JPH06292653A - 検眼装置 - Google Patents

検眼装置

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Publication number
JPH06292653A
JPH06292653A JP5106211A JP10621193A JPH06292653A JP H06292653 A JPH06292653 A JP H06292653A JP 5106211 A JP5106211 A JP 5106211A JP 10621193 A JP10621193 A JP 10621193A JP H06292653 A JPH06292653 A JP H06292653A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fundus
polarizing plate
light
lens
objective lens
Prior art date
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Pending
Application number
JP5106211A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshi Kobayakawa
嘉 小早川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 網膜厚さ分布を映像化又は数値化し、神経繊
維の走行方向を検知できるようにし、例えば緑内障の診
断を的確に行えるようにする。 【構成】 光源1からの光をモータ2により照明系光軸
S1の周りに回転される偏光板3、照明光学系のレンズ
4、瞳孔共役の孔あきミラー5、対物レンズ6を通して
被検眼Eの眼底Erを照明し、その眼底反射光を対物レン
ズ6、孔あきミラー5の中心孔、結像レンズ7及び照明
系の偏光板3と同期して受光系光軸S2の周りに回転され
る偏光板9を通して、撮像素子10からの信号を信号処
理装置11内にある画像記憶装置に取り込み、その記憶
データ信号から眼底Erの偏光特性を検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば緑内障の診断に
供される眼底の偏光特性を検出するための検眼装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】周知のように緑内障になると眼圧によっ
て乳頭が圧迫されるので網膜神経が死に、その部分の網
膜が薄くなり、それに伴って複屈折性も減少する。
【0003】従って、網膜偏光特性を知ることによって
緑内障の診断が可能である。従来において、網膜の複屈
折性を検査する装置は、レーザー光をスポット的に網膜
測定点に当てて、その反射光を偏光解析する方式が一般
的である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】網膜の複屈折性を求め
る従来例の装置では、一度に1点しか分からないので、
広い面積の分布を映像として診断することは不適であ
る。また、神経繊維層の欠損は神経の走行に沿って帯状
に現れるが、その部分の眼底は反射率の変化が小さいの
で、一般の写真では分かり難いという問題点もある。
【0005】本発明の目的は、透明な網膜厚さに変化が
生ずると偏光特性に大きな変化が生ずる現象を利用し
て、網膜厚さ分布を映像化又は数値化できるようにし、
更に神経繊維層の欠損を正確に検出できるようにした検
眼装置を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めの本発明に係る検眼装置は、偏光光束の偏光方向を回
転して眼底を照明する照明系と、該照明系の眼底反射光
を前記回転と共に記憶する記憶手段とを有し、該記憶手
段の信号により眼底の偏光特性を検出することを特徴と
する。
【0007】
【作用】上述の構成を有する検眼装置は、偏光光を使用
して、部分的な網膜厚さの変化を明暗として映像に表す
と同時に、比較的広い面積を同時に定量的に解析する。
【0008】
【実施例】本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明
する。図1は本発明に係る検眼装置の一実施例を示し、
ランプやストロボ等の光源1から被検眼Eに至る光路上
には、光軸S1に沿ってモータ2によって回転される偏向
板3、レンズ4、偏光特性のない全反射鏡である孔あき
ミラー5、対物レンズ6が配置されている。
【0009】また、孔あきミラー5の後方には、光軸S2
に沿って結像レンズ7、モータ8により偏向板3と同期
して回転する偏光板9、被検眼Eの眼底Erと共役に配置
された撮像素子10が配列されている。そして、撮像素
子10の出力は信号処理装置11に接続され、信号処理
装置11の出力はテレビモニタ12、モータ2、モータ
8に接続されている。
【0010】光源1からの光は偏光板3、レンズ4、孔
あきミラー5及び対物レンズ6を通って被検眼Eの眼底
Erを照明する。その眼底反射光は対物レンズ6、孔あき
ミラー5の中心孔及び結像レンズ7を通って受光系の偏
光板9に至る。偏光板9は偏光板3と同期してモータ8
により受光系の光軸S2の周りに回転されるが、偏光板3
と偏光板9は偏光方向を90度にしておくことが望まし
い。偏光板9を通った光束は例えばCCDから成る撮像
素子10によって受光される。撮像素子10からの信号
は逐次に信号処理装置11の内部に設けられている画像
記憶装置に取り込まれる。
【0011】図2は眼底Er上の一点から偏光角度に対す
る反射光量の変化のグラフ図を示し、横軸の角度θは偏
光板3、9の回転角、縦軸は反射光量を表している。記
憶されたデータの内、画像間の差を取れば交流成分のみ
が抽出される。この交流成分は神経繊維層の方向と入射
偏光方向によって変化し、周期が90度の正弦波とな
り、その位相は神経繊維層の方向を示し、振幅Aは網膜
厚さ情報となる。
【0012】偏光板3、9の回転は少なくとも90度は
必要であり、最小限3画面取り込めば、各点ごとに位相
つまり神経繊維層の方向と厚さが計算できる。各点の振
幅Aを明るさとして、走行方向線と共に眼底像Fをテレ
ビモニタ12上に表示すれば、欠損や萎縮のある場所が
暗く映るので、神経繊維層の欠損や萎縮した部分を正確
に検出することができる。また、振幅Aや位相を数値化
することもできる。
【0013】なお、画像記憶装置への取り込みに同期し
て光源1を発光させてもよい。使用する光源1の波長
は、短いほど色素上皮に入り込まないで反射するから、
偏光が保たれて好ましい。波長帯も広いと波長により位
相差にばらつきができ好ましくないので、フィルタ等を
使って波長帯を狭帯域にするか、或いは単色光であるレ
ーザー光を用いるとよい。
【0014】受光系の偏光板9は省略しても或る程度の
振幅Aは得られ、また偏光板9の方向が必ずしも偏光板
3の方向と直交していなくとも振幅Aは現れる。なお、
無散瞳式眼底カメラに、偏光板3、9を取り付けて位置
合わせ用のテレビカメラを兼用することも可能である。
更には、眼底撮影時には偏光板を外すか、或いは偏光方
向を平行にすれば、フィルム等の記録媒体に記録するこ
とができる。
【0015】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る検眼装
置は、網膜厚さ分布を映像化又は数値化できるので、例
えば緑内障の診断に有効である。また、神経繊維の走行
方向が分り、神経繊維層の欠損個所や萎縮個所を正確に
把えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例の光学的配置図である。
【図2】眼底反射光の光量と偏光板の回転角との関係の
グラフ図である。
【符号の説明】
1 光源 3、9 偏光板 5 孔あきミラー 6 対物レンズ 10 撮像素子 11 信号処理装置 12 テレビモニタ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 偏光光束の偏光方向を回転して眼底を照
    明する照明系と、該照明系の眼底反射光を前記回転と共
    に記憶する記憶手段とを有し、該記憶手段の信号により
    眼底の偏光特性を検出することを特徴とする検眼装置。
JP5106211A 1993-04-08 1993-04-08 検眼装置 Pending JPH06292653A (ja)

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JP5106211A JPH06292653A (ja) 1993-04-08 1993-04-08 検眼装置

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JP5106211A JPH06292653A (ja) 1993-04-08 1993-04-08 検眼装置

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JPH06292653A true JPH06292653A (ja) 1994-10-21

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ID=14427825

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JP5106211A Pending JPH06292653A (ja) 1993-04-08 1993-04-08 検眼装置

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JP (1) JPH06292653A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004229999A (ja) * 2003-01-31 2004-08-19 Nidek Co Ltd 検眼装置
JP2007252402A (ja) * 2006-03-20 2007-10-04 Topcon Corp 眼科測定装置
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