JPH0640425Y2 - 直流cvケーブル用試験端末 - Google Patents
直流cvケーブル用試験端末Info
- Publication number
- JPH0640425Y2 JPH0640425Y2 JP7472989U JP7472989U JPH0640425Y2 JP H0640425 Y2 JPH0640425 Y2 JP H0640425Y2 JP 7472989 U JP7472989 U JP 7472989U JP 7472989 U JP7472989 U JP 7472989U JP H0640425 Y2 JPH0640425 Y2 JP H0640425Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cable
- terminal
- linear resistor
- resistor
- test terminal
- Prior art date
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Cable Accessories (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この考案は、直流CVケーブル用試験端末に関するもので
ある。
ある。
なお、この種の試験用端末は、直流耐電圧・破壊試験や
極性反転耐電圧・破壊試験に利用されている。
極性反転耐電圧・破壊試験に利用されている。
[従来の技術] (1)カーボンブラックなどの導電物質を添加して体積
抵抗率を1x108〜1010Ω・cm程度にしたポリエチレン材
料を、ケーブル端末部にモールドした抵抗端末、 (2)コンデンサ・ストレスコーン型端末、 などが公知である。
抵抗率を1x108〜1010Ω・cm程度にしたポリエチレン材
料を、ケーブル端末部にモールドした抵抗端末、 (2)コンデンサ・ストレスコーン型端末、 などが公知である。
[考案が解決しようとする課題] (1)抵抗端末の場合: カーボンブラックなどの導電物質のポリエチレンに対
する添加量と体積抵抗との間には、第5図で示すような
関係がある。そのため、一定の体積抵抗率を持つ端末抵
抗材料を得ることが難しい。
する添加量と体積抵抗との間には、第5図で示すような
関係がある。そのため、一定の体積抵抗率を持つ端末抵
抗材料を得ることが難しい。
カーボンブラックなどの分散が不十分の場合は絶縁抵
抗の不均一が生じ、このような材料を端末にモールドし
た場合は電界変歪が発生して、ケーブル破壊に先だって
端末破壊に至る。
抗の不均一が生じ、このような材料を端末にモールドし
た場合は電界変歪が発生して、ケーブル破壊に先だって
端末破壊に至る。
(2)コンデンサ・ストレスコーン型端末の場合: コンデンサ部分の耐圧値は十分であるが、電界が集中
しているストレスコーン立上り部分が電気的弱点になり
やすい。
しているストレスコーン立上り部分が電気的弱点になり
やすい。
作業性が悪く、多くの労力を要するという欠点を持っ
ている。
ている。
(3)本考案の目的は、上記の課題を解消し、少ない労
力で操作でき、しかも端末破壊を生じない直流CVケーブ
ル用試験端末の提供にある。
力で操作でき、しかも端末破壊を生じない直流CVケーブ
ル用試験端末の提供にある。
[課題を解決するための手段] 第1図のように、 (1)ケーブル端部の露出したケーブル絶縁体16上に、
体積抵抗率が1x101〜107Ω・cmのセラミックス線状抵抗
体20を巻きつけて形成すること、 (2)セラミックス線状抵抗体20、はケーブル絶縁体16
の長さ方向における単位長当りの抵抗値が、ケーブル遮
蔽層12側でケーブル導体18側よりも小さくなるようにす
ること、を特徴とする。
体積抵抗率が1x101〜107Ω・cmのセラミックス線状抵抗
体20を巻きつけて形成すること、 (2)セラミックス線状抵抗体20、はケーブル絶縁体16
の長さ方向における単位長当りの抵抗値が、ケーブル遮
蔽層12側でケーブル導体18側よりも小さくなるようにす
ること、を特徴とする。
(3)また、第4図のように、セラミックス線状抵抗体
20と端末立上がり部との間にストレスコーン30を設け
て、立上がり部の電界緩和を図る。
20と端末立上がり部との間にストレスコーン30を設け
て、立上がり部の電界緩和を図る。
[その説明] (1)第1図において、10はケーブルの全体、11はシー
ス、12はケーブル遮蔽層、14はケーブル外部半導電層、
16はケーブル絶縁体、18はケーブル導体である。
ス、12はケーブル遮蔽層、14はケーブル外部半導電層、
16はケーブル絶縁体、18はケーブル導体である。
ケーブル外部半導電層14を除去してケーブル絶縁体16を
露出させ、その上にセラミックス線状抵抗体20を巻きつ
ける。
露出させ、その上にセラミックス線状抵抗体20を巻きつ
ける。
セラミックス線状抵抗体20としては、たとえばSiCのフ
ィラメントを紡いで紐状にしたものなどが使用できる。
ィラメントを紡いで紐状にしたものなどが使用できる。
このSiCの線状体には、抵抗率が1x101〜107Ω・cmにわ
たって数種類のものがある(たとえば商品名ニカロン
(日本カーボン)など)。
たって数種類のものがある(たとえば商品名ニカロン
(日本カーボン)など)。
(2)上記のように、セラミックス線状抵抗体20は、ケ
ーブル絶縁体16の長さ方向における単位長当り抵抗値
が、ケーブル遮蔽層12側でケーブル導体18側よりも小さ
くなるように巻く必要がある。
ーブル絶縁体16の長さ方向における単位長当り抵抗値
が、ケーブル遮蔽層12側でケーブル導体18側よりも小さ
くなるように巻く必要がある。
これはケーブル絶縁体16にかかる電位分担を均等にする
ためである。
ためである。
そのためには、たとえば次のようにする。
1種類の線状抵抗体20だけを用い、ケーブル遮蔽層12
側では疎に、ケーブル導体18側では密に巻く(第1図、
第2a図)。
側では疎に、ケーブル導体18側では密に巻く(第1図、
第2a図)。
1種類の線状抵抗体20だけを用いるが、必要に応じ
て、並列に用いることにより(第2b図)、抵抗値に変化
を付ける。
て、並列に用いることにより(第2b図)、抵抗値に変化
を付ける。
抵抗率の異なる線状抵抗体、たとえば高抵抗体21,中
抵抗体22を用いる(第2c図)。
抵抗体22を用いる(第2c図)。
以上を適当に組合せる。
(3)線状抵抗体20を巻く前に、たとえばシリコーング
リースなどを塗布して、ケーブル絶縁体16と線状抵抗体
との界面接着性を向上させる。
リースなどを塗布して、ケーブル絶縁体16と線状抵抗体
との界面接着性を向上させる。
[実施例] 第3図は、250kV CVケーブルの場合の例で、端末の全長
は6000mm、直径は77.2mmである。
は6000mm、直径は77.2mmである。
セラミックス線状抵抗体20として、 抵抗率が1x103Ω・cmの低抵抗体23 抵抗率が1x104Ω・cmの中抵抗体22 抵抗率が1x107Ω・cmの高抵抗体21 の3種類を用いた。
これらは全て2mmφのものであり、かつ全体が一つの連
続したものになっている。
続したものになっている。
また、ケーブル絶縁体16をI〜VIIまでの7部分にわけ
て、それぞれ次のようにした。
て、それぞれ次のようにした。
・I部分: 長さ75mm。低抵抗体23を密巻きした。巻数37。
・II部分: 長さ75mm。中抵抗体22を密巻きした。巻数37。
・III部分: 長さ700mm。高抵抗体21を使用。左端(ケーブル遮蔽層1
2側)では間隔を1mm、右端(ケーブル導体18側)では間
隔を25mmとし、それらの間では、間隔が等差級数的に減
少するようにした。巻数35。
2側)では間隔を1mm、右端(ケーブル導体18側)では間
隔を25mmとし、それらの間では、間隔が等差級数的に減
少するようにした。巻数35。
・IV部分: 長さ1400mm。高抵抗体21を2本並列に使用(第2b図参
照)。50mm間隔で巻きつけた。巻数56。
照)。50mm間隔で巻きつけた。巻数56。
・V部分: 長さ2900mm。高抵抗体21を50mm間隔で巻きつけた。巻数
58。
58。
・VI部分: 長さ700mm。上記のIII部分と同じにした。
・VII部分: 長さ150mm。高抵抗体21を密巻きした。巻数75。
以上のようにセラミックス線状抵抗体を、シリコーング
リースなどを塗布したケーブル絶縁体上に巻いて試験端
末とした。
リースなどを塗布したケーブル絶縁体上に巻いて試験端
末とした。
[別の実施態様] 上記第1図および第3図の場合、セラミックス線状抵抗
体で形成される試験端末の立上がり部(ケーブル外部半
導電層側の端部)の電界は高電圧になると厳しくなる傾
向がある。
体で形成される試験端末の立上がり部(ケーブル外部半
導電層側の端部)の電界は高電圧になると厳しくなる傾
向がある。
そこで、第4図のように、その部分に、ストレスコーン
30を設けて、電界の緩和を図るようにしたものである。
30を設けて、電界の緩和を図るようにしたものである。
ストレスコーン30は、通常のケーブル端末に用いるもの
と同じ弾性ゴム製である。
と同じ弾性ゴム製である。
[考案の効果] この考案の直流CVケーブル用試験端末は、ケーブル端部
の露出したケーブル絶縁体16上に、体積抵抗率が1x101
〜107Ω・cmのセラミックス線状抵抗体20を、ケーブル
絶縁体16の長さ方向における単位長当たりの抵抗値が、
ケーブル遮蔽層12側でケーブル導体18側よりも小さくな
るように巻きつけて形成したものであるから、 (1)セラミックス線状抵抗体20の巻き方、種類を適当
に変化させることにより、端末各部のケーブル絶縁体16
にかる電位分布を均等にすることができる。
の露出したケーブル絶縁体16上に、体積抵抗率が1x101
〜107Ω・cmのセラミックス線状抵抗体20を、ケーブル
絶縁体16の長さ方向における単位長当たりの抵抗値が、
ケーブル遮蔽層12側でケーブル導体18側よりも小さくな
るように巻きつけて形成したものであるから、 (1)セラミックス線状抵抗体20の巻き方、種類を適当
に変化させることにより、端末各部のケーブル絶縁体16
にかる電位分布を均等にすることができる。
(2)端末各部のケーブル絶縁体16にかかる電位分布を
均等にすることができるので、試験電圧に対して、ケー
ブル破壊に先だって絶縁破壊や表面の閃絡を発生するこ
とがない。
均等にすることができるので、試験電圧に対して、ケー
ブル破壊に先だって絶縁破壊や表面の閃絡を発生するこ
とがない。
(3)セラミックス線状抵抗体20と端末立上がり部との
間にストレスコーン30を設けることにより、立上がり部
の電界を緩和することができる。
間にストレスコーン30を設けることにより、立上がり部
の電界を緩和することができる。
(4)作成が容易である。
【図面の簡単な説明】 第1〜4図は本考案にかかるもので、 第1図は基本的構成の説明図、 第2a図、第2b図、第2c図は、セラミックス線状抵抗体の
用い方の説明図、 第3図は実施例においてセラミックス線状抵抗体の巻き
方の違う部分の説明図、 第4図は他の実施態様の説明図、 第5図はカーボンブラック添加量と体積抵抗率との関係
線図。 10:ケーブル、11:シース 12:ケーブル遮蔽層 14:ケーブル外部半導電層 16:ケーブル絶縁体、18:ケーブル導体 20:セラミックス線状抵抗体 21:高抵抗体、22:中抵抗体 23:低抵抗体、30:ストレスコーン
用い方の説明図、 第3図は実施例においてセラミックス線状抵抗体の巻き
方の違う部分の説明図、 第4図は他の実施態様の説明図、 第5図はカーボンブラック添加量と体積抵抗率との関係
線図。 10:ケーブル、11:シース 12:ケーブル遮蔽層 14:ケーブル外部半導電層 16:ケーブル絶縁体、18:ケーブル導体 20:セラミックス線状抵抗体 21:高抵抗体、22:中抵抗体 23:低抵抗体、30:ストレスコーン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 山之内 宏 東京都江東区木場1丁目5番1号 藤倉電 線株式会社内 (72)考案者 佐藤 英雄 東京都江東区木場1丁目5番1号 藤倉電 線株式会社内
Claims (2)
- 【請求項1】ケーブル端部の露出したケーブル絶縁体16
上に、体積抵抗率が1x101〜107Ω・cmのセラミックス線
状抵抗体20を巻きつけるとともに;ケーブル長さ方向の
単位長当りにおける前記セラミックス線状抵抗体20の抵
抗値が、ケーブル遮蔽層12側でケーブル導体18側よりも
小さくなるようにした、直流CVケーブル用試験端末。 - 【請求項2】セラミックス線状抵抗体20と端末立上がり
部との間にストレスコーン30を設けた、請求項1記載の
直流CVケーブル用試験端末。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7472989U JPH0640425Y2 (ja) | 1989-03-02 | 1989-06-26 | 直流cvケーブル用試験端末 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2404489 | 1989-03-02 | ||
| JP1-24044 | 1989-03-02 | ||
| JP7472989U JPH0640425Y2 (ja) | 1989-03-02 | 1989-06-26 | 直流cvケーブル用試験端末 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0321936U JPH0321936U (ja) | 1991-03-06 |
| JPH0640425Y2 true JPH0640425Y2 (ja) | 1994-10-19 |
Family
ID=31717516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7472989U Expired - Lifetime JPH0640425Y2 (ja) | 1989-03-02 | 1989-06-26 | 直流cvケーブル用試験端末 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0640425Y2 (ja) |
-
1989
- 1989-06-26 JP JP7472989U patent/JPH0640425Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0321936U (ja) | 1991-03-06 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |