JPH0636741A - 磁場型質量分析装置 - Google Patents
磁場型質量分析装置Info
- Publication number
- JPH0636741A JPH0636741A JP20727592A JP20727592A JPH0636741A JP H0636741 A JPH0636741 A JP H0636741A JP 20727592 A JP20727592 A JP 20727592A JP 20727592 A JP20727592 A JP 20727592A JP H0636741 A JPH0636741 A JP H0636741A
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- Japan
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- magnetic field
- coil
- mass
- external magnetic
- mass spectrometer
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁場型質量分析計で外部磁場の影響をなく
す。 【構成】 質量分析用磁場２の入口と出口或いはその何
れかにヘルムホルツ型コイル４を置いて適所に置いた磁
場センサ７の出力により、上記コイルに流す電流を制御
して外部磁場を打ち消すようにした。 【効果】 外部磁場の変動が激しい所でも磁場型質量分
析計を設置できる。
す。 【構成】 質量分析用磁場２の入口と出口或いはその何
れかにヘルムホルツ型コイル４を置いて適所に置いた磁
場センサ７の出力により、上記コイルに流す電流を制御
して外部磁場を打ち消すようにした。 【効果】 外部磁場の変動が激しい所でも磁場型質量分
析計を設置できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は磁場型質量分析装置に関
するものである。
するものである。
【０００２】
【従来の技術】イオンビームは磁場の作用で曲げられる
ので、磁場の変動の激しい所で磁場型質量分析計を用い
ると、外部磁場の影響で、分解能が低下し、また精密な
質量測定ができない。変動する外部磁場の原因としては
商用電源の配線とかトランス，モータ等もあるが、実際
上影響が大きいのは、１０Ｈｚ程度のより低周波の磁場
変動であり、その原因としては屋外を通っている電車等
がある。
ので、磁場の変動の激しい所で磁場型質量分析計を用い
ると、外部磁場の影響で、分解能が低下し、また精密な
質量測定ができない。変動する外部磁場の原因としては
商用電源の配線とかトランス，モータ等もあるが、実際
上影響が大きいのは、１０Ｈｚ程度のより低周波の磁場
変動であり、その原因としては屋外を通っている電車等
がある。
【０００３】上述したような外部磁場の変動に対する対
策として、イオン軌道上で外部磁場を打ち消すためのコ
イルを設置することが行われているが、従来は巻き線を
数１０回巻いた単環コイルを用いていた。
策として、イオン軌道上で外部磁場を打ち消すためのコ
イルを設置することが行われているが、従来は巻き線を
数１０回巻いた単環コイルを用いていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】外部磁場を打ち消すた
めの磁場発生コイルとして単環式のコイルを用いた場合
次のような問題がある。単環式コイルが作る磁場はコイ
ル軸上でもコイルからの距離による磁場強度の変化率が
大きく、コイル軸と直交する面内での磁場強度の変化率
も大きいため、イオンビームの軌道上で外部磁場を打ち
消す場合、その作用がコイルの位置に対して著しく敏感
で、わずかな振動にも影響されて取扱いが不便である。
従って本発明は外部磁場の変動を打ち消すためのコイル
の作用をより安定なものとすること目的とする。
めの磁場発生コイルとして単環式のコイルを用いた場合
次のような問題がある。単環式コイルが作る磁場はコイ
ル軸上でもコイルからの距離による磁場強度の変化率が
大きく、コイル軸と直交する面内での磁場強度の変化率
も大きいため、イオンビームの軌道上で外部磁場を打ち
消す場合、その作用がコイルの位置に対して著しく敏感
で、わずかな振動にも影響されて取扱いが不便である。
従って本発明は外部磁場の変動を打ち消すためのコイル
の作用をより安定なものとすること目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】外部磁場を打ち消すため
の磁場発生用コイルをヘルムホルツ型コイルとした。
の磁場発生用コイルをヘルムホルツ型コイルとした。
【０００６】
【作用】ヘルムホルツ型コイルは図１に示すように二つ
の同じ環状コイルを同軸上においてコイル半径だけ離し
て置き、両コイルに同じ向きに同じ電流を流すようにし
たものである。このようなコイルでは上下のコイルの間
のコイル軸上で上下方向に殆ど磁場強度が変わらず、磁
場強度Ｂは Ｂ＝４Ｎμｉ／５√５ｒ で与えられる。こゝでｒはコイルの半径、ｉはコイル電
流で、Ｎは各単環の巻数である。このヘルムホルツ型コ
イルでは軸線上の磁場強度の変化が小さいが、このこと
は軸線近辺では磁力線が軸線に対して平衡で曲がりが小
さいことを意味し、このことは軸線と直角の方向にも磁
場の変化が少ないことを意味して、上下のコイルの中間
位置ではどの場所でも殆ど同じ強度の平行磁場が形成さ
れていることになる。このためコイルの位置敏感性がな
くなり、安定した外部磁場の打ち消しが可能となる。
の同じ環状コイルを同軸上においてコイル半径だけ離し
て置き、両コイルに同じ向きに同じ電流を流すようにし
たものである。このようなコイルでは上下のコイルの間
のコイル軸上で上下方向に殆ど磁場強度が変わらず、磁
場強度Ｂは Ｂ＝４Ｎμｉ／５√５ｒ で与えられる。こゝでｒはコイルの半径、ｉはコイル電
流で、Ｎは各単環の巻数である。このヘルムホルツ型コ
イルでは軸線上の磁場強度の変化が小さいが、このこと
は軸線近辺では磁力線が軸線に対して平衡で曲がりが小
さいことを意味し、このことは軸線と直角の方向にも磁
場の変化が少ないことを意味して、上下のコイルの中間
位置ではどの場所でも殆ど同じ強度の平行磁場が形成さ
れていることになる。このためコイルの位置敏感性がな
くなり、安定した外部磁場の打ち消しが可能となる。
【０００７】
【実施例】図２に本発明の一実施例を示す。Ｍは質量分
析計の本体部で、Ｃが外部磁場打ち消し装置の制御部で
ある。質量分析計で、１はイオン源，２は質量分散用磁
場、３はイオン検出器で、４が本発明に係る外部磁場打
ち消し用のコイルで前述したようにヘルムホルツ型コイ
ルが用いられている。５は分析管で、非磁性のステンレ
スで作られており、イオンビームはこの中を通る。質量
分散用磁場は水平面内、図では紙面と垂直な水平面内で
質量分散を行う。外部磁場打ち消し用コイル４は鉛直
軸、図で上下方向を軸方向とし、上下単環で分析管５を
はさむようにして、質量分散用磁場の入口側に設置され
ている。
析計の本体部で、Ｃが外部磁場打ち消し装置の制御部で
ある。質量分析計で、１はイオン源，２は質量分散用磁
場、３はイオン検出器で、４が本発明に係る外部磁場打
ち消し用のコイルで前述したようにヘルムホルツ型コイ
ルが用いられている。５は分析管で、非磁性のステンレ
スで作られており、イオンビームはこの中を通る。質量
分散用磁場は水平面内、図では紙面と垂直な水平面内で
質量分散を行う。外部磁場打ち消し用コイル４は鉛直
軸、図で上下方向を軸方向とし、上下単環で分析管５を
はさむようにして、質量分散用磁場の入口側に設置され
ている。
【０００８】外部磁場打ち消し装置の制御部Ｃと外部磁
場打ち消し用コイル４とはケーブル６でつながれて、外
部磁場打ち消し装置の制御部Ｃは室内の適当な場所に置
かれる。同制御部内で、７は磁気センサ、８はプリアン
プ、９は調節用可変抵抗で、１０はパワアンプであり、
パワアンプの出力電流が外部磁場打ち消し用コイル４に
供給される。
場打ち消し用コイル４とはケーブル６でつながれて、外
部磁場打ち消し装置の制御部Ｃは室内の適当な場所に置
かれる。同制御部内で、７は磁気センサ、８はプリアン
プ、９は調節用可変抵抗で、１０はパワアンプであり、
パワアンプの出力電流が外部磁場打ち消し用コイル４に
供給される。
【０００９】上述した外部磁場打ち消し装置の用法は次
の通りである。まずＣを質量分析計Ｍの質量分散用磁場
の影響を受けず、室内のトランス等の電気装置から離れ
た適当な場所に置く。１０Ｈｚ前後の磁場変動の原因は
前述したように屋外で相当離れた所にあるから、変動磁
場は室内では均一とみてよく、制御部Ｃは質量分析計の
本体部Ｍから５ｍ位離れていても、外部磁場の変動は充
分に打ち消すことができる。装置Ｃの位置を決めたら、
適当な質量のイオンを質量分析計Ｍに導入し、その質量
のイオンを検出するように質量分析計の磁場を設定して
イオン検出出力を記録する。外部磁場が変動するので、
この記録は外部磁場の変動に応じて変化する。そこで調
節用抵抗９を調節してイオン検出出力の変動がなくなる
ようにする。装置Ｃの設置位置を代えたり、磁気センサ
の向きを変えると、調節用抵抗９の調節つまみの位置も
変えねばならないが、装置Ｃの位置や磁気センサの向き
はイオン検出出力が最も良く安定するよう最適の場所と
向きを探すようにするのが良い。一度このような設定を
行えば、後は殆ど制御部Ｃの場所を変える必要はない。
質量分析計で打ち消すべき外部変動磁場は、質量分散面
に垂直な方向の磁場成分であるが、この成分はその場所
の磁場強度と比例しているので磁気センサ７は磁場検出
の方向を外部磁場打ち消し用コイル４の軸と平行にする
必要はない。
の通りである。まずＣを質量分析計Ｍの質量分散用磁場
の影響を受けず、室内のトランス等の電気装置から離れ
た適当な場所に置く。１０Ｈｚ前後の磁場変動の原因は
前述したように屋外で相当離れた所にあるから、変動磁
場は室内では均一とみてよく、制御部Ｃは質量分析計の
本体部Ｍから５ｍ位離れていても、外部磁場の変動は充
分に打ち消すことができる。装置Ｃの位置を決めたら、
適当な質量のイオンを質量分析計Ｍに導入し、その質量
のイオンを検出するように質量分析計の磁場を設定して
イオン検出出力を記録する。外部磁場が変動するので、
この記録は外部磁場の変動に応じて変化する。そこで調
節用抵抗９を調節してイオン検出出力の変動がなくなる
ようにする。装置Ｃの設置位置を代えたり、磁気センサ
の向きを変えると、調節用抵抗９の調節つまみの位置も
変えねばならないが、装置Ｃの位置や磁気センサの向き
はイオン検出出力が最も良く安定するよう最適の場所と
向きを探すようにするのが良い。一度このような設定を
行えば、後は殆ど制御部Ｃの場所を変える必要はない。
質量分析計で打ち消すべき外部変動磁場は、質量分散面
に垂直な方向の磁場成分であるが、この成分はその場所
の磁場強度と比例しているので磁気センサ７は磁場検出
の方向を外部磁場打ち消し用コイル４の軸と平行にする
必要はない。
【００１０】
【発明の効果】本発明によれば、外部磁場打ち消し用コ
イルにヘルムホルツ型コイルを用いたので、位置敏感性
がなくなり、打ち消し作用が安定したものとなって、磁
気的環境の悪い所でも高分解能，高精度の質量分析が可
能となる。
イルにヘルムホルツ型コイルを用いたので、位置敏感性
がなくなり、打ち消し作用が安定したものとなって、磁
気的環境の悪い所でも高分解能，高精度の質量分析が可
能となる。
【図１】ヘルムホルツ型コイルの斜視図
【図２】本発明の一実施例のブロック図
【符号の説明】 Ｍ 質量分析計本体 Ｃ 外部磁場打ち消し装置の制御部 １ イオン源 ２ 質量分散用磁場 ３ イオン検出器 ４ 外部磁場打ち消し用コイル ５ 分析管 ６ ケーブル ７ 磁気センサ ９ 調節用可変抵抗
Claims (1)
- 【請求項１】質量分散用磁場の入口または出口或いはそ
の両方にイオンビームの通路をはさむようにヘルムホル
ツ型コイルを配置し、質量分散用磁場の影響が届かない
適所に磁場センサを配置して、同磁場センサの出力によ
り上記コイルの電流を制御して、上記コイルの中心線上
で外部磁場を打ち消すようにしたことを特徴とする磁場
型質量分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4207275A JP2650574B2 (ja) | 1992-07-10 | 1992-07-10 | 磁場型質量分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4207275A JP2650574B2 (ja) | 1992-07-10 | 1992-07-10 | 磁場型質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0636741A true JPH0636741A (ja) | 1994-02-10 |
| JP2650574B2 JP2650574B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=16537102
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4207275A Expired - Fee Related JP2650574B2 (ja) | 1992-07-10 | 1992-07-10 | 磁場型質量分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2650574B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2304834A1 (es) * | 2006-01-04 | 2008-10-16 | Felix Salazar Bloise | Dispositivo generador de campos magneticos homogeneos. |
| JP2014528147A (ja) * | 2011-09-20 | 2014-10-23 | ジ・ユニバーシティ・オブ・サセックスＴｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ Ｏｆ Ｓｕｓｓｅｘ | イオントラップ |
| US11053308B2 (en) | 2016-08-05 | 2021-07-06 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Method for treating IL-8-related diseases |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4838972A (ja) * | 1971-09-15 | 1973-06-08 | ||
| JPS52136578A (en) * | 1976-05-12 | 1977-11-15 | Toshiba Corp | Electron beam exposure apparatus |
| JPS56107684A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-26 | Toshiba Corp | Interfering magnetic field refusing device of television receiving set |
| JPH01239755A (ja) * | 1988-03-18 | 1989-09-25 | Toshiba Corp | 中性粒子エネルギー分析装置 |
-
1992
- 1992-07-10 JP JP4207275A patent/JP2650574B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4838972A (ja) * | 1971-09-15 | 1973-06-08 | ||
| JPS52136578A (en) * | 1976-05-12 | 1977-11-15 | Toshiba Corp | Electron beam exposure apparatus |
| JPS56107684A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-26 | Toshiba Corp | Interfering magnetic field refusing device of television receiving set |
| JPH01239755A (ja) * | 1988-03-18 | 1989-09-25 | Toshiba Corp | 中性粒子エネルギー分析装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2014528147A (ja) * | 2011-09-20 | 2014-10-23 | ジ・ユニバーシティ・オブ・サセックスＴｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ Ｏｆ Ｓｕｓｓｅｘ | イオントラップ |
| US11053308B2 (en) | 2016-08-05 | 2021-07-06 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Method for treating IL-8-related diseases |
| US11780912B2 (en) | 2016-08-05 | 2023-10-10 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Composition for prophylaxis or treatment of IL-8 related diseases |
| US12516115B2 (en) | 2016-08-05 | 2026-01-06 | Chugai Seiyaku Kabushiki Kaisha | Composition for prophylaxis or treatment of IL-8 related diseases |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2650574B2 (ja) | 1997-09-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |