JPH06308250A - 放射線検出器 - Google Patents
放射線検出器Info
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- JPH06308250A JPH06308250A JP12194993A JP12194993A JPH06308250A JP H06308250 A JPH06308250 A JP H06308250A JP 12194993 A JP12194993 A JP 12194993A JP 12194993 A JP12194993 A JP 12194993A JP H06308250 A JPH06308250 A JP H06308250A
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B14/00—Use of inorganic materials as fillers, e.g. pigments, for mortars, concrete or artificial stone; Treatment of inorganic materials specially adapted to enhance their filling properties in mortars, concrete or artificial stone
- C04B14/02—Granular materials, e.g. microballoons
- C04B14/04—Silica-rich materials; Silicates
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 簡単な処理で放射線の強度を低下させずに可
視光の遮光を行って、高精度の放射線測定が可能な放射
線測定器を低製造コストで提供する。 【構成】 放射線を検出して電気信号を出力するセンサ
１と、このセンサ１からの前記電気信号を増幅し波形整
形するオペアンプ３、１０を含む増幅器Ｃからなる放射
線検出器において、センサ１には、遮光絶縁性の塗料が
全面に塗布されて薄膜層Ｄが形成されている。 【効果】 可視光に基づくノイズの影響を受けずに放射
線を高精度で測定することが可能になる。
視光の遮光を行って、高精度の放射線測定が可能な放射
線測定器を低製造コストで提供する。 【構成】 放射線を検出して電気信号を出力するセンサ
１と、このセンサ１からの前記電気信号を増幅し波形整
形するオペアンプ３、１０を含む増幅器Ｃからなる放射
線検出器において、センサ１には、遮光絶縁性の塗料が
全面に塗布されて薄膜層Ｄが形成されている。 【効果】 可視光に基づくノイズの影響を受けずに放射
線を高精度で測定することが可能になる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、放射線検出器に係り、
特に可視光線を遮断して高精度の放射線測定を行う放射
線検出器に関する。
特に可視光線を遮断して高精度の放射線測定を行う放射
線検出器に関する。
【０００２】
【従来の技術】ガンマ線、Ｘ線さらには中性子線などの
放射線を検出し、放射線のエネルギに応じた電気信号を
出力する放射線検出器のセンサとしては、広い波長範囲
の放射線に感度のよい例えばシリコンフォトダイオード
が使用されている。このシリコンフォトダイオードをセ
ンサに使用した放射線検出器では、可視光線からセンサ
を遮断して、放射線側定時のノイズを減少し目的とする
放射線の検出を高精度で行うことが必要である。このた
めに、従来の放射線検出器では、センサであるシリコン
フォトダイオードの全面を遮光性のアルミホイールで覆
った構造にしてある。
放射線を検出し、放射線のエネルギに応じた電気信号を
出力する放射線検出器のセンサとしては、広い波長範囲
の放射線に感度のよい例えばシリコンフォトダイオード
が使用されている。このシリコンフォトダイオードをセ
ンサに使用した放射線検出器では、可視光線からセンサ
を遮断して、放射線側定時のノイズを減少し目的とする
放射線の検出を高精度で行うことが必要である。このた
めに、従来の放射線検出器では、センサであるシリコン
フォトダイオードの全面を遮光性のアルミホイールで覆
った構造にしてある。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】前述の従来の放射線検
出器では、アルミホイールの厚みの設定が難しく、アル
ミホイールが薄すぎると遮光効果が低下し、検出電気信
号に可視光に基づくノイズが混入して高精度の放射線の
測定が困難になる。一方、アルミホイールが厚過ぎる
と、可視光は遮断されるがエネルギの低い放射線の測定
強度が低下して精度のよい測定を行うことができなくな
る。このため、ほぼ満足できる厚みをアルミホイールに
設定した状態で、より高精度の放射線測定を行おうとす
ると、複雑な回路を設けて可視光などに基づくノイズを
遮断することが必要で、放射線検出器自体が大型化し製
造コストの面でも問題があった。
出器では、アルミホイールの厚みの設定が難しく、アル
ミホイールが薄すぎると遮光効果が低下し、検出電気信
号に可視光に基づくノイズが混入して高精度の放射線の
測定が困難になる。一方、アルミホイールが厚過ぎる
と、可視光は遮断されるがエネルギの低い放射線の測定
強度が低下して精度のよい測定を行うことができなくな
る。このため、ほぼ満足できる厚みをアルミホイールに
設定した状態で、より高精度の放射線測定を行おうとす
ると、複雑な回路を設けて可視光などに基づくノイズを
遮断することが必要で、放射線検出器自体が大型化し製
造コストの面でも問題があった。
【０００４】本発明は、前述の従来の放射線測定器の現
状に鑑みてなされたものであり、その目的は、簡単な処
理で放射線の強度を低下させずに可視光の遮光を行っ
て、高精度の放射線測定が可能な放射線測定器を提供す
ることにある。
状に鑑みてなされたものであり、その目的は、簡単な処
理で放射線の強度を低下させずに可視光の遮光を行っ
て、高精度の放射線測定が可能な放射線測定器を提供す
ることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】前記目的は、放射線を検
出して電気信号を出力するセンサと、このセンサからの
前記電気信号を増幅し波形整形する増幅器とからなる放
射線検出器において、前記センサを、遮光絶縁性の塗料
が全面に塗布された構成とすることにより実現される。
特に、前記塗料が膜厚数１０μｍで塗布された構成にす
ると、前記目的の実現に効果的である。
出して電気信号を出力するセンサと、このセンサからの
前記電気信号を増幅し波形整形する増幅器とからなる放
射線検出器において、前記センサを、遮光絶縁性の塗料
が全面に塗布された構成とすることにより実現される。
特に、前記塗料が膜厚数１０μｍで塗布された構成にす
ると、前記目的の実現に効果的である。
【０００６】
【作用】このように構成すると、センサの全面を覆って
薄膜状に塗布されている遮光絶縁性の塗料によって、セ
ンサに入射する可視光は完全に遮光されるが、センサに
入射する放射線には殆ど減衰は生じない。このために、
放射線の測定が可視光によるノイズの影響を受けずに精
度よく行われる。
薄膜状に塗布されている遮光絶縁性の塗料によって、セ
ンサに入射する可視光は完全に遮光されるが、センサに
入射する放射線には殆ど減衰は生じない。このために、
放射線の測定が可視光によるノイズの影響を受けずに精
度よく行われる。
【０００７】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図３を参
照して説明する。ここで、図１は実施例の構成を示す回
路図、図２及び図３は実施例のセンサの製造の説明図で
ある。
照して説明する。ここで、図１は実施例の構成を示す回
路図、図２及び図３は実施例のセンサの製造の説明図で
ある。
【０００８】図１に示すように、実施例ではセンサ１と
してシリコンフォトダイオードが使用され、その全表面
に数１０μｍの厚みで遮光絶縁性塗料として、黒色のエ
ナメルを塗布して薄膜層Ｄを形成してある。センサ１の
陽極側はオペアンプ３の反転入力端子に接続してあり、
陰極側にはバイアス電圧が印加してある。このオペアン
プ３の非反転入力端子はアースされ、出力端子と反転入
力端子間には、コンデンサ５（容量２Ｐ）と抵抗６（抵
抗値１０Ｍ）とが、互いに並列に接続してある。
してシリコンフォトダイオードが使用され、その全表面
に数１０μｍの厚みで遮光絶縁性塗料として、黒色のエ
ナメルを塗布して薄膜層Ｄを形成してある。センサ１の
陽極側はオペアンプ３の反転入力端子に接続してあり、
陰極側にはバイアス電圧が印加してある。このオペアン
プ３の非反転入力端子はアースされ、出力端子と反転入
力端子間には、コンデンサ５（容量２Ｐ）と抵抗６（抵
抗値１０Ｍ）とが、互いに並列に接続してある。
【０００９】オペアンプ３の出力端子には、コンデンサ
７（容量１００Ｐ）及び抵抗８（抵抗値１０ｋ）の直列
接続回路を介してオペアンプ１０の反転入力端子が接続
してあり、このオペアンプ１０の出力端子と反転入力端
子間には抵抗１１（抵抗値１００ｋ）が接続してあり、
非反転入力端子はアースしてある。
７（容量１００Ｐ）及び抵抗８（抵抗値１０ｋ）の直列
接続回路を介してオペアンプ１０の反転入力端子が接続
してあり、このオペアンプ１０の出力端子と反転入力端
子間には抵抗１１（抵抗値１００ｋ）が接続してあり、
非反転入力端子はアースしてある。
【００１０】センサ１として使用されるシリコンフォト
ダイオードの全表面に黒色のエナメルを塗布するには、
図２に示すようにセンサ１の出力端子１ａ、１ｂに、合
成樹脂性のチューブ１５をその両端部からそれぞれ覆い
被せるように挿嵌する。そして、チューブ１５を挿嵌し
てセンサ１を、黒色エナメル１７を充填した容器１６内
に入れて、全面に当該エナメルを行き渡らせ、所定時間
後に取出し暗室内で乾燥する。
ダイオードの全表面に黒色のエナメルを塗布するには、
図２に示すようにセンサ１の出力端子１ａ、１ｂに、合
成樹脂性のチューブ１５をその両端部からそれぞれ覆い
被せるように挿嵌する。そして、チューブ１５を挿嵌し
てセンサ１を、黒色エナメル１７を充填した容器１６内
に入れて、全面に当該エナメルを行き渡らせ、所定時間
後に取出し暗室内で乾燥する。
【００１１】実施例のセンサ１と増幅器Ｃからなる放射
線測定器Ａで放射線を測定すると、可視光は薄膜層Ｄで
完全に遮光されるが、放射線は薄膜層Ｄで殆ど減衰する
ことなくセンサ１に達し、放射線のエネルギに対応した
電流がセンサ１に流れ、この電流に基づく電気信号が、
オペアンプ３、１０で増幅され波形整形されて、増幅器
Ａからは波高値ｅ０の検出電気信号が出力され、可視光
のノイズの影響を受けずに放射線を高精度で測定するこ
とができる。発明者等の実測によると、センサ１に厚み
数１０μｍで薄膜層Ｄを形成すると、可視光をほぼ完全
に遮断し放射線を殆ど減衰させずに、高精度の放射線測
定が可能であった。
線測定器Ａで放射線を測定すると、可視光は薄膜層Ｄで
完全に遮光されるが、放射線は薄膜層Ｄで殆ど減衰する
ことなくセンサ１に達し、放射線のエネルギに対応した
電流がセンサ１に流れ、この電流に基づく電気信号が、
オペアンプ３、１０で増幅され波形整形されて、増幅器
Ａからは波高値ｅ０の検出電気信号が出力され、可視光
のノイズの影響を受けずに放射線を高精度で測定するこ
とができる。発明者等の実測によると、センサ１に厚み
数１０μｍで薄膜層Ｄを形成すると、可視光をほぼ完全
に遮断し放射線を殆ど減衰させずに、高精度の放射線測
定が可能であった。
【００１２】実施例では、図２及び図３に示すように、
極めて簡単にセンサ１に薄膜層Ｄを形成することができ
るので、製造面での問題が解決され、可視光を遮断して
ノイズの悪影響を受けずに、放射線を高精度で測定可能
な放射線測定器が低製造コストで提供可能になる。
極めて簡単にセンサ１に薄膜層Ｄを形成することができ
るので、製造面での問題が解決され、可視光を遮断して
ノイズの悪影響を受けずに、放射線を高精度で測定可能
な放射線測定器が低製造コストで提供可能になる。
【００１３】
【発明の効果】本発明によると、放射線検出用のセンサ
の全面に、遮光絶縁性の塗料を塗布する簡単な処理を施
すことにより、可視光によるノイズの影響を受けずに放
射線の測定を精度よく行うことが可能な放射線測定器を
低製造コストで提供することができる。
の全面に、遮光絶縁性の塗料を塗布する簡単な処理を施
すことにより、可視光によるノイズの影響を受けずに放
射線の測定を精度よく行うことが可能な放射線測定器を
低製造コストで提供することができる。
【図１】本発明の一実施例の構成を示す回路図である。
【図２】本発明の一実施例でのセンサへの薄膜層生成の
準備工程の説明図である。
準備工程の説明図である。
【図３】本発明の一実施例でのセンサへの薄膜層生成工
程の説明図である。
程の説明図である。
１ センサ ３、１０ オペアンプ ５、７ コンデンサ ６、８、１１ 抵抗 １５ チューブ １６ 容器 １７ 黒色エナメル
Claims (2)
- 【請求項１】 放射線を検出して電気信号を出力するセ
ンサと、このセンサからの前記電気信号を増幅し波形整
形する増幅器とからなる放射線検出器において、前記セ
ンサには、遮光絶縁性の塗料が全面に塗布されているこ
とを特徴とする放射線検出器。 - 【請求項２】 前記塗料が膜厚数１０μｍで塗布されて
いることを特徴とする請求項１に記載の放射線検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12194993A JPH06308250A (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 放射線検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12194993A JPH06308250A (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 放射線検出器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06308250A true JPH06308250A (ja) | 1994-11-04 |
Family
ID=14823912
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12194993A Pending JPH06308250A (ja) | 1993-04-26 | 1993-04-26 | 放射線検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06308250A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2019117272A1 (ja) * | 2017-12-15 | 2020-12-17 | 株式会社堀場製作所 | シリコンドリフト型放射線検出素子、シリコンドリフト型放射線検出器及び放射線検出装置 |
| JP2023177829A (ja) * | 2022-06-03 | 2023-12-14 | 国立大学法人京都大学 | 電流電圧変換器、及び、検出器 |
-
1993
- 1993-04-26 JP JP12194993A patent/JPH06308250A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPWO2019117272A1 (ja) * | 2017-12-15 | 2020-12-17 | 株式会社堀場製作所 | シリコンドリフト型放射線検出素子、シリコンドリフト型放射線検出器及び放射線検出装置 |
| JP2023177829A (ja) * | 2022-06-03 | 2023-12-14 | 国立大学法人京都大学 | 電流電圧変換器、及び、検出器 |
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