JPH06289258A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

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JPH06289258A
JPH06289258A JP8035193A JP8035193A JPH06289258A JP H06289258 A JPH06289258 A JP H06289258A JP 8035193 A JP8035193 A JP 8035193A JP 8035193 A JP8035193 A JP 8035193A JP H06289258 A JPH06289258 A JP H06289258A
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JP
Japan
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laser
lens
metallized
semiconductor laser
photodiode
Prior art date
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Pending
Application number
JP8035193A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasutoshi Yagyu
泰利 柳生
Makoto Shimaoka
誠 嶋岡
Kazuyuki Fukuda
和之 福田
Tetsuo Kumazawa
鉄雄 熊沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【構成】レンズ2をレーザキャリア1に直接成形してあ
り、レンズ2と光軸が合うように、半導体レーザ素子3
を搭載したレーザサブマウント9と、PD(フォトダイ
オード)6を搭載したPDサブマウント10をレーザキ
ャリア1上に固定してある。 【効果】本発明では、レンズをレーザキャリアに直接成
形しているため、低融点半田を用いる必要がない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体レーザ素子とレ
ンズ及びフォトダイオード(以下PD)を一体化した半
導体レーザ装置に関するものであり、レンズをレーザキ
ャリアに直接成型することにより従来装置にあった強度
の弱い半田接合部を無くし、信頼性向上を実現したこと
を特徴とする。
【0002】本発明による半導体レーザ装置は、光通信
や光計測等の分野で光源として用いることができ、従来
装置に比べて高い信頼性を有する。
【0003】
【従来の技術】従来例として、特開昭58−21890
号公報に記載の発明を図4に示す。図4に示す従来構造
では、半導体レーザ3とレンズ2を別のキャリア1,7
に各々固定し、レンズキャリア7を動かしてレンズ2と
半導体レーザ3の光軸を合わせた後、レンズキャリア7
とレーザキャリア1を半田付けによって固定していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】図4の従来例では、レ
ンズキャリア7をレーザキャリア1に半田付けで固定し
ていた。その場合、図4の構造では、先にレーザ素子3
をAu/Sn等の高融点半田(融点200℃以上)で固
定し、その後で固定するレンズキャリア7には、Pb/
Sn等の低融点半田(融点200℃以下)を用いざるを
得ない。一般に、低融点半田は強度が低くて温度変動や
経年劣化によりクラックやクリープが生じ易く、その結
果、組立後レンズキャリア7が動いて光軸ずれが起きる
という問題点があり、信頼性が低かった。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記問題点は、レーザキ
ャリアとレンズキャリアを別部材にして半田固定したこ
とに起因している。そこで、本発明では、レンズとレー
ザ素子を同一のキャリア上に搭載する構造とした。具体
的には、文献((株)旭ガラス 非球面ガラスモールド
レンズ資料)に記載されているように現在では半導体レ
ーザ用の微小レンズを金属部材に直接成形することが可
能であるため、レーザキャリアにレンズを直接成形で形
成し、その後、レーザ素子をレーザキャリア上に固定す
る構造とした。
【0006】
【作用】本発明では、レンズをレーザキャリアに直接成
型しているため、装置の組立は半導体レーザをレンズと
光軸合せした後Au/Sn等の高融点半田で直接レーザ
キャリアに固定するだけで良い。そのため、従来装置に
あったレーザキャリアとレンズキャリア間の低融点半田
による接合部がなくなり、組立後に低融点半田の疲労に
よりレンズが動いて光軸ずれを起こすという前述の問題
点は解決される。
【0007】
【実施例】図5,図6は、本発明の一実施例の斜視図,
断面図である。レーザキャリア1には予めレンズ2を直
接成形してあり、半導体レーザ素子3を上面に固定した
レーザサブマウント9とPD6を固定したPDサブマウ
ント10をレンズ2と光軸合せした後、レーザキャリア
1上に半田固定してある。
【0008】以下に各部材及び組立工程を説明する。図
7に示すレーザキャリア1は、線膨張係数の低いコバー
ルやCu−W合金等(いずれも線膨張係数6×10 ̄6
程度)を材料とし寸法は数mm角程度であり、図に示す
ように、垂直な壁板を有し、表面には半田付けのために
Auメッキが施してある。そして、レンズ成形のために
壁板には直径1mm程度の孔13が空けてある。
【0009】次に、図8(a)に示すように、レンズ金
型14をレーザキャリア1の孔13を挾むように配置
し、その間に孔13を埋めるようにレンズ材料15を充
填する。そして、焼成によって図8(b)に示すよう
に、レンズ2をレーザキャリア1に成形する。
【0010】一方、図8(c),(d)に示すようにP
D6をセラミック製のPDサブマウント10に半田固定
し、図8(e),(f)に示すように、半導体レーザ素
子3をセラミック製のレーザサブマウント9に半田固定
する。これらの半田付けには、Au/Sn(融点280
℃)のような高融点の半田を用いる。そして、まず
(d)のPDサブマウント10をレンズ2と光軸が合う
ように、レーザキャリア1上に配置しAu/Sn等の高
融点半田で固定する。
【0011】次に、(f)のレーザサブマウント9をレ
ーザ素子3とレンズ2の光軸を合わせた後、レーザキャ
リア1上にAu/Sn等の高融点半田で固定する。これ
らの半田付け時に、先に固定したレーザ3とレーザサブ
マウント9間、及びPD6とPDサブマウント10間の
Au/Sn半田は融けるが、溶融半田の粘性によってレ
ーザ素子3とPD6は大きく動くことはないので、位置
合わせの障害にはならない。こうして本発明で述べた半
導体レーザ装置が完成する。
【0012】本発明では、レンズをレーザキャリアに直
接成形しているため、従来例のように低融点半田を用い
る必要がなく、レンズとレーザ素子の光軸ずれは生じ難
い。
【0013】ところで、レンズの直接成形では、レンズ
とそれを成形する金属ベースの線膨張係数が大きく異な
ると成形時にレンズに割れが生じる場合があるので、金
属ベースの線膨張係数はレンズの線膨張係数の0.8倍
から1.2倍程度にする必要がある。このように線膨張
係数の値から限定される金属材の熱伝導率は必ずしも高
いことは期待できないが、半導体レーザは発振時に数十
mWから数百mWの熱を発するので、排熱を良くするた
めにレーザを取り付ける金属ベースは熱伝導率が高い方
が望ましい。
【0014】これらの条件を満足するために、線膨張係
数をレンズに合わせたレンズベース18と、熱伝導率を
高くしたレーザベース19を垂直にろう付けして一体化
したものをレーザキャリア1とした例が図9である。実
施例では、レンズベース18としてFe−Ni合金(線
膨張係数8×10 ̄6,熱伝導率0.03[Cal/c
msec℃])を、レーザベース19としてCu−W合
金(線膨張係数6×10 ̄6,熱伝導率0.7[Cal
/cmsec℃])を用いている。
【0015】今までの実施例では、レーザ素子3とPD
6のどちらをも、一旦、サブマウントに半田付けし、そ
のサブマウントを操作して位置決めを行っているが、こ
れは、半導体素子を直接掴んで動かすと、作業ミスによ
り破壊してしまう恐れがあるからである。
【0016】本発明は基本的にはサブマウントがなくて
も実現可能であり、図1,図2,図3には、サブマウン
トを用いずにレーザ素子3とPD6を直接レーザキャリ
ア1上に半田付けした実施例を示す。この場合、レーザ
キャリアの材料は、前と同様に、線膨張係数の低いコバ
ールやCu−W合金を用いている。
【0017】一方、先に述べたように、レンズとの線膨
張係数の整合及びレーザの排熱が問題となる場合は先と
同様、図10に示すように、線膨張係数をレンズに合わ
せた金属を材料とするレンズベースと熱伝導率の高い金
属を材料とするレーザベースをろう付けして一体化した
ものをレーザキャリアとして用いる。レンズベースとレ
ーザベースの材質は先と同様である。
【0018】
【発明の効果】本発明によれば、レンズをレーザキャリ
アに直接成形しているため、低融点半田を用いる必要が
なくなるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による半導体レーザ装置の斜視図であ
る。
【図2】本発明による半導体レーザ装置の上面図であ
る。
【図3】本発明による半導体レーザ装置の断面図であ
る。
【図4】従来技術による半導体レーザ装置の斜視図であ
る。
【図5】本発明による実施例の斜視図である。
【図6】本発明による実施例の断面図である。
【図7】三角法によるレーザキャリアの説明図である。
【図8】本発明による半導体レーザ装置の組立工程図で
ある。
【図9】レンズキャリアをレンズベースとレーザベース
のろう付けとした実施例の説明図である。
【図10】レンズキャリアをレンズベースとレーザベー
スのろう付けとし、かつサブマウントを用いない実施例
の説明図である。
【符号の説明】
1…レーザキャリア、2…レンズ、3…半導体レーザ素
子、6…PD(フォトダイオード)、9…レーザサブマ
ウント、10…PDサブマウント。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 熊沢 鉄雄 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】垂直な壁板を有しその壁板に1個の孔が空
    けてありその孔を埋める様にガラスレンズが直接成型で
    作られている金属製のレーザキャリアと、少なくとも一
    つの面をメタライズされた半導体レーザ素子と、受光面
    の裏面がメタライズされているフォトダイオードから成
    り、半導体レーザ素子のメタライズ面とフォトダイオー
    ドのメタライズ面がレーザキャリアの表面に半田付けで
    接合されており、半導体レーザ素子の前面から発せられ
    るレーザ光がレンズによって集光され、後面から発せら
    れるモニタ光がフォトダイオードに受光される構成にな
    っていることを特徴とする半導体レーザ装置。
  2. 【請求項2】垂直な壁板を有しその壁板に1個の孔が空
    けてありその孔を埋める様にガラスレンズが直接成型で
    作られている金属製のレーザキャリアと、少なくとも一
    つの面をメタライズされた半導体レーザ素子と、受光面
    の裏面がメタライズされているフォトダイオードと、セ
    ラミックを材料として複数の面をメタライズされたレー
    ザサブマウントとフォトダイオードサブマウントから成
    り、半導体レーザ素子のメタライズ面とレーザサブマウ
    ントのメタライズ面が半田付けされており、レーザサブ
    マウントの他方のメタライズ面がレーザキャリアの表面
    に半田付けされており、フォトダイオードのメタライズ
    面がフォトダイオードサブマウントのメタライズ面に半
    田付けされており、フォトダイオードサブマウントの他
    方のメタライズ面がレーザキャリアの表面に半田付けさ
    れており、半導体レーザ素子の前面から発せられるレー
    ザ光がレンズによって集光され、後面から発せられるモ
    ニタ光がフォトダイオードに受光される構成になってい
    ることを特徴とする半導体レーザ装置。
  3. 【請求項3】請求項1または2において、レーザキャリ
    アの材料としてコバールまたはCu−W合金を用いた半
    導体レーザ装置。
  4. 【請求項4】請求項1または2において、レンズの線膨
    張係数の0.8倍から1.2倍の線膨張係数を持つ金属
    板であるレンズベースと、熱伝導率がレンズベースより
    高い金属で作られた板であるレーザベースを垂直にろう
    付けして一体化したものをレーザキャリアとし、レンズ
    ベース上にレンズを形成し、半導体レーザ素子を固定し
    たレーザサブマウントとフォトダイオードを固定したフ
    ォトダイオードサブマウントをレーザベース上に固定し
    た半導体レーザ装置。
  5. 【請求項5】請求項4において、レンズベースの材料と
    してFe−Ni合金を、レーザベースの材料としてCu
    −W合金を用いた半導体レーザ装置。
JP8035193A 1993-04-07 1993-04-07 半導体レーザ装置 Pending JPH06289258A (ja)

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JP8035193A JPH06289258A (ja) 1993-04-07 1993-04-07 半導体レーザ装置

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JP8035193A JPH06289258A (ja) 1993-04-07 1993-04-07 半導体レーザ装置

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JPH06289258A true JPH06289258A (ja) 1994-10-18

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ID=13715838

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JP8035193A Pending JPH06289258A (ja) 1993-04-07 1993-04-07 半導体レーザ装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6813102B2 (en) 2002-04-08 2004-11-02 Opnext Japan, Inc. Optical module with a monitor photo diode
KR100454972B1 (ko) * 2002-12-31 2004-11-06 삼성전자주식회사 광학소자의 수동정렬 장치
US7620090B2 (en) 2006-06-30 2009-11-17 Oki Semiconductor Co., Ltd. Semiconductor laser device
CN115302445A (zh) * 2022-10-11 2022-11-08 昆山三智达自动化设备科技有限公司 基于模块单元的激光泵浦源高效组装工艺

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