JPH06331419A - ガラス原料層の厚み測定方法及び測定装置 - Google Patents
ガラス原料層の厚み測定方法及び測定装置Info
- Publication number
- JPH06331419A JPH06331419A JP12103493A JP12103493A JPH06331419A JP H06331419 A JPH06331419 A JP H06331419A JP 12103493 A JP12103493 A JP 12103493A JP 12103493 A JP12103493 A JP 12103493A JP H06331419 A JPH06331419 A JP H06331419A
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- Japan
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- measuring
- temperature
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- Measurement Of Levels Of Liquids Or Fluent Solid Materials (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 溶解槽内のガラス融液層の表面全体を覆う低
温のガラス原料層の厚みを、簡便かつ確実に測定する方
法及び装置を提供する。 【構成】 溶解槽の上方より懸吊され、長さ方向表面に
寸法目盛を設けてあり、かつその長さ方向に複数個の温
度測定素子を設けた測定棒を、その先端がガラス原料層
とガラス融液層との境界面を貫く位置に配置させて、こ
の状態において前記温度測定素子により温度測定を行う
ことにより、ガラス原料層の厚みを測定する。
温のガラス原料層の厚みを、簡便かつ確実に測定する方
法及び装置を提供する。 【構成】 溶解槽の上方より懸吊され、長さ方向表面に
寸法目盛を設けてあり、かつその長さ方向に複数個の温
度測定素子を設けた測定棒を、その先端がガラス原料層
とガラス融液層との境界面を貫く位置に配置させて、こ
の状態において前記温度測定素子により温度測定を行う
ことにより、ガラス原料層の厚みを測定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電気溶融炉の溶解槽内
においてガラス原料層の厚みを測定する方法及びその装
置に関する。
においてガラス原料層の厚みを測定する方法及びその装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ガラス溶融法として、電気溶融炉
を用いてガラス溶融物中に挿入した電極間に直接通電す
る電気溶融法は、古くから研究が進められ実用化されて
いる。前記電気溶融法は、ガラス融液の表面を低温のガ
ラス原料で覆いながら下部でガラスを溶融するため熱効
率が高く、またガラス成分の揮発量を抑えることができ
る等の利点を有している。
を用いてガラス溶融物中に挿入した電極間に直接通電す
る電気溶融法は、古くから研究が進められ実用化されて
いる。前記電気溶融法は、ガラス融液の表面を低温のガ
ラス原料で覆いながら下部でガラスを溶融するため熱効
率が高く、またガラス成分の揮発量を抑えることができ
る等の利点を有している。
【０００３】電気溶融炉の溶解槽内は、上部の低温のガ
ラス原料層、および下部のガラス融液層で構成されてい
るが、このうちガラス原料層の厚みを適正に管理するこ
とは、操業上特に重要である。
ラス原料層、および下部のガラス融液層で構成されてい
るが、このうちガラス原料層の厚みを適正に管理するこ
とは、操業上特に重要である。
【０００４】すなわち、ガラス融液層表面のガラス原料
層の厚みは、ガラスの溶解量の多少と、それに伴う通電
量との関係によって決定される。
層の厚みは、ガラスの溶解量の多少と、それに伴う通電
量との関係によって決定される。
【０００５】溶解量が少ないと、該ガラス原料層の表面
からの放熱量が増大して炉内温度が低下する。また、こ
のような状態にあっては、ガラス成分の揮発も増加し好
ましくない。
からの放熱量が増大して炉内温度が低下する。また、こ
のような状態にあっては、ガラス成分の揮発も増加し好
ましくない。
【０００６】一方、溶解量が増大すると、ガラス溶解反
応で発生するガスがガラス原料層を通って上方へ抜けら
れずにガラス原料層下に溜まり、得られる製品の欠陥お
よび歩留まりに悪影響を及ぼす。このため、ガラス原料
層の厚みを常時適正な値に管理することが必要である。
応で発生するガスがガラス原料層を通って上方へ抜けら
れずにガラス原料層下に溜まり、得られる製品の欠陥お
よび歩留まりに悪影響を及ぼす。このため、ガラス原料
層の厚みを常時適正な値に管理することが必要である。
【０００７】従来は、ガラス原料層の厚みの管理を、以
下の方法により行なっていた。すなわち、溶解槽内に１
本の熱電対を挿入して熱電対を上下に移動させ、ガラス
原料層内の鉛直方向の温度分布を測定し、温度が低温か
ら高温に移り変わる位置からガラス原料層の厚みを求め
ていた。
下の方法により行なっていた。すなわち、溶解槽内に１
本の熱電対を挿入して熱電対を上下に移動させ、ガラス
原料層内の鉛直方向の温度分布を測定し、温度が低温か
ら高温に移り変わる位置からガラス原料層の厚みを求め
ていた。
【０００８】また、比較的簡便な方法として、耐火物製
や金属製の棒あるいは管を用いてガラス原料層下のガラ
ス融液中に浸漬する位置まで鉛直に挿入し、その後、前
記棒を引き上げて、ガラス融液の付着している位置から
ガラス原料層の厚みを求めていた。
や金属製の棒あるいは管を用いてガラス原料層下のガラ
ス融液中に浸漬する位置まで鉛直に挿入し、その後、前
記棒を引き上げて、ガラス融液の付着している位置から
ガラス原料層の厚みを求めていた。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た温度分布を測定する方法では、熱電対を移動してから
測定温度が安定するまで待たなければならず、測定に時
間がかかる。このため、ガラス原料の投入を妨げずに測
定を行なうことは困難である。また、耐火物の棒を使用
する測定方法においては、ガラス融液に棒の先端部分が
接触した際に熱衝撃により破損し、この破損部分がガラ
ス融液中に混入して、ガラス製品中の泡、異物の原因と
なる危険性を有しており、やはり適正に管理することは
困難である。さらに、金属製の棒を使用した測定方法で
は、ガラス融液中が通電されているため感電の危険性を
有している。
た温度分布を測定する方法では、熱電対を移動してから
測定温度が安定するまで待たなければならず、測定に時
間がかかる。このため、ガラス原料の投入を妨げずに測
定を行なうことは困難である。また、耐火物の棒を使用
する測定方法においては、ガラス融液に棒の先端部分が
接触した際に熱衝撃により破損し、この破損部分がガラ
ス融液中に混入して、ガラス製品中の泡、異物の原因と
なる危険性を有しており、やはり適正に管理することは
困難である。さらに、金属製の棒を使用した測定方法で
は、ガラス融液中が通電されているため感電の危険性を
有している。
【００１０】本発明は、上記した従来の問題点を解決す
るガラス原料層の厚みを測定する方法及びその装置を提
供することを目的とする。
るガラス原料層の厚みを測定する方法及びその装置を提
供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、溶解
槽の上方より懸吊され、長さ方向表面に寸法目盛を設け
てあり、かつその長さ方向に複数個の温度測定素子を設
けた測定棒を、その先端近傍をガラス原料層とガラス融
液との境界面を貫く位置に配置させ、この状態において
温度測定素子による温度測定により境界面の位置を検出
することを特徴とするガラス原料層の厚み測定方法であ
る。
槽の上方より懸吊され、長さ方向表面に寸法目盛を設け
てあり、かつその長さ方向に複数個の温度測定素子を設
けた測定棒を、その先端近傍をガラス原料層とガラス融
液との境界面を貫く位置に配置させ、この状態において
温度測定素子による温度測定により境界面の位置を検出
することを特徴とするガラス原料層の厚み測定方法であ
る。
【００１２】また本発明は、溶解槽の上方より懸吊さ
れ、長さ方向表面に寸法目盛を設けてあり、またその下
端面が密閉されたパイプ状をなし、かつそのパイプ状内
面の長さ方向に複数個の温度測定素子を設けた測定棒
を、その先端近傍を該ガラス原料層と該ガラス融液との
境界面を貫く位置に配置させ、この状態において該温度
測定素子による温度測定により前記境界面の位置を検出
することを特徴とするガラス原料層の厚み測定装置であ
る。
れ、長さ方向表面に寸法目盛を設けてあり、またその下
端面が密閉されたパイプ状をなし、かつそのパイプ状内
面の長さ方向に複数個の温度測定素子を設けた測定棒
を、その先端近傍を該ガラス原料層と該ガラス融液との
境界面を貫く位置に配置させ、この状態において該温度
測定素子による温度測定により前記境界面の位置を検出
することを特徴とするガラス原料層の厚み測定装置であ
る。
【００１３】
【作用】測定棒の先端近傍を、ガラス原料層とガラス融
液の境界面を貫いて位置させ、この状態において測定棒
の内面に配設された複数個の温度測定素子により、ガラ
ス原料層とガラス融液層の境界面付近における鉛直方向
の複数箇所の温度を連続的に測定し、温度が低温から高
温（または低温から高温）に変化する位置を検出する。
そして、温度測定棒のスケールから検出しておいたガラ
ス原料層表面位置の値との差からガラス原料層の厚みを
求める。
液の境界面を貫いて位置させ、この状態において測定棒
の内面に配設された複数個の温度測定素子により、ガラ
ス原料層とガラス融液層の境界面付近における鉛直方向
の複数箇所の温度を連続的に測定し、温度が低温から高
温（または低温から高温）に変化する位置を検出する。
そして、温度測定棒のスケールから検出しておいたガラ
ス原料層表面位置の値との差からガラス原料層の厚みを
求める。
【００１４】
【実施例】以下、本発明を実施例によって説明する。図
１は、本発明の実施に好適なガラス原料層の厚み測定装
置を示す断面図である。溶解槽（１）には、ガラス原料
層（２）がガラス融液層（３）の表面全体を覆うように
投入される。測定棒（５）は、端子（６）により鉛直方
向に懸吊され、また該端子（６）は水平部材（７）を介
して昇降部材（８）に固定されている。測定棒（５）
は、例えば白金、白金−ロジウム合金、或いはアルミナ
等の耐熱性材料からなり、その下端面（５ａ）が密閉さ
れたパイプ状をしている。また、前記測定棒（５）の側
面には、長さ方向に寸法目盛（９）が形成されている。
１は、本発明の実施に好適なガラス原料層の厚み測定装
置を示す断面図である。溶解槽（１）には、ガラス原料
層（２）がガラス融液層（３）の表面全体を覆うように
投入される。測定棒（５）は、端子（６）により鉛直方
向に懸吊され、また該端子（６）は水平部材（７）を介
して昇降部材（８）に固定されている。測定棒（５）
は、例えば白金、白金−ロジウム合金、或いはアルミナ
等の耐熱性材料からなり、その下端面（５ａ）が密閉さ
れたパイプ状をしている。また、前記測定棒（５）の側
面には、長さ方向に寸法目盛（９）が形成されている。
【００１５】前記昇降部材（８）は、支柱（１０）に摺
動可能に係合しており、図示しないワイヤーにより滑車
を介して床面（１２）に設置された巻き上げ装置に接続
されている。また、前記支柱（１０）は床面（１２）に
設置されて固定された台座（１１）上に鉛直状態に起設
されている。
動可能に係合しており、図示しないワイヤーにより滑車
を介して床面（１２）に設置された巻き上げ装置に接続
されている。また、前記支柱（１０）は床面（１２）に
設置されて固定された台座（１１）上に鉛直状態に起設
されている。
【００１６】図２は、前記測定棒（５）の内面の長さ方
向に沿って配設され、温度分布の測定に使用される温度
測定素子のうち、一実施例としての多点測定式の熱電対
（１３）の概略図を示している。同図において、前記熱
電対（１３）は、１本の正極の素線（１３ａ）上に所定
の間隔で複数の負極の素線（１３ｂ）を枝状に配線して
おり、複数箇所における温度測定を連続的に行うことが
可能である。なお、前記熱電対（１３）は、正極と負極
とが逆に配線されていても差し支えない。
向に沿って配設され、温度分布の測定に使用される温度
測定素子のうち、一実施例としての多点測定式の熱電対
（１３）の概略図を示している。同図において、前記熱
電対（１３）は、１本の正極の素線（１３ａ）上に所定
の間隔で複数の負極の素線（１３ｂ）を枝状に配線して
おり、複数箇所における温度測定を連続的に行うことが
可能である。なお、前記熱電対（１３）は、正極と負極
とが逆に配線されていても差し支えない。
【００１７】なお、素線の使用量が多くなり配線が多少
煩雑となるものの、測定箇所が所定間隔となるように複
数の熱電対を束ねて構成することもできる（不図示）。
煩雑となるものの、測定箇所が所定間隔となるように複
数の熱電対を束ねて構成することもできる（不図示）。
【００１８】図３は、多点表示式の温度記録計（１４）
の概略図であり、前記熱電対（１３）から配線（１５）
を介して電気的に接続されている。
の概略図であり、前記熱電対（１３）から配線（１５）
を介して電気的に接続されている。
【００１９】上記した測定装置を用いて、まずガラス原
料層（２）表面より上方に位置した測定棒（５）の下端
面（５ａ）を、昇降部材（８）を支柱（１０）に沿って
降下させてガラス原料層（２）中に挿入浸漬し、該測定
棒（５）の下端近傍をガラス融液層（３）との境界面
（４）を貫く位置に配置させる。また、この位置におけ
るガラス原料層（２）の表面位置を、測定棒（５）の側
面に形成した寸法目盛（９）から検出する。
料層（２）表面より上方に位置した測定棒（５）の下端
面（５ａ）を、昇降部材（８）を支柱（１０）に沿って
降下させてガラス原料層（２）中に挿入浸漬し、該測定
棒（５）の下端近傍をガラス融液層（３）との境界面
（４）を貫く位置に配置させる。また、この位置におけ
るガラス原料層（２）の表面位置を、測定棒（５）の側
面に形成した寸法目盛（９）から検出する。
【００２０】溶解層（１）内は、ガラス原料層（２）と
下層のガラス融液層（３）との境界面（４）付近におい
て急激に高温状態となる。前記測定棒（５）をこの位置
に配置させた状態で、測定棒（５）内に配設された熱電
対（１３）により、溶解層（１）内の鉛直方向の温度分
布について複数箇所（本実施例では５箇所）の測定を連
続的に行い、温度が急激に変化する位置を検出する。こ
の場合、鉛直方向に配設された複数の熱電対（１３）の
うち最下位置のものから、または最上位置のものから順
次測定する。
下層のガラス融液層（３）との境界面（４）付近におい
て急激に高温状態となる。前記測定棒（５）をこの位置
に配置させた状態で、測定棒（５）内に配設された熱電
対（１３）により、溶解層（１）内の鉛直方向の温度分
布について複数箇所（本実施例では５箇所）の測定を連
続的に行い、温度が急激に変化する位置を検出する。こ
の場合、鉛直方向に配設された複数の熱電対（１３）の
うち最下位置のものから、または最上位置のものから順
次測定する。
【００２１】図４は、温度測定した結果の一例を示すグ
ラフである。同図において、（２１）は５箇所の熱電対
（１３）のうち溶解槽内の最下位置における熱電対によ
り測定した結果であり、（２２）〜（２５）は符号順に
上方に向かう位置の熱電対により測定した結果を示して
いる。同図から、熱電対（２３）の測定位置で溶解層
（１）内の温度が急激に上昇していることがわかる。
ラフである。同図において、（２１）は５箇所の熱電対
（１３）のうち溶解槽内の最下位置における熱電対によ
り測定した結果であり、（２２）〜（２５）は符号順に
上方に向かう位置の熱電対により測定した結果を示して
いる。同図から、熱電対（２３）の測定位置で溶解層
（１）内の温度が急激に上昇していることがわかる。
【００２２】このようにして、溶解層（１）内の急激な
温度上昇位置を検出し、これとは別に寸法目盛（９）か
ら検出したガラス原料層表面位置における値との差から
ガラス原料層の厚みを求める。
温度上昇位置を検出し、これとは別に寸法目盛（９）か
ら検出したガラス原料層表面位置における値との差から
ガラス原料層の厚みを求める。
【００２３】
【発明の効果】以上詳述した通り、本発明のガラス原料
層の厚み測定方法及び測定装置によれば、上方から懸吊
され、長さ方向表面に寸法目盛を設け、かつその長さ方
向に複数個の温度測定素子を設けた測定棒を、その先端
がガラス原料層とガラス融液層との境界面を貫く位置に
配置させた状態で温度測定を行うようにしたので、比較
的簡単な構成で電気溶解槽におけるガラス原料層の厚み
を簡便かつ確実に測定することができる。
層の厚み測定方法及び測定装置によれば、上方から懸吊
され、長さ方向表面に寸法目盛を設け、かつその長さ方
向に複数個の温度測定素子を設けた測定棒を、その先端
がガラス原料層とガラス融液層との境界面を貫く位置に
配置させた状態で温度測定を行うようにしたので、比較
的簡単な構成で電気溶解槽におけるガラス原料層の厚み
を簡便かつ確実に測定することができる。
【図１】本発明の実施に好適な装置および溶解槽の縦断
面図
面図
【図２】多点測定式の熱電対の概略図
【図３】多点測定式の熱電対の配線の概略図
【図４】温度測定結果の一例を示す図
１ 溶解槽 ２ ガラス原料層 ３ ガラス融液層 ４ 境界面 ５ 測定棒 ５ａ 下端面 １３ 熱電対 １３ａ 正極 １３ｂ 負極
Claims (2)
- 【請求項１】 電気溶解槽内のガラス融液上のガラス原
料層の厚みを測定する方法であって、 該溶解槽の上方より懸吊され、長さ方向表面に寸法目盛
を設けてあり、かつその長さ方向に複数個の温度測定素
子を設けた測定棒を、その先端近傍を該ガラス原料層と
該ガラス融液との境界面を貫く位置に配置させ、この状
態において該温度測定素子による温度測定により前記境
界面の位置を検出することを特徴とするガラス原料層の
厚み測定方法。 - 【請求項２】 電気溶解槽内のガラス融液上のガラス原
料層の厚みを測定する装置であって、 溶解槽の上方より懸吊され、長さ方向表面に寸法目盛を
設けてあり、また下端面が密閉されたパイプ状をなし、
かつそのパイプ状内面の長さ方向に複数個の温度測定素
子を設けた測定棒を、その先端近傍を該ガラス原料層と
該ガラス融液との境界面を貫く位置に配置させ、この状
態において該温度測定素子による温度測定により前記境
界面の位置を検出することを特徴とするガラス原料層の
厚み測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12103493A JPH06331419A (ja) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | ガラス原料層の厚み測定方法及び測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12103493A JPH06331419A (ja) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | ガラス原料層の厚み測定方法及び測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06331419A true JPH06331419A (ja) | 1994-12-02 |
Family
ID=14801185
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12103493A Pending JPH06331419A (ja) | 1993-05-24 | 1993-05-24 | ガラス原料層の厚み測定方法及び測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06331419A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2525142A (en) * | 2013-11-19 | 2015-10-21 | Radio Data Networks Ltd | A method & apparatus for detecting and measuring the level of liquid within a channel |
-
1993
- 1993-05-24 JP JP12103493A patent/JPH06331419A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB2525142A (en) * | 2013-11-19 | 2015-10-21 | Radio Data Networks Ltd | A method & apparatus for detecting and measuring the level of liquid within a channel |
| GB2525142B (en) * | 2013-11-19 | 2018-04-18 | Radio Data Networks Ltd | A method & apparatus for detecting and measuring the level of liquid within a channel |
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