JPH0643373A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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Publication number
JPH0643373A
JPH0643373A JP4195608A JP19560892A JPH0643373A JP H0643373 A JPH0643373 A JP H0643373A JP 4195608 A JP4195608 A JP 4195608A JP 19560892 A JP19560892 A JP 19560892A JP H0643373 A JPH0643373 A JP H0643373A
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JP
Japan
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light
mirror
piezo
scanning
scanning line
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4195608A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyasu Yoshikawa
浩寧 吉川
Shinya Hasegawa
信也 長谷川
Fumio Yamagishi
文雄 山岸
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は光走査装置に関し、ミラー面の初期
位置の変動を補償して光ビームの結像位置のずれを防止
することを目的とする。 【構成】 光検出器(21)は、走査線上に設けられ光
ビームの単位面積当りの光量を検出する。オフセット手
段(30)は、上記光検出器の検出光量に応じて、上記
焦点位置可変手段の可変する収束光学系の前焦点位置に
オフセットを加える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光走査装置に関し、特に
レーザ光ビームを走査する光走査装置に関する。
【0002】POSスキャナ,レーザプリンタ,光計測
等に応用される光走査装置としてのレーザスキャナは、
それぞれの目的に応じて、走査速度,解像度,走査線の
直線性などの所要性能が要求される。特に、近年におい
てはレーザプリンタの低価格化が進み、OA用レーザプ
リンタの普及が目覚ましい。
【0003】レーザスキャナでは、基本的光学性能すな
わち偏向走査,ビーム収束,光集光という機能の高性能
化が望まれる。特に最近のレーザプリンタでは、より綺
麗なグラフィック機能の要望によって高解像化が望まれ
ている。また、光学系としては、より安く、より小型で
あることが望まれている。
【0004】
【従来の技術】従来のレーザスキャナは、ポリゴンある
いはホログラムディスクを用いてレーザ光ビームを偏
向、走査し、f−Θレンズ等を用いて光を収束してい
る。高解像化に対しては、レンズ枚数を多くしたり、光
学レンズを非球面化することによって走査線上でのビー
ムスポット径を小さくして対応している。このため、レ
ンズ系が高価という問題がある。一方、安価なレンズ系
を目的として、レンズのプラスチック化もなされている
が、レンズ系の空間配置によって小型化が難しいという
問題点がある。そこで、本出願人はピエゾ素子を用いた
焦点距離を可変できる光学系を特願 によ
り提案している。これはミラー面の変位によってレンズ
前焦点を移動させ、後焦点を可変するものである。ミラ
ー面の変位は電気的駆動により実施する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来装置では、
ピエゾ素子の劣化や光学部品の温度による膨張によって
ピエゾ素子の非駆動時におけるミラー面の初期位置が変
動し、光ビームの結像位置が走査面からずれてしまうと
いう問題があった。
【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、ミラー面の初期位置の変動を補償して光ビームの結
像位置のずれを防止する光走査装置を提供することを目
的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の光走査装置は、
光ビームを収束光学系で収束し回転するポリゴンミラー
又はホログラムディスクに照射して走査し、かつ焦点位
置可変手段上記収束光学系の前焦点位置を走査に同期し
て可変し上記収束光学系の後焦点を走査線上とする光走
査装置において、上記走査線上に設けられ光ビームの単
位面積当りの光量を検出する光検出器と、上記光検出器
の検出光量に応じて、上記焦点位置可変手段の可変する
収束光学系の前焦点位置にオフセットを加えるオフセッ
ト手段とを有する。
【0008】
【作用】本発明においては、検出光量に応じて前焦点位
置にオフセットを加えるため、前焦点位置が変動して後
焦点位置が走査線上からずれ検出光量が減少するとオフ
セットにより前焦点位置が可変されて上記後焦点位置が
走査線上となるように補償される。
【0009】
【実施例】図2は本発明装置の概略構成図を示す。同図
中、レーザダイオード10より出射されたレーザ光ビー
ムはコリメータレンズ11で平行光とされた後ハーフミ
ラー12で反射される。この反射光ビームはコリメータ
レンズ13を通してミラー14で反射され再びコリメー
ターレンズ13を通り、ハーフミラー12を透過してポ
リゴンミラー16に照射される。定速回転するポリゴン
で反射された光ビームは感光ドラム17を軸方向に走査
する。
【0010】ミラー14の裏面はピエゾ素子20に固定
されており、ピエゾ素子20に印加する電圧に応じてミ
ラー14とコリメータレンズ13との間の距離を可変し
ており、コリメータレンズ13で光ビームを感光ドラム
17位置に収束して結像させている。
【0011】また、感光ドラム17に隣接して走査線1
8上に光検出器21が設けられている。光検出器21は
図3に示すフォトダイオード21aとフォトダイオード
22より前方位置にビームウエスト径より、小径の径8
0μm程度のピンホール23aを持つ遮光性のマスク2
3とより構成されている。つまり光検出器21はピンホ
ール23aの開口面積当りの入射光量を検出している。
光ビームはコリメータレンズ13によりビームウエスト
が感光ドラム17上となるように収束されているため、
光ビームが光検出器21上に走査するとき図4に示す光
ビームのビームウエスト位置より手前の位置Aに光検出
器21がある場合のピンホール23aからフォトダイオ
ード22に入射する光量は、ビームウエスト位置近傍に
光検出器21がある場合のピンホール23aからフォト
ダイオード22に入射する光量より少なくなる。このた
め、固定された光検出器21に対してビームウエスト位
置が後方となる図4の位置Aの位置関係では光ビームの
走査によって光検出器21出力は図5(A)に示す如く
なり、また光検出器21の位置近傍にビームウエスト位
置がある図4の位置Bの位置関係では光検出器21出力
は図5(B)に示す如くなる。
【0012】ここで、製造時にはミラー14とコリメー
タレンズ13との距離は最適値よりも僅かに短かく設定
し、ピエゾ素子20の劣化や光学部品の温度膨張があっ
てもビームウエスト位置が感光ドラム17の周面よりも
後方となることがないようにしている。
【0013】図1は本発明装置の要部の一実施例の構成
図を示す。同図中、光検出器21の出力する光検出信号
は制御回路30に供給される。この光検出信号は図6
(A)に示す如く、光ビームが光検出器21を走査する
毎にピークを生じる。制御回路30は上記の光検出信号
のピーク値を所定の閾値VTHと比較し、ピーク値が閾値
THを越えている場合、上記ピーク位置を基準として感
光ドラム17上の走査線18の両端部に対して中央部が
低くなる略放物線状の図6(B)に示す波形のピエゾ駆
動信号を生成して出力する。ピエゾドライブ回路31は
このピエゾ駆動信号の電力増幅を行なってピエゾ素子2
0に印加する。ピエゾ素子20は上記ピエゾ駆動信号の
電圧が低い程つまり走査線18の中央部程ミラー14を
コリメータレンズ13より離間させる方向に変位させ
る。これによってコリメータレンズ13の前焦点が長く
なり後焦点位置であるビームウエスト位置はコリメータ
レンズ13に近づいて感光ドラム17の外周面上とな
る。
【0014】また、制御回路30は光検出信号のピーク
値が閾値VTH未満の場合、このピークを基準として出力
する略放物線状のピエゾ駆動信号に所定のオフセット値
αを加算して出力する。これによってピエゾ素子20は
走査周期を通じてオフセット値αに応じた距離だけミラ
ー14をコリメータレンズ13より離間させ、これによ
ってビームウエスト位置は全体にコリメータレンズ13
に近づき、ピエゾ素子の劣化や光学部品の温度膨張等に
よるミラー面の変動を補償する。
【0015】なお、制御回路30ではピエゾ駆動信号に
オフセット値αを加算した状態で光検出信号のピーク値
が閾値VTHを越えない場合、次の走査周期のオフセット
値αを所定量だけ増大するよう構成してもよい。
【0016】図7は本発明装置の要部の変形例の構成図
を示す。同図中、図1と同一部分には同一符号を付し、
その説明を省略する。図7においてはピエゾ素子20と
ミラー14との間にピエゾ素子40を設け、ピエゾ素子
20,40夫々をピエゾドライブ装置31,41で別々
に駆動する。
【0017】光検出器21の出力する図8(A)に示す
如き光検出信号は制御回路42及び比較回路43に供給
される。制御回路42は光検出信号のピーク位置を基準
として走査線18の両端部に対して中央部が低くなる略
放物線状の図8(B)に示すピエゾ駆動信号を生成して
ピエゾドライブ回路31に供給する。上記ピエゾ素子2
0,ピエゾドライブ回路31,制御回路42の動作は図
1における光検出信号のピーク値が閾値以下の場合と同
一である。
【0018】比較回路43は光検出信号のピーク値を閾
値VYHと比較し、ピーク値が閾値V TH未満のとき図8
(C)に示す如き一定値αのピエゾ駆動信号を生成して
ピエゾドライブ回路41に供給する。ピエゾドライブ回
路41は比較回路43よりのピエゾ駆動信号を電力増幅
してピエゾ素子40に印加する。これによってミラー1
4は走査周期を通じて値αに応じた距離だけコリメータ
レンズ13より離間してミラー面の変動を補償する。
【0019】なお、上記実施例ではポリゴンミラー16
によって光ビームの走査を行なっているが、これはホロ
グラムディスクを用いて光ビーム走査を行なうものであ
っても良い。
【0020】
【発明の効果】上述の如く本発明の光走査装置によれ
ば、ミラー面の初期位置の変動を補償して光ビームの結
像位置のずれを防止でき、実用上きわめて有用である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明装置の要部の構成図である。
【図2】本発明装置の概略構成図である。
【図3】光検出器を示す図である。
【図4】光検出器と光ビームとの関係を示す図である。
【図5】光検出信号の波形図である。
【図6】光検出信号及びピエゾ駆動信号の波形図であ
る。
【図7】本発明装置の要部の構成図である。
【図8】光検出信号及びピエゾ駆動信号の波形図であ
る。
【符号の説明】
10 レーザダイオード 11,13 コリメータレンズ 14 ミラー 16 ポリゴンミラー 17 感光ドラム 18 走査線 20 ピエゾ素子 21 光検出器 30 制御回路 31 ピエゾドライブ回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ビームを収束光学系(13)で収束し
    回転するポリゴンミラー(16)又はホログラムディス
    クに照射して走査し、かつ焦点位置可変手段(20,3
    0,31)上記収束光学系の前焦点位置を走査に同期し
    て可変し上記収束光学系の後焦点を走査線上とする光走
    査装置において、 上記走査線上に設けられ光ビームの単位面積当りの光量
    を検出する光検出器(21)と、 上記光検出器の検出光量に応じて、上記焦点位置可変手
    段の可変する収束光学系の前焦点位置にオフセットを加
    えるオフセット手段(30)とを有することを特徴とす
    る光走査装置。
JP4195608A 1992-07-22 1992-07-22 光走査装置 Withdrawn JPH0643373A (ja)

Priority Applications (1)

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JP4195608A JPH0643373A (ja) 1992-07-22 1992-07-22 光走査装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP4195608A JPH0643373A (ja) 1992-07-22 1992-07-22 光走査装置

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JPH0643373A true JPH0643373A (ja) 1994-02-18

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ID=16343993

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JP4195608A Withdrawn JPH0643373A (ja) 1992-07-22 1992-07-22 光走査装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2579776A (en) * 2018-12-11 2020-07-08 Trw Ltd Disc brake assembly

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2579776A (en) * 2018-12-11 2020-07-08 Trw Ltd Disc brake assembly

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Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19991005