JPH06314947A - 水晶振動子とその製造方法 - Google Patents
水晶振動子とその製造方法Info
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- JPH06314947A JPH06314947A JP5103849A JP10384993A JPH06314947A JP H06314947 A JPH06314947 A JP H06314947A JP 5103849 A JP5103849 A JP 5103849A JP 10384993 A JP10384993 A JP 10384993A JP H06314947 A JPH06314947 A JP H06314947A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 小型高安定の水晶振動子を得る。
【構成】 振動用水晶板1を、水晶と基板2の材料の中
間の大きさの熱膨張率である緩衝板3を介して基板2と
直接接合により固定した水晶振動子の構成とする。また
その製造方法は、振動用水晶板1と、緩衝板3と、基板
2の表面を、親水処理を施して接触させ、そのまま熱処
理後においても水晶が圧電性を示す温度範囲内において
熱処理することにより、前記振動用水晶板1と緩衝板3
と基板2を直接接合させる。
間の大きさの熱膨張率である緩衝板3を介して基板2と
直接接合により固定した水晶振動子の構成とする。また
その製造方法は、振動用水晶板1と、緩衝板3と、基板
2の表面を、親水処理を施して接触させ、そのまま熱処
理後においても水晶が圧電性を示す温度範囲内において
熱処理することにより、前記振動用水晶板1と緩衝板3
と基板2を直接接合させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は小型高安定な水晶振動子
およびその製造方法に関する。
およびその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】水晶振動子は、その高い安定性により、
情報通信に欠かせない重要なデバイスとして用いられて
いる。近年衛星通信や携帯電話などの発達にともない、
各デバイスの小型化、高性能化が一つの大きな目標とさ
れているが、水晶振動子も例外ではない。
情報通信に欠かせない重要なデバイスとして用いられて
いる。近年衛星通信や携帯電話などの発達にともない、
各デバイスの小型化、高性能化が一つの大きな目標とさ
れているが、水晶振動子も例外ではない。
【0003】水晶振動子には、厳しい周波数安定性が要
求される。水晶振動子の周波数は、振動用水晶板に応力
が加わることによって変化するので、前記振動用水晶板
に加わる応力を軽減する工夫が様々なされている。
求される。水晶振動子の周波数は、振動用水晶板に応力
が加わることによって変化するので、前記振動用水晶板
に加わる応力を軽減する工夫が様々なされている。
【0004】従来の水晶振動子としては、ATカット水
晶板を金属性の支持架により支持したものがある。図6
にこれらの水晶振動子の一例を示す。図6において、1
5はATカットした水晶板であり、この水晶板1の両面
には電極4を蒸着して形成している。前記水晶板1は保
持部16でを保持されており、保持部16と水晶板15
は導電性接着剤17で接着されている。そして前記電極
4は導電性接着剤17を介してそれぞれ別の保持部に電
気的に接続されている。
晶板を金属性の支持架により支持したものがある。図6
にこれらの水晶振動子の一例を示す。図6において、1
5はATカットした水晶板であり、この水晶板1の両面
には電極4を蒸着して形成している。前記水晶板1は保
持部16でを保持されており、保持部16と水晶板15
は導電性接着剤17で接着されている。そして前記電極
4は導電性接着剤17を介してそれぞれ別の保持部に電
気的に接続されている。
【0005】このように従来の水晶振動子においては、
水晶板15を保持するために、通常、金属の保持部16
と導電性接着剤17を用いる。図7にこの水晶振動子の
製造工程例を示す。この製造工程においては、水晶板の
切断を行ない、この後、個別に切り離された水晶板の研
磨を行なう。次に切断された水晶板に電極を蒸着し、保
持部と結合する。さらに導電性接着剤を添付し、周波数
調整を行ない、金属パッケージにて気密封止する。
水晶板15を保持するために、通常、金属の保持部16
と導電性接着剤17を用いる。図7にこの水晶振動子の
製造工程例を示す。この製造工程においては、水晶板の
切断を行ない、この後、個別に切り離された水晶板の研
磨を行なう。次に切断された水晶板に電極を蒸着し、保
持部と結合する。さらに導電性接着剤を添付し、周波数
調整を行ない、金属パッケージにて気密封止する。
【0006】図8には保持部の熱応力の問題を解決する
ものか示されている(特開平2−261210号公
報)。このものは振動用水晶片18の両面に励磁電極1
9を蒸着し、振動用水晶片18を熱膨張のほぼ同じ水晶
片20で保持している。前記水晶片20は基台21上に
配置され、振動用水晶片18と保持用水晶片20は導電
性接着剤22で固着され、保持用水晶片20と基台21
は接着剤23で接着されている。そして振動用水晶片1
8と保持用水晶片20の固着方向(X−X方向)と、保
持用水晶片20と基台21の固着方向(Z−Z)とを直
交する方向にしている。
ものか示されている(特開平2−261210号公
報)。このものは振動用水晶片18の両面に励磁電極1
9を蒸着し、振動用水晶片18を熱膨張のほぼ同じ水晶
片20で保持している。前記水晶片20は基台21上に
配置され、振動用水晶片18と保持用水晶片20は導電
性接着剤22で固着され、保持用水晶片20と基台21
は接着剤23で接着されている。そして振動用水晶片1
8と保持用水晶片20の固着方向(X−X方向)と、保
持用水晶片20と基台21の固着方向(Z−Z)とを直
交する方向にしている。
【0007】また、水晶振動子の応用製品として、水晶
発振器や温度補償水晶発振器(TCXO)、電圧制御水
晶発振器(VCXO)などがある。図9に一般的なTC
XOの外観図を示す。ここでは理解しやすいように、ケ
ースの一部を取り除いた様子を示している。図に示すよ
うに、ケース26内には水晶振動子24と、発振回路や
電圧制御回路、温度センサーなどを含む制御回路25が
組み合わされて収められた構成となっている。
発振器や温度補償水晶発振器(TCXO)、電圧制御水
晶発振器(VCXO)などがある。図9に一般的なTC
XOの外観図を示す。ここでは理解しやすいように、ケ
ースの一部を取り除いた様子を示している。図に示すよ
うに、ケース26内には水晶振動子24と、発振回路や
電圧制御回路、温度センサーなどを含む制御回路25が
組み合わされて収められた構成となっている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図6で
示すもののように金属の保持部16を用いた場合、熱膨
張率が水晶板15の熱膨張率と異なるため、水晶振動子
の温度が変化すると、保持部16と水晶板15との間に
熱応力が発生する。水晶板15の発振周波数は水晶中の
応力に大きく依存するために、このような保持方法では
温度変化に対し不安定な水晶振動子となる。そのため、
水晶板15における振動部分に応力がかからないよう
に、電極4と保持部16との間を大きくあけなければな
らない。また、導電性接着剤17を用いるために、接着
時の導電性接着剤17の伸縮による応力が水晶板15に
かかる問題、導電性接着剤17と水晶板15との熱膨張
率の差により熱応力が発生する問題、また接着強度が十
分でなく大きな接着面積が必要であること、導電性接着
剤17の耐熱性に問題があるために半田付けにおいて低
温での処理しかできないこと、導電性接着剤17の硬化
に伴うガスの放出、機械的振動に対して十分安定でない
こと、さらには導電性接着剤17の劣化の問題などによ
り、水晶振動子の安定性は悪化することになる。また導
電性接着剤でなく他の種々の接着剤を用いる方法もある
が、接着剤を用いる限り基本的にこの問題は解決されな
い。
示すもののように金属の保持部16を用いた場合、熱膨
張率が水晶板15の熱膨張率と異なるため、水晶振動子
の温度が変化すると、保持部16と水晶板15との間に
熱応力が発生する。水晶板15の発振周波数は水晶中の
応力に大きく依存するために、このような保持方法では
温度変化に対し不安定な水晶振動子となる。そのため、
水晶板15における振動部分に応力がかからないよう
に、電極4と保持部16との間を大きくあけなければな
らない。また、導電性接着剤17を用いるために、接着
時の導電性接着剤17の伸縮による応力が水晶板15に
かかる問題、導電性接着剤17と水晶板15との熱膨張
率の差により熱応力が発生する問題、また接着強度が十
分でなく大きな接着面積が必要であること、導電性接着
剤17の耐熱性に問題があるために半田付けにおいて低
温での処理しかできないこと、導電性接着剤17の硬化
に伴うガスの放出、機械的振動に対して十分安定でない
こと、さらには導電性接着剤17の劣化の問題などによ
り、水晶振動子の安定性は悪化することになる。また導
電性接着剤でなく他の種々の接着剤を用いる方法もある
が、接着剤を用いる限り基本的にこの問題は解決されな
い。
【0009】また図7に示す製造法においては小型の水
晶振動子を作成するために水晶板を小さく切断すると研
磨工程において非常に小さな水晶板を扱うことになる。
このような微小な水晶板を研磨するには高度な研磨装置
を使用しなければならない。そのため、さらに小さな水
晶振動子を精度良く作成するためにこの製法を用いるこ
とは困難である。また切断された水晶板を個別に取り扱
う必要性があり、さらに導電性接着剤を塗付するため
に、水晶板はある程度以上の大きさが必要とされる。上
記の切断、研磨に関する理由、導電性接着剤に関する理
由により、通常このような構造の水晶振動子では、水晶
板は幅2ミリ以上、長さ5ミリ以上の大きさがないと、
高安定な水晶振動子を作成することが困難であった。ま
た、水晶板そのものが大きいこと、気密封止のため別途
容器に実装しなければならないことから、水晶振動子全
体ではかなりの大きさが必要とされる。
晶振動子を作成するために水晶板を小さく切断すると研
磨工程において非常に小さな水晶板を扱うことになる。
このような微小な水晶板を研磨するには高度な研磨装置
を使用しなければならない。そのため、さらに小さな水
晶振動子を精度良く作成するためにこの製法を用いるこ
とは困難である。また切断された水晶板を個別に取り扱
う必要性があり、さらに導電性接着剤を塗付するため
に、水晶板はある程度以上の大きさが必要とされる。上
記の切断、研磨に関する理由、導電性接着剤に関する理
由により、通常このような構造の水晶振動子では、水晶
板は幅2ミリ以上、長さ5ミリ以上の大きさがないと、
高安定な水晶振動子を作成することが困難であった。ま
た、水晶板そのものが大きいこと、気密封止のため別途
容器に実装しなければならないことから、水晶振動子全
体ではかなりの大きさが必要とされる。
【0010】つぎに図8に示すものにおいては保持用水
晶片20の長手方向は自由端となり、熱に対して伸縮自
在でストレスは生じない。また振動用水晶片18は長手
方向を水晶片20の同方向に一致してその両端側を固着
する。したがって振動用水晶片18の長手方向の伸縮は
保持用水晶片20の影響を受けるが同一材料で熱膨張係
数が等しく熱によるストレスは発生しない。こうするこ
とにより、熱膨張による周波数変化を防止して良好な温
度特性が得られる。しかし、振動用水晶片18と保持用
水晶片20との固定を導電性接着剤を用いて行なってい
るので、この導電性接着剤に起因する各種の様々な問
題、接着時の接着剤の伸縮による応力が振動用水晶片1
8にかかる問題、接着剤と振動用水晶片18との熱膨張
率の差により熱応力が発生する問題、また接着強度が十
分でなく大きな接着面積が必要であること、導電性接着
剤の耐熱性に問題があるために半田付けにおいて低温で
の処理しかできないこと、導電性接着剤の硬化に伴うガ
スの放出、機械的振動に対して十分安定でないこと、さ
らには接着剤の劣化の問題は解決されない。そのため、
この水晶振動子においても温度特性および劣化の点で十
分な安定性を持つことができない。
晶片20の長手方向は自由端となり、熱に対して伸縮自
在でストレスは生じない。また振動用水晶片18は長手
方向を水晶片20の同方向に一致してその両端側を固着
する。したがって振動用水晶片18の長手方向の伸縮は
保持用水晶片20の影響を受けるが同一材料で熱膨張係
数が等しく熱によるストレスは発生しない。こうするこ
とにより、熱膨張による周波数変化を防止して良好な温
度特性が得られる。しかし、振動用水晶片18と保持用
水晶片20との固定を導電性接着剤を用いて行なってい
るので、この導電性接着剤に起因する各種の様々な問
題、接着時の接着剤の伸縮による応力が振動用水晶片1
8にかかる問題、接着剤と振動用水晶片18との熱膨張
率の差により熱応力が発生する問題、また接着強度が十
分でなく大きな接着面積が必要であること、導電性接着
剤の耐熱性に問題があるために半田付けにおいて低温で
の処理しかできないこと、導電性接着剤の硬化に伴うガ
スの放出、機械的振動に対して十分安定でないこと、さ
らには接着剤の劣化の問題は解決されない。そのため、
この水晶振動子においても温度特性および劣化の点で十
分な安定性を持つことができない。
【0011】また、図9と示すTCXO等においては前
記水晶振動子24と、前記制御回路部25とは、各々別
々に作られたものが、組み合わされ、ケース26に納め
られるため、全体としての大きさを小型化するのは非常
に困難であった。
記水晶振動子24と、前記制御回路部25とは、各々別
々に作られたものが、組み合わされ、ケース26に納め
られるため、全体としての大きさを小型化するのは非常
に困難であった。
【0012】このように従来の水晶振動子においては、
水晶板と保持部を接着するための導電性接着剤に起因す
る、接着時の接着剤の伸縮による応力が水晶にかかる問
題、振動などに対する接着強度低下の問題、半田付けの
際の加熱に対する信頼性の問題、気体放出の問題さらに
は接着剤の劣化の問題等が存在し、経時変化および機械
的振動に対して特性が不安定であった。さらに水晶振動
子やそれを応用した製品の小型化には、その構造に起因
した基本的な問題が存在する。
水晶板と保持部を接着するための導電性接着剤に起因す
る、接着時の接着剤の伸縮による応力が水晶にかかる問
題、振動などに対する接着強度低下の問題、半田付けの
際の加熱に対する信頼性の問題、気体放出の問題さらに
は接着剤の劣化の問題等が存在し、経時変化および機械
的振動に対して特性が不安定であった。さらに水晶振動
子やそれを応用した製品の小型化には、その構造に起因
した基本的な問題が存在する。
【0013】本発明は、水晶振動子の上記欠点を克服す
るものであり、小型、高安定の水晶振動子およびその製
造法を提供する。
るものであり、小型、高安定の水晶振動子およびその製
造法を提供する。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するた
め、本発明は振動用水晶板を水晶と基板材料の中間の熱
膨張率を有する緩衝板を介して基板と直接接合によりて
固定した水晶振動子の構成とする。またその製造方法
は、振動用水晶板と、緩衝板と、基板の表面を、親水処
理を施して接触させ、そのまま熱処理後においても水晶
が圧電性を示す温度範囲内において熱処理することによ
り、前記振動用水晶板と緩衝板と基板を直接接合させる
方法とする。
め、本発明は振動用水晶板を水晶と基板材料の中間の熱
膨張率を有する緩衝板を介して基板と直接接合によりて
固定した水晶振動子の構成とする。またその製造方法
は、振動用水晶板と、緩衝板と、基板の表面を、親水処
理を施して接触させ、そのまま熱処理後においても水晶
が圧電性を示す温度範囲内において熱処理することによ
り、前記振動用水晶板と緩衝板と基板を直接接合させる
方法とする。
【0015】
【作用】上記のような構成ならびに製造方法としたこと
により、すなわち振動用水晶板は接着剤を用いず直接接
合によって固定されるので、その接着強度は強固で、振
動などに対する安定性が向上し、半田付けなどによる熱
に対しても安定で劣化が生じず、気体の発生もないので
振動特性の劣化もない。しかも、前記振動用水晶板は、
前記緩衝板と共に前記基板に正確な位置に固定されるの
で、封止の際の空間を小さくでき、水晶振動子全体とし
ての小型化が容易である。なお緩衝板としてガラスを用
いると、安価で、なおかつエッチングなどによる加工が
容易である。さらに前記振動用水晶板と前記緩衝板とは
前記基板に固定されており、前記基板としてシリコンを
用いることにより制御回路などを組み込み、一体化する
ことができるので、ワンチップ化された水晶発振器、T
CXOやVCXOの作製が可能になるため、これらの製
品を容易に小型化できる。
により、すなわち振動用水晶板は接着剤を用いず直接接
合によって固定されるので、その接着強度は強固で、振
動などに対する安定性が向上し、半田付けなどによる熱
に対しても安定で劣化が生じず、気体の発生もないので
振動特性の劣化もない。しかも、前記振動用水晶板は、
前記緩衝板と共に前記基板に正確な位置に固定されるの
で、封止の際の空間を小さくでき、水晶振動子全体とし
ての小型化が容易である。なお緩衝板としてガラスを用
いると、安価で、なおかつエッチングなどによる加工が
容易である。さらに前記振動用水晶板と前記緩衝板とは
前記基板に固定されており、前記基板としてシリコンを
用いることにより制御回路などを組み込み、一体化する
ことができるので、ワンチップ化された水晶発振器、T
CXOやVCXOの作製が可能になるため、これらの製
品を容易に小型化できる。
【0016】
【実施例】以下本発明の実施例について、図面を参照し
ながら説明する。 (実施例1)図1は本実施例における水晶振動子の斜視
図である。この図において、1は振動用水晶板、2はシ
リコン基板であり、両者間には前記振動用水晶板1ほど
大きくなく前記シリコン基板2より大きな熱膨張率を有
する緩衝用ガラス板3を介在している。前記振動用水晶
板1には励起電極4が設けられこの励起電極4よりシリ
コン電極2上の端子6まで電極引出し部5が設けられて
いる。
ながら説明する。 (実施例1)図1は本実施例における水晶振動子の斜視
図である。この図において、1は振動用水晶板、2はシ
リコン基板であり、両者間には前記振動用水晶板1ほど
大きくなく前記シリコン基板2より大きな熱膨張率を有
する緩衝用ガラス板3を介在している。前記振動用水晶
板1には励起電極4が設けられこの励起電極4よりシリ
コン電極2上の端子6まで電極引出し部5が設けられて
いる。
【0017】本実施例において、前記振動用水晶板1の
周辺近傍の一部は、前記緩衝用ガラス板3に直接接合に
よって固定され、前記緩衝用ガラス板3の前記振動用水
晶板1の一部は、前記シリコン基板2に直接接合によっ
て固着されている。
周辺近傍の一部は、前記緩衝用ガラス板3に直接接合に
よって固定され、前記緩衝用ガラス板3の前記振動用水
晶板1の一部は、前記シリコン基板2に直接接合によっ
て固着されている。
【0018】ここで、直接接合について説明する。直接
接合とは、シリコン基板どうし、シリコン基板とガラス
板、ガラス板と水晶板などを接着剤を介在させずに基板
の非固着面上の結晶表面構成原子と他方の基板の結晶表
面構成原子との間の共有結合を用いて直接的に固着させ
るという技術で、研磨、洗浄、親水基形成処理を行なっ
たシリコン基板やガラス板、水晶板などを清浄雰囲気中
で接触させ、加熱処理を行い、強固な固着を得るという
ものである。この固着強度は親水基形成処理後接触させ
られただけの初期段階においても数十kgw/cm2 程
度の値を示すが、加熱処理を施すことによってその値は
数百kgw/cm2 以上に上昇する。
接合とは、シリコン基板どうし、シリコン基板とガラス
板、ガラス板と水晶板などを接着剤を介在させずに基板
の非固着面上の結晶表面構成原子と他方の基板の結晶表
面構成原子との間の共有結合を用いて直接的に固着させ
るという技術で、研磨、洗浄、親水基形成処理を行なっ
たシリコン基板やガラス板、水晶板などを清浄雰囲気中
で接触させ、加熱処理を行い、強固な固着を得るという
ものである。この固着強度は親水基形成処理後接触させ
られただけの初期段階においても数十kgw/cm2 程
度の値を示すが、加熱処理を施すことによってその値は
数百kgw/cm2 以上に上昇する。
【0019】具体的にこのような結合は以下のようにし
て形成される。親水基形成処理後、接触させられただけ
の初期段階において、非接着基板どうしは、その表面に
形成される親水基と、非接着面間に存在する水分子との
水素結合を介して結合されている。この状態から加熱処
理を行なうことによって、界面に存在する水分子は界面
から除去され、水分子を介しての結合は、次第に結晶構
成原子間の強固な共有結合に変化する。このため、直接
接合を用いた固定においては、固着強度が高く、接着剤
を一切用いていないので、熱処理、振動などに強く、不
要な気体が放出されることもない。しかしながら、直接
接合は熱処理を行なう必要性があるために、熱膨張率の
大きくことなるものを直接接合することはできない。A
Tカット水晶板の熱膨張率は最も大きい方向でおよそ9
×10−6であるのに対し、シリコン基板の熱膨張率は
およそ6×10−6である。このため熱処理時にシリコ
ン基板に対して大きな張力が加わり、シリコン基板が張
力に絶えられず破壊される現象が起こる。
て形成される。親水基形成処理後、接触させられただけ
の初期段階において、非接着基板どうしは、その表面に
形成される親水基と、非接着面間に存在する水分子との
水素結合を介して結合されている。この状態から加熱処
理を行なうことによって、界面に存在する水分子は界面
から除去され、水分子を介しての結合は、次第に結晶構
成原子間の強固な共有結合に変化する。このため、直接
接合を用いた固定においては、固着強度が高く、接着剤
を一切用いていないので、熱処理、振動などに強く、不
要な気体が放出されることもない。しかしながら、直接
接合は熱処理を行なう必要性があるために、熱膨張率の
大きくことなるものを直接接合することはできない。A
Tカット水晶板の熱膨張率は最も大きい方向でおよそ9
×10−6であるのに対し、シリコン基板の熱膨張率は
およそ6×10−6である。このため熱処理時にシリコ
ン基板に対して大きな張力が加わり、シリコン基板が張
力に絶えられず破壊される現象が起こる。
【0020】しかしながら、ガラスは、それを構成する
成分や割合によって熱膨張率を様々に変化させることが
できる。たとえば硼珪酸ガラスと呼ばれるある種のガラ
ス板の熱膨張率は、6〜8×10−6であり、水晶の熱
膨張率とシリコンの熱膨張率のほぼ中間の値を示す。こ
のガラスとシリコン、ガラスと水晶とを直接接合する場
合は、ガラスの熱膨張率がシリコンと水晶の中間である
ために、シリコンと水晶を直接接合した場合より小さな
応力しかかからない。
成分や割合によって熱膨張率を様々に変化させることが
できる。たとえば硼珪酸ガラスと呼ばれるある種のガラ
ス板の熱膨張率は、6〜8×10−6であり、水晶の熱
膨張率とシリコンの熱膨張率のほぼ中間の値を示す。こ
のガラスとシリコン、ガラスと水晶とを直接接合する場
合は、ガラスの熱膨張率がシリコンと水晶の中間である
ために、シリコンと水晶を直接接合した場合より小さな
応力しかかからない。
【0021】このように熱膨張率を選ぶことにより、前
記振動用水晶板1と前記緩衝用ガラス板3の直接接合、
前記緩衝用ガラス板3と前記シリコン基板2の直接接合
が、それぞれの基板を破壊することなく可能となる。ま
た、前記緩衝用ガラス板3はその材料がガラスであるた
めに安価であり、しかもエッチングなどの加工が容易で
ある。
記振動用水晶板1と前記緩衝用ガラス板3の直接接合、
前記緩衝用ガラス板3と前記シリコン基板2の直接接合
が、それぞれの基板を破壊することなく可能となる。ま
た、前記緩衝用ガラス板3はその材料がガラスであるた
めに安価であり、しかもエッチングなどの加工が容易で
ある。
【0022】水晶振動子を作成した後、基板上に半田付
けするために二百数十℃でリフローする必要性がある。
しかしながら、導電性接着剤を用いた場合には、半田リ
フローに対する信頼性が乏しく、半田リフローの前後で
一般的に共振周波数が2〜3ppm変動する。これに対
し、本実施例の構造の水晶振動子では導電性接着剤を用
いないために水晶振動子の特性は大きく向上する。たと
えば、具体的な例として、前記振動用水晶板として1m
m×3mmの大きさのATカット水晶板、前記保持用ガ
ラス板として1mm×1mmの大きさの硼珪酸ガラス
板、前記シリコン基板として3mm×4.5mmの大き
さのP型単結晶板とした本実施例記載の構造の水晶振動
子を作製した。比較のために1mm×3mmの大きさの
前記振動用水晶板を従来の金属保持部に導電性接着剤に
よって接着した構造の比較用水晶振動子も作製して、前
記水晶振動子と前記比較用水晶振動子の周波数の半田リ
フロー特性を測定した。この結果、半田リフローにより
2ppm以上変動したものは、前記比較用水晶振動子の
ものと比べて半分以下になった。
けするために二百数十℃でリフローする必要性がある。
しかしながら、導電性接着剤を用いた場合には、半田リ
フローに対する信頼性が乏しく、半田リフローの前後で
一般的に共振周波数が2〜3ppm変動する。これに対
し、本実施例の構造の水晶振動子では導電性接着剤を用
いないために水晶振動子の特性は大きく向上する。たと
えば、具体的な例として、前記振動用水晶板として1m
m×3mmの大きさのATカット水晶板、前記保持用ガ
ラス板として1mm×1mmの大きさの硼珪酸ガラス
板、前記シリコン基板として3mm×4.5mmの大き
さのP型単結晶板とした本実施例記載の構造の水晶振動
子を作製した。比較のために1mm×3mmの大きさの
前記振動用水晶板を従来の金属保持部に導電性接着剤に
よって接着した構造の比較用水晶振動子も作製して、前
記水晶振動子と前記比較用水晶振動子の周波数の半田リ
フロー特性を測定した。この結果、半田リフローにより
2ppm以上変動したものは、前記比較用水晶振動子の
ものと比べて半分以下になった。
【0023】さらに前記シリコン基板には前記振動用水
晶板を駆動、制御するための回路を組み込むことができ
るので、ワンチップ化された水晶発振器、TCXOやV
CXOの作製が可能になる。図2に、ワンチップ化され
たTCXOの斜視図を示す。この図において、1は振動
用水晶板、2はシリコン基板、3は緩衝用ガラス板、4
は励起電極、5は電極引出し部、7は制御回路である。 (実施例2)図3は本実施例における水晶振動子の斜視
図である。この図において、1は振動用水晶板、8はZ
カットLiTaO3基板、3は前記振動用水晶板1ほど
大きくなく前記LiTaO3基板より大きな熱膨張率を
有する緩衝用ガラス板、4は励起電極、5は電極引出し
部、6は端子である。
晶板を駆動、制御するための回路を組み込むことができ
るので、ワンチップ化された水晶発振器、TCXOやV
CXOの作製が可能になる。図2に、ワンチップ化され
たTCXOの斜視図を示す。この図において、1は振動
用水晶板、2はシリコン基板、3は緩衝用ガラス板、4
は励起電極、5は電極引出し部、7は制御回路である。 (実施例2)図3は本実施例における水晶振動子の斜視
図である。この図において、1は振動用水晶板、8はZ
カットLiTaO3基板、3は前記振動用水晶板1ほど
大きくなく前記LiTaO3基板より大きな熱膨張率を
有する緩衝用ガラス板、4は励起電極、5は電極引出し
部、6は端子である。
【0024】本実施例において、前記振動用水晶板1の
周辺近傍の一部は、前記緩衝用ガラス板3に直接接合に
よって固定され、前記緩衝用ガラス板3の前記振動用水
晶板1の一部は、前記LiTaO3基板8に直接接合に
よって固着されている。ATカット水晶板とZカットL
iTaO3基板を直接接合することは、ATカット水晶
板の熱膨張率は最も大きい方向でおよそ9×10−6で
あるのに対し、ZカットLiTaO3基板の熱膨張率は
最も小さい方向で4×10−6であるために熱処理時に
LiTaO3基板に対して大きな張力が加わり、LiT
aO3基板が張力に絶えられず破壊される現象が起こ
る。
周辺近傍の一部は、前記緩衝用ガラス板3に直接接合に
よって固定され、前記緩衝用ガラス板3の前記振動用水
晶板1の一部は、前記LiTaO3基板8に直接接合に
よって固着されている。ATカット水晶板とZカットL
iTaO3基板を直接接合することは、ATカット水晶
板の熱膨張率は最も大きい方向でおよそ9×10−6で
あるのに対し、ZカットLiTaO3基板の熱膨張率は
最も小さい方向で4×10−6であるために熱処理時に
LiTaO3基板に対して大きな張力が加わり、LiT
aO3基板が張力に絶えられず破壊される現象が起こ
る。
【0025】しかしながら、ガラスは、それを構成する
成分や割合によって熱膨張率を様々に変化させることが
できる。たとえば硼珪酸ガラスと呼ばれるある種のガラ
ス板の熱膨張率は、6〜8×10−6であり水晶の熱膨
張率とLiTaO3の熱膨張率のほぼ中間の値を示す。
このガラスとLiTaO3、ガラスと水晶とを直接接合
する場合は、ガラスの熱膨張率がLiTaO3と水晶の
中間であるために、LiTaO3と水晶を直接接合した
場合より小さな応力しかかからない。
成分や割合によって熱膨張率を様々に変化させることが
できる。たとえば硼珪酸ガラスと呼ばれるある種のガラ
ス板の熱膨張率は、6〜8×10−6であり水晶の熱膨
張率とLiTaO3の熱膨張率のほぼ中間の値を示す。
このガラスとLiTaO3、ガラスと水晶とを直接接合
する場合は、ガラスの熱膨張率がLiTaO3と水晶の
中間であるために、LiTaO3と水晶を直接接合した
場合より小さな応力しかかからない。
【0026】このように熱膨張率を選ぶことにより、前
記振動用水晶板1と前記緩衝用ガラス板3の直接接合、
前記緩衝用ガラス板3と前記LiTaO3基板8の直接
接合が、それぞれの基板を破壊することなく可能とな
る。また、前記緩衝用ガラス板はその材料がガラスであ
るために安価であり、しかもエッチングなどの加工が容
易である。
記振動用水晶板1と前記緩衝用ガラス板3の直接接合、
前記緩衝用ガラス板3と前記LiTaO3基板8の直接
接合が、それぞれの基板を破壊することなく可能とな
る。また、前記緩衝用ガラス板はその材料がガラスであ
るために安価であり、しかもエッチングなどの加工が容
易である。
【0027】水晶振動子を作成した後、基板上に半田付
けするために二百数十℃でリフローする必要性がある。
しかしながら、導電性接着剤を用いた場合には、半田リ
フローに対する信頼性が乏しく、半田リフローの前後で
一般的に共振周波数が2〜3ppm変動する。これに対
し、本実施例の構造の水晶振動子では導電性接着剤を用
いないために水晶振動子の特性は大きく向上する。たと
えば、具体的な例として、前記振動用水晶板として1m
m×3mmの大きさのATカット水晶板、前記保持用ガ
ラス板として1mm×1mmの大きさの硼珪酸ガラス
板、前記LiTaO3基板として3mm×4.5mmの
大きさのZカット板とした本実施例記載の構造の水晶振
動子を作製した。比較のために1mm×3mmの大きさ
の前記振動用水晶板を従来の金属保持部に導電性接着剤
によって接着した構造の比較用水晶振動子も作製して、
前記水晶振動子と前記比較用水晶振動子の周波数の半田
リフロー特性を測定した。この結果、半田リフローによ
り2ppm以上変動したものは、前記比較用水晶振動子
のものと比べて半分以下になった。
けするために二百数十℃でリフローする必要性がある。
しかしながら、導電性接着剤を用いた場合には、半田リ
フローに対する信頼性が乏しく、半田リフローの前後で
一般的に共振周波数が2〜3ppm変動する。これに対
し、本実施例の構造の水晶振動子では導電性接着剤を用
いないために水晶振動子の特性は大きく向上する。たと
えば、具体的な例として、前記振動用水晶板として1m
m×3mmの大きさのATカット水晶板、前記保持用ガ
ラス板として1mm×1mmの大きさの硼珪酸ガラス
板、前記LiTaO3基板として3mm×4.5mmの
大きさのZカット板とした本実施例記載の構造の水晶振
動子を作製した。比較のために1mm×3mmの大きさ
の前記振動用水晶板を従来の金属保持部に導電性接着剤
によって接着した構造の比較用水晶振動子も作製して、
前記水晶振動子と前記比較用水晶振動子の周波数の半田
リフロー特性を測定した。この結果、半田リフローによ
り2ppm以上変動したものは、前記比較用水晶振動子
のものと比べて半分以下になった。
【0028】さらに、本実施例では基板としてシリコン
基板、緩衝板としてガラス板を用いたが、これらの材料
としてはGaAs基板やLiTaO3基板を用いても熱
膨張率が振動用水晶板と基板材料の中間の値を持つ緩衝
板を1層以上使用することにより同様に接着することが
可能であり、同様の効果が得られることは明らかであ
る。 (実施例3)以下、本発明の第3の実施例について、図
面を用いて詳しく説明する。図4−(a)、図4−
(b)、図4−(c)、図4−(d)、図4−(e)、
および図4−(f)は、本発明の水晶振動子の製造方法
を示す図である。これらの図において、1は振動用水晶
板、2はシリコン基板、3は前記振動用水晶板程大きく
なくシリコンより大きい熱膨張率を有する緩衝用ガラス
板、4は励起電極、5は電極引出し部、9は水晶素板、
10はガラス基板、11はシリコン素板である。
基板、緩衝板としてガラス板を用いたが、これらの材料
としてはGaAs基板やLiTaO3基板を用いても熱
膨張率が振動用水晶板と基板材料の中間の値を持つ緩衝
板を1層以上使用することにより同様に接着することが
可能であり、同様の効果が得られることは明らかであ
る。 (実施例3)以下、本発明の第3の実施例について、図
面を用いて詳しく説明する。図4−(a)、図4−
(b)、図4−(c)、図4−(d)、図4−(e)、
および図4−(f)は、本発明の水晶振動子の製造方法
を示す図である。これらの図において、1は振動用水晶
板、2はシリコン基板、3は前記振動用水晶板程大きく
なくシリコンより大きい熱膨張率を有する緩衝用ガラス
板、4は励起電極、5は電極引出し部、9は水晶素板、
10はガラス基板、11はシリコン素板である。
【0029】本実施例では、前記水晶素板9には厚さ3
50μm、大きさ3インチのATカット水晶素板、前記
ガラス基板10には厚さ350μm、大きさ3インチの
硼珪酸ガラス基板、前記シリコン素板11には面方位
(100)、厚さ450μm、大きさ3インチのP型単
結晶シリコン基板を用いた。
50μm、大きさ3インチのATカット水晶素板、前記
ガラス基板10には厚さ350μm、大きさ3インチの
硼珪酸ガラス基板、前記シリコン素板11には面方位
(100)、厚さ450μm、大きさ3インチのP型単
結晶シリコン基板を用いた。
【0030】前記水晶素板9は、前記振動用水晶板1の
形状を多数残して深さ80μmまでエッチングによって
削り、前記ガラス基板10は、前記緩衝用ガラス板3の
形状を多数残して深さ50μmまでエッチングによって
削った。このとき、前記水晶素板9上に残っている全て
の前記振動用水晶板1と前記ガラス基板10上に残って
いる全ての緩衝用ガラス板3とが、互いに希望の位置で
接触できるように各々の位置を決定した。前記水晶素板
9と前記ガラス基板10との表面を鏡面に研磨し、アン
モニア水と過酸化水素水と水の混合液を60℃に加熱し
た溶液を用いて表面を親水化処理し、水洗いした。その
後注意深く洗浄して前記振動用水晶板1と前記緩衝用ガ
ラス板3とが接触する部分にはゴミが存在しないように
した。次に、前記水晶素板9と前記ガラス基板10と
を、表面を清浄に保ったまま接触させた。このままでも
かなりの接着強度があるが、後に行なう研磨ができるま
での強度以上にするために、加熱処理を施した。この状
態を図4−(a)に示す。なお、870℃に水晶の結晶
転移温度があるので、水晶をこの温度以上に加熱処理す
ると室温に戻したとき圧電性を示さなくなる。このため
前記加熱処理温度は870℃以上にすることはできな
い。このため本実施例では、前記加熱処理温度をたとえ
ば500℃とした。
形状を多数残して深さ80μmまでエッチングによって
削り、前記ガラス基板10は、前記緩衝用ガラス板3の
形状を多数残して深さ50μmまでエッチングによって
削った。このとき、前記水晶素板9上に残っている全て
の前記振動用水晶板1と前記ガラス基板10上に残って
いる全ての緩衝用ガラス板3とが、互いに希望の位置で
接触できるように各々の位置を決定した。前記水晶素板
9と前記ガラス基板10との表面を鏡面に研磨し、アン
モニア水と過酸化水素水と水の混合液を60℃に加熱し
た溶液を用いて表面を親水化処理し、水洗いした。その
後注意深く洗浄して前記振動用水晶板1と前記緩衝用ガ
ラス板3とが接触する部分にはゴミが存在しないように
した。次に、前記水晶素板9と前記ガラス基板10と
を、表面を清浄に保ったまま接触させた。このままでも
かなりの接着強度があるが、後に行なう研磨ができるま
での強度以上にするために、加熱処理を施した。この状
態を図4−(a)に示す。なお、870℃に水晶の結晶
転移温度があるので、水晶をこの温度以上に加熱処理す
ると室温に戻したとき圧電性を示さなくなる。このため
前記加熱処理温度は870℃以上にすることはできな
い。このため本実施例では、前記加熱処理温度をたとえ
ば500℃とした。
【0031】前記緩衝用ガラス板3を一つ一つ分離する
ために、前記水晶素板9に直接接合された前記ガラス基
板10を、前記水晶素板9を保持して研磨した。この状
態を図4−(b)に示す。
ために、前記水晶素板9に直接接合された前記ガラス基
板10を、前記水晶素板9を保持して研磨した。この状
態を図4−(b)に示す。
【0032】前記シリコン素板11と前記水晶素板9上
に形成された前記緩衝用ガラス板3とを直接接合させる
ために、これらの表面を鏡面に研磨し、さらにアンモニ
ア水と過酸化水素水と水の混合液を60℃に加熱した溶
液を用いて表面を親水化処理し、水洗いした。その後、
注意深く洗浄して前記水晶素板9上に形成された前記緩
衝用ガラス板3と前記シリコン素板11の表面にはゴミ
が存在しないようにした。次に前記シリコン素板11と
前記水晶素板9上に形成された前記緩衝用ガラス板3と
を、表面を清浄に保ったまま接触させた。このままでも
かなりの接着強度があるが、後に行なう研磨ができるま
での強度以上にするために、加熱処理を施した。この状
態を図4−(c)に示す。なお、上記と同様の理由か
ら、前記加熱処理温度は870℃以上に加熱することは
できないが、ガラスの熱膨張率がシリコンと水晶の中間
にあるために比較的高温まで加熱可能である。このため
本実施例では、前記加熱処理温度をたとえば500℃と
した。
に形成された前記緩衝用ガラス板3とを直接接合させる
ために、これらの表面を鏡面に研磨し、さらにアンモニ
ア水と過酸化水素水と水の混合液を60℃に加熱した溶
液を用いて表面を親水化処理し、水洗いした。その後、
注意深く洗浄して前記水晶素板9上に形成された前記緩
衝用ガラス板3と前記シリコン素板11の表面にはゴミ
が存在しないようにした。次に前記シリコン素板11と
前記水晶素板9上に形成された前記緩衝用ガラス板3と
を、表面を清浄に保ったまま接触させた。このままでも
かなりの接着強度があるが、後に行なう研磨ができるま
での強度以上にするために、加熱処理を施した。この状
態を図4−(c)に示す。なお、上記と同様の理由か
ら、前記加熱処理温度は870℃以上に加熱することは
できないが、ガラスの熱膨張率がシリコンと水晶の中間
にあるために比較的高温まで加熱可能である。このため
本実施例では、前記加熱処理温度をたとえば500℃と
した。
【0033】前記水晶素板9に直接接合された前記緩衝
用ガラス板3によって固定された前記シリコン素板11
を前記水晶素板9を保持することによって研磨し、さら
に前記シリコン素板11の前記緩衝用ガラス板3が直接
接合されていない側からエッチングをおこなって開口部
を設けてシリコン基板2を形成した。その様子を図4−
(d)に示す。
用ガラス板3によって固定された前記シリコン素板11
を前記水晶素板9を保持することによって研磨し、さら
に前記シリコン素板11の前記緩衝用ガラス板3が直接
接合されていない側からエッチングをおこなって開口部
を設けてシリコン基板2を形成した。その様子を図4−
(d)に示す。
【0034】その後、前記シリコン基板2に直接接合さ
れた前記緩衝用ガラス板3によって固定された前記水晶
素板9を、前記シリコン基板2を保持することによって
研磨し、前記振動用水晶板1を個々に分離した。その様
子を図4−(e)に示す。
れた前記緩衝用ガラス板3によって固定された前記水晶
素板9を、前記シリコン基板2を保持することによって
研磨し、前記振動用水晶板1を個々に分離した。その様
子を図4−(e)に示す。
【0035】前記水晶素板9の前記振動用水晶板1のほ
ぼ中央付近に対向するように一対の前記励起電極4を形
成した。このとき、同時に前記電極引出し部5も形成し
た。本実施例の場合、これらはクロムを厚さ200オン
グストローム、金を厚さ500オングストロームに真空
蒸着して形成した。その様子を図4−(f)に示す。
ぼ中央付近に対向するように一対の前記励起電極4を形
成した。このとき、同時に前記電極引出し部5も形成し
た。本実施例の場合、これらはクロムを厚さ200オン
グストローム、金を厚さ500オングストロームに真空
蒸着して形成した。その様子を図4−(f)に示す。
【0036】最後に、前記シリコン基板2を一つ一つ切
り離して水晶振動子を得た。前記振動用水晶板1、前記
緩衝用ガラス板3および前記シリコン基板2は、フォト
リソグラフィーやエッチングなどの半導体加工技術を応
用することによってその寸法を非常に精密に加工してい
るために、非常に小型で精度がよく、高性能な水晶振動
子が得られる。また、前記緩衝用ガラス板3はその材料
がガラスであるために安価であり、しかもエッチングな
どの加工が容易である。
り離して水晶振動子を得た。前記振動用水晶板1、前記
緩衝用ガラス板3および前記シリコン基板2は、フォト
リソグラフィーやエッチングなどの半導体加工技術を応
用することによってその寸法を非常に精密に加工してい
るために、非常に小型で精度がよく、高性能な水晶振動
子が得られる。また、前記緩衝用ガラス板3はその材料
がガラスであるために安価であり、しかもエッチングな
どの加工が容易である。
【0037】さらに、本実施例では基板としてシリコン
基板、緩衝板としてガラス板を用いたが、これらの材料
としてはGaAs基板やLiNbO3基板を用いても熱
膨張率が振動用水晶板と基板材料の中間の値を持つ緩衝
板を1層以上使用することにより同様に接着することが
可能であり、同様の効果が得られることは明らかであ
る。 (実施例4)以下、本発明の第4の実施例について、図
面を用いて詳しく説明する。図5は、本発明の製造方法
によって得られた水晶振動子の断面図である。この図に
おいて、1は振動用水晶板、2はシリコン基板、3は前
記振動用水晶板1ほど大きくなくシリコンより大きい熱
膨張率を有する緩衝用ガラス板、4は励起電極、5は電
極引出し部、6は端子、12は蓋用シリコン基板、13
は基台用シリコン基板、14は低融点ガラスである。
基板、緩衝板としてガラス板を用いたが、これらの材料
としてはGaAs基板やLiNbO3基板を用いても熱
膨張率が振動用水晶板と基板材料の中間の値を持つ緩衝
板を1層以上使用することにより同様に接着することが
可能であり、同様の効果が得られることは明らかであ
る。 (実施例4)以下、本発明の第4の実施例について、図
面を用いて詳しく説明する。図5は、本発明の製造方法
によって得られた水晶振動子の断面図である。この図に
おいて、1は振動用水晶板、2はシリコン基板、3は前
記振動用水晶板1ほど大きくなくシリコンより大きい熱
膨張率を有する緩衝用ガラス板、4は励起電極、5は電
極引出し部、6は端子、12は蓋用シリコン基板、13
は基台用シリコン基板、14は低融点ガラスである。
【0038】本実施例において、前記振動用水晶板1、
前記シリコン基板2、前記緩衝用ガラス板3および前記
励起電極4は、前記実施例1の水晶振動子と同じ構成で
ある。また、前記振動用水晶板1は、前記蓋用シリコン
基板12と前記基台用シリコン基板13とによって前記
シリコン基板2を挟み込むようにして真空、あるいは不
活性気体による封止がなされている。封止の方法として
は、本実施例では、たとえば前記電極引出し部5の周辺
部分のみを前記低融点ガラス14で、それ以外は直接接
合によって封止した前記蓋用シリコン基板12と前記基
台用シリコン基板13とによって窒素ガスによる封止が
なされている。
前記シリコン基板2、前記緩衝用ガラス板3および前記
励起電極4は、前記実施例1の水晶振動子と同じ構成で
ある。また、前記振動用水晶板1は、前記蓋用シリコン
基板12と前記基台用シリコン基板13とによって前記
シリコン基板2を挟み込むようにして真空、あるいは不
活性気体による封止がなされている。封止の方法として
は、本実施例では、たとえば前記電極引出し部5の周辺
部分のみを前記低融点ガラス14で、それ以外は直接接
合によって封止した前記蓋用シリコン基板12と前記基
台用シリコン基板13とによって窒素ガスによる封止が
なされている。
【0039】このように、蓋部および基台部もシリコン
基板に直接接合する構成にすることにより、前記振動用
水晶板1と前記蓋用シリコン基板12および前記基台用
シリコン基板13との位置関係を絶対的に決定すること
ができ、前記振動用水晶板1の振動を妨げることなく、
なおかつ封止に必要な空間を非常に小さくできるので、
水晶振動子全体の大きさを非常に小さくすることができ
るという効果が得られる。たとえば、具体的な例とし
て、前記振動用水晶板の大きさとして1mm×3mmと
したとき、従来の方法で作製した水晶振動子の大きさ
は、空間として3mm×6mm、更にケースの厚みが1
mm必要であるので全体として4mm×7mmの大きさ
になってしまう。これに対して、本実施例の構造の水晶
振動子の場合、前記振動用水晶板の大きさとして同じく
1mm×3mm、前記緩衝用ガラス板の大きさとして1
mm×1mm、前記シリコン基板の大きさとして2mm
×5mmとした場合、空間の大きさはほとんど前記振動
用水晶板の大きさでよく、前記蓋用シリコン基板12お
よび前記基台用シリコン基板13の大きさは2mm×
4.5mmでよいので、小型化に非常に有効である。
基板に直接接合する構成にすることにより、前記振動用
水晶板1と前記蓋用シリコン基板12および前記基台用
シリコン基板13との位置関係を絶対的に決定すること
ができ、前記振動用水晶板1の振動を妨げることなく、
なおかつ封止に必要な空間を非常に小さくできるので、
水晶振動子全体の大きさを非常に小さくすることができ
るという効果が得られる。たとえば、具体的な例とし
て、前記振動用水晶板の大きさとして1mm×3mmと
したとき、従来の方法で作製した水晶振動子の大きさ
は、空間として3mm×6mm、更にケースの厚みが1
mm必要であるので全体として4mm×7mmの大きさ
になってしまう。これに対して、本実施例の構造の水晶
振動子の場合、前記振動用水晶板の大きさとして同じく
1mm×3mm、前記緩衝用ガラス板の大きさとして1
mm×1mm、前記シリコン基板の大きさとして2mm
×5mmとした場合、空間の大きさはほとんど前記振動
用水晶板の大きさでよく、前記蓋用シリコン基板12お
よび前記基台用シリコン基板13の大きさは2mm×
4.5mmでよいので、小型化に非常に有効である。
【0040】また、半導体であるシリコンを基板とし、
またそれを用いて封止するため、集積回路との整合性が
良く、発振器との一体化などに応用することが容易であ
ることは、前記実施例1に記載した通りである。
またそれを用いて封止するため、集積回路との整合性が
良く、発振器との一体化などに応用することが容易であ
ることは、前記実施例1に記載した通りである。
【0041】さらに、本実施例では基板としてシリコン
基板、緩衝板としてガラス板を用いたが、これらの材料
としてはGaAs基板やLiTaO3基板を用いても熱
膨張率が振動用水晶板と基板材料の中間の値を持つ緩衝
板を1層以上使用することにより同様に接着することが
可能であり、同様の効果が得られることは明らかであ
る。
基板、緩衝板としてガラス板を用いたが、これらの材料
としてはGaAs基板やLiTaO3基板を用いても熱
膨張率が振動用水晶板と基板材料の中間の値を持つ緩衝
板を1層以上使用することにより同様に接着することが
可能であり、同様の効果が得られることは明らかであ
る。
【0042】なお実施例においては、直接接合における
加熱処理温度として500℃とした例に付いて述べてい
るが、これに限るものではない。100℃〜350℃、
350℃〜500℃、500℃〜570℃、570℃〜
860℃においても水晶やシリコンの接着強度を調べた
が、高温になればなるほど接着強度は大きくなるので、
熱処理後においても水晶が圧電性を示し、緩衝用ガラス
板の性質が著しく変化しないような温度範囲内において
実施しやすい加熱処理温度を選べばよい。
加熱処理温度として500℃とした例に付いて述べてい
るが、これに限るものではない。100℃〜350℃、
350℃〜500℃、500℃〜570℃、570℃〜
860℃においても水晶やシリコンの接着強度を調べた
が、高温になればなるほど接着強度は大きくなるので、
熱処理後においても水晶が圧電性を示し、緩衝用ガラス
板の性質が著しく変化しないような温度範囲内において
実施しやすい加熱処理温度を選べばよい。
【0043】また実施例においては、緩衝用水晶板を1
層とした例について述べているが、これに限るものでは
ない。緩衝用水晶板を2層、3層さらにはより多層にし
た場合においても、ガラスの熱膨張率をシリコンと水晶
の間に選ぶことにより、熱応力を減少することが可能で
あり、直接接合を行なうことが可能になる。
層とした例について述べているが、これに限るものでは
ない。緩衝用水晶板を2層、3層さらにはより多層にし
た場合においても、ガラスの熱膨張率をシリコンと水晶
の間に選ぶことにより、熱応力を減少することが可能で
あり、直接接合を行なうことが可能になる。
【0044】さらに、実施例では緩衝板としてガラス板
を、基板としてシリコン基板及びLiTaO3を用いた
が、基板としては、GaAs基板でもLiNiO3など
の各種基板が使用でき、緩衝板としてそれらの基板と水
晶の間に熱膨張率の持つ材料を選ぶことにより同様の効
果が得られることは明らかである。
を、基板としてシリコン基板及びLiTaO3を用いた
が、基板としては、GaAs基板でもLiNiO3など
の各種基板が使用でき、緩衝板としてそれらの基板と水
晶の間に熱膨張率の持つ材料を選ぶことにより同様の効
果が得られることは明らかである。
【0045】
【発明の効果】以上の実施例の説明から明らかなよう
に、本発明は振動用水晶板と緩衝板、緩衝板と基板とは
その熱膨張率がさほど異ならないために、直接接合が可
能であり、固定は接着剤などを用いないために、接着時
の接着剤の伸縮による応力が水晶にかかる問題、また十
分な接着強度が十分でなく大きな接着面積が必要である
こと、導電性接着剤の耐熱性に問題があるために半田付
けにおいて低温での処理しかできないこと、導電性接着
剤の硬化に伴うガスの放出、機械的振動に対して十分安
定でないこと、さらには接着剤の劣化の問題、温度およ
び機械的振動に対して特性が不安定になるなどの問題が
存在しなく、その上、小型化に適した高安定な水晶振動
子の製造が可能となるものである。
に、本発明は振動用水晶板と緩衝板、緩衝板と基板とは
その熱膨張率がさほど異ならないために、直接接合が可
能であり、固定は接着剤などを用いないために、接着時
の接着剤の伸縮による応力が水晶にかかる問題、また十
分な接着強度が十分でなく大きな接着面積が必要である
こと、導電性接着剤の耐熱性に問題があるために半田付
けにおいて低温での処理しかできないこと、導電性接着
剤の硬化に伴うガスの放出、機械的振動に対して十分安
定でないこと、さらには接着剤の劣化の問題、温度およ
び機械的振動に対して特性が不安定になるなどの問題が
存在しなく、その上、小型化に適した高安定な水晶振動
子の製造が可能となるものである。
【0046】さらに前記基板としてシリコン基板を用い
ることにより前記シリコン基板上に前記振動用水晶板を
駆動、制御するための回路を組み込むことができるの
で、ワンチップ化された水晶発振器、TCXOやVCX
Oの作製が可能になる。また振動用水晶板、緩衝用ガラ
ス板およびシリコン基板は、半導体加工技術を応用する
ことによってその寸法を精密に加工できるために、非常
に小型で精度がよく、高性能な水晶振動子が得られる。
ることにより前記シリコン基板上に前記振動用水晶板を
駆動、制御するための回路を組み込むことができるの
で、ワンチップ化された水晶発振器、TCXOやVCX
Oの作製が可能になる。また振動用水晶板、緩衝用ガラ
ス板およびシリコン基板は、半導体加工技術を応用する
ことによってその寸法を精密に加工できるために、非常
に小型で精度がよく、高性能な水晶振動子が得られる。
【0047】また前記緩衝板としてガラスを用いること
により、安価でエッチングなどの加工も容易となる。
により、安価でエッチングなどの加工も容易となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例における水晶振動子の斜
視図
視図
【図2】ワンチップ化されたTCXOの斜視図
【図3】本発明の第2の実施例における水晶振動子の斜
視図
視図
【図4】本発明の第3の実施例における水晶振動子の製
造方法を示す工程図
造方法を示す工程図
【図5】本発明の第4の実施例における水晶振動子の断
面図
面図
【図6】従来の水晶振動子を示す斜視図
【図7】従来の水晶振動子の製造工程図
【図8】従来の水晶振動子を示す斜視図
【図9】TCXOの外観図
1 振動用水晶板 2 シリコン基板 3 緩衝用ガラス板 4 励起電極 5 電極引出し部 6 端子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 江田 和生 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (6)
- 【請求項1】 振動用水晶板と基板と1層以上の緩衝板
とからなり、前記緩衝板の熱膨張率が前記振動用水晶板
と前記基板の間の値を持ち、前記振動用水晶板と前記緩
衝板が直接接合により固定され、前記緩衝板と前記基板
が直接接合により固定されていることを特徴とする水晶
振動子。 - 【請求項2】 基板としてシリコン基板を用いた請求項
1記載の水晶振動子。 - 【請求項3】 振動用水晶板と基板と1層以上の緩衝板
とからなり、前記緩衝板の熱膨張率が前記振動用水晶板
と前記基板の間の値を持ち、前記振動用水晶板と前記緩
衝板と前記基板の表面を、親水処理を施して接触させ、
そのまま熱処理後においても水晶が圧電性を示す温度範
囲内において熱処理することにより、前記振動用水晶板
と前記緩衝板と前記基板を直接接合させたことを特徴と
する水晶振動子の製造方法。 - 【請求項4】 基板としてシリコン基板を用いた請求項
3記載の水晶振動子の製造方法。 - 【請求項5】 振動用水晶板と基板と1層以上の緩衝板
とからなり、前記緩衝板の熱膨張率が前記振動用水晶板
と前記基板の間の値を持ち、前記振動用水晶板が前記緩
衝板により保持され、前記緩衝板が前記基板に直接接合
によって固定され、前記基板によって前記振動用水晶板
と前記緩衝板とが密閉されたことを特徴とする水晶振動
子。 - 【請求項6】 基板としてシリコン基板を用いた請求項
5記載の水晶振動子。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5103849A JPH06314947A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 水晶振動子とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5103849A JPH06314947A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 水晶振動子とその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06314947A true JPH06314947A (ja) | 1994-11-08 |
Family
ID=14364893
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5103849A Pending JPH06314947A (ja) | 1993-04-30 | 1993-04-30 | 水晶振動子とその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06314947A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6408496B1 (en) * | 1997-07-09 | 2002-06-25 | Ronald S. Maynard | Method of manufacturing a vibrational transducer |
| US20110146041A1 (en) * | 2009-12-21 | 2011-06-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method of manufacturing piezoelectric device |
| JP2012015363A (ja) * | 2010-07-01 | 2012-01-19 | Seiko Instruments Inc | 電子デバイス、電子機器及び電子デバイスの製造方法 |
| US8732921B2 (en) * | 2004-05-19 | 2014-05-27 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing piezoelectric actuator |
-
1993
- 1993-04-30 JP JP5103849A patent/JPH06314947A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6408496B1 (en) * | 1997-07-09 | 2002-06-25 | Ronald S. Maynard | Method of manufacturing a vibrational transducer |
| US8732921B2 (en) * | 2004-05-19 | 2014-05-27 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing piezoelectric actuator |
| US9302467B2 (en) | 2004-05-19 | 2016-04-05 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Laminated piezoelectric actuator for an ink-jet head |
| US10340439B2 (en) | 2004-05-19 | 2019-07-02 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing piezoelectric actuator |
| US10978634B2 (en) | 2004-05-19 | 2021-04-13 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing piezoelectric actuator |
| US11711981B2 (en) | 2004-05-19 | 2023-07-25 | Brother Kogyo Kabushiki Kaisha | Piezoelectric actuator |
| US20110146041A1 (en) * | 2009-12-21 | 2011-06-23 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method of manufacturing piezoelectric device |
| US8875362B2 (en) * | 2009-12-21 | 2014-11-04 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Method of manufacturing piezoelectric device |
| JP2012015363A (ja) * | 2010-07-01 | 2012-01-19 | Seiko Instruments Inc | 電子デバイス、電子機器及び電子デバイスの製造方法 |
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