JPH0637635A - アナログ入力部の誤差補正方法 - Google Patents
アナログ入力部の誤差補正方法Info
- Publication number
- JPH0637635A JPH0637635A JP4187175A JP18717592A JPH0637635A JP H0637635 A JPH0637635 A JP H0637635A JP 4187175 A JP4187175 A JP 4187175A JP 18717592 A JP18717592 A JP 18717592A JP H0637635 A JPH0637635 A JP H0637635A
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- JP
- Japan
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- analog
- analog input
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- Pending
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- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】自動点検時に得られた誤差データをもとに、ア
ナログ信号の補正を行う誤差補正方法の提供。 【構成】自動点検によって機器装置の継続使用の可否を
判定し、継続使用が可能な場合でも、点検によって得ら
れた誤差データをもとに、ＣＰＵ５によって誤差に対す
る補正値を求めてメモリ６に保存し、点検終了後、アナ
ログフィルタ部２による誤差を含むアナログ信号が、Ａ
／Ｄ変換器４によってディジタル信号に変換された後、
メモリ６に保存されている補正値を折り込むディジタル
処理により誤差を補正する。
ナログ信号の補正を行う誤差補正方法の提供。 【構成】自動点検によって機器装置の継続使用の可否を
判定し、継続使用が可能な場合でも、点検によって得ら
れた誤差データをもとに、ＣＰＵ５によって誤差に対す
る補正値を求めてメモリ６に保存し、点検終了後、アナ
ログフィルタ部２による誤差を含むアナログ信号が、Ａ
／Ｄ変換器４によってディジタル信号に変換された後、
メモリ６に保存されている補正値を折り込むディジタル
処理により誤差を補正する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば電力系統、電気
機器等を保護、制御する装置に用いられるアログ入力部
の誤差補正方法に関するものである。
機器等を保護、制御する装置に用いられるアログ入力部
の誤差補正方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、アナログ入力部の点検方法に関し
て以下に示すような技術がある。図２はアナログ入力部
の従来例を示す図、図４は従来の点検方法を示したフロ
ーチャートである。図２において、１は入力変成器、２
はアナログフィルタ、３はマルチプレクサ、４はアナロ
グ−ディジタル（以下、Ａ／Ｄと呼ぶ）変換器、５はＣ
ＰＵ、７は点検入力、９はスイッチである。図２に示す
装置のうちアナログ回路部は、入力変成器１からアナロ
グフィルタ２、マルチプレクサ３、Ａ／Ｄ変換器４にま
で至る。前記アナログ回路部には、図示していない微調
機能部やコンデンサ等の経年変化の起きやすい部位が含
まれており、この部位の経年変化等による精度不良や回
路不良を検出するため、一定期間毎又は不定期に装置の
自動点検が行われている。
て以下に示すような技術がある。図２はアナログ入力部
の従来例を示す図、図４は従来の点検方法を示したフロ
ーチャートである。図２において、１は入力変成器、２
はアナログフィルタ、３はマルチプレクサ、４はアナロ
グ−ディジタル（以下、Ａ／Ｄと呼ぶ）変換器、５はＣ
ＰＵ、７は点検入力、９はスイッチである。図２に示す
装置のうちアナログ回路部は、入力変成器１からアナロ
グフィルタ２、マルチプレクサ３、Ａ／Ｄ変換器４にま
で至る。前記アナログ回路部には、図示していない微調
機能部やコンデンサ等の経年変化の起きやすい部位が含
まれており、この部位の経年変化等による精度不良や回
路不良を検出するため、一定期間毎又は不定期に装置の
自動点検が行われている。
【０００３】従来の技術では図４のフローチャートに示
すように、ＣＰＵ５からの点検指令を受けると、ステッ
プ３１では系統電気量を接続したままスイッチ９を閉
じ、既知の信号点検入力７を系統電気量に重複させて各
アナログフィルタ部２に印加する。マルチプレクサ３に
よって順次入力が切り換えられたこの信号は、Ａ／Ｄ変
換器４により数値データとなって出力され、ＣＰＵ５に
よってそれぞれ読み込まれた後、ステップ３２において
波形解析を行い、交流ゲイン、オフセット等の算出処理
を行い誤差を計算する。ステップ３３でスイッチ９を開
いた後、ステップ３４で算出した各種誤差と予め定めた
点検不良検出レベルを比較する。各種誤差が点検不良検
出レベルを越えたときのみ、ステップ３５にて点検不良
を出力し、点検終了後、必要に応じてステップ３７で装
置ロック等の処理を行っていた。
すように、ＣＰＵ５からの点検指令を受けると、ステッ
プ３１では系統電気量を接続したままスイッチ９を閉
じ、既知の信号点検入力７を系統電気量に重複させて各
アナログフィルタ部２に印加する。マルチプレクサ３に
よって順次入力が切り換えられたこの信号は、Ａ／Ｄ変
換器４により数値データとなって出力され、ＣＰＵ５に
よってそれぞれ読み込まれた後、ステップ３２において
波形解析を行い、交流ゲイン、オフセット等の算出処理
を行い誤差を計算する。ステップ３３でスイッチ９を開
いた後、ステップ３４で算出した各種誤差と予め定めた
点検不良検出レベルを比較する。各種誤差が点検不良検
出レベルを越えたときのみ、ステップ３５にて点検不良
を出力し、点検終了後、必要に応じてステップ３７で装
置ロック等の処理を行っていた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の方法
では、算出された各種誤差データが点検不良検出レベル
近傍の場合、装置は点検不良を検出せず、装置運用時に
はアナログ回路部の誤差が含まれたまま信号が出力され
るため、装置性能低下の原因となり、装置性能誤差が生
じていた。
では、算出された各種誤差データが点検不良検出レベル
近傍の場合、装置は点検不良を検出せず、装置運用時に
はアナログ回路部の誤差が含まれたまま信号が出力され
るため、装置性能低下の原因となり、装置性能誤差が生
じていた。
【０００５】本発明は上記従来技術の問題点に鑑みてな
されたものであり、点検実行によりアナログ入力部の不
良検出を行うとともに、算出された各種誤差データを活
用して各種補正を行うアナログ入力部の誤差補正方法の
提供を目的とする。
されたものであり、点検実行によりアナログ入力部の不
良検出を行うとともに、算出された各種誤差データを活
用して各種補正を行うアナログ入力部の誤差補正方法の
提供を目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、前記補正を行うにあたって必要となる補
正値を、装置自動点検によって得られるアナログ入力部
の誤差データより求め、装置を運用する際入力されるア
ナログ信号に対して、誤差補正を行えるように前記補正
値をメモリに保存し、運用時にディジタルフィルタの係
数にこの補正値を折り込む処理をして補正を行うことを
特徴とする。
に、本発明は、前記補正を行うにあたって必要となる補
正値を、装置自動点検によって得られるアナログ入力部
の誤差データより求め、装置を運用する際入力されるア
ナログ信号に対して、誤差補正を行えるように前記補正
値をメモリに保存し、運用時にディジタルフィルタの係
数にこの補正値を折り込む処理をして補正を行うことを
特徴とする。
【０００７】
【作用】アナログ入力部の点検と共に、点検実行により
得られた誤差データを用いて、誤差の補正を行う。
得られた誤差データを用いて、誤差の補正を行う。
【０００８】
【実施例】以下、図を参照しながら本発明を詳細に説明
する。図１は本発明による補正を行うアナログ入力部を
示した図である。６はメモリ、８はスイッチであり、図
１は、図２に示した従来例に対して、メモリ６がＣＰＵ
５に接続され、スイッチ８が入力変成器１とアナログフ
ィルタ２の間に設けられた点で相違している。
する。図１は本発明による補正を行うアナログ入力部を
示した図である。６はメモリ、８はスイッチであり、図
１は、図２に示した従来例に対して、メモリ６がＣＰＵ
５に接続され、スイッチ８が入力変成器１とアナログフ
ィルタ２の間に設けられた点で相違している。
【０００９】図３は本発明による誤差補正方法のフロー
チャートである。図３において一定期間毎、あるいは不
定期にＣＰＵ５から点検指令がスイッチ８、スイッチ９
に送られると、ステップ１１ではスイッチ８を一斉に開
いて系統電気量を遮断する。次のステップ１２でスイッ
チ９を閉じ、点検入力７から既知のアナログ信号を各ア
ナログフィルタ２へ印加する。点検入力のアナログ信号
はアナログフィルタ２をそれぞれ通過した後、マルチプ
レクサ３によって入力が切り換えられ、順次Ａ／Ｄ変換
器４へ送られる。ステップ１３において、前記アナログ
信号は、Ａ／Ｄ変換器４によってディジタル信号に変換
された後ＣＰＵ５へ送られる。ここで次に示す波形解析
を行う。
チャートである。図３において一定期間毎、あるいは不
定期にＣＰＵ５から点検指令がスイッチ８、スイッチ９
に送られると、ステップ１１ではスイッチ８を一斉に開
いて系統電気量を遮断する。次のステップ１２でスイッ
チ９を閉じ、点検入力７から既知のアナログ信号を各ア
ナログフィルタ２へ印加する。点検入力のアナログ信号
はアナログフィルタ２をそれぞれ通過した後、マルチプ
レクサ３によって入力が切り換えられ、順次Ａ／Ｄ変換
器４へ送られる。ステップ１３において、前記アナログ
信号は、Ａ／Ｄ変換器４によってディジタル信号に変換
された後ＣＰＵ５へ送られる。ここで次に示す波形解析
を行う。
【００１０】正弦波Ａｓｉｎωｔについて、基本波電気
角３０°毎にサンプリングを行った場合、各サンプリン
グ値Ｘは次式により表される。 ｘn ＝Ａｓｉｎωｔ （１） ｘn-1 ＝Ａｓｉｎ（ωｔ−π／６） （２） ｘn-2 ＝Ａｓｉｎ（ωｔ−π／３） （３） ｘn-3 ＝Ａｓｉｎ（ωｔ−π／２） （４） … ｘn-6 ＝Ａｓｉｎ（ωｔ−π） （５） これらのサンプリング値Ｘを用いて正弦波の大きさＡ
は、次式により求められる。
角３０°毎にサンプリングを行った場合、各サンプリン
グ値Ｘは次式により表される。 ｘn ＝Ａｓｉｎωｔ （１） ｘn-1 ＝Ａｓｉｎ（ωｔ−π／６） （２） ｘn-2 ＝Ａｓｉｎ（ωｔ−π／３） （３） ｘn-3 ＝Ａｓｉｎ（ωｔ−π／２） （４） … ｘn-6 ＝Ａｓｉｎ（ωｔ−π） （５） これらのサンプリング値Ｘを用いて正弦波の大きさＡ
は、次式により求められる。
【００１１】 Ａ2 ＝ｘn 2 ＋ｘn-3 2 （６） ∵ （Ａｓｉｎωｔ）2 ＋｛Ａｓｉｎ（ωｔ−π／２）｝2 ＝Ａ2 （ｓｉｎ2 ωｔ＋ｃｏｓ2 ωｔ） ＝Ａ2 よってアナログフィルタ２を通過後の基本波分ゲインが
求まる。
求まる。
【００１２】また、アナログフィルタ２の出力信号に含
まれる直流分（オフセット）は次式により求まる。 ｘn ＋ｘn-6 （７） さらに（７）式からΣを用いて、 Σ（ｘn ＋ｘn-6 ） （８） を、求めることにより、除去できる周波数の数が増えオ
フセットをより精度の良く算出することができる。
まれる直流分（オフセット）は次式により求まる。 ｘn ＋ｘn-6 （７） さらに（７）式からΣを用いて、 Σ（ｘn ＋ｘn-6 ） （８） を、求めることにより、除去できる周波数の数が増えオ
フセットをより精度の良く算出することができる。
【００１３】位相差φは、次式に示したｔａｎφによっ
て与えられる。
て与えられる。
【００１４】
【数１】
【００１５】高調波分ゲインについても、基本波ゲイン
を求めるのと同様に、大きさを求めればよい。上記解析
によって得られた、基本波分ゲイン、位相差、オフセッ
ト、高調波分ゲイン等のデータにより各アナログフィル
タごとに各種誤差を計算する。次のステップ１４では、
系統電力量の遮断時間を最小限に抑えるため、点検が終
了する前のこの段階でスイッチ９を開いて点検入力を遮
断、ステップ１５においてスイッチ８を閉じ系統電気量
の入力を開始してステップ１６へ進む。ステップ１６で
は、ステップ１３で求めた各種誤差と、予め定められて
いる各種点検不良検出レベルとを比較し、各種誤差が１
つでも（誤差）≧（点検不良検出レベル）なる条件を満
たした場合ステップ１７へ、各種誤差の全てが０＜（誤
差）＜（点検不良検出レベル）を満たした場合にはステ
ップ２０へ進む。
を求めるのと同様に、大きさを求めればよい。上記解析
によって得られた、基本波分ゲイン、位相差、オフセッ
ト、高調波分ゲイン等のデータにより各アナログフィル
タごとに各種誤差を計算する。次のステップ１４では、
系統電力量の遮断時間を最小限に抑えるため、点検が終
了する前のこの段階でスイッチ９を開いて点検入力を遮
断、ステップ１５においてスイッチ８を閉じ系統電気量
の入力を開始してステップ１６へ進む。ステップ１６で
は、ステップ１３で求めた各種誤差と、予め定められて
いる各種点検不良検出レベルとを比較し、各種誤差が１
つでも（誤差）≧（点検不良検出レベル）なる条件を満
たした場合ステップ１７へ、各種誤差の全てが０＜（誤
差）＜（点検不良検出レベル）を満たした場合にはステ
ップ２０へ進む。
【００１６】ステップ１６における比較の結果が（誤
差）≧（点検不良検出レベル）となったことを受け、従
来技術と同様にステップ１７において点検不良を出力し
て点検を終了する。その後ステップ１９で装置機能のロ
ック等の措置をとる。また、ステップ２０へ進むとステ
ップ１３で求めた各種誤差をもとに各種補正値をアナロ
グフィルタ部それぞれについて計算し、ステップ２１で
メモリ６へ保存して点検は終了する。
差）≧（点検不良検出レベル）となったことを受け、従
来技術と同様にステップ１７において点検不良を出力し
て点検を終了する。その後ステップ１９で装置機能のロ
ック等の措置をとる。また、ステップ２０へ進むとステ
ップ１３で求めた各種誤差をもとに各種補正値をアナロ
グフィルタ部それぞれについて計算し、ステップ２１で
メモリ６へ保存して点検は終了する。
【００１７】本発明では点検終了後、装置運用時にメモ
リ６に保存した各種補正値をディジタルフィルタの係数
に折り込んで、アナログフィルタ部それぞれについて各
種誤差の補正を行う。また回路の点検中においても、ス
テップ１４，１５での入力の切り換え以降、ステップ２
０で補正値計算が行われるまでの間、前回算出の各種補
正値によって各種補正が行われる。そしてステップ２０
で新しい各種補正値が計算され、ステップ２１において
新しい各種補正値はメモリ６に更新・保存され、ここで
メモリ６に保存された各種補正値は、次回点検の補正値
計算が行われるまで有効となる。
リ６に保存した各種補正値をディジタルフィルタの係数
に折り込んで、アナログフィルタ部それぞれについて各
種誤差の補正を行う。また回路の点検中においても、ス
テップ１４，１５での入力の切り換え以降、ステップ２
０で補正値計算が行われるまでの間、前回算出の各種補
正値によって各種補正が行われる。そしてステップ２０
で新しい各種補正値が計算され、ステップ２１において
新しい各種補正値はメモリ６に更新・保存され、ここで
メモリ６に保存された各種補正値は、次回点検の補正値
計算が行われるまで有効となる。
【００１８】
【発明の効果】装置自動点検により装置継続使用の可否
の判定と同時に、従来技術では装置性能誤差として扱わ
れてきた点検不良検出レベル近傍の誤差や、アナログ回
路部の経年変化等による誤差についても、アナログ信号
をディジタル信号に変換した後、ディジタルフィルタに
おいて定数の調整による補正を行うため、アナログフィ
ルタの保守が不要となり、Ａ／Ｄ変換精度を含んだ装置
の性能が向上する。
の判定と同時に、従来技術では装置性能誤差として扱わ
れてきた点検不良検出レベル近傍の誤差や、アナログ回
路部の経年変化等による誤差についても、アナログ信号
をディジタル信号に変換した後、ディジタルフィルタに
おいて定数の調整による補正を行うため、アナログフィ
ルタの保守が不要となり、Ａ／Ｄ変換精度を含んだ装置
の性能が向上する。
【図１】本発明による誤差補正を行うアナログ入力部の
構成図
構成図
【図２】点検のみを行うアナログ入力部の従来装置の構
成図
成図
【図３】本発明による誤差補正方法のフローチャート
【図４】従来技術による点検方法のフローチャート
１ 入力変換器 ２ アナログフィルタ ３ マルチプレクサ ４ Ａ／Ｄ変換器 ５ ＣＰＵ ６ メモリ ７ 点検入力 ８ スイッチ ９ スイッチ
Claims (1)
- 【請求項１】アナログ信号をディジタル信号に変換し、
ディジタル信号処理する装置のアナログ入力部の誤差補
正方法において、前記装置に対し一定期間毎または不定
期に実施される装置自動点検により、前記アナログ入力
部の誤差データを求めて補正値としてメモリに保存し、
前記アナログ信号をディジタル信号に変換後、前記補正
値を用いて前記アナログ入力部に生じる誤差を、ディジ
タル処理によって補正することを特徴とするアナログ入
力部の誤差補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4187175A JPH0637635A (ja) | 1992-07-15 | 1992-07-15 | アナログ入力部の誤差補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4187175A JPH0637635A (ja) | 1992-07-15 | 1992-07-15 | アナログ入力部の誤差補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0637635A true JPH0637635A (ja) | 1994-02-10 |
Family
ID=16201421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4187175A Pending JPH0637635A (ja) | 1992-07-15 | 1992-07-15 | アナログ入力部の誤差補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0637635A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002530988A (ja) * | 1998-11-20 | 2002-09-17 | テレフォンアクチーボラゲット エル エム エリクソン（パブル） | アナログ／デジタル変換の較正方法とシステム |
| JP2009142051A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Meidensha Corp | ディジタルリレー計測値の誤差補正方法 |
| JP2011155779A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Hitachi Ltd | 試験機能を具備した電力用ディジタル保護リレー装置 |
-
1992
- 1992-07-15 JP JP4187175A patent/JPH0637635A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002530988A (ja) * | 1998-11-20 | 2002-09-17 | テレフォンアクチーボラゲット エル エム エリクソン（パブル） | アナログ／デジタル変換の較正方法とシステム |
| JP2009142051A (ja) * | 2007-12-06 | 2009-06-25 | Meidensha Corp | ディジタルリレー計測値の誤差補正方法 |
| JP2011155779A (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-11 | Hitachi Ltd | 試験機能を具備した電力用ディジタル保護リレー装置 |
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