JPH06318731A - 半導体発光装置 - Google Patents

半導体発光装置

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Publication number
JPH06318731A
JPH06318731A JP22177293A JP22177293A JPH06318731A JP H06318731 A JPH06318731 A JP H06318731A JP 22177293 A JP22177293 A JP 22177293A JP 22177293 A JP22177293 A JP 22177293A JP H06318731 A JPH06318731 A JP H06318731A
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JP
Japan
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groove
light emitting
conductivity type
light
type layer
Prior art date
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Pending
Application number
JP22177293A
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English (en)
Inventor
Tetsuya Okamoto
哲也 岡本
Yasuhiro Wada
安弘 和田
Masahiko Kimoto
匡彦 木本
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Publication of JPH06318731A publication Critical patent/JPH06318731A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/851Dispositions of multiple connectors or interconnections
    • H10W72/874On different surfaces
    • H10W72/884Die-attach connectors and bond wires
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W90/00Package configurations
    • H10W90/701Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
    • H10W90/751Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
    • H10W90/756Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink

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  • Led Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 光出射効率を向上させることができ、かつ、
実装が容易な半導体発光装置を提供する。 【構成】 この半導体発光装置は、PN接合面Jに対向
するP型半導体部3の表面3aから、PN接合面Jを貫
通し、N型半導体部2を貫通してN型基板1に達する溝
9と、表面3aに溝9を挟んで設けられたP電極5およ
びN電極4とを備える。さらに、P電極5およびN電極
4にバンプ電極12を設ける。 【効果】 光出射面である表面1aに、光を遮る電極が
ない。バンプ電極12,12でフリップチップボンディ
ングできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、PN接合近傍で発生
した光を効率良く外部に取り出すことができ、かつ、容
易に実装できる半導体発光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の半導体発光装置として
は、図6に示すものがある。この半導体発光装置60
は、次のようにして作製される。即ち、N型基板61上
に、エピタキシャル成長法によってN型半導体部62,
P型半導体部63を順に形成し、次に、上記N型基板6
1の表面全体およびP型半導体部63の表面の必要部分
に、オーミックコンタクト用金属材料を付着させてN電
極64とP電極65を形成する。次に、ダイシングソー
やスクライブマシンによってチップ化する。
【0003】上記半導体発光装置60の実装例を図7に
示す。上記半導体発光装置のN電極64は、銀ペースト
等の導電性ペースト66でリードフレーム67にダイボ
ンドされている。また、上記半導体発光装置のP電極6
5は、リード線68でリードフレーム70に接続されて
いる。そして、図7に示すように、上記半導体発光装置
60の全体を被う透光性樹脂69によるモールドがなさ
れている。
【0004】上記半導体発光装置60は、上記P電極6
5とN電極64に電圧が印加されると、上記N型半導体
部62と上記P型半導体部63とのPN接合面近傍から
光を発生し、この光を上記P型半導体部63のP電極6
5側の光出射面63aから取り出すようにしている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の半導体発光装置は、以下に述べるような種々の欠点
がある。
【0006】(1) 半導体発光装置60をリードフレ
ームに実装する時に、N電極64を下にしてN電極64
をリードフレーム67にダイボンドする工程と、上方の
P電極65をリード線68でリードフレーム67に接続
する工程とが不可欠であるから、実装工数が大きい。
【0007】(2) 上面のP電極65が発光光の遮光
面となって光を遮えぎるので、光出射効率が悪い。
【0008】(3) PN接合と平行方向に進行する光
が、上記PN接合面に対して垂直な端面から、横方向に
透過してしまうので、その分だけ光出射面63aから出
射する光が減少し、光出射効率が低下する。
【0009】(4) 上記半導体発光装置のP型半導体
部63は、たとえば、GaP,GaAs,GaAlAs,
GaAsP他で構成されており、その屈折率nが約3.
5であるから、上記P型半導体部63の光出射面63a
での反射率Rは、空気に対しては約30%になり、エポ
キシ樹脂に対しては約16%になる。このため、発光光
の一部が、上記光出射面63aで内側に反射し、内部に
閉じ込められるので、光出射効率が低下する。尚、上記
反射率Rの値は、光の進行方向が界面に垂直な場合のフ
レネルの式R=(n1−n22/(n1+n22より求め
た。
【0010】(5) N型基板61と銀ペーストとの界
面反射率は約50%であるから、図7に示すように、上
記半導体発光装置60を銀ペーストからなる導電性ペー
スト66を用いてリードフレーム67に実装した場合、
N型基板61と銀ペーストとの界面に向かって進行した
発光光の約50%が、上記界面から銀ペーストに吸収さ
れてしまう。
【0011】そこで、この発明の目的は、上記(1)〜
(5)の欠点を解消でき、光出射効率を向上させることが
でき、かつ、実装が容易な半導体発光装置を提供するこ
とにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の半導体発光装置は、第1導電型層と第2
導電型層との接合面近傍から光を発生させる半導体発光
装置において、上記接合面に対向する上記第1導電型層
の対向面または上記接合面に対向する上記第2導電型層
の対向面の一方から、上記接合面を貫通し、上記第2導
電型層または第1導電型層に達する溝と、上記第1導電
型層の対向面または第2導電型層の対向面の一方に、上
記溝を挟んで設けられた正電極および負電極と、上記正
電極および負電極に設けられた突起電極とを備え、上記
接合面近傍で発生し、上記第1導電型層の対向面または
第2導電型層の対向面の他方を通過した光を外部に取り
出すようにしたことを特徴としている。
【0013】また、請求項2の半導体発光装置は、請求
項1に記載の半導体発光装置において、上記溝が上記溝
の底面に向かって先細になるように、上記溝の側面を上
記接合面に対して傾斜面にし、上記接合面近傍で発生し
て上記接合面に略平行に進行する光を、上記傾斜面で反
射して、上記他方の対向面に向かわせるようにしたこと
を特徴としている。
【0014】また、請求項3の半導体発光装置は、請求
項1または2に記載の半導体発光装置において、発光し
た光を外部に取り出すための光出射面に反射防止膜を形
成したことを特徴としている。
【0015】また、請求項4の半導体発光装置は、請求
項1乃至3のいずれか1つに記載の半導体発光装置にお
いて、上記一方の対向面または上記溝の側面の少なくと
も一方に、反射膜を設け、上記一方の対向面に向かう光
または上記溝の側面に向かう光の少なくとも一方を、上
記反射膜で反射して上記他方の対向面に向かわせるよう
にしたことを特徴としている。
【0016】また、請求項5の半導体発光装置は、第1
導電型層と第2導電型層との接合面近傍から光を発生さ
せる半導体発光装置において、上記接合面に対向する上
記第1導電型層の対向面または上記接合面に対向する上
記第2導電型層の対向面の一方から、上記接合面を貫通
し、上記第2導電型層または第1導電型層に達する溝
と、上記溝底面に形成され、上記溝の側面との間に所定
の間隔を隔てて上記接合面を横切る第2導電型または第
1導電型の凸部と、上記第1導電型層の対向面または第
2導電型層の対向面の一方と、上記凸部の上面とに、上
記溝の側面と凸部との間の空間を挟んで設けられた正電
極および負電極と、上記正電極および負電極に設けられ
た突起電極とを備え、上記接合面近傍で発生し、上記第
1導電型層の対向面または第2導電型層の対向面の他方
を通過した光を外部に取り出すようにしたことを特徴と
している。
【0017】また、請求項6の半導体発光装置は、請求
項5に記載の半導体発光装置において、上記溝の側面と
上記凸部との間の空間が上記溝の底面に向かって先細に
なるように、上記溝の側面及び上記凸部の側面が上記接
合面に対して傾斜面に形成されており、上記接合面近傍
で発生して上記接合面に略平行に進行する光を、上記傾
斜面で反射して、上記他方の対向面に向かわせるように
したことを特徴としている。
【0018】また、請求項7の半導体発光装置は、請求
項5または6に記載の半導体発光装置において、発光し
た光を外部に取り出すための光出射面に反射防止膜を形
成したことを特徴としている。
【0019】また、請求項8の半導体発光装置は、請求
項5乃至7のいずれか1つに記載の半導体発光装置にお
いて、上記一方の対向面または上記溝の側面または上記
凸部の側面のうちの少なくとも1つに反射膜を設け、上
記一方の対向面に向かう光または上記溝の側面に向かう
光または上記凸部の側面に向かう光のうちの少なくとも
1つを、上記反射膜で反射して上記他方の対向面に向か
わせるようにしたことを特徴としている。
【0020】
【作用】上記請求項1の半導体発光装置は、上記接合面
に対向する第1導電型層の対向面または上記接合面に対
向する第2導電型層の対向面の一方に、上記溝を挟んで
正電極および負電極の両方を設け、第1導電型層の対向
面または上記接合面に対向する第2導電型層の対向面の
他方から外部に光を取り出すようにした。したがって、
請求項1の発明によれば、光を取り出す面つまり光出射
面に電極を形成する必要がなくなる。したがって、請求
項1の発明によれば、光出射効率を向上させることがで
きる。
【0021】また、上記一方の対向面に正電極および負
電極の両方を設け、この正電極および負電極に突起電極
を設けたので、リード線を用いないフリップチップボン
ディングによる実装が可能になり、簡単に実装できるよ
うになる。
【0022】また、請求項2の発明によれば、上記溝が
上記溝の底面に向かって先細になるように、上記溝の側
面を上記接合面に対して傾斜面にして、上記接合面近傍
で発生して上記接合面に略平行に進行する光を、上記傾
斜面で反射して、上記他方の対向面に向かわせる。した
がって、上記溝の側面が上記接合面に対して垂直である
場合に比べて、光出射効率を向上させることができる。
【0023】また、請求項3の発明によれば、発光した
光を外部に取り出すための光出射面に反射防止膜を形成
している。したがって、上記光出射面で発光光が反射す
ることを防止でき、上記発光した光を光出射面から出射
させて、光出射効率を向上させることができる。
【0024】また、請求項4の発明によれば、上記一方
の対向面または上記溝の側面の少なくとも一方に、反射
膜を設け、上記一方の対向面に向かう光または上記側面
に向かう光の少なくとも一方を、上記反射膜で反射して
上記他方の対向面に向かわせるようにしている。したが
って、上記一方の対向面または上記溝の側面に、臨界角
以内の入射角で入射した光が透過することを防止でき、
上記光を光出射面から外部に取り出すことができるよう
になるので、光出射効率が向上する。
【0025】上記請求項5の半導体発光装置は、上記接
合面を貫通する溝に形成した凸部を有し、上記溝の側面
と凸部との間の空間を挟んで、上記第1または第2導電
型層の対向面の一方と上記凸部の上面とに正電極および
負電極の両方を設け、第1導電型層の対向面または第2
導電型層の対向面の他方から外部に光を取り出すように
した。したがって、請求項5の発明によれば、光を取り
出す面つまり光出射面に電極を形成する必要がなくな
る。したがって、請求項5の発明によれば、光出射効率
を向上させることができる。
【0026】また、上記一方の対向面に正電極および負
電極の両方を設け、この正電極および負電極に突起電極
を設けたので、リード線を用いないフリップチップボン
ディングによる実装が可能になり、簡単に実装できるよ
うになる。
【0027】また、請求項6の発明によれば、上記溝の
側面と上記凸部との間の空間が上記溝の底面に向かって
先細になるように、上記溝の側面および上記凸部の側面
を上記接合面に対して傾斜面にして、上記接合面近傍で
発生して上記接合面に略平行に進行する光を、上記傾斜
面で反射して、上記他方の対向面に向かわせる。したが
って、上記溝の側面および上記凸部の側面が上記接合面
に対して垂直である場合に比べて、光出射効率を向上さ
せることができる。
【0028】また、請求項7の発明によれば、発光した
光を外部に取り出すための光出射面に反射防止膜を形成
している。したがって、上記光出射面で発光光が反射す
ることを防止でき、上記発光した光を光出射面から出射
させて、光出射効率を向上させることができる。
【0029】また、請求項8の発明によれば、上記一方
の対向面または上記溝の側面または上記凸部の側面のう
ちのの少なくとも1つに反射膜を設け、上記一方の対向
面に向かう光または上記側面に向かう光または上記凸部
の側面に向かう光のうちの少なくとも1つを、上記反射
膜で反射して上記他方の対向面に向かわせるようにして
いる。従って、上記一方の対向面または上記溝の側面ま
たは上記凸部の側面に、臨界角以内の入射角で入射した
光が透過することを防止でき、上記光を光出射面から外
部に取り出すことができるようになるので、光出射効率
が向上する。
【0030】
【実施例】以下、この発明を図示の実施例により詳細に
説明する。
【0031】本発明の半導体発光装置の第1実施例を、
その製造工程に沿って、図1を参照しながら説明する。
【0032】まず、図1(A)に示すように、N型基板1
上にエピタキシャル成長法によってN型半導体部2とP
型半導体部3を順次形成して作製したウェハのエピタキ
シャル層表面つまりP型半導体部3の表面3aからPN
接合面Jを通過して上記N型基板1に達する深さの溝9
をダイシングまたはエッチングによって形成する。な
お、上記溝9の形成時に、上記溝9の傾斜面9aが上記
PN接合面Jとなす角度θを30°〜60°になるよう
にした。つまり、上記溝9は、その底面9bに向かって
先細になっている。
【0033】次に、図1(B)に示すように、上記溝9の
傾斜面9aから上記P型半導体部3の表面3aおよび上
記溝9の底面9bに延びた反射膜10を、溝9と溝9と
が挟む凸部Mを挟む一対の傾斜面9a,9aに形成す
る。上記反射膜10は、上記凸部Mに、1つおきに形成
する。上記反射膜10は、光学的膜厚(屈折率n×厚さ
d)=(1/4)・λp〔nm〕のSiO2(屈折率n=
1.46)と光学的膜厚(屈折率n×厚さd)=(1/4)
・λp〔nm〕のTiO2(屈折率n=2.3)との対を4
対有する誘電体多層膜である。ここで、λp〔nm〕は
発光波長である。フォトリソグラフィと湿式エッチング
によってパターン形成されるか、もしくはリフトオフ法
によってパターン形成される。
【0034】次に、図1(C)に示すように、上記反射膜
10を形成した凸部MのP型半導体部3の表面3aおよ
びこの表面3aに形成した反射面10の表面に正(P)電
極5を形成ずる。このP電極5は、例えば、Au/Au
Znからなり、蒸着とフォトリソグラフィと湿式エッチ
ングによって形成される。また、上記反射膜10を形成
した凸部Mの隣の凸部MのP型半導体部3の表面3aお
よびこの表面3aに隣接する傾斜面9a,9aおよびこ
の傾斜面9aに隣接する溝底面9bの一部に負(N)電極
4を形成する。このN電極4は、例えば、AuGe/N
iからなり、蒸着とフォトリソグラフィと湿式エッチン
グによって形成される。N電極4は電気的にはN型半導
体部2とP型半導体部3を短絡し、N型基板1と電気的
接続することとなる。つまり、上記N電極4側の凸部は
電極導出用として形成される。
【0035】次に、図1(D)に示すように、N型基板1
の表面1aに、反射防止膜11を形成する。この反射防
止膜11は、たとえば、光学的膜厚n×d=(1/4)
・λp〔nm〕のTiO2(屈折率n=2.3)からなる。
【0036】次に、図1(E)に示すように、上記P型半
導体部3の表面3aと対向する領域にあるN電極4の表
面に、Auや半田等からなるバンプ電極12を形成す
る。また、P型半導体部3の表面3aと対向する領域に
あるP電極5の表面に、Auや半田等からなるバンプ電
極12を形成する。
【0037】そして、最後に、図1(E)に示すウェハ
を、ダイシングによって分割して、図2に示すチップを
作製する。このチップが、この実施例の半導体発光装置
すなわち発光ダイオードである。
【0038】上記構成の半導体発光装置は、P電極5と
N電極4との間に電圧を印加すると、上記P電極5に対
向するPN接合面Jの近傍で発光する。N電極4に対向
するPN接合面Jでは、上記の如く短絡されており発光
しない。上記発光による発光光は、上記PN接合面Jに
対向するN型半導体部2の対向面2aを通過して、N型
基板1の表面1aつまり光出射面から外部に出射する。
【0039】また、上記PN接合面Jの近傍で発光し、
上記溝9の傾斜面9aに達した光は、上記傾斜面9aに
形成した反射膜10で反射されて、上記光出射面に向か
って進み、上記光出射面から外部に出射する。
【0040】また、上記PN接合面Jの近傍で発光し、
上記光出射面と逆方向に進行してP電極5に向かう光
は、上記P型半導体部3の表面3aに有る反射膜10で
反射されて、上記光出射面に向かって進み、上記光出射
面から外部に出射する。
【0041】上記半導体発光装置は、溝9を挟むP型半
導体部3の表面3aにP電極5およびN電極4を形成す
る一方、上記PN接合面Jを挟んで上記表面3aに対向
するN型基板1の表面1aを光出射面にした。つまり、
この実施例は、光出射面に電極5,4を形成していない
から、電極5,4が光出射面から出射する光を遮ること
がない。したがって、この実施例によれば、光出射面に
電極を形成する必要がある従来例に比べて、光出射効率
を向上させることができる。
【0042】また、上記P型半導体部3の表面3aに形
成したP電極5およびN電極4にバンプ電極12を形成
したので、この実施例は、リード線を用いないフリップ
チップボンディングによる実装が可能になり、簡単に実
装できるようになる。
【0043】また、上記溝9が、その底面9bに向かっ
て先細になるように、上記溝9の側面を上記PN接合面
Jに対して傾斜面9aにし、上記PN接合面J近傍で発
生して上記PN接合面Jに略平行に進行する光を、上記
傾斜面9aで反射して、上記N型基板1の表面1a(光
出射面)に向かわせるようにしたので、上記溝9の側面
が上記接合面Jに対して垂直である場合に比べて、光出
射効率を向上させることができる。
【0044】また、発光した光を外部に取り出すための
表面1a(光出射面)に反射防止膜11を形成したので、
上記光出射面で発光光が反射することを防止でき、光出
射効率を向上させることができる。
【0045】また、上記P型半導体部3の表面3a及び
上記傾斜面9aに反射膜10を形成したので、上記表面
3aまたは上記傾斜面9aに、臨界角以内の入射角で入
射した発光光が透過することを防止でき、上記発光光を
上記反射膜10で反射して、光出射面から外部に取り出
すことができるようになるので、光出射効率が向上す
る。さらに、上記反射膜10はSiO2膜およびTiO2
膜を含む絶縁膜であるので、上記反射膜10は、この実
施例を実装するときにダイボンド時に使用する導電性ペ
ーストや半田によって各半導体部が電気的に短絡するこ
とを防止する。尚、上記実施例では、傾斜面9aを平面
にしたが、傾斜面9aを曲面にしてもよい。
【0046】次に、本発明の第2実施例を、その製造工
程に沿って、図3を参照しながら説明する。
【0047】まず、図3(A)に示すように、N型基板3
1上にエピタキシャル成長法によってN型半導体部32
とP型半導体部33を順次形成して作製したウェハのエ
ピタキシャル層表面つまりP型半導体部33の表面33
aからPN接合面Kを通過して上記N型基板31に達す
る深さの溝39をダイシングまたはエッチングによって
形成する。なお、上記溝39の形成時に、上記溝39の
側面39aが上記PN接合面Kとなす角度θ1を30°
〜60°にすることが望ましい。つまり、上記溝39
は、その底面39bに向かって先細にすることが望まし
い。この溝39を形成することによって、溝39の両側
に、PN接合面Kを含む凸部Wが形成される。
【0048】次に、図3(B)に示すように、エピタキシ
ャル成長法を使用して、溝39にN型半導体部42を埋
め込む。その後、上記P型半導体部33の表面33aお
よび上記N型半導体部42の表面42aを研磨する。
【0049】次に、図3(C)に示すように、エッチング
またはダイシングによって、上記N型半導体部42の表
面42aから上記PN接合面Kを横切って通過する溝4
3を形成する。この溝43は、上記溝39の側面39a
である一方の側面43aと、垂線に関して側面43aと
対称な他方の側面43bとを有し、上記側面43aと側
面43bとは最底端で交わって鋭角をなしている。この
溝43を形成することによって、上記PN接合面Kを含
む凸部Wと凸部Wとの間に、溝43を介して、PN接合
面を含まないN型半導体からなる凸部Zが形成される。
この凸部Zは、凸部Wと略同一の形状になっている。そ
して、PN接合面Kの延長面と上記側面43bとがなす
角度θ2は、上記角度θ1に略等しい。
【0050】次に、図3(D)に示すように、上記凸部
Wの側面である溝39の側面39aと、上記P型半導体
部33の表面33aの周辺部と、上記凸部Zの側面であ
る溝43の側面43bと、上記凸部Zの上面の周辺部と
に、反射膜44を形成する。この反射膜44は、たとえ
ば、光学的膜厚(屈折率n×厚さd)=(1/4)・λ
P〔nm〕のSiO2(屈折率n=1.46)と、光学的
膜厚(屈折率n×厚さd)=(1/4)・λp〔nm〕のT
iO2(屈折率n=2.3)との対を8対有する誘電体多層
膜である。ここで、λp〔nm〕は発光波長である。こ
の誘電体多層膜は、フォトリソグラフィと湿式エッチン
グによってパターン形成されるか、もしくはリフトオフ
法によってパターン形成される。
【0051】次に、図3(E)に示すように、上記PN接
合面Kを含む凸部Wの上面であるP型半導体部33の表
面33aの中央部に正(P)電極35を形成し、上記P
N接合面Kを含まない凸部Zの上面に負(N)電極34
を形成する。上記正電極35は、例えば、Au/AuZ
nからなり、蒸着とフォトリソグラフィと湿式エッチン
グによって形成される。また、上記負電極34は、例え
ば、AuGe/Niからなり、蒸着とフォトリソグラフ
ィと湿式エッチングによって形成される。この負電極3
4側の凸部Zは、電極導出用として形成されたものであ
る。
【0052】次に、図3(E)に示すように、N型基板3
1の表面31aに、反射防止膜45を形成する。この反
射防止膜45は、例えば、光学的膜厚n×d=(1/
4)・λp〔nm〕のTiO2(屈折率n=2.3)で形成
する。
【0053】次に、図3(E)に示すように、上記N電極
34の表面およびP電極35の表面に、Auや半田等か
らなるバンプ電極46を形成する。
【0054】そして、最後に、図3(E)に示すウェハ
を、ダイシングまたは劈開によって分割して、図4に示
すチップを作製する。このチップが、この実施例の半導
体発光装置すなわち発光ダイオードである。
【0055】上記構成の半導体発光装置は、P電極35
とN電極34との間に電圧を印加すると、上記P電極3
5に対向するPN接合面Kの近傍で発光する。上記発光
による発光光は、上記PN接合面Kに対向するN型半導
体部32の対向面32aを通過して、N型基板31の表
面31aつまり光出射面から外部に出射する。
【0056】また、上記PN接合面Kの近傍で発光し、
上記溝43の傾斜面43aに達した光は、上記傾斜面4
3aに形成した反射膜44で反射されて、上記光出射面
に向かって進み、上記光出射面から外部に出射する。
【0057】また、上記PN接合面Kの近傍で発光し、
上記光出射面と逆方向に進行してP電極35に向かう光
は、上記P型半導体部33の表面33aに有る反射膜4
4で反射されて、上記光出射面に向かって進み、上記光
出射面から外部に出射する。上記半導体発光装置は、溝
43を挟む凸部Wの上面と凸部Zの上面に、P電極35
とN電極34を形成する一方、上記凸部WおよびZの底
面側のN型基板31の表面31aを光出射面とした。つ
まり、この実施例は、光出射面に電極35,34を形成
していないから、電極35,34が光出射面から出射す
る光を遮ることがない。したがって、この実施例によれ
ば、光出射面に電極を形成する必要がある従来例に比べ
て、光出射効率を向上させることができる。
【0058】また、凸部W上のP電極35および凸部Z
上のN電極34にバンプ電極46を形成したので、この
実施例は、リード線を用いないフリップチップボンディ
ングによる実装が可能になり、簡単に実装できるように
なる。たとえば、図5に示すように、この実施例50
は、導電性ペースト56を用いたフリップチップボンデ
ィングによって、簡単にリードフレーム57に実装する
ことができる。図5において、59は透光性樹脂であ
る。
【0059】また、上記溝43が、その底に向かって先
細になるように、上記溝43の側面43aを上記PN接
合面Kに対して傾斜面にし、上記PN接合面K近傍で発
生して上記PN接合面Kに略平行に進行する光を、上記
側面43aで反射して、上記N型基板31の表面31a
(光出射面)に向かわせるようにしたので、上記溝43の
側面43aが上記接合面Kに対して垂直である場合に比
べて、光出射効率を向上させることができる。
【0060】また、発光した光を外部に取り出すための
表面31a(光出射面)に反射防止膜45を形成したの
で、上記光出射面で発光光が反射することを防止でき、
光出射効率を向上させることができる。
【0061】また、上記P型半導体部33の表面33a
及び上記側面43aに反射膜44を形成したので、上記
表面33aまたは上記側面43aに、臨界角以内の入射
角で入射した発光光が透過することを防止でき、上記発
光光を上記反射膜44で反射して、光出射面から外部に
取り出すことができるようになるので、光出射効率が向
上する。また、上記発光光透過防止によって、従来の図
7に示すようにリードフレーム67をカップ形状にする
必要がなくなり、コストダウンを図れる。
【0062】更に、上記反射膜44はSiO2膜および
TiO2膜を含む絶縁膜であるので、上記反射膜44
は、この実施例を実装するときにダイボンド時に使用す
る導電性ペーストや半田によって各半導体部が電気的に
短絡することを防止する。更に、上記反射膜44は、接
合部の保護膜としての作用がある。
【0063】尚、上記実施例では、溝43の側面43a
を平面にしたが、側43aを曲面にしてもよい。
【0064】
【発明の効果】以上より明らかなように、請求項1の発
明の半導体発光装置は、第1導電型層と第2導電型層と
の接合面に対向する第1導電型層の対向面または上記接
合面に対向する第2導電型層の対向面の一方に、上記溝
を挟んで正電極および負電極の両方を設け、第1導電型
層の対向面または上記接合面に対向する第2導電型層の
対向面の他方から外部に光を取り出すようにした。即
ち、請求項1の発明は、光を取り出す面つまり光出射面
に電極を形成していないから、光出射面から出射する光
を電極で遮ることがなく、光出射効率を向上させること
ができる。
【0065】また、上記一方の対向面に正電極および負
電極の両方を設け、この正電極および負電極に突起電極
を設けたので、リード線を用いないフリップチップボン
ディングによる実装が可能になり、簡単に実装できるよ
うになる。
【0066】また、請求項2の半導体発光装置は、上記
溝が上記溝の底面に向かって先細になるように、上記溝
の側面を上記接合面に対して傾斜面にして、上記接合面
近傍で発生して上記接合面に略平行に進行する光を、上
記傾斜面で反射して、上記他方の対向面に向かわせるよ
うにしている。したがって、上記溝の側面が上記接合面
に対して垂直である場合に比べて、光出射効率を向上さ
せることができる。
【0067】また、請求項3に記載の半導体発光装置
は、発光した光を外部に取り出すための光出射面に反射
防止膜を形成している。したがって、上記光出射面で発
光光が反射することを防止でき、上記発光光を光出射面
から出射させて、光出射効率を向上させることができ
る。
【0068】また、請求項4に記載の半導体発光装置
は、上記一方の対向面または上記溝の側面の少なくとも
一方に、反射膜を設け、上記一方の対向面に向かう光ま
たは上記溝の側面に向かう光の少なくとも一方を、上記
反射膜で反射して上記他方の対向面に向かわせるように
している。したがって、上記一方の対向面または上記溝
の側面に臨界角以内の入射角で入射した光が透過するこ
とを防止でき、上記光を光出射面から外部に取り出すこ
とができるようになるので、光出射効率が向上する。
【0069】請求項5の発明の半導体発光装置は、溝の
側面と凸部との間の空間を挟んで、第1または第2導電
型層の対向面の一方と上記凸部の上面とに接合面を貫通
する溝に形成した凸部を有し、正電極および負電極の両
方を設け、第1導電型層の対向面または上記接合面に対
向する第2導電型層の対向面の他方から外部に光を取り
出すようにした。即ち、請求項5の発明は、光を取り出
す面つまり光出射面に電極を形成していないから、光出
射面から出射する光を電極で遮ることがなく、光出射効
率を向上させることができる。
【0070】また、上記一方の対向面に正電極および負
電極の両方を設け、この正電極および負電極に突起電極
を設けたので、リード線を用いないフリップチップボン
ディングによる実装が可能になり、簡単に実装できるよ
うになる。
【0071】また、請求項6の半導体発光装置は、上記
溝の側面と上記凸部との間の空間が上記溝の底面に向か
って先細になるように、上記溝の側面および上記凸部の
側面を上記接合面に対して傾斜面にして、上記接合面近
傍で発生して上記接合面に略平行に進行する光を、上記
傾斜面で反射して、上記他方の対向面に向かわせるよう
にしている。したがって、上記溝の側面および凸部の側
面が上記接合面に対して垂直である場合に比べて、光出
射効率を向上させることができる。
【0072】また、請求項7に記載の半導体発光装置
は、発光した光を外部に取り出すための光出射面に反射
防止膜を形成している。したがって、上記光出射面で発
光光が反射することを防止でき、上記発光光を光出射面
から出射させて、光出射効率を向上させることができ
る。
【0073】また、請求項8に記載の半導体発光装置
は、上記一方の対向面または上記溝の側面または上記凸
部の側面のうちの少なくとも1つに反射膜を設け、上記
一方の対向面に向かう光または上記溝の側面に向かう光
または上記凸部の側面に向かう光のうちの少なくとも1
つを、上記反射膜で反射して上記他方の対向面に向かわ
せるようにしている。したがって、上記一方の対向面ま
たは上記溝の側面または上記凸部の側面に臨界角以内の
入射角で入射した光が透過することを防止でき、上記光
を光出射面から外部に取り出すことができるようになる
ので、光出射効率が向上する
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の半導体発光装置の第1実施例の製
造工程を説明する図である。
【図2】 上記第1実施例の断面図である。
【図3】 この発明の第2実施例の製造工程を説明する
図である。
【図4】 上記第2実施例の断面図である。
【図5】 上記第2実施例の実装例を示す断面図であ
る。
【図6】 従来例の断面図である。
【図7】 上記従来例の実装例を示す断面図である。
【符号の説明】
1,31…N型基板、2,42…N型半導体部、3,4
3…P型半導体部、4,34…N電極、5,35…P電
極、9,39,43…溝、9a…傾斜面、10,44…
反射膜、11,45…反射防止膜、12,46…バンプ
電極、J,K…PN接合面、39a,43a,43b…
側面。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1導電型層と第2導電型層との接合面
    近傍から光を発生させる半導体発光装置において、 上記接合面に対向する上記第1導電型層の対向面または
    上記接合面に対向する上記第2導電型層の対向面の一方
    から、上記接合面を貫通し、上記第2導電型層または第
    1導電型層に達する溝と、 上記第1導電型層の対向面または第2導電型層の対向面
    の一方に、上記溝を挟んで設けられた正電極および負電
    極と、 上記正電極および負電極に設けられた突起電極とを備
    え、 上記接合面近傍で発生し、上記第1導電型層の対向面ま
    たは第2導電型層の対向面の他方を通過した光を外部に
    取り出すようにしたことを特徴とする半導体発光装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の半導体発光装置におい
    て、上記溝が上記溝の底面に向かって先細になるよう
    に、上記溝の側面を上記接合面に対して傾斜面にし、上
    記接合面近傍で発生して上記接合面に略平行に進行する
    光を、上記傾斜面で反射して、上記他方の対向面に向か
    わせるようにしたことを特徴とする半導体発光装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の半導体発光装
    置において、発光した光を外部に取り出すための光出射
    面に反射防止膜を形成したことを特徴とする半導体発光
    装置。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれか1つに記載の
    半導体発光装置において、上記一方の対向面または上記
    溝の側面の少なくとも一方に、反射膜を設け、上記一方
    の対向面に向かう光または上記溝の側面に向かう光の少
    なくとも一方を、上記反射膜で反射して上記他方の対向
    面に向かわせるようにしたことを特徴とする半導体発光
    装置。
  5. 【請求項5】 第1導電型層と第2導電型層との接合面
    近傍から光を発生させる半導体発光装置において、 上記接合面に対向する上記第1導電型層の対向面または
    上記接合面に対向する上記第2導電型層の対向面の一方
    から、上記接合面を貫通し、上記第2導電型層または第
    1導電型層に達する溝と、 上記溝底面に形成され、上記溝の側面との間に所定の間
    隔を隔てて上記接合面を横切る第2導電型または第1導
    電型の凸部と、 上記第1導電型層の対向面または第2導電型層の対向面
    の一方と、上記凸部の上面とに、上記溝の側面と凸部と
    の間の空間を挟んで設けられた正電極および負電極と、 上記正電極および負電極に設けられた突起電極とを備
    え、 上記接合面近傍で発生し、上記第1導電型層の対向面ま
    たは第2導電型層の対向面の他方を通過した光を外部に
    取り出すようにしたことを特徴とする半導体発光装置。
  6. 【請求項6】 請求項5に記載の半導体発光装置におい
    て、上記溝の側面と上記凸部との間の空間が上記溝の底
    面に向かって先細になるように、上記溝の側面及び上記
    凸部の側面が上記接合面に対して傾斜面に形成されてお
    り、上記接合面近傍で発生して上記接合面に略平行に進
    行する光を、上記傾斜面で反射して、上記他方の対向面
    に向かわせるようにしたことを特徴とする半導体発光装
    置。
  7. 【請求項7】 請求項5または6に記載の半導体発光装
    置において、発光した光を外部に取り出すための光出射
    面に反射防止膜を形成したことを特徴とする半導体発光
    装置。
  8. 【請求項8】 請求項5乃至7のいずれか1つに記載の
    半導体発光装置において、上記一方の対向面または上記
    溝の側面または上記凸部の側面のうちの少なくとも1つ
    に反射膜を設け、上記一方の対向面に向かう光または上
    記溝の側面に向かう光または上記凸部の側面に向かう光
    のうちの少なくとも1つを、上記反射膜で反射して上記
    他方の対向面に向かわせるようにしたことを特徴とする
    半導体発光装置。
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