JPH0629501A - Gate array manufacturing apparatus and manufacturing method - Google Patents
Gate array manufacturing apparatus and manufacturing methodInfo
- Publication number
- JPH0629501A JPH0629501A JP4181340A JP18134092A JPH0629501A JP H0629501 A JPH0629501 A JP H0629501A JP 4181340 A JP4181340 A JP 4181340A JP 18134092 A JP18134092 A JP 18134092A JP H0629501 A JPH0629501 A JP H0629501A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- technology
- power supply
- input
- storage unit
- information
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ゲートアレイ製造装置に関し、パターン作成の
ミス発生をなくすことができ、作成に要する手間を軽減
して開発期間の短縮化を図ることができることを目的と
する。
【構成】算出部9はチップサイズ、ベーシックセル数、
入出力セル数又はパッド数のうちいずれか1つを入力
し、テクノロジ情報読み込み部6のテクノロジ情報、パ
ターン情報読み込み部7の各部品のパターン情報、レイ
アウト情報読み込み部8のレイアウト情報に基づいて、
他の部品数又はチップサイズを算出する。パターン配置
部10はテクノロジ情報読み込み部6のテクノロジ情
報、パターン情報読み込み部7の各部品のパターン情
報、レイアウト情報読み込み部8のレイアウト情報、チ
ップサイズ、ベーシックセル数、入出力セル数又はパッ
ド数のうちいずれか1つの条件、及び算出部9の算出結
果を入力し、ベーシックセル、入出力セル及びパッドの
各種部品を配置する。
(57) [Summary] [Object] With regard to a gate array manufacturing apparatus, it is an object of the present invention to eliminate errors in pattern creation, to reduce the time and effort required for creation, and to shorten the development period. [Structure] The calculation unit 9 includes a chip size, the number of basic cells,
Either one of the number of input / output cells or the number of pads is input, and based on the technology information of the technology information reading unit 6, the pattern information of each component of the pattern information reading unit 7, and the layout information of the layout information reading unit 8,
Calculate the number of other components or chip size. The pattern arranging unit 10 includes the technology information of the technology information reading unit 6, the pattern information of each component of the pattern information reading unit 7, the layout information of the layout information reading unit 8, the chip size, the number of basic cells, the number of input / output cells or the number of pads. Any one of the conditions and the calculation result of the calculation unit 9 are input, and various components such as the basic cell, the input / output cell, and the pad are arranged.
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明はゲートアレイのバルクパ
ターンを作成するゲートアレイ製造装置及び製造方法に
関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a gate array manufacturing apparatus and manufacturing method for forming a bulk pattern of a gate array.
【0002】近年のLSI技術の進歩により、予めバル
クが形成されるゲートアレイにおいても用途に応じた品
種、サイズ等が要求されるようになってきている。又、
誤りのないバルクパターンを短期間で作成できることが
望まれている。Due to recent advances in LSI technology, even in a gate array in which a bulk is formed in advance, the type, size, etc. according to the use are required. or,
It is desired to be able to create an error-free bulk pattern in a short period of time.
【0003】[0003]
【従来の技術】従来、新品種のゲートアレイの開発にあ
たり、ゲートアレイのベーシックセル、入出力セル、入
出力信号のためのパッド等の各種部品を配置したバルク
パターンは、人手によって作成されている。2. Description of the Related Art Conventionally, in developing a new type of gate array, a bulk pattern in which various parts such as a basic cell, an input / output cell, and a pad for an input / output signal of the gate array are arranged is manually created. .
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、今日の
LSIの大規模化に伴い、バルクに搭載される部品の数
も増大してきている。このため、人手によるバルクパタ
ーンの作成に多大な手間を要するとともに、ミスが発生
しやすくなるという問題がある。However, as the scale of today's LSIs increases, the number of parts mounted in bulk also increases. Therefore, there is a problem that it takes a lot of time and effort to manually create a bulk pattern, and mistakes easily occur.
【0005】又、作業者の経験及び知識のレベルによっ
て作成されたバルクの構成がまちまちとなるという問題
を生じてきた。更に、バルクに搭載される部品数の増大
により、人手による作業では電源供給線の配線幅又は本
数を、需要にみあった電源を供給できるものとすること
が困難となってきた。Further, there has been a problem that the bulk structure created by the level of experience and knowledge of the operator varies. Furthermore, due to the increase in the number of parts mounted in the bulk, it has become difficult to manually set the wiring width or the number of power supply lines so that the power supply can meet the demand.
【0006】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、ゲートアレイのバルクパターンの作
成においてミス発生をなくすことができるとともに、作
成に要する手間を大幅に軽減して開発期間の短縮化を図
ることができることを目的とする。The present invention has been made in order to solve the above-mentioned problems, and it is possible to eliminate the occurrence of mistakes in the formation of the bulk pattern of the gate array, and to significantly reduce the time and effort required for the production, thereby achieving a development period. The purpose is to be able to shorten the.
【0007】又、本発明は電源供給線の配線幅又は本数
を、需要にみあった電源を供給できるものとすることが
できることを目的とする。It is another object of the present invention to make it possible to supply a power supply that meets the demand by adjusting the wiring width or the number of power supply lines.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、第1発明は、半導体チップ上に複数のベーシックセ
ル、複数の入出力セル、入出力信号のための複数のパッ
ドの各種部品を配置することによりゲートアレイのバル
クを構成するようにしたゲートアレイ製造装置であっ
て、テクノロジ毎のグリッドピッチのテクノロジ情報を
記憶したテクノロジ情報記憶部と、テクノロジ毎のベー
シックセル、入出力セル、パッドの各部品のパターン情
報を記憶したパターン情報記憶部と、各テクノロジにお
けるシリーズ毎の各部品間の最低保証間隔のレイアウト
情報を記憶したレイアウト情報記憶部と、ゲートアレイ
作成のためのテクノロジ条件に基づいてテクノロジ情報
記憶部からそのテクノロジに対応したテクノロジ情報を
読み込むテクノロジ情報読み込み部と、ゲートアレイ作
成のためのテクノロジ条件に基づいてパターン情報記憶
部からそのテクノロジに対応したベーシックセル、入出
力セル、パッドの各部品のパターン情報を読み込むパタ
ーン情報読み込み部と、ゲートアレイ作成のためのテク
ノロジ条件及びレイアウト条件に基づいてレイアウト情
報記憶部からそのテクノロジのシリーズに対応したレイ
アウト情報を読み込むレイアウト情報読み込み部と、チ
ップサイズ、ベーシックセル数、入出力セル数又はパッ
ド数のゲートアレイ作成条件のうちいずれか1つを入力
し、テクノロジ情報読み込み部からのテクノロジ情報、
パターン情報読み込み部からの各部品のパターン情報、
及びレイアウト情報読み込み部からのレイアウト情報に
基づいて、作成するゲートアレイの他の部品数又はチッ
プサイズを算出する算出部と、テクノロジ情報読み込み
部からのテクノロジ情報、パターン情報読み込み部から
の各部品のパターン情報、レイアウト情報読み込み部か
らのレイアウト情報、及びチップサイズ、ベーシックセ
ル数、入出力セル数又はパッド数のゲートアレイ作成条
件のうちいずれか1つの条件を入力するとともに、算出
部の算出結果を入力し、ベーシックセル、入出力セル及
びパッドの各種部品を配置するパターン配置部とを備え
てゲートアレイ製造装置を構成した。In order to achieve the above object, the first aspect of the present invention is to arrange various components of a plurality of basic cells, a plurality of input / output cells, and a plurality of pads for input / output signals on a semiconductor chip. A gate array manufacturing apparatus configured to form a bulk of a gate array by performing the above, and a technology information storage unit that stores technology information of a grid pitch for each technology, a basic cell, an input / output cell, and a pad for each technology. Based on the pattern information storage unit that stores the pattern information of each component, the layout information storage unit that stores the layout information of the minimum guaranteed interval between each component in each technology series, and the technology conditions for creating the gate array. Technology information that reads the technology information corresponding to that technology from the technology information storage unit Reading unit and pattern information reading unit that reads pattern information of each part of the basic cell, I / O cell, and pad corresponding to the technology from the pattern information storage unit based on the technology condition for creating the gate array, and the gate array creation Layout information reading unit that reads the layout information corresponding to the series of the technology from the layout information storage unit based on the technology condition and the layout condition, and the gate array of the chip size, the number of basic cells, the number of input / output cells or the number of pads Enter any one of the creation conditions and enter the technology information from the technology information reading section.
Pattern information of each part from the pattern information reading unit,
And a calculation unit that calculates the number of other components or chip size of the gate array to be created based on the layout information from the layout information reading unit, technology information from the technology information reading unit, and each component from the pattern information reading unit. Input the pattern information, the layout information from the layout information reading unit, and any one of the gate array creation conditions such as the chip size, the number of basic cells, the number of input / output cells, or the number of pads, and calculate the calculation result of the calculation unit. A gate array manufacturing apparatus is configured by including a pattern arranging unit for arranging various components such as a basic cell, an input / output cell and a pad.
【0009】又、第2発明は、テクノロジ情報記憶部は
テクノロジ毎の電源母線の配線幅、電源配線の隣接条
件、発生ビア条件、ベーシックセル1個当たりの消費電
力、電源配線の単位幅当たりの供給電力のテクノロジ情
報を記憶したものとする。レイアウト情報記憶部は各テ
クノロジにおけるシリーズ毎の電源母線とベーシックセ
ルとの間の最低保証間隔、及び電源母線と入出力セルと
の間の最低保証間隔、並びに電源母線への電源供給を行
うための電源供給線を発生可能な位置のレイアウト情報
を記憶したものとする。そして、テクノロジ条件に基づ
いてテクノロジ情報記憶部から読み込まれた電源母線の
配線幅、電源配線の隣接条件、発生ビア条件のテクノロ
ジ情報と、テクノロジ条件に基づいてレイアウト情報記
憶部から読み込まれた電源母線とベーシックセルとの間
の最低保証間隔、及び電源母線と入出力セルとの間の最
低保証間隔のレイアウト情報と、パターン配置部による
各種部品の配置結果とに基づき、電源母線を配置する電
源母線配置部と、テクノロジ条件に基づいてテクノロジ
情報記憶部から読み込まれたベーシックセル1個当たり
の消費電力及び電源配線の単位幅当たりの供給電力と、
作成条件としての電源供給線の本数又は配線幅条件と、
作成条件としてのベーシックセル数又は算出部により算
出されたベーシックセル数とに基づき、電源供給線の配
線幅又は本数を算出する電源供給線算出部と、パターン
配置部による各種部品の配置結果と、電源母線配置部に
よる電源母線の配置結果と、テクノロジ条件に従ってテ
クノロジ情報記憶部から読み込まれた電源配線の隣接条
件とに基づき、電源供給線算出部により算出された電源
供給線の配置を行う電源供給線配置部とを備えてゲート
アレイ製造装置を構成した。According to a second aspect of the invention, the technology information storage unit has a power supply bus line width for each technology, a power supply wire adjacency condition, a generated via condition, a power consumption per basic cell, and a power supply wire per unit width. It is assumed that the technology information of the supplied power is stored. The layout information storage unit stores the minimum guaranteed interval between the power bus and the basic cell for each series in each technology, the minimum guaranteed interval between the power bus and the input / output cells, and the power supply to the power bus. It is assumed that the layout information of the position where the power supply line can be generated is stored. Then, the technology information of the power supply bus width, the power supply wiring adjacency condition, and the generated via condition read from the technology information storage unit based on the technology condition, and the power supply bus line read from the layout information storage unit based on the technology condition. Based on the layout information of the minimum guaranteed interval between the power supply bus and the basic cell, and the minimum guaranteed interval between the power supply bus and the input / output cell, and the placement result of various parts by the pattern placement unit. An arrangement unit, power consumption per basic cell read from the technology information storage unit based on technology conditions, and power supply per unit width of power supply wiring;
Number of power supply lines or wiring width condition as creation condition,
Based on the number of basic cells as the creation condition or the number of basic cells calculated by the calculation unit, the power supply line calculation unit that calculates the wiring width or the number of power supply lines, and the placement result of various components by the pattern placement unit, Power supply for arranging the power supply lines calculated by the power supply line calculation unit based on the result of the power supply bus bar arrangement by the power supply bus arrangement unit and the adjacency condition of the power supply lines read from the technology information storage unit according to the technology condition. A gate array manufacturing apparatus was configured with a line arrangement section.
【0010】又、第3発明は、半導体チップ上に複数の
ベーシックセル、複数の入出力セル、入出力信号のため
の複数のパッドの各種部品を配置することによりゲート
アレイのバルクを構成するようにしたゲートアレイ製造
方法であって、予めテクノロジ毎のグリッドピッチのテ
クノロジ情報を記憶したテクノロジ情報記憶部と、テク
ノロジ毎のベーシックセル、入出力セル、パッドの各部
品のパターン情報を記憶したパターン情報記憶部と、各
テクノロジにおけるシリーズ毎の各部品間の最低保証間
隔のレイアウト情報を記憶したレイアウト情報記憶部と
を用意しておく。According to a third aspect of the present invention, a bulk of a gate array is formed by arranging various components of a plurality of basic cells, a plurality of input / output cells, and a plurality of pads for input / output signals on a semiconductor chip. The method for manufacturing a gate array according to claim 1, wherein the technology information storage unit stores in advance the technology information of the grid pitch for each technology, and the pattern information that stores the pattern information for each part of the basic cell, the input / output cell, and the pad for each technology. A storage unit and a layout information storage unit that stores layout information of the minimum guaranteed interval between parts of each series in each technology are prepared.
【0011】そして、外部から入力されるゲートアレイ
のテクノロジ条件、レイアウト条件、及びチップサイ
ズ、ベーシックセル数、入出力セル数又はパッド数のい
ずれか1つに応じて、入力されたテクノロジ条件のグリ
ッドピッチのテクノロジ情報をテクノロジ情報記憶部か
ら読み出し、入力されたチップサイズ、ベーシックセ
ル、入出力セル又はパッドのいずれか1つに応じて、回
路のパターン情報をパターン情報記憶部から読み出し、
入力されたレイアウト条件に応じて各部品間の最低保証
間隔のレイアウト情報をレイアウト情報記憶部から読み
出す工程と、テクノロジ情報記憶部から読み出したテク
ノロジ情報、パターン情報記憶部から読み出したパター
ン情報、及びレイアウト情報記憶部から読み出したレイ
アウト情報と、チップサイズ、ベーシックセル数、入出
力セル数又はパッド数のいずれか1つとに基づいてチッ
プサイズ又は部品数を算出する工程と、レイアウト情報
記憶部から読み出した最低保証間隔をもってチップにベ
ーシックセル、入出力セル又はパッドを配置する工程と
を含んでゲートアレイ製造方法を構成した。Then, a grid of the technology conditions inputted according to any one of the technology conditions of the gate array inputted from the outside, the layout conditions, and the chip size, the number of basic cells, the number of input / output cells or the number of pads. Pitch technology information is read from the technology information storage unit, circuit pattern information is read from the pattern information storage unit according to any one of the input chip size, basic cell, input / output cell, or pad,
A step of reading layout information of the minimum guaranteed interval between the respective parts from the layout information storage section according to the input layout condition, the technology information read from the technology information storage section, the pattern information read from the pattern information storage section, and the layout A step of calculating the chip size or the number of parts based on the layout information read from the information storage unit and any one of the chip size, the number of basic cells, the number of input / output cells or the number of pads, and the process of reading the layout information storage unit A gate array manufacturing method is configured including a step of arranging a basic cell, an input / output cell or a pad on a chip with a minimum guarantee interval.
【0012】更に、第4発明は、テクノロジ情報記憶部
はテクノロジ毎の電源母線の配線幅、電源配線の隣接条
件、発生ビア条件、ベーシックセル1個当たりの消費電
力、電源配線の単位幅当たりの供給電力のテクノロジ情
報を記憶し、レイアウト情報記憶部は各テクノロジにお
けるシリーズ毎の電源母線とベーシックセルとの間の最
低保証間隔、及び電源母線と入出力セルとの間の最低保
証間隔、並びに電源母線への電源供給を行うための電源
供給線を発生可能な位置のレイアウト情報を記憶してい
る。Further, in the fourth aspect of the invention, the technology information storage unit has a power supply bus line width for each technology, a power supply line adjacency condition, a generated via condition, a power consumption per basic cell, and a power supply line per unit width. The power supply technology information is stored, and the layout information storage unit stores the minimum guaranteed interval between the power supply bus bar and the basic cell for each series in each technology, the minimum guaranteed interval between the power supply bus line and the input / output cells, and the power supply. The layout information of the position where a power supply line for supplying power to the bus bar can be generated is stored.
【0013】そして、テクノロジ条件に基づいて電源母
線の配線幅、電源配線の隣接条件、発生ビア条件のテク
ノロジ情報をテクノロジ情報記憶部から読み出し、テク
ノロジ条件に基づいて電源母線とベーシックセルとの間
の最低保証間隔、及び電源母線と入出力セルとの間の最
低保証間隔のレイアウト情報をレイアウト情報記憶部か
ら読み出し、ベーシックセル領域を囲んで電源母線を配
置する工程と、テクノロジ条件に基づいてテクノロジ情
報記憶部から読み出したベーシックセル1個当たりの消
費電力及び電源配線の単位幅当たりの供給電力と、作成
条件としての電源供給線の本数又は配線幅条件と、ベー
シックセル数とに基づき、電源供給線の配線幅又は本数
を算出し、電源母線に接続されるように電源供給線を配
置する工程とを含んでゲートアレイ製造方法を構成し
た。Then, the technology information such as the wiring width of the power supply bus, the adjacency condition of the power supply wiring, and the generated via condition is read from the technology information storage unit based on the technology condition, and the technology information between the power supply bus and the basic cell is read based on the technology condition. The process of reading the layout information of the minimum guaranteed interval and the minimum guaranteed interval between the power supply bus and the input / output cells from the layout information storage unit, arranging the power supply bus around the basic cell area, and the technology information based on the technology conditions. Based on the power consumption per basic cell read from the storage unit and the power supply per unit width of the power supply wiring, the number of power supply lines or the wiring width condition as the creating condition, and the number of basic cells, the power supply line Calculating the wiring width or the number of wires, and arranging the power supply line so as to be connected to the power bus. In to constitute a gate array manufacturing method.
【0014】[0014]
【作用】第1,第3発明よれば、チップサイズ、ベーシ
ックセル数、入出力セル数又はパッド数のゲートアレイ
作成条件のうちいずれか1つの条件と、テクノロジ情報
読み込み部からのテクノロジ情報と、パターン情報読み
込み部からの各部品のパターン情報と、レイアウト情報
読み込み部からのレイアウト情報とに基づいて、作成す
るゲートアレイの他の部品数又はチップサイズが算出さ
れる。According to the first and third aspects of the present invention, any one of the conditions for creating the gate array such as the chip size, the number of basic cells, the number of input / output cells or the number of pads, and the technology information from the technology information reading section, Based on the pattern information of each component from the pattern information reading unit and the layout information from the layout information reading unit, the number of other components or the chip size of the gate array to be created is calculated.
【0015】そして、テクノロジ情報読み込み部からの
テクノロジ情報と、パターン情報読み込み部からの各部
品のパターン情報と、レイアウト情報読み込み部からの
レイアウト情報と、チップサイズ、ベーシックセル数、
入出力セル数又はパッド数のゲートアレイ作成条件のう
ちいずれか1つの条件と、部品数又はチップサイズとに
基づいて、ベーシックセル、入出力セル及びパッドの各
種部品が配置される。The technology information from the technology information reading unit, the pattern information of each part from the pattern information reading unit, the layout information from the layout information reading unit, the chip size, the number of basic cells,
Various parts such as a basic cell, an input / output cell, and a pad are arranged based on any one of the conditions for creating the gate array of the number of input / output cells or the number of pads and the number of parts or the chip size.
【0016】従って、ゲートアレイのバルクパターンの
作成においてミス発生がなくなるとともに、作成に要す
る手間が大幅に軽減され開発期間が短縮化される。又、
第2,第4発明によれば、テクノロジ情報記憶部から読
み出された電源母線の配線幅、電源配線の隣接条件、発
生ビア条件のテクノロジ情報と、テクノロジ条件に基づ
いてレイアウト情報記憶部から読み出された電源母線と
ベーシックセルとの間の最低保証間隔、及び電源母線と
入出力セルとの間の最低保証間隔のレイアウト情報と、
各種部品の配置結果とに基づいて、ベーシックセル領域
を囲む電源母線が配置される。又、テクノロジ情報記憶
部から読み出したベーシックセル1個当たりの消費電力
及び電源配線の単位幅当たりの供給電力と、作成条件と
しての電源供給線の本数又は配線幅条件と、ベーシック
セル数とに基づいて、電源供給線の配線幅又は本数が算
出される。Therefore, an error does not occur in the formation of the bulk pattern of the gate array, and the labor required for the formation is greatly reduced, and the development period is shortened. or,
According to the second and fourth inventions, the technology information of the wiring width of the power bus, the power wiring adjacency condition, and the generated via condition read from the technology information storage unit and the layout information storage unit based on the technology condition are read. Layout information of the minimum guaranteed interval between the issued power bus and the basic cell, and the minimum guaranteed interval between the power bus and the input / output cell,
A power bus that surrounds the basic cell region is arranged based on the arrangement result of various components. In addition, based on the power consumption per basic cell read from the technology information storage unit and the power supply per unit width of the power supply wiring, the number of power supply lines or wiring width conditions as creation conditions, and the number of basic cells. Thus, the wiring width or the number of power supply lines is calculated.
【0017】そして、各種部品の配置結果と、電源母線
配置部による電源母線の配置結果と、テクノロジ情報記
憶部から読み出した電源配線の隣接条件とに基づいて、
電源母線に接続されるように電源供給線が配置される。Then, based on the placement result of various components, the placement result of the power supply bus by the power supply bus placement unit, and the adjacency condition of the power supply wiring read from the technology information storage unit,
The power supply line is arranged so as to be connected to the power bus.
【0018】従って、電源供給線の配線幅又は本数が、
需要にみあった電源を供給できるものとなる。Therefore, the wiring width or the number of power supply lines is
It will be possible to supply power that meets demand.
【0019】[0019]
【実施例】以下、本発明を具体化したゲートアレイ製造
装置の一実施例を図面に従って説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of a gate array manufacturing apparatus embodying the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0020】図3は本実施例で作成されるゲートアレイ
30のバルク構成を示している。半導体チップ31の中
央部には内部セル領域32が形成され、同領域32には
多数の内部ベーシックセル32aがレイアウトされてい
る。内部セル領域32の周囲には同領域32との間に最
低保証間隔G1をもって環状の電源母線33がレイアウ
トされている。又、内部セル領域32の周囲には同領域
32との間に最低保証間隔G2をもって多数の入出力セ
ル35がレイアウトされている。所定の入出力セル35
からは前記電源母線33に電源を供給するための複数の
電源供給線34がレイアウトされている。FIG. 3 shows the bulk structure of the gate array 30 produced in this embodiment. An internal cell region 32 is formed in the center of the semiconductor chip 31, and a large number of internal basic cells 32a are laid out in the region 32. An annular power supply bus 33 is laid out around the internal cell region 32 with a minimum guarantee interval G1 between the internal cell region 32 and the internal region 32. In addition, a large number of input / output cells 35 are laid out around the internal cell region 32 with a minimum guaranteed interval G2 between them. Predetermined input / output cell 35
From the above, a plurality of power supply lines 34 for supplying power to the power bus 33 are laid out.
【0021】各入出力セル35の周囲には各入出力セル
35と一対一に対応する入出力信号のためのパッド36
がレイアウトされている。パッド36と入出力セル35
との間には最低保証間隔G3が設けられている。又、入
出力セル35と半導体チップ31の外周縁との間には最
低保証間隔G4が設けられている。更に、半導体チップ
31の4つの隅角部にはコーナー部37a〜37dがレ
イアウトされている。各コーナー部37a〜37dには
このゲートアレイ30のパターンずれの有無を判定する
ためのテストパターンが形成されている。Around the input / output cells 35, pads 36 for input / output signals corresponding to the input / output cells 35 on a one-to-one basis.
Is laid out. Pad 36 and input / output cell 35
A minimum guarantee interval G3 is provided between the and. Further, a minimum guarantee interval G4 is provided between the input / output cell 35 and the outer peripheral edge of the semiconductor chip 31. Further, corner portions 37a to 37d are laid out at the four corner portions of the semiconductor chip 31. A test pattern for determining whether or not there is a pattern shift of the gate array 30 is formed on each of the corner portions 37a to 37d.
【0022】図1は上記ゲートアレイ30のバルクパタ
ーンを作成するためのゲートアレイ製造装置1を示して
いる。このゲートアレイ製造装置1はテクノロジ情報記
憶部としてのテクノロジライブラリ2、パターン情報記
憶部としてのパターンライブラリ3、レイアウト情報記
憶部としてのレイアウトライブラリ4、作成条件設定部
5、テクノロジ情報読み込み部6、パターン情報読み込
み部7、レイアウト情報読み込み部8、算出部9、パタ
ーン配置部10、電源母線配置部11、電源供給線算出
部12、及び電源供給線配置部13等を備えて構成され
ている。FIG. 1 shows a gate array manufacturing apparatus 1 for forming a bulk pattern of the gate array 30. The gate array manufacturing apparatus 1 includes a technology library 2 as a technology information storage unit, a pattern library 3 as a pattern information storage unit, a layout library 4 as a layout information storage unit, a creation condition setting unit 5, a technology information reading unit 6, and a pattern. The information reading unit 7, the layout information reading unit 8, the calculating unit 9, the pattern arranging unit 10, the power supply busbar arranging unit 11, the power supply line calculating unit 12, the power supply line arranging unit 13, and the like are configured.
【0023】そして、ゲートアレイ製造装置1はゲート
アレイ作成条件としてのテクノロジ条件及びレイアウト
条件に基づいて、各種部品を配置することによりゲート
アレイのバルクを構成するようになっている。各種部品
としては複数の内部ベーシックセル、複数の入出力セ
ル、入出力信号のための複数のパッド等がある。Then, the gate array manufacturing apparatus 1 is configured to form a bulk of the gate array by arranging various parts based on the technology condition and the layout condition as the condition for forming the gate array. Various parts include a plurality of internal basic cells, a plurality of input / output cells, a plurality of pads for input / output signals, and the like.
【0024】尚、本実施例において、テクノロジの相違
はプロセスの相違(例えばバイポーラ技術とMOS技
術)、最小配線幅の種類等によって定義されている。テ
クノロジライブラリ2にはテクノロジ毎のグリッドピッ
チ、電源母線33の配線幅、電源配線の隣接条件、発生
ビア条件等のテクノロジ情報が記憶されている。又、テ
クノロジライブラリ2には内部ベーシックセル32aの
1個当たりの消費電力、電源配線の単位幅当たりの供給
電力等のテクノロジ情報も記憶されている。In this embodiment, the difference in technology is defined by the difference in process (for example, bipolar technology and MOS technology), the type of minimum wiring width, and the like. The technology library 2 stores technology information such as the grid pitch for each technology, the wiring width of the power supply bus 33, the adjacency condition of the power supply wiring, and the generated via condition. The technology library 2 also stores technology information such as the power consumption per internal basic cell 32a and the power supply per unit width of the power supply wiring.
【0025】パターンライブラリ3には、テクノロジ毎
に内部ベーシックセル32a、入出力セル35、パッド
36等の各部品及びコーナー部37a〜37dのパター
ン情報が記憶されている。The pattern library 3 stores pattern information of each component such as the internal basic cell 32a, the input / output cell 35, the pad 36 and the corner portions 37a to 37d for each technology.
【0026】レイアウトライブラリ4には各テクノロジ
におけるシリーズ毎に内部ベーシックセル32a間、入
出力セル35間、及びパッド36間等の同一部品間の最
低保証間隔が記憶されている。レイアウトライブラリ4
には入出力セル35と内部セル領域32との間の最低保
証間隔G2、入出力セル35とパッド36との間の最低
保証間隔G3が記憶されている。又、レイアウトライブ
ラリ4には入出力セル35とコーナー部37a〜37d
との間、及びパッド36と内部セル領域32との間等の
異なる部品間の最低保証間隔が記憶されている。The layout library 4 stores the minimum guaranteed intervals between the same parts such as the internal basic cells 32a, the input / output cells 35, and the pads 36 for each series in each technology. Layout library 4
The minimum guaranteed interval G2 between the input / output cell 35 and the internal cell region 32 and the minimum guaranteed interval G3 between the input / output cell 35 and the pad 36 are stored in the table. Further, the layout library 4 includes an input / output cell 35 and corner portions 37a to 37d.
, And the minimum guaranteed interval between different parts such as between the pad 36 and the internal cell region 32 are stored.
【0027】又、レイアウトライブラリ4には電源母線
33と内部セル領域32との間の最低保証間隔G1、入
出力セル35と半導体チップ31の外周縁との最低保証
間隔G4が記憶されている。更に、レイアウトライブラ
リ4には電源母線33への電源供給を行うための電源供
給線34を発生可能な位置等のレイアウト情報が記憶さ
れている。The layout library 4 also stores a minimum guaranteed interval G1 between the power supply bus 33 and the internal cell region 32 and a minimum guaranteed interval G4 between the input / output cells 35 and the outer peripheral edge of the semiconductor chip 31. Further, the layout library 4 stores layout information such as a position where a power supply line 34 for supplying power to the power bus 33 can be generated.
【0028】作成条件設定部5には外部からゲートアレ
イ作成のためのテクノロジ条件及びレイアウト条件が設
定される。又、作成条件設定部5には作成するゲートア
レイのチップサイズ、内部ベーシックセル32aの個
数、入出力セル35の個数又はパッド36の個数のうち
いずれか1つが設定される。更に、作成条件設定部5に
は電源供給線34の本数又は配線幅が設定される。In the creation condition setting section 5, technology conditions and layout conditions for creating a gate array are set from the outside. Further, one of the chip size of the gate array to be created, the number of internal basic cells 32a, the number of input / output cells 35, or the number of pads 36 is set in the creating condition setting unit 5. Further, the number of power supply lines 34 or the wiring width is set in the creation condition setting unit 5.
【0029】テクノロジ情報読み込み部6は作成条件設
定部5に設定されたテクノロジ条件に基づいてテクノロ
ジライブラリ2からテクノロジに対応したグリッドピッ
チ、電源母線33の配線幅、電源配線の隣接条件、発生
ビア条件、内部ベーシックセル32aの1個当たりの消
費電力、電源配線の単位幅当たりの供給電力等のテクノ
ロジ情報を読み込む。Based on the technology conditions set in the creation condition setting unit 5, the technology information reading unit 6 uses the technology library 2 to select the grid pitch corresponding to the technology, the wiring width of the power supply bus 33, the adjacent condition of the power supply wiring, and the generated via condition. , Technology information such as power consumption per internal basic cell 32a and power supply per unit width of power supply wiring is read.
【0030】パターン情報読み込み部7は作成条件設定
部5に設定されたテクノロジ条件に基づいてパターンラ
イブラリ3からそのテクノロジに対応した内部ベーシッ
クセル32a、入出力セル35、パッド36等の各部品
及びコーナー部37a〜37dのパターン情報を読み込
む。Based on the technology condition set in the creation condition setting unit 5, the pattern information reading unit 7 uses the pattern library 3 for each component such as the internal basic cell 32a, the input / output cell 35, and the pad 36 corresponding to the technology and the corner. The pattern information of the parts 37a to 37d is read.
【0031】レイアウト情報読み込み部8は作成条件設
定部5に設定されたテクノロジ条件及びレイアウト条件
に基づいてレイアウトライブラリ4からそのテクノロジ
のシリーズに対応した同一部品間の最低保証間隔、異な
る部品間の最低保証間隔、電源母線と内部セル領域との
間の最低保証間隔、及び電源母線への電源供給を行うた
めの電源供給線を発生可能な位置等のレイアウト情報を
読み込む。Based on the technology condition and layout condition set in the creation condition setting unit 5, the layout information reading unit 8 determines from the layout library 4 the minimum guaranteed interval between the same components corresponding to the series of the technology and the minimum guarantee interval between different components. Layout information such as a guaranteed interval, a minimum guaranteed interval between the power bus and the internal cell region, and a position where a power supply line for supplying power to the power bus can be generated is read.
【0032】算出部9はチップサイズ、内部ベーシック
セル数、入出力セル数又はパッド数等の作成条件のうち
作成条件設定部5に設定されたいずれか1つの作成条件
を入力する。算出部9はテクノロジ情報読み込み部6に
よって読み込まれたテクノロジ情報を入力する。又、算
出部9はパターン情報読み込み部7によって読み込まれ
た各部品のパターン情報と、レイアウト情報読み込み部
8によって読み込まれたレイアウト情報とを入力する。The calculation unit 9 inputs any one of the creation conditions set in the creation condition setting unit 5 among the creation conditions such as the chip size, the number of internal basic cells, the number of input / output cells, and the number of pads. The calculation unit 9 inputs the technology information read by the technology information reading unit 6. Further, the calculation unit 9 inputs the pattern information of each component read by the pattern information reading unit 7 and the layout information read by the layout information reading unit 8.
【0033】そして、算出部9は作成条件及び上記各情
報に基づいて作成するゲートアレイの他の部品数又はチ
ップサイズを算出する。例えば、図3に示すゲートアレ
イ30において、作成条件としてチップサイズが設定さ
れている場合には、多数の入出力セル35を配置可能な
領域の大きさが求められる。即ち、チップサイズからレ
イアウト情報における入出力セル35と半導体チップ3
1外周縁との間の最低保証間隔G4を引くことにより入
出力セル35を配置可能な領域の大きさが求められる。
この入出力セル35を配置可能な領域の大きさ、パター
ン情報における入出力セル35のサイズ及びレイアウト
情報における入出力セル35間の最低保証間隔に基づい
て入出力セル35の配置個数が算出される。Then, the calculating unit 9 calculates the number of other components or the chip size of the gate array to be created based on the creating conditions and the above-mentioned information. For example, in the gate array 30 shown in FIG. 3, when the chip size is set as the creation condition, the size of the area where a large number of input / output cells 35 can be arranged is required. That is, the input / output cell 35 and the semiconductor chip 3 in the layout information from the chip size
The size of the area in which the input / output cells 35 can be arranged is obtained by subtracting the minimum guaranteed distance G4 from the outer peripheral edge.
The number of arranged input / output cells 35 is calculated based on the size of the area in which the input / output cells 35 can be arranged, the size of the input / output cells 35 in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the input / output cells 35 in the layout information. .
【0034】次に、入出力セル35を配置可能な領域の
大きさと、レイアウト情報における入出力セル35とパ
ッド36との間の最低保証間隔G3とに基づいて多数の
パッド36を配置可能な領域の大きさが求められる。こ
のパッド36を配置可能な領域の大きさ、パターン情報
におけるパッド36のサイズ及びレイアウト情報におけ
るパッド36間の最低保証間隔に基づいてパッド36の
配置個数が算出される。Next, based on the size of the area in which the input / output cells 35 can be arranged and the minimum guaranteed spacing G3 between the input / output cells 35 and the pads 36 in the layout information, a large number of pads 36 can be arranged in the area. Is required. The number of pads 36 to be arranged is calculated based on the size of the area in which the pads 36 can be arranged, the size of the pads 36 in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the pads 36 in the layout information.
【0035】そして、入出力セル35を配置可能な領域
の大きさと、レイアウト情報における入出力セル35と
内部セル領域32との間の最低保証間隔G2とに基づい
て内部セル領域32の大きさが求められる。この内部セ
ル領域32の大きさ、パターン情報における内部ベーシ
ックセル32aのサイズ及びレイアウト情報における内
部ベーシックセル32a間の最低保証間隔に基づいて内
部ベーシックセルの配置個数が算出される。Then, the size of the internal cell area 32 is determined based on the size of the area in which the input / output cell 35 can be arranged and the minimum guaranteed interval G2 between the input / output cell 35 and the internal cell area 32 in the layout information. Desired. The number of arranged internal basic cells is calculated based on the size of the internal cell region 32, the size of the internal basic cells 32a in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the internal basic cells 32a in the layout information.
【0036】又、ゲートアレイ30において、作成条件
として内部ベーシックセル数が設定されている場合に
は、内部セル領域32の大きさが求められる。即ち、内
部ベーシックセル32aの個数、パターン情報における
内部ベーシックセル32aのサイズ及びレイアウト情報
における内部ベーシックセル32a間の最低保証間隔に
基づいて内部セル領域32の大きさが求められる。この
内部セル領域32の大きさと、レイアウト情報における
入出力セル35と内部セル領域32との間の最低保証間
隔G2とに基づいて多数の入出力セル35を配置可能な
領域の大きさが求められる。この入出力セル35を配置
可能な領域の大きさ、パターン情報における入出力セル
35のサイズ及びレイアウト情報における入出力セル3
5間の最低保証間隔に基づいて入出力セル35の配置個
数が算出される。Further, in the gate array 30, when the number of internal basic cells is set as a production condition, the size of the internal cell region 32 is obtained. That is, the size of the internal cell region 32 is obtained based on the number of internal basic cells 32a, the size of the internal basic cells 32a in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the internal basic cells 32a in the layout information. Based on the size of the internal cell area 32 and the minimum guaranteed interval G2 between the input / output cell 35 and the internal cell area 32 in the layout information, the size of the area in which a large number of input / output cells 35 can be arranged is obtained. . The size of the area in which the input / output cell 35 can be arranged, the size of the input / output cell 35 in the pattern information, and the input / output cell 3 in the layout information.
The number of arranged input / output cells 35 is calculated based on the minimum guaranteed interval between 5 and 5.
【0037】次に、入出力セル35を配置可能な領域の
大きさと、レイアウト情報における入出力セル35とパ
ッド36との間の最低保証間隔G3とに基づいてパッド
36を配置可能な領域の大きさが求められる。このパッ
ド36を配置可能な領域の大きさ、パターン情報におけ
るパッド36のサイズ及びレイアウト情報におけるパッ
ド36間の最低保証間隔に基づいてパッド36の配置個
数が算出される。Next, the size of the area in which the pad 36 can be arranged is determined based on the size of the area in which the input / output cell 35 can be arranged and the minimum guaranteed interval G3 between the input / output cell 35 and the pad 36 in the layout information. Is required. The number of pads 36 to be arranged is calculated based on the size of the area in which the pads 36 can be arranged, the size of the pads 36 in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the pads 36 in the layout information.
【0038】そして、入出力セル35を配置可能な領域
の大きさと、レイアウト情報における入出力セル35と
半導体チップ31外周縁との間の最低保証間隔G4とに
基づいて半導体チップ31のチップサイズが求められ
る。Then, the chip size of the semiconductor chip 31 is determined based on the size of the area in which the input / output cell 35 can be arranged and the minimum guaranteed interval G4 between the input / output cell 35 and the outer peripheral edge of the semiconductor chip 31 in the layout information. Desired.
【0039】又、ゲートアレイ30において、作成条件
として入出力セル数が設定されている場合には、多数の
入出力セル35を配置可能な領域の大きさが求められ
る。即ち、入出力セル35の個数、パターン情報におけ
る入出力セル35のサイズ及びレイアウト情報における
入出力セル35間の最低保証間隔に基づいて入出力セル
35を配置可能な領域の大きさが求められる。この入出
力セル35を配置可能な領域の大きさと、レイアウト情
報における入出力セル35と内部セル領域32との間の
最低保証間隔G2とに基づいて内部セル領域32の大き
さが求められる。この内部セル領域32の大きさ、パタ
ーン情報における内部ベーシックセル32aのサイズ及
びレイアウト情報における内部ベーシックセル32a間
の最低保証間隔に基づいて内部ベーシックセル32aの
配置個数が算出される。In addition, in the gate array 30, when the number of input / output cells is set as a production condition, the size of the area where a large number of input / output cells 35 can be arranged is obtained. That is, the size of the area in which the input / output cells 35 can be arranged is determined based on the number of input / output cells 35, the size of the input / output cells 35 in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the input / output cells 35 in the layout information. The size of the internal cell area 32 is obtained based on the size of the area in which the input / output cell 35 can be arranged and the minimum guaranteed interval G2 between the input / output cell 35 and the internal cell area 32 in the layout information. The number of arranged internal basic cells 32a is calculated based on the size of the internal cell region 32, the size of the internal basic cells 32a in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the internal basic cells 32a in the layout information.
【0040】次に、入出力セル35を配置可能な領域の
大きさと、レイアウト情報における入出力セル35とパ
ッド36との間の最低保証間隔G3とに基づいてパッド
36を配置可能な領域の大きさが求められる。このパッ
ド36を配置可能な領域の大きさ、パターン情報におけ
るパッド36のサイズ及びレイアウト情報におけるパッ
ド36間の最低保証間隔に基づいてパッド36の配置個
数が算出される。Next, the size of the area in which the pad 36 can be arranged is based on the size of the area in which the input / output cell 35 can be arranged and the minimum guaranteed interval G3 between the input / output cell 35 and the pad 36 in the layout information. Is required. The number of pads 36 to be arranged is calculated based on the size of the area in which the pads 36 can be arranged, the size of the pads 36 in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the pads 36 in the layout information.
【0041】そして、入出力セル35を配置可能な領域
の大きさと、レイアウト情報における入出力セル35と
半導体チップ31外周縁との間の最低保証間隔G4とに
基づいて半導体チップ31のチップサイズが求められ
る。Then, the chip size of the semiconductor chip 31 is determined based on the size of the area where the input / output cells 35 can be arranged and the minimum guaranteed interval G4 between the input / output cells 35 and the outer peripheral edge of the semiconductor chip 31 in the layout information. Desired.
【0042】更に、ゲートアレイ30において、作成条
件としてパッド数が設定されている場合には、多数のパ
ッド36を配置可能な領域の大きさが求められる。即
ち、パッド36の個数、パターン情報におけるパッド3
6のサイズ及びレイアウト情報におけるパッド36間の
最低保証間隔に基づいてパッド36を配置可能な領域の
大きさが求められる。このパッド36を配置可能な領域
の大きさと、レイアウト情報における入出力セル35と
パッド36との間の最低保証間隔G3とに基づいて多数
の入出力セル35を配置可能な領域の大きさが求められ
る。この入出力セル35を配置可能な領域の大きさ、パ
ターン情報における入出力セル35のサイズ及びレイア
ウト情報における入出力セル35間の最低保証間隔に基
づいて入出力セル35の配置個数が算出される。Further, in the gate array 30, when the number of pads is set as a preparation condition, the size of the area where a large number of pads 36 can be arranged is obtained. That is, the number of pads 36 and the pad 3 in the pattern information
The size of the area in which the pads 36 can be arranged is calculated based on the size of 6 and the minimum guaranteed interval between the pads 36 in the layout information. The size of the area in which the pads 36 can be arranged and the size of the area in which a large number of the input / output cells 35 can be arranged are obtained based on the minimum guaranteed interval G3 between the input / output cells 35 and the pads 36 in the layout information. To be The number of arranged input / output cells 35 is calculated based on the size of the area in which the input / output cells 35 can be arranged, the size of the input / output cells 35 in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the input / output cells 35 in the layout information. .
【0043】次に、入出力セル35を配置可能な領域の
大きさと、レイアウト情報における入出力セル35と内
部セル領域32との間の最低保証間隔G2とに基づいて
内部セル領域32の大きさが求められる。この内部セル
領域32の大きさ、パターン情報における内部ベーシッ
クセル32aのサイズ及びレイアウト情報における内部
ベーシックセル32a間の最低保証間隔に基づいて内部
ベーシックセル32aの配置個数が算出される。Next, the size of the internal cell area 32 is determined based on the size of the area in which the input / output cell 35 can be arranged and the minimum guaranteed interval G2 between the input / output cell 35 and the internal cell area 32 in the layout information. Is required. The number of arranged internal basic cells 32a is calculated based on the size of the internal cell region 32, the size of the internal basic cells 32a in the pattern information, and the minimum guaranteed interval between the internal basic cells 32a in the layout information.
【0044】そして、入出力セル35を配置可能な領域
の大きさと、レイアウト情報における入出力セル35と
半導体チップ31外周縁との間の最低保証間隔G4とに
基づいて半導体チップ31のチップサイズが求められ
る。Then, the chip size of the semiconductor chip 31 is determined based on the size of the area in which the input / output cell 35 can be arranged and the minimum guaranteed interval G4 between the input / output cell 35 and the outer peripheral edge of the semiconductor chip 31 in the layout information. Desired.
【0045】パターン配置部10はテクノロジ情報読み
込み部6によって読み込まれたテクノロジ情報、パター
ン情報読み込み部7によって読み込まれた各部品のパタ
ーン情報を入力する。又、パターン配置部10はレイア
ウト情報読み込み部8によって読み込まれたレイアウト
情報、作成条件設定部5に設定された作成条件、及び前
記算出部9により算出された各部品の数又はチップサイ
ズを入力する。The pattern placement unit 10 inputs the technology information read by the technology information reading unit 6 and the pattern information of each component read by the pattern information reading unit 7. In addition, the pattern placement unit 10 inputs the layout information read by the layout information reading unit 8, the creation condition set in the creation condition setting unit 5, and the number or chip size of each component calculated by the calculation unit 9. .
【0046】そして、パターン配置部10は作成するゲ
ートアレイのサイズを決定し、内部ベーシックセル32
a、入出力セル35及びパッド36等の各種部品を配置
する。Then, the pattern arranging section 10 determines the size of the gate array to be formed, and the internal basic cell 32
Various components such as a, the input / output cell 35, and the pad 36 are arranged.
【0047】電源母線配置部11はテクノロジ情報読み
込み部6によって読み込まれた電源母線33の配線幅、
電源配線の隣接条件、発生ビア条件等のテクノロジ情報
を入力する。電源母線配置部11はレイアウト情報読み
込み部8によって読み込まれた電源母線33と内部セル
領域32との間の最低保証間隔等のレイアウト情報を入
力する。又、電源母線配置部11は前記パターン配置部
10による各種部品の配置結果を入力する。The power supply busbar arranging unit 11 has a wiring width of the power supply busbar 33 read by the technology information reading unit 6,
Enter technology information such as power supply wiring adjacency conditions and generated via conditions. The power supply busbar arrangement unit 11 inputs layout information such as the minimum guaranteed interval between the power supply busbar 33 and the internal cell region 32 read by the layout information reading unit 8. Further, the power supply busbar arrangement unit 11 inputs the arrangement result of various parts by the pattern arrangement unit 10.
【0048】そして、電源母線配置部11は入力したテ
クノロジ情報、レイアウト情報、及び各種部品の配置結
果に基づいて電源母線を配置する。電源供給線算出部1
2はテクノロジ情報読み込み部6によって読み込まれた
内部ベーシックセル1個当たりの消費電力及び電源配線
の単位幅当たりの供給電力等のテクノロジ情報、作成条
件設定部5に設定された電源供給線の本数又は配線幅条
件を入力する。又、電源供給線算出部12は作成条件設
定部5に設定された作成条件としての内部ベーシックセ
ル数又は前記算出部9により算出された内部ベーシック
セル数を入力する。Then, the power supply busbar arrangement unit 11 arranges the power supply busbars based on the input technology information, layout information, and the arrangement result of various parts. Power supply line calculation unit 1
2 is technology information such as the power consumption per internal basic cell read by the technology information reading unit 6 and the power supply per unit width of the power supply wiring, the number of power supply lines set in the creation condition setting unit 5, or Enter the wiring width condition. Further, the power supply line calculation unit 12 inputs the number of internal basic cells as the creation condition set in the creation condition setting unit 5 or the number of internal basic cells calculated by the calculation unit 9.
【0049】そして、電源供給線算出部12は作成条件
設定部5に電源供給線の本数が設定されている場合に
は、需要にみあった電源を供給できる電源供給線の配線
幅を以下の式(1)〜(3)に従って算出する。Then, when the number of power supply lines is set in the creation condition setting unit 5, the power supply line calculation unit 12 sets the wiring width of the power supply lines that can supply power to meet the demand as follows. It is calculated according to equations (1) to (3).
【0050】即ち、内部ベーシックセル1個当たりの消
費電力をK1、内部ベーシックセル数をCn、内部ベー
シックセルの全消費電力をCpとする。電源配線の単位
幅当たりの供給電力をK2、各電源供給線の供給電力を
P、電源供給線の本数をN、各電源供給線の幅をWとす
る。すると、That is, the power consumption per internal basic cell is K1, the number of internal basic cells is Cn, and the total power consumption of the internal basic cells is Cp. The power supply per unit width of the power supply wiring is K2, the power supply of each power supply line is P, the number of power supply lines is N, and the width of each power supply line is W. Then,
【0051】[0051]
【数1】 [Equation 1]
【0052】となる。ここで、電源供給線の本数Nが分
かっているので、各電源供給線の供給電力Pは、It becomes Here, since the number N of power supply lines is known, the supply power P of each power supply line is
【0053】[0053]
【数2】 [Equation 2]
【0054】となる。従って、各電源供給線の幅Wは、It becomes Therefore, the width W of each power supply line is
【0055】[0055]
【数3】 [Equation 3]
【0056】で求められる。又、電源供給線算出部12
は作成条件設定部5に電源供給線の配線幅が設定されて
いる場合には、需要にみあった電源を供給できる電源供
給線の本数を以下の式(4)〜(6)に従って算出す
る。It is calculated by Also, the power supply line calculation unit 12
When the wiring width of the power supply line is set in the creation condition setting unit 5, calculates the number of power supply lines that can supply the power according to the demand according to the following equations (4) to (6). .
【0057】即ち、内部ベーシックセル1個当たりの消
費電力をK1、内部ベーシックセル数をCn、内部ベー
シックセルの全消費電力をCpとする。電源配線の単位
幅当たりの供給電力をK2、各電源供給線の供給電力を
P、電源供給線の本数をN、各電源供給線の幅をWとす
る。すると、That is, the power consumption per internal basic cell is K1, the number of internal basic cells is Cn, and the total power consumption of the internal basic cells is Cp. The power supply per unit width of the power supply wiring is K2, the power supply of each power supply line is P, the number of power supply lines is N, and the width of each power supply line is W. Then,
【0058】[0058]
【数4】 [Equation 4]
【0059】となる。ここで、各電源供給線の幅Wが分
かっているので、各電源供給線の供給電力Pは、It becomes Here, since the width W of each power supply line is known, the supply power P of each power supply line is
【0060】[0060]
【数5】 [Equation 5]
【0061】となる。従って、電源供給線の本数Nは、It becomes Therefore, the number N of power supply lines is
【0062】[0062]
【数6】 [Equation 6]
【0063】で求められる。電源供給線配置部13はテ
クノロジ情報読み込み部6によって読み込まれた電源配
線の隣接条件、発生ビア条件等のテクノロジ情報、レイ
アウト情報読み込み部8によって読み込まれた電源供給
線を発生可能な位置情報を入力する。又、電源供給線配
置部13はパターン配置部10による各種部品の配置結
果と、電源供給線算出部12により算出された電源供給
線の本数又は配線幅を入力する。It is calculated by The power supply line arranging unit 13 inputs the technology information such as the adjacency condition of the power supply wiring read by the technology information reading unit 6 and the generated via condition, and the position information capable of generating the power supply line read by the layout information reading unit 8. To do. Further, the power supply line placement unit 13 inputs the placement result of various parts by the pattern placement unit 10 and the number or wiring width of the power supply lines calculated by the power supply line calculation unit 12.
【0064】そして、電源供給線配置部13は上記の各
情報に基づいて、電源供給線算出部12により算出され
た配線幅をもつ電源供給線又は算出された本数の電源供
給線を配置する。Then, the power supply line arranging unit 13 arranges the power supply lines having the wiring width calculated by the power supply line calculating unit 12 or the calculated number of power supply lines based on the above information.
【0065】図2は上記のように構成されたゲートアレ
イ製造装置1のゲートアレイ作成処理を示す。ゲートア
レイ作成処理に先立って、作成条件設定部5に外部から
作成するゲートアレイのテクノロジ条件、レイアウト条
件が入力される。又、作成条件設定部5にチップサイ
ズ、内部ベーシックセル数、入出力セル数又はパッド数
のいずれか1つが設定されるとともに、電源供給線の本
数又は配線幅が設定される。FIG. 2 shows a gate array forming process of the gate array manufacturing apparatus 1 configured as described above. Prior to the gate array creation processing, the technology conditions and layout conditions of the gate array created externally are input to the creation condition setting unit 5. Further, any one of the chip size, the number of internal basic cells, the number of input / output cells, or the number of pads is set in the creation condition setting unit 5, and the number of power supply lines or the wiring width is set.
【0066】まず、ステップ21でテクノロジライブラ
リ2からそのテクノロジに対応したグリッドピッチ、電
源母線33の配線幅、電源配線の隣接条件、発生ビア条
件、内部ベーシックセル32aの1個当たりの消費電
力、電源配線の単位幅当たりの供給電力等のテクノロジ
情報が読み込まれる。First, in step 21, from the technology library 2, the grid pitch corresponding to the technology, the wiring width of the power supply bus 33, the power supply wiring adjacency condition, the generated via condition, the power consumption per internal basic cell 32a, and the power supply. Technology information such as power supply per unit width of wiring is read.
【0067】ステップ22でパターンライブラリ3から
そのテクノロジに対応した内部ベーシックセル32a、
入出力セル35、パッド36等の各部品及びコーナー部
37a〜37dのパターン情報が読み込まれる。In step 22, from the pattern library 3, the internal basic cell 32a corresponding to the technology,
The pattern information of each component such as the input / output cell 35 and the pad 36 and the corner portions 37a to 37d is read.
【0068】次のステップ23ではレイアウトライブラ
リ4からそのテクノロジのシリーズに対応した同一部品
間の最低保証間隔、異なる部品間の最低保証間隔、電源
母線と内部セル領域との間の最低保証間隔、及び電源母
線への電源供給を行うための電源供給線を発生可能な位
置等のレイアウト情報が読み込まれる。In the next step 23, the minimum guaranteed interval between the same parts corresponding to the series of the technology, the minimum guaranteed interval between different parts, the minimum guaranteed interval between the power bus and the internal cell area, and Layout information such as a position where a power supply line for supplying power to the power bus can be generated is read.
【0069】ステップ24でチップサイズ、内部ベーシ
ックセル数、入出力セル数又はパッド数等の作成条件の
うちいずれか1つの作成条件と、前記ステップ21〜2
3で読み込まれたテクノロジ情報、パターン情報、及び
レイアウト情報と基づいて作成するゲートアレイの他の
部品数又はチップサイズが算出される。In step 24, any one of the creating conditions such as the chip size, the number of internal basic cells, the number of input / output cells or the number of pads, and the above steps 21 to 2
The number of other components or chip size of the gate array to be created is calculated based on the technology information, pattern information, and layout information read in 3.
【0070】続くステップ25で、図3に示すように半
導体チップ31上に各入出力セル35がチップ31の外
周縁との間に最低保証間隔G4をもって配置され、各パ
ッド36が入出力セル35との間に最低保証間隔G3を
もって配置される。又、内部セル領域32が入出力セル
35との間に最低保証間隔G2をもって形成され、内部
セル領域32に各内部ベーシックセル32aが配置され
る。更に、コーナー部37a〜37dが半導体チップ3
1上に配置される。In the following step 25, as shown in FIG. 3, each input / output cell 35 is arranged on the semiconductor chip 31 with the minimum guaranteed interval G4 between the outer peripheral edge of the chip 31 and each pad 36. And a minimum guarantee interval G3. Further, the internal cell region 32 is formed with the minimum guaranteed interval G2 between the internal cell region 32 and each input / output cell 35, and each internal basic cell 32a is arranged in the internal cell region 32. Further, the corner portions 37a to 37d are formed on the semiconductor chip 3
1 is placed on top.
【0071】そして、次のステップ26では電源母線3
3が内部セル領域32との間の最低保証間隔G1をもっ
て内部セル領域32を取り囲むように配置される。次い
で、ステップ27で内部ベーシックセル32aの1個当
たりの消費電力及び電源配線の単位幅当たりの供給電力
等のテクノロジ情報、作成条件としての電源供給線の本
数又は配線幅、作成条件としての内部ベーシックセル数
又は前記ステップ24で算出された内部ベーシックセル
数等に基づいて、需要にみあった電源を供給できる電源
供給線34の配線幅又は本数が算出される。Then, in the next step 26, the power supply bus 3
3 is arranged so as to surround the internal cell region 32 with the minimum guaranteed distance G1 from the internal cell region 32. Next, at step 27, technology information such as the power consumption per one of the internal basic cells 32a and the power supply per unit width of the power supply wiring, the number or wiring width of the power supply lines as the preparation condition, and the internal basic as the preparation condition. Based on the number of cells or the number of internal basic cells calculated in step 24, etc., the wiring width or the number of power supply lines 34 capable of supplying a power supply matching the demand is calculated.
【0072】そして、ステップ28で電源配線の隣接条
件、発生ビア条件等のテクノロジ情報、電源供給線34
を発生可能な位置情報、各部品の配置結果、作成条件と
しての電源供給線の本数又は配線幅等に基づいて、ステ
ップ27で算出された配線幅又は本数の電源供給線34
が電源母線33に接続されるように配置される。Then, in step 28, the technology information such as the adjacency condition of the power supply wiring, the generated via condition, etc., the power supply line 34.
Based on the position information, the placement result of each component, the number of power supply lines or the width of the power supply lines as a creation condition, etc., the power supply lines 34 of the wiring width or the number calculated in step 27.
Are arranged to be connected to the power bus 33.
【0073】このように、本実施例によれば、ゲートア
レイの作成条件としてテクノロジ条件及びレイアウト条
件と、チップサイズ、内部ベーシックセル数、入出力セ
ル数又はパッド数のいずれか1つの条件を設定するよう
にした。そして、これらによって作成したいゲートアレ
イの他の部品数又はチップサイズが算出され、内部ベー
シックセル、入出力セル及びパッド等の各部品が配置さ
れる。As described above, according to this embodiment, the technology condition and the layout condition, and any one of the chip size, the number of internal basic cells, the number of input / output cells, and the number of pads are set as the conditions for forming the gate array. I decided to do it. Then, the number of other components or the chip size of the gate array to be created is calculated by these, and each component such as the internal basic cell, the input / output cell and the pad is arranged.
【0074】従って、ゲートアレイのバルクパターンの
作成においてミス発生をなくすことができるとともに、
作成に要する手間を大幅に軽減して開発期間を短縮化す
ることができる。Therefore, it is possible to prevent mistakes in the formation of the bulk pattern of the gate array, and
The time required for creation can be greatly reduced and the development period can be shortened.
【0075】又、本実施例によれば、ゲートアレイの作
成条件として電源供給線の本数又は配線幅を追加して設
定するようにした。そして、電源供給線の本数又は配線
幅にに基づいて電源供給線の配線幅又は本数を算出する
ようにした。従って、電源供給線の配線幅又は本数を需
要にみあった電源を供給できるものとすることができ
る。Further, according to this embodiment, the number of power supply lines or the wiring width is additionally set as the condition for forming the gate array. Then, the wiring width or the number of power supply lines is calculated based on the number or wiring width of the power supply lines. Therefore, the wiring width or the number of power supply lines can be set to supply the power that meets the demand.
【0076】尚、本実施例では内部ベーシックセル32
a、入出力セル35及びパッド36と、電源母線33及
び電源供給線34とを備えたゲートアレイ30の作成に
ついて述べたが、ゲートアレイの作成を行う際、内部ベ
ーシックセル32a、入出力セル35及びパッド36の
配置までを行い、電源母線33及び電源供給線34の作
成は必要に応じて行うようにしてもよい。In this embodiment, the internal basic cell 32 is used.
a, the input / output cell 35 and the pad 36, and the formation of the gate array 30 including the power supply bus 33 and the power supply line 34 have been described, but when the gate array is formed, the internal basic cell 32a and the input / output cell 35 are formed. The pads and the pads 36 may be arranged, and the power bus 33 and the power supply line 34 may be created as needed.
【0077】[0077]
【発明の効果】以上詳述したように、第1,第3発明に
よれば、ゲートアレイのバルクパターンの作成において
ミス発生をなくすことができるとともに、作成に要する
手間を大幅に軽減して開発期間の短縮化を図ることがで
きる。As described in detail above, according to the first and third aspects of the invention, it is possible to eliminate the occurrence of mistakes in the formation of the bulk pattern of the gate array and to greatly reduce the labor required for the development. The period can be shortened.
【0078】又、第2,第4発明によれば、電源供給線
の配線幅又は本数を、需要にみあった電源を供給できる
ものとすることができる。Further, according to the second and fourth inventions, the wiring width or the number of the power supply lines can be set so that the power supply which meets the demand can be supplied.
【図1】一実施例のゲートアレイ製造装置を示すブロッ
ク図である。FIG. 1 is a block diagram showing a gate array manufacturing apparatus according to an embodiment.
【図2】一実施例のゲートアレイ作成処理を示すフロー
チャートである。FIG. 2 is a flowchart showing a gate array creation process of one embodiment.
【図3】ゲートアレイのバルク構成を示すレイアウト図
である。FIG. 3 is a layout diagram showing a bulk configuration of a gate array.
1 ゲートアレイ製造装置 2 テクノロジ情報記憶部としてのテクノロジライブラ
リ 3 パターン情報記憶部としてのパターンライブラリ 4 レイアウト情報記憶部としてのレイアウトライブラ
リ 5 作成条件設定部 6 テクノロジ情報読み込み部 7 パターン情報読み込み部 8 レイアウト情報読み込み部 9 算出部 10 パターン配置部 11 電源母線配置部 12 電源供給線算出部 13 電源供給線配置部1 Gate Array Manufacturing Equipment 2 Technology Library as Technology Information Storage Section 3 Pattern Library as Pattern Information Storage Section 4 Layout Library as Layout Information Storage Section 5 Creation Condition Setting Section 6 Technology Information Reading Section 7 Pattern Information Reading Section 8 Layout Information Reading unit 9 Calculation unit 10 Pattern placement unit 11 Power supply busbar placement unit 12 Power supply line calculation unit 13 Power supply line placement unit
Claims (4)
ル、複数の入出力セル、入出力信号のための複数のパッ
ドの各種部品を配置することによりゲートアレイのバル
クを構成するようにしたゲートアレイ製造装置であっ
て、 テクノロジ毎のグリッドピッチのテクノロジ情報を記憶
したテクノロジ情報記憶部(2)と、 テクノロジ毎のベーシックセル、入出力セル、パッドの
各部品のパターン情報を記憶したパターン情報記憶部
(3)と、 各テクノロジにおけるシリーズ毎の各部品間の最低保証
間隔のレイアウト情報を記憶したレイアウト情報記憶部
(4)と、 ゲートアレイ作成のためのテクノロジ条件に基づいてテ
クノロジ情報記憶部(2)からそのテクノロジに対応し
たテクノロジ情報を読み込むテクノロジ情報読み込み部
(6)と、 ゲートアレイ作成のためのテクノロジ条件に基づいてパ
ターン情報記憶部(3)からそのテクノロジに対応した
ベーシックセル、入出力セル、パッドの各部品のパター
ン情報を読み込むパターン情報読み込み部(7)と、 ゲートアレイ作成のためのテクノロジ条件及びレイアウ
ト条件に基づいてレイアウト情報記憶部(4)からその
テクノロジのシリーズに対応したレイアウト情報を読み
込むレイアウト情報読み込み部(8)と、 チップサイズ、ベーシックセル数、入出力セル数又はパ
ッド数のゲートアレイ作成条件のうちいずれか1つを入
力し、テクノロジ情報読み込み部(6)からのテクノロ
ジ情報、パターン情報読み込み部(7)からの各部品の
パターン情報、及びレイアウト情報読み込み部(8)か
らのレイアウト情報に基づいて、作成するゲートアレイ
の他の部品数又はチップサイズを算出する算出部(9)
と、 テクノロジ情報読み込み部(6)からのテクノロジ情
報、パターン情報読み込み部(7)からの各部品のパタ
ーン情報、レイアウト情報読み込み部(8)からのレイ
アウト情報、及びチップサイズ、ベーシックセル数、入
出力セル数又はパッド数のゲートアレイ作成条件のうち
いずれか1つの条件を入力するとともに、算出部(9)
の算出結果を入力し、ベーシックセル、入出力セル及び
パッドの各種部品を配置するパターン配置部(10)と
を備えることを特徴とするゲートアレイ製造装置。1. A gate array manufacturing method in which a bulk of a gate array is formed by arranging various parts of a plurality of basic cells, a plurality of input / output cells, and a plurality of pads for input / output signals on a semiconductor chip. The device is a technology information storage unit (2) that stores technology information of grid pitch for each technology, and a pattern information storage unit (2) that stores pattern information of each part of the basic cell, the input / output cell, and the pad for each technology. 3), a layout information storage unit (4) that stores layout information of the minimum guaranteed interval between parts of each series in each technology, and a technology information storage unit (2) based on technology conditions for creating a gate array. The technology information reading unit (6) that reads the technology information corresponding to the technology from the A pattern information reading section (7) for reading pattern information of each part of the basic cell, the input / output cell and the pad corresponding to the technology from the pattern information storage section (3) based on the technology condition for creating the array, and the gate array A layout information reading unit (8) that reads layout information corresponding to the series of the technology from the layout information storage unit (4) based on the technology conditions and layout conditions for creation, chip size, number of basic cells, and input / output cells Number, or the number of pads, which is one of the gate array creation conditions, is input, and the technology information is read from the technology information reading unit (6), the pattern information of each component is read from the pattern information reading unit (7), and the layout information is read. Based on the layout information from section (8) Calculation unit (9) for calculating the number of other components or the chip size of the formed gate array
Technology information from the technology information reading unit (6), pattern information of each part from the pattern information reading unit (7), layout information from the layout information reading unit (8), chip size, number of basic cells, and While inputting one of the conditions for creating the gate array for the number of output cells or the number of pads, the calculating unit (9)
And a pattern arranging section (10) for arranging various components such as a basic cell, an input / output cell and a pad by inputting the calculation result of the above.
ノロジ毎の電源母線の配線幅、電源配線の隣接条件、発
生ビア条件、ベーシックセル1個当たりの消費電力、電
源配線の単位幅当たりの供給電力のテクノロジ情報を記
憶し、前記レイアウト情報記憶部(4)は各テクノロジ
におけるシリーズ毎の電源母線とベーシックセルとの間
の最低保証間隔、及び電源母線と入出力セルとの間の最
低保証間隔、並びに電源母線への電源供給を行うための
電源供給線を発生可能な位置のレイアウト情報を記憶し
ており、 テクノロジ条件に基づいてテクノロジ情報記憶部(2)
から読み込まれた電源母線の配線幅、電源配線の隣接条
件、発生ビア条件のテクノロジ情報と、テクノロジ条件
に基づいてレイアウト情報記憶部(4)から読み込まれ
た電源母線とベーシックセルとの間の最低保証間隔、及
び電源母線と入出力セルとの間の最低保証間隔のレイア
ウト情報と、前記パターン配置部(10)による各種部
品の配置結果とに基づいて電源母線を配置する電源母線
配置部(11)と、 テクノロジ条件に基づいてテクノロジ情報記憶部(2)
から読み込まれたベーシックセル1個当たりの消費電力
及び電源配線の単位幅当たりの供給電力と、作成条件と
しての電源供給線の本数又は配線幅条件と、作成条件と
してのベーシックセル数又は前記算出部(9)により算
出されたベーシックセル数とに基づき、電源供給線の配
線幅又は本数を算出する電源供給線算出部(12)と、 前記パターン配置部(10)による各種部品の配置結果
と、前記電源母線配置部(11)による電源母線の配置
結果と、テクノロジ条件に従ってテクノロジ情報記憶部
(2)から読み込まれた電源配線の隣接条件とに基づ
き、前記電源供給線算出部(12)により算出された電
源供給線の配置を行う電源供給線配置部(13)とを備
えることを特徴とする請求項1に記載のゲートアレイ製
造装置。2. The technology information storage unit (2) has a power supply bus line width for each technology, a power supply line adjacency condition, a generated via condition, power consumption per basic cell, and power supply line per unit width. The layout information storage unit (4) stores electric power technology information, and the layout information storage unit (4) has a minimum guaranteed interval between a power bus and a basic cell for each technology and a minimum guaranteed interval between a power bus and an input / output cell. , And the layout information of the position where a power supply line for supplying power to the power supply bus can be generated. Based on the technology condition, the technology information storage unit (2)
The minimum width between the power bus and the basic cell read from the layout information storage unit (4) based on the technology information of the power supply bus wiring width read from the power supply wiring adjacency condition and the generated via condition. A power supply busbar arranging unit (11) for arranging the power supply busbar based on the layout information of the guarantee space and the minimum guarantee space between the power supply busbar and the input / output cell and the layout result of various parts by the pattern layout unit (10). ) And the technology information storage unit (2) based on the technology condition.
Power consumption per basic cell read from the power supply and power supply per unit width of power supply wiring, number of power supply lines or wiring width condition as creation condition, number of basic cells as creation condition, or the calculation unit A power supply line calculation unit (12) for calculating the wiring width or the number of power supply lines based on the number of basic cells calculated in (9); and a placement result of various components by the pattern placement unit (10), Calculated by the power supply line calculation unit (12) based on the placement result of the power supply busses by the power supply busbar placement unit (11) and the adjacency condition of the power supply lines read from the technology information storage unit (2) according to the technology condition. The gate array manufacturing apparatus according to claim 1, further comprising a power supply line arranging unit (13) for arranging the arranged power supply lines.
ル、複数の入出力セル、入出力信号のための複数のパッ
ドの各種部品を配置することによりゲートアレイのバル
クを構成するようにしたゲートアレイ製造方法であっ
て、 予めテクノロジ毎のグリッドピッチのテクノロジ情報を
記憶したテクノロジ情報記憶部(2)と、テクノロジ毎
のベーシックセル、入出力セル、パッドの各部品のパタ
ーン情報を記憶したパターン情報記憶部(3)と、各テ
クノロジにおけるシリーズ毎の各部品間の最低保証間隔
のレイアウト情報を記憶したレイアウト情報記憶部
(4)とを用意し、 外部から入力されるゲートアレイのテクノロジ条件、レ
イアウト条件、及びチップサイズ、ベーシックセル数、
入出力セル数又はパッド数のいずれか1つに応じて、入
力されたテクノロジ条件のグリッドピッチのテクノロジ
情報をテクノロジ情報記憶部(2)から読み出し、入力
されたチップサイズ、ベーシックセル、入出力セル又は
パッドのいずれか1つに応じて、回路のパターン情報を
パターン情報記憶部(3)から読み出し、入力されたレ
イアウト条件に応じて各部品間の最低保証間隔のレイア
ウト情報をレイアウト情報記憶部(4)から読み出す工
程と、 前記テクノロジ情報記憶部(2)から読み出したテクノ
ロジ情報、パターン情報記憶部(3)から読み出したパ
ターン情報、及びレイアウト情報記憶部(4)から読み
出したレイアウト情報と、チップサイズ、ベーシックセ
ル数、入出力セル数又はパッド数のいずれか1つとに基
づいてチップサイズ又は部品数を算出する工程と、 レイアウト情報記憶部(4)から読み出した最低保証間
隔をもってチップにベーシックセル、入出力セル又はパ
ッドを配置する工程とを含むことを特徴とするゲートア
レイ製造方法。3. A gate array manufacturing method in which a bulk of a gate array is formed by arranging various components of a plurality of basic cells, a plurality of input / output cells, and a plurality of pads for input / output signals on a semiconductor chip. The method includes a technology information storage unit (2) in which technology information of a grid pitch for each technology is stored in advance, and a pattern information storage unit in which pattern information of basic cells, input / output cells, and pads of each technology is stored. (3) and a layout information storage unit (4) that stores layout information of the minimum guaranteed interval between parts of each series in each technology are prepared, and the technology condition, layout condition of the gate array input from the outside, And chip size, number of basic cells,
Depending on either one of the number of input / output cells or the number of pads, the technology information of the grid pitch of the input technology condition is read from the technology information storage unit (2), and the input chip size, basic cell, input / output cell Alternatively, the pattern information of the circuit is read from the pattern information storage unit (3) according to one of the pads, and the layout information of the minimum guaranteed interval between the components is read out according to the input layout condition. 4) a step of reading from the technology information storage unit (2), the technology information read from the technology information storage unit (2), the pattern information read from the pattern information storage unit (3), and the layout information read from the layout information storage unit (4); Chip size based on size, number of basic cells, number of input / output cells or number of pads. Gate array manufacturing method, which includes a step of calculating a size or the number of components, and a step of arranging a basic cell, an input / output cell or a pad on a chip with a minimum guaranteed interval read from the layout information storage section (4). .
ノロジ毎の電源母線の配線幅、電源配線の隣接条件、発
生ビア条件、ベーシックセル1個当たりの消費電力、電
源配線の単位幅当たりの供給電力のテクノロジ情報を記
憶し、前記レイアウト情報記憶部(4)は各テクノロジ
におけるシリーズ毎の電源母線とベーシックセルとの間
の最低保証間隔、及び電源母線と入出力セルとの間の最
低保証間隔、並びに電源母線への電源供給を行うための
電源供給線を発生可能な位置のレイアウト情報を記憶し
ており、 テクノロジ条件に基づいて電源母線の配線幅、電源配線
の隣接条件、発生ビア条件のテクノロジ情報をテクノロ
ジ情報記憶部(2)から読み出し、テクノロジ条件に基
づいて電源母線とベーシックセルとの間の最低保証間
隔、及び電源母線と入出力セルとの間の最低保証間隔の
レイアウト情報をレイアウト情報記憶部(4)から読み
出し、ベーシックセル領域を囲んで電源母線を配置する
工程と、 テクノロジ条件に基づいてテクノロジ情報記憶部(2)
から読み出したベーシックセル1個当たりの消費電力及
び電源配線の単位幅当たりの供給電力と、作成条件とし
ての電源供給線の本数又は配線幅条件と、ベーシックセ
ル数とに基づき、電源供給線の配線幅又は本数を算出
し、前記電源母線に接続されるように電源供給線を配置
する工程とを含むことを特徴とする請求項3に記載のゲ
ートアレイ製造方法。4. The technology information storage unit (2) has a power supply bus line width for each technology, a power supply line adjacency condition, a generated via condition, a power consumption per basic cell, and a power supply line per unit width. The layout information storage unit (4) stores electric power technology information, and the layout information storage unit (4) has a minimum guaranteed interval between a power bus and a basic cell for each technology and a minimum guaranteed interval between a power bus and an input / output cell. , And the layout information of the position where the power supply line for supplying power to the power bus can be generated. Based on the technology conditions, the wiring width of the power bus, the adjacency condition of the power lines, and the generated via condition are stored. The technology information is read from the technology information storage unit (2), and the minimum guaranteed interval between the power bus and the basic cell and the power are read based on the technology conditions. The layout information of the minimum guaranteed interval between the bus bar and the input / output cell is read from the layout information storage unit (4), the power supply bus bar is arranged so as to surround the basic cell region, and the technology information storage unit ( 2)
Wiring of power supply lines based on the power consumption per basic cell and the power supply per unit width of power supply wiring read from the device, the number of power supply lines or wiring width conditions as creation conditions, and the number of basic cells 4. The method of manufacturing a gate array according to claim 3, further comprising the step of calculating a width or the number of lines and arranging a power supply line so as to be connected to the power bus.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4181340A JPH0629501A (en) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | Gate array manufacturing apparatus and manufacturing method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4181340A JPH0629501A (en) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | Gate array manufacturing apparatus and manufacturing method |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0629501A true JPH0629501A (en) | 1994-02-04 |
Family
ID=16098989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4181340A Pending JPH0629501A (en) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | Gate array manufacturing apparatus and manufacturing method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0629501A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8015534B2 (en) | 2003-08-27 | 2011-09-06 | Fujitsu Semiconductor Limited | Method and apparatus for estimating core size in designing semiconductor integrated circuit |
-
1992
- 1992-07-08 JP JP4181340A patent/JPH0629501A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8015534B2 (en) | 2003-08-27 | 2011-09-06 | Fujitsu Semiconductor Limited | Method and apparatus for estimating core size in designing semiconductor integrated circuit |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0073641A2 (en) | Integrated circuit device | |
| JPH04211154A (en) | Layout method for integrated circuit | |
| JP2001313339A (en) | Design method of flip-chip type semiconductor device | |
| JP2002334933A (en) | Integrated circuit having tap cells and method for placing tap cells in an integrated circuit | |
| JPH0750817B2 (en) | Wiring interconnection structure | |
| JP3971033B2 (en) | Layout data creation method, layout data creation device, and recording medium | |
| JP2001306641A (en) | Automatic arranging and wiring method for semiconductor integrated circuit | |
| JPH0629501A (en) | Gate array manufacturing apparatus and manufacturing method | |
| JP2521041B2 (en) | Wiring method in integrated circuit | |
| JP3064925B2 (en) | Layout method | |
| JP2664465B2 (en) | Cell placement method for semiconductor device | |
| CA1238986A (en) | Integrated circuit chip manufacture | |
| CN120354815B (en) | Redundant through hole layout method, related device and storage medium | |
| JPH0644594B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
| JP3647642B2 (en) | Power supply circuit for semiconductor integrated circuit, power supply wiring method, and recording medium recording program for executing power supply wiring procedure | |
| JPH1197541A (en) | Method and system for designing semiconductor integrated circuit and storage medium | |
| JP3180968B2 (en) | Wiring method in IC | |
| JP2656840B2 (en) | Channel wiring device | |
| JPH09269958A (en) | Automatic layout device | |
| JPS6135534A (en) | Wiring system for feeder and signal wire of lsi | |
| JPH0454676A (en) | Method and device for layout of lsi function cell | |
| JPH02266546A (en) | Arrangement method for integrated circuit element in integrated circuit device | |
| JPS59152641A (en) | Master slice type logic integrated circuit device | |
| JPH08161891A (en) | Standard cell and layout design equipment | |
| CN113095034A (en) | Method and circuit system for compensating voltage drop by using extra power grid |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010109 |