JPH06310747A - カルコパイライト薄膜の形成方法及び薄膜太陽電池の製造法 - Google Patents
カルコパイライト薄膜の形成方法及び薄膜太陽電池の製造法Info
- Publication number
- JPH06310747A JPH06310747A JP5097900A JP9790093A JPH06310747A JP H06310747 A JPH06310747 A JP H06310747A JP 5097900 A JP5097900 A JP 5097900A JP 9790093 A JP9790093 A JP 9790093A JP H06310747 A JPH06310747 A JP H06310747A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- chalcopyrite
- heat treatment
- solar cell
- chalcogen element
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims abstract description 80
- DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N chalcopyrite Chemical compound [S-2].[S-2].[Fe+2].[Cu+2] DVRDHUBQLOKMHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 30
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 5
- 229910052951 chalcopyrite Inorganic materials 0.000 title abstract description 21
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 title description 2
- 229910052798 chalcogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 28
- 150000001787 chalcogens Chemical class 0.000 claims abstract description 28
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 26
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 35
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 23
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 23
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 9
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 5
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 abstract description 21
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 9
- -1 chalcopyrite compound Chemical class 0.000 abstract description 5
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 12
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 11
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 10
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 8
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 7
- 239000010408 film Substances 0.000 description 7
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 7
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 5
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 5
- 238000004453 electron probe microanalysis Methods 0.000 description 5
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 5
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000011812 mixed powder Substances 0.000 description 2
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910003373 AgInS2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000002597 Solanum melongena Nutrition 0.000 description 1
- 244000061458 Solanum melongena Species 0.000 description 1
- 238000003877 atomic layer epitaxy Methods 0.000 description 1
- 150000004770 chalcogenides Chemical class 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 1
- 238000000313 electron-beam-induced deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 1
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- NIFIFKQPDTWWGU-UHFFFAOYSA-N pyrite Chemical compound [Fe+2].[S-][S-] NIFIFKQPDTWWGU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052683 pyrite Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011028 pyrite Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/541—CuInSe2 material PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 カルコパイライト化合物を構成するカルコゲ
ン元素を除く成分金属元素に対するカルコゲン元素のモ
ル比が0.2以上1未満である薄膜を、カルコゲン元素
を含有するガス雰囲気中で熱処理するカルコパイライト
薄膜の形成方法。 【効果】 基板に対する密着性が良好で、化学量論組成
を有する高結晶性のカルコパイライト薄膜を作製でき
る。又、この薄膜を用いれば、良好な特性を有する薄膜
太陽電池を作製できる。
ン元素を除く成分金属元素に対するカルコゲン元素のモ
ル比が0.2以上1未満である薄膜を、カルコゲン元素
を含有するガス雰囲気中で熱処理するカルコパイライト
薄膜の形成方法。 【効果】 基板に対する密着性が良好で、化学量論組成
を有する高結晶性のカルコパイライト薄膜を作製でき
る。又、この薄膜を用いれば、良好な特性を有する薄膜
太陽電池を作製できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カルコパイライト型化
合物の薄膜の形成方法及び薄膜太陽電池の製造方法に関
するものである。
合物の薄膜の形成方法及び薄膜太陽電池の製造方法に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】カルコパイライト型化合物は、太陽電池
や発光素子等への応用が期待されている材料である。従
来、カルコパイライト型化合物の薄膜(以下、カルコパ
イライト薄膜と記す。)を非晶質基板、非晶質薄膜ある
いは金属薄膜上に形成する場合は、カルコパイライト型
化合物そのものを蒸発源として蒸着させる真空蒸着法、
カルコパイライト型化合物そのものをターゲットとして
用いるスパッタリング法、カルコパイライト型化合物の
成分元素を別々に蒸着させる多元の真空蒸着法、カルコ
パイライト型化合物の成分元素を別々にターゲットとし
て用いるマルチスパッタリング法、あるいは構成金属の
積層薄膜、例えばCu−In薄膜のカルコゲナイト化等
のプロセスによって形成している。
や発光素子等への応用が期待されている材料である。従
来、カルコパイライト型化合物の薄膜(以下、カルコパ
イライト薄膜と記す。)を非晶質基板、非晶質薄膜ある
いは金属薄膜上に形成する場合は、カルコパイライト型
化合物そのものを蒸発源として蒸着させる真空蒸着法、
カルコパイライト型化合物そのものをターゲットとして
用いるスパッタリング法、カルコパイライト型化合物の
成分元素を別々に蒸着させる多元の真空蒸着法、カルコ
パイライト型化合物の成分元素を別々にターゲットとし
て用いるマルチスパッタリング法、あるいは構成金属の
積層薄膜、例えばCu−In薄膜のカルコゲナイト化等
のプロセスによって形成している。
【0003】しかしながら、カルコパイライト型化合物
そのものを蒸発源あるいはターゲットとして用いる場
合、カルコゲン元素の離脱による組成ずれがおこりやす
い。成分元素を別々に蒸着、スパッタする場合は、個々
の元素の蒸着速度の厳密な制御が難しい等の問題が生じ
る。また、構成金属の積層薄膜をカルコゲナイト化する
場合、形成した薄膜の基板に対する密着性が悪かった
り、形状の異なる結晶粒が混在しやすい等の問題があっ
た。
そのものを蒸発源あるいはターゲットとして用いる場
合、カルコゲン元素の離脱による組成ずれがおこりやす
い。成分元素を別々に蒸着、スパッタする場合は、個々
の元素の蒸着速度の厳密な制御が難しい等の問題が生じ
る。また、構成金属の積層薄膜をカルコゲナイト化する
場合、形成した薄膜の基板に対する密着性が悪かった
り、形状の異なる結晶粒が混在しやすい等の問題があっ
た。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、基板に対す
る密着性が良好で、カルコゲン元素の欠乏がなく、組成
の制御された高結晶性のカルコパイライト薄膜の形成方
法及びそれを用いた薄膜太陽電池の製造方法を提供する
ことを目的とする。
る密着性が良好で、カルコゲン元素の欠乏がなく、組成
の制御された高結晶性のカルコパイライト薄膜の形成方
法及びそれを用いた薄膜太陽電池の製造方法を提供する
ことを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】かかる状況下において、
本発明者らは、カルコパイライト薄膜中の成分金属元素
とカルコゲン元素との組成比と、膜の結晶性との関係に
ついて鋭意検討した結果、カルコゲン元素の組成比が、
化学量論組成(カルコゲン元素/金属元素のモル比1)
よりやや小さな薄膜を、そのカルコゲン元素を含有する
ガス雰囲気中で熱処理することにより、膜中にカルコゲ
ン元素が取り込まれて化学量論組成に近づくと共に、結
晶粒が大きく成長し、高結晶性のカルコパイライト薄膜
を形成することができ、しかも、このようなカルコパイ
ライト薄膜を用いて作製した薄膜太陽電池は、従来の方
法で作製したものに比べ、良好な特性を示すことをみい
だし、本発明をなすに至った。
本発明者らは、カルコパイライト薄膜中の成分金属元素
とカルコゲン元素との組成比と、膜の結晶性との関係に
ついて鋭意検討した結果、カルコゲン元素の組成比が、
化学量論組成(カルコゲン元素/金属元素のモル比1)
よりやや小さな薄膜を、そのカルコゲン元素を含有する
ガス雰囲気中で熱処理することにより、膜中にカルコゲ
ン元素が取り込まれて化学量論組成に近づくと共に、結
晶粒が大きく成長し、高結晶性のカルコパイライト薄膜
を形成することができ、しかも、このようなカルコパイ
ライト薄膜を用いて作製した薄膜太陽電池は、従来の方
法で作製したものに比べ、良好な特性を示すことをみい
だし、本発明をなすに至った。
【0006】すなわち、本発明は以下のとおりである。 1) 元素周期律表Ib族及びIIIb族金属並びにカ
ルコゲン元素からなり、熱処理後にカルコパイライト型
構造を採りうる薄膜を、上記カルコゲン元素を含有する
ガス雰囲気中で熱処理するカルコパイライト型化合物の
薄膜の形成方法において、熱処理前の上記薄膜中の元素
周期律表Ib族及びIIIb族金属に対するカルコゲン
元素のモル比が、0.2以上1未満であることを特徴と
するカルコパイライト型化合物の薄膜の形成方法。 2) 上記1記載のカルコパイライト型化合物の薄膜の
形成方法によって得られたカルコパイライト型化合物の
薄膜を用いることを特徴とする薄膜太陽電池の製造法。
ルコゲン元素からなり、熱処理後にカルコパイライト型
構造を採りうる薄膜を、上記カルコゲン元素を含有する
ガス雰囲気中で熱処理するカルコパイライト型化合物の
薄膜の形成方法において、熱処理前の上記薄膜中の元素
周期律表Ib族及びIIIb族金属に対するカルコゲン
元素のモル比が、0.2以上1未満であることを特徴と
するカルコパイライト型化合物の薄膜の形成方法。 2) 上記1記載のカルコパイライト型化合物の薄膜の
形成方法によって得られたカルコパイライト型化合物の
薄膜を用いることを特徴とする薄膜太陽電池の製造法。
【0007】本発明におけるカルコパイライト型化合物
とは、Cu,Ag等の元素周期律表Ib族金属及びA
l,Ga,In等の元素周期律表IIIb族金属並びに
S,Se,Te等のカルコゲン元素からなり、カルコパ
イライト(黄銅鉱)型構造をとる化合物を総称したもの
である。本発明において、熱処理前の薄膜の形成方法と
しては、スパッタ蒸着法、抵抗加熱蒸着法、電子線ビー
ム蒸着法、MBE、MOCVD、ALE、スプレー加熱
分解法、無電解メッキ法等多くの方法が選択できる。そ
の場合、熱処理前に、元素周期律表Ib族及びIIIb
族金属に対するカルコゲン元素のモル比が0.2以上1
未満であるような薄膜を形成する方法は、特に限定され
るものではないが、例えば、形成しようとするカルコパ
イライト型化合物の粉末又は成分金属元素各々のカルコ
ゲナイド化合物の混合粉末を、アルゴン等の不活性雰囲
気中で熱処理した粉末を原料として、スパッタ蒸着ある
いは抵抗加熱蒸着を行う方法及び成分金属元素とカルコ
ゲン元素を別々にとばす多源同時蒸着において、各元素
の蒸発速度をコントロールする方法等がある。
とは、Cu,Ag等の元素周期律表Ib族金属及びA
l,Ga,In等の元素周期律表IIIb族金属並びに
S,Se,Te等のカルコゲン元素からなり、カルコパ
イライト(黄銅鉱)型構造をとる化合物を総称したもの
である。本発明において、熱処理前の薄膜の形成方法と
しては、スパッタ蒸着法、抵抗加熱蒸着法、電子線ビー
ム蒸着法、MBE、MOCVD、ALE、スプレー加熱
分解法、無電解メッキ法等多くの方法が選択できる。そ
の場合、熱処理前に、元素周期律表Ib族及びIIIb
族金属に対するカルコゲン元素のモル比が0.2以上1
未満であるような薄膜を形成する方法は、特に限定され
るものではないが、例えば、形成しようとするカルコパ
イライト型化合物の粉末又は成分金属元素各々のカルコ
ゲナイド化合物の混合粉末を、アルゴン等の不活性雰囲
気中で熱処理した粉末を原料として、スパッタ蒸着ある
いは抵抗加熱蒸着を行う方法及び成分金属元素とカルコ
ゲン元素を別々にとばす多源同時蒸着において、各元素
の蒸発速度をコントロールする方法等がある。
【0008】熱処理前の薄膜中の元素周期律表Ib族金
属とIIIb族金属のモル比は、熱処理後にカルコパイ
ライト型構造をとりうれば特に限定されるものではない
が、IIIb族金属に対するIb族金属のモル比が、例
えば3以上と1よりも非常に大きかったり、0.3以下
と非常に小さかったりすると、熱処理後にカルコパイラ
イト型化合物とともにIb族金属やIIIb族金属のカ
ルコゲナイドが混在するようになり好ましくない。
属とIIIb族金属のモル比は、熱処理後にカルコパイ
ライト型構造をとりうれば特に限定されるものではない
が、IIIb族金属に対するIb族金属のモル比が、例
えば3以上と1よりも非常に大きかったり、0.3以下
と非常に小さかったりすると、熱処理後にカルコパイラ
イト型化合物とともにIb族金属やIIIb族金属のカ
ルコゲナイドが混在するようになり好ましくない。
【0009】また本発明においては、熱処理前の薄膜
の、カルコゲン元素を除く成分金属元素である元素周期
律表Ib族及びIIIb族金属に対するカルコゲン元素
のモル比が、0.2以上1未満であることが必要であ
り、好ましくは0.3以上0.9以下である。1以上で
あると、熱処理による結晶性向上効果が著しく小さくな
る。一方、モル比が0.2より小さいと、熱処理した膜
が、中にボイドを有する密着性の低いものになる。
の、カルコゲン元素を除く成分金属元素である元素周期
律表Ib族及びIIIb族金属に対するカルコゲン元素
のモル比が、0.2以上1未満であることが必要であ
り、好ましくは0.3以上0.9以下である。1以上で
あると、熱処理による結晶性向上効果が著しく小さくな
る。一方、モル比が0.2より小さいと、熱処理した膜
が、中にボイドを有する密着性の低いものになる。
【0010】カルコゲン元素を含有するガス雰囲気中で
熱処理する場合のガスとしては、カルコゲン元素単体の
蒸気、カルコゲン元素の水素化物、炭化物、メチル化
物、エチル化物等があり、中でも水素化物は熱処理効果
が大きく現れ好ましい。カルコゲン元素を含有するガス
の濃度は特に限定されないが、0.01〜100mol
%が好ましく、より好ましくは0.1〜30mol%で
ある。希釈ガスとしては、アルゴン、ヘリウム、窒素等
の不活性ガスが用いられる。熱処理の温度については、
このガスによる結晶性向上効果を得るためには、熱処理
前の膜成長時の基板温度より高いことが必要であり、3
00℃以上であることが好ましい。また、熱処理時間に
ついては、0.5時間以上が好ましい。
熱処理する場合のガスとしては、カルコゲン元素単体の
蒸気、カルコゲン元素の水素化物、炭化物、メチル化
物、エチル化物等があり、中でも水素化物は熱処理効果
が大きく現れ好ましい。カルコゲン元素を含有するガス
の濃度は特に限定されないが、0.01〜100mol
%が好ましく、より好ましくは0.1〜30mol%で
ある。希釈ガスとしては、アルゴン、ヘリウム、窒素等
の不活性ガスが用いられる。熱処理の温度については、
このガスによる結晶性向上効果を得るためには、熱処理
前の膜成長時の基板温度より高いことが必要であり、3
00℃以上であることが好ましい。また、熱処理時間に
ついては、0.5時間以上が好ましい。
【0011】カルコパイライト化合物には、多くの種類
があるが、それらのうち、CuInS2 ,CuInSe
2 ,CuInTe2 ,CuGaSe2 ,CuGaT
e2 ,AgInS2 ,AgInSe2 ,AgInT
e2 ,AgGaSe2 ,AgGaTe 2 或いはそれらの
固溶体等が、適当なバンドギャップを持っており、薄膜
太陽電池用の材料として好ましい。
があるが、それらのうち、CuInS2 ,CuInSe
2 ,CuInTe2 ,CuGaSe2 ,CuGaT
e2 ,AgInS2 ,AgInSe2 ,AgInT
e2 ,AgGaSe2 ,AgGaTe 2 或いはそれらの
固溶体等が、適当なバンドギャップを持っており、薄膜
太陽電池用の材料として好ましい。
【0012】本発明の特徴は、カルコパイライト薄膜を
形成するに際し、熱処理前の薄膜中のカルコゲン元素を
除く成分金属元素に対するカルコゲン元素のモル比が
0.2以上1未満になっていることであり、構成するカ
ルコゲン元素を含有する雰囲気中で熱処理することによ
り、化学量論組成に近づくと共に、結晶粒が著しく成長
して高結晶性のカルコパイライト薄膜を形成でき、か
つ、このようなカルコパイライト薄膜を用いて作製した
薄膜太陽電池が良好な特性を示すということである。
形成するに際し、熱処理前の薄膜中のカルコゲン元素を
除く成分金属元素に対するカルコゲン元素のモル比が
0.2以上1未満になっていることであり、構成するカ
ルコゲン元素を含有する雰囲気中で熱処理することによ
り、化学量論組成に近づくと共に、結晶粒が著しく成長
して高結晶性のカルコパイライト薄膜を形成でき、か
つ、このようなカルコパイライト薄膜を用いて作製した
薄膜太陽電池が良好な特性を示すということである。
【0013】
【実施例】以下に、この発明の実施例を具体的に説明す
る。
る。
【0014】
【実施例1】Cu2 S粉末とIn2 S3 粉末をモル比
1:1で混合後、Ar雰囲気中850℃で4時間焼成し
た。この粉末より作製したターゲットを用いて、スパッ
タリング法により、基板温度250℃でCu,In,S
からなる薄膜を形成した。この薄膜の組成比をEPMA
により測定したところ、Cu28at%、In28at
%、S44at%(Cu/In:1.0、S/(Cu+
In):0.79)であった。
1:1で混合後、Ar雰囲気中850℃で4時間焼成し
た。この粉末より作製したターゲットを用いて、スパッ
タリング法により、基板温度250℃でCu,In,S
からなる薄膜を形成した。この薄膜の組成比をEPMA
により測定したところ、Cu28at%、In28at
%、S44at%(Cu/In:1.0、S/(Cu+
In):0.79)であった。
【0015】次に、この薄膜を5mol%のH2 Sを含
むArガス雰囲気中700℃で3時間熱処理を行った。
熱処理後の薄膜の組成比をEPMA(日本電子(株)製
JCXA−733)により測定したところ、Cu25
at%、In25at%、S50at%であり、化学量
論組成のCuInS2 薄膜が形成されたことがわかる。
また、図1は、熱処理後の薄膜のX線回折スペクトル
((株)リガク製 RU−200を使用した。)である
が、このスペクトルからもカルコパイライト型構造を有
するCuInS2 薄膜であることが確認できる。尚、C
uInS2 (112)面のピークの半値幅は0.24度
であった。
むArガス雰囲気中700℃で3時間熱処理を行った。
熱処理後の薄膜の組成比をEPMA(日本電子(株)製
JCXA−733)により測定したところ、Cu25
at%、In25at%、S50at%であり、化学量
論組成のCuInS2 薄膜が形成されたことがわかる。
また、図1は、熱処理後の薄膜のX線回折スペクトル
((株)リガク製 RU−200を使用した。)である
が、このスペクトルからもカルコパイライト型構造を有
するCuInS2 薄膜であることが確認できる。尚、C
uInS2 (112)面のピークの半値幅は0.24度
であった。
【0016】図2は、上記の方法により作製したCuI
nS2 薄膜を用いた太陽電池の1例である。金属薄膜2
上の所定領域に、本発明の方法により、組成比がCu/
In=1のCuInS2 薄膜3を形成する。その上に、
ヘテロp−n接合を形成するために、CdS薄膜4を形
成する。その上の所定領域に、上部透明電極5を形成す
る。このようにして作製した太陽電池素子にAM1.5
の光を照射したところ、変換効率は4.5%であった。
nS2 薄膜を用いた太陽電池の1例である。金属薄膜2
上の所定領域に、本発明の方法により、組成比がCu/
In=1のCuInS2 薄膜3を形成する。その上に、
ヘテロp−n接合を形成するために、CdS薄膜4を形
成する。その上の所定領域に、上部透明電極5を形成す
る。このようにして作製した太陽電池素子にAM1.5
の光を照射したところ、変換効率は4.5%であった。
【0017】
【比較例1】混合粉末の焼成雰囲気が10mol%のH
2 Sを含むArガスであること以外は、実施例1と同様
にして、CuInS2 薄膜及び太陽電池素子を作製し
た。熱処理前後の薄膜の組成比は、いずれもCu24.
5at%,In24.5at%,S51at%(Cu/
In:1.0、S/(Cu+In):1.04)であ
り、熱処理による組成の変化はみられなかった。図3
は、熱処理後の薄膜のX線回折スペクトルであるが、カ
ルコパイライト型構造に特有の(103)面ピークがみ
られない。また、実施例1に比べて、ピーク強度が低い
上に、CuInS2 (112)面ピークの半値幅が0.
48度と大きく、結晶性が劣っていることがわかる。さ
らに、作製した太陽電池素子にAM1.5の光を照射し
たところ、変換効率は1.5%であった。
2 Sを含むArガスであること以外は、実施例1と同様
にして、CuInS2 薄膜及び太陽電池素子を作製し
た。熱処理前後の薄膜の組成比は、いずれもCu24.
5at%,In24.5at%,S51at%(Cu/
In:1.0、S/(Cu+In):1.04)であ
り、熱処理による組成の変化はみられなかった。図3
は、熱処理後の薄膜のX線回折スペクトルであるが、カ
ルコパイライト型構造に特有の(103)面ピークがみ
られない。また、実施例1に比べて、ピーク強度が低い
上に、CuInS2 (112)面ピークの半値幅が0.
48度と大きく、結晶性が劣っていることがわかる。さ
らに、作製した太陽電池素子にAM1.5の光を照射し
たところ、変換効率は1.5%であった。
【0018】
【実施例2】Cu,In,Seの3つの蒸発源より、温
度250℃の基板上に、同時に蒸着し、Cu−In−S
eからなる薄膜を形成した。この際、各蒸発源の温度を
コントロールすることにより、膜中のCuとInのモル
比が1で、CuとInに対するSeのモル比が1より小
さくなるようにした。この薄膜の組成比をEPMAによ
り測定したところ、Cu33at%,In33at%,
Se34at%(Cu/In:1.0,Se/(Cu+
In):0.52)であった。次に、この薄膜を、10
mol%のSe蒸気を含むN2 ガス中600℃で2時間
熱処理を行った。熱処理後の薄膜の組成比をEPMAに
より測定したところ、Cu25at%,In25at
%,Se50at%であり、化学量論組成のCuInS
e2 薄膜が形成されたことがわかる。又、熱処理後の薄
膜のX線回折スペクトルにおけるCuInSe2 (11
2)面のピークの半値幅は0.25度であった。
度250℃の基板上に、同時に蒸着し、Cu−In−S
eからなる薄膜を形成した。この際、各蒸発源の温度を
コントロールすることにより、膜中のCuとInのモル
比が1で、CuとInに対するSeのモル比が1より小
さくなるようにした。この薄膜の組成比をEPMAによ
り測定したところ、Cu33at%,In33at%,
Se34at%(Cu/In:1.0,Se/(Cu+
In):0.52)であった。次に、この薄膜を、10
mol%のSe蒸気を含むN2 ガス中600℃で2時間
熱処理を行った。熱処理後の薄膜の組成比をEPMAに
より測定したところ、Cu25at%,In25at
%,Se50at%であり、化学量論組成のCuInS
e2 薄膜が形成されたことがわかる。又、熱処理後の薄
膜のX線回折スペクトルにおけるCuInSe2 (11
2)面のピークの半値幅は0.25度であった。
【0019】上記の方法により作製したCuInSe2
薄膜をCuInS2 薄膜の代わりに用いて実施例1と同
様の構造の太陽電池素子を作製し、これにAM1.5の
光を照射したところ、変換効率は6.5%であった。
薄膜をCuInS2 薄膜の代わりに用いて実施例1と同
様の構造の太陽電池素子を作製し、これにAM1.5の
光を照射したところ、変換効率は6.5%であった。
【0020】
【比較例2】Cu,In,Se各蒸発源の温度をコント
ロールすることにより、膜中のCuとInのモル比が1
で、CuとInに対するSeのモル比が1より大きくな
るようにしたこと以外は、実施例2と同様にしてCuI
nSe2 薄膜及び太陽電池素子を作製した。熱処理前後
の薄膜の組成比は、いずれもCu24.2at%,In
24.2at%,Se51.6at%(Cu/In:
1.0、Se/(Cu+In):1.07)であり、熱
処理による組成の変化はみられなかった。熱処理後の薄
膜のX線回折スペクトルにおけるCuInSe2 (11
2)面のピークの半値幅は0.48度であった。また、
作製した太陽電池素子にAM1.5の光を照射したとこ
ろ、変換効率は3.5%であった。
ロールすることにより、膜中のCuとInのモル比が1
で、CuとInに対するSeのモル比が1より大きくな
るようにしたこと以外は、実施例2と同様にしてCuI
nSe2 薄膜及び太陽電池素子を作製した。熱処理前後
の薄膜の組成比は、いずれもCu24.2at%,In
24.2at%,Se51.6at%(Cu/In:
1.0、Se/(Cu+In):1.07)であり、熱
処理による組成の変化はみられなかった。熱処理後の薄
膜のX線回折スペクトルにおけるCuInSe2 (11
2)面のピークの半値幅は0.48度であった。また、
作製した太陽電池素子にAM1.5の光を照射したとこ
ろ、変換効率は3.5%であった。
【0021】
【比較例3】Cu,In,Se各蒸発源の温度をコント
ロールすることにより、膜中のCuとInのモル比が
1、CuとInに対するSeのモル比が0.1になるよ
うにしたこと以外は、実施例2と同様にしてCuInS
e2 薄膜及び太陽電池素子を作製した。熱処理後の薄膜
の組成比をEPMAにより測定したところ、Cu25a
t%,In25at%,Se50at%であり、X線回
折スペクトルにおけるCuInSe2 (112)面のピ
ークの半値幅は0.26度であった。ただし、SEMに
より表面を観察すると、明かに異相とわかる針状結晶が
混在しており、加えて、熱処理後の薄膜には部分的に剥
離がみられた。作製した太陽電池素子にAM1.5の光
を照射したところ、変換効率は3.2%であった。
ロールすることにより、膜中のCuとInのモル比が
1、CuとInに対するSeのモル比が0.1になるよ
うにしたこと以外は、実施例2と同様にしてCuInS
e2 薄膜及び太陽電池素子を作製した。熱処理後の薄膜
の組成比をEPMAにより測定したところ、Cu25a
t%,In25at%,Se50at%であり、X線回
折スペクトルにおけるCuInSe2 (112)面のピ
ークの半値幅は0.26度であった。ただし、SEMに
より表面を観察すると、明かに異相とわかる針状結晶が
混在しており、加えて、熱処理後の薄膜には部分的に剥
離がみられた。作製した太陽電池素子にAM1.5の光
を照射したところ、変換効率は3.2%であった。
【0022】
【発明の効果】本発明によれば、基板に対する密着性が
良好で、化学量論組成を有する高結晶性のカルコパイラ
イト薄膜を形成することができ、この薄膜を用いて作製
した薄膜太陽電池は良好な特性を示す。
良好で、化学量論組成を有する高結晶性のカルコパイラ
イト薄膜を形成することができ、この薄膜を用いて作製
した薄膜太陽電池は良好な特性を示す。
【図1】実施例1における、熱処理後の薄膜のX線回折
スペクトルである。
スペクトルである。
【図2】本発明によるカルコパイライト薄膜を用いた太
陽電池の素子構造の1例である。
陽電池の素子構造の1例である。
【図3】比較例1における、熱処理後の薄膜のX線回折
スペクトルである。
スペクトルである。
1 ガラス基板 2 金属電極 3 CuInS2 薄膜 4 CdS薄膜 5 透明電極
Claims (2)
- 【請求項1】 元素周期律表Ib族及びIIIb族金属
並びにカルコゲン元素からなり、熱処理後にカルコパイ
ライト型構造を採りうる薄膜を、上記カルコゲン元素を
含有するガス雰囲気中で熱処理するカルコパイライト型
化合物の薄膜の形成方法において、熱処理前の上記薄膜
中の元素周期律表Ib族及びIIIb族金属に対するカ
ルコゲン元素のモル比が、0.2以上1未満であること
を特徴とするカルコパイライト型化合物の薄膜の形成方
法。 - 【請求項2】 請求項1記載のカルコパイライト型化合
物の薄膜の形成方法によって得られたカルコパイライト
型化合物の薄膜を用いることを特徴とする薄膜太陽電池
の製造法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5097900A JPH06310747A (ja) | 1993-04-23 | 1993-04-23 | カルコパイライト薄膜の形成方法及び薄膜太陽電池の製造法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5097900A JPH06310747A (ja) | 1993-04-23 | 1993-04-23 | カルコパイライト薄膜の形成方法及び薄膜太陽電池の製造法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06310747A true JPH06310747A (ja) | 1994-11-04 |
Family
ID=14204618
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5097900A Withdrawn JPH06310747A (ja) | 1993-04-23 | 1993-04-23 | カルコパイライト薄膜の形成方法及び薄膜太陽電池の製造法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06310747A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012151432A (ja) * | 2010-06-28 | 2012-08-09 | Kyocera Corp | 光電変換素子および光電変換装置ならびに光電変換素子の製造方法 |
| JP2013224487A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-10-31 | Mitsubishi Materials Corp | 化合物薄膜形成用スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
-
1993
- 1993-04-23 JP JP5097900A patent/JPH06310747A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012151432A (ja) * | 2010-06-28 | 2012-08-09 | Kyocera Corp | 光電変換素子および光電変換装置ならびに光電変換素子の製造方法 |
| JP2013224487A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-10-31 | Mitsubishi Materials Corp | 化合物薄膜形成用スパッタリングターゲット及びその製造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101004452B1 (ko) | Ⅰ-ⅲ-ⅵ족 4원 또는 그 이상의 고원 합금 반도체 필름 | |
| JP3258667B2 (ja) | 太陽電池用の高効率Cu(In,Ga)(Se,S)2薄膜の製法 | |
| US9881774B2 (en) | Copper indium gallium selenide (CIGS) thin films with composition controlled by co-sputtering | |
| US5441897A (en) | Method of fabricating high-efficiency Cu(In,Ga)(SeS)2 thin films for solar cells | |
| US20200303571A1 (en) | I-iii-vi2 photovoltaic absorber layers | |
| US7833821B2 (en) | Method and apparatus for thin film solar cell manufacturing | |
| CN102893371B (zh) | 基于硫属化物的材料及制备这种材料的改进方法 | |
| KR101522128B1 (ko) | 5원 화합물 반도체 cztsse의 제조 방법, 및 박막 태양광 전지 | |
| US20110108096A1 (en) | Processing method and apparatus for group ibiiiavia semiconductor layer growth | |
| WO2003005456A1 (en) | Method for forming light-absorbing layer | |
| JPH06151930A (ja) | カルコパイライト型化合物薄膜の製造方法 | |
| US20120238053A1 (en) | Chalcogenide Absorber Layers for Photovoltaic Applications and Methods of Manufacturing the Same | |
| TW201138144A (en) | Method of manufacturing solar cell | |
| CN114242819A (zh) | 一种Sb2(S1-xSex)3薄膜太阳电池吸收层及其制备方法与应用 | |
| JP2000087234A (ja) | 化合物膜の製造装置および化合物膜の製造方法 | |
| Zweigart et al. | CuInSe 2 film growth using precursors deposited at low temperature | |
| JP5378534B2 (ja) | カルコパイライト型化合物薄膜の製造方法およびそれを用いた薄膜太陽電池の製造方法 | |
| Terauchi et al. | Preparation of CuInSe2 thin films by selenization of Cu In O precursors | |
| KR101388458B1 (ko) | 급속 열처리 공정을 사용한 cigs 박막의 제조방법 | |
| KR101583027B1 (ko) | Czts계 태양전지 광흡수층 제조방법 및 이에 따라 제조되는 czts계 태양전지 광흡수층 | |
| KR101638379B1 (ko) | 우선배향 제어된 cigs 박막 태양전지 및 그 제조방법 | |
| Yun et al. | Formation of CuIn1-xAlxSe2 Thin Films by Selenization of Metallic Precursors in Se Vapor | |
| JPH05267704A (ja) | 三元化合物半導体薄膜の製法 | |
| JPH08195499A (ja) | カルコパイライト化合物薄膜の製造方法 | |
| Kwatra et al. | Fabrication of CZTS thin films based solar cells using vacuum deposition techniques: a status review |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20000704 |