JPH06317515A - モジュールの試験装置 - Google Patents
モジュールの試験装置Info
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- JPH06317515A JPH06317515A JP6035440A JP3544094A JPH06317515A JP H06317515 A JPH06317515 A JP H06317515A JP 6035440 A JP6035440 A JP 6035440A JP 3544094 A JP3544094 A JP 3544094A JP H06317515 A JPH06317515 A JP H06317515A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/286—External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
- G01R31/2862—Chambers or ovens; Tanks
-
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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- G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
- G01R31/2881—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to environmental aspects other than temperature, e.g. humidity or vibrations
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 １回またはそれ以上の品質試験をより短い時
間中に実行し得る経済的なモジュール試験装置を提供す
る。 【構成】 開口ＯＰを有する少なくとも１つの容器Ｂが
設けられており、開口ＯＰのなかに各１つのモジュール
Ｍ１〜Ｍ６が、開口ＯＰが少なくともほぼ密に閉じられ
ているように挿入される。また容器Ｂが選択可能な温度
および／または湿度の媒体Ｍを供給するのに適している
集合体Ｔ／Ｆ‐Ａの出口ＡＧと接続可能である少なくと
も１つの入口ＺＧを有する。
間中に実行し得る経済的なモジュール試験装置を提供す
る。 【構成】 開口ＯＰを有する少なくとも１つの容器Ｂが
設けられており、開口ＯＰのなかに各１つのモジュール
Ｍ１〜Ｍ６が、開口ＯＰが少なくともほぼ密に閉じられ
ているように挿入される。また容器Ｂが選択可能な温度
および／または湿度の媒体Ｍを供給するのに適している
集合体Ｔ／Ｆ‐Ａの出口ＡＧと接続可能である少なくと
も１つの入口ＺＧを有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、モジュールを試験する
ための装置に関する。
ための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】複雑な技術的システムの品質および信頼
性を保障するためには製造段階での適当な試験方法が重
要な役割を果たす。プリント配線板またはモジュールを
試験するためにはビロリニ（A.Birolini）著「技術的シ
ステムの品質および信頼性」シュプリンガー出版、ベル
リン、１９９１年、第３版、第２６８〜２８０ページに
記載されている下記の方法が個別に、または好ましくは
交互に適用される。すなわち前処理段階の間に実装され
たモジュールが目視検査され、また基本的な機能に関し
て電気的に試験される。さらに、熱サイクル試験（たと
えば１０°Ｃ／ｍｉｎの勾配で−２０°Ｃから＋８０°
Ｃまで）、振動試験ならびに通常の作動温度での長時間
の作動試験が行われる。隠された欠陥および信頼性問題
が発見されるべき環境および信頼性試験では極限温度試
験、別の熱サイクル試験、振動試験、湿度およびＥＳＤ
試験が行われる。上記の試験の際に供給電圧が投入可能
であることは好ましい。さらに、公知の装置において上
記の試験の前または後に適用される電気的試験は極めて
重要である。そのために、検査されるモジュールの動作
の仕方と予め定められた目標挙動との合致を確認する機
能検査装置が用いられる。
性を保障するためには製造段階での適当な試験方法が重
要な役割を果たす。プリント配線板またはモジュールを
試験するためにはビロリニ（A.Birolini）著「技術的シ
ステムの品質および信頼性」シュプリンガー出版、ベル
リン、１９９１年、第３版、第２６８〜２８０ページに
記載されている下記の方法が個別に、または好ましくは
交互に適用される。すなわち前処理段階の間に実装され
たモジュールが目視検査され、また基本的な機能に関し
て電気的に試験される。さらに、熱サイクル試験（たと
えば１０°Ｃ／ｍｉｎの勾配で−２０°Ｃから＋８０°
Ｃまで）、振動試験ならびに通常の作動温度での長時間
の作動試験が行われる。隠された欠陥および信頼性問題
が発見されるべき環境および信頼性試験では極限温度試
験、別の熱サイクル試験、振動試験、湿度およびＥＳＤ
試験が行われる。上記の試験の際に供給電圧が投入可能
であることは好ましい。さらに、公知の装置において上
記の試験の前または後に適用される電気的試験は極めて
重要である。そのために、検査されるモジュールの動作
の仕方と予め定められた目標挙動との合致を確認する機
能検査装置が用いられる。
【０００３】公知の試験装置ではこれまで加熱および冷
却ならびに加湿チャンバが設けられていた。振動試験は
別の装置のなかで行われた。従って、処理されたモジュ
ールの電気的試験を行うのに非常に費用がかかった。処
理過程の間にこれらのチャンバのなかで試験することは
実際上実行不可能であった。熱試験のためにはたとえば
長いトンネル状の炉が設けられ、それを通して個別化さ
れたモジュールがコンベアベルトにより輸送された。こ
れらのトンネル炉内ではモジュールは電気的試験のため
にのアクセスが当然には可能ではなかった。
却ならびに加湿チャンバが設けられていた。振動試験は
別の装置のなかで行われた。従って、処理されたモジュ
ールの電気的試験を行うのに非常に費用がかかった。処
理過程の間にこれらのチャンバのなかで試験することは
実際上実行不可能であった。熱試験のためにはたとえば
長いトンネル状の炉が設けられ、それを通して個別化さ
れたモジュールがコンベアベルトにより輸送された。こ
れらのトンネル炉内ではモジュールは電気的試験のため
にのアクセスが当然には可能ではなかった。
【０００４】さらに、これらのチャンバ、トンネル炉、
コンベアベルトなどは場所をとり、このことは装置の高
い費用とならんで、必要とされる空間に対する少なから
ぬ費用を惹起した。さらに、モジュールがそれぞれトン
ネル炉内でチャンバと装置との間で動かされ、また交換
されなければならなかったので、品質試験全体に対する
時間が非常にかかった。
コンベアベルトなどは場所をとり、このことは装置の高
い費用とならんで、必要とされる空間に対する少なから
ぬ費用を惹起した。さらに、モジュールがそれぞれトン
ネル炉内でチャンバと装置との間で動かされ、また交換
されなければならなかったので、品質試験全体に対する
時間が非常にかかった。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従って、本発明の課題
は、１回またはそれ以上の品質試験をより短い時間中に
実行し得る経済的な試験装置を提供することにある。
は、１回またはそれ以上の品質試験をより短い時間中に
実行し得る経済的な試験装置を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この課題は、請求項１の
特徴部分にあげられている措置により解決される。本発
明の有利な実施態様は請求項２以下にあげられている。
特徴部分にあげられている措置により解決される。本発
明の有利な実施態様は請求項２以下にあげられている。
【０００７】
【発明の効果】占有場所の縮小および製造費用の低減を
可能にする本発明による試験装置は、順次にまたは同時
に、すなわち互いに補って実行され得る種々の試験方法
の適用を可能にする。さらに、本方法または相応のプロ
セスはより容易にコントロールできる。すなわち、装置
の上下移動が非常に短時間で行われ得る。凍結個所の発
生がほぼ避けられ得る。加えて、温度プロフィルが個別
に定められ、また正確に調節され得る。別の主要な利点
として、本発明による装置は構成が簡単でわかり易く、
実際上摩耗個所がなく、従ってまた故障の恐れが少な
い。この故障の恐れが少ないということには、作動する
装置（ベルト、加工品キャリアなど）が環境チャンバ内
の温度ストレスに曝されないということも寄与してい
る。試験すべきモジュールの接触は一定の雰囲気内で室
温で行われる。それにより接触部および相応のアダプタ
が保護される。他のモジュール形式を試験するために装
置を改造することは簡単にまたごくわずかな費用で行わ
れ得る。従って、本発明による試験装置の保守および取
扱費用はわずかですむ。
可能にする本発明による試験装置は、順次にまたは同時
に、すなわち互いに補って実行され得る種々の試験方法
の適用を可能にする。さらに、本方法または相応のプロ
セスはより容易にコントロールできる。すなわち、装置
の上下移動が非常に短時間で行われ得る。凍結個所の発
生がほぼ避けられ得る。加えて、温度プロフィルが個別
に定められ、また正確に調節され得る。別の主要な利点
として、本発明による装置は構成が簡単でわかり易く、
実際上摩耗個所がなく、従ってまた故障の恐れが少な
い。この故障の恐れが少ないということには、作動する
装置（ベルト、加工品キャリアなど）が環境チャンバ内
の温度ストレスに曝されないということも寄与してい
る。試験すべきモジュールの接触は一定の雰囲気内で室
温で行われる。それにより接触部および相応のアダプタ
が保護される。他のモジュール形式を試験するために装
置を改造することは簡単にまたごくわずかな費用で行わ
れ得る。従って、本発明による試験装置の保守および取
扱費用はわずかですむ。
【０００８】
【実施例】以下、図面に示されている実施例により本発
明を一層詳細に説明する。
明を一層詳細に説明する。
【０００９】図１には、６つの開口ＯＰを設けられてい
る容器Ｂが示されており、開口ＯＰのなかに、部品ＥＢ
を実装した３つの試験すべきプリント配線板またはモジ
ュールＭ１、Ｍ５、Ｍ６が挿入されている。モジュール
Ｍ１〜Ｍ５は開口ＯＰの縁に掛けられ、もしくは容器の
底に設けられているホルダーＨＧにより支えられてい
る。さらに、側面に取付けられた案内レールが設けられ
ていてよい。モジュールＭ１〜Ｍ６が挿入されている開
口ＯＰは好ましくは、モジュールの一端を囲むパッキン
ＤＧにより、またはパッキンマットＤＧＭによりほぼ密
閉されている。容器Ｂの底に、集合体Ｔ／Ｆ‐Ａから供
給される選択可能な温度および湿度を有する媒体Ｍを受
け入れるためのより大きいアクセス孔ＺＧが設けられて
いる。媒体Ｍの出口孔ＡＧを有する集合体Ｔ／Ｆ‐Ａは
連結および取り外し可能なベローＢＷＳを介して容器Ｂ
と接続可能である。追加的に、媒体Ｍを容器Ｂを通して
周囲への出口ＡＧに、または好ましくは集合体Ｔ／Ｆ‐
Ａに戻すように導くための図面には示されていない手段
が設けられている。容器Ｂはさらに、コンベアベルトま
たは容器Ｂの輸送のために設けられている図２に示され
ている回転台ＫＬＬの一部であるホルダーＫＨにより保
持される。
る容器Ｂが示されており、開口ＯＰのなかに、部品ＥＢ
を実装した３つの試験すべきプリント配線板またはモジ
ュールＭ１、Ｍ５、Ｍ６が挿入されている。モジュール
Ｍ１〜Ｍ５は開口ＯＰの縁に掛けられ、もしくは容器の
底に設けられているホルダーＨＧにより支えられてい
る。さらに、側面に取付けられた案内レールが設けられ
ていてよい。モジュールＭ１〜Ｍ６が挿入されている開
口ＯＰは好ましくは、モジュールの一端を囲むパッキン
ＤＧにより、またはパッキンマットＤＧＭによりほぼ密
閉されている。容器Ｂの底に、集合体Ｔ／Ｆ‐Ａから供
給される選択可能な温度および湿度を有する媒体Ｍを受
け入れるためのより大きいアクセス孔ＺＧが設けられて
いる。媒体Ｍの出口孔ＡＧを有する集合体Ｔ／Ｆ‐Ａは
連結および取り外し可能なベローＢＷＳを介して容器Ｂ
と接続可能である。追加的に、媒体Ｍを容器Ｂを通して
周囲への出口ＡＧに、または好ましくは集合体Ｔ／Ｆ‐
Ａに戻すように導くための図面には示されていない手段
が設けられている。容器Ｂはさらに、コンベアベルトま
たは容器Ｂの輸送のために設けられている図２に示され
ている回転台ＫＬＬの一部であるホルダーＫＨにより保
持される。
【００１０】容器Ｂの左側に挿入されたモジュールＭ１
は一辺に差し込み接続部ＳＴＶまたはそれと類似の接触
部を設けられており、それを介して機能試験装置がコネ
クタＰＳＴにより連結可能である。従って、機能試験は
試験方法の進行と同時に、たとえば温度勾配の下降中に
行われ得る。それにより、モジュールＭ１〜Ｍ６が故障
しているか否かが確認されるだけでなく、特定の条件に
おいてのみ生起する誤りも突き止められ得る。機能試験
装置はそれにより、それが集合体Ｔ／Ｆ‐Ａと結合され
る場合には、直接に試験方法のなかに組み込まれ得る。
たとえば、この目的で温度および他の測定センサがモジ
ュールＭ１〜Ｍ６に設けられていてよい。コネクタＰＳ
Ｔおよび差し込み接続部ＳＴＶは示されている配置のな
かで容器Ｂの外側に位置しており、従って熱負荷および
他の負荷に曝されない。容器Ｂは好ましくは比較的小さ
い体積を有する。従って、望まれる温度が迅速かつ正確
に設定され得る。この方法は、容器Ｂが丈夫で良好な絶
縁性の材料から製造されている場合には、さらに改良さ
れ得る。これらの措置により装置から周囲への比較的わ
ずかな汚染排出をさらに低減することができる。
は一辺に差し込み接続部ＳＴＶまたはそれと類似の接触
部を設けられており、それを介して機能試験装置がコネ
クタＰＳＴにより連結可能である。従って、機能試験は
試験方法の進行と同時に、たとえば温度勾配の下降中に
行われ得る。それにより、モジュールＭ１〜Ｍ６が故障
しているか否かが確認されるだけでなく、特定の条件に
おいてのみ生起する誤りも突き止められ得る。機能試験
装置はそれにより、それが集合体Ｔ／Ｆ‐Ａと結合され
る場合には、直接に試験方法のなかに組み込まれ得る。
たとえば、この目的で温度および他の測定センサがモジ
ュールＭ１〜Ｍ６に設けられていてよい。コネクタＰＳ
Ｔおよび差し込み接続部ＳＴＶは示されている配置のな
かで容器Ｂの外側に位置しており、従って熱負荷および
他の負荷に曝されない。容器Ｂは好ましくは比較的小さ
い体積を有する。従って、望まれる温度が迅速かつ正確
に設定され得る。この方法は、容器Ｂが丈夫で良好な絶
縁性の材料から製造されている場合には、さらに改良さ
れ得る。これらの措置により装置から周囲への比較的わ
ずかな汚染排出をさらに低減することができる。
【００１１】容器Ｂはさらに容易に他のモジュールのた
めに改造することができる。たとえば開口ＯＰを設けら
れている容器Ｂのカバーは取り外し可能に構成されてお
り、また好ましくはホルダーＨＧにより特定のモジュー
ルに合わされている。従って、他のモジュールへの変更
は容器Ｂの交換により、または単にそのカバーの交換に
より行われ得る。さらに、環境チャンバのなかに、また
は図１に示されている容器Ｂのなかに実際上装置部分が
位置しておらず、検査すべきモジュールＭ１〜Ｍ６のみ
が位置していることは有意義である。従って、たいてい
の装置部分（コード化された加工品キャリア、駆動およ
び送り部分）は試験条件（温度変動など）に曝されず、
またそれらに通常期待すべき寿命が制限されない。従っ
て、図１から明らかなような装置の簡単な構成により製
造および保守費用がわずかですむ。
めに改造することができる。たとえば開口ＯＰを設けら
れている容器Ｂのカバーは取り外し可能に構成されてお
り、また好ましくはホルダーＨＧにより特定のモジュー
ルに合わされている。従って、他のモジュールへの変更
は容器Ｂの交換により、または単にそのカバーの交換に
より行われ得る。さらに、環境チャンバのなかに、また
は図１に示されている容器Ｂのなかに実際上装置部分が
位置しておらず、検査すべきモジュールＭ１〜Ｍ６のみ
が位置していることは有意義である。従って、たいてい
の装置部分（コード化された加工品キャリア、駆動およ
び送り部分）は試験条件（温度変動など）に曝されず、
またそれらに通常期待すべき寿命が制限されない。従っ
て、図１から明らかなような装置の簡単な構成により製
造および保守費用がわずかですむ。
【００１２】図２には、モジュールＭ１〜Ｍ６を入れた
８つの容器Ｂが組み込まれている回転台ＫＬＬが示され
ている。モジュールは個別にまたは既に容器Ｂのなかに
入れられてコンベアベルトを介して供給され、また試験
方法の終了後に再び個別にまたは容器Ｂのなかに入れら
れて導き出される。従って、回転台ＫＬＬをロードする
ために容器Ｂ全体が交換され、または個々のモジュール
Ｍ１〜Ｍ６が交換される。試験過程はたとえば下記のよ
うに進行する。回転台ＫＬＬの位置Ｐ１においてモジュ
ールが個々にまたは容器Ｂのなかに束ねられて交換され
る。その後に回転台ＫＬＬは４５°だけ回転し、その後
に媒体Ｍが容器Ｂのなかに導入され、または振動装置が
接続される。位置Ｐ２においてたとえば予冷却され、後
続の位置Ｐ３、…、Ｐｎにおいてさらに冷却または加熱
され、および／または湿気が供給または除去される。個
別化された個所において供給電圧が投入または遮断され
得る。さらに、１つまたはそれ以上の位置Ｐn にコネク
タＰＳＴまたは上記のたとえば光学的なセンサが設けら
れていてよい。従って、回転台ＫＬＬを有する配置によ
りモジュールＭは高い密度の狭い空間で、迅速かつ基本
的に試験され得る。容器Ｂを集合体Ｔ／Ｆ‐Ａに導くコ
ンベアベルト（たとえばコンベアベルトＦＢ）の使用は
あまり望ましくないであろう。それにもかかわらず、こ
のような装置も相応の空間状況では有利に応用され得
る。
８つの容器Ｂが組み込まれている回転台ＫＬＬが示され
ている。モジュールは個別にまたは既に容器Ｂのなかに
入れられてコンベアベルトを介して供給され、また試験
方法の終了後に再び個別にまたは容器Ｂのなかに入れら
れて導き出される。従って、回転台ＫＬＬをロードする
ために容器Ｂ全体が交換され、または個々のモジュール
Ｍ１〜Ｍ６が交換される。試験過程はたとえば下記のよ
うに進行する。回転台ＫＬＬの位置Ｐ１においてモジュ
ールが個々にまたは容器Ｂのなかに束ねられて交換され
る。その後に回転台ＫＬＬは４５°だけ回転し、その後
に媒体Ｍが容器Ｂのなかに導入され、または振動装置が
接続される。位置Ｐ２においてたとえば予冷却され、後
続の位置Ｐ３、…、Ｐｎにおいてさらに冷却または加熱
され、および／または湿気が供給または除去される。個
別化された個所において供給電圧が投入または遮断され
得る。さらに、１つまたはそれ以上の位置Ｐn にコネク
タＰＳＴまたは上記のたとえば光学的なセンサが設けら
れていてよい。従って、回転台ＫＬＬを有する配置によ
りモジュールＭは高い密度の狭い空間で、迅速かつ基本
的に試験され得る。容器Ｂを集合体Ｔ／Ｆ‐Ａに導くコ
ンベアベルト（たとえばコンベアベルトＦＢ）の使用は
あまり望ましくないであろう。それにもかかわらず、こ
のような装置も相応の空間状況では有利に応用され得
る。
【００１３】別の好ましい実施例では容器Ｂは、各開口
ＯＰに導かれており、また接触部を介してモジュールＭ
１〜Ｍ６およびたとえば回転台ＫＬＬ上に設けられてい
る電流供給ユニットと接続されている供給電圧導線を設
けられている。モジュールを容器Ｂのなかに挿入し、ま
た容器Ｂを回転台ＫＬＬのなかに挿入すると、好ましく
は制御可能な電流供給ユニットへの接続が生ずる。従っ
て、モジュールは遮断または投入された状態で熱サイク
ルまたは他の試験方法を受けることができる。好ましく
は、容器Ｂから突出する側に発光ダイオードＤまたは他
の音響的、電気的または光学的送信ユニットが設けられ
ており、それを介してモジュールＭの上に設けられてい
るプロセッサが連続的に状態報知ｓｔｒを発し得る。そ
れにより、機能試験装置をガルバニックに接続する必要
なしに、モジュールのすべての主要な機能を試験するこ
とができる。それにより電気的結合装置が省略され、ま
たそれと結び付けられる接触問題が回避される。単に、
モジュールから発せられた信号を機能試験装置に伝達す
る光学的センサが設けられていればよい。モジュールの
なかにはさらに、プロセッサを介して種々の部品ＥＢを
能動化し、相応の測定信号を収集し、また開始信号を供
給する状態報知を周期的に送信する検査プログラムが用
意される。
ＯＰに導かれており、また接触部を介してモジュールＭ
１〜Ｍ６およびたとえば回転台ＫＬＬ上に設けられてい
る電流供給ユニットと接続されている供給電圧導線を設
けられている。モジュールを容器Ｂのなかに挿入し、ま
た容器Ｂを回転台ＫＬＬのなかに挿入すると、好ましく
は制御可能な電流供給ユニットへの接続が生ずる。従っ
て、モジュールは遮断または投入された状態で熱サイク
ルまたは他の試験方法を受けることができる。好ましく
は、容器Ｂから突出する側に発光ダイオードＤまたは他
の音響的、電気的または光学的送信ユニットが設けられ
ており、それを介してモジュールＭの上に設けられてい
るプロセッサが連続的に状態報知ｓｔｒを発し得る。そ
れにより、機能試験装置をガルバニックに接続する必要
なしに、モジュールのすべての主要な機能を試験するこ
とができる。それにより電気的結合装置が省略され、ま
たそれと結び付けられる接触問題が回避される。単に、
モジュールから発せられた信号を機能試験装置に伝達す
る光学的センサが設けられていればよい。モジュールの
なかにはさらに、プロセッサを介して種々の部品ＥＢを
能動化し、相応の測定信号を収集し、また開始信号を供
給する状態報知を周期的に送信する検査プログラムが用
意される。
【図１】本発明による試験装置の概略構成図。
【図２】回転台を有する本発明による試験装置の平面
図。
図。
ＡＧ 出口 Ｂ 容器 ＢＷＳ ベロー Ｄ 発光ダイオード ＤＧ パッキン ＤＧＭ パッキンマット ＥＢ 部品 ＦＢ コンベアベルト ＨＧ ホルダー ＫＬＬ 回転台 ＫＨ ホルダー Ｍ 媒体 Ｍ１〜Ｍ６ モジュール ＯＰ 開口 ＰＳＴ コネクタ ＳＴＶ 差し込み接続部 ｓｔｒ 状態報知 Ｔ／Ｆ‐Ａ 集合体 ＺＧ 入口
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ヘルベルト シユタウブリ スイス国 5444 キユンテン ドルフシユ トラーセ 102
Claims (8)
- 【請求項１】 モジュール（Ｍ１〜Ｍ６）を試験するた
めの装置において、開口（ＯＰ）を有する少なくとも１
つの容器（Ｂ）が設けられており、この開口（ＯＰ）の
なかに各１つのモジュール（Ｍ１〜Ｍ６）が、開口（Ｏ
Ｐ）が少なくともほぼ密に閉じられているように挿入さ
れること、また容器（Ｂ）が選択可能な温度および／ま
たは湿度の媒体（Ｍ）を供給するのに適している集合体
（Ｔ／Ｆ‐Ａ）の出口（ＡＧ）と接続される少なくとも
１つの入口（ＺＧ）を有することを特徴とするモジュー
ルの試験装置。 - 【請求項２】 媒体（Ｍ）の入口（ＺＧ）が容器（Ｂ）
の下側に設けられており、またベロー（ＢＷＳ）を介し
て集合体（Ｔ／Ｆ‐Ａ）の出口（ＡＧ）と接続されるこ
とを特徴とする請求項１記載の装置。 - 【請求項３】 モジュール（Ｍ）を受け入れ位置（Ｐ
１）から少なくとも１つの集合体（Ｔ／Ｆ‐Ａ）および
送り出し位置へ輸送するために適している送り装置（Ｋ
ＬＬ）が設けられていることを特徴とする請求項１また
は２記載の装置。 - 【請求項４】 送り装置が回転台（ＫＬＬ）またはコン
ベアベルト（ＦＢ）であることを特徴とする請求項３記
載の装置。 - 【請求項５】 モジュール（Ｍ１〜Ｍ６）が、容器
（Ｂ）にモジュールを挿入した後に外部から機能試験装
置によりアクセス可能である好ましくは光学的な送信装
置（Ｄ）または接触部（ＳＴＶ）を設けられていること
を特徴とする請求項１ないし４の１つに記載の装置。 - 【請求項６】 モジュール（Ｍ１〜Ｍ６）に連結可能な
機能試験装置が集合体（Ｔ／Ｆ‐Ａ）と接続されてお
り、また加湿、冷却または加熱過程が機能試験装置によ
り測定された値に関係して制御可能であることを特徴と
する請求項５記載の装置。 - 【請求項７】 容器（Ｂ）が供給され得る振動装置が設
けられていることを特徴とする請求項１ないし６の１つ
に記載の装置。 - 【請求項８】 容器（Ｂ）が接触部を有し、この接触部
を介して少なくとも供給電圧が容器（Ｂ）のなかに入れ
られているモジュール（Ｍ１〜Ｍ６）に供給されること
を特徴とする請求項１ないし７の１つに記載の装置。
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