JPH06284346A - 固体撮像装置の自動欠陥検出装置 - Google Patents
固体撮像装置の自動欠陥検出装置Info
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- JPH06284346A JPH06284346A JP5072249A JP7224993A JPH06284346A JP H06284346 A JPH06284346 A JP H06284346A JP 5072249 A JP5072249 A JP 5072249A JP 7224993 A JP7224993 A JP 7224993A JP H06284346 A JPH06284346 A JP H06284346A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 比較的簡単な構成で精度良く、欠陥画素を検
出することができるようにすることを目的とする。 【構成】 固体撮像素子３の第１画素よりの第１画素信
号とこの第１画素の周辺の第２画素よりの第２画素信号
とのレベル差を検出するレベル差検出回路２１と、この
レベル差信号回路２１の出力信号と所定のしきい値Ｖｒ
とを比較するコンパレータ２２と、このコンパレータ２
２の比較結果を複数フィールド分記憶するメモリ１１と
を有し、このメモリ１１の記憶情報により欠陥画素を断
定するようにしたものである。
出することができるようにすることを目的とする。 【構成】 固体撮像素子３の第１画素よりの第１画素信
号とこの第１画素の周辺の第２画素よりの第２画素信号
とのレベル差を検出するレベル差検出回路２１と、この
レベル差信号回路２１の出力信号と所定のしきい値Ｖｒ
とを比較するコンパレータ２２と、このコンパレータ２
２の比較結果を複数フィールド分記憶するメモリ１１と
を有し、このメモリ１１の記憶情報により欠陥画素を断
定するようにしたものである。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＣＣＤ等の固体撮像素
子の局部的な結晶欠陥を自動的に検出できるようにした
固体撮像装置の自動欠陥検出装置に関する。
子の局部的な結晶欠陥を自動的に検出できるようにした
固体撮像装置の自動欠陥検出装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般にＣＣＤ等の半導体で形成した固体
撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等によって過
剰電荷が発生する欠陥画素が生じることがあり、このよ
うな場合、その欠陥画素が画質を劣化させる原因となる
ことが知られている。従来よりこの欠陥画素に起因する
画質劣化をなくすために、ＣＣＤ等を用いた固体撮像装
置においては、この欠陥画素を検出して、欠陥補正が行
われている。
撮像素子では、半導体の局部的な結晶欠陥等によって過
剰電荷が発生する欠陥画素が生じることがあり、このよ
うな場合、その欠陥画素が画質を劣化させる原因となる
ことが知られている。従来よりこの欠陥画素に起因する
画質劣化をなくすために、ＣＣＤ等を用いた固体撮像装
置においては、この欠陥画素を検出して、欠陥補正が行
われている。
【０００３】先に自動欠陥検出機能を有する固体撮像装
置として図３に示す如きものが提案されている。この図
３につき説明するに、この図３において、１は撮像レン
ズを示し、この撮像レンズ１は被写体からの入射光を光
学フィルタ２を介してＣＣＤ固体撮像素子３の撮像面に
導く如くなす。
置として図３に示す如きものが提案されている。この図
３につき説明するに、この図３において、１は撮像レン
ズを示し、この撮像レンズ１は被写体からの入射光を光
学フィルタ２を介してＣＣＤ固体撮像素子３の撮像面に
導く如くなす。
【０００４】このＣＣＤ固体撮像素子３としては例えば
図４に示す如き補色モザイク配列のカラーフィルタを有
するカラーＣＣＤ固体撮像素子が用いられる。この補色
モザイク配列のカラーフィルタはＭｇ（マゼンタ），Ｇ
（グリーン），Ｙｅ（イエロー），Ｃｙ（シアン）の
〔水平走査方向２列〕×〔垂直走査方向４行〕の繰り返
しパターン構成となされたものである。
図４に示す如き補色モザイク配列のカラーフィルタを有
するカラーＣＣＤ固体撮像素子が用いられる。この補色
モザイク配列のカラーフィルタはＭｇ（マゼンタ），Ｇ
（グリーン），Ｙｅ（イエロー），Ｃｙ（シアン）の
〔水平走査方向２列〕×〔垂直走査方向４行〕の繰り返
しパターン構成となされたものである。
【０００５】このカラーＣＣＤ固体撮像素子３は電荷転
送方式として例えばインターライン転送方式を採用して
いる。このカラーＣＣＤ固体撮像素子３の各画素の信号
電荷の読み出しと、垂直及び水平転送との各駆動制御
は、タイミング発生回路４で発生される各種タイミング
信号に基づいて、ドライブ回路５によって行われる。こ
のカラーＣＣＤ固体撮像素子３の撮像出力信号（ＣＣＤ
出力信号）はサンプルホールド回路６でサンプルホール
ドされ、かつＡ−Ｄ変換器７でディジタル化された後、
欠陥検出回路８に供給される。
送方式として例えばインターライン転送方式を採用して
いる。このカラーＣＣＤ固体撮像素子３の各画素の信号
電荷の読み出しと、垂直及び水平転送との各駆動制御
は、タイミング発生回路４で発生される各種タイミング
信号に基づいて、ドライブ回路５によって行われる。こ
のカラーＣＣＤ固体撮像素子３の撮像出力信号（ＣＣＤ
出力信号）はサンプルホールド回路６でサンプルホール
ドされ、かつＡ−Ｄ変換器７でディジタル化された後、
欠陥検出回路８に供給される。
【０００６】このカラーＣＣＤ固体撮像素子３から得ら
れる空間的配列を図５に示す。ここでは補色モザイク配
列のカラーＣＣＤ固体撮像素子をフィールド蓄積させた
ときの１フィールドの信号を例として示し、簡略化のた
め、各々の画素信号を以下の様に定義する。
れる空間的配列を図５に示す。ここでは補色モザイク配
列のカラーＣＣＤ固体撮像素子をフィールド蓄積させた
ときの１フィールドの信号を例として示し、簡略化のた
め、各々の画素信号を以下の様に定義する。
【０００７】 （Ｍｇ＋Ｙｅ）＝Ａ （Ｇ＋Ｃｙ）＝Ｂ （Ｇ＋Ｙｅ）＝Ｃ （Ｍｇ＋Ｃｙ）＝Ｄ
【０００８】従って、ｎライン目ではＡ11，Ｂ12，Ａ13
‥‥‥という組合せの画素信号が点順次で得られる。ｎ
＋１ライン目ではＣ21，Ｄ22，Ｃ23‥‥‥という組合せ
の画素信号が点順次で得られ、更にｎ＋２ライン目では
Ａ31，Ｂ32，Ａ33‥‥‥と再びｎライン目と同じ色の組
合せの画像信号が点順次で得られる。順次上述が繰り返
される。
‥‥‥という組合せの画素信号が点順次で得られる。ｎ
＋１ライン目ではＣ21，Ｄ22，Ｃ23‥‥‥という組合せ
の画素信号が点順次で得られ、更にｎ＋２ライン目では
Ａ31，Ｂ32，Ａ33‥‥‥と再びｎライン目と同じ色の組
合せの画像信号が点順次で得られる。順次上述が繰り返
される。
【０００９】輝度変化が少ない被写体を撮像した場合、
各画素信号間には局所的にほぼ次式が成立する。 Ａ11≒Ａ13≒Ａ15≒‥‥‥，Ａ13≒Ａ33 Ｂ12≒Ｂ14≒Ｂ16≒‥‥‥，Ｂ14≒Ｂ34 Ｃ21≒Ｃ23≒Ｃ25≒‥‥‥，Ｃ23≒Ｃ43 Ｄ22≒Ｄ24≒Ｄ26≒‥‥‥，Ｄ24≒Ｄ44 即ち、隣接する同色画素間の出力信号のレベル差は小さ
い。
各画素信号間には局所的にほぼ次式が成立する。 Ａ11≒Ａ13≒Ａ15≒‥‥‥，Ａ13≒Ａ33 Ｂ12≒Ｂ14≒Ｂ16≒‥‥‥，Ｂ14≒Ｂ34 Ｃ21≒Ｃ23≒Ｃ25≒‥‥‥，Ｃ23≒Ｃ43 Ｄ22≒Ｄ24≒Ｄ26≒‥‥‥，Ｄ24≒Ｄ44 即ち、隣接する同色画素間の出力信号のレベル差は小さ
い。
【００１０】ここで、この欠陥検出回路８につき説明す
るに、図５に斜線で示す如く画素信号Ｂ34に該当する画
素が欠陥画素であったとする。この場合隣接する同色画
素信号間の出力レベル差が生じ、Ｂ32≠Ｂ34≠Ｂ36，Ｂ
14≠Ｂ34となる。この欠陥検出回路８においてはこの出
力信号の空間的相関性に着目し、欠陥画素を検出する。
るに、図５に斜線で示す如く画素信号Ｂ34に該当する画
素が欠陥画素であったとする。この場合隣接する同色画
素信号間の出力レベル差が生じ、Ｂ32≠Ｂ34≠Ｂ36，Ｂ
14≠Ｂ34となる。この欠陥検出回路８においてはこの出
力信号の空間的相関性に着目し、欠陥画素を検出する。
【００１１】ここで画素信号Ｂ34に該当する画素を判定
画素とすると、この隣接する同色画素信号は画素信号Ｂ
32，Ｂ36，Ｂ14及びＢ54の４画素信号である。画素信号
Ｂ32とＢ34とのレベル差を例にとって考えると、輝度変
化の少ない画面を撮像した場合は隣接する画素であるた
めＢ32≒Ｂ34が成立するはずであるが、画素信号Ｂ34に
該当する画素が欠陥画素の場合Ｂ32≠Ｂ34となるため、
この画素信号Ｂ32とＢ 34とのレベル差を測定し、あるし
きい値以上のときは、画素信号Ｂ34に該当する画素が欠
陥画素であると推定できる。
画素とすると、この隣接する同色画素信号は画素信号Ｂ
32，Ｂ36，Ｂ14及びＢ54の４画素信号である。画素信号
Ｂ32とＢ34とのレベル差を例にとって考えると、輝度変
化の少ない画面を撮像した場合は隣接する画素であるた
めＢ32≒Ｂ34が成立するはずであるが、画素信号Ｂ34に
該当する画素が欠陥画素の場合Ｂ32≠Ｂ34となるため、
この画素信号Ｂ32とＢ 34とのレベル差を測定し、あるし
きい値以上のときは、画素信号Ｂ34に該当する画素が欠
陥画素であると推定できる。
【００１２】この欠陥検出回路８よりのＣＣＤ出力信号
を信号処理回路９に供給し、この信号処理回路９で欠陥
補正等各種の信号処理を施して、出力端子１０に所定の
カラービデオ信号を得る如くなされている。
を信号処理回路９に供給し、この信号処理回路９で欠陥
補正等各種の信号処理を施して、出力端子１０に所定の
カラービデオ信号を得る如くなされている。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】然しながら画素信号Ｂ
34に該当する画素が欠陥でなくとも図６に示す如く画素
信号Ｂ32とＢ34との間に画像のエッジ成分が入力される
とやはりＢ32≠Ｂ34となってしまい、この画素信号Ｂ34
に該当する画素を欠陥画素と誤検出してしまうこととな
る不都合がある。
34に該当する画素が欠陥でなくとも図６に示す如く画素
信号Ｂ32とＢ34との間に画像のエッジ成分が入力される
とやはりＢ32≠Ｂ34となってしまい、この画素信号Ｂ34
に該当する画素を欠陥画素と誤検出してしまうこととな
る不都合がある。
【００１４】従って同一フィールド内で、上述の如く欠
陥画素を検出するときには更に周辺の画素信号Ｂ36，Ｂ
14及びＢ54とこの画素信号Ｂ34との間の各々のレベル差
を判定し、図６に示すような影響を排除しなければなら
ない。
陥画素を検出するときには更に周辺の画素信号Ｂ36，Ｂ
14及びＢ54とこの画素信号Ｂ34との間の各々のレベル差
を判定し、図６に示すような影響を排除しなければなら
ない。
【００１５】また判定画素信号の色はＢであるが、周辺
にあるＢ以外の色の画素信号例えばＤ22とＤ24とのレベ
ル差及びＤ42とＤ44とのレベル差を検出し、このＢ32と
Ｂ34との間にエッジ成分が存在するか否かのエッジ検出
を行うなどの必要性を生じてくる不都合があった。
にあるＢ以外の色の画素信号例えばＤ22とＤ24とのレベ
ル差及びＤ42とＤ44とのレベル差を検出し、このＢ32と
Ｂ34との間にエッジ成分が存在するか否かのエッジ検出
を行うなどの必要性を生じてくる不都合があった。
【００１６】同様にＢ34とＢ36との間のエッジ検出には
Ｄ24とＤ26とのレベル差判定及びＤ 44とＤ46とのレベル
差判定が必要であり、またＢ34とＢ14との間のエッジ検
出にはＡ13とＡ33とのレベル差判定及びＡ15とＡ35との
レベル差判定が必要である。これらのレベル差情報から
画素信号Ｂ34に該当する画素を欠陥画素であるか否かの
判定を行うためにはあらゆる入力画像のパターンを想定
して、非常に複雑な検出アルゴリズムが必要となる不都
合があった。
Ｄ24とＤ26とのレベル差判定及びＤ 44とＤ46とのレベル
差判定が必要であり、またＢ34とＢ14との間のエッジ検
出にはＡ13とＡ33とのレベル差判定及びＡ15とＡ35との
レベル差判定が必要である。これらのレベル差情報から
画素信号Ｂ34に該当する画素を欠陥画素であるか否かの
判定を行うためにはあらゆる入力画像のパターンを想定
して、非常に複雑な検出アルゴリズムが必要となる不都
合があった。
【００１７】本発明は斯る点に鑑み比較的簡単な構成で
精度良く欠陥画素を検出することができるようにするこ
とを目的とする。
精度良く欠陥画素を検出することができるようにするこ
とを目的とする。
【００１８】
【課題を解決するための手段】本発明固体撮像装置の自
動欠陥検出装置は例えば図１、図２に示す如く固体撮像
素子３の第１画素よりの第１画素信号とこの第１画素の
周辺の第２画素よりの第２画素信号とのレベル差を検出
するレベル差検出回路２１と、このレベル差検出回路２
１の出力信号と所定のしきい値Ｖｒとを比較するコンパ
レータ２２と、このコンパレータ２２の比較結果を複数
フィールド分記憶するメモリ１１とを有し、このメモリ
１１の記憶情報により欠陥画素を断定するようにしたも
のである。
動欠陥検出装置は例えば図１、図２に示す如く固体撮像
素子３の第１画素よりの第１画素信号とこの第１画素の
周辺の第２画素よりの第２画素信号とのレベル差を検出
するレベル差検出回路２１と、このレベル差検出回路２
１の出力信号と所定のしきい値Ｖｒとを比較するコンパ
レータ２２と、このコンパレータ２２の比較結果を複数
フィールド分記憶するメモリ１１とを有し、このメモリ
１１の記憶情報により欠陥画素を断定するようにしたも
のである。
【００１９】本発明固体撮像装置の自動欠陥検出装置は
例えば図１及び図４に示す如く上述において、固体撮像
素子３には補色モザイク配列のカラーフィルタが備えら
れたものである。
例えば図１及び図４に示す如く上述において、固体撮像
素子３には補色モザイク配列のカラーフィルタが備えら
れたものである。
【００２０】本発明固体撮像装置の自動欠陥検出装置は
例えば図１及び図４に示す如く、上述において、補色モ
ザイク配列のカラーフィルタはＭｇ（マゼンタ），Ｇ
（グリーン），Ｙｅ（イエロー），Ｃｙ（シアン）の
〔水平走査方向２列〕×〔垂直走査方向４行〕の繰り返
しパターンで構成されているものである。
例えば図１及び図４に示す如く、上述において、補色モ
ザイク配列のカラーフィルタはＭｇ（マゼンタ），Ｇ
（グリーン），Ｙｅ（イエロー），Ｃｙ（シアン）の
〔水平走査方向２列〕×〔垂直走査方向４行〕の繰り返
しパターンで構成されているものである。
【００２１】本発明固体撮像装置の自動欠陥検出装置は
例えば図１及び図５に示す如く、上述において、奇数ラ
インはＭｇ（マゼンタ）及びＹｅ（イエロー）の混合し
た画素信号ＡとＧ（グリーン）及びＣｙ（シアン）の混
合した画素信号Ｂとの点順次の信号であると共に偶数ラ
インはＧ（グリーン）及びＹｅ（イエロー）の混合した
画素信号ＣとＭｇ（マゼンタ）及びＣｙ（シアン）の混
合した画素信号Ｄとの点順次の信号であるものである。
例えば図１及び図５に示す如く、上述において、奇数ラ
インはＭｇ（マゼンタ）及びＹｅ（イエロー）の混合し
た画素信号ＡとＧ（グリーン）及びＣｙ（シアン）の混
合した画素信号Ｂとの点順次の信号であると共に偶数ラ
インはＧ（グリーン）及びＹｅ（イエロー）の混合した
画素信号ＣとＭｇ（マゼンタ）及びＣｙ（シアン）の混
合した画素信号Ｄとの点順次の信号であるものである。
【００２２】
【作用】本発明によれば、メモリ１１にレベル差検出回
路２１の出力信号としきい値Ｖｒとの比較結果を複数フ
ィールドに亘って記憶し、このメモリ１１の記憶情報に
より欠陥画素を断定するようにしているので、エッジ成
分があっても、欠陥画素を精度良く検出することができ
る。
路２１の出力信号としきい値Ｖｒとの比較結果を複数フ
ィールドに亘って記憶し、このメモリ１１の記憶情報に
より欠陥画素を断定するようにしているので、エッジ成
分があっても、欠陥画素を精度良く検出することができ
る。
【００２３】
【実施例】以下図面を参照して、本発明固体撮像装置の
自動欠陥検出装置の一実施例につき説明しよう。この図
１において、図３に反応する部分には同一符号を付し、
その詳細説明は省略する。本例においても、撮像レンズ
１よりの被写体像を光学フィルタ２を介して、ＣＣＤ固
体撮像素子３の撮像面に導く如くなす。
自動欠陥検出装置の一実施例につき説明しよう。この図
１において、図３に反応する部分には同一符号を付し、
その詳細説明は省略する。本例においても、撮像レンズ
１よりの被写体像を光学フィルタ２を介して、ＣＣＤ固
体撮像素子３の撮像面に導く如くなす。
【００２４】このＣＣＤ固体撮像素子３としては例えば
図４に示す如き補色モザイク配列のカラーフィルタを有
するカラーＣＣＤ固体撮像素子が用いられている。この
補色モザイク配列のカラーフィルタはＭｇ（マゼン
タ），Ｇ（グリーン），Ｙｅ（イエロー），Ｃｙ（シア
ン）の〔水平走査方向２列〕×〔垂直走査方向４行〕の
繰り返しパターン構成となされたものである。
図４に示す如き補色モザイク配列のカラーフィルタを有
するカラーＣＣＤ固体撮像素子が用いられている。この
補色モザイク配列のカラーフィルタはＭｇ（マゼン
タ），Ｇ（グリーン），Ｙｅ（イエロー），Ｃｙ（シア
ン）の〔水平走査方向２列〕×〔垂直走査方向４行〕の
繰り返しパターン構成となされたものである。
【００２５】このカラーＣＣＤ固体撮像素子３は電荷転
送方式として例えばインターライン転送方式を採用して
いる。このカラーＣＣＤ固体撮像素子３の各画素の信号
電荷の読み出しと、垂直及び水平転送との各駆動制御
は、タイミング発生回路４で発生される各種タイミング
信号に基づいて、ドライブ回路５によって行われる。
送方式として例えばインターライン転送方式を採用して
いる。このカラーＣＣＤ固体撮像素子３の各画素の信号
電荷の読み出しと、垂直及び水平転送との各駆動制御
は、タイミング発生回路４で発生される各種タイミング
信号に基づいて、ドライブ回路５によって行われる。
【００２６】このカラーＣＣＤ固体撮像素子３の撮像出
力信号（ＣＣＤ出力信号）はサンプルホールド回路６で
サンプルホールドされ、かつＡ−Ｄ変換器７でディジタ
ル化された後、欠陥検出回路８ａに供給される。
力信号（ＣＣＤ出力信号）はサンプルホールド回路６で
サンプルホールドされ、かつＡ−Ｄ変換器７でディジタ
ル化された後、欠陥検出回路８ａに供給される。
【００２７】このカラーＣＣＤ固体撮像素子３から得ら
れる空間的配列は図５に示す如くであり、ここでは補色
モザイク配列のカラーＣＣＤ固体撮像素子をフィールド
蓄積させたときの１フィールドの信号を例として示し、
簡略化のため、前述のように、 （Ｍｇ＋Ｙｅ）＝Ａ （Ｇ＋Ｃｙ）＝Ｂ （Ｇ＋Ｙｅ）＝Ｃ （Ｍｇ＋Ｃｙ）＝Ｄ と定義する。
れる空間的配列は図５に示す如くであり、ここでは補色
モザイク配列のカラーＣＣＤ固体撮像素子をフィールド
蓄積させたときの１フィールドの信号を例として示し、
簡略化のため、前述のように、 （Ｍｇ＋Ｙｅ）＝Ａ （Ｇ＋Ｃｙ）＝Ｂ （Ｇ＋Ｙｅ）＝Ｃ （Ｍｇ＋Ｃｙ）＝Ｄ と定義する。
【００２８】従って、ｎライン目ではＡ11，Ｂ12，Ａ13
‥‥‥という組合せの画素信号が点順次で得られる。ｎ
＋１ライン目ではＣ21，Ｄ22，Ｃ23‥‥‥という組合せ
の画素信号が点順次で得られ、更にｎ＋２ライン目では
Ａ31，Ｂ32，Ａ33‥‥‥と再びｎライン目と同じ色の組
合せの画素信号が点順次で得られる。順次上述が繰り返
される。
‥‥‥という組合せの画素信号が点順次で得られる。ｎ
＋１ライン目ではＣ21，Ｄ22，Ｃ23‥‥‥という組合せ
の画素信号が点順次で得られ、更にｎ＋２ライン目では
Ａ31，Ｂ32，Ａ33‥‥‥と再びｎライン目と同じ色の組
合せの画素信号が点順次で得られる。順次上述が繰り返
される。
【００２９】輝度変化が少ない被写体を撮像した場合、
各画素信号間には局所的には上述と同様にほぼ次式が成
立する。
各画素信号間には局所的には上述と同様にほぼ次式が成
立する。
【００３０】 Ａ11≒Ａ13≒Ａ15≒‥‥‥，Ａ13≒Ａ33 Ｂ12≒Ｂ14≒Ｂ16≒‥‥‥，Ｂ14≒Ｂ34 Ｃ21≒Ｃ23≒Ｃ25≒‥‥‥，Ｃ23≒Ｃ43 Ｄ22≒Ｄ24≒Ｄ26≒‥‥‥，Ｄ24≒Ｄ44
【００３１】即ち、隣接する同色画素間の出力信号のレ
ベル差は小さい。
ベル差は小さい。
【００３２】本例による欠陥検出回路８ａは図２に示す
如く、入力端子２１ａより供給される隣接する同色画素
信号のレベル差をレベル差検出回路２１で検出し、この
レベル差がしきい値Ｖｒ以上であるかどうかをコンパレ
ータ２２で判断し、このコンパレータ２２の出力端子２
２ａに得られるレベル差がしきい値Ｖｒ以上のときはこ
の画素信号に反応する画素を欠陥画素と判定してそのア
ドレス情報をメモリ１１に記憶する如くする。
如く、入力端子２１ａより供給される隣接する同色画素
信号のレベル差をレベル差検出回路２１で検出し、この
レベル差がしきい値Ｖｒ以上であるかどうかをコンパレ
ータ２２で判断し、このコンパレータ２２の出力端子２
２ａに得られるレベル差がしきい値Ｖｒ以上のときはこ
の画素信号に反応する画素を欠陥画素と判定してそのア
ドレス情報をメモリ１１に記憶する如くする。
【００３３】このメモリ１１としては数フィールド例え
ば６フィールドに亘る欠陥画素アドレス情報を順次記憶
できる如くする。このメモリ１１としてはフィールドメ
モリ又はアドレスデータのみを記憶するＲＡＭ等が使用
できる。
ば６フィールドに亘る欠陥画素アドレス情報を順次記憶
できる如くする。このメモリ１１としてはフィールドメ
モリ又はアドレスデータのみを記憶するＲＡＭ等が使用
できる。
【００３４】例えば図５に斜線で示す如く、画素信号Ｂ
34に該当する画素が欠陥画素であったとする。この場合
隣接する同色画素信号間のレベル差が生じ、Ｂ32≠Ｂ34
≠Ｂ 36となる。この同色画素信号間のレベル差がしきい
値Ｖｒ以上のときに、このＢ 34のアドレス情報をメモリ
１１に記憶する。
34に該当する画素が欠陥画素であったとする。この場合
隣接する同色画素信号間のレベル差が生じ、Ｂ32≠Ｂ34
≠Ｂ 36となる。この同色画素信号間のレベル差がしきい
値Ｖｒ以上のときに、このＢ 34のアドレス情報をメモリ
１１に記憶する。
【００３５】本例においては上述した数フィールド例え
ば６フィールドに亘って、この欠陥画素のアドレス情報
をメモリ１１に記憶する如くする。また、このメモリ１
１にこの数フィールド例えば６フィールドに亘って、常
に欠陥画素と判定された画素のみを欠陥画素と断定する
アルゴリズムを設ける如くする。
ば６フィールドに亘って、この欠陥画素のアドレス情報
をメモリ１１に記憶する如くする。また、このメモリ１
１にこの数フィールド例えば６フィールドに亘って、常
に欠陥画素と判定された画素のみを欠陥画素と断定する
アルゴリズムを設ける如くする。
【００３６】この欠陥検出回路８ａよりのＣＣＤ出力信
号を信号処理回路９に供給し、この信号処理回路９で欠
陥補正等各種の信号処理を施して、出力端子１０に所定
のカラービデオ信号を得る如くする。
号を信号処理回路９に供給し、この信号処理回路９で欠
陥補正等各種の信号処理を施して、出力端子１０に所定
のカラービデオ信号を得る如くする。
【００３７】本例によれば欠陥画素を検出するのに隣接
する同色画素信号のレベル差を得、このレベル差がしき
い値Ｖｒ以上のときに、この画素信号に対応する画素の
各フィールドのアドレス情報をメモリ１１に記憶してい
き、数フィールド例えば６フィールドに亘って、常に欠
陥画素と判定された画素のみを欠陥画素と断定するよう
にしたので、時間積分効果により、動画像のエッジ成分
を排除することができる。
する同色画素信号のレベル差を得、このレベル差がしき
い値Ｖｒ以上のときに、この画素信号に対応する画素の
各フィールドのアドレス情報をメモリ１１に記憶してい
き、数フィールド例えば６フィールドに亘って、常に欠
陥画素と判定された画素のみを欠陥画素と断定するよう
にしたので、時間積分効果により、動画像のエッジ成分
を排除することができる。
【００３８】従って本例によれば、誤検出の危険性が大
幅に減り、検出精度が高くなる。また同一フィールド内
のみで処理する場合に比し、欠陥検出アルゴリズムが簡
略化する利益がある。
幅に減り、検出精度が高くなる。また同一フィールド内
のみで処理する場合に比し、欠陥検出アルゴリズムが簡
略化する利益がある。
【００３９】また上述実施例においては欠陥検出回路８
ａにおける、隣接同色画素信号のレベル差を比較するコ
ンパレータ２２のしきい値Ｖｒを比較的下げておき、数
フィールドに亘って常に欠陥画素と判定された画素を欠
陥画素と断定したが、このしきい値Ｖｒを上げておき、
エッジ成分では間違っても誤検出しない状態としてお
き、数フィールドに亘って１回でも欠陥画素と判定され
た画素を欠陥画素と断定するようにしても上述と同様の
作用効果が得られないことは容易に理解できよう。
ａにおける、隣接同色画素信号のレベル差を比較するコ
ンパレータ２２のしきい値Ｖｒを比較的下げておき、数
フィールドに亘って常に欠陥画素と判定された画素を欠
陥画素と断定したが、このしきい値Ｖｒを上げておき、
エッジ成分では間違っても誤検出しない状態としてお
き、数フィールドに亘って１回でも欠陥画素と判定され
た画素を欠陥画素と断定するようにしても上述と同様の
作用効果が得られないことは容易に理解できよう。
【００４０】尚本発明は上述実施例に限ることなく本発
明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が取り
得ることは勿論である。
明の要旨を逸脱することなく、その他種々の構成が取り
得ることは勿論である。
【００４１】
【発明の効果】本発明によればメモリ１１にレベル差検
出回路の出力信号としきい値Ｖｒとの比較結果を複数フ
ィールドに亘って記憶し、このメモリ１１の記憶情報に
より欠陥画素を断定するようにしたので、エッジ成分が
あっても、欠陥画素を、簡単な構成で精度良く検出でき
る利益がある。
出回路の出力信号としきい値Ｖｒとの比較結果を複数フ
ィールドに亘って記憶し、このメモリ１１の記憶情報に
より欠陥画素を断定するようにしたので、エッジ成分が
あっても、欠陥画素を、簡単な構成で精度良く検出でき
る利益がある。
【図１】本発明固体撮像装置の自動欠陥検出装置の一実
施例を示すブロック図である。
施例を示すブロック図である。
【図２】図１の要部の例を示すブロック図である。
【図３】従来の固体撮像装置の自動欠陥検出装置の例を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図４】補色モザイク配列のカラーフィルタの例を示す
線図である。
線図である。
【図５】画素信号の空間的配列の例を示す線図である。
【図６】本発明の説明に供する線図である。
１ 撮像レンズ ３ ＣＣＤ固体撮像素子 ８ａ 欠陥検出回路 ９ 信号処理回路 １１ メモリ ２１ レベル差検出回路 ２２ コンパレータ
Claims (4)
- 【請求項１】 固体撮像素子の第１画素よりの第１画素
信号と前記第１画素の周辺の第２画素よりの第２画素信
号とのレベル差を検出するレベル差検出回路と、前記レ
ベル差検出回路の出力信号と所定のしきい値とを比較す
るコンパレータと、前記コンパレータの比較結果を複数
フィールド分記憶するめメモリとを有し、前記メモリの
記憶情報により欠陥画素を断定するようにしたことを特
徴とする固体撮像装置の自動欠陥検出装置。 - 【請求項２】 請求項１記載の固体撮像装置の自動欠陥
検出装置において、上記固体撮像素子には補色モザイク
配列のカラーフィルタが備えられたことを特徴とする固
体撮像装置の自動欠陥検出装置。 - 【請求項３】 請求項２記載の固体撮像装置の自動欠陥
検出装置において、前記補色モザイク配列のカラーフィ
ルタはＭｇ（マゼンタ），Ｇ（グリーン），Ｙｅ（イエ
ロー），Ｃｙ（シアン）の〔水平走査方向２列〕×〔垂
直走査方向４行〕の繰り返しパターンで構成されている
ことを特徴とする固体撮像装置の自動欠陥検出装置。 - 【請求項４】 請求項３記載の固体撮像装置の自動欠陥
検出装置において、奇数ラインはＭｇ（マゼンタ）及び
Ｙｅ（イエロー）の混合した画素信号とＧ（グリーン）
及びＣｙ（シアン）の混合した画素信号との点順次の信
号であると共に偶数ラインはＧ（グリーン）及びＹｅ
（イエロー）の混合した画素信号とＭｇ（マゼンタ）及
びＣｙ（シアン）の混合した画素信号との点順次の信号
であることを特徴とする固体撮像装置の自動欠陥検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07224993A JP3257131B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 固体撮像装置の自動欠陥検出装置及び固体撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07224993A JP3257131B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 固体撮像装置の自動欠陥検出装置及び固体撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06284346A true JPH06284346A (ja) | 1994-10-07 |
| JP3257131B2 JP3257131B2 (ja) | 2002-02-18 |
Family
ID=13483840
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP07224993A Expired - Fee Related JP3257131B2 (ja) | 1993-03-30 | 1993-03-30 | 固体撮像装置の自動欠陥検出装置及び固体撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3257131B2 (ja) |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030005009A (ko) * | 2001-07-06 | 2003-01-15 | 산요 덴키 가부시키가이샤 | 화상 데이터의 수정 방법 및 화상 신호 처리 장치 |
| KR100437434B1 (ko) * | 1999-10-27 | 2004-06-25 | 산요덴키가부시키가이샤 | 화상 신호 처리 장치 및 화소 결함의 검출 방법 |
| JP2005354670A (ja) * | 2004-05-13 | 2005-12-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像処理方法およびカメラシステム |
| US7164497B2 (en) | 2000-06-20 | 2007-01-16 | Olympus Optical Co., Ltd. | Color image processing apparatus |
| KR100779312B1 (ko) * | 2005-09-27 | 2007-11-23 | 샤프 가부시키가이샤 | 결함 검출 장치, 이미지 센서 디바이스, 이미지 센서 모듈,화상 처리 장치, 디지털 화상 품질 테스터, 및 결함 검출방법 |
| JP2009515486A (ja) * | 2005-11-09 | 2009-04-09 | エヌヴィディア コーポレイション | グラフィックスプロセッシングユニットの使用方法および装置 |
| US7777791B2 (en) | 2003-04-11 | 2010-08-17 | Mega Chips Corporation | Defective pixel correction device |
| US7783103B2 (en) | 2005-09-27 | 2010-08-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method |
| US7800655B2 (en) | 2003-12-18 | 2010-09-21 | Ricoh Company, Ltd. | Detecting abnormality of image capturing apparatus |
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|---|---|---|---|---|
| US6579388B2 (en) | 2001-06-28 | 2003-06-17 | Haynes International, Inc. | Aging treatment for Ni-Cr-Mo alloys |
-
1993
- 1993-03-30 JP JP07224993A patent/JP3257131B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7800655B2 (en) | 2003-12-18 | 2010-09-21 | Ricoh Company, Ltd. | Detecting abnormality of image capturing apparatus |
| JP2005354670A (ja) * | 2004-05-13 | 2005-12-22 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 画像処理方法およびカメラシステム |
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| US7783103B2 (en) | 2005-09-27 | 2010-08-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method |
| JP2009515486A (ja) * | 2005-11-09 | 2009-04-09 | エヌヴィディア コーポレイション | グラフィックスプロセッシングユニットの使用方法および装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3257131B2 (ja) | 2002-02-18 |
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