JPH0645908Y2 - 半導体装置の検査治具 - Google Patents
半導体装置の検査治具Info
- Publication number
- JPH0645908Y2 JPH0645908Y2 JP14600986U JP14600986U JPH0645908Y2 JP H0645908 Y2 JPH0645908 Y2 JP H0645908Y2 JP 14600986 U JP14600986 U JP 14600986U JP 14600986 U JP14600986 U JP 14600986U JP H0645908 Y2 JPH0645908 Y2 JP H0645908Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pigtail
- inspection jig
- semiconductor device
- guide
- cylindrical guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、ピグテール付半導体レーザダイオードモジュ
ールの動特性である電流光特性における光出力を検出す
る検査治具に関する。
ールの動特性である電流光特性における光出力を検出す
る検査治具に関する。
〔従来の技術〕 従来のこの種の光出力検査治具は、第２図（ａ）、
（ｂ）にそれぞれその正面図と断面図を示すように構成
され、この治具を用いて、第３図に試料として示すピグ
テール付半導体レーザダイオードモジュールの光出力特
性を検査している。すなわち、ピグテール付半導体レー
ザダイオードモジュール（以下:LDモジュール）のピグ
テール１は検査治具のガイドブロック２に設けられたＶ
溝を通して絶縁体ピンホールストッパ４まで押し込まれ
る。このとき、ピグテール１は板バネ３によりＶ溝に上
から押しつけられる。レーザダイオードから発生された
光はピグテール１からストッパ４に設けられたピンホー
ルを通過して受光器５に至り、この受光器５によって光
電気変換され、光対電流特性が評価される。
（ｂ）にそれぞれその正面図と断面図を示すように構成
され、この治具を用いて、第３図に試料として示すピグ
テール付半導体レーザダイオードモジュールの光出力特
性を検査している。すなわち、ピグテール付半導体レー
ザダイオードモジュール（以下:LDモジュール）のピグ
テール１は検査治具のガイドブロック２に設けられたＶ
溝を通して絶縁体ピンホールストッパ４まで押し込まれ
る。このとき、ピグテール１は板バネ３によりＶ溝に上
から押しつけられる。レーザダイオードから発生された
光はピグテール１からストッパ４に設けられたピンホー
ルを通過して受光器５に至り、この受光器５によって光
電気変換され、光対電流特性が評価される。
このように、従来の検査治具では、ピグテール１はＶ溝
ガイド２に上部から板バネ３によって押し付けられて固
定されるわけであるが、ピグテール１はステンレスチュ
ーブで作られており、このため堅さの違いにより板ばね
３が削られ、これによってＶ溝ガイドに付着するゴミ、
さらには治具の組立誤差よりピグテール１の中心部とス
トッパ４のピンホールとの位置がズレることがある。ま
た、ピンホールストッパ４は絶縁物質で出来ているた
め、多回にわたって検査することによって摩耗し、ピン
ホールが大きくなることによって、直接受光器５のカバ
ーガラスにピグテール１が接触することになり、その結
果、ガラスにキズが付きこのキズの乱反射によって測定
精度が悪くなり、作業能率が低下するという欠点があ
る。
ガイド２に上部から板バネ３によって押し付けられて固
定されるわけであるが、ピグテール１はステンレスチュ
ーブで作られており、このため堅さの違いにより板ばね
３が削られ、これによってＶ溝ガイドに付着するゴミ、
さらには治具の組立誤差よりピグテール１の中心部とス
トッパ４のピンホールとの位置がズレることがある。ま
た、ピンホールストッパ４は絶縁物質で出来ているた
め、多回にわたって検査することによって摩耗し、ピン
ホールが大きくなることによって、直接受光器５のカバ
ーガラスにピグテール１が接触することになり、その結
果、ガラスにキズが付きこのキズの乱反射によって測定
精度が悪くなり、作業能率が低下するという欠点があ
る。
本考案の目的は測定値の信頼性を落すことなく、作業性
が非常によくLDモジュールの動特性を測定することので
きる検査治具を提供することにある。
が非常によくLDモジュールの動特性を測定することので
きる検査治具を提供することにある。
本考案の検査治具は、ピグテール挿入部が円筒に形成さ
れ、かつその円筒ガイドにバネ性をもたした鋼質ボール
を設けるとともに同ガイドの終端部にゴミにげ穴を設け
ている。
れ、かつその円筒ガイドにバネ性をもたした鋼質ボール
を設けるとともに同ガイドの終端部にゴミにげ穴を設け
ている。
次に本考案について、図面を参照して説明する。
第１図は本考案の一実施例による検査治具を示してお
り、（ａ）はその正面図、（ｂ）はその断面図である。
本治具では、治具ブロックに円筒ガイド８を形成してお
り、その終端部にはゴミにげ穴10が設けられ、そらに鋼
薄板エッジストッパ11が設けられている。円筒ガイド８
の途中にはバネ性鋼質ボール９が設けられている。
り、（ａ）はその正面図、（ｂ）はその断面図である。
本治具では、治具ブロックに円筒ガイド８を形成してお
り、その終端部にはゴミにげ穴10が設けられ、そらに鋼
薄板エッジストッパ11が設けられている。円筒ガイド８
の途中にはバネ性鋼質ボール９が設けられている。
かかる検査治具による第３図のLDモジュールの光出力特
性の検査にあたっては、LDモジュールのピグテール１を
円筒ガイド８にさし込むわけであるが、ピグテール１は
バネ性鋼質ボール９により上部から押え付けられ、ま
た、鋼薄板エッジストッパ11によって位置決めされる。
さらに、ピグテール１の挿入に際し生じたゴミはゴミに
げ穴から排出されガイド８に付着したままとはならな
い。かくして位置決めされたピグテール１の中心部ファ
イバーから発光した光は絶縁体ピンホール板12を介して
受光器５に達し電気信号に変換される。
性の検査にあたっては、LDモジュールのピグテール１を
円筒ガイド８にさし込むわけであるが、ピグテール１は
バネ性鋼質ボール９により上部から押え付けられ、ま
た、鋼薄板エッジストッパ11によって位置決めされる。
さらに、ピグテール１の挿入に際し生じたゴミはゴミに
げ穴から排出されガイド８に付着したままとはならな
い。かくして位置決めされたピグテール１の中心部ファ
イバーから発光した光は絶縁体ピンホール板12を介して
受光器５に達し電気信号に変換される。
以上説明したように本考案による検査治具は、円筒ガイ
ド、バネ性鋼質ボール、ゴミにげ穴を備えており、また
鋼薄板エッジストッパを用いることにより、従来のもの
に比べて摩耗部が少なく高精度で安定に測定が出来、し
たがって、高い作業性が得られると同時に、保守運用両
面で経済的効果は大きい。
ド、バネ性鋼質ボール、ゴミにげ穴を備えており、また
鋼薄板エッジストッパを用いることにより、従来のもの
に比べて摩耗部が少なく高精度で安定に測定が出来、し
たがって、高い作業性が得られると同時に、保守運用両
面で経済的効果は大きい。
第１図（ａ）、（ｂ）は、本考案の一実施例の正面図と
断面図である。第２図（ａ）、（ｂ）は、従来の正面図
と断面図である。第３図は、試料であるピグテール付半
導体レーザダイオードモジュールの外観図である。 １……ピグテール ２……Ｖ溝ガイドブロック ３……板バネ ４……絶縁体ピンホールストッパ ５……受光器 ６……絶縁体ワッシャ ７……受光器おさえ板 ８……円筒ガイドブロック ９……バネ性鋼質ボール 10……ゴミにげ穴 11……鋼薄板エッジストッパ 12……絶縁体ピンホール板
断面図である。第２図（ａ）、（ｂ）は、従来の正面図
と断面図である。第３図は、試料であるピグテール付半
導体レーザダイオードモジュールの外観図である。 １……ピグテール ２……Ｖ溝ガイドブロック ３……板バネ ４……絶縁体ピンホールストッパ ５……受光器 ６……絶縁体ワッシャ ７……受光器おさえ板 ８……円筒ガイドブロック ９……バネ性鋼質ボール 10……ゴミにげ穴 11……鋼薄板エッジストッパ 12……絶縁体ピンホール板
Claims (1)
- 【請求項１】ピグテール付半導体レーザダイオードモジ
ュールの光出力特性検査に用いる検査治具であって、前
記ピグテールの光軸方向に光出力検出器を有し、かつ前
記ピグテールを挿入すべくブロックに円筒ガイドと前記
ピグテールを前記円筒ガイド内部で固定するバネ性鋼質
ボールとを有し、さらに、前記円筒ガイドの終端部にゴ
ミにげ穴を有することを特徴とする半導体装置の検査治
具。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14600986U JPH0645908Y2 (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 半導体装置の検査治具 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14600986U JPH0645908Y2 (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 半導体装置の検査治具 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6351288U JPS6351288U (ja) | 1988-04-06 |
| JPH0645908Y2 true JPH0645908Y2 (ja) | 1994-11-24 |
Family
ID=31058074
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14600986U Expired - Lifetime JPH0645908Y2 (ja) | 1986-09-22 | 1986-09-22 | 半導体装置の検査治具 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0645908Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2519089Y2 (ja) * | 1989-11-29 | 1996-12-04 | 京セラ株式会社 | 光半導体レセプタクル |
| JP2001264175A (ja) * | 2000-03-06 | 2001-09-26 | Koden Kagi Kofun Yugenkoshi | 赤外線温度導波装置 |
| JP5895235B2 (ja) * | 2011-10-07 | 2016-03-30 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 機器 |
-
1986
- 1986-09-22 JP JP14600986U patent/JPH0645908Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6351288U (ja) | 1988-04-06 |
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