JPH06307855A - 自動追尾式測量機 - Google Patents
自動追尾式測量機Info
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- JPH06307855A JPH06307855A JP5099640A JP9964093A JPH06307855A JP H06307855 A JPH06307855 A JP H06307855A JP 5099640 A JP5099640 A JP 5099640A JP 9964093 A JP9964093 A JP 9964093A JP H06307855 A JPH06307855 A JP H06307855A
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- Japan
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- light
- temperature
- deflection element
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 温度変化に拘りなく常に正確に自動追尾する
ことのできる自動追尾式測量機を提供する。 【構成】 レーザダイオード23から発光される光を水
平偏向素子25および垂直偏向素子26で偏向させて走
査光にするとともに、この走査光を対象物2に照射し、
該対象物2により反射された走査光を受光して前記対象
物の位置を検出し、その検出結果に基づき演算を行うこ
とにより追尾データを求めて前記対象物に測量機本体を
自動追尾させる自動追尾式測量機において、水平偏向素
子25,垂直偏向素子2およびレーザダイオード23の
温度を検出する温度センサ61と、この温度センサ61
が検出する検出信号に基づいて水平偏向素子25および
垂直偏向素子26による光の偏向角を補正する補正回路
53とを備えている。
ことのできる自動追尾式測量機を提供する。 【構成】 レーザダイオード23から発光される光を水
平偏向素子25および垂直偏向素子26で偏向させて走
査光にするとともに、この走査光を対象物2に照射し、
該対象物2により反射された走査光を受光して前記対象
物の位置を検出し、その検出結果に基づき演算を行うこ
とにより追尾データを求めて前記対象物に測量機本体を
自動追尾させる自動追尾式測量機において、水平偏向素
子25,垂直偏向素子2およびレーザダイオード23の
温度を検出する温度センサ61と、この温度センサ61
が検出する検出信号に基づいて水平偏向素子25および
垂直偏向素子26による光の偏向角を補正する補正回路
53とを備えている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、光偏向素子で偏向さ
せて走査光にした該走査光を対象物に照射し、該対象物
により反射された走査光を受光して前記対象物に測量機
本体を自動追尾させる自動追尾式測量機に関する。
せて走査光にした該走査光を対象物に照射し、該対象物
により反射された走査光を受光して前記対象物に測量機
本体を自動追尾させる自動追尾式測量機に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、プリズム等の対象物のある空
間に向けて走査光を照射し、この対象物により反射され
た走査光を受光してその対象物の位置を検出し、その検
出結果に基づき演算を行うことにより追尾データを求め
てその対象物に測量機本体を自動追尾させる自動追尾式
測量機が知られている。
間に向けて走査光を照射し、この対象物により反射され
た走査光を受光してその対象物の位置を検出し、その検
出結果に基づき演算を行うことにより追尾データを求め
てその対象物に測量機本体を自動追尾させる自動追尾式
測量機が知られている。
【0003】この自動追尾式測量機は、レーザーダイオ
ードから発光されるレーザー光を音響光学素子で偏向さ
せて走査光を得ている。音響光学素子は超音波を入射し
てその超音波の周波数に応じてレーザー光を偏向させる
ものである。
ードから発光されるレーザー光を音響光学素子で偏向さ
せて走査光を得ている。音響光学素子は超音波を入射し
てその超音波の周波数に応じてレーザー光を偏向させる
ものである。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この音響光学素子によ
るレーザー光の偏向角dθは次式で決定される。
るレーザー光の偏向角dθは次式で決定される。
【0005】dθ=λ×f/V ここで、λはレーザー光の波長、fは超音波の周波数、
Vは音響光学素子の結晶内における音速である。
Vは音響光学素子の結晶内における音速である。
【0006】この音速Vは結晶内の温度によって変化し
(例えば、TeO2の単結晶の場合、211×10-6m/度
C)、レーザー光の波長λも図10に示すようにレーザ
ダイオードの温度によって変化する(図10ではレーザ
ーダイオードのケース温度と発振波長との関係を示して
ある)。このため、温度変化によって偏向角dθは異な
ることになる。
(例えば、TeO2の単結晶の場合、211×10-6m/度
C)、レーザー光の波長λも図10に示すようにレーザ
ダイオードの温度によって変化する(図10ではレーザ
ーダイオードのケース温度と発振波長との関係を示して
ある)。このため、温度変化によって偏向角dθは異な
ることになる。
【0007】対象物の位置検出は、図11に示すよう
に、走査光によって対象物のある走査領域Kを上から順
に走査していき、その対象物Mからの反射光を受光する
までの走査線Sの数Nと、反射光を受光した時点におけ
る走査線Snの走査開始時から受光するまでの時間tと
に基づいてP1点を基準にした対象物Mの位置を求め、
さらにこの求めた位置から光軸となる走査領域Kの中心
P0から対象物Mまでの水平方向および垂直方向の角度
を求める。そして、測量機本体をその求めた角度だけ水
平方向および垂直方向に回転させて中心P0と対象物M
とを一致させる。
に、走査光によって対象物のある走査領域Kを上から順
に走査していき、その対象物Mからの反射光を受光する
までの走査線Sの数Nと、反射光を受光した時点におけ
る走査線Snの走査開始時から受光するまでの時間tと
に基づいてP1点を基準にした対象物Mの位置を求め、
さらにこの求めた位置から光軸となる走査領域Kの中心
P0から対象物Mまでの水平方向および垂直方向の角度
を求める。そして、測量機本体をその求めた角度だけ水
平方向および垂直方向に回転させて中心P0と対象物M
とを一致させる。
【0008】ところで、レーザー光は音響光学素子にオ
フセットして入力しているため、高温度変化によってレ
ーザー光の偏向角dθが変化すると、走査領域Kの範囲
が変化することになる。例えば、レーザー光の偏向角d
θが大きくなると、図11の鎖線で示すように位置のず
れた走査領域K´となる。このため、反射光を受光する
までの走査線S´の数N´がNと異なる。また、反射光
を受光した時点における走査線Sn´の走査開始時から
受光するまでの時間t´もtと異なることになる。
フセットして入力しているため、高温度変化によってレ
ーザー光の偏向角dθが変化すると、走査領域Kの範囲
が変化することになる。例えば、レーザー光の偏向角d
θが大きくなると、図11の鎖線で示すように位置のず
れた走査領域K´となる。このため、反射光を受光する
までの走査線S´の数N´がNと異なる。また、反射光
を受光した時点における走査線Sn´の走査開始時から
受光するまでの時間t´もtと異なることになる。
【0009】すなわち、P1を基準にした対象物Mの位
置と、P1´を基準にしたMの位置が異なることにな
る。この結果、中心P0から対象物Mまでの水平方向お
よび垂直方向の角度が、P1を基準にした求めた場合と
P1´を基準にして求めた場合とで異なってしまう。
置と、P1´を基準にしたMの位置が異なることにな
る。この結果、中心P0から対象物Mまでの水平方向お
よび垂直方向の角度が、P1を基準にした求めた場合と
P1´を基準にして求めた場合とで異なってしまう。
【0010】したがって、測量機本体をその求めた角度
だけ水平方向および垂直方向に回転させても、レーザー
ダイオードおよび音響光学素子の温度によっては中心P
0と対象物Mとが一致しなくなる場合が生じる。つま
り、常温から大きくずれるような環境の場所で測量機を
使用すると正確に自動追尾することができなくなるとい
う問題があった。
だけ水平方向および垂直方向に回転させても、レーザー
ダイオードおよび音響光学素子の温度によっては中心P
0と対象物Mとが一致しなくなる場合が生じる。つま
り、常温から大きくずれるような環境の場所で測量機を
使用すると正確に自動追尾することができなくなるとい
う問題があった。
【0011】この発明は、上記の事情に鑑みて為された
もので、その目的は、環境温度に拘りなく常に正確に自
動追尾することのできる自動追尾式測量機を提供するこ
とにある。
もので、その目的は、環境温度に拘りなく常に正確に自
動追尾することのできる自動追尾式測量機を提供するこ
とにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】この発明は、上記目的を
達成するために、発光素子から発光される光を光偏向素
子で偏向させて走査光にするとともに、この走査光を対
象物に照射し、該対象物により反射された走査光を受光
して前記対象物の位置を検出し、その検出結果に基づき
演算を行うことにより追尾データを求めて前記対象物に
測量機本体を自動追尾させる自動追尾式測量機におい
て、前記光偏向素子および発光素子の温度を検出する温
度検出手段と、この温度検出手段が検出する検出信号に
基づいて前記偏向素子による光の偏向角を補正する補正
手段とを備えていることを特徴とする。
達成するために、発光素子から発光される光を光偏向素
子で偏向させて走査光にするとともに、この走査光を対
象物に照射し、該対象物により反射された走査光を受光
して前記対象物の位置を検出し、その検出結果に基づき
演算を行うことにより追尾データを求めて前記対象物に
測量機本体を自動追尾させる自動追尾式測量機におい
て、前記光偏向素子および発光素子の温度を検出する温
度検出手段と、この温度検出手段が検出する検出信号に
基づいて前記偏向素子による光の偏向角を補正する補正
手段とを備えていることを特徴とする。
【0013】
【作用】この発明によれば、温度検出手段が光偏向素子
および発光素子の温度を検出し、前記温度検出手段が検
出する検出信号に基づいて補正手段が偏向素子による光
の偏向角を補正する。
および発光素子の温度を検出し、前記温度検出手段が検
出する検出信号に基づいて補正手段が偏向素子による光
の偏向角を補正する。
【0014】
【実施例】以下に、この発明に係わる自動追尾式測量機
の実施例を図面に基づいて説明する。
の実施例を図面に基づいて説明する。
【0015】図1ないし図3において、1は測量台、2
は測点に設置の対象物としてのコーナーキューブであ
る。この測量台1には自動追尾してコーナーキューブ2
までの距離を測定する自動追尾式測量機3が設置されて
いる。
は測点に設置の対象物としてのコーナーキューブであ
る。この測量台1には自動追尾してコーナーキューブ2
までの距離を測定する自動追尾式測量機3が設置されて
いる。
【0016】自動追尾式測量機3は、基盤4と架台部5
と托架部6とを有する。架台部5は基盤4に対して矢印
Aで示す水平面方向に回転される。架台部5は托架部6
を有する。托架部6には水平方向に延びた回動軸7が設
けられ、回動軸7には測量機本体としての鏡筒部8が設
けられている。鏡筒部8は架台部5の回転により水平方
向に回動されると共に回動軸7の回転により矢印Bで示
す垂直方向に回転される。
と托架部6とを有する。架台部5は基盤4に対して矢印
Aで示す水平面方向に回転される。架台部5は托架部6
を有する。托架部6には水平方向に延びた回動軸7が設
けられ、回動軸7には測量機本体としての鏡筒部8が設
けられている。鏡筒部8は架台部5の回転により水平方
向に回動されると共に回動軸7の回転により矢印Bで示
す垂直方向に回転される。
【0017】鏡筒部8には測距光学系9と走査光学系1
0とが設けられている。測距光学系9は図4に概略示す
ように投光部11と受光部12とを有する。投光部11
は光源13を有する。受光部12は受光素子14を有す
る。光源13は赤外レーザー光束を出射する。その赤外
レーザー光束はビームスプリッタ15のダイクロイック
ミラー16により対物レンズ17に向けて反射され、カ
バーガラス18を介して鏡筒部8から平行光束として出
射される。赤外レーザー光束はコーナーキューブ2によ
り反射され、カバーガラス18を介して対物レンズ17
に戻り、ビームスプリッタ15のダイクロイックミラー
19により反射され、受光素子14に収束される。
0とが設けられている。測距光学系9は図4に概略示す
ように投光部11と受光部12とを有する。投光部11
は光源13を有する。受光部12は受光素子14を有す
る。光源13は赤外レーザー光束を出射する。その赤外
レーザー光束はビームスプリッタ15のダイクロイック
ミラー16により対物レンズ17に向けて反射され、カ
バーガラス18を介して鏡筒部8から平行光束として出
射される。赤外レーザー光束はコーナーキューブ2によ
り反射され、カバーガラス18を介して対物レンズ17
に戻り、ビームスプリッタ15のダイクロイックミラー
19により反射され、受光素子14に収束される。
【0018】その受光素子14の受光出力は、図5に示
す制御装置CPUの演算部に入力される。制御装置CP
Uはその受光素子14の受光出力に基づきコーナーキュ
ーブ2までの距離を演算する。70はレーザー光を発生
させるとともにこのレーザー光を偏向させて走査光にす
る発光偏向部である。
す制御装置CPUの演算部に入力される。制御装置CP
Uはその受光素子14の受光出力に基づきコーナーキュ
ーブ2までの距離を演算する。70はレーザー光を発生
させるとともにこのレーザー光を偏向させて走査光にす
る発光偏向部である。
【0019】測距光学系9は図4に示すように結像レン
ズ20、レチクル板21を有しており、可視光は、対物
レンズ17、ダイクロイックミラー16、19を通過し
て結像レンズ20に至り、レチクル板21に収束され、
測定者は接眼レンズ22を介してコーナーキューブ2を
含めて測点箇所を視認できる。
ズ20、レチクル板21を有しており、可視光は、対物
レンズ17、ダイクロイックミラー16、19を通過し
て結像レンズ20に至り、レチクル板21に収束され、
測定者は接眼レンズ22を介してコーナーキューブ2を
含めて測点箇所を視認できる。
【0020】走査光学系10は図6に示すようにレーザ
ーダイオード(発光素子)23、コリメーターレンズ2
4、水平方向偏向素子25、垂直方向偏向素子26、反
射プリズム27、28、29、対物レンズ30、カバー
ガラス18、反射プリズム32、ノイズ光除去用フィル
タ33、受光素子34を有する。レーザーダイオード2
3、コリメーターレンズ24、水平方向偏向素子25、
垂直方向偏向素子26、反射プリズム27、28、29
は投光部を大略構成している。水平方向偏向素子(光偏
向素子)25および垂直方向偏向素子(光偏向素子)2
6は音響光学素子からなる。
ーダイオード(発光素子)23、コリメーターレンズ2
4、水平方向偏向素子25、垂直方向偏向素子26、反
射プリズム27、28、29、対物レンズ30、カバー
ガラス18、反射プリズム32、ノイズ光除去用フィル
タ33、受光素子34を有する。レーザーダイオード2
3、コリメーターレンズ24、水平方向偏向素子25、
垂直方向偏向素子26、反射プリズム27、28、29
は投光部を大略構成している。水平方向偏向素子(光偏
向素子)25および垂直方向偏向素子(光偏向素子)2
6は音響光学素子からなる。
【0021】レーザーダイオード23は測距光学系9の
測距光の波長とは異なる波長の赤外レーザー光を出射す
る。その赤外レーザー光はコリメーターレンズ24によ
って平行光束とされ、水平方向偏向素子25に導かれ
る。この水平方向偏向素子25は、図7に示すように赤
外レーザー光を水平方向Hに偏向させ、垂直方向偏向素
子26は赤外レーザー光を垂直方向Vに偏向させる。
測距光の波長とは異なる波長の赤外レーザー光を出射す
る。その赤外レーザー光はコリメーターレンズ24によ
って平行光束とされ、水平方向偏向素子25に導かれ
る。この水平方向偏向素子25は、図7に示すように赤
外レーザー光を水平方向Hに偏向させ、垂直方向偏向素
子26は赤外レーザー光を垂直方向Vに偏向させる。
【0022】この偏向は、図8に示すように、発光偏向
部70の発振器51,52から出力される超音波を水平
方向偏向素子25,垂直方向偏向素子26の結晶内に入
射させるとともに超音波の周波数を変化させることによ
り行う。なお、発振器51,52およびレーザーダイオ
ードの制御は制御装置CPUが行う。
部70の発振器51,52から出力される超音波を水平
方向偏向素子25,垂直方向偏向素子26の結晶内に入
射させるとともに超音波の周波数を変化させることによ
り行う。なお、発振器51,52およびレーザーダイオ
ードの制御は制御装置CPUが行う。
【0023】水平方向偏向素子25と垂直方向偏向素子
26とレーザダイオード23とは、図9に示すようにそ
れぞれの温度が同一になるように熱伝導の大ききい例え
ば金属からなる1つの基板60に配置されている。そし
て、これら素子23,25,26の温度を検出する例えば
サーミスタなどからなる温度センサ(温度検出手段)6
1が基板60に設けられている。
26とレーザダイオード23とは、図9に示すようにそ
れぞれの温度が同一になるように熱伝導の大ききい例え
ば金属からなる1つの基板60に配置されている。そし
て、これら素子23,25,26の温度を検出する例えば
サーミスタなどからなる温度センサ(温度検出手段)6
1が基板60に設けられている。
【0024】図8に示す補正回路53は、温度センサ6
1から出力される温度信号に基づいて発信器51,52
が出力する超音波の周波数を補正する。この補正によ
り、水平方向偏向素子25および垂直方向偏向素子26
による偏向角を補正する。
1から出力される温度信号に基づいて発信器51,52
が出力する超音波の周波数を補正する。この補正によ
り、水平方向偏向素子25および垂直方向偏向素子26
による偏向角を補正する。
【0025】この補正により、レーザーダイオード23
の温変化による波長の変動と、偏向素子25,26の温
度変化による結晶内の音速の変動とを相殺させ、温度変
化による偏向角dθの変動をなくすものである。
の温変化による波長の変動と、偏向素子25,26の温
度変化による結晶内の音速の変動とを相殺させ、温度変
化による偏向角dθの変動をなくすものである。
【0026】水平方向偏向素子25,垂直方向偏向素子
26により水平方向,垂直方向に偏向された赤外レーザ
ー光は反射プリズム27に導かれ、この反射プリズム2
7により反射され、反射プリズム28、29を経由して
対物レンズ30に導かれる。対物レンズ30には貫通孔
35が対物レンズ30の光軸と同軸に形成されている。
その反射プリズム29により反射された赤外レーザービ
ームはその貫通孔35を通って測量機本体8の外部に出
射され、この赤外レーザービームによってコーナーキュ
ーブ2の探索走査が行われる。
26により水平方向,垂直方向に偏向された赤外レーザ
ー光は反射プリズム27に導かれ、この反射プリズム2
7により反射され、反射プリズム28、29を経由して
対物レンズ30に導かれる。対物レンズ30には貫通孔
35が対物レンズ30の光軸と同軸に形成されている。
その反射プリズム29により反射された赤外レーザービ
ームはその貫通孔35を通って測量機本体8の外部に出
射され、この赤外レーザービームによってコーナーキュ
ーブ2の探索走査が行われる。
【0027】探索範囲内にコーナーキューブ2がある
と、赤外レーザービームがコーナーキューブ2により反
射されて対物レンズ30に戻る。その赤外レーザービー
ムはその対物レンズ30により収束され、反射プリズム
32により反射され、ノイズ光除去用フィルター33を
通過して受光素子34に結像され、ノイズ光除去用フィ
ルター33は赤外レーザービームの波長と同一波長の光
を透過させる機能を有する。
と、赤外レーザービームがコーナーキューブ2により反
射されて対物レンズ30に戻る。その赤外レーザービー
ムはその対物レンズ30により収束され、反射プリズム
32により反射され、ノイズ光除去用フィルター33を
通過して受光素子34に結像され、ノイズ光除去用フィ
ルター33は赤外レーザービームの波長と同一波長の光
を透過させる機能を有する。
【0028】制御装置CPUは、受光素子34がコーナ
ーキューブ2からの反射光を受光すると、従来と同様に
して走査線の数や、反射光を受光した時点における走査
線の走査開始時から受光するまでの時間t(図11参
照)とに基づいて走査開始位置(図11においてP1
点)からコーナーキューブ2までの位置を求める。そし
て、この位置により走査光学系10の光軸10a(図1
1においてP0点)からコーナーキューブ2までの水平
方向および垂直方向の角度をそれぞれ求めて、その角度
だけ測量機本体を水平および垂直方向に回転させて自動
追尾させることになるが、水平方向偏向素子25,垂直
方向偏向素子26による偏向角は補正回路53によって
温度補正されている。
ーキューブ2からの反射光を受光すると、従来と同様に
して走査線の数や、反射光を受光した時点における走査
線の走査開始時から受光するまでの時間t(図11参
照)とに基づいて走査開始位置(図11においてP1
点)からコーナーキューブ2までの位置を求める。そし
て、この位置により走査光学系10の光軸10a(図1
1においてP0点)からコーナーキューブ2までの水平
方向および垂直方向の角度をそれぞれ求めて、その角度
だけ測量機本体を水平および垂直方向に回転させて自動
追尾させることになるが、水平方向偏向素子25,垂直
方向偏向素子26による偏向角は補正回路53によって
温度補正されている。
【0029】このため、温度に拘りなく走査光による走
査領域の範囲は常に一定となり、光軸10aからコーナ
ーキューブ2までの水平方向および垂直方向の角度は温
度に拘りなく常に正確に求めることができる。この結
果、レーザーダイオード23や偏向素子25,26等の
温度、すなわち環境温度に拘りなく自動追尾を正確に行
うことができることとなる。
査領域の範囲は常に一定となり、光軸10aからコーナ
ーキューブ2までの水平方向および垂直方向の角度は温
度に拘りなく常に正確に求めることができる。この結
果、レーザーダイオード23や偏向素子25,26等の
温度、すなわち環境温度に拘りなく自動追尾を正確に行
うことができることとなる。
【0030】また、レーザーダイオード23や偏向素子
25,26を一つの基板60に設けて温度が均等になる
ようにしたものであるから、温度を検出する温度センサ
は1つでよく、しかも、レーザーダイオード23の温変
化による波長の変動と、偏向素子25,26の温度変化
による結晶内の音速の変動が互いに相殺されるように超
音波の周波数を補正しているので、その補正回路53も
1つでよいこととなり、各素子23,25,26毎に温度
センサや補正回路を設ける必要がない。このため、部品
点数の増加を極力抑えることができ、安価なものとな
る。
25,26を一つの基板60に設けて温度が均等になる
ようにしたものであるから、温度を検出する温度センサ
は1つでよく、しかも、レーザーダイオード23の温変
化による波長の変動と、偏向素子25,26の温度変化
による結晶内の音速の変動が互いに相殺されるように超
音波の周波数を補正しているので、その補正回路53も
1つでよいこととなり、各素子23,25,26毎に温度
センサや補正回路を設ける必要がない。このため、部品
点数の増加を極力抑えることができ、安価なものとな
る。
【0031】
【発明の効果】この発明は、光偏向素子および発光素子
の温度を検出する温度検出手段と、この温度検出手段が
検出する検出信号に基づいて前記偏向素子による光の偏
向角を補正する補正手段とを備えているものであるか
ら、環境温度に拘りなく常に正確に自動追尾することが
できる。
の温度を検出する温度検出手段と、この温度検出手段が
検出する検出信号に基づいて前記偏向素子による光の偏
向角を補正する補正手段とを備えているものであるか
ら、環境温度に拘りなく常に正確に自動追尾することが
できる。
【0032】また、光素子と光偏向素子とをその温度が
同一となるように配置したものであるから、各素子の温
度を検出する温度検出手段は1つでよく、しかも、光素
子の温度変化による波長変動と光偏向素子の温度変化に
よる偏向角の変動を互いに相殺するように光偏向素子の
偏向角を補正すれば1つの補正手段でよく、各素子毎に
温度センサや補正手段を設ける必要がない。このため、
部品点数の増加を極力抑えることができ、安価なものに
することができる。
同一となるように配置したものであるから、各素子の温
度を検出する温度検出手段は1つでよく、しかも、光素
子の温度変化による波長変動と光偏向素子の温度変化に
よる偏向角の変動を互いに相殺するように光偏向素子の
偏向角を補正すれば1つの補正手段でよく、各素子毎に
温度センサや補正手段を設ける必要がない。このため、
部品点数の増加を極力抑えることができ、安価なものに
することができる。
【図1】この発明に係わる自動追尾式測量機の概略構成
を示す側面図である。
を示す側面図である。
【図2】この発明に係わる自動追尾式測量機の概略構成
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図3】この発明に係わる自動追尾式測量機の概略構成
を示す斜視図である。
を示す斜視図である。
【図4】図3に示す自動追尾式測量機の測距光学系の概
略構成を示す光学図である。
略構成を示す光学図である。
【図5】この発明に係わる測距光学系と走査光学系とC
PUとの関係を示すブロック図である。
PUとの関係を示すブロック図である。
【図6】図5の走査光学系の概略構成を示す光学図であ
る。
る。
【図7】レーザービームの偏向状態を示す図である。
【図8】図5の発光偏向部の構成を示したブロック図で
ある。
ある。
【図9】レーザーダイオードと水平偏向素子と垂直偏向
素子とを同一基板に配置した状態を示した側面図であ
る。
素子とを同一基板に配置した状態を示した側面図であ
る。
【図10】レーザーダイオードのケース温度とレーザー
光の波長との関係を示したグラフである。
光の波長との関係を示したグラフである。
【図11】走査領域における走査線と対象物と走査領域
中心との関係を示した説明図である。
中心との関係を示した説明図である。
2 コーナーキューブ(対象物) 23 レーザーダイオード(発光素子) 25 水平偏向素子(光偏向素子) 26 垂直偏向素子(光偏向素子) 53 補正回路(補正手段) 61 温度センサ(温度検出手段)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斎藤 政宏 東京都板橋区蓮沼町75番1号株式会社トプ コン内
Claims (2)
- 【請求項1】 発光素子から発光される光を光偏向素子
で偏向させて走査光にするとともに、この走査光を対象
物に照射し、該対象物により反射された走査光を受光し
て前記対象物の位置を検出し、その検出結果に基づき演
算を行うことにより追尾データを求めて前記対象物に測
量機本体を自動追尾させる自動追尾式測量機において、 前記光偏向素子および発光素子の温度を検出する温度検
出手段と、 この温度検出手段が検出する検出信号に基づいて前記偏
向素子による光の偏向角を補正する補正手段とを備えて
いることを特徴とする自動追尾式測量機。 - 【請求項2】 前記発光素子の温度と光偏向素子の温度
とが同一となるように前記発光素子と光偏向素子を熱導
伝性の大きい同一基板に配置したことを特徴とする請求
項1の自動追尾式測量機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09964093A JP3387964B2 (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 自動追尾式測量機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP09964093A JP3387964B2 (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 自動追尾式測量機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06307855A true JPH06307855A (ja) | 1994-11-04 |
| JP3387964B2 JP3387964B2 (ja) | 2003-03-17 |
Family
ID=14252663
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP09964093A Expired - Fee Related JP3387964B2 (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 自動追尾式測量機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3387964B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6462276B2 (en) | 2001-01-05 | 2002-10-08 | Yazaki North America | Power distribution box cover with anti-rattle feature |
| JP2013152224A (ja) * | 2011-12-23 | 2013-08-08 | Hilti Ag | 光学システム |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63231313A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-27 | Asahi Glass Co Ltd | 音響光学素子 |
| JPS6488435A (en) * | 1987-09-30 | 1989-04-03 | Kowa Co | Laser light scanner |
| JPH03282392A (ja) * | 1990-03-30 | 1991-12-12 | Topcon Corp | 光波距離計 |
| JPH04166789A (ja) * | 1990-10-30 | 1992-06-12 | Topcon Corp | 測量機 |
-
1993
- 1993-04-26 JP JP09964093A patent/JP3387964B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63231313A (ja) * | 1987-03-19 | 1988-09-27 | Asahi Glass Co Ltd | 音響光学素子 |
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| JPH03282392A (ja) * | 1990-03-30 | 1991-12-12 | Topcon Corp | 光波距離計 |
| JPH04166789A (ja) * | 1990-10-30 | 1992-06-12 | Topcon Corp | 測量機 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6462276B2 (en) | 2001-01-05 | 2002-10-08 | Yazaki North America | Power distribution box cover with anti-rattle feature |
| JP2013152224A (ja) * | 2011-12-23 | 2013-08-08 | Hilti Ag | 光学システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3387964B2 (ja) | 2003-03-17 |
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