JPH0641938B2 - ジルコニウム合金材の非破壊測定方法 - Google Patents
ジルコニウム合金材の非破壊測定方法Info
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- JPH0641938B2 JPH0641938B2 JP28266985A JP28266985A JPH0641938B2 JP H0641938 B2 JPH0641938 B2 JP H0641938B2 JP 28266985 A JP28266985 A JP 28266985A JP 28266985 A JP28266985 A JP 28266985A JP H0641938 B2 JPH0641938 B2 JP H0641938B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、ジルコニウム合金材の非破壊測定方法に係
り、特に、重水炉における圧力管のように水素の影響を
受けるジルコニウム合金材内の水素濃度と合金材の強度
とを測定評価するのに好適な測定方法に関する。
り、特に、重水炉における圧力管のように水素の影響を
受けるジルコニウム合金材内の水素濃度と合金材の強度
とを測定評価するのに好適な測定方法に関する。
従来の脆化測定方法の例としては、八島、他2名「超音
波探傷法による水素侵食の検出」『非破壊検査』Vo
l.34,NO.2A,ppl18〜119,昭和60年
2月がある。ここには、炭素鋼や低合金鋼において、水
素侵食による脱炭や粒界割れなどで音響インピーダンス
が変化した個所を超音波エコーで測定できるとしてあ
る。
波探傷法による水素侵食の検出」『非破壊検査』Vo
l.34,NO.2A,ppl18〜119,昭和60年
2月がある。ここには、炭素鋼や低合金鋼において、水
素侵食による脱炭や粒界割れなどで音響インピーダンス
が変化した個所を超音波エコーで測定できるとしてあ
る。
ジルコニウム合金では、水素が結晶中に侵食して脆化を
起こすのではなく、ジルコニウム合金中に固溶しきれな
くなつた水素がジルコニウム合金と化学反応し、水素化
物(ZrH2)を生成して、これがジルコニウム合金中
に析出し脆化を引き起こすのである。
起こすのではなく、ジルコニウム合金中に固溶しきれな
くなつた水素がジルコニウム合金と化学反応し、水素化
物(ZrH2)を生成して、これがジルコニウム合金中
に析出し脆化を引き起こすのである。
このように析出による材料の脆化の場合は、水素化物の
性質が元の金属とほぼ等しく、材料の音響インピーダン
スをほとんど変化させないため、超音波の音速や減衰の
変化では、水素濃度や脆化の程度を検出できない。ま
た、実プラントで測定する場合、試料の表面状態で超音
波の反射率と透過率とが変わるので、超音波の減衰を正
確に測定することは困難である。これらのことから、上
記従来技術では、水素化物の析出によるジルコニウム合
金の変化についての配慮がなく、水素濃度と水素脆化の
程度を検出できなかつた。
性質が元の金属とほぼ等しく、材料の音響インピーダン
スをほとんど変化させないため、超音波の音速や減衰の
変化では、水素濃度や脆化の程度を検出できない。ま
た、実プラントで測定する場合、試料の表面状態で超音
波の反射率と透過率とが変わるので、超音波の減衰を正
確に測定することは困難である。これらのことから、上
記従来技術では、水素化物の析出によるジルコニウム合
金の変化についての配慮がなく、水素濃度と水素脆化の
程度を検出できなかつた。
一方、渦電流測定方法(eddy current test method,以
下ECTという)の例としては、特開昭55-141653号
「強析出硬化型鉄基合金の劣化状態判定方法」がある。
この従来例は、鉄基合金の劣化状態を、被測定材のEC
T値と、使用前の被測定材またはそれと同種材質の材料
を被測定材の初期熱処理と同様の熱処理を施したものの
ECT値とを比較し、その値が正か負かによつて判定す
る方法を示している。
下ECTという)の例としては、特開昭55-141653号
「強析出硬化型鉄基合金の劣化状態判定方法」がある。
この従来例は、鉄基合金の劣化状態を、被測定材のEC
T値と、使用前の被測定材またはそれと同種材質の材料
を被測定材の初期熱処理と同様の熱処理を施したものの
ECT値とを比較し、その値が正か負かによつて判定す
る方法を示している。
しかしながら、正負によつて判定するのみであるから、
定量的な測定ができず、また、ジルコニウム合金に特有
な上記水素化物析出の問題についての配慮もなかつた。
定量的な測定ができず、また、ジルコニウム合金に特有
な上記水素化物析出の問題についての配慮もなかつた。
本発明の目的は、ジルコニウム合金材のように析出形の
水素脆化について、水素濃度と合金の強度(脆化の程
度)とを高精度にしかも短時間で測定可能なジルコニウ
ム合金材の非破壊測定方法を提供することである。
水素脆化について、水素濃度と合金の強度(脆化の程
度)とを高精度にしかも短時間で測定可能なジルコニウ
ム合金材の非破壊測定方法を提供することである。
本発明は、ジルコニウム合金の電気的特性が内部に生じ
た水素化物の量によつて変化することに着目し、交流ブ
リツジを用いて基準材料と被測定体との不平衡電圧を検
出し、その大きさと位相角とからなるジルコニウム合金
中の水素濃度と合金の脆化の程度とを決定するジルコニ
ウム合金材の非破壊測定方法を提供するものである。
た水素化物の量によつて変化することに着目し、交流ブ
リツジを用いて基準材料と被測定体との不平衡電圧を検
出し、その大きさと位相角とからなるジルコニウム合金
中の水素濃度と合金の脆化の程度とを決定するジルコニ
ウム合金材の非破壊測定方法を提供するものである。
具体的には、2つの測定方法を提案している。
まず、第1の方法においては、基準材料をひとつ選択
し、それと被測定体との間で交流ブリツジの周波数を変
えながらデータを採り、最大不平衡電圧が一定のしきい
値以下のときは、被測定体の特性が基準材料と同じと判
定し、最大不平衡電圧がしきい値を超えたときは、その
大きさと位相角とからジルコニウム合金中の水素濃度と
ジルコニウム合金の強度(水素脆化の程度)とを算出す
る。
し、それと被測定体との間で交流ブリツジの周波数を変
えながらデータを採り、最大不平衡電圧が一定のしきい
値以下のときは、被測定体の特性が基準材料と同じと判
定し、最大不平衡電圧がしきい値を超えたときは、その
大きさと位相角とからジルコニウム合金中の水素濃度と
ジルコニウム合金の強度(水素脆化の程度)とを算出す
る。
一方、第2の方法においては、基準材料を変更しつつ、
それらと被測定体との間で交流ブリツジの周波数が変え
ながらデータを採り、最大不平衡電圧の絶対値が最小と
なる基準材料の水素濃度や強度をその被測定体の特性と
判定する。
それらと被測定体との間で交流ブリツジの周波数が変え
ながらデータを採り、最大不平衡電圧の絶対値が最小と
なる基準材料の水素濃度や強度をその被測定体の特性と
判定する。
いずれの方法においても、表面に生ずる酸化物の影響に
よるオフセツトをキヤンセルできる手段と、ジルコニウ
ム合金パイプの半径方向の水素化物量と周方向の水素化
物量とを精度よく検出できる手段とを採用可能であり、
判定結果は定量的となる。
よるオフセツトをキヤンセルできる手段と、ジルコニウ
ム合金パイプの半径方向の水素化物量と周方向の水素化
物量とを精度よく検出できる手段とを採用可能であり、
判定結果は定量的となる。
第3図に示すように、ジルコニウム合金12などの水素
化物13はほぼ面状に析出するので、この水素化物の量
に比例してジルコニウム合金の靱性が低下することにな
る。
化物13はほぼ面状に析出するので、この水素化物の量
に比例してジルコニウム合金の靱性が低下することにな
る。
ジルコニウム合金の抵抗率ρZrは、30℃で約0.49×
10-6(Ωm)であり、その水素化物は、金属と半導体
の中間の値ρZrH2を持つことが知られている。本発明
は、このρZ<<ρZrH2の関係を利用し、ジルコニウム
合金中の抵抗率の変化量から水素化物の量とそれに伴う
脆化の程度とを検出するものである。
10-6(Ωm)であり、その水素化物は、金属と半導体
の中間の値ρZrH2を持つことが知られている。本発明
は、このρZ<<ρZrH2の関係を利用し、ジルコニウム
合金中の抵抗率の変化量から水素化物の量とそれに伴う
脆化の程度とを検出するものである。
第4図のようにジルコニウム合金上にコイルを配置し交
流電流を流すと、合金中には渦電流が誘起される。そこ
で、第5図に示す交流ブリツジの2つのインピーダンス
に探触子コイルを接続し、一方のコイルに基準材料を配
し、他方のコイルに被測定体を押し付ければ、渦電流の
違いによるインピーダンスの不平衡から水素化物量を検
出できる。
流電流を流すと、合金中には渦電流が誘起される。そこ
で、第5図に示す交流ブリツジの2つのインピーダンス
に探触子コイルを接続し、一方のコイルに基準材料を配
し、他方のコイルに被測定体を押し付ければ、渦電流の
違いによるインピーダンスの不平衡から水素化物量を検
出できる。
交流ブリツジでは、両者のインピーダンスの変化量のみ
を検出するので、精度が高い。また、周波数を変えなが
ら多くの情報が得られるから、測定結果の信頼性も充分
である。
を検出するので、精度が高い。また、周波数を変えなが
ら多くの情報が得られるから、測定結果の信頼性も充分
である。
次に、本発明の実施例を図面に基いて説明する。
第1図は、本発明によるジルコニウム合金材の非破壊測
定方法を実施するためのシステム構成の一例を示す図で
ある。図において、1は原子力プラント等に用いられる
ジルコニウム合金材の圧力管であり、被測定体である。
また、2A,2B,2C,2Dは探触子コイル、3はそ
の走査駆動装置、4は走査駆動制御装置、5は渦電流探
傷器、6はコンピュータ、7は外部記憶装置、8は外部
記録装置である。被測定体1の表面には、探触子コイル
2Aと2Bを配置してあり、基準となる試験片11の表
面には、探触子コイル2Cと2Dを配置してある。
定方法を実施するためのシステム構成の一例を示す図で
ある。図において、1は原子力プラント等に用いられる
ジルコニウム合金材の圧力管であり、被測定体である。
また、2A,2B,2C,2Dは探触子コイル、3はそ
の走査駆動装置、4は走査駆動制御装置、5は渦電流探
傷器、6はコンピュータ、7は外部記憶装置、8は外部
記録装置である。被測定体1の表面には、探触子コイル
2Aと2Bを配置してあり、基準となる試験片11の表
面には、探触子コイル2Cと2Dを配置してある。
走査駆動装置3の詳細を第2図に示す。各探触子コイル
2A,2B,2C,2Dは、ボールねじ機構29を介し
てモータ11により、被測定体1と基準試験片11に押
し付けられる。この押し付け力は、ロードセル21で検
出する。各探触子コイルは、位置決めモータ26により
レール23上を移動でき、広範囲で正確に位置決め可能
である。被測定体1と複数の基準試験片11とは、台2
5上にセツトされている。レール23は、柱24で台2
5上に固定されている。長尺の被測定体1は、ローラ2
8上にあり、モータ27で軸方向に駆動され、位置を変
えられる。
2A,2B,2C,2Dは、ボールねじ機構29を介し
てモータ11により、被測定体1と基準試験片11に押
し付けられる。この押し付け力は、ロードセル21で検
出する。各探触子コイルは、位置決めモータ26により
レール23上を移動でき、広範囲で正確に位置決め可能
である。被測定体1と複数の基準試験片11とは、台2
5上にセツトされている。レール23は、柱24で台2
5上に固定されている。長尺の被測定体1は、ローラ2
8上にあり、モータ27で軸方向に駆動され、位置を変
えられる。
走査駆動装置3のモータ及びその他駆動部と信号系は、
走査駆動制御装置4に接続されており、制御を受ける。
走査駆動制御装置4に接続されており、制御を受ける。
4個の探触子コイルは、コイル形状が直径1mm、巻数7
0ターンのものを絶縁性樹脂の中に埋め込んであり、同
じ特性を持つ。これらの探触子コイルは、交流ブリツジ
回路を持つ渦電流探傷器5に接続され、等価的に第5図
に示す回路を形成している。
0ターンのものを絶縁性樹脂の中に埋め込んであり、同
じ特性を持つ。これらの探触子コイルは、交流ブリツジ
回路を持つ渦電流探傷器5に接続され、等価的に第5図
に示す回路を形成している。
渦電流探傷器5は、周波数範囲=5KHz〜5MHzで、
自動平衡機能を有している。ここで測定した不平衡電圧
の絶対値と位相角は、デジタル信号に変換され、コンピ
ユータ6に取り込まれる。
自動平衡機能を有している。ここで測定した不平衡電圧
の絶対値と位相角は、デジタル信号に変換され、コンピ
ユータ6に取り込まれる。
コンピユータ6は、インターフエイスを介して、駆動制
御装置4、渦電流探傷器5、外部記憶装置7、外部記録
装置8を制御する。ここでは、コンピユータ6に16ビ
ツトCPUを用い、外部記憶装置7としてフロツピーデ
イスクをパラレルインターフエイスで接続してある。ま
た、駆動制御装置4とはペリフエラル・インターフエイ
ス・アダプタ(PIA)を介して、一方、渦電流探傷器
5とはGP−IBインターフエイスを介して、データを
やりとりするようになつている。
御装置4、渦電流探傷器5、外部記憶装置7、外部記録
装置8を制御する。ここでは、コンピユータ6に16ビ
ツトCPUを用い、外部記憶装置7としてフロツピーデ
イスクをパラレルインターフエイスで接続してある。ま
た、駆動制御装置4とはペリフエラル・インターフエイ
ス・アダプタ(PIA)を介して、一方、渦電流探傷器
5とはGP−IBインターフエイスを介して、データを
やりとりするようになつている。
さて、上記の如く構成したシステムにおいて、本発明の
測定方法を実行するメインルーチンを、第6図のフロー
チヤートにより説明する。
測定方法を実行するメインルーチンを、第6図のフロー
チヤートにより説明する。
まず、駆動装置3を原子炉の圧力管等の被測定体1の表
面に配置し、駆動装置3を測定系の原点にセツトする。
そこでコンピユータ6から水素脆化の検査範囲と後述の
測定方法とを選択して入力する。測定開始とともに、駆
動装置3は測定開始点に移動し、入力された測定方法に
従つて渦電流を測定する。測定終了後、駆動装置3は次
の測定位置に移動する。同様に検査を繰り返し、駆動装
置3が最終位置に達するまで続ける。測定中のデータ
は、フロツピーデイスク7に記憶される。測定終了後、
測定データはフロツピーデイスク7からコンピユータ6
に再び取り込まれる。このデータは、先に指定された測
定方法に対応したデータ処理方法で処理され、水素濃度
と合金の強さ(水素脆化の程度)の判定材料となる。そ
の結果は、外部記録装置8に出力され、あるいはコンピ
ユータのCRTに表示される。
面に配置し、駆動装置3を測定系の原点にセツトする。
そこでコンピユータ6から水素脆化の検査範囲と後述の
測定方法とを選択して入力する。測定開始とともに、駆
動装置3は測定開始点に移動し、入力された測定方法に
従つて渦電流を測定する。測定終了後、駆動装置3は次
の測定位置に移動する。同様に検査を繰り返し、駆動装
置3が最終位置に達するまで続ける。測定中のデータ
は、フロツピーデイスク7に記憶される。測定終了後、
測定データはフロツピーデイスク7からコンピユータ6
に再び取り込まれる。このデータは、先に指定された測
定方法に対応したデータ処理方法で処理され、水素濃度
と合金の強さ(水素脆化の程度)の判定材料となる。そ
の結果は、外部記録装置8に出力され、あるいはコンピ
ユータのCRTに表示される。
先に述べたように、2つの測定方法がある。
第7図は、第1測定方法のデータ収集段階を示すフロー
チヤートであり、第6図のブロツクA内を詳細に表わし
ている。ここではまず、周波数を決定する(≧5K
Hz)。次に、H2濃度が25ppm以下で水素化物Zr
H2が析出していない基準試験片11に探触子コイル2
Cと2Dとを押し付けて平衡をとり、それから探触子コ
イル2Dをリフトオフし(持ち上げ)、リフトオフ信号
を位相角0°にセツトして、キヤンセルすべきオフセツ
ト値を測定する。探触子コイル2Aをパイプ(被測定
体)1の内面に押し付けた後、探触子コイル2Aと2D
とを切り換えて、今度は探触子コイル2Aと2Cとの不
平衡電圧の絶対値と位相角とを渦電流探傷器5で測定す
る。このデータは、コンピユータ6を介してフロツピー
デイスク7に記憶される。その後、周波数をΔだけ高
くして再びルーチンを繰り返し、周波数が≧5MHzに
なつたら測定を終り、データ処理に移行する。
チヤートであり、第6図のブロツクA内を詳細に表わし
ている。ここではまず、周波数を決定する(≧5K
Hz)。次に、H2濃度が25ppm以下で水素化物Zr
H2が析出していない基準試験片11に探触子コイル2
Cと2Dとを押し付けて平衡をとり、それから探触子コ
イル2Dをリフトオフし(持ち上げ)、リフトオフ信号
を位相角0°にセツトして、キヤンセルすべきオフセツ
ト値を測定する。探触子コイル2Aをパイプ(被測定
体)1の内面に押し付けた後、探触子コイル2Aと2D
とを切り換えて、今度は探触子コイル2Aと2Cとの不
平衡電圧の絶対値と位相角とを渦電流探傷器5で測定す
る。このデータは、コンピユータ6を介してフロツピー
デイスク7に記憶される。その後、周波数をΔだけ高
くして再びルーチンを繰り返し、周波数が≧5MHzに
なつたら測定を終り、データ処理に移行する。
本実施例の周波数範囲は、ジルコニウム圧力管の肉厚が
4mmであることと表皮効果とを考慮して決定した。表皮
効果は次式で与えられる。
4mmであることと表皮効果とを考慮して決定した。表皮
効果は次式で与えられる。
ただし、δは侵透深さすなわち表面電流の1/eになる
深さ、ωは角速度(2π)、μは透磁率、ρは抵抗率
である。ジルコニウム合金では、μ=μoμZr,μ
Zr≒1.0,ρ=0.49×10-6(Ωm at 2
0℃)であるため、周波数と渦電流の侵透深さδとの
関係は、第17図に示すようになる。圧力管1の肉厚が
4mmであるから、周波数帯域を5KHz〜5MHzの範囲と
し、探触子コイルの共振周波数oを中間の300KHz
とした。
深さ、ωは角速度(2π)、μは透磁率、ρは抵抗率
である。ジルコニウム合金では、μ=μoμZr,μ
Zr≒1.0,ρ=0.49×10-6(Ωm at 2
0℃)であるため、周波数と渦電流の侵透深さδとの
関係は、第17図に示すようになる。圧力管1の肉厚が
4mmであるから、周波数帯域を5KHz〜5MHzの範囲と
し、探触子コイルの共振周波数oを中間の300KHz
とした。
なお、測定データはフロツピーデイスクに一旦格納する
と述べたが、コンピユータ6内のDRAM等からなる内部メ
モリの容量が充分な場合は、そこに蓄積してもよく、次
の段階のデータ処理の速度が格段によくなることは勿論
である。また、更に大容量のハードデイスクを利用する
こともできる。
と述べたが、コンピユータ6内のDRAM等からなる内部メ
モリの容量が充分な場合は、そこに蓄積してもよく、次
の段階のデータ処理の速度が格段によくなることは勿論
である。また、更に大容量のハードデイスクを利用する
こともできる。
第1測定方法の上記データ収集に対応するデータ処理を
第8図にフローチヤートで示す。フロツピーデイスク7
に記憶していた測定位置、不平衡電圧の絶対値、位相角
のデータをコンピユータ6に取り込む。最大不平衡電圧
の絶対値|V|が基準しきい値Vthよりも小さい(|V
|<Vth)ときは、被測定体のその部分が基準試験片と
同じ水素濃度または合金としての強度を持つと判定す
る。逆に大きい場合は、不平衡電圧の位相角から、第8
図中央に示すように、予め求めておいた校正曲線を用い
て、水素濃度や破壊靱性値を算出する。次に測定位置と
評価した値を外部記録装置8に出力し、他の測定位置に
ついて同じルーチンを繰り返す。
第8図にフローチヤートで示す。フロツピーデイスク7
に記憶していた測定位置、不平衡電圧の絶対値、位相角
のデータをコンピユータ6に取り込む。最大不平衡電圧
の絶対値|V|が基準しきい値Vthよりも小さい(|V
|<Vth)ときは、被測定体のその部分が基準試験片と
同じ水素濃度または合金としての強度を持つと判定す
る。逆に大きい場合は、不平衡電圧の位相角から、第8
図中央に示すように、予め求めておいた校正曲線を用い
て、水素濃度や破壊靱性値を算出する。次に測定位置と
評価した値を外部記録装置8に出力し、他の測定位置に
ついて同じルーチンを繰り返す。
この第1測定方法の概略をまとめると、第9図及び第1
0図のようになる。第9図に示すように、探触子コイル
2Aを被測定体1に、探触子コイル2Cを基準試験片1
1に置いたときの不平衡電圧は、第10図のようなパタ
ーンを描く。このとき、最大不平衡電圧は、ほぼ共振周
波数oで現われる。その絶対値|V|がしきい値より
小さいときは、基準試験片に同じか近いと判断し、大き
いときは、位相角θの情報から合金中の水素濃度と合金
の強度とを算出する。
0図のようになる。第9図に示すように、探触子コイル
2Aを被測定体1に、探触子コイル2Cを基準試験片1
1に置いたときの不平衡電圧は、第10図のようなパタ
ーンを描く。このとき、最大不平衡電圧は、ほぼ共振周
波数oで現われる。その絶対値|V|がしきい値より
小さいときは、基準試験片に同じか近いと判断し、大き
いときは、位相角θの情報から合金中の水素濃度と合金
の強度とを算出する。
なお、第1図では探触子コイル2Aが圧力管1の外側に
あるのに対し、第9図では内側にあるが、原子プラント
の280℃程度の温度条件では、水素が金属中をかなり
自由に動けるので、かなり長い間使われた圧力管にあつ
ては、内外の測定値にあまり差がないと考えられる。
あるのに対し、第9図では内側にあるが、原子プラント
の280℃程度の温度条件では、水素が金属中をかなり
自由に動けるので、かなり長い間使われた圧力管にあつ
ては、内外の測定値にあまり差がないと考えられる。
第2測定方法を第11図〜第14図により説明する。第
11図は第2測定方法のデータ収集を示すフローチャー
ト、第12図はそのデータ処理を示すフローチャートで
ある。
11図は第2測定方法のデータ収集を示すフローチャー
ト、第12図はそのデータ処理を示すフローチャートで
ある。
第2測定方法のデータ収集においては、まず、周波数
を決定する(≧5KHz)。探触子コイル2Aと2Bを
パイプ1の内面に押し付けて平衡をとり、探触子コイル
2Bをリフトオフし、リフトオフ信号を位相角0°にセ
ツトする。次に、探触子コイル2Cをパイプ1の内面に
押し付けて探触子コイル2Bと2Cを切り換え、探触子
コイル2Aと2Cの不平衡電圧の絶対値と位相角を渦電
流探傷器5で測定する。このデータをコンピユータ6か
らフロツピーデイスク7に転送して記憶する。それか
ら、基準試験片11を他のものに交換し同様なルーチン
を行い、水素濃度の異なる複数枚の基準試験片について
測定した後、周波数をΔだけ高くして再び上記ルーチ
ンを繰り返す。周波数が≧5KHzになつたらデータ
収集を終え、データ処理に移る。
を決定する(≧5KHz)。探触子コイル2Aと2Bを
パイプ1の内面に押し付けて平衡をとり、探触子コイル
2Bをリフトオフし、リフトオフ信号を位相角0°にセ
ツトする。次に、探触子コイル2Cをパイプ1の内面に
押し付けて探触子コイル2Bと2Cを切り換え、探触子
コイル2Aと2Cの不平衡電圧の絶対値と位相角を渦電
流探傷器5で測定する。このデータをコンピユータ6か
らフロツピーデイスク7に転送して記憶する。それか
ら、基準試験片11を他のものに交換し同様なルーチン
を行い、水素濃度の異なる複数枚の基準試験片について
測定した後、周波数をΔだけ高くして再び上記ルーチ
ンを繰り返す。周波数が≧5KHzになつたらデータ
収集を終え、データ処理に移る。
第12図に示した本測定方法のデータ処理においては、
フロツピーデイスク7に記憶しておいた測定位置、不平
衡電圧の絶対値、位相角のデータをコンピユータ6に取
り込み、各基準試験片での最大不平衡電圧の絶対値|V
|を比較し、最も小さい値を示す基準試験片の水素濃度
や合金としての強度を前記被測定体の測定値と判定す
る。この際に、基準試験片の数が多い場合は(すなわ
ち、精度を高くしようとしてわずかに特性が異なるもの
を沢山用意すると)、目視程度では特性パターンから直
ちに判定できないことがある。それを避けるには、基準
試験片の水素濃度とそれぞれの不平衡電圧の絶対値との
関係を最適化近似するか、最小2乗法等を利用して、真
の最小値を見出せばよい。測定位置と評価結果とを外部
記録装置8に出力し、次の測定位置に移り、同じルーチ
ンを繰り返す。
フロツピーデイスク7に記憶しておいた測定位置、不平
衡電圧の絶対値、位相角のデータをコンピユータ6に取
り込み、各基準試験片での最大不平衡電圧の絶対値|V
|を比較し、最も小さい値を示す基準試験片の水素濃度
や合金としての強度を前記被測定体の測定値と判定す
る。この際に、基準試験片の数が多い場合は(すなわ
ち、精度を高くしようとしてわずかに特性が異なるもの
を沢山用意すると)、目視程度では特性パターンから直
ちに判定できないことがある。それを避けるには、基準
試験片の水素濃度とそれぞれの不平衡電圧の絶対値との
関係を最適化近似するか、最小2乗法等を利用して、真
の最小値を見出せばよい。測定位置と評価結果とを外部
記録装置8に出力し、次の測定位置に移り、同じルーチ
ンを繰り返す。
第2測定方法の概略をまとめると、第13図及び第14
図のようになる。第13図に示すように、探触子コイル
2Aを被測定体7に、探触子コイル2Cを複数の基準試
験片11に順次置いたときの不平衡電圧は、第14図の
パターンの如くなる。ここではm番目の基準試験片との
不平衡電圧が最小であるから、被測定体1の水素濃度は
m番目の基準試験片に等しいと判定する。
図のようになる。第13図に示すように、探触子コイル
2Aを被測定体7に、探触子コイル2Cを複数の基準試
験片11に順次置いたときの不平衡電圧は、第14図の
パターンの如くなる。ここではm番目の基準試験片との
不平衡電圧が最小であるから、被測定体1の水素濃度は
m番目の基準試験片に等しいと判定する。
第15図に、第1測定方法で実測した結果の一例を示
す。基準試験片は、水素濃度が25ppm以下で、水素
化物のないものを用いた。水素濃度が異なる3種類の被
測定体a,b,cについて不平衡電圧の軌跡のパターン
をみると、基準試験片とほぼ同じaは、不平衡電圧が小
さい。水素濃度が約100ppmのパイプbは、不平衡
電圧の絶対値が最大1ボルトで、位相角が約210°で
あり、水素濃度約400ppmのパイプCでは、同じく
2ボルトで、約350°である。このように、水素濃度
により、不平衡電圧の絶対値と位相角が変化する。この
とき、最大不平衡電圧は=300KHzで現われる。
す。基準試験片は、水素濃度が25ppm以下で、水素
化物のないものを用いた。水素濃度が異なる3種類の被
測定体a,b,cについて不平衡電圧の軌跡のパターン
をみると、基準試験片とほぼ同じaは、不平衡電圧が小
さい。水素濃度が約100ppmのパイプbは、不平衡
電圧の絶対値が最大1ボルトで、位相角が約210°で
あり、水素濃度約400ppmのパイプCでは、同じく
2ボルトで、約350°である。このように、水素濃度
により、不平衡電圧の絶対値と位相角が変化する。この
とき、最大不平衡電圧は=300KHzで現われる。
第16図は、ZrO2が被測定体表面に生じたことによ
るリフトオフの影響とそのキヤンセルの手法とを示す図
である。同一パイプ材で、ZrO2の酸化膜がある状態
で測定した結果が実線であり、その後ZrO2の酸化膜
を除去し測定した結果が点線である。周波数=5KHz
時のリフトオフ成分が、ほぼ最大不平衡電圧の差として
表わされている。従つて、=5KHzや低い周波数時の
リフトオフ電圧により酸化膜の影響をキヤンセルできる
ことがわかる。どちらの測定方法においても、データ収
集の初期においてリフトオフ信号を得るのは、このキヤ
ンセルの基礎となる値を決定するためである。
るリフトオフの影響とそのキヤンセルの手法とを示す図
である。同一パイプ材で、ZrO2の酸化膜がある状態
で測定した結果が実線であり、その後ZrO2の酸化膜
を除去し測定した結果が点線である。周波数=5KHz
時のリフトオフ成分が、ほぼ最大不平衡電圧の差として
表わされている。従つて、=5KHzや低い周波数時の
リフトオフ電圧により酸化膜の影響をキヤンセルできる
ことがわかる。どちらの測定方法においても、データ収
集の初期においてリフトオフ信号を得るのは、このキヤ
ンセルの基礎となる値を決定するためである。
上記実施例では、第19図に示すコイルを用いている
が、渦電流が表面に平行に流れるために、被測定体の強
度に大きく影響する半径方向の水素化物を検出するのに
適している。しかし、水素化物は、応力や温度などが原
因で容易に動くので、必ずしも半径方向のみに整列して
いるのとは限らない(第3図参照)。そこで、第18図
に示すように、表面に対して垂直に渦電流を流すために
コイル213を平行に置き、粉末の焼結鉄心212を馬
蹄形に成形して挿入した探触子を使う。この探触子コイ
ルによれば、周方向の水素化物量を精度よく検出でき
る。第18図と第19図の探触子コイルを併用すると、
水素濃度と水素脆化の程度とを正確に測定可能である。
なお、これらの図において、211は絶縁性樹脂であ
る。
が、渦電流が表面に平行に流れるために、被測定体の強
度に大きく影響する半径方向の水素化物を検出するのに
適している。しかし、水素化物は、応力や温度などが原
因で容易に動くので、必ずしも半径方向のみに整列して
いるのとは限らない(第3図参照)。そこで、第18図
に示すように、表面に対して垂直に渦電流を流すために
コイル213を平行に置き、粉末の焼結鉄心212を馬
蹄形に成形して挿入した探触子を使う。この探触子コイ
ルによれば、周方向の水素化物量を精度よく検出でき
る。第18図と第19図の探触子コイルを併用すると、
水素濃度と水素脆化の程度とを正確に測定可能である。
なお、これらの図において、211は絶縁性樹脂であ
る。
本発明によれば、ジルコニウム合金材のように析出形の
水素脆化について、水素濃度と合金の強度(脆化の程
度)とを高精度にしかも短時間で測定可能なジルコニウ
ム合金材の被破壊測定方法が得られることになる。
水素脆化について、水素濃度と合金の強度(脆化の程
度)とを高精度にしかも短時間で測定可能なジルコニウ
ム合金材の被破壊測定方法が得られることになる。
第1図は本発明によるジルコニウム合金材の被破壊測定
方法を実施するためのシステム構成の一例を示す図、第
2図は走査駆動装置の詳細を示す図、第3図はジルコニ
ウム合金中の水素化物の析出状態を示す図、第4図はコ
イルにより誘起される渦電流を示す図、第5図は渦電流
探傷器と探触子コイルの交流ブリツジ等価回路を示す
図、第6図は本発明の測定方法を実行するメインルーチ
ンを示すフローチヤート、第7図は第1測定方法のデー
タ収集段階を示すフローチヤート、第8図はそのデータ
処理段階を示すフローチヤート、第9図と第10図は第
1測定方法の概略をまとめて示す図、第11図は第2測
定方法のデータ収集段階を示すフローチヤート、第12
図はそのデータ処理段階を示すフローチヤート、第13
図と第14図は第2測定方法の概略をまとめて示す図、
第15図は第1測定方法で実測した結果の一例を示す
図、第16図はZrO2が被測定体表面に生じたことに
よるリフトオフの影響とそのキヤンセルの手法とを示す
図、第17図はジルコニウムの表皮効果の特性図、第1
8図と第19図は探触子コイルの形状を示す図である。 1…ジルコニウム合金圧力管、2A,2B,2C,2D
…探触子コイル、3…走査駆動装置、4…駆動制御装
置、5…渦電流探傷器、6…コンピユータ、7…外部記
憶装置、8…外部記録装置、11…基準試験片、12…
ジルコニウム、13…水素化物(ZrH2)、21…ロ
ードセル、22…探触子押し付け用モータ、23…レー
ル、24…柱、25…台、26…移動用モータ、27…
被測定体移動用モータ、28…ロータ、29…ボールね
じ、211…絶縁性樹脂、212…粉末焼結鉄心、21
3…コイル。
方法を実施するためのシステム構成の一例を示す図、第
2図は走査駆動装置の詳細を示す図、第3図はジルコニ
ウム合金中の水素化物の析出状態を示す図、第4図はコ
イルにより誘起される渦電流を示す図、第5図は渦電流
探傷器と探触子コイルの交流ブリツジ等価回路を示す
図、第6図は本発明の測定方法を実行するメインルーチ
ンを示すフローチヤート、第7図は第1測定方法のデー
タ収集段階を示すフローチヤート、第8図はそのデータ
処理段階を示すフローチヤート、第9図と第10図は第
1測定方法の概略をまとめて示す図、第11図は第2測
定方法のデータ収集段階を示すフローチヤート、第12
図はそのデータ処理段階を示すフローチヤート、第13
図と第14図は第2測定方法の概略をまとめて示す図、
第15図は第1測定方法で実測した結果の一例を示す
図、第16図はZrO2が被測定体表面に生じたことに
よるリフトオフの影響とそのキヤンセルの手法とを示す
図、第17図はジルコニウムの表皮効果の特性図、第1
8図と第19図は探触子コイルの形状を示す図である。 1…ジルコニウム合金圧力管、2A,2B,2C,2D
…探触子コイル、3…走査駆動装置、4…駆動制御装
置、5…渦電流探傷器、6…コンピユータ、7…外部記
憶装置、8…外部記録装置、11…基準試験片、12…
ジルコニウム、13…水素化物(ZrH2)、21…ロ
ードセル、22…探触子押し付け用モータ、23…レー
ル、24…柱、25…台、26…移動用モータ、27…
被測定体移動用モータ、28…ロータ、29…ボールね
じ、211…絶縁性樹脂、212…粉末焼結鉄心、21
3…コイル。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小山田 次夫 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立工場内 (72)発明者 鈴木 賢一 茨城県日立市幸町3丁目1番1号 株式会 社日立製作所日立工場内 (72)発明者 吉田 洋司 茨城県日立市幸町3丁目2番1号 日立エ ンジニアリング株式会社内 (56)参考文献 特開 昭58−137755(JP,A)
Claims (9)
- 【請求項1】非測定体と基準試験片とに交流信号を印加
しそれらに生じた渦電流を交流ブリツジ回路で検出する
渦電流探傷法によるジルコニウム合金材の非破壊測定方
法において、 A.基準試験片をひとつ選択し、交流信号の周波数を変
えながら、交流ブリツジ回路の不平衡電圧と位相角との
データを収集するステツプと、 B.最大不平衡電圧の絶対値をあるしきい値と比較し、
しきい値よりも小さいときはその基準試験片の水素濃度
及びそれに対応する合金としての強度を被測定体の特性
と判定するステツプと、 C.しきい値よりも大きいときは、最大不平衡電圧と位
相角とを予め求めてある校正曲線と比較し、被測定体の
水素濃度及び合金の強度を算出するステツプと からなることを特徴とするジルコニウム合金材の非破壊
測定方法。 - 【請求項2】特許請求の範囲第1項において、渦電流探
触用コイルが被測定体の表面に対して垂直に渦電流を流
すためにコイルを平行に置き、粉末焼結鉄心を馬蹄形に
成形して挿入した探触子コイルであることを特徴とする
ジルコニウム合金材の非破壊測定方法。 - 【請求項3】特許請求の範囲第2項において、被測定体
の表面に平行に渦電流を流す探触子コイルを用いてデー
タを収集するステツプも併用し、被測定体の半径方向の
特性成分と周方向の特性成分とを分けて測定することを
特徴とするジルコニウム合金材の非破壊測定方法。 - 【請求項4】特許請求の範囲第1項〜第3項のいずれか
一項において、周波数範囲下端の低周波数におけるリフ
トオフ信号を前記不平衡電圧データから差し引き、被測
定体表面に生ずる酸化物の影響をキヤンセルすることを
特徴とするジルコニウム合金材の非破壊測定方法。 - 【請求項5】被測定体と基準試験片とに交流信号を印加
しそれらに生じた渦電流を交流ブリツジ回路で検出する
渦電流探傷法によるジルコニウム合金材の非破壊測定方
法において、 A.ひとつの被測定体に対して基準試験片と交流信号の
周波数の両方を変えながら、交流ブリツジ回路の不平衡
電圧と位相角とのデータを収集するステツプと、 B.最大不平衡電圧の絶対値が最も小さい試験片の水素
濃度及び合金としての強度をその被測定体の特性と判定
するステツプと、 からなることを特徴とするジルコニウム合金材の非破壊
測定方法。 - 【請求項6】特許請求の範囲第5項において、渦電流探
触用コイルが被測定体の表面に対して垂直に渦電流を流
すためにコイルを平行に置き、粉末焼結鉄心を馬蹄形に
成形して挿入した探触子コイルであることを特徴とする
ジルコニウム合金の非破壊測定方法。 - 【請求項7】特許請求の範囲第6項において、被測定体
の表面に平行に渦電流を流す探触子コイルを用いてデー
タを収集するステツプも併用し、被測定体の半径方向の
特性成分と周方向の特性成分とを分けて測定することを
特徴とするジルコニウム合金材の非破壊測定方法。 - 【請求項8】特許請求の範囲第5項〜第7項のいずれか
一項において、周波数範囲下端の低周波数におけるリフ
トオフ信号を前記不平衡電圧データから差し引き、被測
定体表面に生ずる酸化物の影響をキヤンセルすることを
特徴とするジルコニウム合金材の非破壊測定方法。 - 【請求項9】特許請求の範囲第5項〜第8項のいずれか
一項において、最大不平衡電圧の絶対値の算出に最小2
乗法を用いることを特徴とするジルコニウム合金材の非
破壊測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28266985A JPH0641938B2 (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 | ジルコニウム合金材の非破壊測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28266985A JPH0641938B2 (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 | ジルコニウム合金材の非破壊測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62142258A JPS62142258A (ja) | 1987-06-25 |
| JPH0641938B2 true JPH0641938B2 (ja) | 1994-06-01 |
Family
ID=17655511
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28266985A Expired - Lifetime JPH0641938B2 (ja) | 1985-12-16 | 1985-12-16 | ジルコニウム合金材の非破壊測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0641938B2 (ja) |
Families Citing this family (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01318950A (ja) * | 1988-06-20 | 1989-12-25 | Nippon Mining Co Ltd | チタン材中の水素の吸蔵量検出方法 |
| US6583618B2 (en) | 2001-09-21 | 2003-06-24 | Framatome, Anp Inc. | Remote magnetic field material analyzer and method |
| JP2007271607A (ja) * | 2006-03-07 | 2007-10-18 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 異常検出装置 |
| JP4968834B2 (ja) * | 2007-03-23 | 2012-07-04 | 原子燃料工業株式会社 | 燃料棒被覆管材料の判別装置および判別方法 |
| JP5157756B2 (ja) * | 2008-08-29 | 2013-03-06 | 住友化学株式会社 | 水素脆化の検査方法 |
| JP5217925B2 (ja) * | 2008-11-11 | 2013-06-19 | 大同特殊鋼株式会社 | 検査装置および検査方法 |
| TWI530679B (zh) * | 2011-05-10 | 2016-04-21 | 新東工業股份有限公司 | 表面特性檢查裝置及表面特性檢查方法 |
| WO2014192335A1 (en) * | 2013-05-30 | 2014-12-04 | Sintokogio, Ltd. | Surface property inspection apparatus, surface property inspection system, and surface property inspection method |
-
1985
- 1985-12-16 JP JP28266985A patent/JPH0641938B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62142258A (ja) | 1987-06-25 |
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