JPH064330A - 試験システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 効率よく広範囲の試験を再現性よく行うこと
ができる試験システムを提供すること。 【構成】 試験装置１０が、パラメータ記憶部１１と、
疑似乱数に基づいて試験対象命令や各種制約条件を作成
しパラメータ記憶部１１に格納するパラメータ設定部１
７と、命令列生成部１２からの試験命令列とデータ生成
部１３からの出力データとを情報処理装置２０に転送し
実行させる命令列起動部１４と、命令列生成部１２の出
力データとデータ生成部１３の出力データとに基づいて
シミュレーションを行うシミュレータ部１５と、情報処
理装置２０での実行結果とシミュレータ部１５でのシミ
ュレーション結果との比較を行う実行結果比較部１６
と、この実行結果比較部１６での比較結果が一致しない
場合にエラー情報を出力するエラー情報出力部１８とか
ら構成される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、試験システムに係り、
とくに情報処理装置の試験システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の情報処理装置の試験システムは、
情報処理装置の試験用命令列を生成するためのパラメー
タを操作者が人手で設定する必要があった。また、パラ
メータを変更する場合は、操作者が試験システムを一旦
終了させ、パラメータを変更して試験システムを再び起
動していた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例においては、試験用命令列を生成するときのパラメ
ータ設定を人手で行わなければならず、しかもパラメー
タの変更も人手で行わなければならないために、システ
ム運用に工数がかかるとともに、パラメータ設定の誤り
や偏りにより必要十分な試験が行われないという不都合
があった。

【０００４】

【発明の目的】本発明の目的は、かかる従来例の有する
不都合を改善し、とくに試験命令列を生成するときのパ
ラメータを自動的にランダムに変化させながら試験を実
行することができ、効率よく広範囲の試験を再現性よく
行うことができる試験システムを提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】そこで、本発明では、試
験装置が、試験対象命令や各種制約条件を記憶している
パラメータ記憶部と、疑似乱数に基づいて試験対象命令
や各種制約条件を作成しパラメータ記憶部に格納するパ
ラメータ設定部と、疑似乱数に基づいてパラメータ記憶
部を参照して試験命令列を作成する命令列生成部と、疑
似乱数に基づいてデータを作成するデータ生成部と、命
令列生成部で作成された試験命令列とデータ生成部で作
成されたデータを情報処理装置に転送し実行させる命令
列起動部と、命令列生成部で作成された試験命令列とデ
ータ生成部で作成されたデータに基づいてシミュレーシ
ョンを行うシミュレータ部と、情報処理装置での実行結
果とシミュレータ部でのシミュレーション結果との比較
を行う実行結果比較部と、この実行結果比較部での比較
結果が一致しない場合にエラー情報を出力するエラー情
報出力部とを具備するという構成を採っている。これに
よって前述した目的を達成しようとするものである。

【０００６】

【作用】試験装置が起動されると、パラメータ設定部
は、疑似乱数を用いて試験対象命令と各種制約条件をパ
ラメータ記憶部に設定する。命令列生成部は、疑似乱数
を用いてパラメータ記憶部を参照しあらかじめ定められ
た命令数の試験命令を選択し、各制約条件に合致する命
令列を生成する。データ生成部は、疑似乱数を用いて命
令列で使用するデータを生成する。

【０００７】命令列起動部は、命令列生成部で生成され
た命令列およびデータ生成部で生成されたデータを情報
処理装置に転送し起動をかける。シミュレータ部は、情
報処理装置に転送したのと同じ命令列およびデータを用
いてシミュレーションを行い、実行結果の期待値を生成
する。

【０００８】情報処理装置での実行が終了すると、実行
結果比較部は、情報処理装置での実行結果とシミュレー
タ部でのシミュレーション結果とを比較する。比較結果
が不一致であればエラー情報出力部を介して、命令列や
データの初期値および実行結果を含むエラー情報をリス
トに出力する。

【０００９】

【発明の実施例】以下、本発明の一実施例を図１ないし
図５に基づいて説明する。図１の実施例は、各種情報処
理を行う情報処理装置２０と、この情報処理装置２０の
試験を行う試験装置１０とから構成されている。

【００１０】ここで、試験装置１０は、図２に示される
ように試験対象となる命令やレジスタ制約条件やメモリ
オペランド制約条件を記憶しているパラメータ記憶部１
１と、疑似乱数に基づいて試験対象となる命令やレジス
タ制約条件やメモリオペランド制約条件をパラメータ記
憶部１１に格納するパラメータ設定部１７と、疑似乱数
に基づいてパラメータ記憶部１１を参照して試験命令列
を作成する命令列生成部１２と、疑似乱数に基づいてデ
ータを作成するデータ生成部１３と、命令列生成部１２
で作成された試験命令列とデータ生成部１３で作成され
たデータを情報処理装置２０に転送し実行させる命令列
起動部１４と、命令列生成部１２で作成された試験命令
列とデータ生成部１３で作成されたデータに基づいてシ
ミュレーションを行うシミュレータ部１５と、情報処理
装置２０での実行結果とシミュレータ部１５でのシミュ
レーション結果との比較を行う実行結果比較部１６と、
実行結果比較部１６での比較結果が一致しない場合にエ
ラー情報を出力するエラー情報出力部１８とを具備して
いる。

【００１１】また、パラメータ記憶部１１は、試験対象
となる命令を格納する命令テーブル部１１Ａと、試験対
象命令で使用するレジスタをどの範囲から選択可能とす
るかのレジスタ制約条件を格納するレジスタ制約条件部
１１Ｂと、試験対象命令で使用するメモリオペランドに
ついてそのメモリ上での開始境界アドレスに対する制限
やその長さに対する制限およびメモリ上での割り付け位
置に対する制限を格納するメモリオペランド制約条件部
１１Ｃとを具備している。

【００１２】情報処理装置２０は、命令列やデータを記
憶している主記憶装置２２と、主記憶装置２２に格納さ
れているデータを用いて命令列を実行する演算処理装置
２１とを具備している。

【００１３】また図示していないが、試験装置１０に
は、各種処理プログラムやデータを格納するための外部
記憶装置や、操作者が試験装置１０を起動したり、結果
を表示するための入出力装置や、エラー情報を出力する
ためのプリンタ等が併設されている。

【００１４】次に、本実施例の第１の動作について、図
３のフローチャートを用いて説明する。

【００１５】．試験装置１０が起動されると、パラメ
ータ設定部１７は、疑似乱数を用いて試験対象命令を命
令テーブル部１１Ａに設定し、レジスタ制約条件すなわ
ち試験対象命令で使用するレジスタの選択可能範囲をレ
ジスタ制約条件部１１Ｂに設定し、メモリオペランド制
約条件すなわち試験対象命令で使用するメモリオペラン
ドに対するメモリ上での開始境界アドレス制限とその長
さ制限とメモリ上での割り付け位置制限とをメモリオペ
ランド制約条件部１１Ｃに設定する（図３のステップ３
１）。同時に、タイマーをスタートさせる。

【００１６】．命令列生成部１２は、疑似乱数を用い
て命令テーブル部１１Ａとレジスタ制約条件部１１Ｂお
よびメモリオペランド制約条件部１１Ｃを参照しながら
あらかじめ定められた命令数の試験命令を選択し、レジ
スタ制約条件とメモリオペランド制約条件に合致するよ
うに命令列を生成する（図３のステップ３２）。

【００１７】．データ生成部１３は、疑似乱数を用い
て命令列で使用するデータを生成する（図３のステップ
３３）。

【００１８】．命令列起動部１４は、命令列生成部１
２で生成された命令列およびデータ生成部１３で生成さ
れたデータを、情報処理装置２０に転送する。

【００１９】情報処理装置２０は、転送された命令列お
よびデータを主記憶装置２２に格納する。

【００２０】命令列起動部１４は、情報処理装置２０に
起動をかける。

【００２１】情報処理装置２０は、主記憶装置２２から
命令列を演算処理装置２１のレジスタに格納し、演算処
理装置２１でその命令列を実行する。

【００２２】実行が終了したならば、命令列起動部１４
は、演算処理装置２２のレジスタおよび主記憶装置２３
に格納されている実行結果を読み出し、待避しておく
（図３のステップ３４）。

【００２３】．シミュレータ部１５は、情報処理装置
２０に転送したのと同じ命令列およびデータを用いて、
シミュレーションを行い、実行結果の期待値を生成する
（図３のステップ３５）。

【００２４】．実行結果比較部１６は、情報処理装置
２０での実行結果とシミュレータ部１５でのシミュレー
ション結果とを比較する（図３のステップ３６）。

【００２５】比較結果が一致していれば何もせずに下記
（図３のステップ３９）の処理に進む。比較結果が不
一致であればエラー情報出力部１８を介して、命令列や
データの初期値および実行結果を含むエラー情報をリス
トに出力し（図３のステップ３８）、下記（図３のス
テップ３９）の処理に進む。

【００２６】．タイマーをチェックし（図３のステッ
プ３９）、あらかじめ設定されている時間を経過してい
れば、上記の処理（図３のステップ３１）に戻る。あ
らかじめ設定されている時間を経過していなければ、上
記の処理（図３のステップ３２）に戻る。

【００２７】このように、操作者により停止を指示され
るまで、上記処理ステップを繰り返し実行する。

【００２８】次に、本実施例の第２の動作について、図
４のフローチャートを用いて説明する。

【００２９】．試験装置１０が起動されると、パラメ
ータ設定部１７は、疑似乱数を用いて試験対象命令を命
令テーブル部１１Ａに設定し、レジスタ制約条件すなわ
ち試験対象命令で使用するレジスタの選択可能範囲をレ
ジスタ制約条件部１１Ｂに設定し、メモリオペランド制
約条件すなわち試験対象命令で使用するメモリオペラン
ドに対するメモリ上での開始境界アドレス制限とその長
さ制限とメモリ上での割り付け位置制限とをメモリオペ
ランド制約条件部１１Ｃに設定する（図４のステップ４
１）。同時に、比較回数カウンターをリセットする。

【００３０】．命令列生成部１２は、疑似乱数を用い
て命令テーブル部１１Ａとレジスタ制約条件部１１Ｂお
よびメモリオペランド制約条件部１１Ｃを参照しながら
あらかじめ定められた命令数の試験命令を選択し、レジ
スタ制約条件とメモリオペランド制約条件に合致するよ
うに命令列を生成する（図４のステップ４２）。

【００３１】．データ生成部１３は、疑似乱数を用い
て命令列で使用するデータを生成する（図４のステップ
４３）。

【００３２】．命令列起動部１４は、命令列生成部１
２で生成された命令列およびデータ生成部１３で生成さ
れたデータを、情報処理装置２０に転送する。

【００３３】情報処理装置２０は、転送された命令列お
よびデータを主記憶装置２２に格納する。

【００３４】命令列起動部１４は、情報処理装置２０に
起動をかける。

【００３５】情報処理装置２０は、主記憶装置２２から
命令列を演算処理装置２１のレジスタに格納し、演算処
理装置２１でその命令列を実行する。

【００３６】実行が終了したならば、命令列起動部１４
は、演算処理装置２２のレジスタおよび主記憶装置２３
に格納されている実行結果を読み出し、待避しておく
（図４のステップ４４）。

【００３７】．シミュレータ部１５は、情報処理装置
２０に転送したのと同じ命令列およびデータを用いて、
シミュレーションを行い、実行結果の期待値を生成する
（図４のステップ４５）。

【００３８】．実行結果比較部１６は、情報処理装置
２０での実行結果とシミュレータ部１５でのシミュレー
ション結果とを比較する（図４のステップ４６）。そし
て、比較回数カウンターを＋１する。

【００３９】比較結果が一致していれば何もせずに下記
の処理（図４のステップ４９）に進む。比較結果が不
一致であればエラー情報出力部１８を介して、命令列や
データの初期値および実行結果を含むエラー情報をリス
トに出力し（図４のステップ４８）、下記の処理（図
４のステップ４９）に進む。

【００４０】．比較回数カウンターをチェックし（図
４のステップ４９）、あらかじめ設定されている比較回
数に達していれば、上記の処理（図４のステップ４
１）に戻る。あらかじめ設定されている比較回数に達し
ていなければ、上記の処理（図４のステップ４２）に
戻る。

【００４１】次に、本実施例の第３の動作について、図
５のフローチャートを用いて説明する。

【００４２】．試験装置１０が起動されると、パラメ
ータ設定部１７は、疑似乱数を用いて試験対象命令を命
令テーブル部１１Ａに設定し、レジスタ制約条件すなわ
ち試験対象命令で使用するレジスタの選択可能範囲をレ
ジスタ制約条件部１１Ｂに設定し、メモリオペランド制
約条件すなわち試験対象命令で使用するメモリオペラン
ドに対するメモリ上での開始境界アドレス制限とその長
さ制限とメモリ上での割り付け位置制限とをメモリオペ
ランド制約条件部１１Ｃに設定する（図５のステップ５
１）。同時に、タイマーをスタートさせる。

【００４３】．命令列生成部１２は、疑似乱数を用い
て命令テーブル部１１Ａとレジスタ制約条件部１１Ｂお
よびメモリオペランド制約条件部１１Ｃを参照しながら
あらかじめ定められた命令数の試験命令を選択し、レジ
スタ制約条件とメモリオペランド制約条件に合致するよ
うに命令列を生成する（図５のステップ５２）。

【００４４】．データ生成部１３は、疑似乱数を用い
て命令列で使用するデータを生成する（図５のステップ
５３）。

【００４５】．命令列起動部１４は、命令列生成部１
２で生成された命令列およびデータ生成部１３で生成さ
れたデータを、情報処理装置２０に転送する。

【００４６】情報処理装置２０は、転送された命令列お
よびデータを主記憶装置２２に格納する。

【００４７】命令列起動部１４は、情報処理装置２０に
起動をかける。

【００４８】情報処理装置２０は、主記憶装置２２から
命令列を演算処理装置２１のレジスタに格納し、演算処
理装置２１でその命令列を実行する。

【００４９】実行が終了したならば、命令列起動部１４
は、演算処理装置２２のレジスタおよび主記憶装置２３
に格納されている実行結果を読み出し、待避しておく
（図５のステップ５４）。

【００５０】．シミュレータ部１５は、情報処理装置
２０に転送したのと同じ命令列およびデータを用いて、
シミュレーションを行い、実行結果の期待値を生成する
（図５のステップ５５）。

【００５１】．実行結果比較部１６は、情報処理装置
２０での実行結果とシミュレータ部１５でのシミュレー
ション結果とを比較する（図５のステップ５６）。

【００５２】比較結果が一致していれば何もせずに下記
（図５のステップ５９）の処理に進む。比較結果が不
一致であればエラー情報出力部１８を介して、命令列や
データの初期値および実行結果を含むエラー情報をリス
トに出力し（図５のステップ５８）、上記の処理（図
５のステップ５１）に戻る。

【００５３】．タイマーをチェックし（図５のステッ
プ５９）、あらかじめ設定されている時間を経過してい
れば、上記の処理（図５のステップ５１）に戻る。あ
らかじめ設定されている時間を経過していなければ、上
記の処理（図５のステップ５２）に戻る。

【００５４】なお、本実施例における各部の処理は、ソ
フトウェアで実現することが可能であり、その場合は試
験装置１０に併設されている外部記憶装置に処理プログ
ラムを格納し、上記処理を行う。

【００５５】

【発明の効果】本発明は以上のように構成され機能する
ので、これによると、試験命令列を生成するときのパラ
メータを自動的にランダムに変化させながら実行するこ
とができ、これがため、効率よく広範囲の試験を再現性
よく行うことができるという従来にない優れた試験シス
テムを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す構成図である。

【図２】図１の実施例における試験装置の詳細構成を示
す構成図である。

【図３】本発明の第１の動作を説明するためのフローチ
ャートである。

【図４】本発明の第２の動作を説明するためのフローチ
ャートである。

【図５】本発明の第３の動作を説明するためのフローチ
ャートである。

【符号の説明】

１０ 試験装置 １１ パラメータ記憶部 １２ 命令列生成部 １３ データ生成部 １４ 命令列起動部 １５ シミュレータ部 １６ 実行結果比較部 １７ パラメータ設定部 １８ エラー情報出力部 ２０ 情報処理装置 ２１ 演算処理装置 ２２ 主記憶装置

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 各種情報処理を行う情報処理装置と、こ
   の情報処理装置の試験を行う試験装置とから構成される
   試験システムにおいて、 前記試験装置が、試験対象命令や各種制約条件を記憶し
   ているパラメータ記憶部と、疑似乱数に基づいて試験対
   象命令や各種制約条件を作成し前記パラメータ記憶部に
   格納するパラメータ設定部と、疑似乱数に基づいて前記
   パラメータ記憶部を参照して試験命令列を作成する命令
   列生成部と、疑似乱数に基づいてデータを作成するデー
   タ生成部と、前記命令列生成部で作成された試験命令列
   と前記データ生成部で作成されたデータを前記情報処理
   装置に転送し実行させる命令列起動部と、前記命令列生
   成部で作成された試験命令列と前記データ生成部で作成
   されたデータに基づいてシミュレーションを行うシミュ
   レータ部と、前記情報処理装置での実行結果と前記シミ
   ュレータ部でのシミュレーション結果との比較を行う実
   行結果比較部と、この実行結果比較部での比較結果が一
   致しない場合にエラー情報を出力するエラー情報出力部
   とを装備したことを特徴とする試験システム。
2. 【請求項２】 前記パラメータ記憶部が、試験対象命令
   を格納する命令テーブル部と、試験対象命令で使用する
   レジスタの選択可能範囲を格納するレジスタ制約条件部
   と、試験対象命令で使用するメモリオペランドのメモリ
   上での開始境界アドレス制限やその長さ制限およびメモ
   リ上での割り付け位置制限を格納するメモリオペランド
   制約条件部とを具備していることを特徴とする請求項１
   記載の試験システム。