JPH06331444A - オンラインカラー計 - Google Patents
オンラインカラー計Info
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- JPH06331444A JPH06331444A JP12246593A JP12246593A JPH06331444A JP H06331444 A JPH06331444 A JP H06331444A JP 12246593 A JP12246593 A JP 12246593A JP 12246593 A JP12246593 A JP 12246593A JP H06331444 A JPH06331444 A JP H06331444A
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- Japan
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- standard plate
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- sheet
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 標準板の清掃時機を明確にして効率よく掃除
を行なえるオンラインカラー計を提供する。 【構成】 走行する被測定シートを挟んで配設された上
ヘッド及び下ヘッドと，前記上ヘッドに設けられ前記シ
ートに透光窓を介して所定角度で光を照射する光源と，
前記シートで反射した垂直方向の反射光を受光窓を介し
て分光する分光器と，該分光器からの分光スペクトルを
結像するリニアアレイセンサと，該リニアアレイセンサ
で測定した分光測定値に基づいて色の定量測定値を演算
する演算器と，前記上ヘッドに設けられ自動校正時に測
定光路に配設される反射率が既知の校正用第１標準板
と，前記上下ヘッドのいずれかに配設された校正用第２
標準板からなり，前記シートの測定に先立ち前記第１，
第２標準板を用いて該標準板の反射強度を測定して所定
の演算を行い，次にシートを測定して所定時間経過後再
び前記第１，第２標準板の反射強度を測定して所定の演
算を行い，前記所定の時間経過前と後の演算値の差から
前記各標準板の汚れを検出し掃除時機を判別するように
した。
を行なえるオンラインカラー計を提供する。 【構成】 走行する被測定シートを挟んで配設された上
ヘッド及び下ヘッドと，前記上ヘッドに設けられ前記シ
ートに透光窓を介して所定角度で光を照射する光源と，
前記シートで反射した垂直方向の反射光を受光窓を介し
て分光する分光器と，該分光器からの分光スペクトルを
結像するリニアアレイセンサと，該リニアアレイセンサ
で測定した分光測定値に基づいて色の定量測定値を演算
する演算器と，前記上ヘッドに設けられ自動校正時に測
定光路に配設される反射率が既知の校正用第１標準板
と，前記上下ヘッドのいずれかに配設された校正用第２
標準板からなり，前記シートの測定に先立ち前記第１，
第２標準板を用いて該標準板の反射強度を測定して所定
の演算を行い，次にシートを測定して所定時間経過後再
び前記第１，第２標準板の反射強度を測定して所定の演
算を行い，前記所定の時間経過前と後の演算値の差から
前記各標準板の汚れを検出し掃除時機を判別するように
した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は，紙等のシート状物体の
色をオンラインで測定するカラー計に関し，更に詳しく
は被測定体の測定時に汚れ補償を行って投受光窓の掃除
頻度を減少させると共に標準板自身の掃除時機を判別す
るようにしたオンラインカラー計に関する。
色をオンラインで測定するカラー計に関し，更に詳しく
は被測定体の測定時に汚れ補償を行って投受光窓の掃除
頻度を減少させると共に標準板自身の掃除時機を判別す
るようにしたオンラインカラー計に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来，紙の色をオンラインで測定する装
置としては特開平３ー４６５２４号公報が知られてい
る。図２は上記公報に記されたカラー計の構成図であ
る。図２において，１は上ヘッドを構成する筐体，２は
紙等のシート状物体，４は受光窓，５は分光器，６はリ
ニアアレイセンサ，８ａ，８ｂは光源，９ａ，９ｂは投
光窓，１０は校正用の標準板，１１はリニアアレイセン
サ６の出力を受けてピークホールドするとともに一定の
利得で増幅を行う演算増幅器（プリアンプ），１２は演
算増幅器１１の出力を受けて所定の演算などを行うＭＰ
Ｕ（マイクロプロセッサユニット），１３はＭＰＵ１２
からの司令信号Ｓ2を受けて駆動するモータ，１４はモ
ータ１３の駆動軸に装着され校正用標準板１０が搭載さ
れた水平板１５を第２図の紙面上で左右方向に移動させ
るためのピニオン，１７は水平板１５に設けられた突起
１６を検出して校正用標準板１０が測定光路にセットさ
れたことを確認するフォトスイッチ，１８は水平板１５
の端部を検出して校正用標準板１０が測定光路から外
れ，収納位置に戻ったことを確認するフォトスイッチで
ある。
置としては特開平３ー４６５２４号公報が知られてい
る。図２は上記公報に記されたカラー計の構成図であ
る。図２において，１は上ヘッドを構成する筐体，２は
紙等のシート状物体，４は受光窓，５は分光器，６はリ
ニアアレイセンサ，８ａ，８ｂは光源，９ａ，９ｂは投
光窓，１０は校正用の標準板，１１はリニアアレイセン
サ６の出力を受けてピークホールドするとともに一定の
利得で増幅を行う演算増幅器（プリアンプ），１２は演
算増幅器１１の出力を受けて所定の演算などを行うＭＰ
Ｕ（マイクロプロセッサユニット），１３はＭＰＵ１２
からの司令信号Ｓ2を受けて駆動するモータ，１４はモ
ータ１３の駆動軸に装着され校正用標準板１０が搭載さ
れた水平板１５を第２図の紙面上で左右方向に移動させ
るためのピニオン，１７は水平板１５に設けられた突起
１６を検出して校正用標準板１０が測定光路にセットさ
れたことを確認するフォトスイッチ，１８は水平板１５
の端部を検出して校正用標準板１０が測定光路から外
れ，収納位置に戻ったことを確認するフォトスイッチで
ある。
【０００３】上記の構成において，被測定体２の反射率
特性は次のようにして検出される。即ち，被測定体２の
反射率特性（各波長に対する被測定体の反射率の変化）
をＡ，校正用標準板１０の反射率特性（各波長に対する
校正用標準板の反射率の変化）をＢ，被測定体２の測定
値出力（各波長に対する被測定体の測定値の変化）を
Ｃ，及び校正用標準板１０の測定値出力（各波長に対す
る校正用標準板の測定値の変化）をＤ，ランプ発光特性
（各波長に対するランプ強度の変化）をＥ，検出器の特
性（各波長に対する検出器感度の変化）をＦとすると
き，Ａ〜Ｆの間には次式（１）及び（２）が成立する。 Ｅ×Ｂ×Ｆ＝Ｄ……（１） Ｅ×Ａ×Ｆ＝Ｃ……（２） この（１）及び（２）式から次式を導くことができる。 Ａ＝（Ｂ×Ｃ）／Ｄ……（３）
特性は次のようにして検出される。即ち，被測定体２の
反射率特性（各波長に対する被測定体の反射率の変化）
をＡ，校正用標準板１０の反射率特性（各波長に対する
校正用標準板の反射率の変化）をＢ，被測定体２の測定
値出力（各波長に対する被測定体の測定値の変化）を
Ｃ，及び校正用標準板１０の測定値出力（各波長に対す
る校正用標準板の測定値の変化）をＤ，ランプ発光特性
（各波長に対するランプ強度の変化）をＥ，検出器の特
性（各波長に対する検出器感度の変化）をＦとすると
き，Ａ〜Ｆの間には次式（１）及び（２）が成立する。 Ｅ×Ｂ×Ｆ＝Ｄ……（１） Ｅ×Ａ×Ｆ＝Ｃ……（２） この（１）及び（２）式から次式を導くことができる。 Ａ＝（Ｂ×Ｃ）／Ｄ……（３）
【０００４】上記（３）式から明らかな様に，被測定体
２の反射率特性Ａはランプ発光特性Ｅや検出器の特性Ｆ
が変化してもその影響を受けない。また，被測定体２の
測定値出力Ｃを被測定体２の反射率特性Ａで除算した値
に相当する被測定体２の反射率係数は，校正用標準板１
０の測定値Ｄを校正用標準板１０の反射率特性Ｂで除算
して得られる。ＭＰＵには各波長毎の反射率計数を記憶
する。ＭＰＵ１２の出力Ｓ1は上位ＣＰＵに送出されて
更なる演算処理が行われ究極的に被測定体２の色彩度を
示す様になっている。そして，投光窓９ａ，９ｂや受光
窓４を良好に掃除した場合の自動校正は次の様に行われ
る。
２の反射率特性Ａはランプ発光特性Ｅや検出器の特性Ｆ
が変化してもその影響を受けない。また，被測定体２の
測定値出力Ｃを被測定体２の反射率特性Ａで除算した値
に相当する被測定体２の反射率係数は，校正用標準板１
０の測定値Ｄを校正用標準板１０の反射率特性Ｂで除算
して得られる。ＭＰＵには各波長毎の反射率計数を記憶
する。ＭＰＵ１２の出力Ｓ1は上位ＣＰＵに送出されて
更なる演算処理が行われ究極的に被測定体２の色彩度を
示す様になっている。そして，投光窓９ａ，９ｂや受光
窓４を良好に掃除した場合の自動校正は次の様に行われ
る。
【０００５】 ＭＰＵ１２の司令でモータ１３を駆動
させ校正用標準板（この校正用標準板１０は通常「ぎょ
く」と呼ばれる校正用標準白色板であって３８５〜７４
０ｎｍまで反射率が既知である）１０を測定光路にセッ
トする。 上記標準板１０の反射率係数を数ｎｍ（例えば５ｎ
ｍ）毎に計算してＭＰＵ１２のメモリーに格納する（実
際にはこの計算は複数回行い，数ナノメータ毎に計算し
た平均値をメモリーに格納する。 校正用標準板１０を測定光路から外して格納庫へ格
納する。 自動校正に用いる反射率系数の初期値をＭＰＵ１２
から上位ＣＰＵへ出力する。 被測定体２の反射率を測定するとともに上記標準板１０
の反射率係数を乗じて補正を行い色彩度を演算する。
させ校正用標準板（この校正用標準板１０は通常「ぎょ
く」と呼ばれる校正用標準白色板であって３８５〜７４
０ｎｍまで反射率が既知である）１０を測定光路にセッ
トする。 上記標準板１０の反射率係数を数ｎｍ（例えば５ｎ
ｍ）毎に計算してＭＰＵ１２のメモリーに格納する（実
際にはこの計算は複数回行い，数ナノメータ毎に計算し
た平均値をメモリーに格納する。 校正用標準板１０を測定光路から外して格納庫へ格
納する。 自動校正に用いる反射率系数の初期値をＭＰＵ１２
から上位ＣＰＵへ出力する。 被測定体２の反射率を測定するとともに上記標準板１０
の反射率係数を乗じて補正を行い色彩度を演算する。
【０００６】次に測定によって紙粉や油分等により投光
窓９ａ，９ｂや受光窓４が汚れた場合の自動校正は次の
ようにして行われる。 校正用標準板１０を測定光路にセットする。 校正用標準板１０の反射率係数を前述と同様の方法
により数ｎｍ毎に計算しＭＰＵ１２のメモリーを書き替
える。 校正用標準板１０を測定光路から外して格納庫へ格
納する。 自動校正を行うための書き替えた初期値をＭＰＵ１
２から上位ＣＰＵへ出力する。 以後オンライン測定では上記の反射率係数を使用して
被測定体２の色彩度測定が行われる。
窓９ａ，９ｂや受光窓４が汚れた場合の自動校正は次の
ようにして行われる。 校正用標準板１０を測定光路にセットする。 校正用標準板１０の反射率係数を前述と同様の方法
により数ｎｍ毎に計算しＭＰＵ１２のメモリーを書き替
える。 校正用標準板１０を測定光路から外して格納庫へ格
納する。 自動校正を行うための書き替えた初期値をＭＰＵ１
２から上位ＣＰＵへ出力する。 以後オンライン測定では上記の反射率係数を使用して
被測定体２の色彩度測定が行われる。
【０００７】そして，更に次の自動校正では投光窓９
ａ，９ｂや受光窓４が更に汚れているので上記の反射
率係数が変化する。従って，次のオンライン測定では，
変化後の反射率係数を前記と同様に計算して更にＭＰＵ
１２のメモリーを書き替えることにより，投光窓９ａ，
９ｂや受光窓４の汚れの影響を除去して被測定体２の色
彩度を正確に測定することができる。
ａ，９ｂや受光窓４が更に汚れているので上記の反射
率係数が変化する。従って，次のオンライン測定では，
変化後の反射率係数を前記と同様に計算して更にＭＰＵ
１２のメモリーを書き替えることにより，投光窓９ａ，
９ｂや受光窓４の汚れの影響を除去して被測定体２の色
彩度を正確に測定することができる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】ところで，上記の装置
を用いて紙の色彩度を測定する場合，被測定体２の反射
率特性Ａはランプ発光特性Ｅや検出器の特性Ｆが変化し
てもその影響を受けることなく測定することができる。
を用いて紙の色彩度を測定する場合，被測定体２の反射
率特性Ａはランプ発光特性Ｅや検出器の特性Ｆが変化し
てもその影響を受けることなく測定することができる。
【０００９】しかしながら，上記従来例においては校正
用標準板１０の反射率を絶対的なもの（汚れないもの）
としているが，実際には例えばエアパージ用気体に含ま
れる微細なごみや油分等により反射率が変化する。その
ため一定期間毎に校正用標準板１０の汚れを除去する必
要があるが，その一定期間は多少早めに設定する必要が
あり，標準板の清掃に際してはヘッドの筐体を開閉しな
ければならず工数もかかり面倒であるという問題があっ
た。
用標準板１０の反射率を絶対的なもの（汚れないもの）
としているが，実際には例えばエアパージ用気体に含ま
れる微細なごみや油分等により反射率が変化する。その
ため一定期間毎に校正用標準板１０の汚れを除去する必
要があるが，その一定期間は多少早めに設定する必要が
あり，標準板の清掃に際してはヘッドの筐体を開閉しな
ければならず工数もかかり面倒であるという問題があっ
た。
【００１０】本発明は上記従来技術の問題を解決するた
めに成されたもので，第１標準板の汚れを検出し清掃時
機を明確にして効率よく掃除を行うことが可能なオンラ
インカラー計を提供することを目的とする。
めに成されたもので，第１標準板の汚れを検出し清掃時
機を明確にして効率よく掃除を行うことが可能なオンラ
インカラー計を提供することを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する為の
本発明の構成は，走行する被測定シートを挟んで配設さ
れた上ヘッド及び下ヘッドと，前記上ヘッドに設けられ
前記シートに透光窓を介して所定角度で光を照射する光
源と，前記シートで反射した垂直方向の反射光を受光窓
を介して分光する分光器と，該分光器からの分光スペク
トルを結像するリニアアレイセンサと，該リニアアレイ
センサで測定した分光測定値に基づいて色の定量測定値
を演算する演算器と，前記上ヘッドに設けられ自動校正
時に測定光路に配設される反射率が既知の校正用第１標
準板と，前記上下ヘッドのいずれかに配設された校正用
第２標準板からなり，前記シートの測定に先立ち前記第
１，第２標準板を用いて該標準板の反射強度を測定して
所定の演算を行い，次にシートを測定して所定時間経過
後再び前記第１，第２標準板の反射強度を測定して所定
の演算を行い，前記所定の時間経過前と後の演算値の差
から前記各標準板の汚れを検出し掃除時機を判別するよ
うにしたことを特徴とするものである。
本発明の構成は，走行する被測定シートを挟んで配設さ
れた上ヘッド及び下ヘッドと，前記上ヘッドに設けられ
前記シートに透光窓を介して所定角度で光を照射する光
源と，前記シートで反射した垂直方向の反射光を受光窓
を介して分光する分光器と，該分光器からの分光スペク
トルを結像するリニアアレイセンサと，該リニアアレイ
センサで測定した分光測定値に基づいて色の定量測定値
を演算する演算器と，前記上ヘッドに設けられ自動校正
時に測定光路に配設される反射率が既知の校正用第１標
準板と，前記上下ヘッドのいずれかに配設された校正用
第２標準板からなり，前記シートの測定に先立ち前記第
１，第２標準板を用いて該標準板の反射強度を測定して
所定の演算を行い，次にシートを測定して所定時間経過
後再び前記第１，第２標準板の反射強度を測定して所定
の演算を行い，前記所定の時間経過前と後の演算値の差
から前記各標準板の汚れを検出し掃除時機を判別するよ
うにしたことを特徴とするものである。
【００１２】
【作用】シートの測定に先立つ第１，第２標準板には汚
れが付着していない。この時点で各標準板の反射強度を
測定して所定の演算を行っておく。次にシートを測定し
て所定時間経過後再び前記第１，第２標準板の反射強度
を測定して所定の演算を行うと，各標準板の汚れに差が
ある場合，所定の時間経過前と後の演算値に差が生じ
る。その差が予め定めた値より大きくなった時を掃除時
機と判断する。
れが付着していない。この時点で各標準板の反射強度を
測定して所定の演算を行っておく。次にシートを測定し
て所定時間経過後再び前記第１，第２標準板の反射強度
を測定して所定の演算を行うと，各標準板の汚れに差が
ある場合，所定の時間経過前と後の演算値に差が生じ
る。その差が予め定めた値より大きくなった時を掃除時
機と判断する。
【００１３】
【実施例】以下，図面に従い本発明を説明する。図１は
本発明の装置の一実施例を示す要部断面斜視図である。
図１において図２に示す従来例と同一要素には同一符号
を付して重複する説明は省略するが，２０は下ヘッドの
筐体１ａに透明部材２１を介して固定された第２標準板
である。なお，この図においては第１標準板１０が格納
庫に格納され第２標準板２０に光源からの光が照射して
いる状態を示している。これらの標準板は少なくとも一
方（図では上ヘッド側）に前述の「ぎょく」と呼ばれる
校正用標準白色板を用いるものとする。
本発明の装置の一実施例を示す要部断面斜視図である。
図１において図２に示す従来例と同一要素には同一符号
を付して重複する説明は省略するが，２０は下ヘッドの
筐体１ａに透明部材２１を介して固定された第２標準板
である。なお，この図においては第１標準板１０が格納
庫に格納され第２標準板２０に光源からの光が照射して
いる状態を示している。これらの標準板は少なくとも一
方（図では上ヘッド側）に前述の「ぎょく」と呼ばれる
校正用標準白色板を用いるものとする。
【００１４】上記の構成において，始めに測定開始前の
汚れが付着しない状態で第１標準板１０の反射強度を測
定し同時に反射率係数を演算してメモリーに記憶し，こ
の第１標準板の反射率係数をもとにシートのＬ，ａ，ｂ
の補正を行う（ここは従来通り）が，本発明では同時に
第２標準板の反射強度を測定する。
汚れが付着しない状態で第１標準板１０の反射強度を測
定し同時に反射率係数を演算してメモリーに記憶し，こ
の第１標準板の反射率係数をもとにシートのＬ，ａ，ｂ
の補正を行う（ここは従来通り）が，本発明では同時に
第２標準板の反射強度を測定する。
【００１５】ここで第１，第２標準板や投光窓９ａ，９
ｂおよびレンズ４等に汚れがないものとし，第１標準板
の固有の反射率を１００，第２標準板の固有の反射率を
５０，測定により求めた光の反射強度をそれぞれ１，
０．５とする。そして次のような所定の演算を行って演
算値Ｘを求める。 Ｘ＝｛１００（第１標準板の固有の反射率）／１（測定
により求めた第１標準板の反射強度）｝×０．５（測定
により求めた第２標準板の反射強度）＝５０ となる。
ｂおよびレンズ４等に汚れがないものとし，第１標準板
の固有の反射率を１００，第２標準板の固有の反射率を
５０，測定により求めた光の反射強度をそれぞれ１，
０．５とする。そして次のような所定の演算を行って演
算値Ｘを求める。 Ｘ＝｛１００（第１標準板の固有の反射率）／１（測定
により求めた第１標準板の反射強度）｝×０．５（測定
により求めた第２標準板の反射強度）＝５０ となる。
【００１６】次にシートの測定をはじめてから所定の時
間（例えば２時間）経過すると投光窓９ａ，９ｂおよび
レンズ４等に汚れが発生し，第１，第２標準板で反射す
る光を測定すると，その反射強度が低下する。この場
合，各標準板には汚れが発生しておらず，測定により求
めた測定強度が９０％に低下したとするとその時の演算
値Ｘ1は次のようになる。 Ｘ1＝｛１００（第１標準板の固有の反射率）／０．９
（測定により求めた第１標準板の反射強度）｝×０．４
５（測定により求めた第２標準板の反射強度；５×０．
９）＝５０。
間（例えば２時間）経過すると投光窓９ａ，９ｂおよび
レンズ４等に汚れが発生し，第１，第２標準板で反射す
る光を測定すると，その反射強度が低下する。この場
合，各標準板には汚れが発生しておらず，測定により求
めた測定強度が９０％に低下したとするとその時の演算
値Ｘ1は次のようになる。 Ｘ1＝｛１００（第１標準板の固有の反射率）／０．９
（測定により求めた第１標準板の反射強度）｝×０．４
５（測定により求めた第２標準板の反射強度；５×０．
９）＝５０。
【００１７】即ち，各標準板に汚れが発生していない場
合はＸ，Ｘ1の値の差は零である。なお，測定により求
めた反射強度が９０％に低下しても第１標準板を用いた
従来同様の補正によりシートの正確な測定が可能であ
る。更に所定の時間シートの測定を行い投光窓９ａ，９
ｂおよびレンズ４等の汚れが増大し測定により求めた反
射強度が低下して８０％となった場合も,各標準板自身
に汚れがない場合の演算値Ｘ2は Ｘ2＝｛１００（第１標準板の固有の反射率）／０．８
（測定により求めた第１標準板の反射強度）｝×０．４
（測定により求めた第２標準板の反射強度；５０×０．
８）＝５０となりＸの値との差は生じない。従って第１
標準板を用いた従来同様の補正によりシートの正確な測
定が可能である。
合はＸ，Ｘ1の値の差は零である。なお，測定により求
めた反射強度が９０％に低下しても第１標準板を用いた
従来同様の補正によりシートの正確な測定が可能であ
る。更に所定の時間シートの測定を行い投光窓９ａ，９
ｂおよびレンズ４等の汚れが増大し測定により求めた反
射強度が低下して８０％となった場合も,各標準板自身
に汚れがない場合の演算値Ｘ2は Ｘ2＝｛１００（第１標準板の固有の反射率）／０．８
（測定により求めた第１標準板の反射強度）｝×０．４
（測定により求めた第２標準板の反射強度；５０×０．
８）＝５０となりＸの値との差は生じない。従って第１
標準板を用いた従来同様の補正によりシートの正確な測
定が可能である。
【００１８】次に更にシートの測定を行い所定の時間が
経過して投光窓９ａ，９ｂおよびレンズ４等の汚れが増
大し測定により求めた反射強度が低下して７０％とな
り，第１標準板自身に汚れが付着して固有の反射率が例
えば９０に落ちたとする。その場合の演算値Ｘ3は Ｘ3＝｛９０（汚れによる第１標準板の固有の反射率）
／０．６３（測定により求めた第１標準板の反射強度９
０×０．７）｝×３５（測定により求めた第２標準板の
反射強度；５０×０．７）＝４５となりＸの値との差は
５０−４５＝５となる。
経過して投光窓９ａ，９ｂおよびレンズ４等の汚れが増
大し測定により求めた反射強度が低下して７０％とな
り，第１標準板自身に汚れが付着して固有の反射率が例
えば９０に落ちたとする。その場合の演算値Ｘ3は Ｘ3＝｛９０（汚れによる第１標準板の固有の反射率）
／０．６３（測定により求めた第１標準板の反射強度９
０×０．７）｝×３５（測定により求めた第２標準板の
反射強度；５０×０．７）＝４５となりＸの値との差は
５０−４５＝５となる。
【００１９】上記の様に所定の演算を行ってその差が所
定の値に達したときを各標準板の掃除時機と判定するよ
うにしておけば，適切な時機に標準板の掃除を行うこと
ができる。なお，このカラー計では第１，第２標準板が
同様の比率で汚れた場合は対処できないが，一般には第
２標準板は所定の時間毎に自動的に掃除されるので汚れ
の発生は少ない。なお，本実施例においては第２標準板
を下ヘッド側に設けたが上ヘッド側に設けてもよい。
定の値に達したときを各標準板の掃除時機と判定するよ
うにしておけば，適切な時機に標準板の掃除を行うこと
ができる。なお，このカラー計では第１，第２標準板が
同様の比率で汚れた場合は対処できないが，一般には第
２標準板は所定の時間毎に自動的に掃除されるので汚れ
の発生は少ない。なお，本実施例においては第２標準板
を下ヘッド側に設けたが上ヘッド側に設けてもよい。
【００２０】
【発明の効果】以上実施例とともに具体的に説明した様
に本発明によれば，シートの測定に先立ち前記第１，第
２標準板を用いて該標準板の反射強度を測定して所定の
演算を行い，次にシートを測定して所定時間経過後再び
前記第１，第２標準板の反射強度を測定して所定の演算
を行い，前記所定の時間経過前と後の演算値の差から前
記各標準板の汚れを検出し掃除時機を判別するようにし
たので，第１標準板の清掃時機を明確にして効率よく掃
除を行なえるオンラインカラー計を実現することができ
る。
に本発明によれば，シートの測定に先立ち前記第１，第
２標準板を用いて該標準板の反射強度を測定して所定の
演算を行い，次にシートを測定して所定時間経過後再び
前記第１，第２標準板の反射強度を測定して所定の演算
を行い，前記所定の時間経過前と後の演算値の差から前
記各標準板の汚れを検出し掃除時機を判別するようにし
たので，第１標準板の清掃時機を明確にして効率よく掃
除を行なえるオンラインカラー計を実現することができ
る。
【図１】本発明のオンラインカラー計の一実施例を示す
断面構成図である。
断面構成図である。
【図２】従来のオンラインカラー計の一例を示す断面構
成図である。
成図である。
１ 筐体 ２ 被測定体 ４ 受光窓 ５ 分光器 ６ リニアアレイセンサ ８ａ，８ｂ 光源 ９ａ，９ｂ 投光窓 １０ 校正用第１標準板 １１ 演算増幅器 １２ マイクロプロセッサユニット １３ モータ １７，１８ フォトスイッチ ２０ 校正用第２標準板 ２１ 透明部材
Claims (1)
- 【請求項１】 走行する被測定シートを挟んで配設され
た上ヘッド及び下ヘッドと，前記上ヘッドに設けられ前
記シートに透光窓を介して所定角度で光を照射する光源
と，前記シートで反射した垂直方向の反射光を受光窓を
介して分光する分光器と，該分光器からの分光スペクト
ルを結像するリニアアレイセンサと，該リニアアレイセ
ンサで測定した分光測定値に基づいて色の定量測定値を
演算する演算器と，前記上ヘッドに設けられ自動校正時
に測定光路に配設される反射率が既知の校正用第１標準
板と，前記上下ヘッドのいずれかに配設された校正用第
２標準板からなり，前記シートの測定に先立ち前記第
１，第２標準板を用いて該標準板の反射強度を測定して
所定の演算を行い，次にシートを測定して所定時間経過
後再び前記第１，第２標準板の反射強度を測定して所定
の演算を行い，前記所定の時間経過前と後の演算値の差
から前記各標準板の汚れを検出し掃除時機を判別するよ
うにしたことを特徴とするオンラインカラー計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12246593A JPH06331444A (ja) | 1993-05-25 | 1993-05-25 | オンラインカラー計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12246593A JPH06331444A (ja) | 1993-05-25 | 1993-05-25 | オンラインカラー計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06331444A true JPH06331444A (ja) | 1994-12-02 |
Family
ID=14836532
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12246593A Pending JPH06331444A (ja) | 1993-05-25 | 1993-05-25 | オンラインカラー計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06331444A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006200945A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Satake Corp | 穀粒品位判別装置 |
-
1993
- 1993-05-25 JP JP12246593A patent/JPH06331444A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006200945A (ja) * | 2005-01-18 | 2006-08-03 | Satake Corp | 穀粒品位判別装置 |
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