JPH0631432Y2 - マイクロ波測定治具 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 【産業上の利用分野】

本考案は、フィルタ、増幅器等のマイクロ波回路部品の
電気特性を測定するためのマイクロ波測定治具に関する
ものである。

【従来の技術】

従来、フィルタ、増幅器等のマイクロ波回路部品の電気
特性を測定する場合には、例えば第５図に示す同軸コネ
クタ10,10間を所定長ｌのマイクロストリップライン11
で接続する同軸・マイクロストリップライン変換ブロッ
ク12で一体化した校正用治具４と、例えば第６図に示す
同軸コネクタ10,10間がマイクロストリップライン11′
及び11″の合計長さがｌとなる２つの同軸・マイクロス
トリップライン変換ブロック12′及び12″に分割されて
いて、２つの同軸・マイクロストリップライン変換ブロ
ック12′，12″間にマイクロ波回路部品２を挾んで測定
するための測定用治具５との２種類の治具を使用するこ
とが行われている。 あるいは例えば第６図に示す測定用治具５の同軸・マイ
クロストリップライン変換ブロック12′及び12″のマイ
クロストリップライン11′及び11″の両側に平行にそれ
ぞれ貫通穴12′ａ，12′ａ及び12″ａ，12″ａをマイク
ロストリップライン11′及び11″から離間して同軸・マ
イクロストリップライン変換ブロック12′，12″間に渡
ってマイクロストリップライン11′及び11″に垂直に設
けた凹みに貫通するように設けた測定用治具本体と、そ
れぞれの貫通穴12′ａ，12′ａ及び12″ａ，12″ａに貫
通するネジピッチを有する４本のネジ15からなる第７〜
10図に示すマイクロ波測定治具６を使用することが行わ
れている。

【考案が解決しようとする課題】

ここで第５図に示す校正用治具４と第６図に示す測定用
治具５の２種類の治具を使用する場合には、それぞれの
治具の個体差により校正に誤差を生じ、測定確度が劣る
ことが問題となっている。 他方、第７〜10図に示すマイクロ波測定治具６を使用す
る場合には、校正時に第７及び８図に示すように同軸・
マイクロストリップライン変換ブロック12′，12″が接
合され、マイクロストリップライン11′，11″の開放端
が互いに接続されるように同軸・マイクロストリップラ
イン変換ブロック12′，12″間の凹みにそれぞれ貫通穴
12′ａ及び12″ａに連通し、ネジ15と螺合する２つのネ
ジ穴７ｂの開けられた台７を挾んで同軸・マイクロスト
リップライン変換ブロック12′及び12″を台７に４本の
ネジ15でネジ止めし、測定時に第９及び10図に示すよう
に２つの同軸・マイクロストリップライン変換ブロック
12′，12″間にマイクロ波回路部品２を挾み、同軸・マ
イクロストリップライン変換ブロック12′，12″間の凹
みに台７より挾まれる部分がマイクロ波回路部品２分長
い台８を挾んで同軸・マイクロストリップライン変換ブ
ロック12′及び12″をネジ穴７ｂと同様の２つのネジ穴
８ｂの開けられた台８に４本のネジ15でネジ止めするこ
とが行われ、このように校正時及び測定時に４本のネジ
15の着脱を行うことは、特に何度も測定を繰返す場合な
ど、その労力の負担が大きく、測定に時間がかかり、ま
た、構造が複雑なため製作コストも高いなどの点が問題
となっている。 本考案は上記事情に鑑みなされたもので、上記ネジ止め
による労力の負担を低減し、作業能率良くマイクロ波回
路部品の電気特性の測定及び測定前の校正が行えるマイ
クロ波測定治具を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

本考案は、一端に同軸コネクタを接続したマイクロスト
リップラインを有する一対の同軸・マイクロストリップ
ライン変換ブロックからなり、ネジで前記一対の同軸・
マイクロストリップライン変換ブロックを接合すること
により前記マイクロストリップラインの他端を相互に接
続可能とするネジ穴及び貫通穴が前記それぞれの同軸・
マイクロストリップライン変換ブロックのマイクロスト
リップラインの両側に平行に貫通して開けられた測定治
具本体と、前記ネジ穴に螺合する複数本のネジとから構
成され、前記マイクロストリップラインの他端を相互に
接続して校正し、前記一対の同軸・マイクロストリップ
ライン変換ブロックの間にマイクロ波回路部品を挾んで
該マイクロ波回路部品の電気特性を測定するためのマイ
クロ波測定治具である点においては上記第２番目に説明
した従来のマイクロ波測定治具と同様であるが、この種
のマイクロ波測定治具とは異なり、前記複数本のネジ
を、ピッチ部分の長さが前記一対の同軸・マイクロスト
リップライン変換ブロックのいずれの長さよりも長く両
者の長さよりも短い２本の短ネジと、ピッチ部分の長さ
が該短ネジより前記一対の同軸・マイクロストリップラ
イン変換ブロックの間に挾むマイクロ波回路部品の長さ
分長い２本の長ネジとの２種類としたことにより上記目
的を達成したものである。

【作用】

上記構成のマイクロ波測定治具によれば、一対の同軸・
マイクロストリップライン変換ブロックのマイクロスト
リップラインの開放端側端面を合わせて２本の短ネジを
それぞれの同軸・マイクロストリップライン変換ブロッ
クのネジ穴から交互に挿入して一対の同軸・マイクロス
トリップライン変換ブロックを接合することによりそれ
ぞれのマイクロストリップラインの開放端が相互に接続
され、校正の準備がなされる。 また、一対の同軸・マイクロストリップライン変換ブロ
ックのマイクロストリップラインの開放端側端面の間に
マイクロ波回路部品を挾んで２本の長ネジをそれぞれの
同軸・マイクロストリップライン変換ブロックのネジ穴
から交互に挿入して一対の同軸・マイクロストリップラ
イン変換ブロックを接合することによりマイクロ波回路
部品の電気特性の測定の準備がなされる。

【実施例】

以下に図面とともに実施例を示し、この考案を更に詳し
く説明する。 第１〜４図は、本考案のマイクロ波測定治具の一例、並
びにその校正時及び測定時の使用状態を示すもので、こ
のマイクロ波測定治具１の本体は、第７〜10図に示すマ
イクロ波測定治具６の本体と比較して同軸・マイクロス
トリップライン変換ブロック12′，12″間に渡る凹みが
なく、それぞれの貫通穴12′ａ，12′ａ及び12″ａ，1
2″ａの一方が交互にネジ穴12′ｂ及び12″ｂとなって
いる点を除いて同様の構造となっている。このため、校
正時に同軸・マイクロストリップライン変換ブロック1
2′，12″間に台を挾む必要はなく、また、第３及び４
図に示すように、測定時に台３が挾んで使用されるが、
この台３は第９及び10図に示すマイクロ波測定治具６の
場合の台８のように凸形でなく、平板状のものが使用さ
れ、この台３には同軸・マイクロストリップライン変換
ブロック12′，12″の貫通穴12′ａとネジ穴12″ｂ、ネ
ジ穴12′ｂと貫通穴12″ａにそれぞれ連通する２つの貫
通穴３ａが開けられている。 第１〜４図に示すマイクロ波測定治具１においては、同
軸・マイクロストリップライン変換ブロック12′，12″
のいずれの長さよりも長く両者の長さよりも短い２本の
短ネジ13と、ピッチ部分の長さがこの短ネジ13より同軸
・マイクロストリップライン変換ブロック12′，12″の
間に挾むマイクロ波回路部品２の略長さ分長い２本の長
ネジ14が使用され、この点は４本のネジ14を使用する第
７〜10図に示すマイクロ波測定治具と異なる。 そして、マイクロ波回路部品２の電気特性を測定する前
に校正を行う場合には、同軸・マイクロストリップライ
ン変換ブロック12′，12″のマイクロストリップライン
11′，11″の開放端側端面を合わせて２本の短ネジ13を
それぞれの同軸・マイクロストリップライン変換ブロッ
クの貫通穴12′ａ，12″ａから交互に挿入して同軸・マ
イクロストリップライン変換ブロック12′，12″をネジ
止めして相互に接合することによりそれぞれのマイクロ
ストリップライン11′，11″の開放端が相互に接続され
る。次いでマイクロ波回路部品２の電気特性を測定する
場合には、同軸・マイクロストリップライン変換ブロッ
ク12′，12″のマイクロストリップライン11′，11″の
開放端側端面の間にマイクロ波回路部品２を挾んで２本
の長ネジ14をそれぞれの同軸・マイクロストリップライ
ン変換ブロックの貫通穴12′ａ，12″ａから交互に挿入
してネジ止めすることにより同軸・マイクロストリップ
ライン変換ブロック12′，12″が接合される。 以上、本考案の実施例を示したが、本考案のマイクロ波
測定治具は、更に測定するマイクロ波回路部品の位置決
めを正確に行うため、第４図に示す台３及びマイクロス
トリップライン変換ブロック12′，12″のいずれか一方
にガイドピンを設け、他方の対応する位置にガイドピン
と嵌合する溝穴を設けたり、あるいは十分な接地を行う
ため、マイクロストリップライン11′，11″の開放端あ
るいは同軸・マイクロストリップライン変換ブロック1
2′，12″の下端部に突起を設けてマイクロ波回路部品
２のアースと確実に接続しても良いなど、実用新案登録
請求の範囲に記載された範囲内で種々の変形が可能であ
る。

【考案の効果】

以上説明してきたように、本考案のマイクロ波測定治具
は、校正及びマイクロ波回路部品の電気特性の測定が同
一の治具で行える構造となっているので、校正が正確に
行え、確度の高いマイクロ波回路部品の電気特性の測定
が行える。 また、２本のネジでネジ止めして校正及びマイクロ波回
路部品の電気特性の測定を行う構造となっているので、
従来の４本のネジでネジ止するマイクロ波測定治具に比
較して作業性が良く、構造が簡単であるため製作コスト
も安く済む。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案のマイクロ波測定治具の校正時の構成
例を概略的に示す平面図、 第２図は、第１図のマイクロ波測定治具の側面図、 第３図は、本考案のマイクロ波測定治具の測定時の構成
例を概略的に示す平面図、 第４図は、第２図のマイクロ波測定治具の側面図、 第５図は、従来のマイクロ波測定治具に係る校正用治具
の一例を概略的に示す平面図、 第６図は、第５図の校正用治具と併用される従来のマイ
クロ波測定治具に係る測定用治具の一例を概略的に示す
平面図、 第７図は、従来のマイクロ波測定治具の校正時の構成例
を概略的に示す平面図、 第８図は、第７図のマイクロ波測定治具の側面図、 第９図は、従来のマイクロ波測定治具の測定時の構成例
を概略的に示す平面図、 第10図は、第９図のマイクロ波測定治具の側面図であ
る。 １，６……マイクロ波測定治具、２……マイクロ波回路
部品、３，７，８……台、４……校正用治具、５……測
定用治具、10……同軸コネクタ、11,11′，11″……マ
イクロストリップライン、12,12′，12″……マイクロ
ストリップライン変換ブロック、３ａ，12′ａ，12″ａ
……貫通穴、７ｂ，８ｂ，12′ｂ，12″ｂ……ネジ穴、
13,14,15……ネジ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】一端に同軸コネクタを接続したマイクロス
   トリップラインを有する一対の同軸・マイクロストリッ
   プライン変換ブロックからなり、ネジで前記一対の同軸
   ・マイクロストリップライン変換ブロックを接合するこ
   とにより前記マイクロストリップラインの他端を相互に
   接続可能とするネジ穴及び貫通穴が前記それぞれの同軸
   ・マイクロストリップライン変換ブロックのマイクロス
   トリップラインの両側に平行に貫通して開けられた測定
   治具本体と、前記ネジ穴に螺合する複数本のネジとから
   構成され、前記マイクロストリップラインの他端を相互
   に接続して校正し、前記一対の同軸・マイクロストリッ
   プライン変換ブロックの間にマイクロ波回路部品を挾ん
   で該マイクロ波回路部品の電気特性を測定するためのマ
   イクロ波測定治具において、前記複数本のネジを、ピッ
   チ部分の長さが前記一対の同軸・マイクロストリップラ
   イン変換ブロックのいずれの長さよりも長く両者の長さ
   よりも短い２本の短ネジと、ピッチ部分の長さが該短ネ
   ジより前記一対の同軸・マイクロストリップライン変換
   ブロックの間に挾むマイクロ波回路部品の長さ分長い２
   本の長ネジとの２種類とし、それぞれの種類のネジを交
   互に挿入することで作業性を簡略化したことを特徴とす
   るマイクロ波測定治具。