JPH0640004B2 - 超音波測定装置の探触子ホルダー - Google Patents
超音波測定装置の探触子ホルダーInfo
- Publication number
- JPH0640004B2 JPH0640004B2 JP7183690A JP7183690A JPH0640004B2 JP H0640004 B2 JPH0640004 B2 JP H0640004B2 JP 7183690 A JP7183690 A JP 7183690A JP 7183690 A JP7183690 A JP 7183690A JP H0640004 B2 JPH0640004 B2 JP H0640004B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- holder
- probe
- measured
- measuring device
- ultrasonic measuring
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
Links
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Landscapes
- Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 本発明は超音波を設備配管等の外表面から当て、その反
射波の状況を見て配管などの肉厚を測定できるようにし
た超音波測定装置の探触子ホルダーに関する。
射波の状況を見て配管などの肉厚を測定できるようにし
た超音波測定装置の探触子ホルダーに関する。
《従来の技術》 この種の探触子ホルダーは被測定体と探触子との間にグ
リセリンやグリセリンに似た音響的特性を持つ接触媒質
を介在させ、被測定体の厚みや傷あるいは巣を測定して
いた。
リセリンやグリセリンに似た音響的特性を持つ接触媒質
を介在させ、被測定体の厚みや傷あるいは巣を測定して
いた。
例えば設備配管は金属製で、その内周面の酸化浸蝕によ
って管の肉厚が変化する。
って管の肉厚が変化する。
部分的には剥落あるいは膨出するなどの管内壁面変形で
ある。
ある。
超音波を使用した配管のモニタリングによって、その厚
さを測定する場合、探触子の摩耗を防止するため並びに
探触子と配管の間に空気を介在させないために探触子と
配管表面との間にカップリング剤（接触媒質）を供給し
ている。
さを測定する場合、探触子の摩耗を防止するため並びに
探触子と配管の間に空気を介在させないために探触子と
配管表面との間にカップリング剤（接触媒質）を供給し
ている。
《発明が解決しようとする課題》 カップリング剤を供給しながら前記探触子ホルダーを配
管の外周面に沿って自走させると、カップリング剤の流
れ落ちや乾燥によって超音波の伝播不良による欠測部分
がでた。あるいは測定装置の探触子支持部分が機械的ま
たは自然的な外乱によって位置を狂わせる場合があり、
この場合にも欠測部分を生じさせる原因になっていた。
管の外周面に沿って自走させると、カップリング剤の流
れ落ちや乾燥によって超音波の伝播不良による欠測部分
がでた。あるいは測定装置の探触子支持部分が機械的ま
たは自然的な外乱によって位置を狂わせる場合があり、
この場合にも欠測部分を生じさせる原因になっていた。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであって、その
目的は良好な測定データが得られるように被測定体に対
して探触子が常に一定の位置に保持できるような探触子
ホルダーを提供することにある。
目的は良好な測定データが得られるように被測定体に対
して探触子が常に一定の位置に保持できるような探触子
ホルダーを提供することにある。
《課題を解決するための手段》 上記目的を達成するために本発明に係る超音波測定装置
の探触子ホルダーは被測定体の表面に沿って摺動移動さ
せ、該探触子から被測定体へ超音波を入射し、該入射波
の反射波受信までの時間的遅れにて被測定体の厚みと腐
飾状況とを知る超音波測定装置の探触子ホルダーにおい
て、探触子本体を嵌着した下部ホルダーを設け、さらに
該下部ホルダーを上下動自在に収容する上部ホルダーを
設け、これら両ホルダー間に同極性の磁石が上下方向へ
対向配置してあるのである。
の探触子ホルダーは被測定体の表面に沿って摺動移動さ
せ、該探触子から被測定体へ超音波を入射し、該入射波
の反射波受信までの時間的遅れにて被測定体の厚みと腐
飾状況とを知る超音波測定装置の探触子ホルダーにおい
て、探触子本体を嵌着した下部ホルダーを設け、さらに
該下部ホルダーを上下動自在に収容する上部ホルダーを
設け、これら両ホルダー間に同極性の磁石が上下方向へ
対向配置してあるのである。
《作 用》 上部ホルダーおよび下部ホルダーにそれぞれ同極性の磁
石が対向配置してあるために、磁石同士が反発し反発力
によって下部ホルダーは常に下の方へ押圧付勢する力を
受けている。
石が対向配置してあるために、磁石同士が反発し反発力
によって下部ホルダーは常に下の方へ押圧付勢する力を
受けている。
したがって、測定装置本体側へ連結支持させた上部ホル
ダーが上下方向へ若干動いたとしても探触子本体を嵌着
してある下部ホルダー側は常に被測定体側へ均一に接触
状態を保つことができる。
ダーが上下方向へ若干動いたとしても探触子本体を嵌着
してある下部ホルダー側は常に被測定体側へ均一に接触
状態を保つことができる。
《実施例》 以下本発明の好適な実施例について図面を参照して詳細
に説明する。
に説明する。
第１図に探触子ホルダー１の断面を示し、この探触子ホ
ルダー１は円形に立設した周壁を有するナイロンシュー
２の中心位置に円柱形の下部ホルダー３を立て、円筒形
の蓋に形成した上部ホルダー４を下部ホルダー３に被せ
てなる。
ルダー１は円形に立設した周壁を有するナイロンシュー
２の中心位置に円柱形の下部ホルダー３を立て、円筒形
の蓋に形成した上部ホルダー４を下部ホルダー３に被せ
てなる。
そして、上部ホルダー４の中にリング状の永久磁石５を
水平に固定し、この永久磁石５に対向する下の方の位置
には下部ホルダー３に取り付けたリング状の永久磁石６
を設けている。この磁石５および磁石６はぞれぞれ同極
性の磁石として互いに反発するようになっている。
水平に固定し、この永久磁石５に対向する下の方の位置
には下部ホルダー３に取り付けたリング状の永久磁石６
を設けている。この磁石５および磁石６はぞれぞれ同極
性の磁石として互いに反発するようになっている。
探触子７は下部ホルダー３の中に上下動自在に嵌着して
あって、下部ホルダー３の内部には探触子７が上下動で
きるように縦の切欠８を穿ち、上部ホルダー４の上の方
から下部ホルダー３に垂直に貫通させて、下部ホルダー
３内の切欠８において探触子７本体を保持するホルダー
９の上端部に螺入したセンサーワーククリアランス調整
ネジ１０を設け、さらに切欠８の内部において切欠８の
天面とホルダー９の上端部との間に反発バネ１１を装着
し、ホルダー９を常に下方へ付勢している。このことに
より、調整ネジ１０を時計方向または反時計方向へ回す
ことによってホルダー９を切欠８内において上下方向へ
若干微調整することができると共に、被測定体表面とセ
ンサーとの間に入るカップリング剤の量を調整すること
もできるようになる。さらにまた、永久磁石５，６の存
在により下部ホルダー３は常に下の方へ反発付勢されて
いる。ナイロンシュー２の中心部には探触子７に臨む穴
が開けてあって、その穴の回りには陥没するように切り
込んだ凹陥部１２を刻設しており、さらに凹陥部１２の
側面からナイロンシュー２の外周面に抜ける隘路１３を
設け、この隘路１３にはカップリング剤の供給口１４を
接続している。
あって、下部ホルダー３の内部には探触子７が上下動で
きるように縦の切欠８を穿ち、上部ホルダー４の上の方
から下部ホルダー３に垂直に貫通させて、下部ホルダー
３内の切欠８において探触子７本体を保持するホルダー
９の上端部に螺入したセンサーワーククリアランス調整
ネジ１０を設け、さらに切欠８の内部において切欠８の
天面とホルダー９の上端部との間に反発バネ１１を装着
し、ホルダー９を常に下方へ付勢している。このことに
より、調整ネジ１０を時計方向または反時計方向へ回す
ことによってホルダー９を切欠８内において上下方向へ
若干微調整することができると共に、被測定体表面とセ
ンサーとの間に入るカップリング剤の量を調整すること
もできるようになる。さらにまた、永久磁石５，６の存
在により下部ホルダー３は常に下の方へ反発付勢されて
いる。ナイロンシュー２の中心部には探触子７に臨む穴
が開けてあって、その穴の回りには陥没するように切り
込んだ凹陥部１２を刻設しており、さらに凹陥部１２の
側面からナイロンシュー２の外周面に抜ける隘路１３を
設け、この隘路１３にはカップリング剤の供給口１４を
接続している。
したがってカップリング剤供給口１４から隘路１３を通
ってカップリング剤は凹陥部１２に供給され、探触子７
の測定面側と被測定体との間がカップリング剤で適正に
満たされる。
ってカップリング剤は凹陥部１２に供給され、探触子７
の測定面側と被測定体との間がカップリング剤で適正に
満たされる。
探触子７に接続するセンサー用ケーブル１５は上部ホル
ダー４の側面に切換えた切欠１６を通り、さらにナイロ
ンシュー２の側面を横方向へ抜いたＵ字溝１７を通って
探触子７に接続している。
ダー４の側面に切換えた切欠１６を通り、さらにナイロ
ンシュー２の側面を横方向へ抜いたＵ字溝１７を通って
探触子７に接続している。
《効 果》 以上詳細に説明したように本発明の探触子ホルダーは探
触子本体を嵌着した下部ホルダーを設け、さらに該下部
ホルダーを上下動自在に収容する上部ホルダーを設け、
これら両ホルダー間に同極性の磁石が上下方向へ対向配
置してあるので、上部ホルダーを被測定体表面に沿って
移動させるようにした場合、上部ホルダーを支持する機
械的な要素に生じる予定外の変化や被測定体側の急激な
レベル変化に下部ホルダー側が敏捷に追従することがで
きる。それ故に信頼性の高い測定が可能になる効果があ
る。
触子本体を嵌着した下部ホルダーを設け、さらに該下部
ホルダーを上下動自在に収容する上部ホルダーを設け、
これら両ホルダー間に同極性の磁石が上下方向へ対向配
置してあるので、上部ホルダーを被測定体表面に沿って
移動させるようにした場合、上部ホルダーを支持する機
械的な要素に生じる予定外の変化や被測定体側の急激な
レベル変化に下部ホルダー側が敏捷に追従することがで
きる。それ故に信頼性の高い測定が可能になる効果があ
る。
また、磁石によっているので、探触子の均一な接触レベ
ルを維持するための機構が簡潔になり、カップリング剤
によって腐蝕する恐れのある部品が減り、メンテナンス
の面でも有利になるものである。
ルを維持するための機構が簡潔になり、カップリング剤
によって腐蝕する恐れのある部品が減り、メンテナンス
の面でも有利になるものである。
第１図は本発明の実施例に係る探触子ホルダーの縦断面
図である。 １……探触子ホルダー、２……ナイロンシュー ３……下部ホルダー、４……上部ホルダー ５……磁石、６……磁石 ７……探触子、８……切欠 ９……ホルダー、１０……調節ネジ １１……バネ、１２……凹陥部 １３……隘路、１４……供給口 １５……ケーブル、１６……切欠 １７……Ｕ字溝
図である。 １……探触子ホルダー、２……ナイロンシュー ３……下部ホルダー、４……上部ホルダー ５……磁石、６……磁石 ７……探触子、８……切欠 ９……ホルダー、１０……調節ネジ １１……バネ、１２……凹陥部 １３……隘路、１４……供給口 １５……ケーブル、１６……切欠 １７……Ｕ字溝
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 清水 満 東京都千代田区神田司町２丁目３番地 株 式会社大林組東京本社内 (72)発明者 阪戸 勲 東京都千代田区神田司町２丁目３番地 株 式会社大林組東京本社内 (72)発明者 向井 則光 東京都千代田区神田司町２丁目３番地 株 式会社大林組東京本社内 (72)発明者 後藤 和幸 東京都千代田区神田司町２丁目３番地 株 式会社大林組東京本社内 (56)参考文献 特開 昭59−180317（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】探触子を被測定体の表面に沿って摺動移動
させ、該探触子から被測定体へ超音波を入射し、該入射
波の反射波受信までの時間的遅れにて被測定体の厚みと
腐蝕状況とを知る超音波測定装置の探触子ホルダーにお
いて、探触子本体を嵌着した下部ホルダーを設け、さら
に該下部ホルダーを上下動自在に収容する上部ホルダー
を設け、これら両ホルダー間に同極性の磁石が上下方向
へ対向配置してあることを特徴とする超音波測定装置の
探触子ホルダー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7183690A JPH0640004B2 (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | 超音波測定装置の探触子ホルダー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7183690A JPH0640004B2 (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | 超音波測定装置の探触子ホルダー |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03273109A JPH03273109A (ja) | 1991-12-04 |
| JPH0640004B2 true JPH0640004B2 (ja) | 1994-05-25 |
Family
ID=13472028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7183690A Expired - Lifetime JPH0640004B2 (ja) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | 超音波測定装置の探触子ホルダー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0640004B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007199013A (ja) * | 2006-01-30 | 2007-08-09 | Disco Abrasive Syst Ltd | 厚さ計測装置および研削装置 |
| KR101108246B1 (ko) * | 2008-07-10 | 2012-01-31 | 김진희 | 초음파탐상검사장치 |
| US8234942B2 (en) * | 2009-12-18 | 2012-08-07 | The Boeing Company | Stringer probe with magnetic spring balance |
| JP5427259B2 (ja) * | 2012-03-07 | 2014-02-26 | 日本車輌製造株式会社 | 超音波探触子の位置決め構造 |
-
1990
- 1990-03-23 JP JP7183690A patent/JPH0640004B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03273109A (ja) | 1991-12-04 |
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