JPH06341994A - Analytical device with data processing device - Google Patents

Analytical device with data processing device

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JPH06341994A
JPH06341994A JP13317393A JP13317393A JPH06341994A JP H06341994 A JPH06341994 A JP H06341994A JP 13317393 A JP13317393 A JP 13317393A JP 13317393 A JP13317393 A JP 13317393A JP H06341994 A JPH06341994 A JP H06341994A
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JP
Japan
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analog data
data
function
analog
cycle
Prior art date
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Application number
JP13317393A
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Japanese (ja)
Inventor
Rumi Kurumada
留美 車田
Tomonori Mimura
智憲 三村
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】サイクリックなタイミングチャートで動作する
分析装置から出力されるアナログデータ波形を表示する
データ処理装置において、タイミングチャートに対応し
たコメントをデータ波形と同時に表示し、専門家以外で
も分析装置異常の検出を容易にし、分析装置の保守,点
検を効率的に行うことを可能にする。 【構成】データ処理は、アナログデータパターン検出の
ための情報入力(破線内)と、データ入力13と,アナ
ログデータパターン検出14と,アナログデータグラ
フ,コメント,アラーム表示17により構成される。ア
ナログデータパターン検出のための情報入力は、タイミ
ングチャート入力11と,正常な状態および異常な状態
のアナログデータ入力12により構成される。
(57) [Abstract] [Purpose] In a data processing device that displays an analog data waveform output from an analyzer that operates with a cyclic timing chart, a comment corresponding to the timing chart is displayed at the same time as the data waveform. Other than the above, it facilitates detection of analyzer abnormalities and enables efficient maintenance and inspection of analyzers. [Structure] The data processing is composed of information input (within a broken line) for analog data pattern detection, data input 13, analog data pattern detection 14, analog data graph, comment, and alarm display 17. The information input for detecting the analog data pattern is composed of the timing chart input 11 and the analog data input 12 in the normal state and the abnormal state.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、サイクリックなタイミ
ングで動作する分析装置より得られるアナログデータの
処理装置を備えた分析装置に係り、特にアナログデータ
波形により判断が可能な分析装置の保守,点検に有効な
分析装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an analyzer equipped with a processor for analog data obtained from an analyzer which operates at cyclic timing, and more particularly to maintenance of an analyzer capable of making a judgment based on an analog data waveform, An analyzer that is effective for inspection.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の分析装置では、アナログデータ信
号は記憶されず、濃度計算に必要な情報のみが記憶され
ている。
2. Description of the Related Art In conventional analyzers, analog data signals are not stored, but only information necessary for concentration calculation is stored.

【0003】また、従来のデータ処理装置で、検知部の
故障等を診断する場合においては、シンクロスコープ等
のアナライザを利用して、アナライザが表示するアナロ
グデータ波形を人間が検証し、アナログデータ各時点に
おける装置動作を解析し、そのノイズ状態により分析装
置の異常箇所等を判断して保守,点検を行っている。
Further, in the conventional data processing apparatus, when diagnosing a failure of the detecting portion, etc., a human such as a synchroscope is used to verify the analog data waveform displayed by the analyzer, and each analog data The operation of the equipment at that time is analyzed, and the abnormal state of the analysis equipment is judged from the noise state to perform maintenance and inspection.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】データ異常が発生した
場合、従来は専門家がシンクロスコープ等を利用してア
ナログデータを計測し、装置の故障診断をしていた。分
析装置が少数の部品から構成され、動作タイミングが簡
単な場合、原因追及は比較的容易である。しかし、分析
装置が高速となり動作する部品が増加してくると、故障
の原因追及は容易ではなくなる。また、長時間の計時変
化などを人間がチェックし、原因を追及することはます
ます困難になってきている。特に、以下3つの作業が困
難である。 (1)アナログデータパターンを検出し、1サイクル開
始時期を判断する。
When a data abnormality occurs, an expert has conventionally used a synchroscope or the like to measure analog data to diagnose a device failure. When the analysis device is composed of a small number of parts and the operation timing is simple, it is relatively easy to investigate the cause. However, as the analyzer becomes faster and the number of operating parts increases, it becomes difficult to investigate the cause of the failure. In addition, it is becoming more and more difficult for human beings to check for a long-term time change and the like and to investigate the cause. In particular, the following three tasks are difficult. (1) The analog data pattern is detected to determine the start time of one cycle.

【0005】(2)タイミングチャートを記憶して、ア
ナログデータ波形の各時点において分析装置がどのよう
な動作をしているかを解析する。
(2) A timing chart is stored to analyze how the analyzer operates at each time point of the analog data waveform.

【0006】(3)測定したアナログデータを、正常な
状態のアナログデータおよび異常な状態のアナログデー
タと比較し、データ異常検出とその原因を判断する。
(3) The measured analog data is compared with the analog data in the normal state and the analog data in the abnormal state to detect the data abnormality and determine the cause thereof.

【0007】本発明の目的は、係る事情に着目してなさ
れたもので、分析装置より得られるサイクリックなアナ
ログデータパターンを検出し、アナログデータ波形とタ
イミングチャートに基づいたコメントを表示すること
で、アナログデータの各時点における分析装置の動作を
明確にし、正常な状態のアナログデータと比較してデー
タ異常を検出してアラームを発生することで、分析装置
の保守,点検を効率的に行うことにある。
The object of the present invention has been made in view of such circumstances, and detects a cyclic analog data pattern obtained from an analyzer and displays a comment based on an analog data waveform and a timing chart. Efficient maintenance and inspection of the analyzer by clarifying the operation of the analyzer at each point of the analog data and detecting abnormal data by comparing with the analog data in the normal state and generating an alarm. It is in.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、以下の機能を設けた。
In order to achieve the above object, the present invention has the following functions.

【0009】(1)サイクリックな動作のタイミングチ
ャートを記憶する機能。
(1) A function of storing a timing chart of cyclic operation.

【0010】(2)アナログデータを記憶する機能。(2) A function of storing analog data.

【0011】(3)正常な状態のアナログデータを記憶
する機能。
(3) A function of storing analog data in a normal state.

【0012】(4)異常な状態のアナログデータを記憶
する機能。
(4) A function of storing analog data in an abnormal state.

【0013】(5)サイクリックなアナログデータのパ
ターンを検出する機能。
(5) A function of detecting a cyclic analog data pattern.

【0014】(6)測定したアナログデータと、正常な
状態のアナログデータを比較する機能。
(6) A function for comparing measured analog data with analog data in a normal state.

【0015】(7)測定したアナログデータの表示時
に、タイミングチャートを参照してコメントを発生する
機能。
(7) A function of generating a comment by referring to a timing chart when displaying measured analog data.

【0016】(8)測定したアナログデータが正常な状
態から外れた場合、自動的にアラームを発生させる機
能。
(8) A function to automatically generate an alarm when the measured analog data deviates from the normal state.

【0017】上記(5)は、1サイクル開始時期、およ
び記憶したアナログデータの全サイクル数を判断し、1
サイクル毎にサイクル番号を割り当てる機能を有する。
In the above (5), 1 cycle start time and the total number of cycles of the stored analog data are judged, and 1
It has a function of assigning a cycle number for each cycle.

【0018】[0018]

【作用】前記各機能は図1に示す処理フローに従い動作
する。
The above functions operate according to the process flow shown in FIG.

【0019】(1)ステップ11では、アナログデータ
を出力する分析装置のタイミングチャートを入力する。
(1) In step 11, the timing chart of the analyzer for outputting analog data is input.

【0020】(2)ステップ12では、正常な状態およ
び異常な状態のアナログデータを入力する。
(2) At step 12, analog data of a normal state and an abnormal state are input.

【0021】(3)ステップ13では、測定したアナロ
グデータの中から、検証するアナログデータを入力す
る。
(3) In step 13, analog data to be verified is input from the measured analog data.

【0022】(4)ステップ14では、ステップ13で
入力したアナログデータのデータパターンを自動的に検
出し、1サイクル開始時期の検出、およびステップ13
で入力したデータの全サイクル数を判断し、各サイクル
毎にサイクル番号を割り当てる。
(4) In step 14, the data pattern of the analog data input in step 13 is automatically detected to detect the start time of one cycle, and step 13
Determine the total number of cycles of the data entered in, and assign a cycle number to each cycle.

【0023】(5)ステップ15では、正常な状態およ
び異常な状態のアナログデータパターンと、ステップ1
3で入力したアナログデータを比較する。
(5) In step 15, analog data patterns of normal state and abnormal state and step 1
The analog data input in 3 are compared.

【0024】(6)ステップ16では、表示するアナロ
グデータのサイクル番号を指定する。 (7)ステップ17では、アナログデータ波形,コメン
ト,現表示波形のサイクル番号,記憶装置に記憶するア
ナログデータの全サイクル数、および正常なアナログデ
ータと比較して異常があった場合にアラームを表示す
る。
(6) In step 16, the cycle number of the analog data to be displayed is designated. (7) In step 17, an analog data waveform, a comment, the cycle number of the currently displayed waveform, the total number of cycles of the analog data stored in the storage device, and an alarm are displayed when there is an abnormality compared with the normal analog data. To do.

【0025】(8)ステップ18では、ステップ17で
表示したサイクル番号のアナログデータ波形以外を検証
する必要があるか、否かを判断する。別のアナログデー
タ波形を表示する必要があると判断した場合、ステップ
16に戻る。
(8) In step 18, it is determined whether or not it is necessary to verify a waveform other than the analog data waveform of the cycle number displayed in step 17. If it is determined that another analog data waveform needs to be displayed, the process returns to step 16.

【0026】[0026]

【実施例】以下、本発明の実施例を図2から図8を用い
て説明する。本実施例は、臨床検査用の生化学自動分析
装置から出力されるイオン選択電極(以降ISEと略
す)アナログデータの解析機能を有するデータ処理装置
である。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. This embodiment is a data processing device having a function of analyzing analog data of an ion selective electrode (hereinafter abbreviated as ISE) output from a biochemical automatic analyzer for clinical examination.

【0027】図2は本発明を適用する装置のブロック構
成図である。ISEアナログデータを出力する生化学自
動分析装置21と,データ処理装置22と,ディスプレ
イ装置23と,キーボード24からなり、ISEアナロ
グデータファイル25を生化学自動分析装置とデータ処
理装置に接続した。ISEアナログデータファイル25
にはアナライザ等であらかじめ測定したISEアナログ
データが、装置の各異常パターン,正常パターンとして
記憶されており、分析装置の保守,点検のための検証に
有効なデータが蓄積されているものとする。
FIG. 2 is a block diagram of an apparatus to which the present invention is applied. A biochemical automatic analyzer 21 for outputting ISE analog data, a data processing device 22, a display device 23, and a keyboard 24 were connected, and an ISE analog data file 25 was connected to the biochemical automatic analyzer and the data processing device. ISE analog data file 25
It is assumed that ISE analog data measured in advance by an analyzer or the like is stored as each abnormal pattern and normal pattern of the device, and that data effective for verification for maintenance and inspection of the analysis device is accumulated.

【0028】データ処理装置(図2の22)の構成を、図
3に示す。データ記憶部31,パターン認識部32,デ
ータ表示部33からなる。パターン認識部32は、IS
Eアナログデータの正常パターン,異常パターンを学習
する学習機構34と,測定したISEアナログデータの
1パターン開始時期を判断する推論機構35,ISEア
ナログデータの正常,異常を判断する推論機構36を有
する。
The configuration of the data processing device (22 in FIG. 2) is shown in FIG. The data storage unit 31, the pattern recognition unit 32, and the data display unit 33 are included. The pattern recognition unit 32 uses the IS
It has a learning mechanism 34 for learning a normal pattern and an abnormal pattern of E analog data, an inference mechanism 35 for judging the start time of one pattern of the measured ISE analog data, and an inference mechanism 36 for judging whether the ISE analog data is normal or abnormal.

【0029】本実施例の処理フローを、図4に示す。The processing flow of this embodiment is shown in FIG.

【0030】(1)ステップ401で、生化学自動分析
装置のISE動作のタイミングチャートを入力する。入
力情報は、1サイクルの秒数と各動作時間である。
(1) In step 401, a timing chart of the ISE operation of the biochemical automatic analyzer is input. The input information is the number of seconds in one cycle and each operation time.

【0031】(2)ステップ402で、ISEアナログ
データファイルに蓄積された正常パターン,異常パター
ンに分類されたデータを入力する。入力データは、1サ
イクル開始時期が明確なデータとし、パターン認識機構
(図3の34)におけるパターン学習に十分なサイクル
数分のデータであるものとする。
(2) In step 402, the data classified into the normal pattern and the abnormal pattern accumulated in the ISE analog data file is input. It is assumed that the input data is data in which the start time of one cycle is clear, and is data for the number of cycles sufficient for pattern learning in the pattern recognition mechanism (34 in FIG. 3).

【0032】(3)ステップ403では、パターン認識
部の学習機構(図3の34)において、ステップ402で
入力したデータを教師データとし、正常な状態のISE
アナログデータパターン、および生化学自動分析装置各
機構の異常な状態のISEアナログデータパターンを学
習する。
(3) In step 403, in the learning mechanism of the pattern recognition unit (34 in FIG. 3), the data input in step 402 is used as teacher data, and the ISE in the normal state is used.
The analog data pattern and the ISE analog data pattern of the abnormal state of each mechanism of the biochemical automatic analyzer are learned.

【0033】(4)ステップ404で、検証するISE
アナログデータを入力する。
(4) ISE to be verified in step 404
Input analog data.

【0034】(5)ステップ405では、ステップ40
4で入力したデータを、パターン認識部の推論機構1
(図3の35)においてパターン検出し、1サイクル開
始時期を決定し、入力したデータの全サイクル数を検出
し、サイクル番号を割り当てる。
(5) In Step 405, Step 40
The data input in 4 is used as the inference mechanism 1 of the pattern recognition unit.
In (35 in FIG. 3), the pattern is detected, the start time of one cycle is determined, the total number of cycles of the input data is detected, and the cycle number is assigned.

【0035】(6)ステップ406では、ステップ40
5で検出した1サイクル開始時期から1サイクル分のデ
ータを、ステップ403で学習した正常パターンデー
タ、あるいは異常パターンデータと比較し、異常データ
に関しては、自動分析装置のどの機構の異常パターンに
属するかを判断し、アラームを割り当てる。
(6) In Step 406, Step 40
The data for one cycle from the start time of one cycle detected in 5 is compared with the normal pattern data or abnormal pattern data learned in step 403, and which abnormal data belongs to which mechanism of the automatic analyzer the abnormal pattern belongs to. Judge and assign an alarm.

【0036】(7)ステップ407で、次に表示する
(ステップ408)ISEアナログデータのサイクル番
号を指定する。異常パターンのデータを自動的に選択す
る等により装置が自動的に指定する手段と、ユーザがキ
ーボードから入力して自由に指定する手段がある。
(7) In step 407, the cycle number of the ISE analog data to be displayed next (step 408) is designated. There are means for the apparatus to automatically specify the data of the abnormal pattern, etc., and means for the user to freely specify by inputting from the keyboard.

【0037】(8)ステップ408で、ISEアナログ
データ波形,コメント,現表示データ波形のサイクル番
号,入力データの全サイクル数を表示する。
(8) At step 408, the ISE analog data waveform, the comment, the cycle number of the current display data waveform, and the total number of cycles of the input data are displayed.

【0038】(9)ステップ409では、ステップ40
8で表示したデータが、ステップ406で異常パターンと
判断したものであるかを判断する。
(9) In Step 409, Step 40
It is determined whether the data displayed in 8 is the abnormal pattern determined in step 406.

【0039】(10)ステップ410では、表示データが
異常パターンである場合、アラームを表示する。
(10) In step 410, if the display data is an abnormal pattern, an alarm is displayed.

【0040】(11)ステップ411では、ステップ40
8で表示したサイクル番号以外のアナログデータ波形を
検証する必要があるか、否かを判断し、必要であると判
断した場合、ステップ407に戻る。
(11) In Step 411, Step 40
It is determined whether or not it is necessary to verify the analog data waveform other than the cycle number displayed in 8, and if it is determined to be necessary, the process returns to step 407.

【0041】(12)ステップ412で、ステップ404
で入力したデータ以外のアナログデータについて検証す
る必要があるか否かを判断する。必要と判断した場合、
ステップ404へ戻る。
(12) In step 412, step 404
It is determined whether or not it is necessary to verify analog data other than the data input in. If you decide it is necessary,
Return to step 404.

【0042】上記(3)記載のISEアナログデータパ
ターン学習方法例について説明する。本実施例におけ
る、1つのパターンを認識する学習の処理フローを図5
に示す。
An example of the ISE analog data pattern learning method described in (3) above will be described. FIG. 5 shows a processing flow of learning for recognizing one pattern in the present embodiment.
Shown in.

【0043】(3−1)ステップ51では、学習パター
ンに該当するISEアナログデータを教師データとして
入力する。入力データは、 教師データ数=n 1サイクル時間の分割数=x(xはパターン認識に十分
な大きさm) 教師データ番号=i(i=1からn) 教師データiの分割点xにおけるアナログデータ値=T
i(x) としたときのTi(x)である。但し、i=1,…,n,
x=0,…,mである。 (3−2)ステップ52では、ステップ51で入力した
データの分割点xにおける重心Yi(x)を求める。計算
式は、以下の通り。
(3-1) In step 51, ISE analog data corresponding to the learning pattern is input as teacher data. The input data is: number of teacher data = n number of divisions of 1 cycle time = x (x is a size m sufficient for pattern recognition) teacher data number = i (i = 1 to n) analog at division point x of teacher data i Data value = T
It is a T i (x) at the time of the i (x). However, i = 1, ..., N,
x = 0, ..., M. (3-2) In step 52, the center of gravity Y i (x) at the division point x of the data input in step 51 is calculated. The calculation formula is as follows.

【0044】Yi(x)=1/n(T1(x)+T2(x)+
・・・+Tn(x)) (3−3)ステップ53では、各重心の成分を2つにす
る。Eをある小さな数としたとき、計算式は以下の通
り。
Y i (x) = 1 / n (T 1 (x) + T 2 (x) +
... + T n (x)) (3-3) In step 53, each centroid has two components. The calculation formula is as follows, where E is a small number.

【0045】Yji(x)=Yi(x)+E (j=1) Yji(x)=Yi(x)−E (j=2) (3−4)ステップ54では、ステップ51で入力した
教師データを再入力し、クラスタリングを行う。
Y ji (x) = Y i (x) + E (j = 1) Y ji (x) = Y i (x) -E (j = 2) (3-4) In step 54, in step 51 The input teacher data is input again and clustering is performed.

【0046】各データYi(x)と各パターン重心値Yji
(x)の差の二乗和Aijを計算し、Aijが最小となるAi
minのjを検出し、データiがjに属すると判断する。
計算式は以下の通り。
Each data Y i (x) and each pattern barycentric value Y ji
The sum of squares A ij of the difference of (x) is calculated, and A i that minimizes A ij
The j of min is detected, and it is determined that the data i belongs to j.
The calculation formula is as follows.

【0047】Aij=(Yi(x)−Yji(x))2+…+(Y
i(x)−Yji(x))2imin=min(Ai1,Ai2,…,Aik) 但し、kはステップ53で分けた重心数。繰返し処理の
ため、k=2,4…と増加する。
A ij = (Y i (x) -Y ji (x)) 2 + ... + (Y
i (x) −Y ji (x)) 2 A i min = min (A i1 , A i2 , ..., A ik ) where k is the number of centroids divided in step 53. Due to the repetitive processing, k = 2, 4, ...

【0048】(3−5)ステップ55では、ステップ5
4で計算したAijのjに関する平均歪EEを計算し、E
E<Eである場合にステップ53へ戻り、重心成分をさ
らに分ける。EE>=Eである場合は、ステップ53で
分けた重心を再計算する。
(3-5) In Step 55, Step 5
Calculate the average strain EE for j of A ij calculated in
If E <E, the process returns to step 53 to further divide the center of gravity component. If EE> = E, the centroids divided in step 53 are recalculated.

【0049】平均歪EEの計算式は、以下の通り。The formula for calculating the average strain EE is as follows.

【0050】B=1/n(A2min+…+Anmin) EE=(B0−B)/B (B0はBの前回値) 以上が1つのパターンを認識する学習の処理フローであ
る。上記(3−1)から(3−5)に示した手順を正常
パターンと異常パターンのそれぞれについて行い、各パ
ターンの重心値によりパターン認識する。
B = 1 / n (A 2 min + ... + A n min) EE = (B 0 −B) / B (B 0 is the previous value of B) The above is the learning processing flow for recognizing one pattern. . The procedure shown in (3-1) to (3-5) is performed for each of the normal pattern and the abnormal pattern, and the pattern is recognized based on the centroid value of each pattern.

【0051】前記(5)のパターン認識部の推論機構
(図3の35)におけるパターン検出と1サイクル開始
時期を決定方法を、図6により説明する。
A method of detecting the pattern and determining the start time of one cycle in the inference mechanism (35 in FIG. 3) of the pattern recognition unit in the above (5) will be described with reference to FIG.

【0052】(5−1)ステップ61では、検証するア
ナログデータのある時点を1パターン開始時期(0秒
目)仮定し、パターン検出の基準点とする。
(5-1) In step 61, a certain point in time of the analog data to be verified is assumed to be one pattern start time (0 second), and is set as a reference point for pattern detection.

【0053】(5−2)ステップ62では、ステップ6
1で決定した1パターン開始時期のアナログデータ値を
c(0)とし、各分割点xのアナログデータ値Tc(x)
を入力する。
(5-2) In Step 62, Step 6
The analog data value of one pattern start time determined in 1 is defined as T c (0), and the analog data value T c (x) of each division point x
Enter.

【0054】(5−3)ステップ63では、ステップ6
1で入力したデータのクラスタリングを行う。各パター
ン重心値とデータ重心値の差の二乗和AAj を計算し、
その値が最小となるパターンに属すると判断する。当該
1サイクル開始時期のAAj は記憶しておく。
(5-3) In Step 63, Step 6
The data input in 1 is clustered. The sum of squares AA j of the difference between each pattern centroid value and the data centroid value is calculated,
It is determined that the value belongs to the pattern having the smallest value. The AA j at the start of the one cycle is stored.

【0055】(5−4)ステップ64では、ステップ6
2,63,64,65の処理を分割数分繰り返したかど
うかを判断する。
(5-4) In step 64, step 6
It is determined whether the processes of 2, 63, 64 and 65 are repeated for the number of divisions.

【0056】(5−5)ステップ65では、ステップ6
4で分割数分繰り返したと判断した場合、ステップ61
で0秒目に設定した時点から、((1サイクル/分割数)
×繰返し回数)秒分、1サイクル開始時期を後にずら
し、ステップ62に戻る。
(5-5) In Step 65, Step 6
If it is determined in step 4 that the division has been repeated, the step 61
From the time set at 0 seconds in, ((1 cycle / number of divisions)
× Repetition number) seconds, the start time of one cycle is later shifted, and the process returns to step 62.

【0057】(5−6)ステップ66では、ステップ6
3の処理で記憶したAAj を比較し、最小のAAj とな
る1サイクル開始時期を、ステップ61で決定したパタ
ーン検出基準点tの最適な1サイクル開始時期t(k)
と判断する。
(5-6) In Step 66, Step 6
The AA j stored in the process of No. 3 is compared, and the one cycle start time that is the minimum AA j is determined to be the optimum one cycle start time t (k) of the pattern detection reference point t determined in step 61.
To judge.

【0058】(5−7)ステップ67では、ステップ6
1,62,63,64,65,66の処理を、十分な数
のパターン検出基準点について繰り返したかを判断す
る。不十分である場合には、ステップ61に戻り、未検
証な基準点のなかより次の1パターン開始時期を決定す
る。
(5-7) In Step 67, Step 6
It is determined whether the processing of 1, 62, 63, 64, 65, 66 has been repeated for a sufficient number of pattern detection reference points. If it is insufficient, the process returns to step 61, and the next one pattern start time is determined from the unverified reference points.

【0059】(5−8)ステップ68では、ステップ6
7で十分な基準点について検証したと判断した場合に、
各基準点の最適1サイクル開始時期のなかで、最も頻度
が高い1サイクル開始時期を、最終的な1サイクル開始
時期として採用する。
(5-8) In Step 68, Step 6
When it is judged that 7 has verified enough reference points,
The most frequent one cycle start time among the optimum one cycle start time of each reference point is adopted as the final one cycle start time.

【0060】前記(6)の正常パターンデータ、あるい
は異常パターンデータと比較する方法は、1サイクル開
始時期から1サイクル分のデータを入力として、正常パ
ターン,異常パターンの重心値と検証アナログデータの
差の二乗和が、十分小さな値Eより小さくなるパターン
に属するものとする。
The method (6) for comparing with normal pattern data or abnormal pattern data is the difference between the barycentric value of normal pattern and abnormal pattern and the verification analog data by inputting data for one cycle from the start time of one cycle. It is assumed that the sum of squares of the above values belongs to a pattern smaller than a sufficiently small value E.

【0061】本実施例において、ディスプレイ上の操作
手順を、図7,図8の画面例により具体的に説明する。
In the present embodiment, the operation procedure on the display will be specifically described with reference to the screen examples shown in FIGS.

【0062】タイミングチャート入力(図4のステップ
401)の画面例を図7に示す。1サイクルの秒数入力
領域71に、タイミングチャート1サイクルの秒数をキ
ーボードより入力する。1サイクル秒数を入力すると、
タイミングチャートグラフの目盛り表示領域72に目盛
りを自動表示する。処理名入力領域73に、1サイクル
中に行う処理をキーボードより入力する。処理開始タイ
ミング入力領域74に、同行の処理名入力領域73に入
力した処理について、1サイクル開始時を0秒とした場
合の処理開始時間を入力する。同様に、処理終了タイミ
ング入力領域75に、1サイクル開始時を0秒とした場
合の処理終了時間を入力する。処理開始タイミング74
と処理終了タイミング75が入力されると、処理タイミ
ンググラフ表示領域76に処理タイミングをグラフ表示
する。
FIG. 7 shows a screen example of the timing chart input (step 401 in FIG. 4). The number of seconds of one cycle of the timing chart is input to the number of seconds input area 71 of one cycle from the keyboard. If you enter the number of 1 cycle seconds,
The scale is automatically displayed in the scale display area 72 of the timing chart graph. In the process name input area 73, the process to be performed during one cycle is input from the keyboard. In the processing start timing input area 74, the processing start time when the start time of one cycle is 0 seconds is input for the processing input in the processing name input area 73 of the same row. Similarly, the processing end time is input to the processing end timing input area 75 when the start time of one cycle is 0 second. Processing start timing 74
When the processing end timing 75 is input, the processing timing is displayed as a graph in the processing timing graph display area 76.

【0063】ISEアナログデータ波形とコメント表示
(図4のステップ408)の画面例を図8に示す。サイ
クル番号81,全サイクル数82,ISEアナログデー
タ波形83,コメント84を表示する。表示するアナロ
グデータ波形が異常パターンである場合には、アラーム
情報表示欄80へ、アラーム名を表示する。
FIG. 8 shows a screen example of the ISE analog data waveform and comment display (step 408 in FIG. 4). The cycle number 81, the total number of cycles 82, the ISE analog data waveform 83, and the comment 84 are displayed. If the analog data waveform to be displayed is an abnormal pattern, the alarm name is displayed in the alarm information display field 80.

【0064】ISEアナログデータ波形は、横軸に1サ
イクル分の目盛りをとり、1目盛を点線88で示した表
示領域に、サイクル開始時期から1サイクル分のデータ
を表示する。コメントは、タイミングチャート入力画面
(図7)で入力した処理名(図7の73)を参照して表
示する。各コメントは、コメントに対応した矢印85が
指す指標線(点線86)とISEアナログデータ波形の
交点における処理名を表す。表示したアナログデータ波
形と同時に、正常パターンのアナログデータ波形を参照
する場合は、正常パターン表示指示の入力領域89へ、
表示する場合はON、表示しない場合はOFFを入力す
る。ONが入力された場合、アナログデータ波形表示領
域に、正常パターンの波形を別色,細線で同時に表示す
る。現在表示するアナログデータを変更する場合は、次
に表示するデータのサイクル番号をカーソル88で、キ
ーボードより入力する。実行キーの入力と同時に自動的
に該当するデータとコメントを表示する。
The ISE analog data waveform has a scale for one cycle on the horizontal axis, and displays data for one cycle from the cycle start time in the display area where the scale is indicated by a dotted line 88. The comment is displayed by referring to the process name (73 in FIG. 7) input on the timing chart input screen (FIG. 7). Each comment represents the processing name at the intersection of the index line (dotted line 86) indicated by the arrow 85 corresponding to the comment and the ISE analog data waveform. To refer to the analog data waveform of the normal pattern at the same time as the displayed analog data waveform, enter the normal pattern display instruction input area 89.
Enter ON to display, OFF to not display. When ON is input, the waveform of the normal pattern is simultaneously displayed in different colors and thin lines in the analog data waveform display area. When changing the analog data currently displayed, the cycle number of the data to be displayed next is input with the cursor 88 from the keyboard. The corresponding data and comment are automatically displayed at the same time as the execution key is input.

【0065】[0065]

【発明の効果】本発明により、専門家以外の者でも容易
にアナログデータを検証することが可能となり、分析装
置の保守,点検を効率的に行うことを可能にする。
According to the present invention, even a person other than an expert can easily verify analog data, and it is possible to efficiently perform maintenance and inspection of an analyzer.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明実施例の処理フロー図である。FIG. 1 is a process flow chart of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明実施例の装置構成図である。FIG. 2 is a device configuration diagram of an embodiment of the present invention.

【図3】同じく装置構成図である。FIG. 3 is a device configuration diagram of the same.

【図4】本発明実施例の処理フロー図である。FIG. 4 is a processing flow chart of the embodiment of the present invention.

【図5】同じく処理フロー図である。FIG. 5 is a processing flow diagram of the same.

【図6】同じく処理フロー図である。FIG. 6 is a processing flow diagram of the same.

【図7】本発明実施例の画面例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing an example of a screen according to the embodiment of the present invention.

【図8】同じく画面例を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing an example of the same screen.

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】サイクリックなタイミングで、サンプル機
構,試薬分注機構,洗浄機構,検知器などが動作し、前
記検知器より連続的なアナログ信号が出力され、前記連
続的なアナログ信号を測定してその情報を表示すること
が可能であるデータ処理部を有する臨床検査用の分析装
置において、 サイクリックな動作のタイミングチャートを記憶する機
能と、 アナログデータを記憶する機能と、 正常な状態のアナログデータパターンを記憶する機能
と、 異常な状態のアナログデータパターンを記憶する機能
と、 サイクリックなアナログデータのパターンを検出する機
能と、 測定したアナログデータと正常な状態のアナログデータ
を比較する機能と、 測定したアナログデータと異常な状態のアナログデータ
を比較する機能と、 前記アナログデータ表示時に、タイミングチャートを参
照してコメントを発生する機能を設け、 アナログデータの解析機能を持つことを特徴とするデー
タ処理装置を備えた分析装置。
1. A sample mechanism, a reagent dispensing mechanism, a washing mechanism, a detector, etc. operate at cyclic timings, and a continuous analog signal is output from the detector, and the continuous analog signal is measured. In a clinical laboratory analyzer that has a data processing unit that can display that information, a function to store a timing chart of cyclic operation, a function to store analog data, and a normal state Function to store analog data patterns, function to store abnormal analog data patterns, function to detect cyclic analog data patterns, and function to compare measured analog data with normal status analog data And the function to compare the measured analog data with the analog data in abnormal condition, Data when displaying, provided with a function of generating a comment with reference to the timing chart, the analyzer comprising a data processing apparatus characterized by having the analysis function of the analog data.
【請求項2】請求項1において、アナログデータパター
ンを検出する機能は、請求項1記載のアナログデータと
タイミングチャートの関係を特徴づける情報より、1サ
イクルの開始時期を自動的に判断する機能と、前記アナ
ログデータ記憶装置に記憶したデータの全サイクル数を
判断する機能と、前記アナログデータ記憶装置に記憶し
たデータの1サイクル毎にサイクル番号を割当てる機能
を設け、アナログデータの自動解析機能を特徴とするデ
ータ処理装置を備えた分析装置。
2. The function of detecting an analog data pattern according to claim 1, further comprising: a function of automatically determining the start time of one cycle from the information characterizing the relationship between the analog data and the timing chart of claim 1. , A function of determining the total number of cycles of the data stored in the analog data storage device and a function of assigning a cycle number for each cycle of the data stored in the analog data storage device, and characterized by an automatic analysis function of analog data An analyzer equipped with a data processing device.
【請求項3】請求項1において、アナログデータ表示時
にコメントを発生する機能は、アナログデータが正常な
パターンからはずれた場合、自動的にアラームを発生す
る機能を設け、アナログデータの解析機能を持つことを
特徴とするデータ処理装置を備えた分析装置。
3. The function of generating a comment when analog data is displayed according to claim 1, is provided with a function of automatically generating an alarm when analog data deviates from a normal pattern, and has a function of analyzing analog data. An analyzer equipped with a data processing device characterized by the above.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010164484A (en) * 2009-01-16 2010-07-29 Toshiba Corp Automatic analyzer
US20220308023A1 (en) * 2021-03-29 2022-09-29 Yokogawa Electric Corporation Analysis apparatus, analysis method, and computer-readable recording medium

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