JPH0634706Y2

JPH0634706Y2 - 電子部品検査治具

Info

Publication number: JPH0634706Y2
Application number: JP1987137067U
Authority: JP
Inventors: 傑悴田
Original assignee: 株式会社横尾製作所
Priority date: 1987-09-08
Filing date: 1987-09-08
Publication date: 1994-09-07
Anticipated expiration: 2002-09-08
Also published as: JPS6442477U

Description

【考案の詳細な説明】（産業上の利用分野）本考案は、IC等の電子部品を回路基板等に組み付ける前
に単体で簡単な治具により検査することができるように
した電子部品検査治具に関するものである。

（従来の技術）従来のIC等の電子部品の検査は、回路基板に実装された
後工程で回路基板および他の部品とともにインサーキッ
トテスター等により行なわれている。これは、IC等の電
子部品は優れた品質管理がなされ、実装前の単体による
不良よりも回路基板に実装した際の半田付け不良や半田
付けの熱による破損等の発生が多いためである。

（考案が解決しようとする問題点）ところで、近年はIC等の電子部品のより一層の高密度集
積化が図られ、それだけ単体による不良の発生も多くな
る傾向にある。また、回路基板に組み付けた後工程にお
ける実装基板検査では、大掛りなインサーキットテスタ
ーが必要であり、検査装置が極めて高価であり、少量生
産品や試作品の検査に適していないという問題点があっ
た。

そこで、回路基板に実装される前のIC等の電子部品単体
を簡単な治具で手軽に検査できることが要望されてい
る。

本考案の目的は、上記した従来の電子部品検査治具の問
題点を解決するためになされたもので、IC等の電子部品
単体を簡単な治具で手軽に検査できるようにした電子部
品検査治具を提供することにある。

（問題点を解決するための手段）かかる目的を達成するために、本考案の電子部品検査治
具は、機枠に水平な中間固定板を配設し、この中間固定
板の上面に支持ピンにより横方向ずれを防止するととも
に上方向の移動距離を制限して電子部品載置板を上下動
自在に配設し、この電子部品載置板を第１のバネで上方
向に弾性付勢し、前記電子部品載置板の上面に載置され
る被検査電子部品の検査点に下から臨むように前記中間
固定板にコンタクトプローブを配設し、前記機枠にラッ
クが刻設された縦軸を上下動自在に配設し、この縦軸の
上部に前記電子部品載置板に載置された被検査電子部品
を下方に押圧する押圧部を有する可動天板を配設し、こ
の可動天板を第２のバネで上方向に弾性付勢し、前記機
枠に水平軸を軸回りに回動自在に配設し、この水平軸に
前記縦軸のラックに噛合する平歯車を固定配設するとと
もに、その一端部にこの水平軸の軸方向と直交して配設
される揺動軸により操作レバーを前記水平軸に対しては
相対的に軸回りに回動しないが前記揺動軸の軸回りに揺
動自在に配設し、この操作レバーの一方の揺動方向側面
に係止突起を突設し、第３のバネによりこの係止突起が
突設された方向に前記操作レバーを弾性付勢し、前記操
作レバーの側方に前記係止突起が弾接する係止板を配設
し、前記操作レバーを前記水平軸の軸回りに回動させて
被検査電子部品に前記コンタクトプローブが押圧される
位置で、前記係止突起が挿入される係止溝を前記係止板
に穿設して構成されている。

（作用）したがって、電子部品載置板上に被検査電子部品を載置
し、操作レバーを第１および第２のバネの弾力に抗して
水平軸の軸回りに回動操作すれば、係止突起が係止板の
係止溝に第３のバネの弾力が挿入されて被検査電子部品
の検査点にコンタクトプローブが当接した状態が維持さ
れ、適宜に検査を行なうことができる。そして、検査が
終了すれば、操作レバーを第３のバネの弾力が抗して揺
動操作して係止突起を係止溝から離脱させ、第２のバネ
の弾力により被検査電子部品へのコンタクトプローブの
当接が解除される。

（実施例）以下、本考案の実施例を第１図ないし第５図を参照して
説明する。第１図は、本考案の電子部品検査治具の一部
切り欠き側面図であり、第２図は、第１図の平面図であ
り、第３図は、操作レバーを被検査電子部品にコンタク
トプローブが当接する位置とした第１図のＡ−Ａ矢視断
面図であり、第４図は、第１図のＢ−Ｂ矢視断面図であ
り、第５図は、第１図のＣ−Ｃ矢視断面図である。

第１図ないし第５図において、底面板１の両側部上方に
側面板2,2が支柱3,3,3,3により適宜に固定配設されて機
枠が形成されている。さらに、この側面板2,2の上部に
渡って水平な中間固定板４が配設される。この中間固定
板４の上面に、頭大部を有する支持ピン5,5…が立設さ
れ、この支持ピン5,5…により電子部品載置板６が横方
向ずれを防止されるとともに上方向の移動距離を制御さ
れて上下動自在に配設される。そして、この中間固定板
４の上面と電子部品載置板６の下面に対向してそれぞれ
有底孔が穿設され、これらの対向する有底孔に両端部が
挿入固定されて第１のバネ7,7…が縮設され、電子部品
載置板６が上方向に弾性付勢される。さらに、電子部品
載置板６には、載置される被検査電子部品の検査点に対
応して孔が穿設され、この孔に下から臨むようにコンタ
クトプローブ8,8…が中間固定板４に配設される。これ
らのコンタクトプローブ8,8…の他端は、中間固定板４
の下面に配設されたグランド基板９に接続され、さらに
同軸ケーブル10,10…を介して底面板１に配設されたイ
ンターフェース基板11に接続される。そして、インター
フェース基板11に、装置台12の接続伸縮ピン12_a，12_a…
が当接して適宜にテスター等に接続される。

また、両側の側面板2,2にラック13_a，13_aが刻設された
縦軸13,13が上下動自在にそれぞれ配設される。この縦
軸13,13の上部に架設して可動天板14が配設され、下部
に上方向への抜け止めストッパーが配設される。そし
て、この可動天板14の下面には、被検査電子部品を下方
に押圧するための押圧部14_aが設けられる。さらに、縦
軸13,13に遊嵌して中間固定板４と可動天板14間に第２
のバネ15,15が縮設され、可動天板14が上方向に弾性付
勢される。

さらに、両側の側面板2,2に軸支させて水平軸16が軸回
りに回動自在に配設される。この水平軸16には、縦軸1
3,13のラック13_a，13_aに噛合する平歯車17,17が固定配
設される。また、水平軸16の一端部は一方の側面板２か
ら先端部が突出され、その先端部にレバー基部18が固定
配設される。このレバー基部18において、水平軸16の軸
方向と直交して配設された揺動軸19により操作レバー20
が水平軸16に対しては相対的に軸回りに回動しないが揺
動軸19の軸回りに揺動自在に配設される。そして、操作
レバー20の側面板２側の面に係止突起21が突設され、さ
らに操作レバー20が側面板２側に弾性付勢されるように
第３のバネ22が操作レバー20とレバー基部18との間に縮
設される。

そしてさらに、側面板２とレバー基部18との間に、係止
突起21が弾接する係止板23が配設され、この係止板23の
適宜な位置に係止突起21が挿入できる係止溝24が穿設さ
れる。

かかる構成において、操作レバー20が上昇位置（第４図
の位置および第５図Ｘの位置）にあれば、第１図のごと
く可動天板14は上昇位置にあり、また電子部品載置板６
も上昇位置にある。この状態で電子部品載置板６の上面
に被検査電子部品を載置する。そして、操作レバー20を
下降させて第５図Ｙの位置とする。すると、水平軸16が
回動し平歯車17,17とラック13_a，13_aの噛合により縦軸1
3,13が第２のバネ15,15の弾力に抗して下降し、可動天
板14の押圧部14_aで被検査電子部品が下方に押圧され
る。さらに、第１のバネ7,7の弾力に抗して電子部品載
置板６が下降され、被検査電子部品の検査点にコンタク
トプローブ8,8…が下から当接される。ここで、操作レ
バー20の係止突起21は第３のバネ22の弾力により係止板
23に弾接されており、係止溝24に係止突起21が臨むと、
第３のバネ22の弾力により操作レバー20が揺動されて第
３図のごとく係止溝24に係止突起21が挿入され、水平軸
16の軸回りの回動が禁止される。

この結果、操作レバー20の下降方向への操作力を解除し
ても、第２のバネ15,15等の弾力により縦軸13,13は上昇
移動することがなく、被検査電子部品の検査点にコンタ
クトプローブ8,8…が当接した状態が維持される。そし
て、この状態で適宜に被検査電子部品の検査がなされ
る。さらに、検査が終了したならば、操作レバー20を第
３のバネ22の弾力に抗して第３図でＺ方向に揺動操作す
れば、係止突起21が係止溝24から離脱され、水平軸16の
軸回りの回動が許容される。このため、第２のバネ15,1
5等の弾力により縦軸13,13が上昇移動し、被検査電子部
品からコンタクトプローブ8,8…の当接が解除される。

このように、本考案の電子部品検査治具は、電子部品載
置板６に被検査電子部品単体を載置し、操作レバー20を
下降操作する簡単な作業で被検査電子部品にコンタクト
プローブ8,8…が当接された状態が形成維持される。そ
して、検査が終了すれば、操作レバー20を側方に揺動操
作する簡単な作業で被検査電子部品からコンタクトプロ
ーブ8,8…の当接が解除される。したがって、その操作
は極めて手軽で簡単に行ない得る。また、治具としての
構造が簡単であり、小型でしかも安価に製造できる。さ
らに、インターフェース基板11に装置台12の接続伸縮ピ
ン12_a，12_a…を当接させて被検査電子部品の検査点とテ
スター等とを電気的接続させるので、本考案の電子部品
検査治具は交換が容易である。

なお、上記実施例にあっては、１個の電子部品を検査す
る治具として構成したが、複数個の電子部品を同時に電
子部品載置板６に載置できるように構成して複数個を一
度に検査するように構成しても良い。

（考案の効果）以上説明したように、本考案の電子部品検査治具によれ
ば、IC等の電子部品を単体で簡単な治具で手軽に検査す
ることができ、少量生産品や試作品等のための電子部品
の検査に好適である。

しかも、操作レバーを下降させて被検査電子部品の検査
点にコンタクトプローブが当接した状態となると係止突
起が係止溝に係合してそれ以上の操作が禁止されるとと
もに、この当接状態が操作レバーの下降方向への操作力
を解除しても維持されるので、被検査電子部品の検査点
にコンタクトプローブを適宜な圧力で当接させることが
でき、被検査電子部品に過大な力が加わってこれを破損
させるようなことがなく、また当接状態の維持によりハ
ンドフリーで確実な電気的接続による検査が可能であ
る。そして、操作レバーを揺動操作させることで、係止
突起の係止溝への係合が容易に解除されるので、操作も
極めて簡単である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の電子部品検査治具の一部切り欠き側
面図であり、第２図は、第１図の平面図であり、第３図
は、操作レバーを被検査電子部品にコンタクトプローブ
が当接する位置とした第１図のＡ−Ａ矢視断面図であ
り、第４図は、第１図のＢ−Ｂ矢視断面図であり、第５
図は、第１図のＣ−Ｃ矢視断面図である。 1:底面板、2:側面板、3:支柱、 4:中間固定板、5:支持ピン、 6:電子部品載置板、7:第１のバネ、 8:コンタクトプローブ、13:縦軸、 13_a：ラック、14:可動天板、 14_a：押圧部、15:第２のバネ、 16:水平軸、17:平歯車、 19:揺動軸、20:操作レバー、 21:係止突起、22:第３のバネ、 23:係止板、24:係止溝。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】

【請求項１】機枠に水平な中間固定板を配設し、この中
間固定板の上面に支持ピンにより横方向ずれを防止する
とともに上方向の移動距離を制限して電子部品載置板を
上下動自在に配設し、この電子部品載置板を第１のバネ
で上方向に弾性付勢し、前記電子部品載置板の上面に載
置される被検査電子部品の検査点に下から臨むように前
記中間固定板にコンタクトプローブを配設し、前記機枠
にラックが刻設された縦軸を上下動自在に配設し、この
縦軸の上部に前記電子部品載置板に載置された被検査電
子部品を下方に押圧する押圧部を有する可動天板を配設
し、この可動天板を第２のバネで上方向に弾性付勢し、
前記機枠に水平軸を軸回りに回動自在に配設し、この水
平軸に前記縦軸のラックに噛合する平歯車を固定配設す
るとともに、その一端部にこの水平軸の軸方向と直交し
て配設される揺動軸により操作レバーを前記水平軸に対
しては相対的に軸回りに回動しないが前記揺動軸の軸回
りに揺動自在に配設し、この操作レバーの一方の揺動方
向側面に係止突起を突設し、第３のバネによりこの係止
突起が突設された方向に前記操作レバーを弾性付勢し、
前記操作レバーの側方に前記係止突起が弾接する係止板
を配設し、前記操作レバーを前記水平軸の軸回りに回動
させて被検査電子部品に前記コンタクトプローブが押圧
される位置で、前記係止突起が挿入される係止溝を前記
係止板に穿設したことを特徴とする電子部品検査治具。