JPH0640825U - スペクトル分析装置 - Google Patents
スペクトル分析装置Info
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- JPH0640825U JPH0640825U JP7558992U JP7558992U JPH0640825U JP H0640825 U JPH0640825 U JP H0640825U JP 7558992 U JP7558992 U JP 7558992U JP 7558992 U JP7558992 U JP 7558992U JP H0640825 U JPH0640825 U JP H0640825U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 MIMトンネル接合を用いた電界検出型の光
検出器を検出部に用いることにより、冷却不要の高感
度、高応答速度、小型の赤外〜可視光領域のスペクトル
分析装置を実現する。 【構成】 レーザダイオードや発光ダイオードなどの発
光素子のスペクトルを測定し、その発光波長や波長半値
幅などの波長領域でのスペクトル分析を行うスペクトル
分析装置において、前記装置を構成する光検出器として
MIMトンネル接合を用いた電界検出型の光検出器とし
たことを特徴とする。
検出器を検出部に用いることにより、冷却不要の高感
度、高応答速度、小型の赤外〜可視光領域のスペクトル
分析装置を実現する。 【構成】 レーザダイオードや発光ダイオードなどの発
光素子のスペクトルを測定し、その発光波長や波長半値
幅などの波長領域でのスペクトル分析を行うスペクトル
分析装置において、前記装置を構成する光検出器として
MIMトンネル接合を用いた電界検出型の光検出器とし
たことを特徴とする。
Description
【0001】
本考案は、MIM(Metal-Insulator-Metal)トンネル接合の光応答を利用し た光検出器を用いた赤外〜可視光領域のスペクトル分析装置に関するものである 。
【0002】
通常、スペクトル分析装置は、大別して、光源と分光器と検出器の3つの構成 要素からなる。この内、検出器は赤外・可視光の両領域にて高い一様な感度を持 っているものは少ない。また、赤外領域の光検出器としては、量子型の半導体セ ンサと熱型の焦電素子などが使われているが、前者は光エネルギを半導体内キャ リアのバンドキャップ間の励起に用いるものであるが、波長領域により感度が異 なり、長波長(赤外)領域での使用時は液体窒素、液体ヘリウムなどによる冷却 も必要となる。一方、後者の熱型センサは、光照射によるエネルギを熱に変換し 、これを分極率,抵抗率などの変化として出力するもので、原理的に感度が低い ため、受光面積を大きくすることや、応答速度が遅いため、広範囲のスペクトル 分析には時間がかかるという欠点を持っている。
【0003】 また、従来の点接触ダイオードおよびMIMトンネル接合は、赤外光線に反応 することは判っており、現状では構造上、不安定で数時間の使用が限界であるが 、量子型と同様、或いはそれ以下の面積(体積)で高応答速度、高感度、冷却不 要の検出器を作製することができる。
【0004】
本考案は、上記従来技術の課題を踏まえてなされたものであり、MIMトンネ ル接合を用いた電界検出型の光検出器を検出部に用いることにより、冷却不要の 高感度、高応答速度、小型の赤外〜可視光領域のスペクトル分析装置を提供する ことを目的とするものである。
【0005】
上記課題を解決するための本考案の構成は、 レーザダイオードや発光ダイオードなどの発光素子のスペクトルを測定し、そ の発光波長や波長半値幅などの波長領域でのスペクトル分析を行うスペクトル分 析装置において、 前記装置を構成する光検出器としてMIMトンネル接合を用いた電界検出型の 光検出器としたことを特徴とする。
【0006】
本考案によれば、微小で寸法安定性の高い、機械的に安定なMIMトンネル接 合を用いた赤外〜可視光領域の光検出器を用い、光源と分光光学系と合わせてス ペクトル分析装置を実現している。
【0007】
以下、本考案を図面に基づいて説明する。 まず、MIMトンネル接合は最終的に<10nm□以下の接合面積で、電極間 は極薄い(1〜10nm)絶縁層(自然酸化膜など)で隔てられた構造であり、 機械的に安定な構造で作られ、必要に応じて、この上下に集光レンズや集光鏡を 組み合わせ、光検出器を形成する。この光検出器に、光源、試料への入射光学系 、分光光学系(波長選択系)、光検出器への出射光学系を組み合わせることによ りスペクトル分析装置が構成される。
【0008】 図1は本発明のスペクトル分析装置の光検出器に用いる光検出素子の一実施例 を示す構成図である。 図1(イ)において、光検出素子は、誘電体膜2と、誘電体膜2の一方の面に 形成される第1導電体1と、誘電体膜2の他方の面より誘電体膜2を貫通し、第 1導電体1に達する導電体穴3と、この導電体穴3の底面に形成されるトンネル 障壁絶縁膜4と、導電体穴3にトンネル障壁絶縁膜4を介して金属が埋め込まれ て形成される第2導電体5とで構成されている。
【0009】 第1導電体1は例えばニッケル製であり、第1導電体1と第2導電体5の少な くとも一方は、被測定光を受けるアンテナとして機能し、所望の波長帯域に対し て検出感度を持つように適当な形状寸法に、例えば図1(ロ)に示すような螺旋 状にパターニングされる。誘電体膜2は例えば二酸化シリコンや窒化シリコンの 膜であり、その厚さは500〜1000オングストロームで、トンネル障壁絶縁 膜4の厚さは数十オングストロームである。
【0010】 導電体穴3は真空中で例えばガリウムの集束イオンビームを誘電体膜2に照射 することによって形成されるので、導電体穴3の曲率半径は集束イオンビームの 径によって決定される。そして第1導電体1とトンネル障壁絶縁膜4と第2導電 体5とでMIM接合を形成し、トンネル障壁絶縁膜4と第2導電体5との接触面 積は導電体穴3の径で決まり、10-11 cm2 程度となる。なお、このトンネル 障壁絶縁膜4と第2導電体5との接触面積が小さいほど、検出感度は高く、応答 速度も速くなる。
【0011】 この図1に示す光検出素子を用いた光検出の動作を図2,図3を用いて説明す る。図2において、第1導電体1と第2導電体5との間に電圧源11と電流計1 2が直列に接続されている。光検出素子はMIM接合を持っているので、図3に 示すような非直線性を持ったトンネルダイオードの電流−電圧特性を示すことと なる。したがって、予め第一導電体1と第二導電体5の間に必要に応じ、バイア ス電圧を印加し、MIM接合部または受波(アンテナ)部に赤外〜可視領域の光 を照射すると、光電場の振幅振動がトンネルダイオードの非線形I−V特性によ り出力電流の変化として検出される。つまり、第一導電体1と第二導電体5の少 なくとも一方に入射した被測定光による光電場を検波して、光電場の振幅に対応 する検出電流を出力することができる。この整流信号を光量に換算する。そして 、波長選択系(分光器)の波長情報(あるいは光源の波長情報)と組み合わせ、 各波長ごとの透過率・反射率・吸光度などを知ることからスペクトル分析を行う ことができる。
【0012】 なお、スペクトル分析の手法には、単光路/複光路、FT法、時間分解法など いろいろな手法があるが、本MIM検出器を用いる場合、通常の赤外/紫外・可 視スペクトル分光法の全ての手法を応用することができる。また、マイクロマシ ニング技術を用いて各要素の一部または全部をワンチップ化することも可能であ る。
【0013】
以上、実施例と共に具体的に説明したように、本考案によれば、MIMトンネ ル接合を電界検出型の光検出器として用いることにより、冷却不要、高応答速度 、高感度、小型の赤外〜可視光領域のスペクトル分析装置を実現できる。
【図1】本考案のスペクトル分析装置の検出器に用いる
光検出素子の一実施例を示す構成図である。
光検出素子の一実施例を示す構成図である。
【図2】MIMトンネル接合による光検出の動作を示す
図である。
図である。
【図3】MIMダイオードの電流−電圧特性を示す図で
ある。
ある。
1 第1導電体 2 誘電体膜 3 導電体穴 4 トンネル障壁絶縁膜 5 第2導電体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 岸 直輝 東京都武蔵野市中町2丁目9番32号 横河 電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 レーザダイオードや発光ダイオードなど
の発光素子のスペクトルを測定し、その発光波長や波長
半値幅などの波長領域でのスペクトル分析を行うスペク
トル分析装置において、 前記装置を構成する光検出器としてMIMトンネル接合
を用いた電界検出型の光検出器としたことを特徴とする
スペクトル分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7558992U JPH0640825U (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | スペクトル分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7558992U JPH0640825U (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | スペクトル分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0640825U true JPH0640825U (ja) | 1994-05-31 |
Family
ID=13580544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7558992U Withdrawn JPH0640825U (ja) | 1992-10-30 | 1992-10-30 | スペクトル分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0640825U (ja) |
-
1992
- 1992-10-30 JP JP7558992U patent/JPH0640825U/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19970306 |