JPH06289980A - デジタイザの精度検定方法およびプロッタの精度検定方法 - Google Patents
デジタイザの精度検定方法およびプロッタの精度検定方法Info
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- JPH06289980A JPH06289980A JP9880093A JP9880093A JPH06289980A JP H06289980 A JPH06289980 A JP H06289980A JP 9880093 A JP9880093 A JP 9880093A JP 9880093 A JP9880093 A JP 9880093A JP H06289980 A JPH06289980 A JP H06289980A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 オペレータがデジタイザ１に基準図５を貼り
付け（ステップＳ１）、指示具７を用いて基準点Ａ１、
Ａ２……の座標を入力する（ステップＳ２）。コンピュ
ータ３はステップＳ２で入力されたデジタイザ１上の座
標（Ｘ1 ，Ｙ1 ）と、基準図５上の各基準点の座標（Ｘ
i 0 ，Ｙi 0 ）から次式に従って変位ｘi、ｙi を算出
する（ステップＳ３）。 ｘi ＝Ｘi −Ｘi 0 ｙi ＝Ｙi −Ｙi 0 次に変位ｘi 、ｙi に対してアフィン変換を用いてデジ
タイザ１の補正パラメータを算出し（ステップＳ４）、
補正パラメータにより補正前後の変位の標準誤差を算出
する（ステップＳ５）。 【効果】 デジタイザの精度検定を簡単に行える。
付け（ステップＳ１）、指示具７を用いて基準点Ａ１、
Ａ２……の座標を入力する（ステップＳ２）。コンピュ
ータ３はステップＳ２で入力されたデジタイザ１上の座
標（Ｘ1 ，Ｙ1 ）と、基準図５上の各基準点の座標（Ｘ
i 0 ，Ｙi 0 ）から次式に従って変位ｘi、ｙi を算出
する（ステップＳ３）。 ｘi ＝Ｘi −Ｘi 0 ｙi ＝Ｙi −Ｙi 0 次に変位ｘi 、ｙi に対してアフィン変換を用いてデジ
タイザ１の補正パラメータを算出し（ステップＳ４）、
補正パラメータにより補正前後の変位の標準誤差を算出
する（ステップＳ５）。 【効果】 デジタイザの精度検定を簡単に行える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は道路施設物、ガス設備、
水道設備、下水設備、電力設備等を管理するコンピュー
タマッピングシステムに用いられるデジタイザおよびプ
ロッタの精度検定方法に関するものである。
水道設備、下水設備、電力設備等を管理するコンピュー
タマッピングシステムに用いられるデジタイザおよびプ
ロッタの精度検定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】いわゆるコンピュータマッピングシステ
ムでは、デジタイザから地図データを入力し、入力され
た地図データをホストコンピュータの地図データベース
に格納し、地図データベースに格納された地図データを
プロッタから出図することが行われる。
ムでは、デジタイザから地図データを入力し、入力され
た地図データをホストコンピュータの地図データベース
に格納し、地図データベースに格納された地図データを
プロッタから出図することが行われる。
【０００３】このような地図データは道路台帳図等の道
路地形図を基準として、その道路地形図と対応させて道
路施設物、ガス設備、水道設備、下水設備、電力設備等
の配設状況データをレイア構造にして地図データベース
に格納される。
路地形図を基準として、その道路地形図と対応させて道
路施設物、ガス設備、水道設備、下水設備、電力設備等
の配設状況データをレイア構造にして地図データベース
に格納される。
【０００４】このように各地図データがレイア構造とな
っているため、基準となる道路地形図と、道路施設物等
の配設状況データを示す各地図の整合を高精度で図る必
要がある。このためデータを入力するデジタイザおよび
データを出力するプロッタに高い精度が要求される。
っているため、基準となる道路地形図と、道路施設物等
の配設状況データを示す各地図の整合を高精度で図る必
要がある。このためデータを入力するデジタイザおよび
データを出力するプロッタに高い精度が要求される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のマ
ッピングシステムでは、デジタイザの精度検定はあまり
行われていなかった。また、プロッタの精度検定につい
ては本出願人がすでに特許出願を行っている方法がある
（特願平３−３５５９２６号公報）。しかしながら、こ
の方法では高い精度で検定が行うことができるが、検定
を顕微鏡等を用いて行わねばならず、その作業はかなり
煩わしいものであった。
ッピングシステムでは、デジタイザの精度検定はあまり
行われていなかった。また、プロッタの精度検定につい
ては本出願人がすでに特許出願を行っている方法がある
（特願平３−３５５９２６号公報）。しかしながら、こ
の方法では高い精度で検定が行うことができるが、検定
を顕微鏡等を用いて行わねばならず、その作業はかなり
煩わしいものであった。
【０００６】本発明は、このような問題に鑑みてなされ
たもので、その目的とするところは、デジタイザおよび
プロッタの精度検定を簡単に行える方法を提供すること
にあ
たもので、その目的とするところは、デジタイザおよび
プロッタの精度検定を簡単に行える方法を提供すること
にあ
【０００７】る。
【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理説
明図である。図１において１は地図データを入力するデ
ジタイザ、３はデジタイザ１に接続されたコンピュータ
である。デジタイザ１にはメッシュの刻まれた基準図５
が貼り付けられる。この基準図５は伸縮がなく、メッシ
ュの交点（基準点）の座標が高精度で保持される。この
基準点の座標は（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）である。７は基準点
の座標を入力する指示具である。
明図である。図１において１は地図データを入力するデ
ジタイザ、３はデジタイザ１に接続されたコンピュータ
である。デジタイザ１にはメッシュの刻まれた基準図５
が貼り付けられる。この基準図５は伸縮がなく、メッシ
ュの交点（基準点）の座標が高精度で保持される。この
基準点の座標は（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）である。７は基準点
の座標を入力する指示具である。
【０００８】オペレータがデジタイザ１に基準図５を貼
り付け（ステップＳ１）、指示具７を用いて基準点Ａ
１、Ａ２……の座標を入力する（ステップＳ２）。コン
ピュータ３はステップＳ２で入力されたデジタイザ１上
の座標（Ｘ1 ，Ｙ1 ）と、基準図５上の各基準点の座標
（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）から次式に従って変位ｘi 、ｙi を
算出する（ステップＳ３）。
り付け（ステップＳ１）、指示具７を用いて基準点Ａ
１、Ａ２……の座標を入力する（ステップＳ２）。コン
ピュータ３はステップＳ２で入力されたデジタイザ１上
の座標（Ｘ1 ，Ｙ1 ）と、基準図５上の各基準点の座標
（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）から次式に従って変位ｘi 、ｙi を
算出する（ステップＳ３）。
【０００９】ｘi ＝Ｘi −Ｘi 0 ｙi ＝Ｙi −Ｙi 0 次に変位ｘi 、ｙi に対してアフィン変換を用いてデジ
タイザ１の補正パラメータを算出し（ステップＳ４）、
補正パラメータにより補正前後の変位の標準誤差を算出
する（ステップＳ５）。
タイザ１の補正パラメータを算出し（ステップＳ４）、
補正パラメータにより補正前後の変位の標準誤差を算出
する（ステップＳ５）。
【００１０】
【作用】本発明では、基準図上の基準点の座標と、デジ
タイザ上の基準点の座標との変位を求め、この変位にア
フィン変換を行い、変換前後の変位の標準誤差を算出す
る。
タイザ上の基準点の座標との変位を求め、この変位にア
フィン変換を行い、変換前後の変位の標準誤差を算出す
る。
【００１１】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を詳細
に説明する。図２は、本発明の実施例に必要な装置の構
成を示す模式図である。図２において１はデジタイザ、
３はコンピュータ、７は指示具、９はディスプレイ、１
１はプロッタである。デジタイザ１には基準図５が貼ら
れ、指示具７がクリックされると、クリックされた地点
の座標が入力される。ディスプレイ９はデジタイザ１で
入力された点および、その点を結合する線等の画像が表
示される。コンピュータ３は地図データベース（図示せ
ず）を保持している。プロッタ１１は地図データベース
に格納された地図データを出図する。
に説明する。図２は、本発明の実施例に必要な装置の構
成を示す模式図である。図２において１はデジタイザ、
３はコンピュータ、７は指示具、９はディスプレイ、１
１はプロッタである。デジタイザ１には基準図５が貼ら
れ、指示具７がクリックされると、クリックされた地点
の座標が入力される。ディスプレイ９はデジタイザ１で
入力された点および、その点を結合する線等の画像が表
示される。コンピュータ３は地図データベース（図示せ
ず）を保持している。プロッタ１１は地図データベース
に格納された地図データを出図する。
【００１２】次に、本発明の第１の実施例であるデジタ
イザの精度検定方法を図３、図４のフローチャートに従
って説明する。座標（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）が確定している
複数の点（基準点）が書き込まれた基準図５をデジタイ
ザ１に貼り付ける（ステップ３０１）。図５は、この基
準図５を示すもので、この基準図５は伸縮のない高精度
位置表示図である。この基準図はフラットベッドプロッ
タでポリエステル紙上に描かれたものであり、精度は
０．０５ｍｍ以内である。そして図５に示すように５０
ｍｍ間隔でメッシュが刻まれている。１００ｍｍ間隔で
基準点が指定されるので前述した基準点の座標
（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）は（０，０）、（０，１００）、
（０，２００）、……（０，５００）、（１００，
０）、（１００，１００）、……（５００，５００）と
なる。
イザの精度検定方法を図３、図４のフローチャートに従
って説明する。座標（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）が確定している
複数の点（基準点）が書き込まれた基準図５をデジタイ
ザ１に貼り付ける（ステップ３０１）。図５は、この基
準図５を示すもので、この基準図５は伸縮のない高精度
位置表示図である。この基準図はフラットベッドプロッ
タでポリエステル紙上に描かれたものであり、精度は
０．０５ｍｍ以内である。そして図５に示すように５０
ｍｍ間隔でメッシュが刻まれている。１００ｍｍ間隔で
基準点が指定されるので前述した基準点の座標
（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）は（０，０）、（０，１００）、
（０，２００）、……（０，５００）、（１００，
０）、（１００，１００）、……（５００，５００）と
なる。
【００１３】次に、デジタイザ１に貼り付けられた基準
図５上の基準点をクリックして、この複数の基準点のデ
ジタイザ１上の座標（Ｘi ，Ｙi ）を入力する（ステッ
プ３０２）。すなわち図５に示す基準図５上で丸印で示
す基準点上に指示具７を位置させクリックすることによ
りデジタイザ１上の座標（Ｘi ，Ｙi ）を特定する。
図５上の基準点をクリックして、この複数の基準点のデ
ジタイザ１上の座標（Ｘi ，Ｙi ）を入力する（ステッ
プ３０２）。すなわち図５に示す基準図５上で丸印で示
す基準点上に指示具７を位置させクリックすることによ
りデジタイザ１上の座標（Ｘi ，Ｙi ）を特定する。
【００１４】次にステップ３０２で入力された座標（Ｘ
i ，Ｙi ）を正規化した座標（Ｘi´，Ｙi ´）に変換
する（ステップ３０３）。ここで正規化するとは、基準
図５のデジタイザ１に対する貼り付け時の貼り付け誤差
を、最下部のＸ軸と平行な線を基準にしてラフに補正す
るという意味である。
i ，Ｙi ）を正規化した座標（Ｘi´，Ｙi ´）に変換
する（ステップ３０３）。ここで正規化するとは、基準
図５のデジタイザ１に対する貼り付け時の貼り付け誤差
を、最下部のＸ軸と平行な線を基準にしてラフに補正す
るという意味である。
【００１５】この正規化は次のように行う。図６に示す
ようにデジタイザ１に対して基準図５が角度θi の誤差
をもって貼り付けられたとする。このとき、 θi ＝tan -1｛（Ｙ2 −Ｙ1 ）／（Ｘ2 −Ｘ1 ）｝ となる。なおＸ1 、Ｘ2 、Ｙ1 、Ｙ2 は既知である。し
たがって、元の座標（Ｘi ，Ｙi ）に対して、正規化さ
れた座標（Ｘi ´，Ｙi ´）は Ｘi ´＝（Ｘi −Ｘ1 ）cos θi −（Ｙi −Ｙ1 ）sin
θi Ｙi ´＝（Ｘi −Ｘ1 ）sin θi ＋（Ｙi −Ｙ1 ）cos
θi となる。
ようにデジタイザ１に対して基準図５が角度θi の誤差
をもって貼り付けられたとする。このとき、 θi ＝tan -1｛（Ｙ2 −Ｙ1 ）／（Ｘ2 −Ｘ1 ）｝ となる。なおＸ1 、Ｘ2 、Ｙ1 、Ｙ2 は既知である。し
たがって、元の座標（Ｘi ，Ｙi ）に対して、正規化さ
れた座標（Ｘi ´，Ｙi ´）は Ｘi ´＝（Ｘi −Ｘ1 ）cos θi −（Ｙi −Ｙ1 ）sin
θi Ｙi ´＝（Ｘi −Ｘ1 ）sin θi ＋（Ｙi −Ｙ1 ）cos
θi となる。
【００１６】次に正規化された座標（Ｘi ´，Ｙi ´）
と座標（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）との変位ｘi 、ｙi を ｘi ＝Ｘi ´−Ｘi 0 ｙi ＝Ｙi ´−Ｙi 0 により求める（ステップ３０４）。ここで座標
（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）は Ｘi 0 ＝１００＊Ｉｎｔ｛（Ｘi ´＋５０）／１００｝ Ｙi 0 ＝１００＊Ｉｎｔ｛（Ｙi ´＋５０）／１００｝ により求められる。あるいは、個別に（０，０）、
（０，１００）、（０，２００）、……（０，５０
０）、（１００，０）、（１００，１００）、……（５
００，５００）のデータを入力してもよい。
と座標（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）との変位ｘi 、ｙi を ｘi ＝Ｘi ´−Ｘi 0 ｙi ＝Ｙi ´−Ｙi 0 により求める（ステップ３０４）。ここで座標
（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）は Ｘi 0 ＝１００＊Ｉｎｔ｛（Ｘi ´＋５０）／１００｝ Ｙi 0 ＝１００＊Ｉｎｔ｛（Ｙi ´＋５０）／１００｝ により求められる。あるいは、個別に（０，０）、
（０，１００）、（０，２００）、……（０，５０
０）、（１００，０）、（１００，１００）、……（５
００，５００）のデータを入力してもよい。
【００１７】次に、変位ｘi 、ｙi に対して回転と平行
移動の影響係数を求め（ステップ３０５）、変位ｘi 、
ｙi に回転と平行移動の補正を行い、補正後の変位をｘ
i ´、ｙi ´とする（ステップ３０６）。ステップ３０
５、ステップ３０６の処理はデジタイザ１に対する基準
図５の貼り合わせ誤差を取り除く処理である。この処理
は次のようにアフィン変換を用いて行われる。
移動の影響係数を求め（ステップ３０５）、変位ｘi 、
ｙi に回転と平行移動の補正を行い、補正後の変位をｘ
i ´、ｙi ´とする（ステップ３０６）。ステップ３０
５、ステップ３０６の処理はデジタイザ１に対する基準
図５の貼り合わせ誤差を取り除く処理である。この処理
は次のようにアフィン変換を用いて行われる。
【００１８】ｘi ´＝ｘi −ＢＹi −Ｃ……（１） ｙi ´＝ｙi ＋ＢＸi −Ｆ……（２） とし、ｌi ´2 ＝ｘi ´2 ＋ｙi ´2 が最小となるよう
にパラメータＢ、Ｃ、Ｆを求める。ｌi ´2 が最小とな
るためには、
にパラメータＢ、Ｃ、Ｆを求める。ｌi ´2 が最小とな
るためには、
【００１９】
【数１】
【００２０】これを整理すると
【００２１】
【数２】
【００２２】となる。この方程式を解いてパラメータ
Ｂ、Ｃ、Ｆを求める。求められたパラメータＢ、Ｃ、Ｆ
を用いて式（１）、（２）により変位ｘi ´、ｙi ´を
求める。
Ｂ、Ｃ、Ｆを求める。求められたパラメータＢ、Ｃ、Ｆ
を用いて式（１）、（２）により変位ｘi ´、ｙi ´を
求める。
【００２３】そして、変換後の変位ｘi ´、ｙi ´の標
準誤差εを
準誤差εを
【００２４】
【数３】
【００２５】に従い算出する（ステップ３０７）。
【００２６】次に、変位ｘi ´、ｙi ´に対して、伸縮
と偏平の影響係数を求め（ステップ３０８）、変位ｘi
´、ｙi ´に伸縮と偏平の補正を行い、補正後の変位を
ｘi″、ｙi ″とする（ステップ３０９）。ステップ３
０８、ステップ３０９の処理はデジタイザ１による伸縮
と偏平の影響を測定し、この伸縮と偏平の影響を取り除
く処理である。この処理は次のようにアフィン変換を用
いて行われる。
と偏平の影響係数を求め（ステップ３０８）、変位ｘi
´、ｙi ´に伸縮と偏平の補正を行い、補正後の変位を
ｘi″、ｙi ″とする（ステップ３０９）。ステップ３
０８、ステップ３０９の処理はデジタイザ１による伸縮
と偏平の影響を測定し、この伸縮と偏平の影響を取り除
く処理である。この処理は次のようにアフィン変換を用
いて行われる。
【００２７】 ｘi ″＝ｘi ´−（ＡＸi ＋ＥＹi ）……（３） ｙi ″＝ｙi ´−（ＥＸi ＋ＤＹi ）……（４） とし、εi ´2 ＝（ｘi ″2 ＋ｙi ″2 ）が最小となる
ようにパラメータＡ、Ｄ、Ｅを求める。ここでＡはｘ方
向の伸縮、Ｅはｙ方向の伸縮、Ｄは偏平度を表すパラメ
ータである。εi ´2 が最小となるためには、
ようにパラメータＡ、Ｄ、Ｅを求める。ここでＡはｘ方
向の伸縮、Ｅはｙ方向の伸縮、Ｄは偏平度を表すパラメ
ータである。εi ´2 が最小となるためには、
【００２８】
【数４】
【００２９】これを整理すると
【００３０】
【数５】
【００３１】となる。この方程式を解いてパラメータ
Ａ、Ｄ、Ｅを求める。求められたパラメータＡ、Ｄ、Ｅ
を用いて式（３）、（４）により変位ｘi ″、ｙi ″を
求める。
Ａ、Ｄ、Ｅを求める。求められたパラメータＡ、Ｄ、Ｅ
を用いて式（３）、（４）により変位ｘi ″、ｙi ″を
求める。
【００３２】次に、変換後の変位ｘi ″、ｙi ″の標準
誤差ε´を
誤差ε´を
【００３３】
【数６】
【００３４】に従い算出する（ステップ３１０）。
【００３５】このようにして本実施例では、コンピュー
タ３を用いて、デジタイザ１の精度検定を簡単に行うこ
とができる。すなわち、デジタイザ１の標準誤差を算出
し、デジタイザの誤差を補正する補正パラメータを算出
することができる。
タ３を用いて、デジタイザ１の精度検定を簡単に行うこ
とができる。すなわち、デジタイザ１の標準誤差を算出
し、デジタイザの誤差を補正する補正パラメータを算出
することができる。
【００３６】次に、プロッタの精度検定方法を図７、図
８のフローチャートに従って説明する。まず、プロッタ
１１から複数の点が記載された基準図５ａを出図する
（ステップ６０１）。基準図５ａとは図５に示すような
メッシュの刻まれた図面である。次に、検定されたデジ
タイザ１に基準図５ａを貼り付け（ステップ６０２）、
デジタイザ１に貼り付けられた基準図５ａ上のメッシュ
の交点をクリックして、この複数の点のデジタイザ１上
の座標（Ｘi ，Ｙi ）を入力する（ステップ６０３）。
すなわち図５に示す基準図上で丸印で示す交点上に指示
具７を位置させクリックすることによりデジタイザ１上
の座標（Ｘi ，Ｙi ）を特定する。
８のフローチャートに従って説明する。まず、プロッタ
１１から複数の点が記載された基準図５ａを出図する
（ステップ６０１）。基準図５ａとは図５に示すような
メッシュの刻まれた図面である。次に、検定されたデジ
タイザ１に基準図５ａを貼り付け（ステップ６０２）、
デジタイザ１に貼り付けられた基準図５ａ上のメッシュ
の交点をクリックして、この複数の点のデジタイザ１上
の座標（Ｘi ，Ｙi ）を入力する（ステップ６０３）。
すなわち図５に示す基準図上で丸印で示す交点上に指示
具７を位置させクリックすることによりデジタイザ１上
の座標（Ｘi ，Ｙi ）を特定する。
【００３７】次にステップ６０３で入力された座標（Ｘ
i ，Ｙi ）を正規化した座標（Ｘi´，Ｙi ´）に変換
する（ステップ６０４）。ここで正規化するとは、基準
図５ａのデジタイザ１に対する貼り付け時の回転貼り付
け誤差を取り除くという意味であり、前述したステップ
３０３と同様の処理を行う。
i ，Ｙi ）を正規化した座標（Ｘi´，Ｙi ´）に変換
する（ステップ６０４）。ここで正規化するとは、基準
図５ａのデジタイザ１に対する貼り付け時の回転貼り付
け誤差を取り除くという意味であり、前述したステップ
３０３と同様の処理を行う。
【００３８】次に正規化された座標（Ｘi ´，Ｙi ´）
と座標（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）との変位ｘi 、ｙi を ｘi ＝Ｘi ´−Ｘi 0 ｙi ＝Ｙi ´−Ｙi 0 により求める（ステップ６０５）。ここで座標
（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）はステップ６０１で出力された基準
図面から読み取る。
と座標（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）との変位ｘi 、ｙi を ｘi ＝Ｘi ´−Ｘi 0 ｙi ＝Ｙi ´−Ｙi 0 により求める（ステップ６０５）。ここで座標
（Ｘi 0 ，Ｙi 0 ）はステップ６０１で出力された基準
図面から読み取る。
【００３９】次に、変位ｘi 、ｙi をデジタイザ１の補
正パラメータで補正し、補正後の変位をｘi ´、ｙi ´
とする。すなわち前述したステップ３０８で求められた
デジタイザによる伸縮と偏平の影響係数Ａ、Ｄ、Ｅを用
いて、 ｘi ´＝ｘi −（ＡＸi ＋ＥＹi ） ｙi ´＝ｙi −（ＥＸi ＋ＤＹi ） により変位ｘi ´、ｙi ´を求める。
正パラメータで補正し、補正後の変位をｘi ´、ｙi ´
とする。すなわち前述したステップ３０８で求められた
デジタイザによる伸縮と偏平の影響係数Ａ、Ｄ、Ｅを用
いて、 ｘi ´＝ｘi −（ＡＸi ＋ＥＹi ） ｙi ´＝ｙi −（ＥＸi ＋ＤＹi ） により変位ｘi ´、ｙi ´を求める。
【００４０】次に、変換後の変位ｘi ´、ｙi ´の標準
誤差εを
誤差εを
【００４１】
【数７】
【００４２】に従い算出する（ステップ６０７）。
【００４３】次に、変位ｘi ´、ｙi ´に対して、伸縮
と偏平の影響係数を求め（ステップ６０８）、変位ｘi
´、ｙi ´に伸縮と偏平の補正を行い、補正後の変位を
ｘi″、ｙi ″とする（ステップ６０９）。ステップ６
０８、ステップ６０９の処理はプロッタによる伸縮と偏
平の影響を測定し、この伸縮と偏平の影響を取り除く処
理である。この処理は次のようにアフィン変換を用いて
行われる。
と偏平の影響係数を求め（ステップ６０８）、変位ｘi
´、ｙi ´に伸縮と偏平の補正を行い、補正後の変位を
ｘi″、ｙi ″とする（ステップ６０９）。ステップ６
０８、ステップ６０９の処理はプロッタによる伸縮と偏
平の影響を測定し、この伸縮と偏平の影響を取り除く処
理である。この処理は次のようにアフィン変換を用いて
行われる。
【００４４】 ｘi ″＝ｘi ´−（Ａ´Ｘi ＋Ｅ´Ｙi ）……（３） ｙi ″＝ｙi ´−（Ｅ´Ｘi ＋Ｄ´Ｙi ）……（４） とし、εi ´2 ＝（ｘi ″2 ＋ｙi ″2 ）が最小となる
ようにパラメータＡ´、Ｄ´、Ｅ´を求める。εi ´2
が最小となるためには、
ようにパラメータＡ´、Ｄ´、Ｅ´を求める。εi ´2
が最小となるためには、
【００４５】
【数８】
【００４６】これを整理すると
【００４７】
【数９】
【００４８】となる。この方程式を解いてパラメータＡ
´、Ｄ´、Ｅ´を求める。求められたパラメータＡ´、
Ｄ´、Ｅ´を用いて式（３）、（４）により変位
ｘi ″、ｙi″を求める。
´、Ｄ´、Ｅ´を求める。求められたパラメータＡ´、
Ｄ´、Ｅ´を用いて式（３）、（４）により変位
ｘi ″、ｙi″を求める。
【００４９】次に、変換後の変位ｘi ″、ｙi ″の標準
誤差ε´を
誤差ε´を
【００５０】
【数１０】
【００５１】に従い算出する（ステップ６１０）。
【００５２】プロッタ１１で出図を行う時には、座標を
データＸi 、Ｙi とすれば、 Ｘi ´＝Ｘi −（Ａ´Ｘi ＋Ｅ´Ｙi ） Ｙi ´＝Ｙi −（Ｅ´Ｘi ＋Ｄ´Ｙi ） という変換を行い、出図を行う。
データＸi 、Ｙi とすれば、 Ｘi ´＝Ｘi −（Ａ´Ｘi ＋Ｅ´Ｙi ） Ｙi ´＝Ｙi −（Ｅ´Ｘi ＋Ｄ´Ｙi ） という変換を行い、出図を行う。
【００５３】このようにして本実施例では、コンピュー
タ３を用いて、プロッタ１１の精度検定を簡単に行うこ
とができる。すなわち、このようにしてプロッタの標準
誤差を算出し、プロッタの誤差を補正する補正パラメー
タを算出することができる。
タ３を用いて、プロッタ１１の精度検定を簡単に行うこ
とができる。すなわち、このようにしてプロッタの標準
誤差を算出し、プロッタの誤差を補正する補正パラメー
タを算出することができる。
【００５４】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように本発明によ
れば、デジタイザおよびプロッタの精度検定を簡単に行
える。
れば、デジタイザおよびプロッタの精度検定を簡単に行
える。
【図１】 本発明の原理を説明する図
【図２】 本発明のハードウェアの構成を示す模式図
【図３】 デジタイザの精度検定を行う方法を示すフロ
ーチャート
ーチャート
【図４】 デジタイザの精度検定を行う方法を示すフロ
ーチャート
ーチャート
【図５】 基準図を示す図
【図６】 デジタイザ１に貼られた基準図５の回転誤差
を示す図
を示す図
【図７】 プロッタの精度検定を行う方法を示すフロー
チャート
チャート
【図８】 プロッタの精度検定を行う方法を示すフロー
チャート
チャート
１……デジタイザ ３……コンピュータ ５……基準図 ７……指示具 ９……ディスプレイ １１……プロッタ
Claims (7)
- 【請求項１】 （ａ）複数の基準点が書き込まれた基準
図をデジタイザに貼り付ける工程と、 （ｂ）前記デジタイザで前記複数の基準点をクリックし
て、前記複数の基準点の前記デジタイザ上の座標を入力
する工程と、 （ｃ）工程（ｂ）で入力された座標を正規化する工程
と、 （ｄ）工程（ｃ）で得られた各基準点の正規化された座
標と、前記基準図上の各基準点の座標との変位を算出す
る行程と、 （ｅ）工程（ｄ）で算出された変位に対してアフィン変
換を用いてデジタイザの補正パラメータを算出する行程
と、 （ｆ）前記補正パラメータによる補正前の変位の標準誤
差と、補正後の変位の標準誤差を算出する行程と、 を具備するデジタイザの精度検定方法。 - 【請求項２】 （ａ）複数の基準点が書き込まれた基準
図をデジタイザに貼り付ける行程と、 （ｂ）前記デジタイザで前記複数の基準点をクリックし
て、前記複数の基準点の前記デジタイザ上の座標を入力
する行程と、 （ｃ）工程（ｂ）で入力された座標を正規化する工程
と、 （ｄ）工程（ｃ）で得られた正規化された座標に対し
て、前記基準図を前記デジタイザに貼り付ける場合の誤
差を補正する行程と、 （ｅ）工程（ｄ）で算出された各基準点の座標と、前記
基準図上の各基準点の座標との変位を算出する行程と、 （ｆ）工程（ｅ）で算出された変位に対してアフィン変
換を用いて回転と平行移動の影響係数を算出する行程
と、 （ｇ）工程（ｅ）で算出された変位を工程（ｆ）で算出
された影響係数で補正する行程と、 （ｈ）工程（ｇ）で算出された変位に対してアフィン変
換を用いてデジタイザの補正パラメータを算出する行程
と、 （ｉ）前記補正パラメータによる補正前の変位の標準誤
差と、補正後の変位の標準誤差を算出する行程と、 を具備するデジタイザの精度検定方法。 - 【請求項３】 前記基準図上の各基準点の座標は、工程
（ｂ）で入力された対応する複数の基準点の座標をもと
にして算出されることを特徴とする請求項１および請求
項２に記載されたデジタイサの精度検定方法。 - 【請求項４】 前記補正パラメータは伸縮および偏平を
表すアフィン変換用パラメータである請求項１および請
求項２に記載されたデジタイザの精度検定方法。 - 【請求項５】 （ａ）複数の点が書かれた基準図をプロ
ッタから出図させる工程と、 （ｂ）補正パラメータが判明しているデジタイザに前記
基準図を貼り付ける工程と、 （ｃ）前記デジタイザで前記複数の点をクリックして、
前記複数の点の前記デジタイザ上の座標を入力する工程
と、 （ｄ）工程（ｃ）で入力された座標を正規化する工程
と、 （ｅ）工程（ｄ）で得られた各点の正規化された座標
と、対応する各点の前記基準図上の座標との変位を算出
する工程と、 （ｆ）工程（ｅ）で算出された変位を前記デジタイザの
補正パラメータで補正する工程と、 （ｇ）工程（ｆ）で補正された変位に対してアフィン変
換を用いてプロッタの補正パラメータを算出する工程
と、 （ｈ）前記プロッタの補正パラメータによる補正前の変
位と補正後の変位の標準誤差を算出する工程と、 を具備するプロッタの精度検定方法。 - 【請求項６】 前記プロッタは工程（ｇ）で算出された
補正パラメータで補正を行って出図を行う請求項５に記
載されたプロッタの精度検定方法。 - 【請求項７】 前記デジタイザの補正パラメータは請求
項１または２に記載されたデジタイザの補正パラメータ
である請求項５に記載されたプロッタの精度検定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09880093A JP3506458B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | デジタイザの精度検定方法およびプロッタの精度検定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09880093A JP3506458B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | デジタイザの精度検定方法およびプロッタの精度検定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06289980A true JPH06289980A (ja) | 1994-10-18 |
| JP3506458B2 JP3506458B2 (ja) | 2004-03-15 |
Family
ID=14229429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09880093A Expired - Fee Related JP3506458B2 (ja) | 1993-03-31 | 1993-03-31 | デジタイザの精度検定方法およびプロッタの精度検定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3506458B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59214988A (ja) * | 1983-05-20 | 1984-12-04 | Hitachi Ltd | 図面の座標デ−タ入力方式 |
| JPS61114329A (ja) * | 1984-11-08 | 1986-06-02 | Daicel Chem Ind Ltd | 透明タツチパネルの誤動作防止方法 |
| JPS6346531A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-27 | Fujitsu Ltd | 座標検出装置の座標補正方法 |
| JPH0561407A (ja) * | 1991-08-30 | 1993-03-12 | Tokyo Gas Co Ltd | 図形処理装置 |
| JPH05174127A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-13 | Tokyo Gas Co Ltd | 出図装置の精度調整方法 |
-
1993
- 1993-03-31 JP JP09880093A patent/JP3506458B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59214988A (ja) * | 1983-05-20 | 1984-12-04 | Hitachi Ltd | 図面の座標デ−タ入力方式 |
| JPS61114329A (ja) * | 1984-11-08 | 1986-06-02 | Daicel Chem Ind Ltd | 透明タツチパネルの誤動作防止方法 |
| JPS6346531A (ja) * | 1986-08-13 | 1988-02-27 | Fujitsu Ltd | 座標検出装置の座標補正方法 |
| JPH0561407A (ja) * | 1991-08-30 | 1993-03-12 | Tokyo Gas Co Ltd | 図形処理装置 |
| JPH05174127A (ja) * | 1991-12-20 | 1993-07-13 | Tokyo Gas Co Ltd | 出図装置の精度調整方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3506458B2 (ja) | 2004-03-15 |
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