JPH06309678A - アクセス制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 情報記録媒体上にゴミ等が存在したり、光ビ
ームと情報記録媒体との相対的速度が変動する場合にお
いても、これらに殆ど影響されずにトラックの横断数を
誤り無く計数できるアクセス制御装置を提供すること。 【構成】 トラックが延在する方向の複数箇所にスリッ
ト状に照射された光ビームの反射光を、複数の異なる位
置に配置した受光素子で受光し、複数のトラッキング誤
差信号ＴＥ１〜ＴＥ３を生成し、複数のトラッキング誤
差信号ＴＥ１〜ＴＥ３を２値化したトラック横断信号Ｔ
ＥＺ１〜ＴＥＺ３をカウンタ４４−１〜４４−３でそれ
ぞれ計数し、コンパレータ４５−１〜４５−３でそれぞ
れ設定値Ｎと一致するか否かを比較し、これら複数のコ
ンパレータ４５−１〜４５−３の出力結果に基づいて、
２つ以上の一致信号が検出される場合にゴミ等に影響さ
れないでトラッック横断数を計数できたと判断してトラ
ッキングサーボ引き込みを行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は複数の異なった位置に配
置した受光素子により生成した複数のトラッキング誤差
信号を用いて目標トラックにアクサスするアクセス制御
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】本発明は、光学式情報記録媒体の目標ト
ラックに記録／再生用光ビームを高速に位置決めさせる
シーク動作に係わり、特にカード状の記録媒体（以後、
光カードと称す。）に情報を光学的に記録及び／又は再
生する際に有効である。

【０００３】光ディスク装置や光カード装置における目
標トラックの検索（シーク）動作には、粗シークと精シ
ークを二段階に分けて行う方式と、ダイレクトアクセス
方式と呼ばれるものがある。

【０００４】二段階シーク方式では、記録再生用の光学
ヘッドをリニアモータ等の粗シーク機構により、光学式
リニアスケール等を用いて目標トラック近傍に概略位置
決めする。整定後、トラッキング制御を行い、その位置
でのトラックアドレスを読み取って目標トラックとのず
れを求め、目標トラックとのずれを補正するために光学
ヘッドに搭載された対物レンズやガルバノミラー等の精
シーク機構により、トラックジャンプを繰り返して記録
／再生用光ビームを目標トラックに位置決めさせる。

【０００５】これに対してダイレクトアクセス方式で
は、トラックを横断する毎にトラック誤差信号から生成
されるトラック横断信号のパルス数を計数し、記録／再
生用光ビームを目標トラックに位置決めさせるもので、
現在位置と目標位置より目標移動トラック数が与えられ
てシーク動作が開始されると、記録／再生用光ビームの
移動に伴ってトラック横断信号が計数されて行き、計数
値が目標移動トラック数と一致した時点でシーク動作が
終了する。

【０００６】更に、二段階シーク方式による粗シークの
整定完了までの時間を低減させるために、整定が完了す
るまでに移動する距離に相当するトラック数だけを精シ
ーク機構によるダイレクトアクセス方式を同時に併用し
てシーク動作を行わせるものも提案されている。従っ
て、高速シーク動作を可能にするためには、トラック横
断信号を誤り無くしかも高速に計数して行くことが必要
となる。

【０００７】しかしながら、記録媒体上にゴミ、傷、欠
陥等が存在すると記録／再生用光ビームが移動してもこ
れらの部分ではトラック横断信号が得られなくなり正し
いシーク動作が行えないという欠点があった。この問題
を解決するために特公平４−５０６７６では、欠陥等に
よりトラック横断信号が検知されなかった場合の補償と
して疑似検知信号を発生させ、この信号を発生させるた
めの設定時間をトラック横断信号の検知間隔の変化に応
じて補正する方法が提案されている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら従来のト
ラック検索においては、ゴミ、傷、欠陥等が大きくトラ
ック横断信号が実際に発生されない期間が長くなると、
疑似検知信号だけによる計数では累積誤差が大きくない
り、目標移動トラック数とに誤差を生じてしまうという
問題がある。

【０００９】更に、擬似検知信号を発生させる設定時間
をトラック横断信号の検知間隔に基づいているので、記
録／再生用光ビームと記録媒体の相対的な速度変動を一
定値以下にする必要があり、機構が複雑になって装置の
大きさ、価格に影響してしまう。

【００１０】本発明はかかる問題点に鑑みて成されたも
ので、情報記録媒体上にゴミ、傷、欠陥等が存在した
り、記録／再生用光ビームと情報記録媒体との相対的速
度が変動する場合においても、これらに殆ど影響されず
にトラックの横断数を誤り無く計数可能として、正確に
しかも高速なシーク動作を行うことのできるアクセス制
御装置を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明では、光源からの光ビームをスポット形成手段
によってトラックが延在する方向へスリット状に複数分
割し、該スポットを対物レンズを経て光記録媒体上の複
数のトラックに亘って投射させて、複数のトラックに記
録されている情報を並行して読み出すようにしたアクセ
ス制御装置において、前記複数に分割された光スポット
を受光する光検出器上にトラックの延在する方向及び垂
直方向にそれぞれ複数の受光素子を配して複数の異なっ
た位置でトラッキング誤差信号を生成するトラッキング
誤差信号検出手段と、該トラッキング誤差信号に基づい
てトラックの横断信号を出力するトラック横断信号発生
手段と、前記複数のトラック横断信号をそれぞれ計数す
る計数手段と、前記計数手段の出力が一致したか否かを
それぞれ比較する複数の比較手段とを具え、前記複数の
比較手段の出力の判断結果で目標トラックへのアクセス
を行う構成にしている。

【００１２】

【作用】上記構成により、複数の比較手段の出力に基づ
いて目標トラックへのアクセスを行うので、アクセス中
にゴミ等が存在しても、異なる位置に配置した（殆どの
場合）ゴミ等に影響されない受光素子で形成したトラッ
ク横断信号を用いて目標トラックへのアクセスを行うこ
とが可能になる。また、トラック横断信号の速度が変化
してもそれに影響されないで、トラック横断数を誤り無
く計数できる。

【００１３】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図１ないし図７は本発明の第１実施例に係
り、図１はアクセス装置の全体構成図、図２は光カード
上に投射された光ビームスポットの位置を示す図、図３
は光ビームスポットの結像状態と光検出器の構成を示す
図、図４は各種の検出信号生成回路図、図５はアクセス
回路におけるトラック横断検出の回路構成図、図６は図
５を説明するための真理値表、図７は第１実施例の変形
例におけるアクセス制御回路の主要部の回路構成図であ
る。

【００１４】図１は本発明の第１実施例のアクセス制御
装置２０の全体構成を示し、図示しないカード駆動モー
タでトラックの延在方向に移動される光カード１に対向
して光学ヘッド２が配置され、この光学ヘッド２はヘッ
ド駆動モータ３によって、トラックの延在方向と直交す
る方向に移動されるようになっている。

【００１５】このヘッド駆動モータ３はアクセス動作の
制御を行うアクセス制御回路４によりその移動動作が制
御される。例えば、上位コントローラ５からアクセス制
御回路４に対し、目標トラックにアクセスする指示値Ｎ
が設定されると、アクセス制御回路４はヘッド駆動モー
タ３を動作状態にして光学ヘッド２を移動させるように
なっている。この光学ヘッド２の移動により、トラック
の横断に応じて光学ヘッド２から出力される信号はアク
セス制御回路４に入力され、アクセス制御回路４はこの
入力信号を判断して目標トラックへのアクセス制御を行
う。

【００１６】図１に示すように光学ヘッド２内には、情
報の記録用光源である半導体レーザ６ａが収納され、こ
の半導体レーザ６ａから発した光ビームはコリメータレ
ンズ７ａでほぼ楕円形の平行ビームとなる。更にこの平
行ビームは整形プリズム８ａにおいて楕円形の長軸方向
成分のみが縮小されてほぼ円形に整形された後、円形の
絞り９ａによって記録媒体上スポットサイズが所定の大
きさになるように平行ビーム径が絞られ、偏光ビームス
プリッタ１０に入射する。

【００１７】この記録用の円形ビームは半導体レーザ６
ａの性質によりほぼＳ偏光成分からなっているため、ビ
ームのほとんどが偏光ビームスプリッタ１０の反射面で
反射されて対物レンズ１１の光軸上に入射する。対物レ
ンズ１１によって集光された光は光カード１の記録媒体
上に円形スポットを形成して局所的にエネルギー密度を
高め、光カード１の記録層に熱的不可逆変化を生じさせ
て記録ピットを形成する。

【００１８】一方、別個に情報の再生用光源として設け
た半導体レーザ６ｂから発した光ビームはコリメータレ
ンズ７ｂを通過してほぼ楕円形の平行ビームとなり、整
形プリズム８ｂで楕円形の短軸方向成分のみが拡大され
てほぼ円形に整形される。この円形ビームは更に、円形
の絞り９ｂによって記録媒体上でスポットサイズが所定
の大きさになるように平行ビーム径が絞られ、平凹シリ
ンドリカルレンズ１３に入射する。

【００１９】この光ビームは、平凹シリンドリカルレン
ズ１３によって光軸に対して垂直面内の一方向のみが屈
折作用を受け、その方向に僅かに発散するビームとな
り、更に、回析格子１４で０次回折光及び２本の±１次
回折光に分割される。この時、シリンドリカルレンズ１
３と回折格子１４とは、シリンドリカルレンズ１３によ
る光ビームの発散方向と、回折格子１４による回折方向
とがほぼ直交するような位置に配置させる。

【００２０】回折格子１４によって分割された３本の光
ビームは、半導体レーザ６ｂの性質によりほぼＰ偏光成
分からなっているため、ほとんどの成分が偏光ビームス
プリッタ１０を透過して対物レンズ１１によって集光さ
れ、光カード１の記録媒体上に３つのスポットを形成す
る。もともとシリンドリカルレンズ１３によって発散さ
れているため、光カード１の記録媒体上に形成される各
光ビームスポットも発散方向に拡大されて形成されるこ
とになる。

【００２１】図２は光カード１上に形成された記録用光
ビームスポット２５と、再生用光ビームの０次回折光に
よるスポット２６ａ及び±１次回折光によるスポット２
６ｂ，２６ｃの位置関係を示したもので、再生用ビーム
スポット間隔はそれぞれ数１０μｍ程度にしている。

【００２２】これらのビームスポットは、記録用ビーム
スポット２５が再生用ビームの０次回折光によるスポッ
ト２６ａと、±１次回折光によるスポット２６ｂ，２６
ｃのどちらか一方との間に位置するように配置する。こ
の配置は、光学ヘッド２の組立調整時に、対物レンズ１
１へ入射する前の記録用光ビームの光軸と再生用光ビー
ムの光軸との間に相対的な角度差を与えることによって
調整する。

【００２３】光カード１上における再生用光ビームスポ
ット２６ａ，２６ｂ，２６ｃの拡大される方向がトラッ
ク２１の延在する方向（以後、トラック方向とする）に
ほぼ直交するようにシリンドリカルレンズ１３を配設し
ているため、複数にまたがるデータトラック２２の情報
を同時に再生することができる。

【００２４】再生用光ビームの回折光によるスポット２
６ａ，２６ｂ，２６ｃは、光カード１上のトラックガイ
ド２３とピット２４の有無によって光量変調をかけられ
た状態で光カード上１で正反射される。これらの反射光
は、図１における対物レンズ１１を逆方向に通過して、
ほぼ平行光状態で偏光ビームスプリッタ１０に導かれ
る。

【００２５】これらの反射光は、光カード１上で正反射
されているため、ほぼＰ偏光を保持しており、殆どの成
分が偏光ビームスプリッタ１０を透過して反射ミラー１
５に導かれ、反射ミラー１５で反射された後、結像レン
ズ１６で集光され、光検出器１７の受光面に入射して、
前記スポットの像を拡大投影する。又、対物レンズ１１
はフォーカスコイル１８及びトラッキングコイル１９に
より光軸方向及びトラック幅方向に駆動され、前記スポ
ット２６ａ，２６ｂ，２６ｃの位置制御が行われる。

【００２６】図３は光検出器１７上に配置された各受光
素子を示すもので、記録用光ビームのスポット像２９及
び再生用光ビームの０次回折光と±１次回折光によるス
ポット像３０ａ，３０ｂ，３０ｃが結像されている。

【００２７】再生用光ビームの回折光によるスポット２
６ａ，２６ｂ，２６ｃを２〜１０倍程度に拡大投影した
像３０ａ，３０ｂ，３０ｃがトラックずれ及びフォーカ
スずれの無い状態で、各受光素子上の適正な位置に結像
した場合、スポット像３０ａが形成される位置には再生
信号用受光素子１７−Ｒ１〜１７−Ｒ８、トラッキング
用受光素子１７−Ｔ３，１７−Ｔ４，１７−Ｔ７，１７
−Ｔ８，１７−Ｔ９，１７−Ｔ１０、及びフォーカス用
受光素子１７−Ｆ１，１７−Ｆ２が配置される。

【００２８】又、スポット像３０ｂが形成される位置に
は再生用受光素子１７−Ｒ０及びトラッキング用受光素
子１７−Ｔ１，１７−Ｔ２が配置され、スポット像３０
ｃが形成される位置にはトラッキング用受光素子１７−
Ｔ５，１７−Ｔ６が配置される。

【００２９】フォーカス検出は再生用光ビーム２６ａを
対物レンズ１１に対して光軸から偏心した位置に入射さ
せ、２分割したフォーカス用受光素子１７−Ｆ１、１７
−Ｆ２を配置してデフォーカス状態における再生用光ビ
ームのスポット像３０ａの移動を受光量の変化として検
出する、いわゆる軸はずし方式で行われる。

【００３０】ここで、フォーカス用受光素子１７−Ｆ
１、１７−Ｆ２の出力をそれぞれｆ1、ｆ2とすると、フ
ォーカス誤差（FE）信号は、 FE＝ｆ1−ｆ2 で与えられる。

【００３１】トラッキング検出はトラックずれによるト
ラックガイドの像２７の位置変化を受光量の変化として
検出しトラッキング誤差信号を生成させて行う。ここ
で、トラッキング用受光素子１７−Ｔ１〜１７−Ｔ１０
の出力を各々ｔ1〜ｔ10とすると、トラッキング誤差（T
E1〜TE5）信号は、ＴＥ１＝ｔ1−ｔ2、ＴＥ２＝ｔ3−ｔ
4、ＴＥ３＝ｔ5−ｔ6、ＴＥ４＝ｔ7−ｔ8、ＴＥ５＝ｔ9
−ｔ10で与えられる。

【００３２】再生信号用受光素子１７−Ｒ１〜１７−Ｒ
８は、トラック８本分についてのピット２８の有無を光
量の変化より検出して再生信号を出力する。又、記録用
ビームスポット２５によって形成されたピット２９は、
光カード１の移動方向（順／逆）に対応した再生信号用
受光素子１７−Ｒ０（逆）又は１７−Ｒ５（順）を選択
して記録直後の情報を再生し記録の良否を直ちにチェッ
クする、いわゆるベリファイ動作を行うことができる。

【００３３】図４はトラック方向及びトラックと垂直な
方向に配置された各受光素子により、各種の検出信号を
生成させる回路構成を示したものである。トラッキング
用受光素子１７−Ｔ１〜１７−Ｔ１０からの出力はＩ−
Ｖ変換回路４０−１〜４０−１０で電流／電圧変換され
て差動増幅器４１−１〜４１−５及び加算器４２−１〜
４２−５に供給され、トラッキング誤差信号ＴＥ１（３
１−１）〜ＴＥ５（３１−５）及びトラック和信号ＴＳ
ＵＭ１（３３−１）〜ＴＳＵＭ５（３３−５）を出力す
る。

【００３４】更に、差動増幅器４１−１〜４１−５の出
力はコンパレータ４３−１〜４３−５にも供給されて回
路の動作点ＶNを閾値として比較され、トラッキング・
ゼロクロス（トラック横断）信号ＴＥＺ１（３２−１）
〜ＴＥＺ５（３２−５）を出力する。

【００３５】再生信号用受光素子１７−Ｒ０〜１７−Ｒ
８の出力はＩ−Ｖ変換回路３７−０〜３７−８で電流／
電圧変換されて増幅器３８−０〜３８−８に供給され、
所定の利得を得て、再生信号ＲＦ−０（３４−０）〜Ｒ
Ｆ８（３４−８）を出力する。更に、増幅器３８−０〜
３８−８の出力はコンパレータ３９−０〜３９−８にも
供給されてＶTHを閾値として比較され、ＲＦ２値化信号
ＷＡ0（３５−０）〜ＷＡ8（３５−８）を出力する。

【００３６】尚、図４で生成されたトラッキング誤差信
号ＴＥ（３１）、トラック横断信号ＴＥＺ（３２）、ト
ラック和信号ＴＳＵＭ（３３）、再生信号ＲＦ（３４）
及びＲＦ２値化信号ＷＡ（３５）は特に断りがない限
り、以後の実施例でも同一の符号を付けて適用するもの
とする。

【００３７】なお、第１実施例ではトラッキング用受光
素子１７−Ｔ７及び１７−Ｔ８、１７−Ｔ９及び１７−
Ｔ１０を使用しない（このため、次の図５からも分かる
ようにトラック横断信号ＴＥＺ４（３２ー４）及びＴＥ
Ｚ５（３２ー５）を使用しない）。

【００３８】図５は本発明の第１実施例におけるアクセ
ス制御回路４の主要部の構成を示す。本実施例はトラッ
ク横断を異なる位置に配置した複数の受光素子で検出
し、それらの出力に基づいてトラッキングサーボ引き込
みによる目標トラックへのアクセスを行う所に特徴があ
る。

【００３９】つまり本実施例ではトラック方向及びトラ
ックと垂直な方向に複数の異なった位置で生成されるト
ラッキング誤差信号に基づいてトラック横断信号を出力
し、これ等のトラック横断信号をそれぞれ計数及び計数
した計数値を設定値と比較し、複数の比較出力に基づい
てシーク動作（アクセス動作）を確実に行わせるもので
ある。

【００４０】このように異なった位置に配置した複数の
受光素子を用いて形成した複数のトラック横断信号を用
いることにより、媒体上にゴミ等が存在する場合に対し
ても、その影響を受けない受光素子が殆どの場合存在す
るので、これら複数のトラック横断信号の計数結果か
ら、ゴミ等の影響を受けないで計数されたものと考えら
れる場合にトラッキングサーボ引き込みを行い、目標ト
ラックにアクセスするものである。

【００４１】図５において、８チャンネル・アナログマ
ルチプレクサ４６のアナログ入力端子０、３、５、６に
は回路の動作点ＶN、入力端子１及び４、入力端子２、
入力端子７には（再生用光ビームの０次回折光と±１次
回折光によるスポット像３０ａ，３０ｂ，３０ｃが形成
される位置に配置されたトラッキング用受光素子１７−
Ｔ１，１７−Ｔ２，１７−Ｔ３，１７−Ｔ４，１７−Ｔ
５，１７−Ｔ６の出力で生成される）トラッキング誤差
信号ＴＥ１（３１−１）、トラッキング誤差信号ＴＥ３
（３１−３）、ＴＥ２（３１−２）がそれぞれ供給され
る。

【００４２】任意のＴＥｎ信号（ｎ＝１，２，３）又は
回路の動作点ＶNの内の１つがアナログマルチプレクサ
４６のＣＯＭ端子で選択出力され、増幅器４７で所定の
利得を得た後にアナログスイッチ４８に供給され、その
出力はトラッキングサーボ系の安定度を補償する位相補
償回路４９を経て電力増幅器５０に供給され、トラッキ
ングコイル１９を駆動制御する。

【００４３】トラック・ゼロクロス（トラック横断）信
号ＴＥＺ１（３２−１）〜ＴＥＺ３（３２−３）はカウ
ンタ４４−１〜４４−３のクロック入力端子にそれぞれ
入力され、各バイナリィ出力Ｑｎはデジタルコンパレー
タ４５−１〜４５−３の一方の比較入力端子Ｐに出力さ
れると共に、他方の比較入力端子Ｑにはコントローラ５
（図１参照）からの設定値Ｎが入力される。

【００４４】デジタルコンパレータ４５−１と４５−
２、４５−２と４５−３及び４５−１と４５−３の一致
出力（Ｐ＝Ｑ端子出力）はＡＮＤゲート５１−１、５１
−２及び５１−３にそれぞれ入力され、ＡＮＤゲート５
１−１、５１−２及び５１−３の各出力Ｓ0（５９−
１）、Ｓ1（５９−２）及びＳ2（５９−３）はアナログ
マルチプレクサ４６の制御端子Ａ、Ｂ及びＣにそれぞれ
印加される。

【００４５】なお、カウンタ４４−１〜４４−３はクリ
ア端子−ＣＬＲにクリア信号−ＣＬＲが印加されるとク
リア（リセット）される。また、カウンタ４４−１〜４
４−３及びコンパレータ４５−１〜４５−３はイネーブ
ル端子ＥＮにイネーブル信号が印加されると動作状態と
なる。

【００４６】また、ＡＮＤゲート５１−１、５１−２及
び５１−３の出力Ｓ0（５９−１）、Ｓ1（５９−２）及
びＳ2（５９−３）はオアゲート５７を通して信号ＴＯ
Ｎ３６となり、この信号ＴＯＮ３６はアナログスイッチ
４８の制御端子に入力されてトラッキングサーボ系の開
閉を行う。尚、点線で囲んだ部分５８はメモリを含むマ
イクロコンピュータ等で置き換えても良い。

【００４７】係る構成におけるトラック横断の計数方法
を図６の真理値表を参照して説明する。光学ヘッド２の
現在位置と目標位置により目標移動トラック数を算出
し、デジタルコンパレータ４５に設定値Ｎが与えられて
シーク動作が開始される。シーク動作に伴い複数のトラ
ック横断信号３２（３２ー１、３２ー２、３２ー３を代
表している。他の場合にも同様に用いる。）がカウンタ
４４に出力されてトラック横断数が計数されると共に、
複数のトラッキング誤差信号３１がアナログマルチプレ
クサ４６に供給される。

【００４８】１．光カード１の記録面にゴミ、傷、欠陥
等がない場合 各トラック横断信号３２が正常に出力されてカウンタ４
５で計数されて行き、目標トラックで設定値Ｎと各計数
値が等しくなるとデジタルコンパレータ４５の一致出力
が全て出力されることになる。従って図６に示す真理値
表で、Ｓ0＝Ｓ1＝Ｓ2＝１及びＴＯＮ＝１となり、例え
ば中央の受光素子１７ーＴ３及び１７ーＴ４で生成され
る誤差信号はＴＥ２が選択されてトラッキングサーボ引
き込みが開始される。

【００４９】２．０次と１次回折光によるスポット位置
の間にゴミ、傷、欠陥等がある場合 再生用光ビームの０次回折光によるスポット２６ａと±
１次回折光によるスポット２６ｂ，２６ｃの間隔はそれ
ぞれ数１０μｍ程度なので、図３の中央に配置されたト
ラッキング用受光素子１７−Ｔ１，１７−Ｔ２又は１７
−Ｔ２，１７−Ｔ３又は１７−Ｔ５，Ｔ６の位置にゴ
ミ、傷、欠陥等の影響がぶび確率が高くなる。

【００５０】この場合には、トラック横断信号ＴＥＺ１
又はＴＥＺ２又はＴＥＺ３に欠落が生じてくる。トラッ
ク横断信号ＴＥＺ１に欠落が生じた場合にはＳ0＝Ｓ2＝
０、Ｓ1＝１及びＴＯＮ＝１となり、欠落が生じたトラ
ック横断信号ＴＥＺ１を生成する受光素子から最も（よ
り）離れた位置に配置された受光素子１７ーＴ５及び１
７ーＴ６で生成される誤差信号ＴＥ３が選択される。

【００５１】トラック横断信号ＴＥＺ２に欠落が生じた
場合にはＳ0＝Ｓ1＝０、Ｓ2＝１及びＴＯＮ＝１とな
り、例えば誤差信号ＴＥ１（ＴＥ３でも良い）が選択さ
れる。さらにトラック横断信号ＴＥＺ３に欠落が生じた
場合にはＳ1＝Ｓ2＝０、Ｓ0＝１及びＴＯＮ＝１とな
り、欠落が生じたトラック横断信号ＴＥＺ３を生成する
受光素子から最も離れた位置に配置された受光素子１７
ーＴ１及び１７ーＴ２で生成される誤差信号ＴＥ１が選
択される。

【００５２】なお、広範囲にゴミ、傷、欠陥等がある場
合、つまり、０次回折光によるスポット２６ａと±１次
回折光によるスポット２６ｂ，２６ｃの間隔よりもゴ
ミ、傷、欠陥等の範囲が大きく、トラック横断信号ＴＥ
Ｚ１〜ＴＥＺ３の少なくても２つ以上に欠落が生じる
と、この第１実施例ではカウンタ４５の計数結果による
目標トラック検出の判断を確実に行うことができないと
して、Ｓ0＝Ｓ1＝Ｓ2＝０及びＴＯＮ＝０となり、再シ
ークとなる。

【００５３】この再シークの場合には例えば光カード１
に対し、光学ヘッド２をトラック方向に微小距離だけ相
対的に移動させて近傍トラックの位置を確認後に再びシ
ークする動作を行うことになる。なお、光カード１のト
ラックの両端等、複数箇所にＩＤ領域が設けてある場合
にはシークに失敗したＩＤ領域から他のＩＤ領域に移る
ように光カード１をトラック方向に移動した後に、再び
シーク動作を行うようにしても良い。

【００５４】この様にトラック方向及びトラックと垂直
な方向の異なった複数の位置でトラッキング誤差信号を
生成し、該複数の誤差信号に基づいてトラック横断信号
を出力してトラックの横断数を計数及び比較して複数の
一致信号が検出されたか否かを判断し、この判断結果に
基づいてシーク動作を行うようにしたので、光カード１
等の光記録媒体上にゴミ、傷、欠陥等が存在しても、殆
どの場合それらに影響されないで、正確にトラック横断
数を計数でき、従って目標トラックにより正確にアクセ
スできる。

【００５５】つまり、光記録媒体上にゴミ、傷、欠陥等
が存在しても、２組以上の受光素子に同時に影響を及ぼ
す場合は希となるので、２組以上の受光素子の出力に基
づいて一致信号が検出された場合には、正しい計数値で
あると判断してＴＯＮ信号を出力し、トラッキングサー
ボの引き込みを行う。従って、従来例よりも確実に目標
トラックにアクセスできる。また、ゴミ等が存在しても
それらに殆ど影響されないで１度で正しい計数値を検出
できるので、目標トラックに短時間でアクセスできるこ
とになる。

【００５６】また、再生用光ビームと光カード１との相
対的速度が変動する場合でも、各トラック横断信号ＴＥ
Ｚ１〜ＴＥＺ３は同時に変化するため、それらを回数す
る各計数手段の出力も相対的速度の変動に影響されない
でトラックの横断数を誤り無く正確に計数することが出
来る。従って、相対的速度の変動に影響されないで目標
トラックへのアクセス（シーク）動作を、確実に行うこ
とができる。

【００５７】さらに、トラッキングサーボの引き込みを
行う場合に、複数のトラック横断信号の計数結果を判断
してトラッキングサーボの引き込みに使用する誤差信号
を選択使用するので、この場合にもゴミ等の影響をあま
り受けないで、トラッキングサーボの引き込み動作及び
その後のサーボ動作を安定にできる。

【００５８】図７は第１実施例の変形例におけるアクセ
ス制御回路の主要部の構成を示す。図５に示す第１実施
例では３つのトラック横断信号ＴＥＺをそれぞれカウン
タ４４で計数し、それぞれの計数値が設定値Ｎと一致し
たか否かをそれぞれコンパレータ４５で調べ、３つのコ
ンパレータ４５出力のそれぞれ２つの論理積出力を求め
ることにより３つの信号を生成し、この３つの信号の組
み合わせでトラッッキングサーボ引き込みに使用する信
号を決定するようにしている。

【００５９】一方、この変形例では図７に示すように３
つのコンパレータ４５ー１，４５ー２，４５ー３の出力
は３入力のＯＲゲート５２に入力され、それらの論理和
が求められ、この論理和出力はＤタイプのフリップフロ
ップ５３のクロック入力端に印加される。そしてクロッ
ク入力端に印加される信号の立ち上がりエッジでＤ端子
のデータＨｉーレベルを端子Ｑから信号ＴＯＮ３６とし
て出力し、この信号ＴＯＮ３６はアナログスイッチ４８
の制御端子に入力されてトラッキングサーボ系の開閉を
行う。

【００６０】また、３つのコンパレータ４５ー１，４５
ー２，４５ー３の出力はアナログマルチプレクサ４６の
制御端子Ａ、Ｂ及びＣにそれぞれ印加される。このアナ
ログマルチプレクサ４６のアナログ入力端子にはＶN 、
トラック横断信号ＴＥＺ１〜ＴＥＺ３が印加され、制御
端子Ａ、Ｂ及びＣへの信号によりＣＯＭ端子と接続され
る信号が選択され、増幅器４７側に出力される。

【００６１】このような構成の変形例では３つのカウン
タ４４ー１〜４４ー３における計数値が最初に設定値Ｎ
に一致したものがコンパレータ４５から一致信号として
出力され、その一致信号がゴミ等の影響されないで、正
しく計数したものと考えて、その信号によってトラッキ
ングサーボ引き込みの動作を行うようにしている。

【００６２】例えば、コンパレータ４５ー１が最初に一
致信号を出力し、他のコンパレータ４５ー２及び４５ー
３は一致信号を出力しない状態の場合、コンパレータ４
５ー１による一致信号でＯＲゲート５２等を介して信号
ＴＯＮ３６が出力されると共に、コンパレータ４５ー１
〜４５ー３からの１，０，０信号により、アナログマル
チプレクサ４６は（一致信号の出力に寄与した受光素子
１７ーＴ１及び１７ーＴ２で生成される）誤差信号ＴＥ
１を選択し、この誤差信号ＴＥ１で引き込みを行う。

【００６３】また、複数で一致信号が出力された場合、
例えばコンパレータ４５ー１〜４５ー３から１，１，０
の信号が出力される場合には０の信号から離れた誤差信
号ＴＥ１を選択し、この誤差信号ＴＥ１で引き込みを行
う。この変形例ではゴミ等が存在した場合、計数値が減
少することの方が、増加する場合よりも起こり得る頻度
が高い場合に対して有効となる。

【００６４】図８はトラックに横断信号ＴＥＺ（３２）
の計数を確実に行わせるための本発明の第２実施例にお
けるアクセス制御回路の主要部の回路構成を示したもの
である。

【００６５】図８において再生信号用受光素子１７−Ｒ
ｎ（ｎ＝０〜８）の出力はＩ−Ｖ変換回路３７−ｎで電
流／電圧変換されて増幅器６２に供給され、所定の利得
を得て再生信号ＲＦ（３４）を出力し、コンパレータ６
３に供給されて閾値ＶTH2と比較され、その出力はウイ
ンドウ信号Ｒ−ＷＩＮ（７３）としてＡＮＤゲート７０
に入力される。

【００６６】奇数番号のトラッキング用受光素子１７−
Ｔ2n-1及び偶数番号のトラッキング用受光素子１７−Ｔ
2n（ｎ＝１〜５）の出力は、Ｉ−Ｖ変換回路４０−2n-1
及び４０-2nで電流／電圧変換後にＴＡ信号７１−１及
びＴＢ信号７１−２として差動増幅器４２に供給されて
トラッキング誤差信号ＴＥ（３１）を出力し、コンパレ
ータ４３に供給されて回路動作点である閾値ＶNと比較
され、その出力はトラック・ゼロクロス（トラック横
断）信号ＴＥＺ（３２）としてＡＮＤゲート７０に出力
する。

【００６７】前記ＴＡ信号７１−１及びＴＢ信号７１−
２はそれぞれ増幅器６４−１及び６４−２を経由してコ
ンパレータ６５−１及び６５−２にそれぞれ供給されて
閾値ＶTH1と比較され、各出力はＡ信号７２−１及びＢ
信号７２−２としてＤ−タイプ・フリップ／フロップ
（Ｄ−Ｆ／Ｆ）６６−１及び６６−２のデータ入力端
子、リセット端子、相手方のクロック入力端子へ印加す
る。

【００６８】Ｄ−Ｆ／Ｆ６６−１、６６−２の各出力Ｑ
はＡＮＤゲート６７−１、６７−２の一方にそれぞれ入
力され、他方にはコントローラ５からの−Ｆ／Ｒ信号
（光学ヘッド２の順／逆移動方向信号）とインバータ６
８を介した反転信号がそれぞれ入力され、各出力はＯＲ
ゲート６９介してＵＰ／ＤＷＮ（７４）となり、ＡＮＤ
ゲート７０へ出力する。

【００６９】ＡＮＤゲート７０の出力はカウンタ４４の
クロック入力端子へ出力され、トラック横断信号ＴＥＺ
（３２）の立ち上がりエッジを計数して計数値Ｍを出力
する。また、Ｄ−Ｆ／Ｆ６６−２の出力−Ｑはカウンタ
４４のＵＰ／−ＤＷＮ制御端子に印加され、出力−Ｑが
１の場合にはＵＰカウント、０の場合にはＤＷＮカウン
トさせ、対物レンズ１１の移動方向が正常（トラック横
断方向と同じ）である場合にはカウント値を増加させ、
振られにより移動方向が反対方向の場合にはカウント値
を減少させることで、トータルの計数値か過不足なく正
しく行われるようにしている。

【００７０】係る構成におけるトラック横断の計数方法
を図９の動作説明図を参照して説明する。図９（ａ）に
示すようにＴＡ信号７１ー１及びＴＢ信号７１−２は閾
値ＶTH1で２値化されて図９（ｆ）及び（ｇ）に示すよ
うにＡ信号７２−１及びＢ信号７２−２を出力し、図９
（ｊ）に示すように−Ｆ／Ｒ信号が０の順方向シーク動
作時にはＡ信号７２−１がＢ信号７２−２に対して位相
進みとなり、−Ｆ／Ｒ信号が１の逆方向シーク動作時に
はＡ信号７２−１がＢ信号７２−２に対して位相遅れと
なる。

【００７１】図９（ｂ）に示すＴＥ信号３１は回路動作
点である閾値ＶNで２値化されて図９（ｄ）に示すＴＥ
Ｚ信号３２を出力し、順方向シーク動作時には立ち上が
りエッジが有効として計数され、逆方向シーク動作時に
は立ち下がりエッジが有効として計数される。図９
（ｃ）に示すＲＦ信号３４は閾値ＶTH2で２値化されて
図９（ｅ）に示すＲ−ＷＩＮ信号７３を出力し、ウイン
ドウとしてＴＥＺ信号３２のエッジが出力される近傍で
有効となる。

【００７２】順方向シーク動作時の場合、図９（ｈ）に
示すＤ−Ｆ／Ｆ６６−１の出力ＱはＴＥＺ信号３２の立
ち上がりエッジが出力される近傍でのみＵＰ（アップ）
信号として有効になるのに対して逆方向シーク動作時の
場合、図９（ｉ）に示すＤ−Ｆ／Ｆ６６−２の出力Ｑは
ＴＥＺ信号３２の立ち下がりエッジが出力される近傍で
のみＤＷＮ（ダウン）信号として有効となる。

【００７３】従ってトラック横断数の計数に当たっては
トラック横断信号ＴＥＺ（３２）のエッジを再生信号に
基づいたウインドウ信号Ｒ−ＷＩＮ（７３）と図９
（ｋ）に示すアップ／ダウン信号ＵＰ／ＤＷＮ（７４）
の論理積出力で計数すると共に、Ｄ−Ｆ／Ｆ６６−２の
反転出力−Ｑで計数モードを制御しているので、シーク
動作中に対物レンズ８の振られによるトラック横断数の
過検出が防止可能となり計数を確実に行わせることが出
来る。

【００７４】この実施例によれば、トラック横断信号の
計数に当たっては再生信号に基づいたゲート信号と方向
判別信号との論理積でトラック横断数を計数する等して
いるので、シーク動作中に対物レンズの振られによるト
ラック横断数の過検出が防止可能となり計数を確実に行
わせることが出来る。

【００７５】図１０は本発明の第３実施例におけるアク
セス制御回路の主要部の構成を示す。この実施例ではト
ラッキング誤差信号の線形領域では光量分布や位相差の
影響を出来るだけ受けないように再生信号用受光素子と
隣接しているトラッキング用受光素子から生成される任
意の誤差信号を選択し、それ以外の領域では所定の電圧
Ｖa（正極性）又はＶb（負極性）を選択して対物レンズ
を目標位置へ強制的に制御するようにしたものである。

【００７６】本実施例では光量分布や受光素子の取り付
け傾きによる位相差の影響をなるべく受けないように、
０次回折光によるスポット像３０ａが形成される位置に
配置された隣接する受光素子の出力でトラッキング誤差
信号（ＴＥ）とＲＦ２値化信号（ＷＡ）のペアを生成
し、このＲＦ２値化信号（ＷＡ）をウインドウとしてト
ラッキングサーボ引き込み動作を確実に行わせるもので
ある。

【００７７】図１０においてトラック・ゼロクロス（ト
ラック横断）信号ＴＥＺ１（３２−１）、ＴＥＺ３（３
２−３）、ＴＥＺ１（３２−１）、ＴＥＺ２（３２−
２）、及びＲＦ２値化信号ＷＡ０（３５−０），ＷＡ４
（３５−４），ＷＡ０（３５−０），ＷＡ５（３５−
５）はそれぞれ４チャネル・マルチプレクサ８１のｎＸ
入力端子（ｎ＝０〜３）及びｎＹ入力端子（ｎ＝０〜
３）へ入力される。

【００７８】４チャネル・マルチプレクサ８１の出力
Ｘ、ＹはＤ−タイプ・ラッチ（Ｄ−ラッチ）８３のデー
タ入力端子（Ｄ）、ゲート入力端子（Ｇ）へ出力すると
共に、出力Ｙは８チャネル・アナログマルチプレクサ８
４の制御端子Ｂにも出力する。Ｄ−ラッチ８３の出力
（Ｑ）はアナログマルチプレクサ８４の制御端子Ａに入
力される。制御端子Ｃにはコントローラ５からのシーク
／記録・再生モード信号Ｓ／−Ｔが印加される。

【００７９】回路動作点である閾値ＶN、トラッキング
誤差信号ＴＥ１（３１−１）、ＴＥ３（３１−３），Ｖ
N、ＴＥ１（３１−１）、ＶN、ＶN、ＴＥ２（３１−
２）は８チャネル・アナログマルチプレクサ８２のアナ
ログ入力端子（０〜７）へ供給される。このマルチプレ
クサ８２の制御端子Ａ，Ｂ，Ｃには図５に示す選択信号
Ｓ0、Ｓ1，Ｓ2がそれぞれ入力される。

【００８０】また、選択信号Ｓ1，Ｓ2はマルチプレクサ
８１の制御端子Ａ，Ｂにもそれぞれ印加される。また、
選択信号Ｓ0、Ｓ1，Ｓ2は奇数パリティ検査回路８９に
入力され、選択信号Ｓ0、Ｓ1，Ｓ2の各ビットの和が奇
数の時には、奇数パリティ出力−Ｏｄｄは０、和が偶数
の時には奇数パリティ出力−Ｏｄｄは１となる。この奇
数パリティ出力−Ｏｄｄはマルチプレクサ８１のＩＮＨ
に印加される。

【００８１】この奇数パリティ検査回路８９は図５の回
路構成では選択信号Ｓ0、Ｓ1，Ｓ2の各ビットの和が奇
数の時のみトラッキング引き込みを行う条件となり、偶
数の場合でのトラッキング引き込み動作を除外するよう
にしている。

【００８２】ＶN、ＴＥｎ信号（ｎ＝１，２，３）がア
ナログマルチプレクサ８２のＣＯＭ端子で選択出力さ
れ、アナログマルチプレクサ８４のアナログ入力端子
（０〜３、６、７）へ供給する。更に、アナログ入力端
子（４、５）には所定の電圧Ｖb（＜ＶN：回路動作
点）、Ｖa（＞ＶN）が供給される。

【００８３】ＴＥｎ信号（ｎ＝１，２，３）又は所定の
電圧Ｖa、Ｖbの内の１つがアナログマルチプレクサ８４
のＣＯＭ端子で選択出力され、増幅器８５で所定の利得
を得た後にアナログスイッチ８６に供給され、その出力
はトラッキングサーボ系の安定度を補償する位相補償回
路８７を経て電力増幅器８８に供給され、トラッキング
コイル１９を駆動制御する。コントローラ５からのＴＯ
Ｎ信号がアナログスイッチ８６の制御端子に入力されト
ラッキングサーボ系の開閉が行われる。

【００８４】図１１はアクセス制御回路内で生成される
選択信号Ｓ0、Ｓ1、Ｓ2等によってトラッキング誤差信
号ＴＥｎ（ｎ＝１，２，３）、トラック横断信号ＴＥＺ
ｎ（ｎ＝１，２，３）及びＲＦ２値化信号ＷＡｎ（ｎ＝
０，４，５）の各１組のペアが選択され、その選択され
たペア信号とシーク／記録・再生モード（Ｓ／−Ｔ）の
状態変化に対応して８チャンネル・アナログマルチプレ
クサ８４の選択信号を真理値表に示したものである。図
１１（ａ）は図６の真理値表と同じである。

【００８５】図１１（ｂ）は選択信号Ｓ1、Ｓ2及び奇数
パリティ出力−Ｏｄｄによって、目標トラックにシーク
する場合に使用されるトラック横断信号ＴＥＺｎ（ｎ＝
１，２，３）及びＲＦ２値化信号ＷＡｎ（ｎ＝０，４，
５）の１組が選択されると共に、その選択された１組の
信号からサーボ引き込み及びサーボ制定後に選択使用さ
れる誤差信号ＴＥｎ信号（ｎ＝１，２，３）又は所定の
電圧Ｖa、Ｖbを示している。

【００８６】記録再生時には任意のＴＥｎ信号が選択さ
れてトラッキング制御が行われ、シーク時には任意のＴ
Ｅｎ信号又は所定の電圧Ｖa、Ｖbの何れかが選択されて
トラッキングサーボ引き込み動作が行われる。

【００８７】図１２は例えば逆方向にシーク動作させて
目標トラック位置であるＯ点にトラッキングサーボを引
き込ませるまでの動作を説明したものである。

【００８８】光学ヘッド２を逆方向に移動させて図１２
（ａ）に示すトラッキング誤差信号ＴＥを２値化した図
１２（ｃ）に示すトラック横断信号ＴＥＺ（３２）の立
ち下がりエッジの計数を（図５のカクンタ４４で）行い
ながら目標位置Ｏ点を検出した時、（図５に示すＯＲゲ
ート５７から出力される）図１２（ｅ）に示すＴＯＮ信
号がＨｉ−レベルとなった時、このＴＯＮ信号でトラッ
キングサーボ系を閉じることにより、対物レンズ８はＴ
Ｅ信号３１に基づいて目標位置（Ｏ点）へ位置決め制御
される状態になる。

【００８９】しかし、トラッキングサーボ系の制動力よ
りも対物レンズ８の加速度が勝って図１２（ａ）に示す
ように光ビームスポットの位置がＯ→Ｂ→Ｃ→Ｆ点を通
り過ぎると位相が回ってしまい（換言すると、引き込み
可能な領域から逸脱してしまい）Ｏ点への引き込みに失
敗してしまう。

【００９０】そこで、Ｂ点を通過した時に図１２（ｆ）
に示すＤ−ラッチ８３の出力ＱがＬｏ−レベル及び図１
２（ｄ）に示すＷＡ信号３５がＬｏ−レベルとなるよう
に図１２（ｂ）に示すＲＦ信号３４の閾値ＶTH2を調整
すると、図１２（ｇ）に示すようにアナログマルチプレ
クサ８４は所定の電圧Ｖb（＜ＶN）を選択出力する状態
となり、対物レンズ８はこの電圧Ｖbに基づいて駆動さ
れるようになる。

【００９１】対物レンズ８が所定の電圧Ｖbに基づいて
駆動され続けると図１２（ａ）に示すようにＣ点で制動
力と対物レンズ８の加速度による力が平衡状態となり、
対物レンズ８は制動力で再びＢ′点へ戻されるように制
御される（Ｂ点とＢ′点は同一位置で時間遅れを表す。
以下同様）。

【００９２】Ｂ′点で再びＷＡ信号３５がＨｉ−レベル
となり対物レンズ８はＴＥ信号３１に基づいて制御され
るようになり、Ｂ′→Ｏ′点方向へ駆動されて目標位置
（Ｏ′点）へ位置決め制御される。

【００９３】ここで仮にＯ′点での制動力よりも対物レ
ンズ８の加速度が勝ってＯ′→Ａ′点を通り過ぎるとす
ると、ＷＡ信号３５がＬｏ−レベル及び８６の出力Ｑが
Ｈｉ−レベルとなって対物レンズ８は所定の電圧Ｖa
（＞ＶN）に基づいて駆動されるようになる。対物レン
ズ８が所定の電圧Ｖaに基づいて駆動され続けるとＤ点
で制動力と対物レンズ８の加速度による力が平衡状態と
なり、対物レンズ８は制動力で再びＡ″点へ戻されるよ
うに制御される。

【００９４】Ａ″点で再びＷＡ信号３５がＨｉ−レベル
となり対物レンズ８はＴＥ信号３１に基づいて制御され
るようになり、Ａ″→Ｏ″点方向へ駆動されて目標位置
（Ｏ″点）へ位置決め制御される。

【００９５】尚、本実施例では逆方向のシーク動作につ
いて説明したが、順方向のシーク動作でもＴＥ信号の極
性が逆（ＴＥＺ信号の有効エッジが立ち上がり）になる
だけで同様の効果を得ることが出来る。

【００９６】以上の様に、この第３実施例では任意の再
生信号ＲＦ（３４）がＨｉ−レベルの区間（ＴＥ信号３
１のほぼ線形領域Ａ〜Ｂ相当にＶTHを調整する）では光
量分布や位相差の影響を出来るだけ受けないように再生
信号用受光素子と隣接しているトラッキング用受光素子
から生成される任意のＴＥ信号３１を選択し、それ以外
の領域（Ａ〜Ｄ又はＢ〜Ｃ）では所定の電圧Ｖa（正極
性）又はＶb（負極性）を選択して対物レンズ８を目標
位置へ強制的に制御するようにしたので、対物レンズ８
を誤った位置に引き込ませることなく目標位置に正確か
つ迅速に引き込ませることが出来る。

【００９７】図１３を参照して本発明の第４実施例であ
るゴミ、傷、欠陥等の媒体異常対策制御について説明す
る。本実施例ではトラック方向又はトラックと垂直の方
向に光学ヘッドと記録媒体を相対的に移動させる際に、
先行する受光素子の出力又は演算出力でゴミ、傷、欠陥
等による記録媒体の状態を監視し、異常と判断された場
合は後続の正常なトラッキング誤差信号を選択して以後
のシーク又は記録・再生動作を継続させるものである。

【００９８】図１３（Ａ）は順方向シーク時の場合であ
り、同図（Ｂ）は順方向の記録・再生時の場合における
媒体異常対策の動作原理を説明したものである。

【００９９】シーク時の場合、欠陥が図１３（Ａ）の位
置にあるとすると、先ずトラッキング誤差信号ＴＥ２
（トラッキング用受光素子１７−Ｔ３と１７−Ｔ４の出
力差）のクロス点で先行する再生信号ＲＦ５（再生信号
用受光素子１７−Ｒ５の出力）を取り込み、その取り込
み値が所定レベル以下（又は以上）の時は欠陥検出と見
なし、欠陥の影響をまだ受けていない後続の誤差信号Ｔ
Ｅ４（受光阻止７−Ｔ７と１７−Ｔ８の出力差）と再生
信号ＲＦ２（受光素子１７−Ｒ２の出力）に切り換えて
トラック横断信号の計数と欠陥検出を続行させる。

【０１００】その後、再生信号ＲＦ２の取り込み値が欠
陥の影響を受けて所定レベル以下（又は以上）となり、
この状態を回復した時は欠陥通過と見なして再び誤差信
号ＴＥ２と再生信号ＲＦ５に切り換え、トラック横断信
号の計数を行いながら目標位置でトラッキングサーボを
引き込ませる。

【０１０１】記録・再生時の場合、欠陥が図１３（Ｂ）
の位置にあるとすると、トラッキング誤差信号ＴＥ２で
トラッキングを行いながら先行するトラック和信号ＴＳ
ＵＭ３（トラッキング用受光素子１７−Ｔ５と１７−Ｔ
６の出力和）で欠陥の監視を行い、その監視値が所定レ
ベル以下（又は以上）の時は欠陥検出と見なし、欠陥に
影響されない後続の誤差信号ＴＥ４（受光素子１７−Ｔ
７と１７−Ｔ８の出力差）と和信号ＴＳＵＭ２（受光素
子１７−Ｔ３と１７−Ｔ４の出力和）に切り換えてトラ
ッキングと欠陥監視を続行させる。和信号ＴＳＵＭ２の
監視値が所定レベル以下（又は以上）の状態を回復した
時は欠陥通過と見なして再び誤差信号ＴＥ２と和信号Ｔ
ＳＵＭ３に切り換えてトラッキングと欠陥監視を行う。

【０１０２】図１４は欠陥対策制御の具体的回路構成を
示したもので、４チャネル・アナログマルチプレクサ９
１及び９２のｎＸ入力端子（ｎ＝０〜３）にはトラッキ
ング誤差信号ＴＥ２（３１−２），ＴＥ４（３１−
４），ＴＥ２（３１−２），ＴＥ５（３１−５）がそれ
ぞれ供給され、ｎＹ入力端子（ｎ＝０〜３）には再生信
号ＲＦ５（３４−５），ＲＦ（３４−２），ＲＦ４（３
４−４），ＲＦ７（３４-７）とトラック和信号ＴＳＵ
Ｍ３（３３−３），ＴＳＵＭ３，ＴＳＵＭ１（３３−
１），ＴＳＵＭ１がそれぞれ供給される。

【０１０３】前記４チャネル・アナログマルチプレクサ
９１及び９２のアナログ入力信号を選択する制御端子Ａ
及びＢにはコントローラ５よりセレクト信号ＳＥＬ、順
／逆の駆動方向信号−Ｆ／Ｒが印加され、各ＩＮＨ端子
にはシーク／記録・再生モード信号Ｓ／−Ｔがインバー
タ９９を介して及びインバータ９９を介しないでそれぞ
れ印加される。

【０１０４】シーク・モード時（Ｓ／−Ｔ＝１）はマル
チプレクサ９１のｎＸ入力信号がＸ−ＣＯＭ端子で選択
出力され、記録／再生モード時（Ｓ／−Ｔ＝０）はマル
チプレクサ９２のｎＸ入力信号がＸ−ＣＯＭ端子選択出
力されて所定の利得を増幅器９３で得た後にアナログス
イッチ９４に供給され、その出力はトラッキングサーボ
系の安定度を補償する位相補償回路９５を経て電力増幅
器９６に供給され、トラッキングコイル１９を駆動制御
する。

【０１０５】マルチプレクサ９１のＹ出力はコンパレー
タ１０１−１，１０１−２に供給して高い基準値ＶH1及
び低い基準値ＶL1と比較され、その出力はそれぞれＤ−
タイプ・フリップ／フロップ（Ｄ−Ｆ／Ｆ）１０１−１
及び１０１−２のデータ入力端子へ出力する。

【０１０６】又、増幅器９３の出力はコンパレータ９７
に供給されて回路動作点である閾値ＶNと比較され、そ
の出力はトラック・ゼロクロス（トラック横断）信号Ｔ
ＥＺ（３２）としてＤ−Ｆ／Ｆ１０１−１とインバータ
１０２を介してＤ−Ｆ／Ｆ１０１−２のクロック入力端
子へ出力すると共に、カウンタ９８のクロック入力端子
へ出力されてトラック横断信号ＴＥＺ（３２）の立ち上
がりエッジを計数し計数値Ｍをコントローラ５へ出力す
る。Ｄ−Ｆ／Ｆ１０１−１及び１０１−２の出力ＱはＯ
Ｒゲート１０３に入力され、その出力はシーク時の欠陥
検出信号Ｄｅｔ１となる。

【０１０７】マルチプレクサ９２のＹ出力はウインドコ
ンパレータ１０４に供給して高い基準値ＶH2及び低い基
準値ＶL2と比較され、その出力はＤ−Ｆ／Ｆ１０６−１
のクロック入力端子へ入力される。又、トラック和信号
ＴＳＵＭ２（３３−２）はウインドコンパレータ１０５
に供給して高い基準値ＶH3及び低い基準値ＶL3と比較さ
れ、その出力はＤ−Ｆ／Ｆ１０６−２のクロック入力端
子へ入力される。

【０１０８】Ｄ−Ｆ／Ｆ１０６−１及び１０６−２の出
力ＱはＥＸ−ＯＲゲート１０７に入力され、その出力は
記録・再生時の欠陥検出信号Ｄｅｔ２となる。尚、Ｄ−
Ｆ／Ｆ１０１及び１０６にはコントローラよりリセット
信号−ＲＳＴが入力されてイニシャル時及び欠陥検出後
に出力Ｑをリセットする。

【０１０９】係る構成におけるシーク時の動作を図１５
を参照して説明する。光学ヘッド２を順方向へ駆動させ
ながら図１５（ａ）に示すトラッキング誤差信号ＴＥ２
（３１−２）を閾値ＶNで２値化した（図１５（ｂ）に
示す）トラック横断信号ＴＥＺ２（３２）の立ち上がり
エッジでトラックの横断を計数（番号１，２）すると共
に、図１５（ｃ）に示す先行する再生信号ＲＦ５（３４
−５）を基準値ＶH1及び基準値ＶL1と比較した図１５
（ｄ）に示すコンパレータ１００−１，１００−２の出
力を取り込む。

【０１１０】欠陥の影響により再生信号ＲＦ５の値が基
準値ＶH1及び基準値ＶL1以内に低下した時はコンパレー
タ１００−１，２の出力がＨｉ−レベル（斜線部）とな
り、トラック横断信号ＴＥＺ２の立ち上がりエッジで図
１５（ｅ）に示すＤｅｔ１信号をＨｉ−レベルに保持し
欠陥検出と見なす。

【０１１１】この時、コントローラ５はＳＥＬ信号をＨ
ｉ−レベルにして欠陥の影響をまだ受けていない後続の
誤差信号ＴＥ４（３１−４）（図１５（ｆ）参照）と再
生信号ＲＦ（３４−２）（図１５（ｈ）参照）に切り換
えてトラック横断信号ＴＥＺ４（図１５（ｇ）参照）の
計数（番号３，４）と図１５（ｉ）に示すコンパレータ
１００−１，２で欠陥検出を続行させる。

【０１１２】その後、再生信号ＲＦ２の取り込み値が欠
陥の影響を受けて所定レベル以下（又は以上）となり、
この状態を回復した時は欠陥通過と見なして再び誤差信
号ＴＥ２と再生信号ＲＦ５を選択するように切り換え、
その切り換えた信号を用いてトラック横断信号の計数を
行いながら目標位置でトラッキングサーボを引き込ませ
る。

【０１１３】逆方向にシークさせた場合も同様で、ＴＥ
２信号（３１−２）でトラック横断の計数及びＲＦ信号
（３４−４）で欠陥の監視を行い、欠陥検出時はＴＥ５
信号（３１−５）でトラック横断の計数を続行すると共
にＲＦ７信号（３４−７）で欠陥の監視を続け、欠陥通
過時は再びＴＥ２信号（３１−２）でトラック横断の計
数を続けて目標位置でトラッキングサーボを引き込ませ
る。

【０１１４】次に、記録／再生時の動作を図１６を参照
して説明する。コントローラ５は図１６（ｋ）に示すリ
セット信号−ＲＳＴ出力後、図１６（ａ）に示す順／逆
の方向信号−Ｆ／ＲをＬｏ−レベルにして順方向に起動
させる。この場合、図１６（ｂ）に示すトラッキング誤
差信号ＴＥ２（３１−２）が選択されてトラッキングさ
せながら先行するトラック和信号ＴＳＵＭ３（３３−
３）（図１６（ｄ）参照）で欠陥の監視を行う。

【０１１５】欠陥の影響により和信号ＴＳＵＭ３の値が
基準値ＶL2以下（低反射率の欠陥の場合）又は基準値Ｖ
H2以上（高反射率の欠陥の場合）になった時、図１６
（ｆ）に示すウインドコンパレータ１０４の出力はＬｏ
→Ｈｉ−レベルに変化し（斜線部）、この立ち上がりエ
ッジで図１６（ｉ）に示すＤｅｔ２信号をＨｉ−レベル
に保持し、欠陥検出と見なす。

【０１１６】同時に、コントローラ５はＳＥＬ信号をＨ
ｉ−レベルにして欠陥の影響をまだ受けていない後続の
誤差信号ＴＥ４（３１−４）（図１６（ｃ）参照）と和
信号ＴＳＵＭ２（３３−２）（図１６（ｅ）参照）に切
り換えてトラッキングと欠陥監視を続行させる。

【０１１７】その後、和信号ＴＳＵＭ２の値が欠陥の影
響を受けて基準値ＶL3以下又は基準値ＶH3以上になった
時、図１６（ｇ）に示すウインドコンパレータ１０５の
出力はＨｉ→Ｌｏ−レベルに変化し（斜線部）する。こ
の状態が回復してウインドコンパレータ１０５の出力が
Ｌｏ→Ｈｉ−レベルに変化した時、この立ち上がりエッ
ジで図１６（ｊ）に示すＤ−Ｆ／Ｆ１０６−２の出力Ｑ
はＨｉ−レベルに変化し、一方図１６（ｈ）に示すＤ−
Ｆ／Ｆ１０６−１の出力ＱはＨｉ−レベルを保持した状
態であるので、Ｄｅｔ２信号はＤ−Ｆ／Ｆ１０６−２の
出力ＱがＨｉ−レベルに変化したタイミングで図１６
（ｉ）に示すＤｅｔ２信号をＬｏ−レベルにして欠陥通
過と見なし、再び誤差信号ＴＥ２と和信号ＴＳＵＭ３に
切り換えてトラッキングと欠陥監視を行う。

【０１１８】以上のように、複数の異なった位置でトラ
ッキング誤差信号を生成し、各トラッキング用受光素子
に先行する受光素子の出力で記録媒体の状態を判断し、
判断結果に基づいて正常と判断された後続のトラッキン
グ誤差信号を選択してトラッキング制御を行うようにし
たので、シーク時及び記録／再生時共にゴミ、傷、欠陥
等によりシークミスやトラック外れを生じることなく常
に適切なトラッキング制御を行うことが出来る。

【０１１９】図１７はシーク時における媒体異常対策制
御機構を設けた第４実施例の変形例における主要部の構
成を示したもので、図１４と同一の構成要素には同等の
符号を付しその詳細な説明は省略する。本実施例では欠
陥の影響を監視する信号として、前述した再生信号の代
わりにトラック和信号を用いたものである。

【０１２０】４チャネル・アナログマルチプレクサ９１
（シーク時に使用）のｎＸ入力端子（ｎ＝０〜３）には
トラッキング誤差信号ＴＥ２（３１−２），ＴＥ４（３
１−４），ＴＥ２（３１−２），ＴＥ５（３１−５）が
それぞれ供給され、ｎＹ入力端子（ｎ＝０〜３）にはト
ラック和信号ＴＳＵＭ５（３３−５），ＴＳＵＭ２（３
３−２），ＴＳＵＭ４（３３−４），ＴＳＵＭ２がそれ
ぞれ供給される。

【０１２１】順方向シークの場合、先ずトラッキング誤
差信号ＴＥ２（３１−２）のゼロ・クロス点でトラック
横断を計数すると共に、先行する和信号ＴＳＵＭ５（３
３−５）の値を取り込む。欠陥の影響でこの取り込んだ
絶対値が基準レベル以下の時は欠陥検出と見なし、欠陥
の影響をまだ受けていない後続の誤差信号ＴＥ４（３１
−４）と和信号ＴＳＵＭ２（３３−２）に切り換えてト
ラック横断信号の計数と欠陥検出を続行させる。

【０１２２】その後、和信号ＴＳＵＭ２の取り込んだ絶
対値が欠陥の影響を受けて基準レベル以下となり、この
状態を回復した時は欠陥通過と見なして再び誤差信号Ｔ
Ｅ２と和信号ＴＳＵＭ５に切り換え、トラック横断信号
の計数を行いながら目標位置でトラッキングサーボを引
き込ませる。

【０１２３】このように先行するトラック和信号で欠陥
を監視させることで第４実施例と同様の作用及び効果を
得ることが出来る。

【０１２４】図１８を参照して本発明の第５実施例にお
けるシーク機構について説明する。本実施例では任意の
１トラックだけの情報を特定の再生信号用受光素子で再
生させる場合、目標トラックへの位置決めに失敗して目
標位置と実際にトラッキング引き込みがなされたトラッ
ク位置とのトラック誤差数に相当する距離だけ使用する
再生信号用受光素子を切換えて、その切換えて選択され
た再生信号用受光素子の出力を選択して情報を再生する
ものである。

【０１２５】図１８においてトラッキング誤差信号ＴＥ
（３１）は所定の利得を増幅器１１１で得た後にアナロ
グスイッチ１１２に供給され、その出力はトラッキング
サーボ系の安定度を補償する位相補償回路１１３を経て
電力増幅器１１４に供給され、トラッキングコイル１９
を駆動制御する。

【０１２６】又、増幅器１１１の出力はコンパレータ１
１５に供給されて回路動作点である閾値ＶNと比較さ
れ、その出力はトラック・ゼロクロス（トラック横断）
信号ＴＥＺ（３２）としてカウンタ１１６のクロック入
力端子へ出力されてトラック横断信号ＴＥＺ（３２）の
立ち上がりエッジを計数し、バイナリィ出力Ｑｎをデジ
タルコンパレータ１１７の一方の比較入力端子Ｐに出力
すると共に、他方の比較入力端子Ｑにはコントローラ５
からの設定値Ｎが入力される。

【０１２７】デジタルコンパレータ１１７の一致出力
（Ｐ＝Ｑ端子出力）はＤ−タイプ・フリップ／フロップ
（Ｄ−Ｆ／Ｆ）１１８のクロック入力端子へ入力され、
その立ち上がりエッジで出力ＱをＨｉ−レベルに保持
し、トラッキングサーボループの開閉信号ＴＯＮとして
アナログスイッチ１１２の制御端子へ出力する。

【０１２８】再生信号ＲＦｎ（３４−ｎ）（ｎ＝１〜
８）は８チャネル・アナログマルチプレクサ１１９のア
ナログ入力端子ｎ（ｎ＝０〜７）へそれぞれ供給され、
制御端子Ａ，Ｂ，Ｃ及びＩＮＨの組合せ状態で入力端子
に供給された再生信号ＲＦｎの一つをＣＯＭ端子より選
択出力する。選択された一つの再生信号は２値化回路１
２０でディジタル信号化され復調回路１２１でリード信
号を出力する。

【０１２９】マルチプレクサ１１９の制御端子Ａ，Ｂ，
Ｃにはカウンタ１１６のバイナリィ出力Ｑｎの下位ビッ
トとコントローラ５からの駆動方向信号−Ｆ／Ｒ（０＝
順、１＝逆）が入力され、制御端子ＩＮＨにはＤ−Ｆ／
Ｆ１１８の出力−Ｑが入力される。

【０１３０】尚、コントローラ５からのリセット信号−
ＲＳＴ、クリア信号−ＣＬＲ及びイネーブル信号ＥＮで
Ｄ−Ｆ／Ｆ１１８の出力リセット、カウンタ１１６の出
力クリア及びカウンタ１１６の計数許可とデジタルコン
パレータ１１７の一致出力許可を行う。

【０１３１】カウンタ１１６の出力はＴＯＮ時に（コン
トローラ５から或いはＴＯＮを微分したパルス等の）短
いパルス等でクリアされ、このクリア後（つまりトラッ
キング引き込み動作開始後）に再び計数できる状態にな
り、このクリア後の計数値の下位２ビットがアナログマ
ルチプレクサ１１９のアナログ入力端子ｎの選択に使用
される。

【０１３２】図１９はトラッキングサーボＯＮ（ＴＯＮ
＝１、ＩＮＨ＝０）後に選択信号Ａ，Ｂ，Ｃの状態変化
に対応して選択される再生信号の真理値表を示したもの
である。選択信号Ｃは駆動方向信号−Ｆ／Ｒに応じて０
又は１となり、トラッキングサーボＯＮにより目標トラ
ックに位置決め（引き込み）できた場合にはカウンタ１
１６の計数値は０（選択信号Ａ，Ｂは共に０）となり、
選択されるＲＦ信号はＲＦ５となる。例えば、目標トラ
ックから１トラックずれたトラックに位置決めした場合
には、カウンタ１１６の計数値が１となり、この場合に
は選択されるＲＦ信号はＲＦ４又はＲＦ６となる。

【０１３３】次に、図２０を参照して例えば順方向への
シーク（ーＦ／Ｒ＝０）時における動作を説明する。任
意の１トラックだけの情報を再生信号用受光素子１７−
Ｒ５の出力（ＲＦ５）を選択して再生させる場合、先ず
図２０（ｂ）に示す誤差信号ＴＥ３１を２値化した図２
０（ｄ）に示すトラック横断信号ＴＥＺ３２の立ち上が
りエッジをカウンタ１１６は計数し続ける。

【０１３４】そして、目標位置Ｏをクロスする場合の計
数数値が設定値Ｎと一致した時にＤ−Ｆ／Ｆ１１８から
出力される図２０（ｅ）に示すＴＯＮ信号がＨｉ−レベ
ル（斜線部）に保持されてサーボループを閉じて、目標
位置に位置決め制御させると共に、図２０（ｆ）に示す
カウンタ１１６の出力（計数値）をクリアし再び計数で
きる状態にする。

【０１３５】サーボループを閉じて目標位置への位置決
め制御（サーボ引き込み動作）によって目標位置への位
置決めに成功した場合は、選択信号Ａ，Ｂ，Ｃは０，
０，０となり、再生信号用受光素子１７−Ｒ５の出力が
選択されて目標トラックＯの情報が再生される。

【０１３６】しかるに目標位置Ｏへの位置決めに失敗し
て例えば目標位置Ｏから２トラックオーバしたＯ′の位
置にトラッキング引き込みがなされた場合、再生信号用
受光素子１７−Ｒ５の出力を選択とするとトラッキング
引き込み位置であるトラックＯ′の情報が再生されてし
まうことになる。

【０１３７】そこでサーボループが閉じられた時、カウ
ンタ１１６は横断信号ＴＥＺ（３２）の立ち上がりエッ
ジを計数し、この場合には２発（番号１，２）計数して
その出力Ｑｎは２（Ｎ′＝２）となり、選択信号Ａ，
Ｂ，Ｃは０，１，０となり、図２０（ａ）に示すように
再生信号用受光素子１７−Ｒ３の再生信号ＲＦ３が選択
されて目標トラックＯの情報を再生する。

【０１３８】従って、従来例における粗シーク後にトラ
ックジャンプによる精シーク動作で目標トラックへ位置
決めさせる代わりに、例えば粗シーク機構を図１８の構
成にすることにより、この粗シーク動作後に上述のよう
に再生信号用受光素子の出力を選択して目標トラックの
情報を直接再生することが出来るのでアクサセスタイム
の短縮が可能となる。

【０１３９】つまり任意の１トラックだけの情報を再生
させる場合、目標位置からずれたトラック数に相当する
再生信号用受光素子の出力を選択して情報を再生するの
で、トラックジャンプによる精シーク動作が不要にな
り、目標トラックへのアクセスタイムが短縮可能とな
る。

【０１４０】なお、再生信号用受光素子１７ーＲ１〜１
７ーＲ８の数を多くすれば、実際に引き込まれたトラッ
クが目標トラックからより多くのトラック本数ずれた場
合にも、再生に使用する受光素子の選択により目標トラ
ックの情報を読み出すことが可能になる。

【０１４１】また、例えば図３に示す受光素子１７ーＲ
１及び１７ーＲ８の両外側に例えば複数の受光素子を配
置し、第５実施例によるシーク機構を用いて目標トラッ
クにシークし、目標トラックと異なるトラックにシーク
した場合にも選択する８個の受光素子を選択することに
より、１度に８トラック分を再生することも可能にな
る。つまり、複数のトラックを同時に読み出す場合にも
適用できる。

【０１４２】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ト
ラック方向等の異なった複数の位置でトラッキング誤差
信号を生成し、該複数の誤差信号に基づいてトラック横
断信号を出力してトラックの横断数を計数及び比較して
シーク動作を行うようにしたので、光記録媒体上にゴ
ミ、傷、欠陥等が存在しても、まれな場合を除いて殆ど
の場合、ゴミ等に影響されないでトラックの横断数を計
数できるものが存在するので、複数の検出結果に基づい
てトラック横断数を判断することにより、誤り無く正確
にトラック横断数を計数することが出来る。従って、目
標トラックへのアクセス動作をゴミ等に影響されない
で、より確実に行うことができる。

【０１４３】また、光記録媒体のトラックに対する再生
用光ビームの相対的な横断速度が変動する場合でも、複
数のトラック横断信号は同時に変化するため、それらを
回数する各計数手段の出力も相対的速度の変動に影響さ
れないでトラック横断数を誤り無く正確に計数すること
が出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１実施例の全体構成図。

【図２】光カード上に投射された光ビームスポットの位
置を示す図。

【図３】光ビームスポットの結像状態と光検出器の構成
を示す図。

【図４】各種の検出信号生成回路図。

【図５】トラック横断検出の回路構成図。

【図６】図５を説明するための真理値表。

【図７】第１実施例の変形例における主要部の回路構成
図。

【図８】本発明の第２実施例におけるアクセス制御回路
の主要部の回路構成図。

【図９】図８を説明するための動作説明図。

【図１０】本発明の第３実施例におけるトラッキング引
き込みの回路構成図。

【図１１】図１０を説明するための真理値表。

【図１２】図１０を説明するための動作説明図。

【図１３】本発明の第４実施例におけるシーク時及び記
録／再生時での媒体異常対策の原理説明図。

【図１４】媒体異常対策制御の回路構成図。

【図１５】図１４のシーク時での動作の説明図。

【図１６】図１４の記録／再生時での説明図。

【図１７】第４実施例の変形例における回路構成図。

【図１８】本発明の第５実施例におけるアクセス制御回
路の主要部の回路構成図。

【図１９】図１８を説明するための真理値表。

【図２０】図１８を説明するための動作説明図。

【符号の説明】

１…光カード ２…光学ヘッド ３…ヘッド駆動モータ ４…アクセス制御回路 ５…（上位）コントロー ６ａ，６ｂ…半導体レーザ １１…対物レンズ １７…光検出器 １７−Ｆ１〜１７−Ｆ２…フォーカス用受光素子 １７−Ｒ０〜１７−Ｒ８…再生信号用受光素子 １７−Ｔ１〜１７−Ｔ１０…トラッキング用受光素子 １９…トラッキングコイル ２０…アクセス制御装置 ４０−１〜４０−１０…Ｉ−Ｖ変換回路 ４１−１〜４１−５…差動増幅器 ４２−１〜４２−５…加算器 ４４−１〜４４−３…カウンタ ４５−１〜４５−３…コンパレータ ４６…マルチプレクサ ４７…増幅器 ４８…アナログスイッチ ５０…電力増幅器 ５１−１〜５１−３…ＡＮＤゲート ＴＥ１〜ＴＥ３…トラッキング誤差信号 ＴＥＺ１〜ＴＥＺ３…トラック横断信号

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源からの光ビームをスポット形成手段
   によってトラックが延在する方向へスリット状に複数分
   割し、該スポットを対物レンズを経て光記録媒体上の複
   数のトラックに亘って投射させて、複数のトラックに記
   録されている情報を並行して読み出すようにしたアクセ
   ス制御装置において、 前記複数に分割された光スポットを受光する光検出器上
   にトラックの延在する方向及び垂直方向にそれぞれ複数
   の受光素子を配して複数の異なった位置でトラッキング
   誤差信号を生成するトラッキング誤差信号号検出手段
   と、該トラッキング誤差信号に基づいてトラックの横断
   信号を出力するトラック横断信号発生手段と、前記複数
   のトラック横断信号をそれぞれ計数する計数手段と、前
   記計数手段の出力が一致したか否かをそれぞれ比較する
   複数の比較手段とを具え、 前記複数の比較手段の出力の判断に基づいて目標トラッ
   クへのアクセスを行うことを特徴とするアクセス制御装
   置。