JPH0628592A - 微分応答特性を有するセンサから出力される信号の処理装置 - Google Patents
微分応答特性を有するセンサから出力される信号の処理装置Info
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- JPH0628592A JPH0628592A JP3270236A JP27023691A JPH0628592A JP H0628592 A JPH0628592 A JP H0628592A JP 3270236 A JP3270236 A JP 3270236A JP 27023691 A JP27023691 A JP 27023691A JP H0628592 A JPH0628592 A JP H0628592A
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- G01R15/005—Circuits for altering the indicating characteristic, e.g. making it non-linear
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- G—PHYSICS
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- G01R29/0864—Measuring electromagnetic field characteristics characterised by constructional or functional features
- G01R29/0892—Details related to signal analysis or treatment; presenting results, e.g. displays; measuring specific signal features other than field strength, e.g. polarisation, field modes, phase, envelope, maximum value
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 電界、磁界、電流、表面電荷又は他の微分変
数を測定するように構成されて微分応答特性を有するセ
ンサから、出力される電気信号を、元の形に再現して処
理する装置を提供することを目的とする。 【構成】 この信号処理は、上記電気信号の内の、低い
周波数f1 より高い周波数スペクトルを有する部分の原
始状態の計算を含む。この処理装置は、上記周波数f1
より高い周波数f2からの上記信号を積分する積分手段2
0と、上記周波数f1及びf2の間の上記信号を増幅して
積分する補正手段21とを備える。
数を測定するように構成されて微分応答特性を有するセ
ンサから、出力される電気信号を、元の形に再現して処
理する装置を提供することを目的とする。 【構成】 この信号処理は、上記電気信号の内の、低い
周波数f1 より高い周波数スペクトルを有する部分の原
始状態の計算を含む。この処理装置は、上記周波数f1
より高い周波数f2からの上記信号を積分する積分手段2
0と、上記周波数f1及びf2の間の上記信号を増幅して
積分する補正手段21とを備える。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、広範囲の現象の分野に
おいて信号を測定する装置に関するものである。より詳
細に言えば、本発明は、核電磁インパルスセンサ(EM
I)、雷センサまたは電磁的適合性センサ(EMC)か
ら出力される信号を処理する装置に関するものである。
これらのようなセンサは、電界、磁界、電流、または、
表面電荷の広帯域センサからなり、その周波数レスポン
スは約10〜100kHzから1GHz 以上の範囲にある。
おいて信号を測定する装置に関するものである。より詳
細に言えば、本発明は、核電磁インパルスセンサ(EM
I)、雷センサまたは電磁的適合性センサ(EMC)か
ら出力される信号を処理する装置に関するものである。
これらのようなセンサは、電界、磁界、電流、または、
表面電荷の広帯域センサからなり、その周波数レスポン
スは約10〜100kHzから1GHz 以上の範囲にある。
【0002】
【従来の技術】公知のように、これらのセンサは、受動
センサかまたは能動センサである。受動センサは、例え
ば、値50Ωの低インピーダンス負荷に接続されたセンサ
素子を使用する。センサと負荷との間の接続は、通常、
同じインピーダンスを有するケーブルによってなされ
る。受動センサの作動原理は、例えば、カール ボーム
(Carl Baum) 、エドワード ブリーン(Edward Breen)、
ジョセフ ギルズ(Joseph Gilles)、ジョン オネイル
(John O'Neill)、ゲリー ソワー(Gary Sower)による論
文「核源領域の内部及び外部の両方での電磁パルス測定
用センサ(Sensors for Electromagnetics Pulse Measur
ements both Inside and Away from Nuclear SourceReg
ions)」アイイーイーイー トランザクションズ オン
アンテナズ アンドプロパゲイション(IEEE Transact
ions on Antennas and Propagation) 、第AP−26巻、
第1号、1978年1月に記載されている。これらのような
受動センサは、測定すべき信号の実際の形状を得るため
に処理を必要とする微分応答特性を有する。この処理
は、センサから発生した信号を例えばRCセルによって
積分し、その積分した信号を積分器の等価インピーダン
スより高いインピーダンスを有する増幅器によって増幅
することからなる。受動センサの主な利点は、10GHz に
達することのある高周波数を通過させることである。ま
た、受動センサは製造が容易である。しかしながら、そ
のようなセンサの欠点は、その感度が低いことである。
センサかまたは能動センサである。受動センサは、例え
ば、値50Ωの低インピーダンス負荷に接続されたセンサ
素子を使用する。センサと負荷との間の接続は、通常、
同じインピーダンスを有するケーブルによってなされ
る。受動センサの作動原理は、例えば、カール ボーム
(Carl Baum) 、エドワード ブリーン(Edward Breen)、
ジョセフ ギルズ(Joseph Gilles)、ジョン オネイル
(John O'Neill)、ゲリー ソワー(Gary Sower)による論
文「核源領域の内部及び外部の両方での電磁パルス測定
用センサ(Sensors for Electromagnetics Pulse Measur
ements both Inside and Away from Nuclear SourceReg
ions)」アイイーイーイー トランザクションズ オン
アンテナズ アンドプロパゲイション(IEEE Transact
ions on Antennas and Propagation) 、第AP−26巻、
第1号、1978年1月に記載されている。これらのような
受動センサは、測定すべき信号の実際の形状を得るため
に処理を必要とする微分応答特性を有する。この処理
は、センサから発生した信号を例えばRCセルによって
積分し、その積分した信号を積分器の等価インピーダン
スより高いインピーダンスを有する増幅器によって増幅
することからなる。受動センサの主な利点は、10GHz に
達することのある高周波数を通過させることである。ま
た、受動センサは製造が容易である。しかしながら、そ
のようなセンサの欠点は、その感度が低いことである。
【0003】それに反して、能動センサの電界測定感度
は受動センサの感度の100 倍であり、磁界測定感度は受
動センサの感度の3000倍である。この種の能動センサ
は、グレゴワール ユーミュリアン(Gregoire Eumuria
n)「メジャーシステムでのEMP測定のコンピュータ援
助制御(Computer-assistedControl of EMP Measurement
on Major Systems)」第6回電磁適合性シンポジウム紀
要(Proceedings of the 6th Symposium on Electromagn
etic Compatibility) チューリッヒ(Zurich)1985年に記
載されている。電界測定能動センサから発生する信号
は、極めて高いインピーダンス(1MΩ以上)の増幅器
によって処理され、磁界測定能動センサでは、この処理
は、磁気コアを備える高インピーダンスコイルによって
実施される。能動センサは、200 〜300MHzまでの使用に
適しているが、これらの値を越えて使用する場合は、そ
れらのの内部電子回路の製造が困難になる。その上、こ
の電子回路によってセンサが大きくなる。これは、周波
数の増大、従って、波長の減少に相反する。
は受動センサの感度の100 倍であり、磁界測定感度は受
動センサの感度の3000倍である。この種の能動センサ
は、グレゴワール ユーミュリアン(Gregoire Eumuria
n)「メジャーシステムでのEMP測定のコンピュータ援
助制御(Computer-assistedControl of EMP Measurement
on Major Systems)」第6回電磁適合性シンポジウム紀
要(Proceedings of the 6th Symposium on Electromagn
etic Compatibility) チューリッヒ(Zurich)1985年に記
載されている。電界測定能動センサから発生する信号
は、極めて高いインピーダンス(1MΩ以上)の増幅器
によって処理され、磁界測定能動センサでは、この処理
は、磁気コアを備える高インピーダンスコイルによって
実施される。能動センサは、200 〜300MHzまでの使用に
適しているが、これらの値を越えて使用する場合は、そ
れらのの内部電子回路の製造が困難になる。その上、こ
の電子回路によってセンサが大きくなる。これは、周波
数の増大、従って、波長の減少に相反する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、特
に、従来の装置の欠点を解決することである。さらに詳
しく言えば、本発明の第1の目的は、受動センサの通過
域を保持したまま、同時に、能動センサの感度に匹敵す
る感度を得ることができるように、特に電界、磁界、電
流または表面電荷を検出するための広域受動センサによ
って出力された情報を処理するための装置を提供するこ
とにある。本発明の第2の目的は、製造が容易であり、
そのノイズが低いこ上記した装置を提供することであ
る。
に、従来の装置の欠点を解決することである。さらに詳
しく言えば、本発明の第1の目的は、受動センサの通過
域を保持したまま、同時に、能動センサの感度に匹敵す
る感度を得ることができるように、特に電界、磁界、電
流または表面電荷を検出するための広域受動センサによ
って出力された情報を処理するための装置を提供するこ
とにある。本発明の第2の目的は、製造が容易であり、
そのノイズが低いこ上記した装置を提供することであ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】これらの目的及び以下に
述べるその他の目的は、電界、磁界、電流、表面電荷又
は他の微分変数を測定するように構成された、微分応答
特性を有するセンサから出力される電気信号を処理する
装置であって、この処理は、上記電気信号の内の、低い
周波数f1 より高い周波数スペクトルを有する部分の原
始状態の計算を含み、この装置は、上記周波数f1 より
高い周波数f2 からの上記信号の積分する積分手段と、
上記周波数f1 とf2 との間の上記信号を増幅して積分
する補正手段とを備えることを特徴とする装置によっ
て、達成される。好ましくは、上記補正手段は、上記積
分手段の下流側に、上記積分手段に直列に設けられてい
る。好ましくは、上記補正手段の積分勾配は、上記積分
手段のそれに等しい。好ましくは、上記積分勾配は、−
6dB/オクターブの勾配である。好ましい実施態様に
よると、上記積分手段は、各々、少なくとも1つのRC
セルによって構成されている。好ましくは、上記処理装
置は、また、カットオフ周波数f0 がf1 より低い高域
フィルタを含む。好ましくは、上記高域フィルタの伝達
特性曲線の勾配は+6dB/オクターブである。本発明
の好ましい実施態様によると、上記周波数f1 は約100k
Hzであり、上記周波数f2 は約10MHz である。好ましく
は、上記補正手段は、少なくとも1つの広域増幅器及び
/または少なくとも1つのトランジスタを備える。本発
明による装置は、好ましくは、電界、磁界、電流及び/
または表面電荷センサから出力された信号の処理に使用
される。本発明のその他の特徴及び利点は、添付図面を
参照して行う以下の実施例の説明から明らかになろう。
但し、これらの実施例は、本発明を何ら限定するもので
はない。
述べるその他の目的は、電界、磁界、電流、表面電荷又
は他の微分変数を測定するように構成された、微分応答
特性を有するセンサから出力される電気信号を処理する
装置であって、この処理は、上記電気信号の内の、低い
周波数f1 より高い周波数スペクトルを有する部分の原
始状態の計算を含み、この装置は、上記周波数f1 より
高い周波数f2 からの上記信号の積分する積分手段と、
上記周波数f1 とf2 との間の上記信号を増幅して積分
する補正手段とを備えることを特徴とする装置によっ
て、達成される。好ましくは、上記補正手段は、上記積
分手段の下流側に、上記積分手段に直列に設けられてい
る。好ましくは、上記補正手段の積分勾配は、上記積分
手段のそれに等しい。好ましくは、上記積分勾配は、−
6dB/オクターブの勾配である。好ましい実施態様に
よると、上記積分手段は、各々、少なくとも1つのRC
セルによって構成されている。好ましくは、上記処理装
置は、また、カットオフ周波数f0 がf1 より低い高域
フィルタを含む。好ましくは、上記高域フィルタの伝達
特性曲線の勾配は+6dB/オクターブである。本発明
の好ましい実施態様によると、上記周波数f1 は約100k
Hzであり、上記周波数f2 は約10MHz である。好ましく
は、上記補正手段は、少なくとも1つの広域増幅器及び
/または少なくとも1つのトランジスタを備える。本発
明による装置は、好ましくは、電界、磁界、電流及び/
または表面電荷センサから出力された信号の処理に使用
される。本発明のその他の特徴及び利点は、添付図面を
参照して行う以下の実施例の説明から明らかになろう。
但し、これらの実施例は、本発明を何ら限定するもので
はない。
【0006】
【実施例】図1は、公知の形式による積分器及び増幅器
に組み合わせた標準的な受動センサを図示したものであ
る。図示した例では、インピーダンスRcを有するケー
ブル11を介して、同じインピーダンスを有する負荷12に
接続されたセンサ10を備える。このセンサ10は、特に、
電界、磁界、電流、表面電荷または微分性変数のセンサ
である。このセンサは、従って、測定値を得るために積
分しなければならない微分応答特性を有する。例えば、
電界センサの場合、負荷Rcの端子に出力される電圧
は、以下の通りである。 V=RcAeqεodE/dt (但し、上記式において、Rcは負荷インピーダンス、
Aeqはセンサの等積面積、εoは10-9/36π、Eは電界
である) センサ10から出力される信号は、積分手段13によって積
分される。この積分手段13は、特に、R1 C1 セルで形
成される。積分を実行することによって、微分型センサ
10によって測定した信号の値を得ることができる。積分
された信号は、増幅器14に送られる。その入力インピー
ダンスは、積分器13より大きい(Rinput ≫R1)。増
幅器14の出力電圧Vs は、以下の関係式によって算出さ
れる。 Vs ={GRcAeqεodE/dt}×{1/(1+R1C1p)} ≒{GRcAeqεodE/dt}×{1/R1C1p} =GRcAeqεoE/τ1 (但し、 τ1=R1C1=積分器13の時間定数 G=増幅器14の利得) 磁界センサの場合、増幅器の出力電圧を示す関係式は、
以下の通りである。 Vs =GAeqμ0 H/τ1 (但し、Hは磁界であり、μ=4π×10-7である) 周波数f1=1/2πR1C1(但し、R1C1=τ1であ
る)から積分を実施する。
に組み合わせた標準的な受動センサを図示したものであ
る。図示した例では、インピーダンスRcを有するケー
ブル11を介して、同じインピーダンスを有する負荷12に
接続されたセンサ10を備える。このセンサ10は、特に、
電界、磁界、電流、表面電荷または微分性変数のセンサ
である。このセンサは、従って、測定値を得るために積
分しなければならない微分応答特性を有する。例えば、
電界センサの場合、負荷Rcの端子に出力される電圧
は、以下の通りである。 V=RcAeqεodE/dt (但し、上記式において、Rcは負荷インピーダンス、
Aeqはセンサの等積面積、εoは10-9/36π、Eは電界
である) センサ10から出力される信号は、積分手段13によって積
分される。この積分手段13は、特に、R1 C1 セルで形
成される。積分を実行することによって、微分型センサ
10によって測定した信号の値を得ることができる。積分
された信号は、増幅器14に送られる。その入力インピー
ダンスは、積分器13より大きい(Rinput ≫R1)。増
幅器14の出力電圧Vs は、以下の関係式によって算出さ
れる。 Vs ={GRcAeqεodE/dt}×{1/(1+R1C1p)} ≒{GRcAeqεodE/dt}×{1/R1C1p} =GRcAeqεoE/τ1 (但し、 τ1=R1C1=積分器13の時間定数 G=増幅器14の利得) 磁界センサの場合、増幅器の出力電圧を示す関係式は、
以下の通りである。 Vs =GAeqμ0 H/τ1 (但し、Hは磁界であり、μ=4π×10-7である) 周波数f1=1/2πR1C1(但し、R1C1=τ1であ
る)から積分を実施する。
【0007】図2は、積分に及び補正モジュールに組み
合わせた標準的な受動センサを使用する、本発明による
好ましい1実施例を図示したものである。標準的な受動
センサ10は、インピーダンスRc のケーブルを介して、
値Rc の負荷に接続されている。受けた信号は、積分手
段20及び補正手段21を具備する装置22によって処理され
る。積分手段20は、特に、低域型R2C2セルによって構
成されている。本発明の特徴の1つは、R2C2に等しい
時間定数τ2が、図1に示した公知例の時間定数τ1より
かなり小さいことである。従って、以下の式が成り立
つ。 f2={1/(2πR2C2)}≫f1 周波数f1より大きい周波数f2からの積分の結果、装置
の感度はf2/f1 倍大きくなる。しかしながら、低いカ
ットオフ周波数は、f1からf2になり、微分型センサ10
から発生される信号はもはや周波数f1から積分されな
い。そのため、積分手段20に増幅器21が続いている。こ
の増幅器は、補正手段を構成し、特定の応答を有し、低
い周波数での応答の損失を補う。増幅器21はまた、積分
手段20の上流に配置することもできる。
合わせた標準的な受動センサを使用する、本発明による
好ましい1実施例を図示したものである。標準的な受動
センサ10は、インピーダンスRc のケーブルを介して、
値Rc の負荷に接続されている。受けた信号は、積分手
段20及び補正手段21を具備する装置22によって処理され
る。積分手段20は、特に、低域型R2C2セルによって構
成されている。本発明の特徴の1つは、R2C2に等しい
時間定数τ2が、図1に示した公知例の時間定数τ1より
かなり小さいことである。従って、以下の式が成り立
つ。 f2={1/(2πR2C2)}≫f1 周波数f1より大きい周波数f2からの積分の結果、装置
の感度はf2/f1 倍大きくなる。しかしながら、低いカ
ットオフ周波数は、f1からf2になり、微分型センサ10
から発生される信号はもはや周波数f1から積分されな
い。そのため、積分手段20に増幅器21が続いている。こ
の増幅器は、補正手段を構成し、特定の応答を有し、低
い周波数での応答の損失を補う。増幅器21はまた、積分
手段20の上流に配置することもできる。
【0008】図3は、増幅器21の周波数応答を示したも
のである。増幅器21は、0からf1までは利得G・f2/
f1の平坦な応答を有し、f1からf2までは−6dB/
オクターブの勾配を有し、f2からは利得Gの平坦な応
答を有する。低い時間定数τ2を使用した積分と、それ
に続く、低い周波数の補正とからならこのシステムによ
って、低い周波数での応答を犠牲にすることなく、かな
りの利得を得ることができる。この利得は、従来技術の
型の積分τ1=R1C1(図1)は、低い周波数で良好な
応答を得るために使用することができるが、その代わ
り、センサ信号をかなり消滅させる犠牲を払わねばなら
ない。一方、本発明で提案された方法では、センサから
の信号が消滅する要因をかなり減少させるが、その代わ
り、ノイズが少し大きくなる。それは、積分定数τ2が
低いので、積分器20からの出力信号の振幅はf2まで高
いままであるからである。従って、図2の装置の信号対
雑音比は、図1の装置より大きい。この僅かな増大は、
区域f1−f2での利得の増大によって生じるものであ
る。
のである。増幅器21は、0からf1までは利得G・f2/
f1の平坦な応答を有し、f1からf2までは−6dB/
オクターブの勾配を有し、f2からは利得Gの平坦な応
答を有する。低い時間定数τ2を使用した積分と、それ
に続く、低い周波数の補正とからならこのシステムによ
って、低い周波数での応答を犠牲にすることなく、かな
りの利得を得ることができる。この利得は、従来技術の
型の積分τ1=R1C1(図1)は、低い周波数で良好な
応答を得るために使用することができるが、その代わ
り、センサ信号をかなり消滅させる犠牲を払わねばなら
ない。一方、本発明で提案された方法では、センサから
の信号が消滅する要因をかなり減少させるが、その代わ
り、ノイズが少し大きくなる。それは、積分定数τ2が
低いので、積分器20からの出力信号の振幅はf2まで高
いままであるからである。従って、図2の装置の信号対
雑音比は、図1の装置より大きい。この僅かな増大は、
区域f1−f2での利得の増大によって生じるものであ
る。
【0009】以下の2つの実施例は、電界センサ及び磁
界センサの感度の利得を測定するためのものである。負
荷抵抗(Rc=50Ω) に接続された面積Aeq=10-2m2
の電界センサが、標準的な処理装置(図1)及び本発明
による装置(図2)で使用される。処理装置は、100kHz
から1GHz まで、平坦な応答を与えるべきである。標準
的な方法(図1)は、100kHz以下からセンサから発生す
る信号を積分することからなる。利得G=1を有する増
幅器14の入力でノイズが約 100μVeff である時、以下
の式が成り立つ。 Vs=RcAeqε0E/τc 但し、τc=1/2πfc 従って、fc=100KHzでは、τc=1.6 μs 従って、装置の出力でのノイズは、以下の通りである。 Enoise =Vnoise ×τc/(RcAeqε0 ) =100 ×10-6×1.6×10-6/(50×10-2×10-9/36π) =36Veff/m 本発明(図2)によると、センサから発生する信号は10
MHz から積分され、補正は、100kHzから10MHz で実施さ
れる。10MHz 〜1GHz 帯のノイズは変化せず、 100μV
effに等しい。100kHz〜10MHz 帯のノイズは、完全なフ
ィルタでは、以下の式。 100μVeff(100kHz/1GHz)1/2 =1μVeff に等しく、−6dB/オクターブの勾配を有するフィル
タ(第1次)では、 1μVeff(π/2)1/2 =1.25μVeff に等しい。このノイズは、 10MHz/100kHz=100 の付加
利得で増幅される。従って、入力では、以下のようにな
る。 1.25 ×100 =125 μVeff その入力での全ノイズは、以下の通りである。 (1002+1252)1/2 =160 μVeff 電界ノイズは、以下の通りである。 Enoise =160 ×10-6×1.6×10-8/(50×10-2×10-9/36π) =0.58Veff/m 従って、ノイズは、36dB低下する。
界センサの感度の利得を測定するためのものである。負
荷抵抗(Rc=50Ω) に接続された面積Aeq=10-2m2
の電界センサが、標準的な処理装置(図1)及び本発明
による装置(図2)で使用される。処理装置は、100kHz
から1GHz まで、平坦な応答を与えるべきである。標準
的な方法(図1)は、100kHz以下からセンサから発生す
る信号を積分することからなる。利得G=1を有する増
幅器14の入力でノイズが約 100μVeff である時、以下
の式が成り立つ。 Vs=RcAeqε0E/τc 但し、τc=1/2πfc 従って、fc=100KHzでは、τc=1.6 μs 従って、装置の出力でのノイズは、以下の通りである。 Enoise =Vnoise ×τc/(RcAeqε0 ) =100 ×10-6×1.6×10-6/(50×10-2×10-9/36π) =36Veff/m 本発明(図2)によると、センサから発生する信号は10
MHz から積分され、補正は、100kHzから10MHz で実施さ
れる。10MHz 〜1GHz 帯のノイズは変化せず、 100μV
effに等しい。100kHz〜10MHz 帯のノイズは、完全なフ
ィルタでは、以下の式。 100μVeff(100kHz/1GHz)1/2 =1μVeff に等しく、−6dB/オクターブの勾配を有するフィル
タ(第1次)では、 1μVeff(π/2)1/2 =1.25μVeff に等しい。このノイズは、 10MHz/100kHz=100 の付加
利得で増幅される。従って、入力では、以下のようにな
る。 1.25 ×100 =125 μVeff その入力での全ノイズは、以下の通りである。 (1002+1252)1/2 =160 μVeff 電界ノイズは、以下の通りである。 Enoise =160 ×10-6×1.6×10-8/(50×10-2×10-9/36π) =0.58Veff/m 従って、ノイズは、36dB低下する。
【0010】別の実施例によると、等価面積Aeq=10-3
m2 及びRc=50Ωを有する磁界センサを、標準的な装
置(図1)と組み合わせて、次に本発明による装置(図
2)と組み合わせて使用する。平坦な応答は、100kHzか
ら1GHz まで望まれる。標準的な方法(図1)は、100k
Hz以下からの微分型センサから発生する信号を積分す
る。増幅器14の単位利得としては、装置の出力電圧Vs
は以下の式に等しい。 Vs=Aeqμ0H/τc (但し、Vnoise =100 μ
Veff ) fC =100kHz、τc =1.6 μsでは、 Hnoise =Vnoise ×τc/RcAeqμ0 =100 ×10-6×1.6×10-6/(4π×10-7×10-3) =127 mA/m 本発明によると、積分は10MHz から実施され、補正は10
0kHz〜10MHzの範囲で実施される。入力が受ける全ノイ
ズは、160μVeff である。 Hnoise =127mAeff ×(160/100)×(1/100)=2mAeff/m 電界センサと同じ感度の利得が得られる。
m2 及びRc=50Ωを有する磁界センサを、標準的な装
置(図1)と組み合わせて、次に本発明による装置(図
2)と組み合わせて使用する。平坦な応答は、100kHzか
ら1GHz まで望まれる。標準的な方法(図1)は、100k
Hz以下からの微分型センサから発生する信号を積分す
る。増幅器14の単位利得としては、装置の出力電圧Vs
は以下の式に等しい。 Vs=Aeqμ0H/τc (但し、Vnoise =100 μ
Veff ) fC =100kHz、τc =1.6 μsでは、 Hnoise =Vnoise ×τc/RcAeqμ0 =100 ×10-6×1.6×10-6/(4π×10-7×10-3) =127 mA/m 本発明によると、積分は10MHz から実施され、補正は10
0kHz〜10MHzの範囲で実施される。入力が受ける全ノイ
ズは、160μVeff である。 Hnoise =127mAeff ×(160/100)×(1/100)=2mAeff/m 電界センサと同じ感度の利得が得られる。
【0011】図4は、本発明の他の実施例の周波数応答
を図示したものである。周波数区域0〜f1は、本発明
による装置では使用されない。対照的に、その区域で
は、処理回路列に、カットオフ周波数foの高域フィル
タを配置することによって制限されるノイズが生じる。
但し、foはf1より低い。このようなフィルタは、積分
手段20(図2)の前または後に置くことができる。もし
くは、補正手段21の出力に置くことができる。図4の伝
達関数は、補正手段21と組み合わされた高域フィルタの
伝達関数である。また、積分手段20を考慮すると、その
伝達関数は、f2を始点とする破線で図示した関数であ
る。上記の2つの実施例では、75kHz のカットオフ周波
数を有する高域フィルタを使用して、低い周波数のノイ
ズを 125μVeff から125(25/100)1/2=62.5μV
ef f (f1−f0 = 100−75=25kHz)にする。利得は2.6
dB である。図4に図示した伝達関数は、第1次高域フ
ィルタで得られる関数であるが、より高次のフィルタを
使用することももちろん可能である。
を図示したものである。周波数区域0〜f1は、本発明
による装置では使用されない。対照的に、その区域で
は、処理回路列に、カットオフ周波数foの高域フィル
タを配置することによって制限されるノイズが生じる。
但し、foはf1より低い。このようなフィルタは、積分
手段20(図2)の前または後に置くことができる。もし
くは、補正手段21の出力に置くことができる。図4の伝
達関数は、補正手段21と組み合わされた高域フィルタの
伝達関数である。また、積分手段20を考慮すると、その
伝達関数は、f2を始点とする破線で図示した関数であ
る。上記の2つの実施例では、75kHz のカットオフ周波
数を有する高域フィルタを使用して、低い周波数のノイ
ズを 125μVeff から125(25/100)1/2=62.5μV
ef f (f1−f0 = 100−75=25kHz)にする。利得は2.6
dB である。図4に図示した伝達関数は、第1次高域フ
ィルタで得られる関数であるが、より高次のフィルタを
使用することももちろん可能である。
【0012】図5及び図6は各々、本発明による装置の
1実施例を図示したものである。図5は、本発明による
装置の第1の好ましい実施例を図示したものである。図
示した装置は、微分型センサ10から発生される信号の処
理回路列を構成している。セル20は、カットオフ周波数
f2=1/2πR2C2の積分器を構成している。セル20
の次には、セル20の等価インピーダンスよりかなり大き
い入力インピーダンスを有する増幅器50がある。増幅器
50の利得は、f2/f1より高い。増幅器50の出力に直列
接続されたコンデンサCは、f1以下の周波数通過域を
制限し、従って、さらに、ノイズを小さくするために使
用される。コンデンサCの次には、以下の伝達関数のフ
ィルタR3R4C3が続く。 T(p)=R4(p+ω2)/(R3+R4)(p+ω1) (但し、上記式において、 ω1=1/{(R3+R4)C3}=2πf1 ω2=1/R4C3=2πf2 従って、フィルタのカットオフ周波数f1及びf2は、別
々に調節できる。フィルタR3R4C3の次には、フィル
タの等価のインピーダンスより高い入力インピーダンス
を有する増幅器51がある。増幅器50及び51は、好ましく
は、広帯域増幅器であるが、他のいずれの種類の増幅器
も使用することができる。
1実施例を図示したものである。図5は、本発明による
装置の第1の好ましい実施例を図示したものである。図
示した装置は、微分型センサ10から発生される信号の処
理回路列を構成している。セル20は、カットオフ周波数
f2=1/2πR2C2の積分器を構成している。セル20
の次には、セル20の等価インピーダンスよりかなり大き
い入力インピーダンスを有する増幅器50がある。増幅器
50の利得は、f2/f1より高い。増幅器50の出力に直列
接続されたコンデンサCは、f1以下の周波数通過域を
制限し、従って、さらに、ノイズを小さくするために使
用される。コンデンサCの次には、以下の伝達関数のフ
ィルタR3R4C3が続く。 T(p)=R4(p+ω2)/(R3+R4)(p+ω1) (但し、上記式において、 ω1=1/{(R3+R4)C3}=2πf1 ω2=1/R4C3=2πf2 従って、フィルタのカットオフ周波数f1及びf2は、別
々に調節できる。フィルタR3R4C3の次には、フィル
タの等価のインピーダンスより高い入力インピーダンス
を有する増幅器51がある。増幅器50及び51は、好ましく
は、広帯域増幅器であるが、他のいずれの種類の増幅器
も使用することができる。
【0013】図6は、本発明による装置の別の好ましい
実施例を図示したものである。図面を簡単にするため
に、トランジスタT1〜T3のバイアス抵抗は図示してい
ない。トランジスタT1及びT3は、共通コレクタ接続の
形に接続されており、従って、ホロワ機能(インピーダ
ンス整合)を果たす。補正手段は、トランジスタT2及
びネットワークR3R4C3によって構成されている。ト
ランジスタT2の利得は、以下の式1によって示され
る。 Av ={(R3R4)/(R3+R4)}×(1/RE) ×[p+{1/(R4C3)] ÷[p+{1/〔C3(R3+R4) 〕}] =[(R3R4)/{(R3+R4)RE}] ×{(p+ω2 )/(p+ω1 )} (但し、上記式において、 ω1=1/{C3(R3+R4)} ω2=1/(R4C3) 2つのコンデンサCによって、帯域をf1以下に制限す
ることができ、従って、ノイズをさらに小さくすること
ができる。図5及び図6は、本発明の2つの好ましい実
施例を示したものであり、微分性センサから発生する信
号を処理するこの装置は、別の方法で製造することもで
きる。また、装置の伝達特性曲線は、より大きい勾配、
特に、−12dB/オクターブの勾配を有する。
実施例を図示したものである。図面を簡単にするため
に、トランジスタT1〜T3のバイアス抵抗は図示してい
ない。トランジスタT1及びT3は、共通コレクタ接続の
形に接続されており、従って、ホロワ機能(インピーダ
ンス整合)を果たす。補正手段は、トランジスタT2及
びネットワークR3R4C3によって構成されている。ト
ランジスタT2の利得は、以下の式1によって示され
る。 Av ={(R3R4)/(R3+R4)}×(1/RE) ×[p+{1/(R4C3)] ÷[p+{1/〔C3(R3+R4) 〕}] =[(R3R4)/{(R3+R4)RE}] ×{(p+ω2 )/(p+ω1 )} (但し、上記式において、 ω1=1/{C3(R3+R4)} ω2=1/(R4C3) 2つのコンデンサCによって、帯域をf1以下に制限す
ることができ、従って、ノイズをさらに小さくすること
ができる。図5及び図6は、本発明の2つの好ましい実
施例を示したものであり、微分性センサから発生する信
号を処理するこの装置は、別の方法で製造することもで
きる。また、装置の伝達特性曲線は、より大きい勾配、
特に、−12dB/オクターブの勾配を有する。
【図1】公知の形式による、積分器及び増幅器と組み合
わせた標準的な受動センサを図示したものである。
わせた標準的な受動センサを図示したものである。
【図2】積分器及び補正モジュールと組み合わせた標準
的な受動センサを使用する、本発明の好ましい実施例を
図示したものである。
的な受動センサを使用する、本発明の好ましい実施例を
図示したものである。
【図3】図2の補正モジュールの周波数応答を図示した
ものである。
ものである。
【図4】本発明の別の実施例の伝達特性曲線を図示した
ものである。
ものである。
【図5】本発明による装置の1実施例を図示したもので
ある。
ある。
【図6】本発明による装置の1実施例を図示したもので
ある。
ある。
10 微分型センサ 11 ケーブル 12 負荷 13 積分器 14 増幅器 20 積分手段 21 補正手段 50、51 増幅器
Claims (13)
- 【請求項1】電界、磁界、電流、表面電荷又は他の微分
変数を測定するように構成された、微分応答特性を有す
るセンサから出力される電気信号を処理する装置であっ
て、この処理は、上記電気信号の内の、低い周波数f1
より高い周波数スペクトルを有する部分の原始状態の計
算を含み、この装置は、 上記周波数f1 より高い周波数f2 からの上記信号の積
分する積分手段と、 上記周波数f1 とf2 との間の上記信号を増幅して積分
する補正手段とを備えることを特徴とする装置。 - 【請求項2】上記補正手段は、上記積分手段の下流側
に、上記積分手段に直列に設けられていることを特徴と
する請求項1に記載の装置。 - 【請求項3】上記補正手段は、上記積分手段の積分勾配
に等しい積分勾配を有することを特徴とする請求項1に
記載の装置。 - 【請求項4】上記補正手段は、上記積分手段の積分勾配
に等しい積分勾配を有することを特徴とする請求項2に
記載の装置。 - 【請求項5】上記積分勾配は、−6dB/オクターブの勾
配であることを特徴とする請求項4に記載の装置。 - 【請求項6】上記積分手段は、各々、少なくとも1つの
RCセルによって構成されていることを特徴とする請求
項1に記載の装置。 - 【請求項7】カットオフ周波数f0 が上記周波数f1 よ
り低い高域フィルタを備えることを特徴とする請求項1
に記載の装置。 - 【請求項8】上記高域フィルタの伝達特性曲線の勾配が
+6dB/オクターブであることを特徴とする請求項7に
記載の装置。 - 【請求項9】上記センサは、受動センサであることを特
徴とする請求項1に記載の装置。 - 【請求項10】上記周波数f1 が約100kHzであり、上記周
波数f2 が約10MHzであることを特徴とする請求項1に
記載の装置。 - 【請求項11】上記補正手段は、少なくとも1つの広域増
幅器及び/または少なくとも1つのトランジスタを備え
ることを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 【請求項12】上記補正手段は、少なくとも1つの広域増
幅器及び/または少なくとも1つのトランジスタを備え
ることを特徴とする請求項2に記載の装置。 - 【請求項13】電界、磁界、電流及び/または表面電荷セ
ンサから発生する信号の処理への請求項1〜12のいずれ
か1項に記載の装置の使用。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9011679 | 1990-09-21 | ||
| FR9011679A FR2667158B1 (fr) | 1990-09-21 | 1990-09-21 | Dispositif de traitement d'un signal provenant d'un capteur ayant une reponse du type derivatif. |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0628592A true JPH0628592A (ja) | 1994-02-04 |
Family
ID=9400528
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3270236A Withdrawn JPH0628592A (ja) | 1990-09-21 | 1991-09-21 | 微分応答特性を有するセンサから出力される信号の処理装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5245278A (ja) |
| EP (1) | EP0477087A1 (ja) |
| JP (1) | JPH0628592A (ja) |
| CA (1) | CA2051882A1 (ja) |
| FR (1) | FR2667158B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017009606A (ja) * | 2015-06-19 | 2017-01-12 | 音羽電機工業株式会社 | 大気電界検出装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0566452A (ja) * | 1991-09-10 | 1993-03-19 | Canon Inc | 防振機能付カメラ |
| FR2698172B1 (fr) * | 1992-11-19 | 1994-12-16 | Thomson Csf | Capteurs électromagnétiques semi-actifs à fonction de transfert distribuée. |
| WO1998029848A1 (en) * | 1996-12-26 | 1998-07-09 | Kim Man Chun | Electromagnetic wave warning system |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3628129A (en) * | 1970-10-01 | 1971-12-14 | Gen Electric | Process controller including a rate circuit responsive solely to process variable signal changes |
| US3812383A (en) * | 1972-07-20 | 1974-05-21 | Rca Corp | High speed signal following circuit |
| GB1475517A (en) * | 1974-06-27 | 1977-06-01 | British Steel Corp | Detection of surface defects in elongate metallic members |
| US4180706A (en) * | 1976-04-30 | 1979-12-25 | Bang & Olufsen A/S | Loudspeaker motional feedback system |
| FR2352304A1 (fr) * | 1976-05-17 | 1977-12-16 | Aerospatiale | Procede de detection d'un champ electromagnetique variable et dispositif mettant en oeuvre ledit procede |
| US4295006A (en) * | 1978-04-24 | 1981-10-13 | Victor Company Of Japan, Limited | Speaker system |
| US4210866A (en) * | 1978-05-08 | 1980-07-01 | Magnaflux Corporation | Linearizing circuit for a non-destructive testing instrument having a digital display |
| US4221995A (en) * | 1978-07-24 | 1980-09-09 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Linear motor drive system for continuous-path closed-loop position control of an object |
| US4243840A (en) * | 1978-12-22 | 1981-01-06 | Teledyne Industries, Inc. | Loudspeaker system |
| GB2044459B (en) * | 1979-03-16 | 1983-10-26 | British Gas Corp | Velocity correction arrangement for non-destructive testing apparatus |
| US4423289A (en) * | 1979-06-28 | 1983-12-27 | National Research Development Corporation | Signal processing systems |
| US4511978A (en) * | 1981-06-30 | 1985-04-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Device for determining a parameter signal for a voltage-fed load |
| GB2153173B (en) * | 1984-01-19 | 1987-09-30 | Marconi Co Ltd | High-frequency pre-distortion circuit for power amplifiers |
-
1990
- 1990-09-21 FR FR9011679A patent/FR2667158B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-09-13 US US07/759,423 patent/US5245278A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-09-17 EP EP91402466A patent/EP0477087A1/fr not_active Withdrawn
- 1991-09-19 CA CA002051882A patent/CA2051882A1/fr not_active Abandoned
- 1991-09-21 JP JP3270236A patent/JPH0628592A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017009606A (ja) * | 2015-06-19 | 2017-01-12 | 音羽電機工業株式会社 | 大気電界検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2667158B1 (fr) | 1993-01-22 |
| CA2051882A1 (fr) | 1992-03-22 |
| US5245278A (en) | 1993-09-14 |
| EP0477087A1 (fr) | 1992-03-25 |
| FR2667158A1 (fr) | 1992-03-27 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |