JPH0634706A - Icソケット - Google Patents

Icソケット

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Publication number
JPH0634706A
JPH0634706A JP18786992A JP18786992A JPH0634706A JP H0634706 A JPH0634706 A JP H0634706A JP 18786992 A JP18786992 A JP 18786992A JP 18786992 A JP18786992 A JP 18786992A JP H0634706 A JPH0634706 A JP H0634706A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
package
cap
present
heat
Prior art date
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Pending
Application number
JP18786992A
Other languages
English (en)
Inventor
Teruyoshi Hayashi
輝義 林
Yoshiharu Nagayama
義治 永山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP18786992A priority Critical patent/JPH0634706A/ja
Publication of JPH0634706A publication Critical patent/JPH0634706A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 発熱量の多いICパッケージの検査を簡便に
行うことのできるICソケットを提供する。 【構成】 ICパッケージ2が装着されるソケット本体
3にキャップ4を取り付け、このキャップ4の一部に
は、ICパッケージ2と接触するように放熱フィン5を
設けたICソケット1である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ICソケットに関し、
特に、ICパッケージの検査工程などで使用するICソ
ケットに適用して有効な技術に関するものである。
【0002】
【従来の技術】ICパッケージの検査工程では、ICパ
ッケージを装着したICソケットを基板に実装して電気
特性などの検査を行っている。この場合、高消費電力で
発熱量の大きいICパッケージの検査を行う場合は、例
えば特開平1−12480号公報などに記載されている
ように、ペルチエ素子などを用いてICパッケージをソ
ケットの外部から冷却する必要があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
従来技術は、ICソケットの外部に冷却機構を設けるた
め、検査装置が大型化、複雑化してしまうという問題が
ある。
【0004】そこで、本発明の目的は、発熱量の多いI
Cパッケージの検査を簡便に行うことのできる技術を提
供することにある。
【0005】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0006】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
次のとおりである。
【0007】本発明のICソケットは、ICパッケージ
が装着されるソケット本体にキャップを取り付け、この
キャップの一部に前記ICパッケージと接触するように
放熱フィンを設けたものである。
【0008】
【作用】上記した手段によれば、ICソケットの外部に
冷却機構を設ける必要がなくなるため、発熱量の多いI
Cパッケージの検査を簡便に行うことが可能となる。
【0009】
【実施例】図1は、本発明の一実施例であるICソケッ
トの部分断面図、図2は、このICソケットの斜視図、
図3は、このICソケットに装着されたICパッケージ
の斜視図である。
【0010】本実施例のICソケット1は、例えばQF
P(Quad Flat Package) のような表面実装型のICパッ
ケージ2の電気特性検査に使用するもので、このICパ
ッケージ2が装着されるソケット本体3と、このソケッ
ト本体3の上面に対して開閉自在に取り付けられたキャ
ップ4と、このキャップ4の一部に設けられた放熱フィ
ン5とを有している。
【0011】ソケット本体3は、その一態様として合成
樹脂の成型体からなり、図3に示すように、その上面に
は、ICパッケージ2のリード2aが接触される端子6
が設けられている。この端子6は、ソケット本体3の下
面のリードピン7と電気的に接続されている。ソケット
本体3は、このリードピン7を介して基板(図示せず)
に実装される。
【0012】キャップ4は、その一態様として合成樹脂
の成型体からなり、放熱フィン5は、その一態様として
アルミニウムのような高熱伝導性の金属材料からなる。
この放熱フィン5は、例えば図1に示すように、押しバ
ネ8を通じてキャップ4に支持されており、キャップ4
を閉じた際、放熱フィン5の下面がこの押しバネ8を介
してICパッケージ2の上面に押し付けられるようにな
っている。
【0013】このように、本実施例のICソケット1に
よれば、ICパッケージ2の電気特性検査を行う際、I
Cパッケージ2から発生した熱をキャップ4に設けた放
熱フィン5を通じて外部に逃がすことができるので、I
Cソケット1の外部に冷却機構を設ける必要がなくな
り、発熱量の多いICパッケージ2の電気特性検査を簡
便に行うことが可能となる。
【0014】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0015】本発明のICソケットは、その一態様とし
て、例えば図4に示すように、キャップ4の上部と放熱
フィン5とをアルミニウムのような高熱伝導性の金属材
料で一体に形成してもよい。このようにすると、放熱フ
ィン5の表面積が実質的に大きくなるため、前記実施例
に比べてICソケットの放熱効率をさらに向上させるこ
とが可能となる。
【0016】
【発明の効果】本願によって開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下の通りである。
【0017】本発明のICソケットによれば、ICソケ
ットの外部に冷却機構を設ける必要がなくなるため、発
熱量の多いICパッケージの検査を簡便に行うことが可
能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるICソケットの部分断
面図である。
【図2】このICソケットの斜視図である。
【図3】このICソケットに装着されたICパッケージ
の斜視図である。
【図4】本発明の他の実施例であるICソケットの部分
断面図である。
【符号の説明】
1 ICソケット 2 ICパッケージ 2a リード 3 ソケット本体 4 キャップ 5 放熱フィン 6 端子 7 リードピン 8 押しバネ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ICパッケージが装着されるソケット本
    体にキャップを取り付け、前記キャップの一部に前記I
    Cパッケージと接触する放熱フィンを設けたことを特徴
    とするICソケット。
  2. 【請求項2】 前記放熱フィンを前記キャップと一体に
    形成したことを特徴とする請求項1記載のICソケッ
    ト。
JP18786992A 1992-07-15 1992-07-15 Icソケット Pending JPH0634706A (ja)

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JPH0634706A true JPH0634706A (ja) 1994-02-10

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6919734B2 (en) 1998-11-25 2005-07-19 Advantest Corporation Cooling fin connected to a cooling unit and a pusher of the testing apparatus
CN115483162A (zh) * 2022-08-24 2022-12-16 复汉海志(江苏)科技有限公司 一种集成电路封装测试的封装机构及其封装方法
KR20240059119A (ko) * 2022-10-27 2024-05-07 주식회사 오킨스전자 방열성 향상을 위한 테스트 소켓
KR20240059118A (ko) * 2022-10-27 2024-05-07 주식회사 오킨스전자 방열 성능을 향상시킨 테스트 소켓

Cited By (5)

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US7362117B2 (en) 1998-11-25 2008-04-22 Advantest Corporation Cooling fin connected to a cooling unit and a pusher of the testing apparatus
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