JPH06303623A - 陰極線管制御装置 - Google Patents
陰極線管制御装置Info
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- JPH06303623A JPH06303623A JP5088396A JP8839693A JPH06303623A JP H06303623 A JPH06303623 A JP H06303623A JP 5088396 A JP5088396 A JP 5088396A JP 8839693 A JP8839693 A JP 8839693A JP H06303623 A JPH06303623 A JP H06303623A
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- Japan
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- electron beam
- control signal
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はカラーテレビジョン受像機における
画像補正装置に関するもので、高速にコンバーゼンス誤
差を得ることにより調整時間の短い偏向制御を行なう陰
極線管制御装置を提供することを目的とする。 【構成】 少なくとも２つの電子銃４からの電子ビーム
10a,10b,10cを同時に放出するためのテスト信号を発生
するテスト信号発生部１と、電子ビームの位置を検出す
るシャドウマスク３に塗布された蛍光体からの光検出信
号を電気信号に変換する光電変換部７と、変換された信
号の時間幅を検出する時間幅検出部８と、検出された時
間幅により電子ビームを制御する制御信号発生部９と、
制御信号発生部９の制御信号により電子ビームを制御す
る偏向ヨーク５等を具備した構成である。
画像補正装置に関するもので、高速にコンバーゼンス誤
差を得ることにより調整時間の短い偏向制御を行なう陰
極線管制御装置を提供することを目的とする。 【構成】 少なくとも２つの電子銃４からの電子ビーム
10a,10b,10cを同時に放出するためのテスト信号を発生
するテスト信号発生部１と、電子ビームの位置を検出す
るシャドウマスク３に塗布された蛍光体からの光検出信
号を電気信号に変換する光電変換部７と、変換された信
号の時間幅を検出する時間幅検出部８と、検出された時
間幅により電子ビームを制御する制御信号発生部９と、
制御信号発生部９の制御信号により電子ビームを制御す
る偏向ヨーク５等を具備した構成である。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はカラーテレビジョン受像
機を補正する装置に関し、各種の補正を自動的に行う陰
極線管制御装置に関するものである。
機を補正する装置に関し、各種の補正を自動的に行う陰
極線管制御装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に３原色（緑；以下Ｇ、青；以下
Ｂ、赤；以下Ｒ）を発光する３本の電子銃を用いて画像
を映出する陰極線管受像機においては、電子銃からの電
子ビームが周辺磁界により乱されシャドウマスク上での
色ずれが生じる。これらの各種の補正には、水平および
垂直走査周期に同期させてアナログ的な補正波形をつく
り、この波形の大きさ、形を変えて調整する方式をとっ
ているが、補正精度の点で問題がある。
Ｂ、赤；以下Ｒ）を発光する３本の電子銃を用いて画像
を映出する陰極線管受像機においては、電子銃からの電
子ビームが周辺磁界により乱されシャドウマスク上での
色ずれが生じる。これらの各種の補正には、水平および
垂直走査周期に同期させてアナログ的な補正波形をつく
り、この波形の大きさ、形を変えて調整する方式をとっ
ているが、補正精度の点で問題がある。
【０００３】また各種の補正をスクリーン上でのずれを
目視により観察して手動で補正するため、調整時間がか
かるという問題もある。そこでコンバーゼンス精度の高
い方法として、特公昭５９−８１１４号公報のディジタ
ルコンバーゼンス装置が、また自動的に偏向歪を補正す
る方法として、特開昭５８−２４１８６号公報の電子ビ
ーム偏向制御装置が提案されている。
目視により観察して手動で補正するため、調整時間がか
かるという問題もある。そこでコンバーゼンス精度の高
い方法として、特公昭５９−８１１４号公報のディジタ
ルコンバーゼンス装置が、また自動的に偏向歪を補正す
る方法として、特開昭５８−２４１８６号公報の電子ビ
ーム偏向制御装置が提案されている。
【０００４】図１１に従来の自動補正が可能な画像補正
装置のブロック図を示す。陰極線管３０のシャドウマス
ク面３１に塗布されたインデックス蛍光体から電子ビー
ム位置を検出器３２で検出し、この検出信号からコンバ
ーゼンス補正用や幾何学的歪補正用の信号を処理装置３
３で作成している。処理装置３３からの信号は波形発生
器３４に供給されて、コンバーゼンスヨーク３５や偏向
ヨーク３６を駆動するための各走査波形を発生し、自動
的にコンバーゼンスと幾何学的歪を補正する。
装置のブロック図を示す。陰極線管３０のシャドウマス
ク面３１に塗布されたインデックス蛍光体から電子ビー
ム位置を検出器３２で検出し、この検出信号からコンバ
ーゼンス補正用や幾何学的歪補正用の信号を処理装置３
３で作成している。処理装置３３からの信号は波形発生
器３４に供給されて、コンバーゼンスヨーク３５や偏向
ヨーク３６を駆動するための各走査波形を発生し、自動
的にコンバーゼンスと幾何学的歪を補正する。
【０００５】以上のように、コンバーゼンスや幾何学的
歪等の補正のための電子ビームの位置制御を自動的に精
度良く補正することができる。
歪等の補正のための電子ビームの位置制御を自動的に精
度良く補正することができる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら前記のよ
うな構成では、電子ビーム位置を検出器で検出する際、
それぞれの調整ポイントで各色のビームを順次映出する
ため、三種類の電子ビーム位置検出動作が必要でこれに
より調整時間が長くなるという課題を有していた。
うな構成では、電子ビーム位置を検出器で検出する際、
それぞれの調整ポイントで各色のビームを順次映出する
ため、三種類の電子ビーム位置検出動作が必要でこれに
より調整時間が長くなるという課題を有していた。
【０００７】本発明はかかる点に鑑み、電子ビーム位置
を検出器で検出する際、３原色のビームの内、少なくと
も２色を同時に映出し、検出した信号の時間幅または最
大振幅によりＲ、Ｇ、Ｂそれぞれのビーム位置の集中状
態を検出することにより検出時間を短縮し、また、調整
時間の短い陰極線管制御装置を提供することを目的とす
る。
を検出器で検出する際、３原色のビームの内、少なくと
も２色を同時に映出し、検出した信号の時間幅または最
大振幅によりＲ、Ｇ、Ｂそれぞれのビーム位置の集中状
態を検出することにより検出時間を短縮し、また、調整
時間の短い陰極線管制御装置を提供することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】第１の発明は、少なくと
も２つの電子銃からの電子ビームを同時に放出するため
のテスト信号を発生するテスト信号発生手段と、電子ビ
ームの位置を検出する検出手段と、検出手段からの光検
出信号を電気信号に変換する光電変換手段と、光電変換
手段から出力された検出信号の時間幅を検出する時間幅
検出部と、時間幅信号により電子ビームを制御する制御
信号発生手段と、制御信号により電子ビームを制御する
偏向手段を具備したことを特徴とする構成である。
も２つの電子銃からの電子ビームを同時に放出するため
のテスト信号を発生するテスト信号発生手段と、電子ビ
ームの位置を検出する検出手段と、検出手段からの光検
出信号を電気信号に変換する光電変換手段と、光電変換
手段から出力された検出信号の時間幅を検出する時間幅
検出部と、時間幅信号により電子ビームを制御する制御
信号発生手段と、制御信号により電子ビームを制御する
偏向手段を具備したことを特徴とする構成である。
【０００９】第２の発明は、少なくとも２つの電子銃か
らの電子ビームを同時に放出するためのテスト信号を発
生するテスト信号発生手段と、電子ビームの位置を検出
する検出手段と、検出手段からの光検出信号を電気信号
に変換する光電変換手段と、光電変換手段から出力され
た検出信号の最大振幅を検出する最大振幅検出部と、最
大振幅信号により電子ビームを制御する制御信号発生手
段と、制御信号により電子ビームを制御する偏向手段を
具備したことを特徴とする構成である。
らの電子ビームを同時に放出するためのテスト信号を発
生するテスト信号発生手段と、電子ビームの位置を検出
する検出手段と、検出手段からの光検出信号を電気信号
に変換する光電変換手段と、光電変換手段から出力され
た検出信号の最大振幅を検出する最大振幅検出部と、最
大振幅信号により電子ビームを制御する制御信号発生手
段と、制御信号により電子ビームを制御する偏向手段を
具備したことを特徴とする構成である。
【００１０】
【作用】第１の発明は前記した構成により、テスト信号
発生手段より発生したテスト信号が電子銃に供給され、
ここで少なくとも２色の電子ビームが同時に放出され、
検出手段ではこの電子ビームの位置を検出し、光電変換
手段では検出手段からの検出信号を電気信号に変換す
る。時間幅検出手段ではこの信号の発生期間の時間幅を
検出し、制御信号発生手段では時間幅信号により電子ビ
ームを制御する制御信号を発生し、偏向手段に制御信号
を供給し電子ビームを制御することにより偏向歪を補正
している。
発生手段より発生したテスト信号が電子銃に供給され、
ここで少なくとも２色の電子ビームが同時に放出され、
検出手段ではこの電子ビームの位置を検出し、光電変換
手段では検出手段からの検出信号を電気信号に変換す
る。時間幅検出手段ではこの信号の発生期間の時間幅を
検出し、制御信号発生手段では時間幅信号により電子ビ
ームを制御する制御信号を発生し、偏向手段に制御信号
を供給し電子ビームを制御することにより偏向歪を補正
している。
【００１１】第２の発明は前記した構成により、テスト
信号発生手段より発生したテスト信号が電子銃に供給さ
れ、ここで少なくとも２色の電子ビームが同時に放出さ
れ、検出手段ではこの電子ビームの位置を検出し、光電
変換手段では検出手段からの検出信号を電気信号に変換
する。最大振幅検出手段ではこの信号の最大振幅を検出
し、制御信号発生手段では最大振幅信号により電子ビー
ムを制御する制御信号を発生し、偏向手段に制御信号を
供給し電子ビームを制御することにより偏向歪を補正し
ている。
信号発生手段より発生したテスト信号が電子銃に供給さ
れ、ここで少なくとも２色の電子ビームが同時に放出さ
れ、検出手段ではこの電子ビームの位置を検出し、光電
変換手段では検出手段からの検出信号を電気信号に変換
する。最大振幅検出手段ではこの信号の最大振幅を検出
し、制御信号発生手段では最大振幅信号により電子ビー
ムを制御する制御信号を発生し、偏向手段に制御信号を
供給し電子ビームを制御することにより偏向歪を補正し
ている。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面に従い
詳細に説明する。図１は第１の発明の一実施例における
陰極線管制御装置のブロック図を示すものである。
詳細に説明する。図１は第１の発明の一実施例における
陰極線管制御装置のブロック図を示すものである。
【００１３】図１において、１はコンバーゼンス補正と
偏向歪補正のためのテスト信号を発生するテスト信号発
生部、２はインデックス蛍光体が塗布されたシャドウマ
スク３を有する陰極線管、４は陰極線管２の電子銃、５
は陰極線管２のコンバーゼンスヨーク、６は陰極線管２
の偏向ヨーク、７は電子ビーム１０がシャドウマスク３
に塗布されたインデックス蛍光体に当たり発光した光検
出信号を電気信号に変換する光電変換部、８は光電変換
部７の出力信号の信号期間を検出する時間幅検出部、９
は時間幅検出部８で検出した時間幅をもとに偏向制御信
号を発生する制御信号発生部である。また、１０ａ、１
０ｂ、１０ｃはそれぞれ電子銃４から出されるＲ、Ｇ、
Ｂの電子ビームである。
偏向歪補正のためのテスト信号を発生するテスト信号発
生部、２はインデックス蛍光体が塗布されたシャドウマ
スク３を有する陰極線管、４は陰極線管２の電子銃、５
は陰極線管２のコンバーゼンスヨーク、６は陰極線管２
の偏向ヨーク、７は電子ビーム１０がシャドウマスク３
に塗布されたインデックス蛍光体に当たり発光した光検
出信号を電気信号に変換する光電変換部、８は光電変換
部７の出力信号の信号期間を検出する時間幅検出部、９
は時間幅検出部８で検出した時間幅をもとに偏向制御信
号を発生する制御信号発生部である。また、１０ａ、１
０ｂ、１０ｃはそれぞれ電子銃４から出されるＲ、Ｇ、
Ｂの電子ビームである。
【００１４】以上のように構成されたこの実施例の陰極
線管制御装置において、以下その動作を説明する。テス
ト信号発生部１で発生したテスト信号は陰極線管２の電
子銃４に供給される。これにより電子銃４では電子ビー
ム１０ａ、１０ｂ、１０ｃが放出される。この電子ビー
ム１０ａ、１０ｂ、１０ｃがシャドウマスク３に塗布さ
れたインデックス蛍光体に当たると発光する。この発光
した信号は光電変換部７で電気信号に変換される。例え
ばこの光電変換部７としては光電子増倍管や光ダイオー
ド等が用いられる。この光電変換された信号は時間幅検
出部８に供給され、信号期間が測定される。制御信号発
生部９はこの時間幅信号に基づいてこの信号が最小にな
るまで制御信号を変化させ、コンバーゼンスヨーク５及
び偏向ヨーク６に供給する。この時、時間幅信号が最小
になった時を偏向歪が補正された状態と判別する。
線管制御装置において、以下その動作を説明する。テス
ト信号発生部１で発生したテスト信号は陰極線管２の電
子銃４に供給される。これにより電子銃４では電子ビー
ム１０ａ、１０ｂ、１０ｃが放出される。この電子ビー
ム１０ａ、１０ｂ、１０ｃがシャドウマスク３に塗布さ
れたインデックス蛍光体に当たると発光する。この発光
した信号は光電変換部７で電気信号に変換される。例え
ばこの光電変換部７としては光電子増倍管や光ダイオー
ド等が用いられる。この光電変換された信号は時間幅検
出部８に供給され、信号期間が測定される。制御信号発
生部９はこの時間幅信号に基づいてこの信号が最小にな
るまで制御信号を変化させ、コンバーゼンスヨーク５及
び偏向ヨーク６に供給する。この時、時間幅信号が最小
になった時を偏向歪が補正された状態と判別する。
【００１５】次に図２を用いて偏向歪補正過程について
説明する。テスト信号発生部１では図２（Ａ）ａ、ｂの
ようなＧテスト信号、Ｂテスト信号を同時に発生させ
る。しかし画面上ではこの信号がコンバーゼンスずれの
ため図２（Ｂ）に示すようにインデックス蛍光体上でず
れて表示されたとする。ここで１１はシャドウマスク３
に塗布されたインデックス蛍光体、１２はシャドウマス
ク３上に映出されたＧテスト信号による電子ビーム、１
３は同様に映出されたＢテスト信号による電子ビームで
ある。このとき光電変換部７で検出する光電変換信号は
図２（Ｃ）ａに示すようにＧテスト信号による検出信号
とＢテスト信号による検出信号に分離されて検出され
る。
説明する。テスト信号発生部１では図２（Ａ）ａ、ｂの
ようなＧテスト信号、Ｂテスト信号を同時に発生させ
る。しかし画面上ではこの信号がコンバーゼンスずれの
ため図２（Ｂ）に示すようにインデックス蛍光体上でず
れて表示されたとする。ここで１１はシャドウマスク３
に塗布されたインデックス蛍光体、１２はシャドウマス
ク３上に映出されたＧテスト信号による電子ビーム、１
３は同様に映出されたＢテスト信号による電子ビームで
ある。このとき光電変換部７で検出する光電変換信号は
図２（Ｃ）ａに示すようにＧテスト信号による検出信号
とＢテスト信号による検出信号に分離されて検出され
る。
【００１６】ここで時間幅検出部８はこれらの検出信号
の時間幅ｔ1を測定し制御信号発生部９に供給する。制
御信号発生部９ではこの測定データに基づいてＢ電子ビ
ームを水平偏向補正する偏向制御信号を発生しコンバー
ゼンスヨーク５に供給する。これによりＢ電子ビームの
水平方向の映出位置が変化するため、Ｂテスト信号によ
る検出信号の発生タイミングが変化する。制御信号を順
次変化させ、補正量を増加させていくと図２（Ｃ）ｂの
ように検出信号の時間的タイミングは一致し、このとき
時間幅は最小値ｔ2となる。
の時間幅ｔ1を測定し制御信号発生部９に供給する。制
御信号発生部９ではこの測定データに基づいてＢ電子ビ
ームを水平偏向補正する偏向制御信号を発生しコンバー
ゼンスヨーク５に供給する。これによりＢ電子ビームの
水平方向の映出位置が変化するため、Ｂテスト信号によ
る検出信号の発生タイミングが変化する。制御信号を順
次変化させ、補正量を増加させていくと図２（Ｃ）ｂの
ように検出信号の時間的タイミングは一致し、このとき
時間幅は最小値ｔ2となる。
【００１７】なお変化させていくと図２（Ｃ）ｃのよう
に反対にずれてしまい、時間幅は増加していく。図３に
補正量と時間幅の関係を示す。コンバーゼンスが合った
状態というのはそれぞれの映出されたテスト信号の映出
位置が一致したときであるから、検出タイミングも一致
し、検出信号の時間幅が最小ｔ2になった補正量ｘ2のと
きである。よってｘ1から順次補正量を増加させ、時間
幅を減少させ再び増加を始めれば補正量ｘ2をコンバー
ゼンスが合った状態としその点での水平方向の調整を終
了する。
に反対にずれてしまい、時間幅は増加していく。図３に
補正量と時間幅の関係を示す。コンバーゼンスが合った
状態というのはそれぞれの映出されたテスト信号の映出
位置が一致したときであるから、検出タイミングも一致
し、検出信号の時間幅が最小ｔ2になった補正量ｘ2のと
きである。よってｘ1から順次補正量を増加させ、時間
幅を減少させ再び増加を始めれば補正量ｘ2をコンバー
ゼンスが合った状態としその点での水平方向の調整を終
了する。
【００１８】次に垂直方向の調整を行う場合を図４を用
いて説明する。水平方向の調整の終了後、図４（Ａ）に
示すようなＧテスト信号とＢテスト信号をテスト信号発
生部１で発生する。すると図４（Ｂ）に示すように走査
方向に対して斜めに傾けてシャドウマスク３上に設置さ
れたインデックス蛍光体上に映出される。インデックス
蛍光体２１とＧテスト信号による電子ビーム２２及びＢ
テスト信号による電子ビーム２３の関係は図４（Ｂ）に
示すように水平方向はコンバーゼンスが調整により合っ
ているが垂直方向はコンバーゼンスが合っていないとす
る。この時、インデックス蛍光体２１が走査方向に対し
て傾いているので垂直方向のコンバーゼンスのずれが検
出信号出力に時間差として現れる。
いて説明する。水平方向の調整の終了後、図４（Ａ）に
示すようなＧテスト信号とＢテスト信号をテスト信号発
生部１で発生する。すると図４（Ｂ）に示すように走査
方向に対して斜めに傾けてシャドウマスク３上に設置さ
れたインデックス蛍光体上に映出される。インデックス
蛍光体２１とＧテスト信号による電子ビーム２２及びＢ
テスト信号による電子ビーム２３の関係は図４（Ｂ）に
示すように水平方向はコンバーゼンスが調整により合っ
ているが垂直方向はコンバーゼンスが合っていないとす
る。この時、インデックス蛍光体２１が走査方向に対し
て傾いているので垂直方向のコンバーゼンスのずれが検
出信号出力に時間差として現れる。
【００１９】図４（Ｃ）ａは光電変換出力におけるＧ検
出信号とＢ検出信号を示す。時間幅検出部８は時間幅ｔ
4を測定し、制御信号発生部９に供給する。制御信号発
生部９では水平偏向補正の時と同様に測定データに基づ
いてＢ電子ビームを垂直偏向補正する偏向制御信号を発
生しコンバーゼンスヨーク５に供給する。これによりＢ
電子ビームの垂直方向の映出位置が変化するため、Ｂテ
スト信号による検出信号の発生タイミングは変化する。
このとき制御信号を順次変化させ、補正量を増加させて
いくと図４（Ｃ）ｂのように検出信号の時間的タイミン
グは一致し、このとき時間幅は最小値ｔ5となる。なお
変化させていくと図４（Ｃ）ｃのように反対にずれてし
まい、時間幅は増加していく。
出信号とＢ検出信号を示す。時間幅検出部８は時間幅ｔ
4を測定し、制御信号発生部９に供給する。制御信号発
生部９では水平偏向補正の時と同様に測定データに基づ
いてＢ電子ビームを垂直偏向補正する偏向制御信号を発
生しコンバーゼンスヨーク５に供給する。これによりＢ
電子ビームの垂直方向の映出位置が変化するため、Ｂテ
スト信号による検出信号の発生タイミングは変化する。
このとき制御信号を順次変化させ、補正量を増加させて
いくと図４（Ｃ）ｂのように検出信号の時間的タイミン
グは一致し、このとき時間幅は最小値ｔ5となる。なお
変化させていくと図４（Ｃ）ｃのように反対にずれてし
まい、時間幅は増加していく。
【００２０】コンバーゼンスが合った状態というのはそ
れぞれの映出されたテスト信号の映出位置が一致したと
きであるから、検出タイミングも一致し、検出信号の時
間幅が最小ｔ5になったときである。よって順次補正量
を増加させ、時間幅を減少させていけば最小になったと
きがコンバーゼンスの合った状態と判別し、その点での
垂直方向の調整を終了する。このように水平方向と垂直
方向のコンバーゼンスを合わせることにより図４（Ｄ）
に示すようにコンバーゼンスが完全に合った状態に調整
できる。
れぞれの映出されたテスト信号の映出位置が一致したと
きであるから、検出タイミングも一致し、検出信号の時
間幅が最小ｔ5になったときである。よって順次補正量
を増加させ、時間幅を減少させていけば最小になったと
きがコンバーゼンスの合った状態と判別し、その点での
垂直方向の調整を終了する。このように水平方向と垂直
方向のコンバーゼンスを合わせることにより図４（Ｄ）
に示すようにコンバーゼンスが完全に合った状態に調整
できる。
【００２１】以上のようにこの実施例によれば、少なく
とも２種類のテスト信号を同時に映出し、検出した信号
の時間幅を測定し、この時間幅を最小にするよう電子ビ
ームを制御することにより従来、Ｒ、Ｇ、Ｂ、各テスト
信号を順次映出していた時と比較して短時間でコンバー
ゼンス誤差量を検出でき、これにより偏向制御調整の高
速化が図ることができる。
とも２種類のテスト信号を同時に映出し、検出した信号
の時間幅を測定し、この時間幅を最小にするよう電子ビ
ームを制御することにより従来、Ｒ、Ｇ、Ｂ、各テスト
信号を順次映出していた時と比較して短時間でコンバー
ゼンス誤差量を検出でき、これにより偏向制御調整の高
速化が図ることができる。
【００２２】次に第２の発明の一実施例について図を用
いて説明する。図５は第２の発明の一実施例における陰
極線管制御装置のブロック図を示すものである。図５に
おいて、図１と同様のブロックは同じ番号を付け、以下
説明を省略する。また、１４は光電変換部７の出力から
最大振幅値を検出する最大振幅検出部である。
いて説明する。図５は第２の発明の一実施例における陰
極線管制御装置のブロック図を示すものである。図５に
おいて、図１と同様のブロックは同じ番号を付け、以下
説明を省略する。また、１４は光電変換部７の出力から
最大振幅値を検出する最大振幅検出部である。
【００２３】以上のように構成されたこの実施例の陰極
線管制御装置において、第１の発明における実施例と違
う部分は最大振幅検出部１４である。以下その動作を中
心に説明する。テスト信号発生部１では図６（Ａ）ａ、
ｂのように少なくとも２色同時に、例えばＧテスト信
号、Ｂテスト信号を同時に発生させる。しかし画面上で
はコンバーゼンスずれのため図６（Ｂ）に示すようにイ
ンデックス蛍光体上でずれて表示されたとする。
線管制御装置において、第１の発明における実施例と違
う部分は最大振幅検出部１４である。以下その動作を中
心に説明する。テスト信号発生部１では図６（Ａ）ａ、
ｂのように少なくとも２色同時に、例えばＧテスト信
号、Ｂテスト信号を同時に発生させる。しかし画面上で
はコンバーゼンスずれのため図６（Ｂ）に示すようにイ
ンデックス蛍光体上でずれて表示されたとする。
【００２４】ここで図２と同様に、１１はシャドウマス
ク３に塗布されたインデックス蛍光体、１２はシャドウ
マスク３上に映出されたＧテスト信号、１３は同様に映
出されたＢテスト信号である。このとき光電変換部７で
検出する光電変換信号は図６（Ｃ）ａに示すようにＧテ
スト信号による検出信号とＢテスト信号による検出信号
に分離して検出される。ここで最大値検出部１４はこれ
らの検出信号のテスト信号期間における最大振幅値ｙ1
を測定し制御信号発生部９に供給する。制御信号発生部
９ではこの測定データに基づいてＢ電子ビームを水平偏
向補正する偏向制御信号を発生しコンバーゼンスヨーク
５に供給する。
ク３に塗布されたインデックス蛍光体、１２はシャドウ
マスク３上に映出されたＧテスト信号、１３は同様に映
出されたＢテスト信号である。このとき光電変換部７で
検出する光電変換信号は図６（Ｃ）ａに示すようにＧテ
スト信号による検出信号とＢテスト信号による検出信号
に分離して検出される。ここで最大値検出部１４はこれ
らの検出信号のテスト信号期間における最大振幅値ｙ1
を測定し制御信号発生部９に供給する。制御信号発生部
９ではこの測定データに基づいてＢ電子ビームを水平偏
向補正する偏向制御信号を発生しコンバーゼンスヨーク
５に供給する。
【００２５】これによりＢ電子ビームの水平方向の映出
位置が変化するため、Ｂテスト信号による検出信号の発
生タイミングは変化する。このとき、制御信号を順次変
化させ、補正量を増加させていくと図６（Ｃ）ｂのよう
に検出信号の時間的タイミングは一致し、このときテス
ト期間内における検出信号の最大振幅値は最大値ｙ2と
なる。なお、変化させていくと図６（Ｃ）ｃのように反
対にずれてしまい、最大振幅値は減少していく。
位置が変化するため、Ｂテスト信号による検出信号の発
生タイミングは変化する。このとき、制御信号を順次変
化させ、補正量を増加させていくと図６（Ｃ）ｂのよう
に検出信号の時間的タイミングは一致し、このときテス
ト期間内における検出信号の最大振幅値は最大値ｙ2と
なる。なお、変化させていくと図６（Ｃ）ｃのように反
対にずれてしまい、最大振幅値は減少していく。
【００２６】このように補正量と最大振幅値の関係は図
７に示すようになる。このときのコンバーゼンスが合っ
た状態というのはそれぞれの映出されたテスト信号が一
致した時であるから、検出信号の時間的タイミングも一
致し、最大振幅値が最大ｙ2になった補正量ｘ2となった
ときである。よってｘ1から順次補正量を増加させ、最
大振幅値を増加させていくと、ある補正量ｘ2を境界と
して再び減少を始めれば補正量ｘ2をコンバーゼンスが
合った状態としその点での調整を終了する。
７に示すようになる。このときのコンバーゼンスが合っ
た状態というのはそれぞれの映出されたテスト信号が一
致した時であるから、検出信号の時間的タイミングも一
致し、最大振幅値が最大ｙ2になった補正量ｘ2となった
ときである。よってｘ1から順次補正量を増加させ、最
大振幅値を増加させていくと、ある補正量ｘ2を境界と
して再び減少を始めれば補正量ｘ2をコンバーゼンスが
合った状態としその点での調整を終了する。
【００２７】ここで最大振幅値を求める過程を図８及び
図９を用いて詳細に説明する。図８は最大振幅検出部１
４の構成の一例を示した回路図であり、図９は動作を説
明するためのタイミング図である。図８において、１５
は光電変換信号が供給される入力バッファ、１６はダイ
オード、１７は電流制限抵抗、１８はホールドコンデン
サ、１９はリセットスイッチ、２０は出力バッファであ
る。
図９を用いて詳細に説明する。図８は最大振幅検出部１
４の構成の一例を示した回路図であり、図９は動作を説
明するためのタイミング図である。図８において、１５
は光電変換信号が供給される入力バッファ、１６はダイ
オード、１７は電流制限抵抗、１８はホールドコンデン
サ、１９はリセットスイッチ、２０は出力バッファであ
る。
【００２８】図９（ａ）のようなＧテスト信号及びＢテ
スト信号が電子銃４に供給されると電子ビームが発生
し、これがインデックス蛍光体上に映出され、最大振幅
検出部１４に図９（ｂ）のような光電変換信号が供給さ
れたとする。
スト信号が電子銃４に供給されると電子ビームが発生
し、これがインデックス蛍光体上に映出され、最大振幅
検出部１４に図９（ｂ）のような光電変換信号が供給さ
れたとする。
【００２９】リセット信号は図９（ｃ）のようにテスト
信号の立ち上がり時に発生させ、リセットスイッチ１９
に供給する。するとテスト信号の立ち上がり時に正論理
となったリセット信号がリセットスイッチ１９に供給さ
れ、リセットスイッチ１９はオン状態となる。このとき
ホールドコンデンサ１８に蓄積されていた電荷は電流制
限抵抗１７及びリセットスイッチ１９を通って放電され
る。するとＶ2は０Ｖとなり、最大振幅値出力も０Ｖと
なる。リセット信号が負論理となり、Ｖ1＞Ｖ2となるよ
う光電変換信号が大きくなるとダイオード１６はオン状
態となりＶ1＝Ｖ2の電圧になるようホールドコンデンサ
１８に電荷が蓄積される。光電変換信号が減少しはじめ
Ｖ1＜Ｖ2となるとダイオード１６はオフ状態となりＶ２
及び出力バッファ２０の出力は光電変換信号のピーク値
を保持することとなる。
信号の立ち上がり時に発生させ、リセットスイッチ１９
に供給する。するとテスト信号の立ち上がり時に正論理
となったリセット信号がリセットスイッチ１９に供給さ
れ、リセットスイッチ１９はオン状態となる。このとき
ホールドコンデンサ１８に蓄積されていた電荷は電流制
限抵抗１７及びリセットスイッチ１９を通って放電され
る。するとＶ2は０Ｖとなり、最大振幅値出力も０Ｖと
なる。リセット信号が負論理となり、Ｖ1＞Ｖ2となるよ
う光電変換信号が大きくなるとダイオード１６はオン状
態となりＶ1＝Ｖ2の電圧になるようホールドコンデンサ
１８に電荷が蓄積される。光電変換信号が減少しはじめ
Ｖ1＜Ｖ2となるとダイオード１６はオフ状態となりＶ２
及び出力バッファ２０の出力は光電変換信号のピーク値
を保持することとなる。
【００３０】この様子を図９（ｄ）のピークホールド出
力に示す。このピーク値は次にリセット信号が正論理に
なるまで保持される。このように最大振幅検出部１４で
はテスト信号期間の振幅の最大値を検出することができ
る。この検出したデータを図９（ｅ）に示すようなテス
ト信号の立ち下がり時のデータ取込信号で取り込むこと
により図９（ｆ）に示すように最大振幅値のみを取り出
すことができる。補正量を順次変化させて最大振幅値を
変化させ、テスト期間内における検出信号の最大振幅値
が最大となる補正量の時、コンバーゼンスが合ったと判
定する。
力に示す。このピーク値は次にリセット信号が正論理に
なるまで保持される。このように最大振幅検出部１４で
はテスト信号期間の振幅の最大値を検出することができ
る。この検出したデータを図９（ｅ）に示すようなテス
ト信号の立ち下がり時のデータ取込信号で取り込むこと
により図９（ｆ）に示すように最大振幅値のみを取り出
すことができる。補正量を順次変化させて最大振幅値を
変化させ、テスト期間内における検出信号の最大振幅値
が最大となる補正量の時、コンバーゼンスが合ったと判
定する。
【００３１】次に垂直方向の調整を行う場合を図１０を
用いて説明する。水平方向の調整の終了後、図１０
（Ａ）に示すようなＧテスト信号とＢテスト信号をテス
ト信号発生部１で発生する。すると図１０（Ｂ）に示す
ように走査方向に対して斜めに傾けてシャドウマスクに
設置されたインデックス蛍光体に映出される。インデッ
クス蛍光体２１とＧテスト信号による電子ビーム２２及
びＢテスト信号による電子ビーム２３の関係は図１０
（Ｂ）に示すように水平方向は調整によりコンバーゼン
スが合っているが垂直方向はコンバーゼンスが合ってい
ないとする。この時、インデックス蛍光体２１が走査方
向に対して傾いているので、垂直方向のコンバーゼンス
のずれが検出信号出力に時間差として現れる。
用いて説明する。水平方向の調整の終了後、図１０
（Ａ）に示すようなＧテスト信号とＢテスト信号をテス
ト信号発生部１で発生する。すると図１０（Ｂ）に示す
ように走査方向に対して斜めに傾けてシャドウマスクに
設置されたインデックス蛍光体に映出される。インデッ
クス蛍光体２１とＧテスト信号による電子ビーム２２及
びＢテスト信号による電子ビーム２３の関係は図１０
（Ｂ）に示すように水平方向は調整によりコンバーゼン
スが合っているが垂直方向はコンバーゼンスが合ってい
ないとする。この時、インデックス蛍光体２１が走査方
向に対して傾いているので、垂直方向のコンバーゼンス
のずれが検出信号出力に時間差として現れる。
【００３２】この時の光電変換出力におけるＧ検出信号
とＢ検出信号を図１０（Ｃ）ａに示す。最大振幅検出部
１４はテスト信号期間内の最大振幅ｙ4を測定し、制御
信号発生部９に供給する。制御信号発生部９では水平偏
向補正の時と同様に測定データに基づいてＢ電子ビーム
を垂直偏向補正する偏向制御信号を発生しコンバーゼン
スヨーク５に供給する。これによりＢ電子ビームの垂直
方向の映出位置が変化するため、Ｂテスト信号による検
出信号の発生タイミングは変化する。制御信号を順次変
化させ、補正量を増加させていくと図１０（Ｃ）ｂのよ
うに検出信号の時間的タイミングは一致し、このとき最
大振幅は最大値ｙ5となる。なお、変化させていくと図
１０（Ｃ）ｃのように反対にずれてしまい、最大振幅値
は減少していく。
とＢ検出信号を図１０（Ｃ）ａに示す。最大振幅検出部
１４はテスト信号期間内の最大振幅ｙ4を測定し、制御
信号発生部９に供給する。制御信号発生部９では水平偏
向補正の時と同様に測定データに基づいてＢ電子ビーム
を垂直偏向補正する偏向制御信号を発生しコンバーゼン
スヨーク５に供給する。これによりＢ電子ビームの垂直
方向の映出位置が変化するため、Ｂテスト信号による検
出信号の発生タイミングは変化する。制御信号を順次変
化させ、補正量を増加させていくと図１０（Ｃ）ｂのよ
うに検出信号の時間的タイミングは一致し、このとき最
大振幅は最大値ｙ5となる。なお、変化させていくと図
１０（Ｃ）ｃのように反対にずれてしまい、最大振幅値
は減少していく。
【００３３】コンバーゼンスが合った状態というのはそ
れぞれの映出されたテスト信号の映出位置が一致したと
きであるから、検出タイミングも一致し、テスト信号期
間内の最大振幅値が最大値ｙ5になったときである。よ
って順次補正量を増加させるとともに最大振幅値を増加
させ、最大振幅値が最大になったときをコンバーゼンス
が合った状態と判別し、その点での垂直方向の調整を終
了する。このように水平方向と垂直方向のコンバーゼン
スを合わせることにより図１０（Ｄ）に示すようにコン
バーゼンスが完全にあった状態に調整できる。
れぞれの映出されたテスト信号の映出位置が一致したと
きであるから、検出タイミングも一致し、テスト信号期
間内の最大振幅値が最大値ｙ5になったときである。よ
って順次補正量を増加させるとともに最大振幅値を増加
させ、最大振幅値が最大になったときをコンバーゼンス
が合った状態と判別し、その点での垂直方向の調整を終
了する。このように水平方向と垂直方向のコンバーゼン
スを合わせることにより図１０（Ｄ）に示すようにコン
バーゼンスが完全にあった状態に調整できる。
【００３４】以上のようにこの第２の実施例によれば、
テスト信号を２種類以上同時に映出し、検出した信号の
最大振幅を測定し、この最大振幅値を最大にするよう電
子ビームを制御することにより従来、Ｒ、Ｇ、Ｂ、各テ
スト信号を順次映出していた時と比較して短時間でコン
バーゼンス誤差量を検出でき、これにより偏向制御調整
の高速化が図ることができる。
テスト信号を２種類以上同時に映出し、検出した信号の
最大振幅を測定し、この最大振幅値を最大にするよう電
子ビームを制御することにより従来、Ｒ、Ｇ、Ｂ、各テ
スト信号を順次映出していた時と比較して短時間でコン
バーゼンス誤差量を検出でき、これにより偏向制御調整
の高速化が図ることができる。
【００３５】なお、以上の実施例ではＢとＧのビームの
コンバーゼンスを合わせる場合について説明したが他の
ビームの組み合わせでも同様に調整できることはいうま
でもない。また、２種類のテスト信号を同時に映出し、
１種類のコンバーゼンス調整をする場合のみ説明した
が、同様に３種類のテスト信号を同時に映出し、２種類
のコンバーゼンス調整を同時に行っても良いことはいう
までもない。
コンバーゼンスを合わせる場合について説明したが他の
ビームの組み合わせでも同様に調整できることはいうま
でもない。また、２種類のテスト信号を同時に映出し、
１種類のコンバーゼンス調整をする場合のみ説明した
が、同様に３種類のテスト信号を同時に映出し、２種類
のコンバーゼンス調整を同時に行っても良いことはいう
までもない。
【００３６】また、補正点１点のみの調整について説明
したがこれを画面上を分割し、複数の調整点でダイナミ
ックな偏向補正を行うことができることはいうまでもな
い。また、陰極線管の偏向制御装置について説明してき
たが投射型ディスプレイなど複数のビームを集中させる
必要がある他のディスプレイについても応用ができるこ
とはいうまでもない。
したがこれを画面上を分割し、複数の調整点でダイナミ
ックな偏向補正を行うことができることはいうまでもな
い。また、陰極線管の偏向制御装置について説明してき
たが投射型ディスプレイなど複数のビームを集中させる
必要がある他のディスプレイについても応用ができるこ
とはいうまでもない。
【００３７】さらに、最大振幅検出部として一例を説明
したが他の構成を用いてもよいことはいうまでもない。
また、２種類の陰極線管制御装置の実施例を述べたが、
これらを組み合わせて用いても良いことはいうまでもな
い。
したが他の構成を用いてもよいことはいうまでもない。
また、２種類の陰極線管制御装置の実施例を述べたが、
これらを組み合わせて用いても良いことはいうまでもな
い。
【００３８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
Ｒ、Ｇ、Ｂ３色のテスト信号の少なくとも２色を同時に
映出し、インデックス蛍光体からの発光信号の時間幅ま
たは最大振幅を測定しこのデータによりコンバーゼンス
ずれを検出するため、従来のようにＲ、Ｇ、Ｂを順次映
出した場合に比べ、短時間でコンバーゼンス誤差量を検
出でき、これにより調整の高速化が図ることができ、そ
の実用的効果は大きい。
Ｒ、Ｇ、Ｂ３色のテスト信号の少なくとも２色を同時に
映出し、インデックス蛍光体からの発光信号の時間幅ま
たは最大振幅を測定しこのデータによりコンバーゼンス
ずれを検出するため、従来のようにＲ、Ｇ、Ｂを順次映
出した場合に比べ、短時間でコンバーゼンス誤差量を検
出でき、これにより調整の高速化が図ることができ、そ
の実用的効果は大きい。
【図１】本発明の第１の実施例における陰極線管制御装
置のブロック図
置のブロック図
【図２】同実施例の水平方向補正の動作を示す図
【図３】同実施例のコンバーゼンス補正量と時間幅検出
部出力の関係を示した特性図
部出力の関係を示した特性図
【図４】同実施例における垂直方向補正の動作を示す図
【図５】本発明の第２の実施例における陰極線管制御装
置のブロック図
置のブロック図
【図６】同実施例の水平方向補正の動作を示す図
【図７】同実施例のコンバーゼンス補正量と最大振幅検
出部出力の関係を示した特性図
出部出力の関係を示した特性図
【図８】同実施例における最大振幅検出部の内部回路例
を示す回路図
を示す回路図
【図９】同実施例における最大振幅検出部の動作波形図
【図１０】同実施例における垂直方向補正の動作を示す
図
図
【図１１】従来の電子ビーム偏向制御装置のブロック図
１ テスト信号発生部 ２ 陰極線管 ３ インデックス蛍光体が塗布されたシャドウマスク ４ 電子銃 ５ コンバーゼンスヨーク ６ 偏向ヨーク ７ 光電変換部 ８ 時間幅検出部 ９ 制御信号発生部 １０ 電子ビーム １１ インデックス蛍光体 １２ 映出されたＧテスト信号 １３ 映出されたＢテスト信号 １４ 最大振幅検出部
Claims (2)
- 【請求項１】少なくとも２つの電子銃からの電子ビーム
を同時に放出するためのテスト信号を発生するテスト信
号発生手段と、前記電子ビームの位置を検出する検出手
段と、前記検出手段からの光検出信号を電気信号に変換
する光電変換手段と、前記光電変換手段から出力された
検出信号の時間幅を検出する時間幅検出部と、検出され
た時間幅により前記電子ビームを制御する制御信号発生
手段と、前記制御信号発生手段の制御信号により前記電
子ビームを制御する偏向手段を具備したことを特徴とす
る陰極線管制御装置。 - 【請求項２】少なくとも２つの電子銃からの電子ビーム
を同時に放出するためのテスト信号を発生するテスト信
号発生手段と、前記電子ビームの位置を検出する検出手
段と、前記検出手段からの光検出信号を電気信号に変換
する光電変換手段と、前記光電変換手段から出力された
検出信号の最大振幅を検出する最大振幅検出部と、検出
された最大振幅信号により前記電子ビームを制御する制
御信号発生手段と、前記制御信号発生手段の制御信号に
より電子ビームを制御する偏向手段を具備したことを特
徴とする陰極線管制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5088396A JPH06303623A (ja) | 1993-04-15 | 1993-04-15 | 陰極線管制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5088396A JPH06303623A (ja) | 1993-04-15 | 1993-04-15 | 陰極線管制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06303623A true JPH06303623A (ja) | 1994-10-28 |
Family
ID=13941639
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5088396A Pending JPH06303623A (ja) | 1993-04-15 | 1993-04-15 | 陰極線管制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06303623A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6833662B2 (en) * | 2001-09-05 | 2004-12-21 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Cathode ray tube with anti-ringing coil |
| WO2013035142A1 (ja) * | 2011-09-05 | 2013-03-14 | パイオニア株式会社 | 光軸ずれ補正装置、制御方法、及びヘッドアップディスプレイ |
| JPWO2013035142A1 (ja) * | 2011-09-05 | 2015-03-23 | パイオニア株式会社 | 光軸ずれ補正装置、制御方法、及びヘッドアップディスプレイ |
-
1993
- 1993-04-15 JP JP5088396A patent/JPH06303623A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6833662B2 (en) * | 2001-09-05 | 2004-12-21 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Cathode ray tube with anti-ringing coil |
| WO2013035142A1 (ja) * | 2011-09-05 | 2013-03-14 | パイオニア株式会社 | 光軸ずれ補正装置、制御方法、及びヘッドアップディスプレイ |
| JPWO2013035142A1 (ja) * | 2011-09-05 | 2015-03-23 | パイオニア株式会社 | 光軸ずれ補正装置、制御方法、及びヘッドアップディスプレイ |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20031224 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20040219 |
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| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
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