JPH06347262A - カメラの測距装置 - Google Patents
カメラの測距装置Info
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- JPH06347262A JPH06347262A JP13568893A JP13568893A JPH06347262A JP H06347262 A JPH06347262 A JP H06347262A JP 13568893 A JP13568893 A JP 13568893A JP 13568893 A JP13568893 A JP 13568893A JP H06347262 A JPH06347262 A JP H06347262A
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- distance
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- distance measuring
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Landscapes
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】測距時間が長くなる多点測距モードでは、測距
精度よりもレリーズタイムラグを重視した測距を行い、
測距時間が短くてすむ１点測距モードでは、レリーズタ
イムラグよりも測距精度を重視した測距を行うことを特
徴とする。 【構成】ＩＲＥＤ１２からパルス光が発光されると、投
光レンズ１４を介して被写体１６にパルス光が投射さ
れ、被写体１６からの反射光が受光レンズ１５を通して
ＰＳＤ１３上に至る。ＡＦ回路１１は、ＰＳＤ１３上の
どこに上記被写体１６からの反射光が戻るかによって、
測距情報１／Ｌが算出され、制御部１８に出力する。Ｍ
／Ｓスイッチ１９は測距モードが多点測距モードか１点
測距モードかを設定する。このＭ／Ｓスイッチ１９で選
択された測距モードに応じて、調整値記憶部１７からＩ
ＲＥＤ１２の発光回数及び積分時間の値が制御部１８に
送られて決定され、ＡＦ回路１１に出力される。
精度よりもレリーズタイムラグを重視した測距を行い、
測距時間が短くてすむ１点測距モードでは、レリーズタ
イムラグよりも測距精度を重視した測距を行うことを特
徴とする。 【構成】ＩＲＥＤ１２からパルス光が発光されると、投
光レンズ１４を介して被写体１６にパルス光が投射さ
れ、被写体１６からの反射光が受光レンズ１５を通して
ＰＳＤ１３上に至る。ＡＦ回路１１は、ＰＳＤ１３上の
どこに上記被写体１６からの反射光が戻るかによって、
測距情報１／Ｌが算出され、制御部１８に出力する。Ｍ
／Ｓスイッチ１９は測距モードが多点測距モードか１点
測距モードかを設定する。このＭ／Ｓスイッチ１９で選
択された測距モードに応じて、調整値記憶部１７からＩ
ＲＥＤ１２の発光回数及び積分時間の値が制御部１８に
送られて決定され、ＡＦ回路１１に出力される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明はカメラの測距装置に関
し、特に赤外光アクティブ方式を用いたカメラの測距装
置に関するものである。
し、特に赤外光アクティブ方式を用いたカメラの測距装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、カメラ等の自動合焦システムは、
大きく分けて２つの方式が採用されている。その１つは
被写体の輝度分布情報に基いて測距を行うパッシブ方式
であり、他の１つは被写体に対し赤外光や超音波等のビ
ームを投射し、その反射信号に基いて測距を行うアクテ
ィブ方式である。
大きく分けて２つの方式が採用されている。その１つは
被写体の輝度分布情報に基いて測距を行うパッシブ方式
であり、他の１つは被写体に対し赤外光や超音波等のビ
ームを投射し、その反射信号に基いて測距を行うアクテ
ィブ方式である。
【０００３】このうち、投光レンズを通して被写体に向
け赤外光を投射し、投光レンズから一定の距離、つまり
基線長だけ離れて設けられた受光レンズを介して半導体
位置検出装置に被写体からの反射光を受光し、その入射
位置によって被写体距離を測定する、所謂赤外投光アク
ティブ式三角測距方式によるオートフォーカス（以下Ａ
Ｆと略記する）装置は、簡単な構成で実現できるので、
多くの製品に採用されている。
け赤外光を投射し、投光レンズから一定の距離、つまり
基線長だけ離れて設けられた受光レンズを介して半導体
位置検出装置に被写体からの反射光を受光し、その入射
位置によって被写体距離を測定する、所謂赤外投光アク
ティブ式三角測距方式によるオートフォーカス（以下Ａ
Ｆと略記する）装置は、簡単な構成で実現できるので、
多くの製品に採用されている。
【０００４】ところが、この方式にて撮影を行う場合、
投光した方向に主要被写体が存在しない場合、ＡＦ装置
は他の被写体或いは背景、すなわち無限（∞）に合焦し
てしまう。このため、主要被写体に対してはピントの合
わない（ピンボケ）写真となってしまう（以下、これを
中抜けと称する）。
投光した方向に主要被写体が存在しない場合、ＡＦ装置
は他の被写体或いは背景、すなわち無限（∞）に合焦し
てしまう。このため、主要被写体に対してはピントの合
わない（ピンボケ）写真となってしまう（以下、これを
中抜けと称する）。
【０００５】したがって、構図によっては、ファインダ
内に設けられた赤外光の投光方向を示す測距枠に、予め
被写体を入れて測距を行い、その後にフレーミング設定
しなおして撮影する、所謂フォーカスロックと称される
操作を必要とした。
内に設けられた赤外光の投光方向を示す測距枠に、予め
被写体を入れて測距を行い、その後にフレーミング設定
しなおして撮影する、所謂フォーカスロックと称される
操作を必要とした。
【０００６】そこで、測距用の投光信号を複数にして、
ファインダ内の複数の測距位置を測距する、広視野ＡＦ
或いは多点測距と称される写真技術が提唱されている。
これによって、フォーカスロックのような煩雑な操作を
無用にする試みがなされている。
ファインダ内の複数の測距位置を測距する、広視野ＡＦ
或いは多点測距と称される写真技術が提唱されている。
これによって、フォーカスロックのような煩雑な操作を
無用にする試みがなされている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな多点測距技術を用いた赤外投光アクティブ式三角測
距方式によるＡＦ装置を組込んだＡＦカメラの場合、１
回の測距にも必ず何程かの有限な測距時間が必要であ
る。そのため、撮影画枠内の複数の測距位置につきその
測距点を多くすればする程、その測距に必要な時間が長
くなってしまう。
うな多点測距技術を用いた赤外投光アクティブ式三角測
距方式によるＡＦ装置を組込んだＡＦカメラの場合、１
回の測距にも必ず何程かの有限な測距時間が必要であ
る。そのため、撮影画枠内の複数の測距位置につきその
測距点を多くすればする程、その測距に必要な時間が長
くなってしまう。
【０００８】また、赤外光を投射する方式は、比較的簡
単に実現できる反面、反射光と定常光とのＳ／Ｎの関係
で、距離が遠くなるほど精度が悪くなるという課題を有
している。したがって、赤外光のパルス発光に同期して
行う積分動作の回数を増やすか積分時間を長くすること
によって、ノイズ成分を相殺し、測距精度を向上させる
ことも考えられている。しかしながら、これもやはり測
距時間がそれに応じて長くなるという問題点がある。
単に実現できる反面、反射光と定常光とのＳ／Ｎの関係
で、距離が遠くなるほど精度が悪くなるという課題を有
している。したがって、赤外光のパルス発光に同期して
行う積分動作の回数を増やすか積分時間を長くすること
によって、ノイズ成分を相殺し、測距精度を向上させる
ことも考えられている。しかしながら、これもやはり測
距時間がそれに応じて長くなるという問題点がある。
【０００９】この発明は上記のような点に着目してなさ
れたもので、測距時間を長くすることを防止すると共
に、精度を重視した測距が可能なカメラの測距装置を提
供することを目的とする。
れたもので、測距時間を長くすることを防止すると共
に、精度を重視した測距が可能なカメラの測距装置を提
供することを目的とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】すなわちこの発明は、撮
影画枠内の複数のポイントに向けてパルス光を投光可能
な投光手段と、この投光手段から発せられて対象物にて
反射した光を受光し、光電変換を行う光電変換手段と、
この光電変換手段からの光電変換信号を積分した信号に
基き、上記対象物までの距離を演算する演算手段と、上
記撮影画角内の複数のポイントに向けて投光を行い対象
物を測距する第１の測距モードと、上記撮影画角内の単
一のポイントに向けて投光を行い対象物を測距する第２
の測距モードとを選択する設定手段と、この設定手段に
より第２の測距モードが選択された際には、上記投光手
段が発するパルス光の数若しくは上記演算手段の積分時
間を増加させる制御手段とを具備することを特徴とす
る。
影画枠内の複数のポイントに向けてパルス光を投光可能
な投光手段と、この投光手段から発せられて対象物にて
反射した光を受光し、光電変換を行う光電変換手段と、
この光電変換手段からの光電変換信号を積分した信号に
基き、上記対象物までの距離を演算する演算手段と、上
記撮影画角内の複数のポイントに向けて投光を行い対象
物を測距する第１の測距モードと、上記撮影画角内の単
一のポイントに向けて投光を行い対象物を測距する第２
の測距モードとを選択する設定手段と、この設定手段に
より第２の測距モードが選択された際には、上記投光手
段が発するパルス光の数若しくは上記演算手段の積分時
間を増加させる制御手段とを具備することを特徴とす
る。
【００１１】
【作用】この発明のカメラの測距装置にあっては、撮影
画角内の複数のポイントに向けて投光を行い対象物を測
距する第１の測距モードと、上記撮影画角内の単一のポ
イントに向けて投光を行い対象物を測距する第２の測距
モードの２種類の測距モードを有している。そして、上
記撮影画枠内の複数のポイントに向けて投光手段から対
象物に向けてパルス光が投光されると、対象物にて反射
された光が光電変換手段で受光されて光電変換が行われ
る。この光電変換手段からの光電変換信号を積分した信
号に基いて、演算手段で上記対象物までの距離が演算さ
れる。上記第１の測距モードと第２の測距モードの選択
は、設定手段によりなされるもので、第２の測距モード
が選択された際には、上記投光手段が発するパルス光の
数若しくは上記演算手段の積分時間が制御手段により増
加される。
画角内の複数のポイントに向けて投光を行い対象物を測
距する第１の測距モードと、上記撮影画角内の単一のポ
イントに向けて投光を行い対象物を測距する第２の測距
モードの２種類の測距モードを有している。そして、上
記撮影画枠内の複数のポイントに向けて投光手段から対
象物に向けてパルス光が投光されると、対象物にて反射
された光が光電変換手段で受光されて光電変換が行われ
る。この光電変換手段からの光電変換信号を積分した信
号に基いて、演算手段で上記対象物までの距離が演算さ
れる。上記第１の測距モードと第２の測距モードの選択
は、設定手段によりなされるもので、第２の測距モード
が選択された際には、上記投光手段が発するパルス光の
数若しくは上記演算手段の積分時間が制御手段により増
加される。
【００１２】
【実施例】初めに、この発明のカメラの測距装置の前提
となる技術について説明する。コンパクトカメラ等に適
用されるアクティブ式の三角測距方式によるＡＦ装置
は、図５に示されるような測距原理に基いて構成されて
いる。すなわち、互いに平行な光軸を有する投光レンズ
１と受光レンズ２とが基線長Ｓだけ離れて位置され、投
光レンズ１の光軸上には近赤外発光ＬＥＤ（ＩＲＥＤ）
３が、また受光レンズ２の光軸上には図中ａだけシフト
した位置に端面を有する長さｂの位置検出素子（ＰＳ
Ｄ）４がそれぞれ配置されている。そして、ＩＲＥＤ３
から投光された光エネルギーは、投光レンズ１を通して
距離Ｌにある被写体５で反射され、受光レンズ２を通し
てＰＳＤ４上に結像される。
となる技術について説明する。コンパクトカメラ等に適
用されるアクティブ式の三角測距方式によるＡＦ装置
は、図５に示されるような測距原理に基いて構成されて
いる。すなわち、互いに平行な光軸を有する投光レンズ
１と受光レンズ２とが基線長Ｓだけ離れて位置され、投
光レンズ１の光軸上には近赤外発光ＬＥＤ（ＩＲＥＤ）
３が、また受光レンズ２の光軸上には図中ａだけシフト
した位置に端面を有する長さｂの位置検出素子（ＰＳ
Ｄ）４がそれぞれ配置されている。そして、ＩＲＥＤ３
から投光された光エネルギーは、投光レンズ１を通して
距離Ｌにある被写体５で反射され、受光レンズ２を通し
てＰＳＤ４上に結像される。
【００１３】このＰＳＤ４は、２つの出力端子１chと２
chを有しており、太陽光等の定常光電流成分を除去する
と、その出力電流ｉ1 、ｉ2 と反射スポット光の入射位
置ｘとの間には、（１）式で示される関係が成立する。 ｉ2 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ）＝（ｘ＋ａ）／ｂ …（１） そして、受光レンズ２の焦点距離をｆj とすると、入射
位置ｘは（２）式により求められる。 ｘ＝Ｓ・ｆj ／Ｌ …（２） 更に、上記（１）式及び（２）式により、（３）式が得
られる。
chを有しており、太陽光等の定常光電流成分を除去する
と、その出力電流ｉ1 、ｉ2 と反射スポット光の入射位
置ｘとの間には、（１）式で示される関係が成立する。 ｉ2 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ）＝（ｘ＋ａ）／ｂ …（１） そして、受光レンズ２の焦点距離をｆj とすると、入射
位置ｘは（２）式により求められる。 ｘ＝Ｓ・ｆj ／Ｌ …（２） 更に、上記（１）式及び（２）式により、（３）式が得
られる。
【００１４】
【数１】
【００１５】したがって、ｉ2 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ）を求め
ることによって、被写体距離Ｌの逆数を求めることがで
きる。図６は、アクティブ式三角測距方式による基本的
な測距装置の要部回路図である。図示されないＩＲＥＤ
が発光する前は、制御信号１によってオペアンプＡ１
１、Ａ１２の出力側に配置されたアナログスイッチＡＳ
１１、ＡＳ１２がオンしている。したがって、このアン
プＡ１１、Ａ１２の負帰還によって、ＰＳＤ４を流れる
定常光電流は全てトランジスタＱ１１、Ｑ１２に流れ
る。そして、そのために必要なベース電位は、コンデン
サＣ１１、Ｃ１２に充電されている。
ることによって、被写体距離Ｌの逆数を求めることがで
きる。図６は、アクティブ式三角測距方式による基本的
な測距装置の要部回路図である。図示されないＩＲＥＤ
が発光する前は、制御信号１によってオペアンプＡ１
１、Ａ１２の出力側に配置されたアナログスイッチＡＳ
１１、ＡＳ１２がオンしている。したがって、このアン
プＡ１１、Ａ１２の負帰還によって、ＰＳＤ４を流れる
定常光電流は全てトランジスタＱ１１、Ｑ１２に流れ
る。そして、そのために必要なベース電位は、コンデン
サＣ１１、Ｃ１２に充電されている。
【００１６】また、ＩＲＥＤを発光させる直前にオペア
ンプＡ１１、Ａ１２の出力側のアナログスイッチＡＳ１
１、ＡＳ１２をオフにすると、定常光電流を流すのに必
要な電位がコンデンサＣ１１、Ｃ１２に記憶される。
ンプＡ１１、Ａ１２の出力側のアナログスイッチＡＳ１
１、ＡＳ１２をオフにすると、定常光電流を流すのに必
要な電位がコンデンサＣ１１、Ｃ１２に記憶される。
【００１７】次に、ＩＲＥＤ投光による被写体からの反
射光による光電流の増加分ｉ1 、ｉ2 は、増幅トランジ
スタＱ１３、Ｑ１４のベースに流れ込む。いま、トラン
ジスタＱ１３、Ｑ１４の直流電流増幅率をβとすると、
βi1、βi2が対数圧縮ダイオードＱ１５、Ｑ１６に流れ
る。この対数圧縮ダイオードＱ１５、Ｑ１６のカソード
は、定電流Ｉ0 の差動増幅回路を構成するトランジスタ
Ｑ１９、Ｑ２０のベースに入力される。
射光による光電流の増加分ｉ1 、ｉ2 は、増幅トランジ
スタＱ１３、Ｑ１４のベースに流れ込む。いま、トラン
ジスタＱ１３、Ｑ１４の直流電流増幅率をβとすると、
βi1、βi2が対数圧縮ダイオードＱ１５、Ｑ１６に流れ
る。この対数圧縮ダイオードＱ１５、Ｑ１６のカソード
は、定電流Ｉ0 の差動増幅回路を構成するトランジスタ
Ｑ１９、Ｑ２０のベースに入力される。
【００１８】そして、このトランジスタＱ１９、２０の
コレクタ電流ｉ1 ′、ｉ2 ′、対数圧縮ダイオードＱ１
５、Ｑ１６、トランジスタＱ１９、Ｑ２０の逆方向飽和
電流をＩS 、熱電圧をＶT とすると、これらのトランジ
スタダイオードには、以下に示すような関係式が成立す
る。
コレクタ電流ｉ1 ′、ｉ2 ′、対数圧縮ダイオードＱ１
５、Ｑ１６、トランジスタＱ１９、Ｑ２０の逆方向飽和
電流をＩS 、熱電圧をＶT とすると、これらのトランジ
スタダイオードには、以下に示すような関係式が成立す
る。
【００１９】
【数２】 したがって、 ｉ1 ×ｉ1 ′＝ｉ2 ×ｉ2 ′ …（５） この（５）式を（６）式に代入すれば（７）式が成立す
る。 ｉ1 ＋ｉ2 ′＝Ｉ0 …（６）
る。 ｉ1 ＋ｉ2 ′＝Ｉ0 …（６）
【００２０】
【数３】
【００２１】一方、積分コンデンサＣ１３を積分する電
流ＩINT はｉ1 に等しい。そこで、図７に示されるよう
に、２重積分方式でＩINT により一定時間ｔ1 に亘りコ
ンデンサＣ１３を充電し、その後、逆方向に定電流ＩG
で放電して、元の電圧に戻るまでの時間ｔ2 を測定する
と、（８）式が得られる。 ｔ1 ×ＩINT ＝ｔ2 ×ＩG …（８） 更に、上記（７）式及び（８）式から、（９）式の関係
が得られる。 ｉ2 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ）＝（ＩG ／Ｉ0 ）×（ｔ2 ／ｔ1 ） …（９） したがって、（３）式及び（９）式より（１０）式の関
係が成立するので、ｔ2を測定することによって被写体
距離Ｌを求めることができる。
流ＩINT はｉ1 に等しい。そこで、図７に示されるよう
に、２重積分方式でＩINT により一定時間ｔ1 に亘りコ
ンデンサＣ１３を充電し、その後、逆方向に定電流ＩG
で放電して、元の電圧に戻るまでの時間ｔ2 を測定する
と、（８）式が得られる。 ｔ1 ×ＩINT ＝ｔ2 ×ＩG …（８） 更に、上記（７）式及び（８）式から、（９）式の関係
が得られる。 ｉ2 ／（ｉ1 ＋ｉ2 ）＝（ＩG ／Ｉ0 ）×（ｔ2 ／ｔ1 ） …（９） したがって、（３）式及び（９）式より（１０）式の関
係が成立するので、ｔ2を測定することによって被写体
距離Ｌを求めることができる。
【００２２】
【数４】 故に、ＡＦ回路から出力される測距データ１／Ｌの誤差
Δ１／Ｌには、一般に（１１）式で示されるような関係
が成立する。
Δ１／Ｌには、一般に（１１）式で示されるような関係
が成立する。
【００２３】
【数５】 尚、上記（１１）式に於いて、ｎはＩＲＥＤの発光同
数、ｔINT は１回当りの回路の信号電流積分時間をそれ
ぞれ示している。
数、ｔINT は１回当りの回路の信号電流積分時間をそれ
ぞれ示している。
【００２４】以下、図面を参照してこの発明の実施例に
ついて説明する。図１は、この発明のカメラの測距装置
の実施例の構成を示すブロック図である。同図に於い
て、ＡＦ回路１１にはＩＲＥＤ１２及びＰＳＤ１３が接
続されている。これらＩＲＥＤ１２及びＰＳＤ１３に対
面する位置には、投光レンズ１４、受光レンズ１５が、
それぞれ所定の基線長（Ｓ）離れた平行光軸上に配置さ
れている。尚、１６は測距対象物となる被写体である。
ついて説明する。図１は、この発明のカメラの測距装置
の実施例の構成を示すブロック図である。同図に於い
て、ＡＦ回路１１にはＩＲＥＤ１２及びＰＳＤ１３が接
続されている。これらＩＲＥＤ１２及びＰＳＤ１３に対
面する位置には、投光レンズ１４、受光レンズ１５が、
それぞれ所定の基線長（Ｓ）離れた平行光軸上に配置さ
れている。尚、１６は測距対象物となる被写体である。
【００２５】一方、上記ＡＦ回路１１は、調整値記憶部
１７と共に制御部１８に接続されてする。この制御部１
８にはまた、多点測距モード／１点測距モードを切換え
る選択スイッチ（Ｍ／Ｓスイッチ）１９が接続されてい
る。
１７と共に制御部１８に接続されてする。この制御部１
８にはまた、多点測距モード／１点測距モードを切換え
る選択スイッチ（Ｍ／Ｓスイッチ）１９が接続されてい
る。
【００２６】このような構成に於いて、ＩＲＥＤ１２か
らパルス光が発光されると、投光レンズ１４を介して被
写体１６に投射され、被写体１６からの反射光が受光レ
ンズ１５を通してＰＳＤ１３上に至る。このＰＳＤ１３
上のどこに反射光が戻るかによって、ＡＦ回路１１に於
いて測距情報１／Ｌが算出され、制御部１８に出力され
る。
らパルス光が発光されると、投光レンズ１４を介して被
写体１６に投射され、被写体１６からの反射光が受光レ
ンズ１５を通してＰＳＤ１３上に至る。このＰＳＤ１３
上のどこに反射光が戻るかによって、ＡＦ回路１１に於
いて測距情報１／Ｌが算出され、制御部１８に出力され
る。
【００２７】このとき、測距精度は、図２に示されるＩ
ＲＥＤ１２の発光回数ｎや積分時間ｔINT の値を大きく
することで、ＡＦ精度を向上させることができる。しか
し、それに伴ってレリーズタイムラグが長くなってしま
うため、シャッタチャンスを逃す原因ともなっていた。
したがって、Ｍ／Ｓスイッチ１９がオン状態となり、多
点測距モードが選択された場合には、１点測距モードが
選択された場合よりも小さい発光回数ｎ及び積分時間ｔ
INT の値が、調整値記憶部１７から読出されて制御部１
８で決定され、ＡＦ回路１１に出力される。
ＲＥＤ１２の発光回数ｎや積分時間ｔINT の値を大きく
することで、ＡＦ精度を向上させることができる。しか
し、それに伴ってレリーズタイムラグが長くなってしま
うため、シャッタチャンスを逃す原因ともなっていた。
したがって、Ｍ／Ｓスイッチ１９がオン状態となり、多
点測距モードが選択された場合には、１点測距モードが
選択された場合よりも小さい発光回数ｎ及び積分時間ｔ
INT の値が、調整値記憶部１７から読出されて制御部１
８で決定され、ＡＦ回路１１に出力される。
【００２８】次に、図３及び図４のフローチャートを参
照して、上記実施例の具体的な動作について説明する。
先ず、図３のフローチャートを参照して、同実施例の第
１の動作例について説明する。
照して、上記実施例の具体的な動作について説明する。
先ず、図３のフローチャートを参照して、同実施例の第
１の動作例について説明する。
【００２９】先ず、ステップＳ１にて、Ｍ／Ｓスイッチ
１９が多点測距モード側に切換えられているか、すなわ
ちオンされているか否かを検出する。ここで、Ｍ／Ｓス
イッチ１９がオンされている場合には、ステップＳ２に
進んで、予め調整値記憶部１７に記憶されている多点測
距モードの積分時間ＴINT ・M が、積分時間ｔINT に設
定される。次いで、ステップＳ３にて、多点測距モード
の発光回数ＮM が発光回数ｎに設定される。この後、ス
テップＳ４にて、多点ＡＦ動作が行われる。
１９が多点測距モード側に切換えられているか、すなわ
ちオンされているか否かを検出する。ここで、Ｍ／Ｓス
イッチ１９がオンされている場合には、ステップＳ２に
進んで、予め調整値記憶部１７に記憶されている多点測
距モードの積分時間ＴINT ・M が、積分時間ｔINT に設
定される。次いで、ステップＳ３にて、多点測距モード
の発光回数ＮM が発光回数ｎに設定される。この後、ス
テップＳ４にて、多点ＡＦ動作が行われる。
【００３０】一方、上記ステップＳ１で、Ｍ／Ｓスイッ
チ１９がオフ、すなわち１店測距モードが選択されてい
る場合は、ステップＳ５に進んで、予め調整値記憶部１
７に記憶されている１点測距モードの積分時間ＴINT ・S
が、積分時間ｔINT に設定される。次いで、ステップ
Ｓ６にて、１点測距モードの発光回数ＮS が発光回数ｎ
に設定される。この後、ステップＳ７にて、１点ＡＦ動
作が行われる。
チ１９がオフ、すなわち１店測距モードが選択されてい
る場合は、ステップＳ５に進んで、予め調整値記憶部１
７に記憶されている１点測距モードの積分時間ＴINT ・S
が、積分時間ｔINT に設定される。次いで、ステップ
Ｓ６にて、１点測距モードの発光回数ＮS が発光回数ｎ
に設定される。この後、ステップＳ７にて、１点ＡＦ動
作が行われる。
【００３１】そして、ステップＳ４、Ｓ７にて、多点或
いは１点のＡＦ動作が終了したならば、ステップＳ８に
進んで測距情報１／Ｌが算出される。次いで、ステップ
Ｓ９にてレンズ繰出しが行われた後、ステップＳ１０に
てシャッタ動作が行われる。こうして、全ての動作を終
了する。
いは１点のＡＦ動作が終了したならば、ステップＳ８に
進んで測距情報１／Ｌが算出される。次いで、ステップ
Ｓ９にてレンズ繰出しが行われた後、ステップＳ１０に
てシャッタ動作が行われる。こうして、全ての動作を終
了する。
【００３２】このように、第１の動作例によれば、多点
測距モード及び１点測距モードに、それぞれ独立した積
分時間及び発光回数を設定することが可能になる。次
に、図４のフローチャートを参照して、実施例の第２の
動作例について説明する。
測距モード及び１点測距モードに、それぞれ独立した積
分時間及び発光回数を設定することが可能になる。次
に、図４のフローチャートを参照して、実施例の第２の
動作例について説明する。
【００３３】ステップＳ１１にて、先ず、Ｍ／Ｓスイッ
チ１９がオンされているか否か、すなわち多点測距モー
ド側に切換えられているか否かが検出される。ここで、
Ｍ／Ｓスイッチ１９がオン、すなわち多点測距モードが
選択された場合には、ステップＳ１２に進んで係数ｍ
が”１“に設定される。一方、Ｍ／Ｓスイッチ１９がオ
フ、すなわち１点測距モードが選択された場合には、ス
テップＳ１３に進んで係数ｍが”２“に設定される。
チ１９がオンされているか否か、すなわち多点測距モー
ド側に切換えられているか否かが検出される。ここで、
Ｍ／Ｓスイッチ１９がオン、すなわち多点測距モードが
選択された場合には、ステップＳ１２に進んで係数ｍ
が”１“に設定される。一方、Ｍ／Ｓスイッチ１９がオ
フ、すなわち１点測距モードが選択された場合には、ス
テップＳ１３に進んで係数ｍが”２“に設定される。
【００３４】次いで、ステップＳ１４に於いて、積分時
間ｔINT が次式により設定される。 ｔINT ＝ｍ・ＴINT …（１２） また、発光回数ｎも、ステップＳ１５に於いて、次式に
より設定される。 ｎ＝ｍ・Ｎ …（１３） 尚、上記ＴINT 及びＮは、予め調整値記憶部１７に記憶
されている定数である。
間ｔINT が次式により設定される。 ｔINT ＝ｍ・ＴINT …（１２） また、発光回数ｎも、ステップＳ１５に於いて、次式に
より設定される。 ｎ＝ｍ・Ｎ …（１３） 尚、上記ＴINT 及びＮは、予め調整値記憶部１７に記憶
されている定数である。
【００３５】そして、ステップＳ１６に於いて、係数ｍ
が“１”に設定されているか否かが判定される。ここ
で、係数ｍが“１”に設定されている場合には、ステッ
プＳ１７に進んで多点ＡＦ動作が行われる。一方、係数
ｍが“２”に設定されている場合には、ステップＳ１８
に進んで、１点ＡＦ動作が行われる。
が“１”に設定されているか否かが判定される。ここ
で、係数ｍが“１”に設定されている場合には、ステッ
プＳ１７に進んで多点ＡＦ動作が行われる。一方、係数
ｍが“２”に設定されている場合には、ステップＳ１８
に進んで、１点ＡＦ動作が行われる。
【００３６】この後、ステップＳ１９に進んで測距情報
１／Ｌが算出される。次いで、ステップＳ２０にてレン
ズ繰出しが行われた後、ステップＳ２１にてシャッタ動
作が行われる。こうして、全ての動作を終了する。
１／Ｌが算出される。次いで、ステップＳ２０にてレン
ズ繰出しが行われた後、ステップＳ２１にてシャッタ動
作が行われる。こうして、全ての動作を終了する。
【００３７】このように、第２の動作例によれば、多点
測距モードのみの積分時間及び発光回数を設定するだけ
で、１点測距モードの積分時間及び発光時間が自動的に
決定することがにできる。
測距モードのみの積分時間及び発光回数を設定するだけ
で、１点測距モードの積分時間及び発光時間が自動的に
決定することがにできる。
【００３８】このように、同実施例による測距装置で
は、１点測距モードによる撮影の際には、多点測距モー
ドの場合よりも長い積分時間或いは多い発光回数による
測距精度の高い測距出力を得ることができる。また、多
点測距モードによる撮影の際には、１点測距モードの場
合よりも短い積分時間或いは少ない発光回数による測距
時間の短い測距出力を得ることができる。
は、１点測距モードによる撮影の際には、多点測距モー
ドの場合よりも長い積分時間或いは多い発光回数による
測距精度の高い測距出力を得ることができる。また、多
点測距モードによる撮影の際には、１点測距モードの場
合よりも短い積分時間或いは少ない発光回数による測距
時間の短い測距出力を得ることができる。
【００３９】
【発明の効果】以上のようにこの発明によれば、１点測
距モードによる撮影の際には測距精度を重視した測距出
力を得ることができ、多点測距モードによる撮影の際に
は測距時間を重視した測距出力を得ることができる。
距モードによる撮影の際には測距精度を重視した測距出
力を得ることができ、多点測距モードによる撮影の際に
は測距時間を重視した測距出力を得ることができる。
【図１】この発明のカメラの測距装置の実施例の構成を
示すブロック図である。
示すブロック図である。
【図２】図１のＩＲＥＤ１２から発生されるパルス光の
発光状態を示すタイムチャートである。
発光状態を示すタイムチャートである。
【図３】図１のカメラの測距装置の第１の動作例を説明
するフローチャートである。
するフローチャートである。
【図４】図１のカメラの測距装置の第２の動作例を説明
するフローチャートである。
するフローチャートである。
【図５】アクティブ式の三角測距方式によるＡＦ装置の
測距原理について示した図である。
測距原理について示した図である。
【図６】アクティブ式三角測距方式による基本的な測距
装置の要部回路図である。
装置の要部回路図である。
【図７】２重積分方式による積分時間とコンデンサＣ１
３の充電及び放電との関係を示した図である。
３の充電及び放電との関係を示した図である。
１１…ＡＦ（オートフォーカス）回路、１２…近赤外発
光ＬＥＤ（ＩＲＥＤ）、１３…位置検出素子（ＰＳ
Ｄ）、１４…投光レンズ、１５…受光レンズ、１６…被
写体、１７…調整値記憶部、１８…制御部、１９…選択
スイッチ（Ｍ／Ｓスイッチ）。
光ＬＥＤ（ＩＲＥＤ）、１３…位置検出素子（ＰＳ
Ｄ）、１４…投光レンズ、１５…受光レンズ、１６…被
写体、１７…調整値記憶部、１８…制御部、１９…選択
スイッチ（Ｍ／Ｓスイッチ）。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０３Ｂ 13/36
Claims (1)
- 【請求項１】 撮影画枠内の複数のポイントに向けてパ
ルス光を投光可能な投光手段と、 この投光手段から発せられて対象物にて反射した光を受
光し、光電変換を行う光電変換手段と、 この光電変換手段からの光電変換信号を積分した信号に
基き、上記対象物までの距離を演算する演算手段と、 上記撮影画角内の複数のポイントに向けて投光を行い対
象物を測距する第１の測距モードと、上記撮影画角内の
単一のポイントに向けて投光を行い対象物を測距する第
２の測距モードとを選択する設定手段と、 この設定手段により第２の測距モードが選択された際に
は、上記投光手段が発するパルス光の数若しくは上記演
算手段の積分時間を増加させる制御手段とを具備するこ
とを特徴とするカメラの測距装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13568893A JP3253757B2 (ja) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | カメラの測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13568893A JP3253757B2 (ja) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | カメラの測距装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06347262A true JPH06347262A (ja) | 1994-12-20 |
| JP3253757B2 JP3253757B2 (ja) | 2002-02-04 |
Family
ID=15157594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13568893A Expired - Fee Related JP3253757B2 (ja) | 1993-06-07 | 1993-06-07 | カメラの測距装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3253757B2 (ja) |
-
1993
- 1993-06-07 JP JP13568893A patent/JP3253757B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3253757B2 (ja) | 2002-02-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20011106 |
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