JPH06291102A - 基板の洗浄装置 - Google Patents

基板の洗浄装置

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JPH06291102A
JPH06291102A JP9554093A JP9554093A JPH06291102A JP H06291102 A JPH06291102 A JP H06291102A JP 9554093 A JP9554093 A JP 9554093A JP 9554093 A JP9554093 A JP 9554093A JP H06291102 A JPH06291102 A JP H06291102A
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JP
Japan
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cleaning
substrate
opening
liquid
independent
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JP9554093A
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Hideaki Kawashima
英顕 川島
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ウエハの表面と裏面とに対して異なる洗浄処
理を行うことができ、しかもウエハの着脱時に洗浄槽内
から洗浄液を排出する必要がないようにする。 【構成】 洗浄槽10を隔壁13により2つの独立洗浄
槽11及び12に仕切り、隔壁13にウエハ1を保持可
能な開口部14を設け、開口部14を開閉する移動自在
のシャッター18及び19を設ける。洗浄液供給手段2
5及び26により噴射ノズル21及び22から洗浄液2
7及び28を供給する。シャッター18及び19により
開口部14を閉塞してウエハ1を開口部14部分に保持
させた後、シャッター18及び19により開口部14を
開放してウエハ1の表面1a及び裏面1bを洗浄液27
及び28により洗浄する。ウエハ1の表面1a及び裏面
1bが分離して洗浄され、ウエハ1の着脱時には洗浄液
27及び28の混合が防止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば半導体装置の製
造工程においてウエハ等の基板を洗浄するための洗浄装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の製造工程においては、ウエ
ハ等の半導体基板の表面を清浄に保つ必要がある。例え
ば、フォトエッチングの際にウエハの表面に異物が付着
している等の汚染があると、配線ショートや断線の原因
となり、また、金属を含む異物が表面に付着した状態で
ウエハを加熱すると、その部分が合金化してpn接合を
ショートさせてしまう等の原因となる。従って、製品の
性能と信頼性とを向上させるためには、ウエハの表面の
汚染物質を極力低減させる必要がある。
【0003】このため、従来から、半導体装置の製造工
程においては、ウエハへの酸化膜生成前の前洗浄、フォ
トエッチング後の後洗浄等、ウエハを各種の薬液や純水
等の洗浄液によって洗浄している。そして、従来の一般
的な洗浄装置は、複数のウエハを収納したウエハキャリ
ヤごと、または、ウエハを一枚ずつ、洗浄液が満たされ
た洗浄槽内に浸漬することによって、ウエハの洗浄を行
っている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たように従来の洗浄装置においては、洗浄槽内の洗浄液
にウエハを浸漬することにより、ウエハに付着している
異物を除去している。このため、常にウエハの表面及び
裏面ともに同様の洗浄処理が行われ、表面と裏面とにつ
いて異なる洗浄処理を行うことができないものであっ
た。
【0005】ところで、ウエハに付着する異物は、その
表面及び裏面で種類やサイズ等が異なり、また、管理す
る異物サイズの許容範囲も表面及び裏面で異なる。即
ち、ウエハの表面は半導体素子を形成するために鏡面処
理を施しているが、ウエハの裏面は表面ほどの鏡面処理
を行っていない。また、各種装置による他のプロセス処
理の際には、ウエハの裏面を保持するようにしている。
このため、一般的に、ウエハの表面よりも裏面に多くの
異物が付着している。
【0006】このようなウエハを同一の洗浄液中で洗浄
する場合、裏面に対応した強力な洗浄液による処理を行
おうとしても、半導体素子を形成するための表面に悪影
響が及ぶため、強力な洗浄処理は行えなかった。また、
ウエハを同一の洗浄液中で洗浄すると、せっかく洗浄し
ても裏面に付着していた異物が表面に再付着する恐れも
あった。従って、従来の洗浄装置では、異物除去率が低
く、不充分な洗浄によって次工程へ異物が持ち込まれる
危険性があった。そして、異物除去率を高くするために
は、少なくとも二種類以上のシーケンス(処理)を行っ
たり、弱性の洗浄液により長時間にわたって洗浄を行っ
たりする必要があり、洗浄処理の効率が悪いという問題
があった。
【0007】そこで本発明は、基板の表面と裏面とに対
して異なる洗浄処理を行うことができ、しかも基板の着
脱時に洗浄槽内から洗浄液を排出する必要がない基板の
洗浄装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による基板の洗浄装置は、洗浄槽と、この洗
浄槽を2つの独立洗浄槽に仕切る隔壁と、前記各独立洗
浄槽内にそれぞれ洗浄液を供給する洗浄液供給手段と、
基板の外形に対応させて前記隔壁に設けられた開口部
と、この開口部の周囲において前記基板の外周部を保持
する基板保持手段と、前記開口部を液密状態で開閉する
シャッターとを具備し、前記シャッターにより前記開口
部を閉塞した状態で前記基板を前記基板保持手段により
前記開口部に保持させた後、前記シャッターにより前記
開口部を開放して前記基板の両面をそれぞれ前記各独立
洗浄槽内の洗浄液により洗浄するように構成したもので
ある。
【0009】また、本発明による基板の洗浄装置は、前
記隔壁にシャッターを設けずに、前記隔壁の開口部が前
記各独立洗浄槽外に出る着脱位置と前記各独立洗浄槽内
に入る洗浄位置との間で移動するように、その隔壁を液
密状態で移動自在に構成し、前記隔壁を着脱位置に移動
させた状態で前記基板を前記基板保持手段により前記開
口部に保持させた後、前記隔壁を洗浄位置に移動させて
前記基板の両面をそれぞれ前記各独立洗浄槽内の洗浄液
により洗浄するように構成したものである。
【0010】さらに、本発明による基板の洗浄装置は、
前記各独立洗浄槽のうち、一方の独立洗浄槽内に洗浄液
を供給する洗浄液供給手段を設け、他方の独立洗浄槽内
に非液性洗浄手段を設け、前記基板の両面をそれぞれ前
記各独立洗浄槽内の洗浄液と非液性洗浄手段とにより洗
浄するように構成したものである。
【0011】
【作用】上記のように構成された本発明によれば、開口
部を有する隔壁に基板保持手段により基板が保持される
ので、その基板の表面と裏面とが完全に分離された状態
で隔壁の両側の独立洗浄槽内に露呈される。そして、各
独立洗浄槽内の薬液や純水等の洗浄液または回転ブラシ
等の非液性洗浄手段によって、基板の表面と裏面とに対
して異なる洗浄処理が最適に行われる。
【0012】しかも、本発明によれば、基板の表面と裏
面とが分離されて洗浄されるものでありながら、隔壁の
開口部に対して基板を着脱する際には、シャッターによ
って開口部が閉塞されるか、または隔壁自体の移動によ
って開口部が各独立洗浄槽外に出るので、各独立洗浄槽
内の洗浄液の混合或いは一方から他方への流出が完全に
防止される。このため、基板の着脱時に独立洗浄槽内か
ら洗浄液を排出する必要がない。
【0013】
【実施例】以下、本発明をウエハの洗浄装置に適用した
実施例を図面を参照して説明する。
【0014】まず、図1〜図3は第1実施例を示すもの
であり、図1はウエハ着脱時の装置全体の断面図、図2
はウエハ洗浄時の装置全体の断面図、図3は装置の隔壁
部分の拡大断面図である。
【0015】図1及び図2に示すように、上方が開放さ
れた洗浄槽10のほぼ中央に隔壁13が垂直状に設けら
れ、この隔壁13によって洗浄槽10が左右2つの独立
洗浄槽11及び12に仕切られている。なお、隔壁13
は洗浄槽10の上方にも延出されている。
【0016】洗浄槽10内における隔壁13のほぼ中央
には、ウエハ1の外径よりも少し小さな径を有する円形
の開口部14が形成されている。また、隔壁13内には
上方から開口されたスリット状のウエハ挿入部15が形
成されている。そして、図3に示すように、ウエハ挿入
部15内で開口部14の周囲には真空吸着用の複数個の
小孔16が開孔され、これら小孔16は隔壁13内の連
通路17を通して真空吸引装置(図示せず)に接続され
ている。なお、複数個の小孔16に代えて円環状の溝を
設けてもよい。
【0017】そして、図1及び図2に示すように、隔壁
13の開口部14の両側には、一対のシャッター18及
び19が設けられている。これらシャッター18及び1
9は、図1に示すように開口部14を閉塞する閉塞位置
と、図2に示すように開口部14を開放する開放位置と
の間で、駆動機構20によって液密状態で移動自在に構
成されている。
【0018】また、隔壁13によって仕切られた独立洗
浄槽11及び12内には、一対の噴射ノズル21及び2
2が隔壁13の開口部14を挟んで対向配置されてい
る。噴射ノズル21及び22は供給管23及び24の先
端に設けられ、これら供給管23及び24は洗浄液供給
装置25及び26に接続されている。これら洗浄液供給
装置25及び26によって独立洗浄槽11及び12内に
同種または異種の洗浄液27及び28が供給されるが、
これらの供給時間も調節可能となっている。
【0019】なお、独立洗浄槽11及び12の底面には
排出管29及び30が設けられており、通常の洗浄時は
閉状態となっている。また、独立洗浄槽11及び12、
隔壁13、シャッター18及び19等は、所定の薬液や
超純水の特性を維持するための材質を必要とし、例えば
テフロン樹脂や高純度石英ガラス等が使用される。
【0020】上述のように構成された洗浄装置において
は、まず、図1に示すように、シャッター18及び19
が閉塞位置へ移動されて隔壁13の開口部14が閉塞さ
れた状態で、独立洗浄槽11及び12内に洗浄液27及
び28が満たされている。即ち、独立洗浄槽11及び1
2が隔壁13により仕切られ、その隔壁13の開口部1
4がシャッター18及び19により液密状態で閉塞され
ているので、独立洗浄槽11及び12内の洗浄液27及
び28は完全に分離され、混合することは全くない。
【0021】この状態で、ウエハ搬送手段(図示せず)
によりウエハ1が一枚ずつ隔壁13のウエハ挿入部15
内に挿入され、開口部14の周囲の小孔16部分での吸
引作用によってウエハ1の外周部が吸着されて保持され
る。
【0022】次に、図2に示すように、シャッター18
及び19が開放位置へ移動されて、隔壁13の開口部1
4が開放される。これにより、ウエハ1の表面1aと裏
面1bとが完全に分離された状態で、独立洗浄槽11及
び12内の洗浄液27及び28に接触する。噴射ノズル
21及び22からの洗浄液27及び28の噴流によっ
て、ウエハ1の表面1aと裏面1bとがそれぞれ別々に
洗浄される。
【0023】なお、これら独立洗浄槽11及び12はオ
ーバーフロー式であり、溢れた洗浄液27及び28は上
縁から排出される。さらに、除去された異物を迅速に独
立洗浄槽11及び12内から排出するため、独立洗浄槽
11及び12の上縁には適当な切欠部11a及び12a
が設けられており、溢れる洗浄液27及び28の流速が
速められている。
【0024】次に、所定の洗浄処理が終了すると、図1
に示すように、シャッター18及び19が再び閉塞位置
へ移動されて、隔壁13の開口部14が閉塞される。こ
の状態で、ウエハ1がウエハ搬送手段によって隔壁13
から取り外され、次の未洗浄のウエハ1が新たに装着さ
れる。
【0025】このように、ウエハ1の表面1a及び裏面
1bに付着した異物に対して各々高い除去効果を有した
洗浄液27及び28によって、ウエハ1を効率よく洗浄
することができる。例えば、表面1aよりも異物が多い
裏面1bについて強力な洗浄液28による処理を行うこ
とができ、半導体素子を形成する表面1aに悪影響を及
ぼすことなく、短時間で異物を除去することができる。
【0026】しかも、隔壁13の開口部14に対するウ
エハ1の着脱時には、開口部14がシャッター18及び
19により閉塞されるので、洗浄液27及び28の混合
を完全に防止することができる。従って、ウエハ1の着
脱時に洗浄液27及び28を排出する必要がなく、複数
のウエハ1の連続的な洗浄処理を迅速に行うことができ
る。
【0027】なお、本実施例では、開口部14の両側に
シャッター18及び19を設けているので、洗浄中にシ
ャッター18または19を閉塞位置へ移動させて、ウエ
ハ1の表面1aまたは裏面1bに対する洗浄時間を調整
することが可能である。また、噴射ノズル21及び22
による洗浄液27及び28の噴射を停止することによっ
て、洗浄時間を調整することも可能である。なお、上述
した例では異なる洗浄液27及び28を使用したが、同
一の洗浄液を使用する場合には、特に上記洗浄時間の調
整が有効である。
【0028】次に、図4及び図5は第2実施例を示すも
のであり、図4はウエハ着脱時の装置全体の断面図、図
5はウエハ洗浄時の装置全体の断面図である。
【0029】この第2実施例においては、洗浄槽10を
2つの独立洗浄槽11及び12に仕切る隔壁13′自体
が移動自在に構成されている。即ち、隔壁13′は、図
4に示すように開口部14が独立洗浄槽11及び12外
に出る着脱位置と、図5に示すように開口部14が独立
洗浄槽11及び12内に入る洗浄位置との間で、駆動機
構20′によって液密状態で移動自在に構成されてい
る。
【0030】この例によれば、図4に示すように隔壁1
3′が着脱位置に移動された状態で、ウエハ1が開口部
14部分に保持されるが、このとき、隔壁13′によっ
て独立洗浄槽11及び12間は分離されているので、洗
浄液27及び28の混合は完全に防止される。そして、
図5に示すように隔壁13′が洗浄位置に移動されるこ
とによって、ウエハ1の表面1aと裏面1bとがそれぞ
れ洗浄液27と洗浄液28とに接触する。
【0031】次に、図6は第3実施例におけるウエハ洗
浄時の装置全体の断面図である。
【0032】この第3実施例においては、上記第1実施
例と同様な隔壁13によって仕切られた一方の独立洗浄
槽11内に洗浄液27が満たされ、他方の独立洗浄槽1
2′内に非液性洗浄手段が設けられている。この非液性
洗浄手段はモータ31により回転駆動される回転ブラシ
32によって構成されており、回転ブラシ32がウエハ
1の裏面1bに接触することにより異物が除去される。
なお、この例においては、隔壁13の開口部14の独立
洗浄槽11側のみにシャッター18が設けられており、
このシャッター18によって洗浄液27の流出が防止さ
れる。
【0033】次に、図7は第4実施例におけるウエハ洗
浄時の装置全体の断面図である。
【0034】この第4実施例においては、上記第2実施
例と同様な移動自在の隔壁13′を用いた構成に、上記
第3実施例と同様な回転ブラシ32による非液性洗浄手
段を設けたものである。
【0035】なお、第3及び第4実施例のように、回転
ブラシ32を用いた場合には、他方の独立洗浄槽12′
を密閉チャンバーとし、気体供給装置33から供給管3
4を介して独立洗浄槽12′内に不活性ガス等を供給し
て、回転ブラシ32により除去された異物をガスと共に
排出管35から排出するのが好ましい。また、非液性洗
浄手段は、回転ブラシ32のような機械的洗浄に限ら
ず、独立洗浄槽12′内に供給される薬性ガスや清浄空
気等による気体洗浄としてもよい。
【0036】以上、本発明の実施例に付き説明したが、
本発明は上記実施例に限定されることなく、本発明の技
術的思想に基づいて各種の有効な変更並びに応用が可能
である。なお、本実施例では異物除去のための洗浄処理
に付いて述べたが、洗浄液として各種のエッチング液や
純水等を用いることにより、ウエットエッチング処理を
行うことができるのは勿論である。また、本実施例では
洗浄対象をウエハとしたが、露光用のマスクやレチクル
等の各種の基板を洗浄可能なことは言うまでもない。
【0037】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基板の表面と裏面とを完全に分離した状態で洗浄するこ
とによって、その表面及び裏面の各々に付着した異物に
対して高い除去効果を有する最適な洗浄を行うことがで
き、また、裏面に付着していた異物が表面に再付着する
ことも防止できる。従って、異物除去率が極めて高い効
率的な洗浄を行うことができ、歩留りの向上を図ること
ができる。
【0038】しかも、本発明によれば、上記のように基
板の表裏両面を分離して洗浄できるものでありながら、
隔壁の開口部に対する基板の着脱時には独立洗浄槽内の
洗浄液の混合或いは流出を完全に防止することができ
る。従って、基板の着脱時に独立洗浄槽内から洗浄液を
排出することなく洗浄処理を連続的に行うことができ、
スループットの大幅な向上並びに著しい低コスト化を図
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明をウエハの洗浄装置に適用した第1実施
例におけるウエハ着脱時の装置全体の断面図である。
【図2】上記第1実施例におけるウエハ洗浄時の装置全
体の断面図である。
【図3】上記第1実施例における装置の隔壁部分の拡大
断面図である。
【図4】本発明の第2実施例におけるウエハ着脱時の装
置全体の断面図である。
【図5】上記第2実施例におけるウエハ洗浄時の装置全
体の断面図である。
【図6】本発明の第3実施例におけるウエハ洗浄時の装
置全体の断面図である。
【図7】本発明の第4実施例におけるウエハ洗浄時の装
置全体の断面図である。
【符号の説明】
1 ウエハ 1a 表面 1b 裏面 10 洗浄槽 11、12、12′独立洗浄槽 13、13′隔壁 14 開口部 15 ウエハ挿入部 16 真空吸着用の小孔 17 連通路 18、19 シャッター 20、20′駆動機構 21、22 噴射ノズル 23、24、34 供給管 25、26 洗浄液供給装置 27、28 洗浄液 29、30、35 排出管 31 モータ 32 回転ブラシ 33 気体供給装置

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 洗浄槽と、この洗浄槽を2つの独立洗浄
    槽に仕切る隔壁と、前記各独立洗浄槽内にそれぞれ洗浄
    液を供給する洗浄液供給手段と、基板の外形に対応させ
    て前記隔壁に設けられた開口部と、この開口部の周囲に
    おいて前記基板の外周部を保持する基板保持手段と、前
    記開口部を液密状態で開閉するシャッターとを具備し、 前記シャッターにより前記開口部を閉塞した状態で前記
    基板を前記基板保持手段により前記開口部に保持させた
    後、前記シャッターにより前記開口部を開放して前記基
    板の両面をそれぞれ前記各独立洗浄槽内の洗浄液により
    洗浄するように構成した基板の洗浄装置。
  2. 【請求項2】 洗浄槽と、この洗浄槽を2つの独立洗浄
    槽に仕切る隔壁と、前記各独立洗浄槽内にそれぞれ洗浄
    液を供給する洗浄液供給手段と、基板の外形に対応させ
    て前記隔壁に設けられた開口部と、この開口部の周囲に
    おいて前記基板の外周部を保持する基板保持手段とを具
    備し、 前記隔壁の開口部が前記各独立洗浄槽外に出る着脱位置
    と前記各独立洗浄槽内に入る洗浄位置との間で移動する
    ように、その隔壁を液密状態で移動自在に構成し、 前記隔壁を着脱位置に移動させた状態で前記基板を前記
    基板保持手段により前記開口部に保持させた後、前記隔
    壁を洗浄位置に移動させて前記基板の両面をそれぞれ前
    記各独立洗浄槽内の洗浄液により洗浄するように構成し
    た基板の洗浄装置。
  3. 【請求項3】 洗浄槽と、この洗浄槽を2つの独立洗浄
    槽に仕切る隔壁と、前記一方の独立洗浄槽内に洗浄液を
    供給する洗浄液供給手段と、前記他方の独立洗浄槽内に
    設けられた非液性洗浄手段と、基板の外形に対応させて
    前記隔壁に設けられた開口部と、この開口部の周囲にお
    いて前記基板の外周部を保持する基板保持手段と、前記
    開口部を液密状態で開閉するシャッターとを具備し、 前記シャッターにより前記開口部を閉塞した状態で前記
    基板を前記基板保持手段により前記開口部に保持させた
    後、前記シャッターにより前記開口部を開放して前記基
    板の両面をそれぞれ前記各独立洗浄槽内の洗浄液と非液
    性洗浄手段とにより洗浄するように構成した基板の洗浄
    装置。
  4. 【請求項4】 洗浄槽と、この洗浄槽を2つの独立洗浄
    槽に仕切る隔壁と、前記一方の独立洗浄槽内に洗浄液を
    供給する洗浄液供給手段と、前記他方の独立洗浄槽内に
    設けられた非液性洗浄手段と、基板の外形に対応させて
    前記隔壁に設けられた開口部と、この開口部の周囲にお
    いて前記基板の外周部を保持する基板保持手段とを具備
    し、 前記隔壁の開口部が前記各独立洗浄槽外に出る着脱位置
    と前記各独立洗浄槽内に入る洗浄位置との間で移動する
    ように、その隔壁を液密状態で移動自在に構成し、 前記隔壁を着脱位置に移動させた状態で前記基板を前記
    基板保持手段により前記開口部に保持させた後、前記隔
    壁を洗浄位置に移動させて前記基板の両面をそれぞれ前
    記各独立洗浄槽内の洗浄液と非液性洗浄液とにより洗浄
    するように構成した基板の洗浄装置。
  5. 【請求項5】 前記洗浄液供給手段が前記基板の面に洗
    浄液を噴射する噴射ノズルを有することを特徴とする請
    求項1乃至4記載の基板の洗浄装置。
  6. 【請求項6】 前記非液性洗浄手段が前記基板の面に接
    触する回転ブラシであることを特徴とする請求項3また
    は4記載の基板の洗浄装置。
JP9554093A 1993-03-30 1993-03-30 基板の洗浄装置 Withdrawn JPH06291102A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000002998A (ko) * 1998-06-25 2000-01-15 윤종용 엘씨디 글래스 세정장치
KR20030057176A (ko) * 2001-12-28 2003-07-04 동부전자 주식회사 웨이퍼의 후면 세정장치
KR20030057175A (ko) * 2001-12-28 2003-07-04 동부전자 주식회사 웨이퍼의 후면 세정장치
JP2014214332A (ja) * 2013-04-23 2014-11-17 株式会社荏原製作所 基板めっき装置及び基板めっき方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20000002998A (ko) * 1998-06-25 2000-01-15 윤종용 엘씨디 글래스 세정장치
KR20030057176A (ko) * 2001-12-28 2003-07-04 동부전자 주식회사 웨이퍼의 후면 세정장치
KR20030057175A (ko) * 2001-12-28 2003-07-04 동부전자 주식회사 웨이퍼의 후면 세정장치
JP2014214332A (ja) * 2013-04-23 2014-11-17 株式会社荏原製作所 基板めっき装置及び基板めっき方法

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