似的
に故障とする。このようにすると、古いデータを読んで
しまう事を防ぐことができる。

【００１８】また、記憶制御装置は、情報の転送時に、
前記検出手段で検出した転送路に接続されている記憶手
段に接続されている第１または第２の転送手段を読み出
し専用とするようにしてもよい。これにより、故障をし
たパスを含んでいる第１または第２の転送手段におい
て、記憶手段に情報を書き込むことがない。また、書き
込み時に使用したパスＧｒが使用不可能になっても、他
のパスＧｒを使用してデータレコードとしての読み出し
ができる。

【００１９】また、前記閉塞状態を使用可能な状態にす
る閉塞解除手段をさらに備える場合には、例えば、前記
閉塞手段により閉塞状態にした後で、故障したパスを含
むパスＧｒが読み出し専用にしたときに、閉塞解除手段
により閉塞を解除することができる。

【００２０】また、選択転送手段を備える場合には、選
択転送手段は、全ての転送路のうち、前記複数の記憶手
段に対応する使用可能な転送路を選択して情報を転送す
る。前記第１の転送手段および第２の転送手段において
パスの故障が多い場合などには、選択転送手段により全
てのパスの中から使用可能なパスのみを選択して転送で
きる。

【００２１】また、前記第１の転送手段と第２の転送手
段と前記選択転送手段とのうち（これらを組合せパスＧ
ｒという）、閉塞状態である転送路の数がより少ないも
のを利用して転送する。この場合には、組合せパスＧｒ
のうち、閉塞状態がより少ないものを利用して読み書き
を行うことができる。また、読み出し専用や単純閉塞の
機能を併せて備えてもよい。

【００２２】以上より、記憶制御装置の信頼性が向上す
る。

【００２３】

【実施例】図１は、本発明の一実施例に基づく記憶制御
装置を示す図である。図１において、本発明の記憶制御
装置１０２は、チャネルアダプタ（以下ＣＨＡ）１０２
１と、データを一時的に保存できるバッファ（以下ＢＵ
Ｆ）１０２２と、ｎ（２≦ｎ）個の磁気ディスク装置と
一斉にデータ転送をおこなえる、第１および第２の転送
手段のデバイスアダプタ（以下ＤＶＡ）１０２５−１お
よび１０２５−２と、ｎ個の磁気ディスク装置１０３−
１、１０３−２、・・・、１０３−ｎと、ＤＶＡ１０２
５−１とｎ個の磁気ディスク装置とを接続するｎ個のパ
ス１０５−１、１０５−２、・・・、１０５−ｎと、Ｄ
ＶＡ１０２５−２とｎ個の磁気ディスク装置とを接続す
るｎ個のパス１０６−１、１０６−２、・・・、１０６
−ｎと、制御部のマイクロプロセッサ（図中μＰで表
記）１０２３と、メモリ１０２４とを備える。

【００２４】ここで、ＣＨＡ１０２１とＢＵＦ１０２２
とは１個のパスで接続している。また、ＢＵＦ１０２２
と各ＤＶＡ１０２５−１および１０２５−２とは、ｎ個
のパスで接続している。また、マイクロプロセッサ１０
２３は、メモリ１０２４に格納されているプログラムや
各種制御用のデータに従い、本実施例における記憶制御
装置の制御をおこなう。ＣＨＡ１０２１は、ＣＰＵ１０
１とマイクロプロセッサ１０２３間のデータ転送をす
る。そして、マイクロプロセッサ１０２３の指示によっ
て、ＣＨＡ１０２１はＣＰＵ１０１とＢＵＦ１０２２間
のデータの転送をする。また、ＤＶＡ１０２５−１およ
び１０２５−２はマイクロプロセッサ１０２３の指示に
よってＢＵＦ１０２２とｎ個の磁気ディスク装置１０３
−１、１０３−２、・・・、１０３−ｎ間のデータ転送
を一斉におこなう。また、ＤＶＡ１０２５−１および１
０２５−２は、ＢＵＦ１０２２と個々の磁気ディスク装
置間のデータ転送の失敗を検出し、マイクロプロセッサ
１０２３にデータ転送の失敗があったことを報告する。
また、ＤＶＡ１０２５−１および１０２５−２は、４台
以上の磁気ディスク装置が読み出し可能ならば、１台が
故障していても故障したディスク装置に格納しているデ
ータを回復することができる。また、磁気ディスク装置
は、データを格納するディスク装置と、誤り訂正符号を
記憶するディスク装置とを備える。また、ＤＶＡ１０２
５−１とｎ個の磁気ディスク装置とを接続するｎ個のパ
ス１０５−１、１０５−２、・・・、１０５−ｎをパス
Ｇｒ１とする。ＤＶＡ１０２５−２とｎ個の磁気ディス
ク装置とを接続するｎ個のパス１０６−１、１０６−
２、・・・、１０６−ｎをパスＧｒ２とする。すなわ
ち、ディスク装置に接続するパスを、パスＧｒ１とパス
Ｇｒ２とにより２重化している。また、さらに、パスＧ
ｒおよびＤＶＡを設けるようにしてもよい。ここで、デ
ータレコードを分割して誤り訂正符号（ＥＣＣ）を付加
した結果の複数のデータを格納する記憶装置の集合体を
ＥＣＣグループ（以下、ＥＣＣ−Ｇｒ）と呼ぶ。ＥＣＣ
グループの磁気ディスク装置のうち、２個が誤り訂正符
号（ＥＣＣ）を記憶するものであり、他の（ｎ−２）個
の磁気ディスク装置はデータを記憶する。そして、この
ＥＣＣは、ｎ個の磁気ディスク装置の内、磁気ディスク
装置の故障によって、任意の２個までの磁気ディスク装
置から読み出しができないときに、読み出せないデータ
を生成するための符号である。

【００２５】また、上記図１に示す記憶制御装置を備え
る情報処理システムのハードウエア構成を図３２に示
す。図３２において、情報処理システムは、情報の処理
をするホスト計算機と、情報を記憶する複数の記憶装置
と、該記憶装置の読み書きの制御を行う記憶制御装置と
を備える。記憶制御装置は、前記ホスト計算機における
情報を分割し、該情報に基づいて誤り訂正用の情報を生
成し、前記分割した情報と該誤り訂正用の情報とを前記
転送路を介して前記記憶装置に対して書き込む制御を行
い、該複数の記憶手段からの読み出しの制御を行い、読
み出し時に前記分割した情報と該誤り訂正用の情報とに
基づいて情報の誤り検出を行い、誤りがあった場合には
情報を回復する制御部と、前記複数の記憶手段との間で
前記第１の転送路群を介して情報の転送を行う第１の転
送手段と、前記複数の記憶手段との間で前記第２の転送
路群を介して情報の転送を行う第２の転送手段とを有
し、該第１の転送手段および第２の転送手段の各々は、
前記転送路が故障していることを検出する検出手段と、
該検出手段で検出した故障している転送路を使用しない
ように閉塞状態にする閉塞手段と、該検出手段で検出し
た故障している転送路に接続されている記憶装置に接続
されている、他の転送路群の転送路を使用しないように
論理的に閉塞状態にする論理閉塞手段とを備え、前記記
憶制御装置は、各転送路が閉塞状態か否かの状態を示す
情報を格納する格納手段を備え、転送時に、該格納手段
を参照し、第１の転送手段および第２の転送手段に対し
て転送の制御をする。

【００２６】上記記憶制御装置において、第１の実施例
について図２６、図２７および図３１を参照して説明す
る。第１の実施例を説明するための模式図を図２６、図
２７および図３１に示す。第１の実施例では、図３１に
示すように、ディスク装置に対して読み書きを行う際
に、パスが使用不可能な状態を検出手段により検出し、
不可能な場合には、そのパスに接続しているディスク装
置に読み書きを行わないようにするために該ディスク装
置に接続している他のパスに対して論理閉塞手段により
論理閉塞を行うように制御する。このように、論理閉塞
を行うことにより全てのパスＧｒ間で入出力可能なディ
スク装置を一致させる。また、本実施例においては、図
２６および図２７に示すように、使用不可能なパスがあ
る場合に、該使用不可能なパスを含むパスＧｒを読み出
し専用とする場合について併せて説明している。

【００２７】以下に、メモリ１０２４に格納している内
容を説明した後に、全てのパスＧｒ間で入出力可能なデ
ィスク装置を一致させる場合と、一方のパスＧｒを読み
出し専用にする場合の記憶制御装置の処理動作を説明す
る。

【００２８】図３を用いてメモリ１０２４に格納される
内容を説明する。メモり１０２４は、書き込み処理用の
プログラムの領域３０１と、読み出し処理用のプログラ
ムの領域３０２と、パスＧｒ機能状態決定プログラムの
領域３０３と、パスの状態の領域３０４と、パスＧｒの
機能状態の領域３０５とに分かれている。書き込み処理
用のプログラムの領域３０１には、磁気ディスク装置に
データを書き込む際の処理用のプログラムが格納されて
いる。読み出し処理用のプログラムの領域３０２には、
磁気ディスク装置からデータを読み出す際の処理用のプ
ログラムが格納されている。書き込みおよび読み出しの
処理フローについては後述する。パスＧｒ機能状態決定
プログラムの領域３０３には、パスＧｒが書き込みおよ
び読み出しが可能か、否か、または、読み出しのみ可能
かの状態を決定するためのプログラムが格納されてい
る。パスの状態の領域３０４には、各パスごとの使用可
能か否かと、論理閉塞されているかとを示す状態を格納
する。パスＧｒの機能状態の領域３０５は、パスＧｒ機
能状態決定プログラムにより決定されてパスＧｒの機能
状態を格納する。

【００２９】パスの状態の領域３０４における各パスの
状態について、図４および表１を参照して説明する。領
域３０４は、図１におけるパス１０５−１、１０５−
２、・・・、１０５−ｎの状態をそれぞれ表す、領域４
０１−１、４０１−２、・・・、４０１−ｎと、図１に
おけるパス１０６−１、１０６−２、・・・、１０６−
ｎの状態をそれぞれ表す、領域４０２−１、４０２−
２、・・・、４０２−ｎとに分かれている。パスの状態
には、表１に示す正常、論理閉塞、故障の３状態があ
る。

【００３０】

【表１】

【００３１】表１において、正常は、そのパスがＢＵＦ
１０２２とそのパスが接続する磁気ディスク装置間のデ
ータ転送に使用可能であることを示す。論理閉塞は、そ
のパスが、物理的には正常であってＢＵＦ１０２２とそ
のパスが接続する磁気ディスク装置間のデータ転送に使
用可能だが、普段の入出力には使用不可能として扱う。
すなわち、論理的に閉塞状態にするときにこの状態に設
定する。ただし、磁気ディスク装置内のデータを回復す
るときには、書き込みにのみ使用可能である。故障は、
そのパスが、物理的な故障が原因でＢＵＦと磁気ディス
ク装置間のデータ転送に使用不可能であることを示す。
正常を示す値は２進数の１１、論理閉塞を示す値は２進
数の１０、故障を示す値は２進数の００である。２桁の
２進数の上位が１なら物理的に正常であることを示し、
０なら物理的に故障中であることを示している。２桁の
２進数の下位が１なら、制御上正常に扱うことを示し、
０なら制御上故障として扱うことを示している。

【００３２】また、パスＧｒの機能状態の領域３０５を
図５および表２を参照して説明する。

【００３３】

【表２】

【００３４】領域３０５は、パスＧｒ１０２６−１と、
１０２６−２との機能状態を表すための領域として、領
域５０１と５０２とに分かれている。パスＧｒの機能状
態には表２に示す正常、読み出し専用および閉塞の３状
態がある。表２において、正常は、そのパスＧｒが書き
込みと読み出しに使用可能であることを示す。読み出し
専用は、そのパスＧｒが読み出しにのみ使用可能である
ことを示す。閉塞は、そのパスＧｒが書き込みと読み出
しに使用不可能であることを示す。正常を示す値は２進
数の１１、読み出し専用を示す値は２進数の１０、閉塞
を示す値は２進数の００である。２桁の２進数の上位が
１なら読み出しに使用可能であることを示し、０なら読
み出しに使用不可能であることを示している。２桁の２
進数の下位が１なら書き込みに使用可能でることを示
し、０なら書き込みに使用不可能であることを示してい
る。

【００３５】次に、図８を用いてパスＧｒ機能状態決定
のフローを説明する。図８に示すフローは、前述の図３
に示すメモリ１０２４に格納されるパスＧｒ機能状態決
定プログラムのフローを示している。

【００３６】図８において、マイクロプロセッサ１０２
３は、メモリ１０２３の領域３０４を参照して故障また
は論理閉塞のパスを数える。メモリ１０２３の領域３０
４に格納されているパス状態は、ＤＶＡ１０２５−１お
よび１０２５−２によりアクセス時に故障であることが
報告され、マイクロプロセッサ１０２３によりそれ以前
に設定されている。故障または論理閉塞のパスが３個以
上あるパスＧｒは、パスＧｒ全体を閉塞にする(処理８
０１)。ここで、３個以上としたのは、ＲＡＩＤを利用
したパスでは、ＥＣＣにより任意の２個までの磁気ディ
スク装置から読み出しができないときに、読み出せない
データを生成することができるが、３個以上の場合には
データを生成できないからである。３個以上故障してい
る場合には、そのデータを復元することができないの
で、パスＧｒ全体を閉塞して利用しないようにする。処
理８０１において閉塞されるパスＧｒが生じたら（処理
８０２）、閉塞されていないパスＧｒを正常として決定
し、パスＧｒ機能状態決定処理を終了する（処理８０
３）。閉塞されているパスＧｒがなければ、パスＧｒに
閉塞がない時のパスＧｒ機能状態決定処理をおこなう
（処理８０４）。

【００３７】以下に、パスＧｒに閉塞がない時のパスＧ
ｒ機能状態決定処理のフローを図９を参照して説明す
る。図９において、マイクロプロセッサ１０２３は、メ
モリ１０２４の領域４０１−１と領域４０２−１とに格
納されているパス状態の内容が一致するか否かを調べ
る。同様に、領域４０１−２と領域４０２−２とに格納
されているパス状態の内容、・・・、領域４０１−ｎと
領域４０２−ｎとに格納されているパス状態の内容それ
ぞれが一致するかを調べる。つまり、入出力可能な磁気
ディスク装置がパスＧｒ間で完全に一致するか否かを調
べる（処理９０１）。完全に一致するのなら２個のパス
Ｇｒを共に正常にし、パスＧｒ機能状態決定処理を終了
する（処理９０２）。完全には一致しないならば、故障
のパスの個数に大小関係があるかを調べる（処理９０
３）。大小関係があれば、故障の多いパスＧｒを読み出
し専用にし、少ないパスＧｒを正常にする（処理９０
４）。大小関係がなければ、現在のパスＧｒ機能状態を
保持する（処理９０５）。次に、正常のパスＧｒにおい
て、故障しているパスに接続している磁気ディスク装置
に対して読み書きを行わないようにするために、図２７
に示すように、該ディスク装置に接続している他の正常
なパスを論理閉塞（すなわち、擬似故障）にパス状態を
設定する（処理９０６）。そして最後に、故障または論
理閉塞のパスが３個以上のパスＧｒを閉塞にする（処理
９０７）。

【００３８】以上のように、パスＧｒの機能状態の決定
処理は、記憶制御装置を初期作動させる時と、ＤＶＡが
パスの故障をマイクロプロセッサ１０２３に報告した時
にマイクロプロセッサ１０２３がおこなう。

【００３９】次に、記憶制御装置における磁気ディスク
装置へのデータの書き込み処理と読み出し処理との処理
のフローを説明する。

【００４０】まず、図６を参照して書き込み処理のフロ
ーを説明する。図６に示す書き込み処理のフローは、前
述の図３に示すメモリ１０２４に格納される書き込み処
理用のプログラムのフローを示している。

【００４１】図６において、マイクロプロセッサ１０２
３は、書き込むデータレコードをＣＨＡ１０２１からＢ
ＵＦ１０２２へ転送する（処理６０１）。次に、使用す
るパスＧｒを選択する。この処理は、メモリ１０２４の
領域３０５に記憶している全てのパスＧｒの機能状態を
参照して正常のパスＧｒを探す。正常のパスＧｒが複数
個あれば、使用頻度の低いものを選択する。正常のパス
Ｇｒがなければ、ＣＰＵに異常終了を報告し、書き込み
処理を終了する（処理６０２、６０３）。使用するパス
Ｇｒを選択できたら、ＢＵＦ１０２２に転送された書き
込むデータレコードを各磁気ディスク装置に分割格納す
るために（ｎ−２）等分する（処理６０４）。次に、こ
の（ｎ−２）個のデータの集まりに対してＥＣＣを作成
し、データをｎ個にする（処理６０５）。これらｎ個の
データは、それぞれの磁気ディスク装置に書き込まれ
る。ＥＣＣを作成した後に、選んだパスＧｒが接続する
ＤＶＡを選択する（処理６０６）。ｎ個のデータをＢＵ
Ｆ、ＤＶＡ、磁気ディスク装置の順に転送する（処理６
０７）。転送に成功したらＣＰＵに正常終了を報告し、
失敗したらＣＰＵに異常終了を報告し（処理６０８）、
図８に示すパスＧｒ機能状態決定処理に移行し（処理６
０８−１）、書き込み処理を終了する（処理６０９）。

【００４２】以上のように処理することにより、正常な
パスＧｒが選択されて書き込まれる。第１の実施例での
書き込み処理のフローの説明を終わる。

【００４３】次に、図７を参照して読み出し処理のフロ
ーを説明する。まず、マイクロプロセッサ１０２３は、
使用するパスＧｒを選択する。これは、メモリ１０２４
の領域３０５に記憶している全てのパスＧｒの機能状態
を参照して読み出し専用のパスＧｒと正常のパスＧｒと
を探す。候補のパスＧｒが複数あれば、使用頻度の低い
もの、読み出し専用のもの順でパスＧｒを選択する（処
理７０１）。以上の処理で読み出しに使用可能なパスＧ
ｒを選択できなければＣＰＵ１０１に異常終了を報告
し、読み出し処理を終了する（処理７０２）。使用する
パスＧｒを選択できたら、そのパスＧｒが接続するＤＶ
Ａを選択する（処理７０３）。読み出しデータを磁気デ
ィスク装置、ＤＶＡ、ＢＵＦの順に転送する（処理７０
４）。転送に失敗したら異常終了を報告し（処理７０
５）、図８に示すパスＧｒ機能状態決定処理に移行し
（処理７０５−１）、読み出し処理を終了する。転送に
成功したら、使用したパスＧｒで全ての磁気ディスク装
置から読み出しができるかを調べる。もしできないのな
ら、読み出せたデータに基づいて読み出せないデータを
ＢＵＦ１０２２に生成する（処理７０６、７０７）。全
てのデータが揃ったところでＥＣＣによるデータの検査
をし（処理７０８）、不合格ならＣＰＵに異常終了を報
告し、読み出し処理を終了する（処理７０９）。合格な
らデータレコードとしてＢＵＦ、ＣＨＡ、ＣＰＵの順に
転送し、ＣＰＵ１０１に正常終了を報告し、読み出し処
理を終了する(処理７１０、７１１)。第１の実施例での
読み出し処理のフローの説明を終わる。

【００４４】以上のように処理することにより、故障し
ているパスを含むパスＧｒに対しては、読み出し専用と
して、読み出せなかったデータに対しては、読みだした
データに基づいて生成することができる。さらに、全て
のパスＧｒ間で入出力可能なディスク装置を一致させな
いで、図２６に示すように故障しているパスを含むパス
Ｇｒに対して読み出し専用とするだけでもよい。

【００４５】上記の構成をとると、転送可能な記憶装置
が多いパスＧｒを使用して、ＥＣＣ−Ｇｒに書き込みを
行い、データレコードを分割し、ＥＣＣを付加しててで
きる複数のデータの多くを記憶装置に書き込める。ま
た、読み出し専用のパスＧｒで古いデータを読み出さな
くなる。よって、記憶制御装置の信頼性が向上する。

【００４６】また、図２８に示すように、ある磁気ディ
スク装置に接続するパスが全て故障（閉塞）した場合に
は、読み出し専用にしているパスＧｒを書き込みと読み
出しとが行える正常な状態に戻してもよい。これは、あ
る磁気ディスク装置に接続するパスが全て故障している
ので書き込みが行われないために、正常状態にすること
ができる。

【００４７】以上で第１の実施例の説明を終わる。

【００４８】次に、第２の実施例について説明する。本
実施例の構成図は、第１の実施例と同一であり説明を省
略する。第２の実施例について図２９を参照して説明す
る。第２の実施例を説明するための模式図を図２９に示
す。第２の実施例の特徴は、論理閉塞扱いしていた正常
のパス、つまり、全てのパスＧｒ間で入出力可能なディ
スク装置を一致させているときに、論理閉塞しているパ
スを、データ転送後に正常状態に戻すところにある。

【００４９】まず、図１０を用いてメモリ１０２４に格
納される内容を説明する。メモり１０２４は書き込み処
理用のプログラムの領域１００１と、読み出し処理用の
プログラムの領域１００２と、パスＧｒ機能状態決定プ
ログラムの領域１００３と、パスの状態の領域１００４
と、パスＧｒの機能状態の領域１００５とに分かれてい
る。パスの状態の領域１００４と、パスＧｒの機能状態
の領域１００５との内容は、第１の実施例のメモリ１０
２４の領域３０４と領域３０５のそれぞれと同一なので
説明を省略する。

【００５０】また、書き込み処理のフローと、読み出し
処理のフローも第１の実施例と同一なので説明を省略す
る。

【００５１】次に、図１１を用いて第２の実施例のパス
Ｇｒ機能状態決定のフローを説明する。図１１に示すフ
ローは、前述の図１０に示すメモリ１０２４に格納され
るパスＧｒ機能状態決定プログラムのフローを示してい
る。

【００５２】図１１において、マイクロプロセッサ１０
２３は、メモリ１０２４の領域１００４を参照して故障
または論理閉塞のパスを数える。故障または論理閉塞の
パスが３個以上あるパスＧｒを閉塞にする（処理１１０
１）。処理１１０１で閉塞のパスＧｒが生じたら、閉塞
でないパスＧｒを正常として決定し（処理１１０３）。
閉塞のパスＧｒがなければ、パスＧｒに閉塞がない時の
パスＧｒ機能状態決定処理をおこなう（処理１１０
４）。最後に、機能状態が正常であるパスＧｒを構成す
るパスの中に論理閉塞のものがあるか否かを判定し、論
理閉塞があれば、そのパスが接続する磁気ディスク装置
のデータを回復し、パスの状態を論理閉塞から正常にす
る（処理１１０５、１１０６）。

【００５３】パスＧｒに閉塞がない時のパスＧｒ機能状
態決定処理１１０４は第１の実施例のパスＧｒに閉塞が
ない時のパスＧｒ機能状態決定処理８０４と同一であり
説明を省略する。

【００５４】上記の構成をとると、第１の実施例と同じ
効果が望める。また、記憶制御装置が読みだしたデータ
から記憶装置のデータを回復するので、データレコード
を分割し、ＥＣＣを付加しててできる複数のデータを第
１の実施例より多く記憶装置に書き込める。よって、記
憶制御装置の信頼性が第１の実施例より向上する。

【００５５】以上で第２の実施例の説明を終わる。

【００５６】次に、第３の実施例について説明する。本
実施例の構成図は、第１の実施例と同一であり説明を省
略する。第３の実施例について図３０を参照して説明す
る。第３の実施例を説明するための模式図を図３０に示
す。第３の実施例の特徴は、ＥＣＣ−Ｇｒに対する１回
の入出力を複数のパスＧｒを組み合わせて用いておこな
うところである。すなわち、書き込み時に、すべてのパ
スＧｒのパスのうち、故障していない正常なパスをより
多く含むパスＧｒを利用して、磁気ディスク装置に対し
て書き込みを行う。このとき、パスＧｒとして、前述の
パスＧｒ１およびパスＧｒ２のほかに、全てのパスのな
かから正常なパスのみを選択するパスＧｒを備えるよう
にできる。

【００５７】まず、図１２を参照してメモリ１０２４の
内容を説明する。メモリ１０２４は、書き込み処理用の
プログラムの領域１２０１と、読み出し処理用のプログ
ラムの領域１２０２と、組合せパスＧｒ機能状態決定プ
ログラムの領域１２０３と、パスの状態の領域１２０４
と、組合せパスＧｒの機能状態の領域１２０５とに分か
れている。ここで、組合せパスＧｒとは、パスＧｒ１
と、パスＧｒ２と、すべてのパスＧｒのパスのうち、磁
気ディスク装置に対応し、故障していない正常なパスの
みを選択して利用するパスＧｒ（選択転送手段、以下、
選択パスＧｒという）とをいう。本実施例においては、
これらの組合せパスＧｒのなかからより正常なパスが多
いパスＧｒを利用して読み出しと書き込みとを行う。

【００５８】パスの状態の領域１２０４の内容は、第１
の実施例のメモリ１０２４の領域３０４の内容と同一な
ので説明を省略する。

【００５９】図１３を参照して組合せパスＧｒの機能状
態の領域１２０５を説明する。領域１２０５は、パスＧ
ｒ１０２６−１の機能状態を表す領域１３０１と、パス
Ｇｒ１０２６−２の機能状態を表す領域１３０２と、選
択パスＧｒの機能状態を表す領域１３０３とに分かれて
いる。パスＧｒの機能状態そのものは、第１の実施例と
同一なので説明を省略する。

【００６０】次に、図１６を参照して組合せパスＧｒ機
能状態決定のフローを説明する。図１６において、マイ
クロプロセッサ１０２３は、磁気ディスク装置に対して
全く入出力できないパスの状態が、組合せパスＧｒ間で
一致するか否かを調べる（処理１６０１）。ここで、第
３の実施例では、パスＧｒが１０２６−１と１０２６−
２との２個のみである。よって、実際には、図４に示
す、メモリ１０２４の領域４０１−１と領域４０２−１
とに格納されているパス状態の内容が一致するか否かを
調べ、同様に、領域４０１−２と領域４０２−２とに格
納されているパス状態の内容、・・・、領域４０１−ｎ
と領域４０２−ｎとに格納されているパス状態の内容そ
れぞれが一致するかを調べる。これにより、３つの組合
せパスＧｒについて調べることになる。全てのパス状態
が正常で一致すれば、３個の組合せパスＧｒを正常にす
る（処理１６０２）。一致しないならば、全く入出力で
きない閉塞状態のパスが少ないパスＧｒを正常にし、残
りのパスＧｒを読み出し専用にする（処理１６０３）。
第３の実施例では、パスＧｒが１０２６−１と１０２６
−２の２個のみなので、実際には、必ず２個のパスＧｒ
を組合せたなかから選択した選択パスＧｒが、全く入出
力できないパスが少ないパスＧｒになる。例えば、図３
０に示すように、右側のパスＧｒをパスＧｒ１とし、左
側のパスＧｒをパスＧｒ２とし、全てのパスから正常状
態のパスであって、磁気ディスク装置に対応するパスを
選択したものを選択パスＧｒとする。この例において
は、パスＧｒ２のパス５が閉塞状態であるので、パス５
とパス１１とのパス状態が一致しない。この場合には、
図１３に示す組合せパスＧｒの機能状態において、選択
パスＧｒを正常状態にする。パスＧｒ１とパスＧｒ２と
は読み出し専用にする。もしくは、パスＧｒ２について
は、全てのパスが正常であるので正常状態としてもよ
い。このようにして組合せパスＧｒの機能状態を設定す
る。また、選択パスＧｒを正常としたときに、どのパス
を選択するかを記憶しておく。そして最後に、３個以上
の磁気ディスク装置に対して全く入出力できないパスＧ
ｒを閉塞にする（処理１６０４）。

【００６１】パスＧｒの機能状態の決定処理は、記憶制
御装置を初期作動させる時と、ＤＶＡがパスの故障をマ
イクロプロセッサ１０２３に報告した時とにおこなう。

【００６２】次に、図１４を参照して書き込み処理のフ
ローを説明する。図１４において、マイクロプロセッサ
１０２３は、書き込むデータレコードをＣＨＡ１０２１
からＢＵＦ１０２２へ転送する（処理１４０１）。次
に、使用するパスＧｒを選択する。この処理は、メモリ
１０２４の領域１２０５に記憶している全てのパスＧｒ
の機能状態を参照し、正常なパスＧｒを探す。正常状態
のパスＧｒが複数あれば、単一のパスＧｒ、使用頻度の
低いもの、の順にパスＧｒを選択する。正常のパスＧｒ
がなければ、ＣＰＵ１０１に異常終了を報告し、書き込
み処理を終了する（処理１４０２、１４０３）。正常な
パスＧｒを選択できれば、ＢＵＦ１０２２に転送された
書き込むデータレコードを（ｎ−２）等分する（処理１
４０４）。次に、（ｎ−２）等分した結果のデータの集
まりに対してＥＣＣを作成し、データをｎ個にする（処
理１４０５）。これらｎ個のデータは、それぞれの磁気
ディスク装置に書き込まれる。そして、このＥＣＣは、
ｎ個の磁気ディスク装置の内、磁気ディスク装置の故障
によって、２個までの磁気ディスク装置から読み出しが
できないときに、読み出せないデータを生成できる符号
である。ＥＣＣを作成した後に、選んだパスＧｒのパス
が接続しているＤＶＡを選択する（処理１４０７）。こ
の場合において、前述の選択パスＧｒを選んだときに、
記憶しているパスを用いて転送を行う。もしくは、選択
パスＧｒを選んだときには、再度、図４に示すパスの状
態領域を参照して正常なパスのみを利用するようにして
よい。そして、ｎ個のデータをＢＵＦ、ＤＶＡ、磁気デ
ィスク装置の順に転送する（処理１４０８）。転送に失
敗したらＣＰＵ１０１に異常終了を報告をし（処理１４
０９）、図１６に示す組合せパスＧｒの機能状態決定フ
ローに移行し（処理１４０９−１）、書き込み処理を終
了する。この後、処理１４０２において選んだパスＧｒ
の中に書き込みがされていない未使用のパスがあるのな
らば、処理１４０７から繰り返す（処理１４０６）。反
復を終了した後に、ＣＰＵ１０１に正常終了を報告する
（処理１４１０）。以上で第３の実施例での書き込み処
理のフローの説明を終わる。

【００６３】次に、図１５を参照して読み出し処理のフ
ローを説明する。図１５において、マイクロプロセッサ
１０２３は、使用するパスＧｒを選択する。メモリ１０
２４の領域１２０５に記憶している全ての組合せパスＧ
ｒの機能状態を参照して正常のパスＧｒと読み出し専用
のパスＧｒを探す。候補のパスＧｒが複数あれば、単一
のパスＧｒ、使用頻度の低いもの、読み出し専用のも
の、の順に採用する。以上の処理で読み出しに使用可能
なパスＧｒを選択できなければ、ＣＰＵ１０１に異常終
了を報告し、読み出し処理を終了する（処理１５０１、
１５０２）。読み出しに使用可能なパスＧｒがあれば、
そのパスＧｒが接続するＤＶＡを選択する（処理１５０
４）。ｎ個のデータを磁気ディスク装置、ＤＶＡ、ＢＵ
Ｆの順に転送する（処理１５０５）。転送に失敗したら
ＣＰＵ１０１に異常終了を報告し（処理１５０６）、図
１６に示す組合せパスＧｒの機能状態決定フローに移行
する（処理１５０６−１）。処理１５０１において、選
んだパスＧｒの中に読出しされていない未使用のパスが
あるのならば、処理１５０４から繰り返す（処理１５０
３）。反復を終了した後に使用したパスＧｒで全ての磁
気ディスク装置から読み出しができるかを調べる。もし
できないのなら、読み出せたデータから読み出せないデ
ータをＢＵＦ１０２２に生成する（処理１５０８、１５
０９）。全てのデータが揃ったところでＥＣＣによるデ
ータの検査をし（処理１５１０）、不合格ならＣＰＵ１
０１に異常終了を報告し、読み出し処理を終了する（処
理１５１１）。合格ならデータレコードとしてＢＵＦ、
ＣＨＡ、ＣＰＵの順に転送し、ＣＰＵ１０１に正常終了
を報告し、読み出し処理を終了する（処理１５１２、１
５１３）。

【００６４】以上で第３の実施例での読み出し処理のフ
ローの説明を終わる。

【００６５】上記の処理を行うと、第１の実施例と同じ
効果が望める。また、少なくとも一方のパスから入出力
できる磁気ディスク装置は入出力できることになるの
で、データレコードを分割し、ＥＣＣを付加しててでき
る複数のデータを第１や第２の実施例より多く記憶装置
に書き込める。よって、記憶制御装置としての信頼性が
第１や第２の実施例より向上する。

【００６６】以上で第３の実施例の説明を終わる。

【００６７】次に、第４の実施例について説明する。本
実施例の構成図は、第１の実施例と同一であり説明を省
略する。第４の実施例では、図３１に模式図を示すよう
に、ディスク装置に対して読み書きを行う際に、パスが
使用不可能な状態を検知し、不可能な場合には、そのパ
スに接続しているディスク装置に読み書きを行わないよ
うにするために該ディスク装置に接続している他のパス
に対して論理閉塞を行うように制御する場合について説
明する。すなわち、第４の実施例の特徴は、パスに故障
があれば、そのパスが接続する記憶装置に接続する他の
パスを論理的に閉塞にするところである。

【００６８】図１７を参照してメモリ１０２４に格納さ
れる内容を説明する。メモり１０２４は、書き込み処理
用のプログラムの領域１７０１と、読み出し処理用のプ
ログラムの領域１７０２と、論理閉塞パス設定プログラ
ムの領域１７０３と、パスの状態の領域１７０４とに分
かれている。パスの状態の領域１７０４は、第１の実施
例のメモリ１０２４の領域３０４の内容と同一である。

【００６９】次に、論理閉塞パス設定プログラムの領域
１７０３に格納されている論理閉塞パス設定プログラム
の処理フローについて図２０を参照して説明する。図２
０において、マイクロプロセッサ１０２３は、メモリ１
０２４の領域１７０４に格納されるパスの状態を参照し
て、個々の記憶装置に接続するパスが故障していないか
を調べる。故障しているパスがあれば、その記憶装置に
接続する他の故障していないパスを論理閉塞（論理閉
塞）に設定する（処理２００２、２００３）。以上の処
理をＥＣＣ−Ｇｒを構成する記憶装置全てに対しておこ
なう。パスＧｒの機能状態の決定処理は、記憶制御装置
を初期作動させる時と、ＤＶＡがパスの故障をマイクロ
プロセッサ１０２３に報告した時とにおこなう。以上で
第４の実施例の論理閉塞パス設定処理のフローの説明を
終わる。

【００７０】つぎに、図１８を参照して第４の実施例の
書き込み処理のフローを説明する。図１８において、マ
イクロプロセッサ１０２３は、書き込むデータレコード
をＣＨＡ１０２１からＢＵＦ１０２２へ転送する（処理
１８０１）。次に、ＢＵＦ１０２２のデータレコードを
（ｎ−２）等分する（処理１８０２）。この（ｎ−２）
個のデータの集まりに対してＥＣＣを作成し、データを
ｎ個にする（処理１８０３）。これらｎ個のデータはそ
れぞれ１個の磁気ディスク装置に書き込まれる。そし
て、このＥＣＣは、ｎ個の磁気ディスク装置の内、磁気
ディスク装置の故障によって、任意の２個までの磁気デ
ィスク装置から読み出しができないときに、読み出せな
いデータを生成できる符号である。ＥＣＣを作成した後
に、２個のパスＧｒのうち一方を選び、選んだパスＧｒ
が接続するＤＶＡを選択する（処理１８０４）。そし
て、ｎ個のデータをＢＵＦ、ＤＶＡ、磁気ディスク装置
の順に転送する（処理１８０５）。転送に成功したらＣ
ＰＵ１０１に正常終了を報告し、失敗したらＣＰＵ１０
１に異常終了を報告し、書き込み処理を終了する（処理
１８０６、１８０７）。以上で第４の実施例での書き込
み処理のフローの説明を終わる。

【００７１】次に、図１９を参照して第４の実施例の読
み出し処理のフローを説明する。まず、２個のパスＧｒ
のうち一方を選び、選んだパスＧｒが接続するＤＶＡを
選択する（処理１９０１）。読み出しデータを磁気ディ
スク装置、ＤＶＡ、ＢＵＦの順に転送する（処理１９０
２）。転送に失敗したらＣＰＵ１０１に異常終了を報告
し、読み出し処理を終了する（処理１９０３）。転送に
成功したら、使用したパスＧｒで全ての磁気ディスク装
置から読み出しができるか否かを調べる。もしできない
のなら、読み出せたデータから読み出せないデータをＢ
ＵＦ１０２２に生成する（処理１９０４、１９０５）。
全てのデータが揃ったところでＥＣＣによるデータの検
査をし（処理１９０６）、不合格ならＣＰＵ１０１に異
常終了を報告し、読み出し処理を終了する（処理１９０
７）。合格ならデータレコードとしてＢＵＦ、ＣＨＡ、
ＣＰＵの順に転送し、ＣＰＵ１０１に正常終了を報告
し、読み出し処理を終了する(処理１９０８、１９０
９)。以上で第４の実施例での読み出し処理のフローの
説明を終わる。

【００７２】上記の構成とると、入出力可能な記憶装置
が同一のＥＣＣ−Ｇｒに接続するパスＧｒ間で一致す
る。つまり、書き込み時に使用したパスＧｒか否かにか
かわらずデータレコードとしての読み出しができる。よ
って、記憶制御装置の信頼性が向上する。以上で第４の
実施例の説明を終わる。

【００７３】次に、第５の実施例について説明する。本
実施例の構成図は、第１の実施例と同一であり説明を省
略する。第５の実施例の特徴は、パスに故障があるとき
ＥＣＣ−Ｇｒに対する１回の入出力を全てのパスＧｒを
参照しておこなうところである。すなわち、はじめに、
パスに故障があるか否かを調べて、故障がある場合には
各パスＧｒを介して読み書きの処理をそれぞれ行う。こ
れにより、読み書き動作は、パスＧｒの数だけ行われる
が、故障しているパスがあっても他のパスＧｒのパスか
ら書き込みが行うことができる。

【００７４】まず、図２１を参照してメモリ１０２４に
格納される内容を説明する。メモり１０２４は書き込み
処理用のプログラムの領域２１０１と、読み出し処理用
のプログラムの領域２１０２と、パスの状態の領域２１
０３と、に分かれている。パスの状態の領域２１０３の
内容は第１の実施例のメモリ１０２４の領域３０４の内
容と同一である。

【００７５】次に、図２２を参照して第５の実施例の書
き込み処理のフローを説明する。図２２において、マイ
クロプロセッサ１０２３は、書き込むデータレコードを
ＣＨＡ１０２１からＢＵＦ１０２２へ転送する（処理２
２０１）。次に、ＢＵＦ１０２２のデータを（ｎ−２）
等分する（処理２２０２）。この（ｎ−２）個のデータ
の集まりに対してＥＣＣを作成し、データをｎ個にする
（処理２２０３）。これらｎ個のデータはそれぞれの磁
気ディスク装置に書き込まれる。そして、このＥＣＣ
は、ｎ個の磁気ディスク装置の内、磁気ディスク装置の
故障によって、任意の２個までの磁気ディスク装置から
読み出しができないときに、読み出せないデータを生成
できる符号である。ＥＣＣを作成した後に、メモリ１０
２４の領域２１０３パスの状態を参照して、パスに故障
があるかを調べる（処理２２０４）。故障があれば、パ
スに故障があるときの書き込み処理をおこなう（処理２
２０５）。故障がなければ、２個のパスＧｒのうち一方
を選び、選んだパスＧｒが接続するＤＶＡを選択する
（処理２２０６）。そして、ｎ個のデータをＢＵＦ、Ｄ
ＶＡ、磁気ディスク装置の順に転送する（処理２２０
７）。転送に成功したらＣＰＵ１０１に正常終了を報告
し、失敗したらＣＰＵ１０１に異常終了を報告し、書き
込み処理を終了する（処理２２０８、２２０９）。

【００７６】つぎに、図２３を参照し、パスに故障があ
るときの書き込み処理のフローを説明する。図２３にお
いて、任意のパスＧｒを選び、そのパスＧｒが接続する
ＤＶＡを選択する。そして、ｎ個のデータをＢＵＦ、Ｄ
ＶＡ、磁気ディスク装置の順に転送する。転送に失敗し
たらＣＰＵ１０１に異常終了を報告して処理を終わる。
（処理２３０２、２３０３、２３０４）。以上の処理を
書き込み対象のＥＣＣ−Ｇｒに接続するパスＧｒの全て
に対しておこなう。すなわち、順次パスＧｒを選び、そ
れぞれ転送処理を行う。以上で第５の実施例での書き込
み処理のフローの説明を終わる。

【００７７】次に、図２４を参照して第５の実施例の読
み出し処理のフローを説明する。図２４において、マイ
クロプロセッサ１０２３は、メモリ１０２４の領域２１
０３のパスの状態を参照して、パスに故障があるかを調
べる（処理２４０１）。故障があれば、パスに故障があ
るときの読み出し処理をおこなう（処理２４０２）。故
障がなければ、２個のパスＧｒのうち一方を選び、選ん
だパスＧｒが接続するＤＶＡを選択する（処理２４０
３）。読み出しデータを磁気ディスク装置、ＤＶＡ、Ｂ
ＵＦの順に転送する（処理２４０４）。転送に失敗した
らＣＰＵ１０１に異常終了を報告し、読み出し処理を終
了する（処理２４０５）。転送に成功したら、使用した
パスＧｒで全ての磁気ディスク装置から読み出しができ
るかを調べる。もしできないのなら、読み出せたデータ
から読み出せないデータをＢＵＦ１０２２に生成する
（処理２４０６、２４０７）。全てのデータが揃ったと
ころでＥＣＣによるデータの検査をし（処理２４０
８）、不合格ならＣＰＵ１０１に異常終了を報告し、読
み出し処理を終了する（処理２４０９）。合格ならデー
タレコードとしてＢＵＦ、ＣＨＡ、ＣＰＵの順に転送
し、ＣＰＵ１０１に正常終了を報告し、読み出し処理を
終了する(処理２４１０、２４１１)。

【００７８】図２５を参照してパスに故障があるときの
読み出し処理のフローを説明する。任意のパスＧｒを選
び、そのパスＧｒが接続するＤＶＡを選択する。そし
て、ｎ個のデータをＤＶＡ、磁気ディスク装置、ＢＵＦ
の順に転送する。転送に失敗したらＣＰＵ１０１に異常
終了を報告して処理を終わる。（処理２５０２、２５０
３、２５０４）。以上の処理を読み出し対象のＥＣＣ−
Ｇｒに接続するパスＧｒの全てに対しておこなう。すな
わち、順次パスＧｒを選び、それぞれ転送処理を行う。
以上で第５の実施例での読み出し処理のフローの説明を
終わる。

【００７９】上記の構成をとると、どれか１個のパスＧ
ｒでも入出力できる記憶装置であればデータレコードを
分割して、ＥＣＣを作成した結果できる複数のデータの
書き込み読み出しができる。よって、データの冗長度を
高く保て、記憶制御装置の信頼性が向上する。以上で第
５の実施例の説明を終わる。

【００８０】以上説明したように、上記５つの実施例に
よれば、パスの故障の少ないパスＧｒを書き込みと読み
出しとに使用可能とする。残りのパスＧｒの中で、故障
したパスがＥＣＣで訂正可能な個数以内のものを読み出
しのみに使用可能とし、その他のパスＧｒを書き込みと
読み出しに使用不可能とする。そして、書き込みと読み
出しに使用可能なパスＧｒが入出力できない記憶装置に
接続する全てのパスを故障扱いにする。これらより、Ｅ
ＣＣ−Ｇｒに対する１回の入出力を１個のパスＧｒでお
こなう方式を取るときに、データレコードを分割して、
ＥＣＣを付加してできる複数のデータを記憶している記
憶装置の個数を本発明を採用しない場合と比べ増加でき
る。また、読み出しのみに使用可能なパスＧｒで古いデ
ータを読み出してしまうことを防ぐ。結果、記憶制御装
置の信頼性が向上する。

【００８１】また、上記実施例では、書き込みと読み出
しとに使用可能なパスＧｒの中に故障扱いを受けている
パスがあれば、そのパスの接続する記憶装置のデータを
回復し、故障扱いをとりやめる。この結果、人員以外に
よる記憶装置のＥＣＣ−Ｇｒへの再組み込がおこるの
で、記憶制御装置の信頼性が向上する。

【００８２】また、別の手段として、記憶装置に接続す
るパスの内、１個でも故障したらその記憶装置に接続す
るパスを全て論理的に閉塞とする。この結果、データレ
コードを分割して、ＥＣＣを作成した結果できる複数の
データを書き込める記憶装置が同じＥＣＣ−Ｇｒに接続
するパスＧｒ間で一致する。よって、書き込み時に使用
したパスＧｒか否かにかかわらずデータレコードとして
の読み出しができる。

【００８３】さらに、別の手段として、ＥＣＣ−Ｇｒに
対する書き込みと読み出しに使用可能か否かを表す機能
状態をパスＧｒの組合せ毎に決定記憶しておき、ＥＣＣ
−Ｇｒに対して書き込みまたは読み出しの要求を処理す
るパスＧｒを決める。また、別の手段として、各パスＧ
ｒで入出力できる記憶装置が一致しない時、組合せに必
ず全てのパスＧｒを用いる。これらより、ＥＣＣ−Ｇｒ
に対する１回の入出力を複数のパスＧｒでおこなうの
で、記憶装置に接続するパスの内、１個でも使用可能な
らば、その記憶装置に書き込みができる。よって、正し
いデータを記憶している記憶装置の個数を常にその時点
での最大になる。

【００８４】書き込み不可の制限を付けたパスグループ
を設けることで、記憶装置のデータ破壊を最小にでき
る。また、論理閉塞のパスを設けることで、データの訂
正不可能の回数を減らす。よって、記憶制御装置の信頼
性の向上を望める。

【００８５】

【発明の効果】本発明によれば、記憶制御装置の信頼性
が向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す構成図。

【図２】解決すべき課題を示す説明図。

【図３】第１の実施例のメモリの内容を示す説明図。

【図４】パス状態の領域の内訳を示す説明図。

【図５】パスＧｒの機能状態の領域の内訳を示す説明
図。

【図６】第１の実施例の書き込み処理フロー。

【図７】第１の実施例の読み出し処理フロー。

【図８】第１の実施例のパスＧｒ機能状態決定フロー。

【図９】閉塞のパスＧｒがない時のパスＧｒ機能状態決
定フロー。

【図１０】第２の実施例のメモリの内容を示す説明図。

【図１１】第２の実施例のパスＧｒ機能状態決定フロ
ー。

【図１２】第３の実施例のメモリの内容を示す説明図。

【図１３】組合せパスＧｒの機能状態の領域の内訳を示
す説明図。

【図１４】第３の実施例の書き込み処理フロー。

【図１５】第３の実施例の読み出し処理フロー。

【図１６】組合せパスＧｒ機能状態決定フロー。

【図１７】第４の実施例のメモリの内容を示す説明図。

【図１８】第４の実施例の書き込み処理フロー。

【図１９】第４の実施例の読み出し処理フロー。

【図２０】第４の実施例の論理閉塞パス設定処理フロ
ー。

【図２１】第５の実施例のメモリの内容を示す説明図。

【図２２】第５の実施例の書き込み処理フロー。

【図２３】パスに故障があるときの書き込み処理フロ
ー。

【図２４】第５の実施例の読み出し処理フロー。

【図２５】パスに故障があるときの読み出し処理フロ
ー。

【図２６】記憶制御装置における入出力制御（読み出し
専用）を説明するための模式図。

【図２７】記憶制御装置における入出力制御（読み出し
専用／論理閉塞）を説明するための模式図。

【図２８】記憶制御装置における入出力制御（両方のパ
スが閉塞の場合）を説明するための模式図。

【図２９】記憶制御装置における入出力制御（自動回
復）を説明するための模式図。

【図３０】記憶制御装置における入出力制御（補完書き
込み）を説明するための模式図。

【図３１】記憶制御装置における入出力制御（論理閉
塞）を説明するための模式図。

【図３２】情報処理システムのハードウエア構成図。

【符号の説明】

１０１…中央処理装置、１０２…記憶制御装置、１０２
１…チャネルアダプタ、１０２２…バッファ、１０２３
…マイクロプロセッサ、１０２４…メモリ、１０２５−
１・１０２５−２…デバイスアダプタ、１０５−１・１
０５−２・…および１０５−ｎ…デバイスアダプタ１０
２５−１と磁気ディスク装置との転送路、１０６−１・
１０６−２・…および１０６−ｎ…デバイスアダプタ１
０２５−２と磁気ディスク装置との転送路、１０３−１
・１０３−２・…および１０３−ｎ…磁気ディスク装
置、１０４…ＥＣＣグループ、１０２６−１および１０
２６−２…パスグループ、ａ０１−１・ａ０１−２・…
・ａ０１−ｎ…磁気ディスク装置とのインターフェー
ス。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者荒井弘治神奈川県川崎市麻生区王禅寺1099 株式会社日立製作所システム開発研究所内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】情報を分割し、該情報に基づいて誤り訂正
用の情報を生成し、前記分割した情報と該誤り訂正用の
情報とを転送路を介して複数の記憶手段に書き込む制御
と、該複数の記憶手段からの読み出しの制御とを行い、
読み出し時に前記分割した情報と該誤り訂正用の情報と
に基づいて情報の誤り検出を行い、誤りがあった場合に
は情報を回復する記憶制御装置であって、前記複数の記憶手段との間で第１の転送路群を介して情
報の転送を行う第１の転送手段と、前記複数の記憶手段
との間で第２の転送路群を介して情報の転送を行う第２
の転送手段とを備え、該第１の転送手段および第２の転送手段の各々は、前記転送路が故障していることを検出する検出手段と、該検出手段で検出した故障している転送路を使用しない
ように閉塞状態にする閉塞手段と、該検出手段で検出した故障している前記転送路に接続さ
れている記憶手段に接続されている、他の転送路群の転
送路を使用しないように論理的に閉塞状態にする論理閉
塞手段とを備えることを特徴とする記憶制御装置。
【請求項２】情報を分割し、該情報に基づいて誤り訂正
用の情報を生成し、前記分割した情報と該誤り訂正用の
情報とを転送路を介して複数の記憶手段に書き込む制御
と、該複数の記憶手段からの読み出しの制御とを行い、
読み出し時に前記分割した情報と該誤り訂正用の情報と
に基づいて情報の誤り検出を行い、誤りがあった場合に
は情報を回復する記憶制御装置であって、前記複数の記憶手段との間で第１の転送路群を介して情
報の転送を行う第１の転送手段と、前記複数の記憶手段
との間で第２の転送路群を介して情報の転送を行う第２
の転送手段とを備え、該第１の転送手段および第２の転送手段の各々は、前記転送路が故障していることを検出する検出手段と、該検出手段で検出した故障している転送路を使用しない
ように閉塞状態にする閉塞手段とを備え、前記情報の転送時に、前記検出手段で検出した転送路に
接続されている記憶手段に接続されている転送手段を読
み出し専用とすることを特徴とする記憶制御装置。
【請求項３】請求項２において、前記情報の転送時に、
前記検出手段で検出した転送路に接続されている記憶手
段に接続されている他の転送路群の転送路を使用しない
ように論理的に閉塞状態にする論理閉塞手段をさらに備
えることを特徴とする記憶制御装置。
【請求項４】請求項１または３において、前記論理的閉
塞状態を使用可能な状態にする閉塞解除手段をさらに備
えることを特徴とする記憶制御装置。
【請求項５】情報を分割し、該情報に基づいて誤り訂正
用の情報を生成し、前記分割した情報と該誤り訂正用の
情報とを転送路を介して複数の記憶手段に書き込む制御
と、該複数の記憶手段からの読み出しの制御とを行い、
読み出し時に前記分割した情報と該誤り訂正用の情報と
に基づいて情報の誤り検出を行い、誤りがあった場合に
は情報を回復する記憶制御装置であって、前記複数の記憶手段との間で第１の転送路群を介して情
報の転送を行う第１の転送手段と、前記複数の記憶手段
との間で第２の転送路群を介して情報の転送を行う第２
の転送手段とを備え、該第１の転送手段および第２の転送手段の各々は、前記転送路が故障していることを検出する検出手段と、該検出手段で検出した故障している転送路を使用しない
ように閉塞状態にする閉塞手段と、全ての転送路のうち、前記記憶手段に対応する使用可能
な転送路を選択して転送路群とし、該選択された転送路
群を介して情報を転送する選択転送手段とを備えること
を特徴とする記憶制御装置。
【請求項６】請求項５において、前記第１の転送手段と
第２の転送手段と前記選択転送手段とのうち、閉塞状態
にある前記転送路の数がより少ないものを利用して転送
することを特徴とする記憶制御装置。
【請求項７】請求項５または６において、情報の転送時
に、前記検出手段で検出した転送路に接続されている記
憶手段に接続されている前記第１の転送手段または第２
の転送手段を読み出し専用とすることを特徴とする記憶
制御装置。
【請求項８】請求項１、２または５において、前記転送
路が閉塞状態か否かの状態を示す情報を格納する格納手
段を備え、転送時に該格納手段を参照して転送の制御を
することを特徴とする記憶制御装置。
【請求項９】情報の処理をするホスト計算機と、情報を
記憶する複数の記憶装置と、該記憶装置の読み書きの制
御を行う記憶制御装置とを備える情報処理システムにお
いて、前記複数の記憶装置の各々と前記記憶制御装置とは、第
１および第２の転送路群を介して接続され、前記記憶制御装置は、前記ホスト計算機における情報を
分割し、該情報に基づいて誤り訂正用の情報を生成し、
前記分割した情報と該誤り訂正用の情報とを前記転送路
を介して前記記憶装置に対して書き込む制御を行い、該
複数の記憶手段からの読み出しの制御を行い、読み出し
時に前記分割した情報と該誤り訂正用の情報とに基づい
て情報の誤り検出を行い、誤りがあった場合には情報を
回復する制御部と、前記複数の記憶手段との間で前記第１の転送路群を介し
て情報の転送を行う第１の転送手段と、前記複数の記憶手段との間で前記第２の転送路群を介し
て情報の転送を行う第２の転送手段とを有し、該第１の転送手段および第２の転送手段の各々は、前記転送路が故障していることを検出する検出手段と、該検出手段で検出した故障している転送路を使用しない
ように閉塞状態にする閉塞手段と、該検出手段で検出した故障している転送路に接続されて
いる記憶装置に接続されている、他の転送路群の転送路
を使用しないように論理的に閉塞状態にする論理閉塞手
段とを備え、前記記憶制御装置は、各転送路が閉塞状態か否かの状態
を示す情報を格納する格納手段を備え、前記制御部は、転送時に、該格納手段を参照し、第１の
転送手段および第２の転送手段に対して転送の制御をす
ることを特徴とする情報処理システム。