JPH06301990A - 光ピックアップ - Google Patents
光ピックアップInfo
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- JPH06301990A JPH06301990A JP5084871A JP8487193A JPH06301990A JP H06301990 A JPH06301990 A JP H06301990A JP 5084871 A JP5084871 A JP 5084871A JP 8487193 A JP8487193 A JP 8487193A JP H06301990 A JPH06301990 A JP H06301990A
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- light
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/13—Optical detectors therefor
- G11B7/131—Arrangement of detectors in a multiple array
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0901—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for track following only
- G11B7/0903—Multi-beam tracking systems
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 戻り光によるＬＤの発振状態の変化を検出し
てＯＤの記録信号を読み出す光ピックアップにおいて
も、トラッキングサーボおよびフォーカスサーボ用の信
号を正確に検出できる光ピックアップを提供する。 【構成】 レーザビームを発生させる少なくとも３個の
発光部ＬＤおよび該ＬＤへの光ディスクからの反射光に
よる前記ＬＤの変化を検出するための光検出部ＰＤ１〜
ＰＤ３を有し、前記各々の光検出部ＰＤ１〜ＰＤ３には
それぞれコンデンサ11ａ〜11ｃおよび増幅回路12ａ〜12
ｃが順次接続され、前記光検出部ＰＤ１〜ＰＤ３の少な
くとも２個には増幅回路12ａ〜12ｃのあとにさらに整流
回路13ａ〜13ｃが接続されて直流成分信号とされ、該直
流成分信号の２個の比較によりトラッキングサーボ機構
および／またはフォーカスサーボ機構が駆動される構成
になっている。
てＯＤの記録信号を読み出す光ピックアップにおいて
も、トラッキングサーボおよびフォーカスサーボ用の信
号を正確に検出できる光ピックアップを提供する。 【構成】 レーザビームを発生させる少なくとも３個の
発光部ＬＤおよび該ＬＤへの光ディスクからの反射光に
よる前記ＬＤの変化を検出するための光検出部ＰＤ１〜
ＰＤ３を有し、前記各々の光検出部ＰＤ１〜ＰＤ３には
それぞれコンデンサ11ａ〜11ｃおよび増幅回路12ａ〜12
ｃが順次接続され、前記光検出部ＰＤ１〜ＰＤ３の少な
くとも２個には増幅回路12ａ〜12ｃのあとにさらに整流
回路13ａ〜13ｃが接続されて直流成分信号とされ、該直
流成分信号の２個の比較によりトラッキングサーボ機構
および／またはフォーカスサーボ機構が駆動される構成
になっている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光ピックアップに関す
る。さらに詳しくは、高価な光学部品を使用せず、小型
でトラッキングエラーやフォーカスエラーを精度よく補
正できる光ピックアップに関する。
る。さらに詳しくは、高価な光学部品を使用せず、小型
でトラッキングエラーやフォーカスエラーを精度よく補
正できる光ピックアップに関する。
【０００２】
【従来の技術】レーザ光による書込み、読出しは原理的
には波長程度のスポット上に集光して行え、高密度記録
が可能である。そのため、情報の記録媒体として光ディ
スク（以下、ＯＤという）が用いられ、そのＯＤへの書
込みおよび読出し方法として半導体レーザ装置を用いた
光ピックアップが用いられている。
には波長程度のスポット上に集光して行え、高密度記録
が可能である。そのため、情報の記録媒体として光ディ
スク（以下、ＯＤという）が用いられ、そのＯＤへの書
込みおよび読出し方法として半導体レーザ装置を用いた
光ピックアップが用いられている。
【０００３】ＯＤの信号を記録したピットは0.9 μｍ程
度の大きさであり、そのピットの列（トラック）は1.6
μｍ程度の狭いピッチで並んでいるため、実際の光ピッ
クアップにおいてはトラックと垂直方向の変位やＯＤの
回転ブレによるフォーカスのずれを補正しながらピット
の検出を行わなければならない。
度の大きさであり、そのピットの列（トラック）は1.6
μｍ程度の狭いピッチで並んでいるため、実際の光ピッ
クアップにおいてはトラックと垂直方向の変位やＯＤの
回転ブレによるフォーカスのずれを補正しながらピット
の検出を行わなければならない。
【０００４】従来用いられている光ピックアップは、ハ
ーフミラーやホログラムなどの光学素子をビームスプリ
ッタとして用い、ＯＤからの反射光を分離し、検出して
いる。このばあい、ＯＤのトラックと垂直方向の変位
は、たとえば光源として１個のレーザダイオード（以
下、ＬＤという）の光を回折格子で３分割した光を用い
る３ビーム法などにより補正し、フォーカスエラーの検
出はシリンドリカルレンズを用いた非点収差法などが用
いられている。
ーフミラーやホログラムなどの光学素子をビームスプリ
ッタとして用い、ＯＤからの反射光を分離し、検出して
いる。このばあい、ＯＤのトラックと垂直方向の変位
は、たとえば光源として１個のレーザダイオード（以
下、ＬＤという）の光を回折格子で３分割した光を用い
る３ビーム法などにより補正し、フォーカスエラーの検
出はシリンドリカルレンズを用いた非点収差法などが用
いられている。
【０００５】一方、上述の検出方法において用いられる
ビームスプリッタやシリンドリカルレンズなどの光学部
品を削減し、コストを低く抑え、また精密な位置調整を
簡易化することを目的として、たとえば特開平3-72688
号公報に開示されているように、ＯＤからの反射光をＬ
Ｄに戻らせ（以下、この光を戻り光という）、その戻り
光によるＬＤの発振状態の変化を利用して信号検出を行
うスクープ（SCOOP:Self Coupled Optical Pickup ）法
が考えられている。
ビームスプリッタやシリンドリカルレンズなどの光学部
品を削減し、コストを低く抑え、また精密な位置調整を
簡易化することを目的として、たとえば特開平3-72688
号公報に開示されているように、ＯＤからの反射光をＬ
Ｄに戻らせ（以下、この光を戻り光という）、その戻り
光によるＬＤの発振状態の変化を利用して信号検出を行
うスクープ（SCOOP:Self Coupled Optical Pickup ）法
が考えられている。
【０００６】このスクープ法による検出は、たとえば図
７に示すように５個のＬＤ41〜45が直線状に配置され、
中央のＲＦ信号検出用ＬＤ43の両側にトラッキングエラ
ー信号用のＬＤ42、44が１個ずつ、さらにその両側に１
個ずつのフォーカスエラー信号用ＬＤ41、45が配置さ
れ、フォーカスエラー信号用ＬＤ41、45はそれぞれ光軸
方向に沿って逆方向にずらして配置されている。これら
のエラー信号用ＬＤにより、トラッキングエラー信号、
フォーカスエラー信号を検出している。この信号を検出
するのに、図７に示すように、トラッキングエラー信号
用ＬＤおよびフォーカスエラー信号用ＬＤのそれぞれ２
個の検出信号を直接差動増幅回路で比較し、その出力に
よりトラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信
号をえ、それぞれの信号によりサーボ機構を駆動してい
る。
７に示すように５個のＬＤ41〜45が直線状に配置され、
中央のＲＦ信号検出用ＬＤ43の両側にトラッキングエラ
ー信号用のＬＤ42、44が１個ずつ、さらにその両側に１
個ずつのフォーカスエラー信号用ＬＤ41、45が配置さ
れ、フォーカスエラー信号用ＬＤ41、45はそれぞれ光軸
方向に沿って逆方向にずらして配置されている。これら
のエラー信号用ＬＤにより、トラッキングエラー信号、
フォーカスエラー信号を検出している。この信号を検出
するのに、図７に示すように、トラッキングエラー信号
用ＬＤおよびフォーカスエラー信号用ＬＤのそれぞれ２
個の検出信号を直接差動増幅回路で比較し、その出力に
よりトラッキングエラー信号およびフォーカスエラー信
号をえ、それぞれの信号によりサーボ機構を駆動してい
る。
【０００７】図８において、ＬＤチップ30から発せられ
たレーザ光31（図では１個の発光部からの光のみが示さ
れている）がレンズホルダ34に固定された対物レンズ32
を経てＯＤ33の記録面で反射された光によるＬＤの発振
状態を検出する検出部（図示せず）の２個づつの検出信
号をそれぞれ差動増幅回路38、39で比較して増幅し、そ
れぞれトラッキングエラー用信号ＴＥ、フォーカスエラ
ー用信号ＦＥとし、またＯＤでの記録信号ＲＦは直接信
号処理回路に送られる。トラッキングエラー用信号Ｔ
Ｅ、フォーカスエラー用信号ＦＥにより駆動されるサー
ボ機構により、電磁コイル35とケース37に設けられた永
久磁石36の組合せにより、対物レンズの位置が調整され
る。
たレーザ光31（図では１個の発光部からの光のみが示さ
れている）がレンズホルダ34に固定された対物レンズ32
を経てＯＤ33の記録面で反射された光によるＬＤの発振
状態を検出する検出部（図示せず）の２個づつの検出信
号をそれぞれ差動増幅回路38、39で比較して増幅し、そ
れぞれトラッキングエラー用信号ＴＥ、フォーカスエラ
ー用信号ＦＥとし、またＯＤでの記録信号ＲＦは直接信
号処理回路に送られる。トラッキングエラー用信号Ｔ
Ｅ、フォーカスエラー用信号ＦＥにより駆動されるサー
ボ機構により、電磁コイル35とケース37に設けられた永
久磁石36の組合せにより、対物レンズの位置が調整され
る。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】前述のスクープ法によ
る検出部の信号はＬＤの定常の発光状態に対して戻り光
による僅かの変化を検出する必要がある。たとえば検出
部をＬＤの発光量をフォトダイオード（以下、ＰＤとい
う）により検出するばあい、ＰＤの出力が 200μA(ＬＤ
の定常状態の発光量）に対し、変化分は２〜50μA 程度
と非常に小さい。そのため、ＰＤによる検出部の電圧を
比較するばあい精度のよい差動増幅回路が必要となり、
そのような増幅回路を使用しても僅かなノイズで誤信号
を発生し易いという問題がある。
る検出部の信号はＬＤの定常の発光状態に対して戻り光
による僅かの変化を検出する必要がある。たとえば検出
部をＬＤの発光量をフォトダイオード（以下、ＰＤとい
う）により検出するばあい、ＰＤの出力が 200μA(ＬＤ
の定常状態の発光量）に対し、変化分は２〜50μA 程度
と非常に小さい。そのため、ＰＤによる検出部の電圧を
比較するばあい精度のよい差動増幅回路が必要となり、
そのような増幅回路を使用しても僅かなノイズで誤信号
を発生し易いという問題がある。
【０００９】本発明はこのような問題を解決し、戻り光
によるＬＤの発振状態の変化を検出してＯＤの記録信号
を読み出す光ピックアップにおいてもトラッキングサー
ボおよびフォーカスサーボ用の信号を正確に検出できる
光ピックアップを提供することを目的とする。
によるＬＤの発振状態の変化を検出してＯＤの記録信号
を読み出す光ピックアップにおいてもトラッキングサー
ボおよびフォーカスサーボ用の信号を正確に検出できる
光ピックアップを提供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の光ピックアップ
は、レーザビームを発生させる少なくとも３個の発光部
を有し、該発光部への光ディスクからの反射光による前
記発光部の変化が検出部により検出され、該検出部の信
号によりトラッキングサーボ機構およびフォーカスサー
ボ機構が駆動されて前記レーザビームの位置が補正さ
れ、光ディスク上の記録信号を読みとる光ピックアップ
であって、前記各々の検出部にはそれぞれコンデンサお
よび増幅回路が順次接続され、前記検出部の少なくとも
２個には前記増幅回路のあとにさらに整流回路が接続さ
れて直流成分信号とされ、該直流成分信号の２個の比較
によりトラッキングサーボ機構および／またはフォーカ
スサーボ機構が駆動されていることを特徴とする。
は、レーザビームを発生させる少なくとも３個の発光部
を有し、該発光部への光ディスクからの反射光による前
記発光部の変化が検出部により検出され、該検出部の信
号によりトラッキングサーボ機構およびフォーカスサー
ボ機構が駆動されて前記レーザビームの位置が補正さ
れ、光ディスク上の記録信号を読みとる光ピックアップ
であって、前記各々の検出部にはそれぞれコンデンサお
よび増幅回路が順次接続され、前記検出部の少なくとも
２個には前記増幅回路のあとにさらに整流回路が接続さ
れて直流成分信号とされ、該直流成分信号の２個の比較
によりトラッキングサーボ機構および／またはフォーカ
スサーボ機構が駆動されていることを特徴とする。
【００１１】また、本発明の光ピックアップは、前記発
光部および検出部の組が３組からなり、第１の検出部と
第２の検出部の前記直流成分信号の比較によりトラッキ
ングサーボ信号が形成され、第１の検出部と第３の検出
部の前記直流成分信号の比較によりフォーカスサーボ信
号が形成され、第１の検出部の増幅回路の出力から光デ
ィスクの記録信号であるＲＦ信号がとり出されているこ
とが発光部および検出部の組を最小にすることができる
点から好ましい。
光部および検出部の組が３組からなり、第１の検出部と
第２の検出部の前記直流成分信号の比較によりトラッキ
ングサーボ信号が形成され、第１の検出部と第３の検出
部の前記直流成分信号の比較によりフォーカスサーボ信
号が形成され、第１の検出部の増幅回路の出力から光デ
ィスクの記録信号であるＲＦ信号がとり出されているこ
とが発光部および検出部の組を最小にすることができる
点から好ましい。
【００１２】さらに本発明の光ピックアップは、前記発
光部および検出部の組が少なくとも３組からなり、少な
くとも第２の検出部の増幅回路の出力に分岐して第２の
検出信号の時間軸を第１の検出信号の時間軸と合わせる
時間軸補正回路と、該時間軸補正回路により補正された
第２の検出信号を第１の検出信号と加算する加算回路と
が設けられ、該加算回路の出力から光ディスクの記録信
号であるＲＦ信号がとり出されていることが検出信号の
ノイズを低減させる点から好ましい。
光部および検出部の組が少なくとも３組からなり、少な
くとも第２の検出部の増幅回路の出力に分岐して第２の
検出信号の時間軸を第１の検出信号の時間軸と合わせる
時間軸補正回路と、該時間軸補正回路により補正された
第２の検出信号を第１の検出信号と加算する加算回路と
が設けられ、該加算回路の出力から光ディスクの記録信
号であるＲＦ信号がとり出されていることが検出信号の
ノイズを低減させる点から好ましい。
【００１３】
【作用】本発明によれば、トラッキングエラー用信号や
フォーカスエラー用信号が、ピットの繰り返しによる高
周波で変調されることを利用して、ＯＤの記録面からの
戻り光によるＬＤの変化状態の高周波成分のみをとり出
して増幅し、その増幅された信号の振幅の大きさを直流
成分に再度変換して比較しているため、僅かのＬＤの変
化状態を正確に検出することができ、確実にトラッキン
グサーボやフォーカスサーボをすることができる。
フォーカスエラー用信号が、ピットの繰り返しによる高
周波で変調されることを利用して、ＯＤの記録面からの
戻り光によるＬＤの変化状態の高周波成分のみをとり出
して増幅し、その増幅された信号の振幅の大きさを直流
成分に再度変換して比較しているため、僅かのＬＤの変
化状態を正確に検出することができ、確実にトラッキン
グサーボやフォーカスサーボをすることができる。
【００１４】なお、ＯＤに記録された信号の読みとり
は、高周波成分の増幅回路の出力から直接とり出して信
号処理することができ、記録信号の読出しであるＲＦ信
号用の発光部および検出部の組をトラッキングエラー信
号用およびフォーカスエラー信号用の一方として用いる
ことができる。
は、高周波成分の増幅回路の出力から直接とり出して信
号処理することができ、記録信号の読出しであるＲＦ信
号用の発光部および検出部の組をトラッキングエラー信
号用およびフォーカスエラー信号用の一方として用いる
ことができる。
【００１５】また、トラッキングエラー信号用およびフ
ォーカスエラー用信号の発光部と検出部の組も、ＲＦ信
号用の発光部および検出部の組と一緒にトラックを走査
するため、発光部の間隔に基づく時間的なずれがあるの
みで、時間軸の補正をして足し合わせることにより、Ｒ
Ｆ信号を強くすることができ、ノイズを足しあわせる数
ｎにより１／ｎ1/2 に減らすことができる。
ォーカスエラー用信号の発光部と検出部の組も、ＲＦ信
号用の発光部および検出部の組と一緒にトラックを走査
するため、発光部の間隔に基づく時間的なずれがあるの
みで、時間軸の補正をして足し合わせることにより、Ｒ
Ｆ信号を強くすることができ、ノイズを足しあわせる数
ｎにより１／ｎ1/2 に減らすことができる。
【００１６】
【実施例】つぎに図面を参照しながら本発明について説
明する。図１は本発明の光ピックアップの光検出器の出
力を信号処理するための回路の一実施例を示す図、図２
〜３は本発明の光ピックアップの一実施例の信号処理部
のブロック図、図４は本発明の光ピックアップの一実施
例に使用される半導体レーザ装置のチップを示す平面説
明図および等価回路図、図５は戻り光によりＬＤ部分で
受ける変化の様子を説明する概念図、図６はフォトダイ
オード（以下、ＰＤという）で検出される一般的な信号
を表す図である。
明する。図１は本発明の光ピックアップの光検出器の出
力を信号処理するための回路の一実施例を示す図、図２
〜３は本発明の光ピックアップの一実施例の信号処理部
のブロック図、図４は本発明の光ピックアップの一実施
例に使用される半導体レーザ装置のチップを示す平面説
明図および等価回路図、図５は戻り光によりＬＤ部分で
受ける変化の様子を説明する概念図、図６はフォトダイ
オード（以下、ＰＤという）で検出される一般的な信号
を表す図である。
【００１７】図４（ａ）は本発明の光ピックアップの一
実施例に使用される半導体レーザ装置の一例を示す平面
説明図である。１はたとえばＧａＡｓなどからなる半導
体基板で、ＬＤ１〜ＬＤ３はそれぞれＬＤなどからなる
発光部で本実施例では紙面に垂直方向にｐｎ接合部が形
成され、紙面内の上方に向けてレーザビームが発射さ
れ、ＬＤ１はＯＤのピット状態を検出するＲＦ検出用の
ＬＤである。ＬＤ１とＬＤ２は紙面に垂直方向に段差が
設けられ、両者の検出信号によりトラッキングエラー信
号を検出できるようにされている。さらにＬＤ３は図４
（ａ）に示されるように発光面ＢがＬＤ１やＬＤ２の発
光面Ａよりレーザビームの方向より下げて形成され、Ｌ
Ｄ１と共にフォーカスエラー信号検出用に用いられる。
ＬＤ３はＬＤ１と同一高さ（トラック方向と垂直方向の
ずれがない位置）にある。
実施例に使用される半導体レーザ装置の一例を示す平面
説明図である。１はたとえばＧａＡｓなどからなる半導
体基板で、ＬＤ１〜ＬＤ３はそれぞれＬＤなどからなる
発光部で本実施例では紙面に垂直方向にｐｎ接合部が形
成され、紙面内の上方に向けてレーザビームが発射さ
れ、ＬＤ１はＯＤのピット状態を検出するＲＦ検出用の
ＬＤである。ＬＤ１とＬＤ２は紙面に垂直方向に段差が
設けられ、両者の検出信号によりトラッキングエラー信
号を検出できるようにされている。さらにＬＤ３は図４
（ａ）に示されるように発光面ＢがＬＤ１やＬＤ２の発
光面Ａよりレーザビームの方向より下げて形成され、Ｌ
Ｄ１と共にフォーカスエラー信号検出用に用いられる。
ＬＤ３はＬＤ１と同一高さ（トラック方向と垂直方向の
ずれがない位置）にある。
【００１８】各ＬＤのビーム発射面Ａ、Ｂと反対側には
導光路４ａ、４ｂ、４ｃを経て光検出部としてのＰＤ
１、ＰＤ２、ＰＤ３がそれぞれ設けられ、それぞれのＬ
Ｄのビーム発射面と反対側に漏れる光を検出できるよう
にされている。このＰＤはＬＤのプロセスで形成された
ｐｎ接合を利用することにより形成され、導光路はエッ
チングにより凹部を形成することにより設けられてい
る。５ａ、５ｂ、５ｃはそれぞれＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ
３に電圧を印加するための電極に配線８で接続された電
極パッド、６ａ、６ｂ、６ｃは同じくＰＤ１、ＰＤ２、
ＰＤ３の電極パッドで、７は共通電極用の電極パッドで
ある。このダイオードの関係を等価回路図で表わすと図
４（ｂ）のようになる。各ＬＤ間や導光路４間、ＰＤ間
は水素イオンやボロンイオンなど打ち込まれて各素子間
全域に分離部が形成されている。この分離部はボロンや
水素イオンなどのイオン注入のほかに、メサ形状にされ
てもよい。
導光路４ａ、４ｂ、４ｃを経て光検出部としてのＰＤ
１、ＰＤ２、ＰＤ３がそれぞれ設けられ、それぞれのＬ
Ｄのビーム発射面と反対側に漏れる光を検出できるよう
にされている。このＰＤはＬＤのプロセスで形成された
ｐｎ接合を利用することにより形成され、導光路はエッ
チングにより凹部を形成することにより設けられてい
る。５ａ、５ｂ、５ｃはそれぞれＬＤ１、ＬＤ２、ＬＤ
３に電圧を印加するための電極に配線８で接続された電
極パッド、６ａ、６ｂ、６ｃは同じくＰＤ１、ＰＤ２、
ＰＤ３の電極パッドで、７は共通電極用の電極パッドで
ある。このダイオードの関係を等価回路図で表わすと図
４（ｂ）のようになる。各ＬＤ間や導光路４間、ＰＤ間
は水素イオンやボロンイオンなど打ち込まれて各素子間
全域に分離部が形成されている。この分離部はボロンや
水素イオンなどのイオン注入のほかに、メサ形状にされ
てもよい。
【００１９】本実施例のように、たとえば３個の発光部
を有する半導体レーザ装置の前面に１個の対物レンズが
配置され、たとえば図８に示されるように、対物レンズ
32はレンズホルダ34により保持され、後述するトラッキ
ングサーボ機構とフォーカスサーボ機構による電磁コイ
ル35の駆動などにより、その位置が制御される。
を有する半導体レーザ装置の前面に１個の対物レンズが
配置され、たとえば図８に示されるように、対物レンズ
32はレンズホルダ34により保持され、後述するトラッキ
ングサーボ機構とフォーカスサーボ機構による電磁コイ
ル35の駆動などにより、その位置が制御される。
【００２０】本発明においては、トラッキングエラー信
号の検出およびフォーカスエラー信号の検出を効率よ
く、かつ、正確に行えるようにするため、エラー信号が
ピットの繰り返しである高周波により変調されているの
を利用して、その高周波成分のみをとり出し、増幅した
のち、検波してエラー信号の検出をするようにしたもの
である。
号の検出およびフォーカスエラー信号の検出を効率よ
く、かつ、正確に行えるようにするため、エラー信号が
ピットの繰り返しである高周波により変調されているの
を利用して、その高周波成分のみをとり出し、増幅した
のち、検波してエラー信号の検出をするようにしたもの
である。
【００２１】まずトラッキングエラー信号の検出法の基
本的な考え方について説明する。図４に示されるような
３個のＬＤが形成された半導体レーザ装置のばあいに
は、ＬＤ１とＬＤ２の２個を用いてトラッキングエラー
信号を検出する。戻り光によるＬＤの発振状態の変化を
検出するには、ＬＤの端子電圧などの変化を検出するＥ
−ＳＣＯＯＰ法とＬＤから後方に放射される光をＰＤな
どの光検出器により検出するＬ−ＳＣＯＯＰ法とがある
が、いずれのばあいでもＤＣ成分に重畳されたＲＦ成分
を利用するもので考え方は同じてある。ここではＰＤを
使用した光検出器により検出するＬ−ＳＣＯＯＰ法の例
について説明する。
本的な考え方について説明する。図４に示されるような
３個のＬＤが形成された半導体レーザ装置のばあいに
は、ＬＤ１とＬＤ２の２個を用いてトラッキングエラー
信号を検出する。戻り光によるＬＤの発振状態の変化を
検出するには、ＬＤの端子電圧などの変化を検出するＥ
−ＳＣＯＯＰ法とＬＤから後方に放射される光をＰＤな
どの光検出器により検出するＬ−ＳＣＯＯＰ法とがある
が、いずれのばあいでもＤＣ成分に重畳されたＲＦ成分
を利用するもので考え方は同じてある。ここではＰＤを
使用した光検出器により検出するＬ−ＳＣＯＯＰ法の例
について説明する。
【００２２】ＬＤからの光がＯＤにスポットを形成する
とき、図５（ａ）においてａで示すように、ＯＤに記録
されたピットＰ上にスポットが当るときは反射率が小さ
く戻り光も小さいが、図５（ａ）においてｄで示すよう
にピットＰ上にＬＤビームのスポットが形成されないと
きは、反射率は大きく戻り光も大きい。図５（ａ）にお
いてｂ、ｃで示すように、一部がピットＰ上にかかり、
一部がピットＰ上にないときは、ビームスポットがピッ
トＰ上にない面積に応じて戻り光の量が変化する。戻り
光が多いとＬＤのキャビティ内の光密度が増加し、発光
出力が増加する。そのため、ＬＤの発光量をモニタする
ＰＤの出力を見ると、図５（ｂ）〜（ｄ）にトラック方
向と垂直方向にビームスポットの中心が偏位したときの
ＰＤの出力を示すように、ビームスポットの位置に応じ
てＰＤの出力が変わる。
とき、図５（ａ）においてａで示すように、ＯＤに記録
されたピットＰ上にスポットが当るときは反射率が小さ
く戻り光も小さいが、図５（ａ）においてｄで示すよう
にピットＰ上にＬＤビームのスポットが形成されないと
きは、反射率は大きく戻り光も大きい。図５（ａ）にお
いてｂ、ｃで示すように、一部がピットＰ上にかかり、
一部がピットＰ上にないときは、ビームスポットがピッ
トＰ上にない面積に応じて戻り光の量が変化する。戻り
光が多いとＬＤのキャビティ内の光密度が増加し、発光
出力が増加する。そのため、ＬＤの発光量をモニタする
ＰＤの出力を見ると、図５（ｂ）〜（ｄ）にトラック方
向と垂直方向にビームスポットの中心が偏位したときの
ＰＤの出力を示すように、ビームスポットの位置に応じ
てＰＤの出力が変わる。
【００２３】したがって、戻り光により発振状態が変化
したＬＤ１とＬＤ２の発光量をＰＤ１とＰＤ２とで検出
することにより、図５（ｂ）において、ＰＤ１の出力ａ
0 とＰＤ２の出力ｂ0 の差ｈ0 が一定範囲内にあれば、
ＬＤ１とＬＤ２のスポット位置が正常で、トラッキング
エラーは発生していないことを示している。一方図５
（ｃ）に示すように、ＰＤ１の出力がａ1 でＰＤ２の出
力がｂ1 であればａ1 −ｂ1 の値が負となり、その絶対
値が規定値より大きく、スポットの位置を図５（ａ）で
右側に補正しなければならないことを示しており、直結
したサーボモータを駆動することによりトラッキングエ
ラーを補正することができる。さらに、図５（ｄ）に示
すように、ＰＤ１の出力がａ2 で、ＰＤ２の出力がｂ2
のときはａ2 −ｂ2 の値が正となり、その絶対値が規定
値より大きくなり、スポット位置を前述と反対方向に補
正しなければならないことを示し、サーボモータにより
補正することができる。
したＬＤ１とＬＤ２の発光量をＰＤ１とＰＤ２とで検出
することにより、図５（ｂ）において、ＰＤ１の出力ａ
0 とＰＤ２の出力ｂ0 の差ｈ0 が一定範囲内にあれば、
ＬＤ１とＬＤ２のスポット位置が正常で、トラッキング
エラーは発生していないことを示している。一方図５
（ｃ）に示すように、ＰＤ１の出力がａ1 でＰＤ２の出
力がｂ1 であればａ1 −ｂ1 の値が負となり、その絶対
値が規定値より大きく、スポットの位置を図５（ａ）で
右側に補正しなければならないことを示しており、直結
したサーボモータを駆動することによりトラッキングエ
ラーを補正することができる。さらに、図５（ｄ）に示
すように、ＰＤ１の出力がａ2 で、ＰＤ２の出力がｂ2
のときはａ2 −ｂ2 の値が正となり、その絶対値が規定
値より大きくなり、スポット位置を前述と反対方向に補
正しなければならないことを示し、サーボモータにより
補正することができる。
【００２４】フォーカスエラー信号はＬＤ１とＤＬ３の
２個のＬＤを用いることにより、それらのＰＤ１とＰＤ
３の出力によりトラッキングエラーを同様に補正するこ
とができる。すなわち焦点が合っていないとキャビティ
に戻る光量が小さくなり、ＰＤの出力が小さくなるた
め、２個のＬＤが正か負かで方向を知ることができ、そ
の差が予め定められた値の範囲に入るように、サーボモ
ータで補正をすることができる。
２個のＬＤを用いることにより、それらのＰＤ１とＰＤ
３の出力によりトラッキングエラーを同様に補正するこ
とができる。すなわち焦点が合っていないとキャビティ
に戻る光量が小さくなり、ＰＤの出力が小さくなるた
め、２個のＬＤが正か負かで方向を知ることができ、そ
の差が予め定められた値の範囲に入るように、サーボモ
ータで補正をすることができる。
【００２５】これらのＰＤの出力は、図６に示すよう
に、連続したピットの繰り返しによりほぼ周期的に現わ
れる、交流成分に前述の戻り光が重畳され、戻り光の量
に応じて交流成分の振幅の大きさが変動する。そのた
め、通常のＬＤの発光出力の上に戻り光による変動がピ
ットの繰り返しに伴う変動として現われ、位置ずれなど
によるＰＤの出力の変化はたとえば 200μA 程度の直流
上に２〜50μA 程度の変動として現われる。本発明で
は、この電流を電圧に変換してその交流成分のみを取り
出して増幅し、さらに直流に変換して比較することによ
り、より正確に、かつ、簡単に比較することができる。
なおＥ−ＳＣＯＯＰのばあいにはＬＤの電圧変化を検出
するため、電流電圧変換の必要はなく、直接交流成分の
みを取り出して増幅する。
に、連続したピットの繰り返しによりほぼ周期的に現わ
れる、交流成分に前述の戻り光が重畳され、戻り光の量
に応じて交流成分の振幅の大きさが変動する。そのた
め、通常のＬＤの発光出力の上に戻り光による変動がピ
ットの繰り返しに伴う変動として現われ、位置ずれなど
によるＰＤの出力の変化はたとえば 200μA 程度の直流
上に２〜50μA 程度の変動として現われる。本発明で
は、この電流を電圧に変換してその交流成分のみを取り
出して増幅し、さらに直流に変換して比較することによ
り、より正確に、かつ、簡単に比較することができる。
なおＥ−ＳＣＯＯＰのばあいにはＬＤの電圧変化を検出
するため、電流電圧変換の必要はなく、直接交流成分の
みを取り出して増幅する。
【００２６】すなわち、ＯＤの記録面はトラック方向に
対し0.86〜3.15μｍ程度の長さのピットが連続的に形成
されており、ピット上にレーザ光が当たると反射光は小
さく、ＬＤの発振状態が余り変化しないが、ピットでな
いところにレーザ光が当たると反射光は大きく、ＬＤの
発光量はキャビティ内の光密度が増加するため増加し、
この変化がピットの繰り返しにより繰り返され、検出部
による検出信号は図６に示すように、ＬＤの一定の発光
量であるＤＣ成分上にピットの繰り返しによる高周波成
分が重畳された形になっている。
対し0.86〜3.15μｍ程度の長さのピットが連続的に形成
されており、ピット上にレーザ光が当たると反射光は小
さく、ＬＤの発振状態が余り変化しないが、ピットでな
いところにレーザ光が当たると反射光は大きく、ＬＤの
発光量はキャビティ内の光密度が増加するため増加し、
この変化がピットの繰り返しにより繰り返され、検出部
による検出信号は図６に示すように、ＬＤの一定の発光
量であるＤＣ成分上にピットの繰り返しによる高周波成
分が重畳された形になっている。
【００２７】いま発光部からのレーザビームのスポット
が、トラック幅から大きくずれていると、戻り光が大き
くなりＬＤの発光量も大きくなり、ピットの部分では戻
り光が少し低下し、ピットのないところでは戻り光が大
きいため、検出値は全体に高く振幅が小さい変化（図６
（ａ）参照）となる。
が、トラック幅から大きくずれていると、戻り光が大き
くなりＬＤの発光量も大きくなり、ピットの部分では戻
り光が少し低下し、ピットのないところでは戻り光が大
きいため、検出値は全体に高く振幅が小さい変化（図６
（ａ）参照）となる。
【００２８】一方、レーザビームのスポットがトラック
の中央に位置しているばあいに、ピット上にレーザビー
ムが照射されているときは、戻り光が小さくＬＤの発光
量は余り変化せず、低い状態にあり、ピットの切れ目で
は戻り光が大きくなるため、ＰＤによる検出出力が大き
くなり、大きな振幅（図６（ｂ）参照）になる。
の中央に位置しているばあいに、ピット上にレーザビー
ムが照射されているときは、戻り光が小さくＬＤの発光
量は余り変化せず、低い状態にあり、ピットの切れ目で
は戻り光が大きくなるため、ＰＤによる検出出力が大き
くなり、大きな振幅（図６（ｂ）参照）になる。
【００２９】つぎに、この原理を利用してトラッキング
エラー用信号およびフォーカスエラー用信号を効果的に
処理する本発明の光ピックアップの信号処理部の実施例
について説明する。
エラー用信号およびフォーカスエラー用信号を効果的に
処理する本発明の光ピックアップの信号処理部の実施例
について説明する。
【００３０】図１（ａ）は光検出量であるＰＤの出力か
ら交流成分のみをとり出し、増幅してピットの繰り返し
によるＲＦ信号を作り出す回路の一実施例で、図１
（ｂ）はＲＦ信号を整流してＲＦ信号の振幅の大きさに
比例した直流成分にする回路の一実施例を示すブロック
図、図２は発光部と光検出器の組が３組のときの信号処
理部の一実施例のブロック図、図３は発光部などが５組
のときの信号処理部の一実施例のブロック図である。
ら交流成分のみをとり出し、増幅してピットの繰り返し
によるＲＦ信号を作り出す回路の一実施例で、図１
（ｂ）はＲＦ信号を整流してＲＦ信号の振幅の大きさに
比例した直流成分にする回路の一実施例を示すブロック
図、図２は発光部と光検出器の組が３組のときの信号処
理部の一実施例のブロック図、図３は発光部などが５組
のときの信号処理部の一実施例のブロック図である。
【００３１】図１および図２〜３において、11（11ａ〜
11ｅ）は直流成分カット用のコンデンサ、12（12ａ〜12
ｅ）は増幅回路、13（13ａ〜13ｅ）は整流回路、14（14
ａ〜14ｅ）は平滑回路、15ａ、15ｂは差を求める演算回
路、Ｒ1 は電流電圧変換のための抵抗である。前述のよ
うにＰＤからえられる信号は図６に示すように、直流成
分上に高周波成分が重畳されているため、コンデンサ11
により直流成分をカットして高周波成分のみをとり出
す。その高周波成分を増幅回路12により電圧に変換して
ＲＦ成分とする。本実施例ではＰＤの電流成分を抵抗Ｒ
1 により電圧に変換してから交流成分を取り出して増幅
したが、電流の交流成分を取り出してから電圧に変換し
てもよい。
11ｅ）は直流成分カット用のコンデンサ、12（12ａ〜12
ｅ）は増幅回路、13（13ａ〜13ｅ）は整流回路、14（14
ａ〜14ｅ）は平滑回路、15ａ、15ｂは差を求める演算回
路、Ｒ1 は電流電圧変換のための抵抗である。前述のよ
うにＰＤからえられる信号は図６に示すように、直流成
分上に高周波成分が重畳されているため、コンデンサ11
により直流成分をカットして高周波成分のみをとり出
す。その高周波成分を増幅回路12により電圧に変換して
ＲＦ成分とする。本実施例ではＰＤの電流成分を抵抗Ｒ
1 により電圧に変換してから交流成分を取り出して増幅
したが、電流の交流成分を取り出してから電圧に変換し
てもよい。
【００３２】トラッキングサーボ用信号およびフォーカ
スサーボ用信号とするため、図１（ｂ）に示すように、
ＲＦ成分の振幅の大きさを整流回路13で直流化して２個
の大きさを比較できるようにＤＣ成分とする。このばあ
い、整流回路13のみで完全なＤＣ成分とならないとき
は、整流回路のあとにさらに平滑回路14が接続される。
スサーボ用信号とするため、図１（ｂ）に示すように、
ＲＦ成分の振幅の大きさを整流回路13で直流化して２個
の大きさを比較できるようにＤＣ成分とする。このばあ
い、整流回路13のみで完全なＤＣ成分とならないとき
は、整流回路のあとにさらに平滑回路14が接続される。
【００３３】図２に示すように３組の発光部と光検出器
で形成されるばあいは、トラッキングエラー信号用のＰ
Ｄ２のＤＣ成分とＲＦ信号用のＰＤ１のＤＣ成分とを演
算回路15ａで引算をして前述の関係よりトラッキングサ
ーボモータへ駆動信号を送る。同様にＰＤ１のＤＣ成分
とＰＤ３のＤＣ成分とを演算回路15ｂにより引算をして
フォーカスサーボモータへ駆動信号を送る。このばあい
記録情報のＲＦ信号はＰＤ１の増幅回路12ｂの出力側か
らとり出す。発光部などが５組からなるばあいには、図
３に示すように、記録情報のＲＦ信号用とは別の２個の
ＰＤの組合せからそれぞれトラッキングサーボ用および
フォーカスサーボ用信号をうることができる。
で形成されるばあいは、トラッキングエラー信号用のＰ
Ｄ２のＤＣ成分とＲＦ信号用のＰＤ１のＤＣ成分とを演
算回路15ａで引算をして前述の関係よりトラッキングサ
ーボモータへ駆動信号を送る。同様にＰＤ１のＤＣ成分
とＰＤ３のＤＣ成分とを演算回路15ｂにより引算をして
フォーカスサーボモータへ駆動信号を送る。このばあい
記録情報のＲＦ信号はＰＤ１の増幅回路12ｂの出力側か
らとり出す。発光部などが５組からなるばあいには、図
３に示すように、記録情報のＲＦ信号用とは別の２個の
ＰＤの組合せからそれぞれトラッキングサーボ用および
フォーカスサーボ用信号をうることができる。
【００３４】本発明によれば、各ＰＤ部の検出信号は同
じように高周波成分のみをとり出して増幅しているた
め、トラッキングエラー信号用ＬＤ２、４やフォーカス
エラー信号用ＬＤ３、５はＲＦ信号用ＬＤ１とトラック
方向にずれている分位相のずれが生じているだけである
ため、各ＰＤ部の増幅回路12の後段のＲＦ出力を時間軸
を補正することにより位相を合わせ足し合わせれば、Ｒ
Ｆ信号として大きな信号がえられ、ｎ個たし合わせれば
ノイズは１／ｎ1/2 となる。
じように高周波成分のみをとり出して増幅しているた
め、トラッキングエラー信号用ＬＤ２、４やフォーカス
エラー信号用ＬＤ３、５はＲＦ信号用ＬＤ１とトラック
方向にずれている分位相のずれが生じているだけである
ため、各ＰＤ部の増幅回路12の後段のＲＦ出力を時間軸
を補正することにより位相を合わせ足し合わせれば、Ｒ
Ｆ信号として大きな信号がえられ、ｎ個たし合わせれば
ノイズは１／ｎ1/2 となる。
【００３５】前記実施例では、ＬＤおよびそれらの出力
信号の検出用ＰＤがそれぞれ３個のばあいで説明した
が、記録を読みとるＲＦ信号用のＬＤ１の他にトラッキ
ングエラー信号用として独立に２個のＬＤを設け２個の
ＬＤのビームスポットを図７に示すように、ピットＰの
両側縁部に当たるようにして、両出力が等しくなるよう
に制御することもできる。またフォーカスエラー用とし
ても同様に独自に２個のＬＤを設け、両者の出力が等し
くなるようにして制御することもできる。
信号の検出用ＰＤがそれぞれ３個のばあいで説明した
が、記録を読みとるＲＦ信号用のＬＤ１の他にトラッキ
ングエラー信号用として独立に２個のＬＤを設け２個の
ＬＤのビームスポットを図７に示すように、ピットＰの
両側縁部に当たるようにして、両出力が等しくなるよう
に制御することもできる。またフォーカスエラー用とし
ても同様に独自に２個のＬＤを設け、両者の出力が等し
くなるようにして制御することもできる。
【００３６】前記実施例では、光検出部としてＰＤの例
で説明したが、ＬＤと同じプロセスで形成したｐｎ接合
を利用したＰＤ以外にイオン打込みで形成されたｐｎ接
合を利用したＰＤまたは抵抗層などの光を検出できるも
のであれば何でもよい。さらに、ＬＤの発光量を検出し
ないで、ＬＤの電圧変化を読みとるＥ−ＳＣＯＯＰのば
あいには、ＡＰＣ動作のために必要とする以外は、トラ
ッキングエラー信号やフォーカスエラー信号用としては
光検出部は不要であることはいうまでもない。
で説明したが、ＬＤと同じプロセスで形成したｐｎ接合
を利用したＰＤ以外にイオン打込みで形成されたｐｎ接
合を利用したＰＤまたは抵抗層などの光を検出できるも
のであれば何でもよい。さらに、ＬＤの発光量を検出し
ないで、ＬＤの電圧変化を読みとるＥ−ＳＣＯＯＰのば
あいには、ＡＰＣ動作のために必要とする以外は、トラ
ッキングエラー信号やフォーカスエラー信号用としては
光検出部は不要であることはいうまでもない。
【００３７】
【発明の効果】本発明によれば、スクープ法を用いた光
ピックアップにおいても、トラッキングエラーやフォー
カスエラーが重畳された高周波成分のみとり出して増幅
し、信号処理できるため、正確に、しかも簡単に信号処
理をすることができるため、正確で高速の検出ができ
る。また検出装置の簡略化を行うことができ、最近の光
ディスクの小型化、高速化に対応できる小型で高品質、
かつ、安価な光ピックアップをうることができる。
ピックアップにおいても、トラッキングエラーやフォー
カスエラーが重畳された高周波成分のみとり出して増幅
し、信号処理できるため、正確に、しかも簡単に信号処
理をすることができるため、正確で高速の検出ができ
る。また検出装置の簡略化を行うことができ、最近の光
ディスクの小型化、高速化に対応できる小型で高品質、
かつ、安価な光ピックアップをうることができる。
【図１】本発明の光ピックアップの光検出器の出力を信
号処理するための回路の一実施例で、(a) は高周波成分
をとり出す回路のブロック図、(b) は該高周波成分をＤ
Ｃ化する回路のブロック図である。
号処理するための回路の一実施例で、(a) は高周波成分
をとり出す回路のブロック図、(b) は該高周波成分をＤ
Ｃ化する回路のブロック図である。
【図２】本発明の光ピックアップの一実施例を示す信号
処理部のブロック図である。
処理部のブロック図である。
【図３】本発明の光ピックアップの他の実施例を示す信
号処理部のブロック図である。
号処理部のブロック図である。
【図４】(a) は本発明の光ピックアップの一実施例に使
用される半導体レーザ装置の平面図で、(b) はその等価
回路図である。
用される半導体レーザ装置の平面図で、(b) はその等価
回路図である。
【図５】戻り光によりＬＤ部分で受ける変化の様子を説
明する図である。
明する図である。
【図６】ＰＤにより検出された出力信号の波形の例を示
す図である。
す図である。
【図７】従来のスクープ法に用いる半導体レーザ装置の
構造例を示す図である。
構造例を示す図である。
【図８】光ピックアップの一例を示す説明図である。
【符号の説明】 ＬＤ１ ＲＦ信号検出用発光部 ＬＤ２ トラックエラー信号用発光部 ＬＤ３ フォーカスエラー信号用発光部 ＰＤ１ 光検出部 ＰＤ２ 光検出部 ＰＤ３ 光検出部
Claims (3)
- 【請求項１】 レーザビームを発生させる少なくとも３
個の発光部を有し、該発光部への光ディスクからの反射
光による前記発光部の変化が検出部により検出され、該
検出部の信号によりトラッキングサーボ機構およびフォ
ーカスサーボ機構が駆動されて前記レーザビームの位置
が補正され、光ディスク上の記録信号を読みとる光ピッ
クアップであって、前記各々の検出部にはそれぞれコン
デンサおよび増幅回路が順次接続され、前記検出部の少
なくとも２個には前記増幅回路のあとにさらに整流回路
が接続されて直流成分信号とされ、該直流成分信号の２
個の比較によりトラッキングサーボ機構および／または
フォーカスサーボ機構が駆動されてなる光ピックアッ
プ。 - 【請求項２】 前記発光部および検出部の組が３組から
なり、第１の検出部と第２の検出部の前記直流成分信号
の比較によりトラッキングサーボ信号が形成され、第１
の検出部と第３の検出部の前記直流成分信号の比較によ
りフォーカスサーボ信号が形成され、第１の検出部の増
幅回路の出力から光ディスクの記録信号であるＲＦ信号
がとり出されてなる請求項１記載の光ピックアップ。 - 【請求項３】 前記発光部および検出部の組が少なくと
も３組からなり、少なくとも第２の検出部の増幅回路の
出力に分岐して第２の検出信号の時間軸を第１の検出信
号の時間軸と合わせる時間軸補正回路と、該時間軸補正
回路により補正された第２の検出信号を第１の検出信号
と加算する加算回路とが設けられ、該加算回路の出力か
ら光ディスクの記録信号であるＲＦ信号がとり出されて
なる請求項１記載の光ピックアップ。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5084871A JPH06301990A (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | 光ピックアップ |
| US08/220,497 US5537386A (en) | 1993-04-12 | 1994-03-31 | Tracking and focusing servo driven by comparison of direct current signals rectified from detectors |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5084871A JPH06301990A (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | 光ピックアップ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06301990A true JPH06301990A (ja) | 1994-10-28 |
Family
ID=13842867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5084871A Pending JPH06301990A (ja) | 1993-04-12 | 1993-04-12 | 光ピックアップ |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5537386A (ja) |
| JP (1) | JPH06301990A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4507489B2 (ja) * | 2002-12-16 | 2010-07-21 | 富士ゼロックス株式会社 | 面発光型半導体レーザ及びその製造方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| NL8803012A (nl) * | 1988-12-08 | 1990-07-02 | Philips Nv | Optische aftastinrichting voorzien van een focusseerregelsysteem alsmede een geintegreerde schakeling voor toepassing in het focusseerregelsysteem. |
| US5351224A (en) * | 1990-03-08 | 1994-09-27 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Adjustment of tracking servo and focusing servo in optical data recording/reproducing apparatus |
| JP2935908B2 (ja) * | 1991-01-30 | 1999-08-16 | パイオニア株式会社 | 光スポット位置検出装置 |
| KR950010418B1 (ko) * | 1991-08-28 | 1995-09-16 | 미쯔비시덴끼 가부시끼가이샤 | 광기록재생장치 |
| JPH05343790A (ja) * | 1992-06-04 | 1993-12-24 | Rohm Co Ltd | 半導体レーザ装置およびその製法 |
-
1993
- 1993-04-12 JP JP5084871A patent/JPH06301990A/ja active Pending
-
1994
- 1994-03-31 US US08/220,497 patent/US5537386A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5537386A (en) | 1996-07-16 |
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