JPH0643904B2 - 製品計測検査装置 - Google Patents
製品計測検査装置Info
- Publication number
- JPH0643904B2 JPH0643904B2 JP61079097A JP7909786A JPH0643904B2 JP H0643904 B2 JPH0643904 B2 JP H0643904B2 JP 61079097 A JP61079097 A JP 61079097A JP 7909786 A JP7909786 A JP 7909786A JP H0643904 B2 JPH0643904 B2 JP H0643904B2
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- Japan
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- measurement
- unit
- product
- inspection
- line
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- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明はラインの製品検査に用いて有用な製品計測検
査装置に関する。
査装置に関する。
［従来の技術］ 製品検査は、ライン上に流れてくる製品を所定の検査用
データに基づいて手動又は自動で計測し、計測結果に基
づいて製品の良否を判定するが如く行われるものであ
る。ここに、検査用データは、製品の計測位置、該位置
における寸法、色その他の計測情報が含まれるものであ
る。
データに基づいて手動又は自動で計測し、計測結果に基
づいて製品の良否を判定するが如く行われるものであ
る。ここに、検査用データは、製品の計測位置、該位置
における寸法、色その他の計測情報が含まれるものであ
る。
従来より、これら計測情報は、いわゆる作業票に書込ま
れ、或いはコンピュータに予め入力され、検査者ないし
検査器具に提供されている。
れ、或いはコンピュータに予め入力され、検査者ないし
検査器具に提供されている。
しかしながら、昨今のＦＭＳ化の進展化にあっては、前
記計測情報は、製品毎に異なることが多く、又、判定基
準についても製品毎に異なることが多く、製品毎の作業
票を作るのは困難である。又、コンピュータに入力する
にしてもその情報量が大であり、かつ、繁雑にすぎ、情
報入力及び情報の使用の面において、その改善が望まれ
ている。
記計測情報は、製品毎に異なることが多く、又、判定基
準についても製品毎に異なることが多く、製品毎の作業
票を作るのは困難である。又、コンピュータに入力する
にしてもその情報量が大であり、かつ、繁雑にすぎ、情
報入力及び情報の使用の面において、その改善が望まれ
ている。
一方、ラインに３次元測定器具など用いて製品を自動計
測する手法が確立されつつあるが、従来、これら自動計
測装置は検査装置の一部として利用されるのみで、検査
装置に十分に融合していないのが実情である。
測する手法が確立されつつあるが、従来、これら自動計
測装置は検査装置の一部として利用されるのみで、検査
装置に十分に融合していないのが実情である。
［課題を解決するための手段］ 前述のごとき従来の問題に鑑みて、本発明は、ライン上
を移送される製品を、上記ラインの途中の計測検査部に
おいて計測検査する製品計測検査装置にして、前記ライ
ン上を移送される各製品に、外部と無線交信することで
計測情報を読み書き自在に態様で記憶し、かつ計測検査
結果を書き込み自在のメモリユニットを設け、前記計測
検査部において前記製品の計測検査を行う測定装置を制
御するＮＣ装置を備えてなる制御装置を設け、かつ前記
計測検査部に、前記メモリユニットと無線交信するアン
テナユニットを設けてなり、前記制御装置は、前記アン
テナユニットと接続されて前記メモリユニット内の計測
情報を読取る情報読取部と、上記情報読取部で読取った
計測情報に基いて前記製品の計測位置を指定して当該測
定位置を前記測定装置によって計測検査すべく前記ＮＣ
装置に指令すると共に、製品寸法及びその許容値を計測
データ比較部に提供する測定指令部と、上記計測指令部
から入力した前記製品寸法と前記ＮＣ装置から入力され
る計測値との差を求め、この差を前記許容値と比較して
製品の良否を判定する前記計測データ比較部と、この計
測データ比較部の判定結果に基いて前記ラインの駆動装
置を適宜駆動すると共に前記アンテナユニットを介して
前記メモリユニットに計測値を書込む判定処理部と、前
記ＮＣ装置とを備えてなるものである。
を移送される製品を、上記ラインの途中の計測検査部に
おいて計測検査する製品計測検査装置にして、前記ライ
ン上を移送される各製品に、外部と無線交信することで
計測情報を読み書き自在に態様で記憶し、かつ計測検査
結果を書き込み自在のメモリユニットを設け、前記計測
検査部において前記製品の計測検査を行う測定装置を制
御するＮＣ装置を備えてなる制御装置を設け、かつ前記
計測検査部に、前記メモリユニットと無線交信するアン
テナユニットを設けてなり、前記制御装置は、前記アン
テナユニットと接続されて前記メモリユニット内の計測
情報を読取る情報読取部と、上記情報読取部で読取った
計測情報に基いて前記製品の計測位置を指定して当該測
定位置を前記測定装置によって計測検査すべく前記ＮＣ
装置に指令すると共に、製品寸法及びその許容値を計測
データ比較部に提供する測定指令部と、上記計測指令部
から入力した前記製品寸法と前記ＮＣ装置から入力され
る計測値との差を求め、この差を前記許容値と比較して
製品の良否を判定する前記計測データ比較部と、この計
測データ比較部の判定結果に基いて前記ラインの駆動装
置を適宜駆動すると共に前記アンテナユニットを介して
前記メモリユニットに計測値を書込む判定処理部と、前
記ＮＣ装置とを備えてなるものである。
［発明の実施例］ 以下、添付図面を用いてこの発明の一実施例を説明す
る。
る。
第１図はラインの計測検査部の平面図、第２図は第１図
のII−II矢視線で示す正面図、第３図は制御装置のブロ
ック図である。
のII−II矢視線で示す正面図、第３図は制御装置のブロ
ック図である。
第１図及び第２図に示すように、ライン１の計測検査部
３には、３次元測定装置５が配置されている。
３には、３次元測定装置５が配置されている。
ライン１はコンベヤクを有し、コンベヤクは製品Ｗ（Ｗ
１，Ｗ２，Ｗ３，Ｗ４）を方向９ａから受け入れて方向
９ｂ又は９ｃに流すようになっている。製品Ｗ１は計測
検査部３に入る手前の製品を、製品Ｗ２は計測検査部３
に入った製品を、製品Ｗ３，Ｗ４は計測検査後の製品を
示している。製品Ｗ３及びＷ４の仕分けは計測検査結果
に基づいて製品良否に応じて仕分けされるものである。
１，Ｗ２，Ｗ３，Ｗ４）を方向９ａから受け入れて方向
９ｂ又は９ｃに流すようになっている。製品Ｗ１は計測
検査部３に入る手前の製品を、製品Ｗ２は計測検査部３
に入った製品を、製品Ｗ３，Ｗ４は計測検査後の製品を
示している。製品Ｗ３及びＷ４の仕分けは計測検査結果
に基づいて製品良否に応じて仕分けされるものである。
各製品Ｗ（Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３，Ｗ４）には、メモリユニ
ットＭ（Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４）が設けられている。
メモリユニットＭは、その内部に所定ビットの記憶素子
（シフトレジスタ）を有し、該素子に、外部と交信しそ
の内容を読み書き自在の態様で計測情報を記憶してい
る。計測情報とは、ここでは、製品番号、計測位置、該
位置に対応する寸法、該寸法の許容値、並びに計測結果
（寸法値）を意味するものとする。計測結果は、計測検
査部３に入るまでの製品についてはブランクであり、計
測検査の終了後書き込まれるものである。
ットＭ（Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４）が設けられている。
メモリユニットＭは、その内部に所定ビットの記憶素子
（シフトレジスタ）を有し、該素子に、外部と交信しそ
の内容を読み書き自在の態様で計測情報を記憶してい
る。計測情報とは、ここでは、製品番号、計測位置、該
位置に対応する寸法、該寸法の許容値、並びに計測結果
（寸法値）を意味するものとする。計測結果は、計測検
査部３に入るまでの製品についてはブランクであり、計
測検査の終了後書き込まれるものである。
３次元測定装置５は、３次元（ＸＹＺ）動作可能の軸１
３ｘ，１３ｙ，１３ｚと、軸１３ｙの先端に備えたプロ
ーグ１５とを有し、プローグ１５の先端を被計測体たる
製品に当接することにより、適宜演算処理して製品の寸
法を測定する。
３ｘ，１３ｙ，１３ｚと、軸１３ｙの先端に備えたプロ
ーグ１５とを有し、プローグ１５の先端を被計測体たる
製品に当接することにより、適宜演算処理して製品の寸
法を測定する。
計測検査部３には、製品Ｗ２のメモリユニットＭ２に対
応して、当該メモリユニットと無線交信するためのアン
テナユニット１７が設けられている。参照符号１９は計
測検査装置の制御装置を示す。
応して、当該メモリユニットと無線交信するためのアン
テナユニット１７が設けられている。参照符号１９は計
測検査装置の制御装置を示す。
第３図に示すように、制御装置１９は、情報読取部２１
と、計測指令部２３と、ＮＣ装置２５と、計測データ比
較部２７と、判定処理部２９とを有し、又、ＮＣ装置２
５と接続されるＸ駆動部３１、Ｙ軸駆動部３３、Ｚ軸駆
動部３５、入出力装置（デジタルインプットアウトプッ
ト）３７を有して構成されている。
と、計測指令部２３と、ＮＣ装置２５と、計測データ比
較部２７と、判定処理部２９とを有し、又、ＮＣ装置２
５と接続されるＸ駆動部３１、Ｙ軸駆動部３３、Ｚ軸駆
動部３５、入出力装置（デジタルインプットアウトプッ
ト）３７を有して構成されている。
情報読取部２１は前記アンテナユニット１７と接続さ
れ、メモリユニットＭ（Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４）内の
計測情報を読取るものである。
れ、メモリユニットＭ（Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４）内の
計測情報を読取るものである。
計測指令部２３は、ＮＣ装置２５に計測位置Ｐを指定し
て、当該位置Ｐを３次元測定装置５で計測すべく指令を
出力すると共に、前記計測データ比較部２７に製品寸法
ｏ及びその許容値Δｏを提供するものである。ＮＣ
装置２５に指令する位置Ｐは複数であること勿論であ
る。
て、当該位置Ｐを３次元測定装置５で計測すべく指令を
出力すると共に、前記計測データ比較部２７に製品寸法
ｏ及びその許容値Δｏを提供するものである。ＮＣ
装置２５に指令する位置Ｐは複数であること勿論であ
る。
ＮＣ装置２５は、前記計測指令部２３からの指令に基づ
いて、前記軸１３ｘ，１３ｙ，１３ｚを駆動すべく各駆
動部３１，３３，３５に位置決め指令信号を出力すると
共に、プローグ１５の作動信号を入出力装置３７から入
力し、製品Ｗを計測する。
いて、前記軸１３ｘ，１３ｙ，１３ｚを駆動すべく各駆
動部３１，３３，３５に位置決め指令信号を出力すると
共に、プローグ１５の作動信号を入出力装置３７から入
力し、製品Ｗを計測する。
計測データ比較部２７は、前記計測指令部２３から入力
した寸法ｏとＮＣ装置２５から入力される計測値との
差Δを求め、この差Δを前記許容値Δｏと比較
し、製品良否を判定する。
した寸法ｏとＮＣ装置２５から入力される計測値との
差Δを求め、この差Δを前記許容値Δｏと比較
し、製品良否を判定する。
判定処理部２９は、前記計測データ比較部２７の判定結
果に基づいて、ＣＲＴ３９、コンベヤ駆動装置４１、記
憶装置４３、並びに前記アンテナユニットを適宜駆動す
る。
果に基づいて、ＣＲＴ３９、コンベヤ駆動装置４１、記
憶装置４３、並びに前記アンテナユニットを適宜駆動す
る。
ＣＲＴは判定結果を表示するものである。コンベヤ駆動
部４１は前記コンベヤ７を駆動するもので、製品の良否
に応じ、製品Ｗ３、Ｗ４を仕分けするものである。記憶
装置４３は、製品の計測ないし検査結果について統計処
理を行なうために、その結果を記憶するものである。破
線で示したアンテナユニットへの信号線は、計測値を前
記メモリユニットＭに書込むためのものである。
部４１は前記コンベヤ７を駆動するもので、製品の良否
に応じ、製品Ｗ３、Ｗ４を仕分けするものである。記憶
装置４３は、製品の計測ないし検査結果について統計処
理を行なうために、その結果を記憶するものである。破
線で示したアンテナユニットへの信号線は、計測値を前
記メモリユニットＭに書込むためのものである。
以上の構成により、製品計測検査装置１は、コンバヤ７
上を流れてくる製品Ｗを順次自動的に計測検査すること
ができ、検査結果に基づいて製品仕分けをすることがで
きる。このとき、計測情報はメモリユニットＭが媒体と
されるので、情報の流れに無理がなく、計測に誤りを生
ずる可能性が皆無である。
上を流れてくる製品Ｗを順次自動的に計測検査すること
ができ、検査結果に基づいて製品仕分けをすることがで
きる。このとき、計測情報はメモリユニットＭが媒体と
されるので、情報の流れに無理がなく、計測に誤りを生
ずる可能性が皆無である。
又、本例では、記憶装置４３を設け、計測結果等を記憶
することができるようにしたので、製品の計測検査に関
する統計処理が容易に行なわれ得る。
することができるようにしたので、製品の計測検査に関
する統計処理が容易に行なわれ得る。
更に本例では、計測結果をアンテナユニット１７を介し
てメモリユニットＭに書込むことができるので、後で各
製品の経歴を知ることができ、いわゆるクレーム対策に
容易に応じ得る。以上示した実施例では、計測装置とし
て３次元測定装置の例を示したが、この発明では、計測
装置として、１次元の計測装置、寸法以外の重量、体
積、色彩等各種の計測装置が利用されて良いこと勿論で
ある。
てメモリユニットＭに書込むことができるので、後で各
製品の経歴を知ることができ、いわゆるクレーム対策に
容易に応じ得る。以上示した実施例では、計測装置とし
て３次元測定装置の例を示したが、この発明では、計測
装置として、１次元の計測装置、寸法以外の重量、体
積、色彩等各種の計測装置が利用されて良いこと勿論で
ある。
［発明の効果］ 以上のごとき実施例の説明により理解されるように、要
するに本発明は、ライン１上を移送される製品Ｗを、上
記ライン１の途中の計測検査部３において計測検査する
製品計測検査装置にして、前記ライン１上を移送される
各製品Ｗに、外部と無線交信することで計測情報を読み
書き自在の態様で記憶し、かつ計測検査結果を書き込み
自在のメモリユニットＭを設け、前記計測検査部３にお
いて前記製品Ｗの計測検査を行う測定装置５を制御する
ＮＣ装置２５を備えてなる制御装置１９を設け、かつ前
記計測検査部３に、前記メモリユニットＭと無線交信す
るアンテナユニット１７を設けてなり、前記制御装置１
９は、前記アンテナユニット１７と接続されて前記メモ
リユニットＭ内の計測情報を読取る情報読取部２１と、
上記情報読取部２１で読取った計測情報に基いて前記製
品Ｗの計測位置Ｐを指定して当該計測位置Ｐを前記測定
装置５によって計測検査すべく前記ＮＣ装置２５に指令
すると共に、製品寸法及びその許容値を計測データ比較
部２７に提供する計測指令部２３と、上記計測指令部２
３から入力した前記製品寸法と前記ＮＣ装置２５から入
力される計測値との差を求め、この差を前記許容値と比
較して製品の良否を判定する前記計測データ比較部２７
と、この計測データ比較部２７の判定結果に基いて前記
ライン１の駆動装置４１を適宜駆動すると共に前記アン
テナユニット１７を介して前記メモリユニットＭに計測
値を書込む判定処理部２９と、前記ＮＣ装置２５とを備
えてなるものである。
するに本発明は、ライン１上を移送される製品Ｗを、上
記ライン１の途中の計測検査部３において計測検査する
製品計測検査装置にして、前記ライン１上を移送される
各製品Ｗに、外部と無線交信することで計測情報を読み
書き自在の態様で記憶し、かつ計測検査結果を書き込み
自在のメモリユニットＭを設け、前記計測検査部３にお
いて前記製品Ｗの計測検査を行う測定装置５を制御する
ＮＣ装置２５を備えてなる制御装置１９を設け、かつ前
記計測検査部３に、前記メモリユニットＭと無線交信す
るアンテナユニット１７を設けてなり、前記制御装置１
９は、前記アンテナユニット１７と接続されて前記メモ
リユニットＭ内の計測情報を読取る情報読取部２１と、
上記情報読取部２１で読取った計測情報に基いて前記製
品Ｗの計測位置Ｐを指定して当該計測位置Ｐを前記測定
装置５によって計測検査すべく前記ＮＣ装置２５に指令
すると共に、製品寸法及びその許容値を計測データ比較
部２７に提供する計測指令部２３と、上記計測指令部２
３から入力した前記製品寸法と前記ＮＣ装置２５から入
力される計測値との差を求め、この差を前記許容値と比
較して製品の良否を判定する前記計測データ比較部２７
と、この計測データ比較部２７の判定結果に基いて前記
ライン１の駆動装置４１を適宜駆動すると共に前記アン
テナユニット１７を介して前記メモリユニットＭに計測
値を書込む判定処理部２９と、前記ＮＣ装置２５とを備
えてなるものである。
上記構成より明らかなように、本発明においては、ライ
ン１上を移送される各製品ＷにはメモリユニットＭが設
けられており、このメモリユニットＭに記憶されている
計測情報は無線交信で読み取ることができるものであ
る。
ン１上を移送される各製品ＷにはメモリユニットＭが設
けられており、このメモリユニットＭに記憶されている
計測情報は無線交信で読み取ることができるものであ
る。
前記ライン１の計測検査部３には、上記メモリユニット
Ｍと無線交信するアンテナユニット１７が設けてあると
共に、製品Ｗの計測検査を行う測定装置５が配置してあ
り、この測定装置５は、前記メモリユニットＭから前記
アンテナユニット１７を介して読み取った計測情報に基
いて制御されるものである。
Ｍと無線交信するアンテナユニット１７が設けてあると
共に、製品Ｗの計測検査を行う測定装置５が配置してあ
り、この測定装置５は、前記メモリユニットＭから前記
アンテナユニット１７を介して読み取った計測情報に基
いて制御されるものである。
したがって、ライン１上を異なる製品が移送される場合
であっても、各製品毎にそれぞれ個別に計測検査するこ
とができるのである。また、その計測結果はメモリユニ
ットＭに書き込むことができると共に、計測結果に基い
て製品Ｗの良品をヒ判定してライン１上を移送できるの
で、計測結果を後工程で製品Ｗの処理のデータとして供
することができ、ＦＭＳに適した計測検査を行うことが
できるものである。
であっても、各製品毎にそれぞれ個別に計測検査するこ
とができるのである。また、その計測結果はメモリユニ
ットＭに書き込むことができると共に、計測結果に基い
て製品Ｗの良品をヒ判定してライン１上を移送できるの
で、計測結果を後工程で製品Ｗの処理のデータとして供
することができ、ＦＭＳに適した計測検査を行うことが
できるものである。
第１図はラインの計測検査部の平面図、第２図は第１図
のII−II矢視線で示す正面図、第３図は制御装置のブロ
ック図である。 Ｗ（Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３，Ｗ４）…製品 Ｍ（Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４）…メモリユニット １…ライン ３…計測検査部 ５…３次元測定装置 ７…コンベヤ １７…アンテナユニット １９…制御装置 ２１…情報読取部 ２３…計測指令部 ２５…ＮＣ装置 ２７…計測データ比較部 ２９…判定処理部
のII−II矢視線で示す正面図、第３図は制御装置のブロ
ック図である。 Ｗ（Ｗ１，Ｗ２，Ｗ３，Ｗ４）…製品 Ｍ（Ｍ１，Ｍ２，Ｍ３，Ｍ４）…メモリユニット １…ライン ３…計測検査部 ５…３次元測定装置 ７…コンベヤ １７…アンテナユニット １９…制御装置 ２１…情報読取部 ２３…計測指令部 ２５…ＮＣ装置 ２７…計測データ比較部 ２９…判定処理部
Claims (1)
- 【請求項１】ライン（１）上を移送される製品（Ｗ）
を、上記ライン（１）の途中の計測検査部（３）におい
て計測検査する製品計測検査装置にして、前記ライン
（１）上を移送される各製品（Ｗ）に、外部と無線交信
することで計測情報を読み書き自在の態様で記憶し、か
つ計測検査結果を書き込み自在のメモリユニット（Ｍ）
を設け、前記計測検査部（３）において前記製品（Ｗ）
の計測検査を行う測定装置（５）を制御するＮＣ装置
（２５）を備えてなる制御装置（１９）を設け、かつ前
記計測検査部（３）に、前記メモリユニット（Ｍ）と無
線交信するアンテナユニット（１７）を設けてなり、前
記制御装置（１９）は、前記アンテナユニット（１７）
と接続されて前記メモリユニット（Ｍ）内の計測情報を
読取る情報読取部（２１）と、上記情報読取部（２１）
で読取った計測情報に基いて前記製品（Ｗ）の計測位置
（Ｐ）を指定して当該計測位置（Ｐ）を前記測定装置
（５）によって計測検査すべく前記ＮＣ装置（２５）に
指令すると共に、製品寸法及びその許容値を計測データ
比較部（２７）に提供する計測指令部（２３）と、上記
計測指令部（２３）から入力した前記製品寸法と前記Ｎ
Ｃ装置（２５）から入力される計測値との差を求め、こ
の差を前記許容値と比較して製品の良否を判定する前記
計測データ比較部（２７）と、この計測データ比較部
（２７）の判定結果に基いて前記ライン（１）の駆動装
置（４１）を適宜駆動すると共に前記アンテナユニット
（１７）を介して前記メモリユニット（Ｍ）に計測値を
書込む判定処理部（２９）と、前記ＮＣ装置（２５）と
を備えてなることを特徴とする製品計測検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61079097A JPH0643904B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 製品計測検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61079097A JPH0643904B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 製品計測検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62237318A JPS62237318A (ja) | 1987-10-17 |
| JPH0643904B2 true JPH0643904B2 (ja) | 1994-06-08 |
Family
ID=13680374
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61079097A Expired - Lifetime JPH0643904B2 (ja) | 1986-04-08 | 1986-04-08 | 製品計測検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0643904B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6316663B2 (ja) * | 2014-05-30 | 2018-04-25 | 株式会社キーエンス | 座標測定装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56153214A (en) * | 1980-04-28 | 1981-11-27 | Tokyu Constr Co Ltd | Measuring and processing device for portable type landslide protection wall |
| JPS5890434A (ja) * | 1981-11-24 | 1983-05-30 | Nissan Motor Co Ltd | 補修ラインにおけるワ−ク情報表示方法 |
| JPS5929427A (ja) * | 1982-08-12 | 1984-02-16 | Nec Corp | 半導体装置の生産装置システム |
| JPS6086418A (ja) * | 1983-10-18 | 1985-05-16 | Fujitsu Ltd | 自動試験システム |
-
1986
- 1986-04-08 JP JP61079097A patent/JPH0643904B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62237318A (ja) | 1987-10-17 |
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