JPH0647014A - Ｍｒによるイメージング方法 - Google Patents
Ｍｒによるイメージング方法Info
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- JPH0647014A JPH0647014A JP4204974A JP20497492A JPH0647014A JP H0647014 A JPH0647014 A JP H0647014A JP 4204974 A JP4204974 A JP 4204974A JP 20497492 A JP20497492 A JP 20497492A JP H0647014 A JPH0647014 A JP H0647014A
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Landscapes
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 定量性のある拡散強調イメージを得る。
【構成】 パルスシーケンスＢによりスポイリング期間
でのＴ１緩和の影響のみを含むデータＩＢを収集する
（Ｓ４）。パルスシーケンスＡにより拡散情報とそれに
重畳する渦電流の影響とスポイリング期間での縦緩和の
影響とを含むデータＩＡを収集する（Ｓ５）。パルスシ
ーケンスＣにより拡散情報とそれに重畳する渦電流の影
響とスポイリング期間での縦緩和の影響とを含むデータ
ＩＣを収集する（Ｓ６）。データＩＡからデータＩＢを
減算し，データＩＣからデータＩＢを減算し，それぞれ
の結果を平方し，加算し，開平する（Ｓ７）。 【効果】 スポイリング期間でのＴ１緩和による影響と
渦電流の影響とを含まない拡散強調イメージを得られ
る。
でのＴ１緩和の影響のみを含むデータＩＢを収集する
（Ｓ４）。パルスシーケンスＡにより拡散情報とそれに
重畳する渦電流の影響とスポイリング期間での縦緩和の
影響とを含むデータＩＡを収集する（Ｓ５）。パルスシ
ーケンスＣにより拡散情報とそれに重畳する渦電流の影
響とスポイリング期間での縦緩和の影響とを含むデータ
ＩＣを収集する（Ｓ６）。データＩＡからデータＩＢを
減算し，データＩＣからデータＩＢを減算し，それぞれ
の結果を平方し，加算し，開平する（Ｓ７）。 【効果】 スポイリング期間でのＴ１緩和による影響と
渦電流の影響とを含まない拡散強調イメージを得られ
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＭＲによるイメージ
ング方法に関し、さらに詳しくは、定量性のある拡散強
調イメージおよびＴ２強調イメージを得ることが出来る
イメージング方法に関する。
ング方法に関し、さらに詳しくは、定量性のある拡散強
調イメージおよびＴ２強調イメージを得ることが出来る
イメージング方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１０は、拡散強調イメージを得るため
の従来のパルスシーケンスの説明図である。このパルス
シーケンスは、前段のプリパレーションシーケンスＰＡ
と，後段のＦＲＡＳＨ法のパルスシーケンスＰＦとから
なる。プリパレーションシーケンスＰＡは、プリパレー
ション期間ＴＥｐと，スポイリング期間Ｔｓとからな
る。
の従来のパルスシーケンスの説明図である。このパルス
シーケンスは、前段のプリパレーションシーケンスＰＡ
と，後段のＦＲＡＳＨ法のパルスシーケンスＰＦとから
なる。プリパレーションシーケンスＰＡは、プリパレー
ション期間ＴＥｐと，スポイリング期間Ｔｓとからな
る。
【０００３】プリパレーション期間ＴＥｐでは、ＳＥ法
による{π/2[x]}→{π}→{π} のＲＦパルス系列を印加
すると共に，３番目のＲＦパルスである{π}パルスの前
後に同じ極性の拡散強調用勾配磁場ＤＧを印加する。な
お、{π/2[x]}は、[x]の送信位相をもつ{π/2}パルスを
表わすものとする。このプリパレーション期間ＴＥｐに
おいて、{π/2[x]}パルスで励起された横磁荷が、３番
目のＲＦパルスである{π}パルス の前後の拡散強調用
勾配磁場ＤＧにより、拡散に応じた信号減衰をするた
め、拡散情報が強調される。また、横磁荷は、Ｔ２減衰
もする。
による{π/2[x]}→{π}→{π} のＲＦパルス系列を印加
すると共に，３番目のＲＦパルスである{π}パルスの前
後に同じ極性の拡散強調用勾配磁場ＤＧを印加する。な
お、{π/2[x]}は、[x]の送信位相をもつ{π/2}パルスを
表わすものとする。このプリパレーション期間ＴＥｐに
おいて、{π/2[x]}パルスで励起された横磁荷が、３番
目のＲＦパルスである{π}パルス の前後の拡散強調用
勾配磁場ＤＧにより、拡散に応じた信号減衰をするた
め、拡散情報が強調される。また、横磁荷は、Ｔ２減衰
もする。
【０００４】スポイリング期間Ｔｓでは、{π/2[-x]}パ
ルスを印加すると共に、スポイラＳＰを印加する。前記
横磁荷は、前記{π/2[-x]}パルスにより縦磁荷に戻され
る。また、前記プリパレーション期間ＴＥｐに生じる縦
磁荷は、前記{π/2[-x]}パルスにより横磁荷となり、前
記スポイラＳＰにより消去される。また、前記{π/2[-
x]}パルスの不完全性により生じる不要成分は、前記ス
ポイラＳＰにより消去される。
ルスを印加すると共に、スポイラＳＰを印加する。前記
横磁荷は、前記{π/2[-x]}パルスにより縦磁荷に戻され
る。また、前記プリパレーション期間ＴＥｐに生じる縦
磁荷は、前記{π/2[-x]}パルスにより横磁荷となり、前
記スポイラＳＰにより消去される。また、前記{π/2[-
x]}パルスの不完全性により生じる不要成分は、前記ス
ポイラＳＰにより消去される。
【０００５】ＦＲＡＳＨ法のパルスシーケンスＰＦで
は、前記プリパレーション期間ＴＥｐで強調した拡散情
報をイメージに有効に反映させるため、最低周波数の位
相エンコード勾配からデータ収集していく。
は、前記プリパレーション期間ＴＥｐで強調した拡散情
報をイメージに有効に反映させるため、最低周波数の位
相エンコード勾配からデータ収集していく。
【０００６】さて、最低周波数の位相エンコード勾配で
収集されるデータの信号強度Ｉは、次式により近似され
る。 Ｉ=M0・exp{-b・D}・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1} …(１) ここで、M0は、平衡状態での磁荷の大きさである。ｂ
は、拡散強調用勾配磁場ＤＧの強度，印加時間などによ
り決まる定数である。Ｄは、被検体の拡散係数である。
T2は、横緩和の時定数である。T1は、縦緩和の時定数で
ある。そこで、上記(１)式の定数ｂを変えて（つまり、
強度，印加時間などの異なる拡散強調用勾配磁場ＤＧを
付加して）、データＩ１，Ｉ２を収集し、 Ｄ＝Log｛Ｉ１／Ｉ２｝／（ｂ２−ｂ１） …(２) により、拡散係数Ｄによる拡散強調イメージを得てい
る。
収集されるデータの信号強度Ｉは、次式により近似され
る。 Ｉ=M0・exp{-b・D}・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1} …(１) ここで、M0は、平衡状態での磁荷の大きさである。ｂ
は、拡散強調用勾配磁場ＤＧの強度，印加時間などによ
り決まる定数である。Ｄは、被検体の拡散係数である。
T2は、横緩和の時定数である。T1は、縦緩和の時定数で
ある。そこで、上記(１)式の定数ｂを変えて（つまり、
強度，印加時間などの異なる拡散強調用勾配磁場ＤＧを
付加して）、データＩ１，Ｉ２を収集し、 Ｄ＝Log｛Ｉ１／Ｉ２｝／（ｂ２−ｂ１） …(２) により、拡散係数Ｄによる拡散強調イメージを得てい
る。
【０００７】他方、Ｔ２強調イメージが診断に利用され
ているが、従来のＴ２強調イメージを得るパルスシーケ
ンスでは、スキャンに数分を要している。
ているが、従来のＴ２強調イメージを得るパルスシーケ
ンスでは、スキャンに数分を要している。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記(１)式は、スポイ
リング期間Ｔｓにおける縦緩和の影響を無視したもので
あった。すなわち、上記(１)式は、次式における右辺第
２項を無視したものであった。 Ｉ=M0・exp{-b・D}・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}＋M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(３) しかし、上式の右辺第２項は実際には無視できないほど
大きく、これを無視した従来技術では、拡散係数Ｄの定
量性が損われる問題点があった。
リング期間Ｔｓにおける縦緩和の影響を無視したもので
あった。すなわち、上記(１)式は、次式における右辺第
２項を無視したものであった。 Ｉ=M0・exp{-b・D}・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}＋M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(３) しかし、上式の右辺第２項は実際には無視できないほど
大きく、これを無視した従来技術では、拡散係数Ｄの定
量性が損われる問題点があった。
【０００９】さらに、例えばコイル構造によっては、拡
散強調用勾配磁場ＤＧにより生じる渦電流の影響があ
り、このときには、データの信号強度Ｉは、 Ｉ=M0・exp{-b・D}・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}cosθ＋M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(４) となる。すなわち、横磁荷の位相がθだけシフトするこ
とになり、拡散強調イメージ上にシェイディング（shad
ing） を発生させる問題点があった。
散強調用勾配磁場ＤＧにより生じる渦電流の影響があ
り、このときには、データの信号強度Ｉは、 Ｉ=M0・exp{-b・D}・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}cosθ＋M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(４) となる。すなわち、横磁荷の位相がθだけシフトするこ
とになり、拡散強調イメージ上にシェイディング（shad
ing） を発生させる問題点があった。
【００１０】他方、従来のＴ２強調イメージを得るパル
スシーケンスでは、スキャンに数分を要していたため、
スループットを改善する上での障害になったり，体動の
影響を受けたりするなどの問題点があった。
スシーケンスでは、スキャンに数分を要していたため、
スループットを改善する上での障害になったり，体動の
影響を受けたりするなどの問題点があった。
【００１１】そこで、この発明の第１の目的は、上記
(３)式の右辺第２項の影響（スポイリング期間でのＴ１
緩和の影響）を除去可能なＭＲによるイメージング方法
を提供することにある。また、この発明の第２の目的
は、上記(４)式におけるθの影響（拡散強調用勾配磁場
ＤＧにより生じる渦電流の影響）を除去可能なＭＲによ
るイメージング方法を提供することにある。さらに、こ
の発明の第３の目的は、数秒間でＴ２強調イメージを得
ることが可能なＭＲによるイメージング方法を提供する
ことにある。
(３)式の右辺第２項の影響（スポイリング期間でのＴ１
緩和の影響）を除去可能なＭＲによるイメージング方法
を提供することにある。また、この発明の第２の目的
は、上記(４)式におけるθの影響（拡散強調用勾配磁場
ＤＧにより生じる渦電流の影響）を除去可能なＭＲによ
るイメージング方法を提供することにある。さらに、こ
の発明の第３の目的は、数秒間でＴ２強調イメージを得
ることが可能なＭＲによるイメージング方法を提供する
ことにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、この発
明は、ＳＥ法によるＲＦパルス系列中の２番目以降の所
定のＲＦパルスの前後に同じ極性の拡散強調用勾配磁場
を印加するプリパレーション期間と，前記ＲＦパルス系
列中の１番目のＲＦパルスの送信位相を相殺する送信位
相を付与したＲＦパルスを印加し且つスポイル用勾配磁
場を印加するスポイリング期間とからなる第１のプリパ
レーションシーケンスを、高速にデータ収集可能なＦＲ
ＡＳＨ法などのパルスシーケンスの前段に付加した第１
のパルスシーケンスにより、第１のデータを収集する第
１のデータ収集ステップと、前記所定のＲＦパルスの前
後に逆の極性の磁荷消去用勾配磁場を印加するプリパレ
ーション期間と，前記スポイリング期間とからなる第２
のプリパレーションシーケンスを、前記高速にデータ収
集可能なパルスシーケンスの前段に付加した第２のパル
スシーケンスにより、第２のデータを収集する第２のデ
ータ収集ステップと、前記第１のデータから前記第２の
データを減算する減算ステップとを有することを特徴と
するＭＲによるイメージング方法を提供する。
明は、ＳＥ法によるＲＦパルス系列中の２番目以降の所
定のＲＦパルスの前後に同じ極性の拡散強調用勾配磁場
を印加するプリパレーション期間と，前記ＲＦパルス系
列中の１番目のＲＦパルスの送信位相を相殺する送信位
相を付与したＲＦパルスを印加し且つスポイル用勾配磁
場を印加するスポイリング期間とからなる第１のプリパ
レーションシーケンスを、高速にデータ収集可能なＦＲ
ＡＳＨ法などのパルスシーケンスの前段に付加した第１
のパルスシーケンスにより、第１のデータを収集する第
１のデータ収集ステップと、前記所定のＲＦパルスの前
後に逆の極性の磁荷消去用勾配磁場を印加するプリパレ
ーション期間と，前記スポイリング期間とからなる第２
のプリパレーションシーケンスを、前記高速にデータ収
集可能なパルスシーケンスの前段に付加した第２のパル
スシーケンスにより、第２のデータを収集する第２のデ
ータ収集ステップと、前記第１のデータから前記第２の
データを減算する減算ステップとを有することを特徴と
するＭＲによるイメージング方法を提供する。
【００１３】第２の観点では、この発明は、ＳＥ法によ
るＲＦパルス系列中の２番目以降の所定のＲＦパルスの
前後に同じ極性の拡散強調用勾配磁場を印加するプリパ
レーション期間と，前記ＲＦパルス系列中の１番目のＲ
Ｆパルスの送信位相と相殺する送信位相を付与したＲＦ
パルスを印加し且つスポイル用勾配磁場を印加するスポ
イリング期間とからなる第１のプリパレーションシーケ
ンスを、高速にデータ収集可能なＦＲＡＳＨ法などのパ
ルスシーケンスの前段に付加した第１のパルスシーケン
スにより、第１のデータを収集する第１のデータ収集ス
テップと、前記所定のＲＦパルスの前後に逆の極性の磁
荷消去用勾配磁場を印加するプリパレーション期間と，
前記スポイリング期間とからなる第２のプリパレーショ
ンシーケンスを、前記高速にデータ収集可能なパルスシ
ーケンスの前段に付加した第２のパルスシーケンスによ
り、第２のデータを収集する第２のデータ収集ステップ
と、前記第１のプリパレーションシーケンス中のスポイ
リング期間のＲＦパルスの送信位相を 90゜だけ異ならせ
た第３のプリパレーションシーケンスを、前記高速にデ
ータ収集可能なパルスシーケンスの前段に付加した第３
のパルスシーケンスにより、第３のデータを収集する第
３のデータ収集ステップと、前記第１のデータから前記
第２のデータを減算した第１の減算データと，前記第３
のデータから前記第２のデータを減算した第２の減算デ
ータとを，平方したのち加算する平方加算ステップとを
有することを特徴とするＭＲによるイメージング方法を
提供する。
るＲＦパルス系列中の２番目以降の所定のＲＦパルスの
前後に同じ極性の拡散強調用勾配磁場を印加するプリパ
レーション期間と，前記ＲＦパルス系列中の１番目のＲ
Ｆパルスの送信位相と相殺する送信位相を付与したＲＦ
パルスを印加し且つスポイル用勾配磁場を印加するスポ
イリング期間とからなる第１のプリパレーションシーケ
ンスを、高速にデータ収集可能なＦＲＡＳＨ法などのパ
ルスシーケンスの前段に付加した第１のパルスシーケン
スにより、第１のデータを収集する第１のデータ収集ス
テップと、前記所定のＲＦパルスの前後に逆の極性の磁
荷消去用勾配磁場を印加するプリパレーション期間と，
前記スポイリング期間とからなる第２のプリパレーショ
ンシーケンスを、前記高速にデータ収集可能なパルスシ
ーケンスの前段に付加した第２のパルスシーケンスによ
り、第２のデータを収集する第２のデータ収集ステップ
と、前記第１のプリパレーションシーケンス中のスポイ
リング期間のＲＦパルスの送信位相を 90゜だけ異ならせ
た第３のプリパレーションシーケンスを、前記高速にデ
ータ収集可能なパルスシーケンスの前段に付加した第３
のパルスシーケンスにより、第３のデータを収集する第
３のデータ収集ステップと、前記第１のデータから前記
第２のデータを減算した第１の減算データと，前記第３
のデータから前記第２のデータを減算した第２の減算デ
ータとを，平方したのち加算する平方加算ステップとを
有することを特徴とするＭＲによるイメージング方法を
提供する。
【００１４】第３の観点では、この発明は、ＳＥ法によ
るＲＦパルス系列を印加するプリパレーション期間と，
前記ＲＦパルス系列中の１番目のＲＦパルスの送信位相
を相殺する送信位相を付与したＲＦパルスを印加し且つ
スポイル用勾配磁場を印加するスポイリング期間とから
なるプリパレーションシーケンスを、高速にデータ収集
可能なＦＲＡＳＨ法などのパルスシーケンスの前段に付
加したイメージ用パルスシーケンスにより、イメージ用
データを収集するイメージ用データ収集ステップと、Ｓ
Ｅ法によるＲＦパルス系列中の２番目以降のＲＦパルス
の前後に逆の極性の磁荷消去用勾配磁場を印加するプリ
パレーション期間と，前記ＲＦパルス系列中の１番目の
ＲＦパルスの送信位相を相殺する送信位相を付与したＲ
Ｆパルスを印加し且つスポイル用勾配磁場を印加するス
ポイリング期間とからなる第２のプリパレーションシー
ケンスを、前記高速にデータ収集可能なパルスシーケン
スの前段に付加した補正用パルスシーケンスにより、補
正用データを収集する補正用データ収集ステップと、前
記イメージ用データから前記補正用データを減算する減
算ステップとを有することを特徴とするＭＲによるイメ
ージング方法を提供する。
るＲＦパルス系列を印加するプリパレーション期間と，
前記ＲＦパルス系列中の１番目のＲＦパルスの送信位相
を相殺する送信位相を付与したＲＦパルスを印加し且つ
スポイル用勾配磁場を印加するスポイリング期間とから
なるプリパレーションシーケンスを、高速にデータ収集
可能なＦＲＡＳＨ法などのパルスシーケンスの前段に付
加したイメージ用パルスシーケンスにより、イメージ用
データを収集するイメージ用データ収集ステップと、Ｓ
Ｅ法によるＲＦパルス系列中の２番目以降のＲＦパルス
の前後に逆の極性の磁荷消去用勾配磁場を印加するプリ
パレーション期間と，前記ＲＦパルス系列中の１番目の
ＲＦパルスの送信位相を相殺する送信位相を付与したＲ
Ｆパルスを印加し且つスポイル用勾配磁場を印加するス
ポイリング期間とからなる第２のプリパレーションシー
ケンスを、前記高速にデータ収集可能なパルスシーケン
スの前段に付加した補正用パルスシーケンスにより、補
正用データを収集する補正用データ収集ステップと、前
記イメージ用データから前記補正用データを減算する減
算ステップとを有することを特徴とするＭＲによるイメ
ージング方法を提供する。
【００１５】
【作用】上記第１の観点によるこの発明のＭＲによるイ
メージング方法は、拡散強調用勾配磁場ＤＧにより生じ
る渦電流の影響を無視できる場合に適用される。まず、
第１のパルスシーケンスにて、従来と同様にして、第１
のデータＩＡを収集する。この第１のデータＩＡは、上
記(３)式で表される。次に、第２のパルスシーケンスに
て、{π}パルスの前後に逆の極性の磁荷消去用勾配磁場
を印加して、第２のデータＩＢを収集する。{π}パルス
の前後で拡散強調用勾配磁場の極性を逆にするので、横
磁荷がｘｙ平面内で集束せず、完全にばらまかれてしま
う。このため、上記(３)式の右辺第１項が“０”にな
り、右辺第２項のみが残る。すなわち、 ＩＢ=M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(５) となる。次に、第１のデータＩＡから第２のデータＩＢ
を減算すれば、上記(３)式の右辺第２項が消え、上記
(１)となる。従って、スポイリング期間でのＴ１緩和の
影響を除去可能となる。
メージング方法は、拡散強調用勾配磁場ＤＧにより生じ
る渦電流の影響を無視できる場合に適用される。まず、
第１のパルスシーケンスにて、従来と同様にして、第１
のデータＩＡを収集する。この第１のデータＩＡは、上
記(３)式で表される。次に、第２のパルスシーケンスに
て、{π}パルスの前後に逆の極性の磁荷消去用勾配磁場
を印加して、第２のデータＩＢを収集する。{π}パルス
の前後で拡散強調用勾配磁場の極性を逆にするので、横
磁荷がｘｙ平面内で集束せず、完全にばらまかれてしま
う。このため、上記(３)式の右辺第１項が“０”にな
り、右辺第２項のみが残る。すなわち、 ＩＢ=M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(５) となる。次に、第１のデータＩＡから第２のデータＩＢ
を減算すれば、上記(３)式の右辺第２項が消え、上記
(１)となる。従って、スポイリング期間でのＴ１緩和の
影響を除去可能となる。
【００１６】上記第２の観点によるこの発明のＭＲによ
るイメージング方法は、拡散強調用勾配磁場ＤＧにより
生じる渦電流の影響を無視できない場合に適用される。
まず、第１のパルスシーケンスにて、従来と同様にし
て、第１のデータＩＡを収集する。この第１のデータＩ
Ａは、上記(３)式で表される。次に、第２のパルスシー
ケンスにて、{π}パルスの前後に逆の極性の磁荷消去用
勾配磁場を印加して、第２のデータＩＢを収集する。こ
の第２のデータＩＢは、上記(５)式で表される。次に、
第３のパルスシーケンスにて、スポイリング期間のＲＦ
パルスの送信位相を 90゜だけ変える以外は上記第１のパ
ルスシーケンスと同様にして、第３のデータＩＣを収集
する。この第３のデータＩＣは、 ＩＣ=M0・exp{-b・D}・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}sinθ＋M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(６) となる。次に、第１のデータＩＡから第２のデータＩＢ
を減算すれば、上記(３)式の右辺第２項が消える。ま
た、第３のデータＩＣから第２のデータＩＢを減算すれ
ば、上記(６)式の右辺第２項が消える。さらに、それら
減算結果を平方したのち加算し、さらに開平すれば、θ
の項が消え、上記(１)となる。従って、拡散強調用勾配
磁場ＤＧにより生じる渦電流の影響およびスポイリング
期間でのＴ１緩和の影響を除去可能となる。
るイメージング方法は、拡散強調用勾配磁場ＤＧにより
生じる渦電流の影響を無視できない場合に適用される。
まず、第１のパルスシーケンスにて、従来と同様にし
て、第１のデータＩＡを収集する。この第１のデータＩ
Ａは、上記(３)式で表される。次に、第２のパルスシー
ケンスにて、{π}パルスの前後に逆の極性の磁荷消去用
勾配磁場を印加して、第２のデータＩＢを収集する。こ
の第２のデータＩＢは、上記(５)式で表される。次に、
第３のパルスシーケンスにて、スポイリング期間のＲＦ
パルスの送信位相を 90゜だけ変える以外は上記第１のパ
ルスシーケンスと同様にして、第３のデータＩＣを収集
する。この第３のデータＩＣは、 ＩＣ=M0・exp{-b・D}・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}sinθ＋M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(６) となる。次に、第１のデータＩＡから第２のデータＩＢ
を減算すれば、上記(３)式の右辺第２項が消える。ま
た、第３のデータＩＣから第２のデータＩＢを減算すれ
ば、上記(６)式の右辺第２項が消える。さらに、それら
減算結果を平方したのち加算し、さらに開平すれば、θ
の項が消え、上記(１)となる。従って、拡散強調用勾配
磁場ＤＧにより生じる渦電流の影響およびスポイリング
期間でのＴ１緩和の影響を除去可能となる。
【００１７】上記第３の観点によるこの発明のＭＲによ
るイメージング方法は、Ｔ２強調イメージを高速に得た
い場合に適用される。まず、イメージ用パルスシーケン
スにて、イメージ用データＩＥを収集する。このイメー
ジ用データＩＥは、上記(３)式でｂ＝０としたものであ
るから、 ＩＥ=M0・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}＋M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(７) となる。次に、補正用パルスシーケンスにて、補正用デ
ータＩＢを収集する。補正用パルスシーケンスは、上記
第２のパルスシーケンスと同じであるから、補正用デー
タＩＢは、上記(５)式で表される。次に、イメージ用デ
ータＩＥから補正用データＩＢを減算すれば、上記(７)
式の右辺第２項が消え、右辺第１項のみ残る。ここで、
生体内組織のＴ１とＴ２は正の相関があるため、右辺第
１項のＴ１の項は、Ｔ２によるコントラストをマスクし
ない方向に寄与する。従って、Ｔ２強調画像を得られる
が、スキャンに要する時間は数秒以下で済む。
るイメージング方法は、Ｔ２強調イメージを高速に得た
い場合に適用される。まず、イメージ用パルスシーケン
スにて、イメージ用データＩＥを収集する。このイメー
ジ用データＩＥは、上記(３)式でｂ＝０としたものであ
るから、 ＩＥ=M0・exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}＋M0・{1-exp{-Ts/T1}] …(７) となる。次に、補正用パルスシーケンスにて、補正用デ
ータＩＢを収集する。補正用パルスシーケンスは、上記
第２のパルスシーケンスと同じであるから、補正用デー
タＩＢは、上記(５)式で表される。次に、イメージ用デ
ータＩＥから補正用データＩＢを減算すれば、上記(７)
式の右辺第２項が消え、右辺第１項のみ残る。ここで、
生体内組織のＴ１とＴ２は正の相関があるため、右辺第
１項のＴ１の項は、Ｔ２によるコントラストをマスクし
ない方向に寄与する。従って、Ｔ２強調画像を得られる
が、スキャンに要する時間は数秒以下で済む。
【００１８】
【実施例】以下、図に示す実施例に基づいてこの発明を
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限
定されるものではない。図１は、この発明のイメージン
グ方法を実施するためのＭＲＩ装置１のブロック図であ
る。計算機２は、操作卓１３からの指示に基づき、全体
の作動を制御する。シーケンスコントローラ３は、記憶
しているシーケンスに基づいて、勾配磁場駆動回路４を
作動させ、マグネットアセンブリ５の静磁場コイル，勾
配磁場コイルで静磁場，勾配磁場を発生させる。また、
ゲート変調回路７を制御し、ＲＦ発振回路６で発生した
ＲＦパルスを所定の波形に変調して、ＲＦ電力増幅器８
からマグネットアセンブリ５の送信コイルに加える。
さらに詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限
定されるものではない。図１は、この発明のイメージン
グ方法を実施するためのＭＲＩ装置１のブロック図であ
る。計算機２は、操作卓１３からの指示に基づき、全体
の作動を制御する。シーケンスコントローラ３は、記憶
しているシーケンスに基づいて、勾配磁場駆動回路４を
作動させ、マグネットアセンブリ５の静磁場コイル，勾
配磁場コイルで静磁場，勾配磁場を発生させる。また、
ゲート変調回路７を制御し、ＲＦ発振回路６で発生した
ＲＦパルスを所定の波形に変調して、ＲＦ電力増幅器８
からマグネットアセンブリ５の送信コイルに加える。
【００１９】マグネットアセンブリ５の受信コイルで得
られたＮＭＲ信号は、前置増幅器９を介して位相検波器
１０に入力され、さらにＡＤ変換器１１を介して計算機
２に入力される。計算機２は、ＡＤ変換器１１から得た
ＮＭＲ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表
示装置１２で表示する。この発明のイメージング方法
は、計算機２およびシーケンスコントローラ３に記憶さ
れた手順により実施される。
られたＮＭＲ信号は、前置増幅器９を介して位相検波器
１０に入力され、さらにＡＤ変換器１１を介して計算機
２に入力される。計算機２は、ＡＤ変換器１１から得た
ＮＭＲ信号のデータに基づき、イメージを再構成し、表
示装置１２で表示する。この発明のイメージング方法
は、計算機２およびシーケンスコントローラ３に記憶さ
れた手順により実施される。
【００２０】ユーザが、マグネットアセンブリ５に被検
体をセッティングした後、操作卓１３を用いて、指示を
与えると、計算機２は図２に示すフロー図の処理を実行
する。ステップＶ１では、パルスシーケンスＡ，Ｂを作
成する。図３，図４に、パルスシーケンスＡ，Ｂを例示
する。図３のパルスシーケンスＡは、従来のパルスシー
ケンスＡ（図１０）と同じである。すなわち、このパル
スシーケンスＡにより収集されるデータＩＡは、上記
（３）式で表される。図４のパルスシーケンスＢは、拡
散強調用勾配磁場ＤＧ，ＤＧの極性が{π}パルスの前後
で反転した拡散強調用勾配磁場ＤＧ，ｄｇであることを
除けば、前記パルスシーケンスＡと同様である。ただ
し、このパルスシーケンスＢにより収集されるデータＩ
Ｂは、上記(５)式で表される。
体をセッティングした後、操作卓１３を用いて、指示を
与えると、計算機２は図２に示すフロー図の処理を実行
する。ステップＶ１では、パルスシーケンスＡ，Ｂを作
成する。図３，図４に、パルスシーケンスＡ，Ｂを例示
する。図３のパルスシーケンスＡは、従来のパルスシー
ケンスＡ（図１０）と同じである。すなわち、このパル
スシーケンスＡにより収集されるデータＩＡは、上記
（３）式で表される。図４のパルスシーケンスＢは、拡
散強調用勾配磁場ＤＧ，ＤＧの極性が{π}パルスの前後
で反転した拡散強調用勾配磁場ＤＧ，ｄｇであることを
除けば、前記パルスシーケンスＡと同様である。ただ
し、このパルスシーケンスＢにより収集されるデータＩ
Ｂは、上記(５)式で表される。
【００２１】ステップＶ２では、処理用パラメータｋ＝
１とする。ステップＶ３では、ｂ＝ｂ１となる拡散強調
用勾配磁場ＤＧ１を設定する。
１とする。ステップＶ３では、ｂ＝ｂ１となる拡散強調
用勾配磁場ＤＧ１を設定する。
【００２２】ステップＶ４では、パルスシーケンスＢに
よりデータＩＢを収集する。収集されたデータＩＢは、
上記(５)式で表される。ステップＶ５では、パルスシー
ケンスＡによりデータＩＡを収集する。収集されたデー
タＩＡは、上記(３)式で表される。ステップＶ６では、
データＩＡからデータＩＢを減算し、結果をデータＩｋ
とする。１回目はＩｋ＝Ｉ１である。ステップＶ７で
は、ｋ＝２か判定する。ｋ≠２なら、ステップＶ８へ進
む。ｋ＝２なら、ステップＶ１０へ進む。
よりデータＩＢを収集する。収集されたデータＩＢは、
上記(５)式で表される。ステップＶ５では、パルスシー
ケンスＡによりデータＩＡを収集する。収集されたデー
タＩＡは、上記(３)式で表される。ステップＶ６では、
データＩＡからデータＩＢを減算し、結果をデータＩｋ
とする。１回目はＩｋ＝Ｉ１である。ステップＶ７で
は、ｋ＝２か判定する。ｋ≠２なら、ステップＶ８へ進
む。ｋ＝２なら、ステップＶ１０へ進む。
【００２３】ステップＶ８では、処理用パラメータｋ＝
２とする。ステップＶ９では、ｂ＝ｂ２となる拡散強調
用勾配磁場ＤＧ２を設定する。そして、上記ステップＶ
５へ戻る。２回目のステップＶ５，Ｖ６によりデータＩ
２が得られる。ステップＶ１０では、上記(２)式により
拡散強調イメージを得る。
２とする。ステップＶ９では、ｂ＝ｂ２となる拡散強調
用勾配磁場ＤＧ２を設定する。そして、上記ステップＶ
５へ戻る。２回目のステップＶ５，Ｖ６によりデータＩ
２が得られる。ステップＶ１０では、上記(２)式により
拡散強調イメージを得る。
【００２４】他方、ユーザが、マグネットアセンブリ５
に被検体をセッティングした後、操作卓１３を用いて、
別の指示を与えると、計算機２は図５に示すフロー図の
処理を実行する。ステップＳ１では、パルスシーケンス
Ａ，Ｂ，Ｃを作成する。パルスシーケンスＡ，Ｂは、図
３，図４に示したものである。図６に、パルスシーケン
スＣを例示する。図６のパルスシーケンスＣは、前記パ
ルスシーケンスＡの{π/2[-x]}パルスに代えて、それと
送信位相が90゜だけ異なる{π/2[y]}パルスを用いている
ことを除けば、前記パルスシーケンスＡと同様である。
このパルスシーケンスＣにより収集されるデータＩＣ
は、上記(６)式で表される。図７の（ａ），（ｂ）に、
パルスシーケンスＡとパルスシーケンスＣの違いを概念
的に示す。
に被検体をセッティングした後、操作卓１３を用いて、
別の指示を与えると、計算機２は図５に示すフロー図の
処理を実行する。ステップＳ１では、パルスシーケンス
Ａ，Ｂ，Ｃを作成する。パルスシーケンスＡ，Ｂは、図
３，図４に示したものである。図６に、パルスシーケン
スＣを例示する。図６のパルスシーケンスＣは、前記パ
ルスシーケンスＡの{π/2[-x]}パルスに代えて、それと
送信位相が90゜だけ異なる{π/2[y]}パルスを用いている
ことを除けば、前記パルスシーケンスＡと同様である。
このパルスシーケンスＣにより収集されるデータＩＣ
は、上記(６)式で表される。図７の（ａ），（ｂ）に、
パルスシーケンスＡとパルスシーケンスＣの違いを概念
的に示す。
【００２５】ステップＳ２では、処理用パラメータｋ＝
１とする。ステップＳ３では、ｂ＝ｂ１となる拡散強調
用勾配磁場ＤＧ１を設定する。
１とする。ステップＳ３では、ｂ＝ｂ１となる拡散強調
用勾配磁場ＤＧ１を設定する。
【００２６】ステップＳ４では、パルスシーケンスＢに
よりデータＩＢを収集する。収集されたデータＩＢは、
上記(５)式で表される。ステップＳ５では、パルスシー
ケンスＡによりデータＩＡを収集する。収集されたデー
タＩＡは、上記(３)式で表される。ステップＳ６では、
パルスシーケンスＣによりデータＩＣを収集する。収集
されたデータＩＣは、上記(６)式で表される。ステップ
Ｓ７では、データＩＡからデータＩＢを減算し、データ
ＩＣからデータＩＢを減算し、それぞれの結果を平方し
たのち加算し、さらに開平してデータＩｋとする。１回
目はＩｋ＝Ｉ１である。ステップＳ８では、ｋ＝２か判
定する。ｋ≠２なら、ステップＳ９へ進む。ｋ＝２な
ら、ステップＳ１１へ進む。
よりデータＩＢを収集する。収集されたデータＩＢは、
上記(５)式で表される。ステップＳ５では、パルスシー
ケンスＡによりデータＩＡを収集する。収集されたデー
タＩＡは、上記(３)式で表される。ステップＳ６では、
パルスシーケンスＣによりデータＩＣを収集する。収集
されたデータＩＣは、上記(６)式で表される。ステップ
Ｓ７では、データＩＡからデータＩＢを減算し、データ
ＩＣからデータＩＢを減算し、それぞれの結果を平方し
たのち加算し、さらに開平してデータＩｋとする。１回
目はＩｋ＝Ｉ１である。ステップＳ８では、ｋ＝２か判
定する。ｋ≠２なら、ステップＳ９へ進む。ｋ＝２な
ら、ステップＳ１１へ進む。
【００２７】ステップＳ９では、処理用パラメータｋ＝
２とする。ステップＳ１０では、ｂ＝ｂ２となる拡散強
調用勾配磁場ＤＧ２を設定する。そして、上記ステップ
Ｓ５へ戻る。２回目のステップＳ５，Ｓ６，Ｓ７により
データＩ２が得られる。ステップＶ１１では、上記(２)
式により拡散強調イメージを得る。
２とする。ステップＳ１０では、ｂ＝ｂ２となる拡散強
調用勾配磁場ＤＧ２を設定する。そして、上記ステップ
Ｓ５へ戻る。２回目のステップＳ５，Ｓ６，Ｓ７により
データＩ２が得られる。ステップＶ１１では、上記(２)
式により拡散強調イメージを得る。
【００２８】さて、ユーザが、マグネットアセンブリ５
に被検体をセッティングした後、操作卓１３を用いて、
さらに別の指示を与えると、計算機２は図８に示すフロ
ー図の処理を実行する。ステップＱ１では、パルスシー
ケンスＥ，Ｂを作成する。図９に、パルスシーケンスＥ
を例示する。パルスシーケンスＢは、図４に示したもの
である。図９に示すパルスシーケンスＥにおいて、プリ
パレーションシーケンスＰＥは、拡散強調用勾配磁場Ｄ
Ｇが印加されないことを除いて、前記プリパレーション
シーケンスＰＡ（図３）と同様である。プリパレーショ
ンシーケンスＰＥの後段のパルスシーケンスＰＦは、Ｆ
ＲＡＳＨ法のパルスシーケンスである。このパルスシー
ケンスＥにより収集したデータＩＥは、上記(７)式で表
される。
に被検体をセッティングした後、操作卓１３を用いて、
さらに別の指示を与えると、計算機２は図８に示すフロ
ー図の処理を実行する。ステップＱ１では、パルスシー
ケンスＥ，Ｂを作成する。図９に、パルスシーケンスＥ
を例示する。パルスシーケンスＢは、図４に示したもの
である。図９に示すパルスシーケンスＥにおいて、プリ
パレーションシーケンスＰＥは、拡散強調用勾配磁場Ｄ
Ｇが印加されないことを除いて、前記プリパレーション
シーケンスＰＡ（図３）と同様である。プリパレーショ
ンシーケンスＰＥの後段のパルスシーケンスＰＦは、Ｆ
ＲＡＳＨ法のパルスシーケンスである。このパルスシー
ケンスＥにより収集したデータＩＥは、上記(７)式で表
される。
【００２９】ステップＱ２では、パルスシーケンスＥに
よりデータＩＥを収集する。収集されたデータＩＥは、
上記(７)式で表される。ステップＱ３では、パルスシー
ケンスＢによりデータＩＢを収集する。収集されたデー
タＩＢは、上記(５)式で表される。ステップＱ４では、
データＩＥからデータＩＢを減算し、結果をデータＩｒ
とする。このデータＩｒは、次式で表される。Ｉｒ=M0・
exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}
…(８)すなわち、Ｔ２強調イメージを得ること
が出来る。このときのスキャンの所要時間は１秒以下で
済み、非常に短時間である。
よりデータＩＥを収集する。収集されたデータＩＥは、
上記(７)式で表される。ステップＱ３では、パルスシー
ケンスＢによりデータＩＢを収集する。収集されたデー
タＩＢは、上記(５)式で表される。ステップＱ４では、
データＩＥからデータＩＢを減算し、結果をデータＩｒ
とする。このデータＩｒは、次式で表される。Ｉｒ=M0・
exp{-TEp/T2}・exp{-Ts/T1}
…(８)すなわち、Ｔ２強調イメージを得ること
が出来る。このときのスキャンの所要時間は１秒以下で
済み、非常に短時間である。
【００３０】
【発明の効果】この発明のＭＲによるイメージング方法
によれば、スポイリング期間でのＴ１緩和の影響を除去
し、定量性のよい拡散強調イメージを得られる。また、
拡散強調用勾配磁場ＤＧにより生じる渦電流の影響を除
去し、定量性のよい拡散強調イメージを得られる。さら
に、数秒以下でＴ２強調イメージを得ることが出来るよ
うになる。
によれば、スポイリング期間でのＴ１緩和の影響を除去
し、定量性のよい拡散強調イメージを得られる。また、
拡散強調用勾配磁場ＤＧにより生じる渦電流の影響を除
去し、定量性のよい拡散強調イメージを得られる。さら
に、数秒以下でＴ２強調イメージを得ることが出来るよ
うになる。
【図１】この発明のＭＲによるイメージング方法を実施
するためのＭＲＩ装置のブロック図である。
するためのＭＲＩ装置のブロック図である。
【図２】この発明の一実施例のイメージング方法のフロ
ー図である。
ー図である。
【図３】この発明のイメージング方法に用いるパルスシ
ーケンスの例示図である。
ーケンスの例示図である。
【図４】この発明のイメージング方法に用いるパルスシ
ーケンスの例示図である。
ーケンスの例示図である。
【図５】この発明の一実施例のイメージング方法の他の
フロー図である。
フロー図である。
【図６】この発明のイメージング方法に用いるパルスシ
ーケンスの例示図である。
ーケンスの例示図である。
【図７】図３と図６のパルスシーケンスの効果上の違い
を示す概念図である。
を示す概念図である。
【図８】この発明の一実施例のイメージング方法の他の
フロー図である。
フロー図である。
【図９】この発明のイメージング方法に用いるパルスシ
ーケンスの例示図である。
ーケンスの例示図である。
【図１０】従来の拡散強調イメージを得るためのパルス
シーケンスの例示図である。
シーケンスの例示図である。
１ ＭＲＩ装置 ２ 計算機 ３ シーケンスコントローラ Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｅ パルスシーケンス ＤＧ，ｄｇ 拡散強調用勾配磁場 ＰＡ，ＰＢ，ＰＣ，ＰＥ プリパレーションシーケン
ス ＰＦ ＦＲＡＳＨ法のパルスシーケンス ＳＰ スポイラ ＴＥｐ プリパレーション期間 Ｔｓ スポイリング期間
ス ＰＦ ＦＲＡＳＨ法のパルスシーケンス ＳＰ スポイラ ＴＥｐ プリパレーション期間 Ｔｓ スポイリング期間
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 9118−2Ｊ Ｇ０１Ｎ 24/08 Ｙ
Claims (3)
- 【請求項１】 ＳＥ法によるＲＦパルス系列中の２番目
以降の所定のＲＦパルスの前後に同じ極性の拡散強調用
勾配磁場を印加するプリパレーション期間と，前記ＲＦ
パルス系列中の１番目のＲＦパルスの送信位相を相殺す
る送信位相を付与したＲＦパルスを印加し且つスポイル
用勾配磁場を印加するスポイリング期間とからなる第１
のプリパレーションシーケンスを、高速にデータ収集可
能なＦＲＡＳＨ法などのパルスシーケンスの前段に付加
した第１のパルスシーケンスにより、第１のデータを収
集する第１のデータ収集ステップと、 前記所定のＲＦパルスの前後に逆の極性の磁荷消去用勾
配磁場を印加するプリパレーション期間と，前記スポイ
リング期間とからなる第２のプリパレーションシーケン
スを、前記高速にデータ収集可能なパルスシーケンスの
前段に付加した第２のパルスシーケンスにより、第２の
データを収集する第２のデータ収集ステップと、 前記第１のデータから前記第２のデータを減算する減算
ステップと、を有することを特徴とするＭＲによるイメ
ージング方法。 - 【請求項２】 ＳＥ法によるＲＦパルス系列中の２番目
以降の所定のＲＦパルスの前後に同じ極性の拡散強調用
勾配磁場を印加するプリパレーション期間と，前記ＲＦ
パルス系列中の１番目のＲＦパルスの送信位相と相殺す
る送信位相を付与したＲＦパルスを印加し且つスポイル
用勾配磁場を印加するスポイリング期間とからなる第１
のプリパレーションシーケンスを、高速にデータ収集可
能なＦＲＡＳＨ法などのパルスシーケンスの前段に付加
した第１のパルスシーケンスにより、第１のデータを収
集する第１のデータ収集ステップと、 前記所定のＲＦパルスの前後に逆の極性の磁荷消去用勾
配磁場を印加するプリパレーション期間と，前記スポイ
リング期間とからなる第２のプリパレーションシーケン
スを、前記高速にデータ収集可能なパルスシーケンスの
前段に付加した第２のパルスシーケンスにより、第２の
データを収集する第２のデータ収集ステップと、 前記第１のプリパレーションシーケンス中のスポイリン
グ期間のＲＦパルスの送信位相を 90゜だけ異ならせた第
３のプリパレーションシーケンスを、前記高速にデータ
収集可能なパルスシーケンスの前段に付加した第３のパ
ルスシーケンスにより、第３のデータを収集する第３の
データ収集ステップと、 前記第１のデータから前記第２のデータを減算した第１
の減算データと，前記第３のデータから前記第２のデー
タを減算した第２の減算データとを，平方したのち加算
する平方加算ステップと、を有することを特徴とするＭ
Ｒによるイメージング方法。 - 【請求項３】 ＳＥ法によるＲＦパルス系列を印加する
プリパレーション期間と，前記ＲＦパルス系列中の１番
目のＲＦパルスの送信位相を相殺する送信位相を付与し
たＲＦパルスを印加し且つスポイル用勾配磁場を印加す
るスポイリング期間とからなるプリパレーションシーケ
ンスを、高速にデータ収集可能なＦＲＡＳＨ法などのパ
ルスシーケンスの前段に付加したイメージ用パルスシー
ケンスにより、イメージ用データを収集するイメージ用
データ収集ステップと、 ＳＥ法によるＲＦパルス系列中の２番目以降のＲＦパル
スの前後に逆の極性の磁荷消去用勾配磁場を印加するプ
リパレーション期間と，前記ＲＦパルス系列中の１番目
のＲＦパルスの送信位相を相殺する送信位相を付与した
ＲＦパルスを印加し且つスポイル用勾配磁場を印加する
スポイリング期間とからなる第２のプリパレーションシ
ーケンスを、前記高速にデータ収集可能なパルスシーケ
ンスの前段に付加した補正用パルスシーケンスにより、
補正用データを収集する補正用データ収集ステップと、 前記イメージ用データから前記補正用データを減算する
減算ステップと、を有することを特徴とするＭＲによる
イメージング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20497492A JP3193467B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Ｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20497492A JP3193467B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Ｍｒｉ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0647014A true JPH0647014A (ja) | 1994-02-22 |
| JP3193467B2 JP3193467B2 (ja) | 2001-07-30 |
Family
ID=16499382
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20497492A Expired - Fee Related JP3193467B2 (ja) | 1992-07-31 | 1992-07-31 | Ｍｒｉ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3193467B2 (ja) |
Cited By (11)
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| JPH10332645A (ja) * | 1997-02-22 | 1998-12-18 | General Electric Co <Ge> | 渦電流補正方法及び装置 |
| WO2000069514A1 (en) | 1999-05-13 | 2000-11-23 | Hisamitsu Pharmaceutical Co., Inc. | Electrode structure for iontophoresis devices and method of producing the same |
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-
1992
- 1992-07-31 JP JP20497492A patent/JP3193467B2/ja not_active Expired - Fee Related
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