JPH0648543B2 - 光学ヘツド装置 - Google Patents
光学ヘツド装置Info
- Publication number
- JPH0648543B2 JPH0648543B2 JP60274024A JP27402485A JPH0648543B2 JP H0648543 B2 JPH0648543 B2 JP H0648543B2 JP 60274024 A JP60274024 A JP 60274024A JP 27402485 A JP27402485 A JP 27402485A JP H0648543 B2 JPH0648543 B2 JP H0648543B2
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- JP
- Japan
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- optical head
- lens
- head device
- light source
- astigmatism
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1372—Lenses
- G11B7/1374—Objective lenses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Optical Head (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光学ヘッド装置の構成、より詳しくは光学式情
報記録媒体である光ディスクより信号を読出し／書込む
光学ヘッド装置に関するものであり、特にディスクに対
して光束を集光させる集光レンズに成形によって作成さ
れたレンズを使用した光学ヘッドにおいて、集光光学系
の非点収差を最小にし、良好な読出し／書込み特性を実
現するための手法を提供するものである。
報記録媒体である光ディスクより信号を読出し／書込む
光学ヘッド装置に関するものであり、特にディスクに対
して光束を集光させる集光レンズに成形によって作成さ
れたレンズを使用した光学ヘッドにおいて、集光光学系
の非点収差を最小にし、良好な読出し／書込み特性を実
現するための手法を提供するものである。
この種の従来技術としては例えば (a) 特開昭58-102342 号， (b) 「モダン オプチカル エンジニアリング」（マ
グロウヒルN.Y. 1966）｛「Modern Optical Engineerin
g」，（M.C.Graw-Hill N.Y.1966)｝， (c) 「レンズの設計技法Ｐ．35〜36」（光学工業技術
協会）， (d) 「オプティクスP.156」（ウィリー ニューヨー
ク）｛（Optics P.156」（wiley N.Y.）｝， (e) 原田：「プラスチックレンズの現状」テレビジョ
ン学会誌Vol.38 No.9(1984)P.810〜814， (f) 特開昭57-50335号 に記載のものがある。
グロウヒルN.Y. 1966）｛「Modern Optical Engineerin
g」，（M.C.Graw-Hill N.Y.1966)｝， (c) 「レンズの設計技法Ｐ．35〜36」（光学工業技術
協会）， (d) 「オプティクスP.156」（ウィリー ニューヨー
ク）｛（Optics P.156」（wiley N.Y.）｝， (e) 原田：「プラスチックレンズの現状」テレビジョ
ン学会誌Vol.38 No.9(1984)P.810〜814， (f) 特開昭57-50335号 に記載のものがある。
このような技術のほか従来この種の装置として例えば第
３図に示したものがあった。図において、４０は半導体
レーザ等の光源であり、直線偏光光を出射する。２は光
源４０より出射された出射光束、３は出射光束２を３本
の光束に分離する回折格子、４は照射光束５と反射光束
６を分離するハーフプリズム、７は照射光束５を平行光
束８にするコリメートレンズ、９は平行光束８をほぼ直
交方向に反射させる反射プリズム、１０は平行光束１１
を円板状の記録担体１２の情報トラック１３上に光スポ
ット１４として集光する集光レンズである。なお記録担
体１２は集光レンズ１０の焦点付近に置かれている。ま
た光スポット１４は実際には３つの光スポット１４ａ，
１４ｂ，１４ｃよりなる。また情報トラック１３は、ピ
ット１５とランド１６よりなる。さらに記録担体１２は
モータ（図示せず）により回転させられている。また上
記記録担体１２により反射させられた光束は、再び集光
レンズ１０、コリメートレンズ７を透過し、ハーフプリ
ズム４によりほぼ直交方向に曲げられ、反射光束６とな
る。１７は反射光束６の収束角を小にし、反射光学系の
倍率を拡大する凹レンズ、１８は凹レンズ１７を透過し
光束に非点収差を生じさせるシリンドリカル凹レンズ、
１９は光検知器で素子１９ａ，１９ｂ，１９ｃより構成
されている。
３図に示したものがあった。図において、４０は半導体
レーザ等の光源であり、直線偏光光を出射する。２は光
源４０より出射された出射光束、３は出射光束２を３本
の光束に分離する回折格子、４は照射光束５と反射光束
６を分離するハーフプリズム、７は照射光束５を平行光
束８にするコリメートレンズ、９は平行光束８をほぼ直
交方向に反射させる反射プリズム、１０は平行光束１１
を円板状の記録担体１２の情報トラック１３上に光スポ
ット１４として集光する集光レンズである。なお記録担
体１２は集光レンズ１０の焦点付近に置かれている。ま
た光スポット１４は実際には３つの光スポット１４ａ，
１４ｂ，１４ｃよりなる。また情報トラック１３は、ピ
ット１５とランド１６よりなる。さらに記録担体１２は
モータ（図示せず）により回転させられている。また上
記記録担体１２により反射させられた光束は、再び集光
レンズ１０、コリメートレンズ７を透過し、ハーフプリ
ズム４によりほぼ直交方向に曲げられ、反射光束６とな
る。１７は反射光束６の収束角を小にし、反射光学系の
倍率を拡大する凹レンズ、１８は凹レンズ１７を透過し
光束に非点収差を生じさせるシリンドリカル凹レンズ、
１９は光検知器で素子１９ａ，１９ｂ，１９ｃより構成
されている。
次に動作について説明する。半導体レーザ４０から出射
した光束２はそのＰＮ接合面に平行な方向に偏光した直
線偏光光であり、回折格子３，ハーフプリズム４，コリ
メートレンズ７を透過し、反射プリズム９で進行方向を
曲げられた後、集光レンズ１０に３つのビーム１４ａ，
１４ｂ，１４ｃとして記録担体１２上に集光される。担
体１２で反射された光束は、集光レンズ１０を透過し、
反射プリズム９で再度反射され、ハーフプリズム４にて
反射された後、凹レンズ１７，シリンドリカル凹レンズ
１８を透過後光検知器１９を構成する３つのエレメント
１９ａ，１９ｂ，１９ｃ上に３つのビームとして入射す
る。この際、中央の検知器１９ａは記録担体１２の回転
によりピット１５，ランド１６のいずれかより光スポッ
ト１４ａが反射される時の反射光量の差により担体に記
録された情報を電気信号に変換し、この後ここには特に
図示していない回路により例えばオーディオ信号，ビデ
オ信号，デジタルデータ等として利用される。
した光束２はそのＰＮ接合面に平行な方向に偏光した直
線偏光光であり、回折格子３，ハーフプリズム４，コリ
メートレンズ７を透過し、反射プリズム９で進行方向を
曲げられた後、集光レンズ１０に３つのビーム１４ａ，
１４ｂ，１４ｃとして記録担体１２上に集光される。担
体１２で反射された光束は、集光レンズ１０を透過し、
反射プリズム９で再度反射され、ハーフプリズム４にて
反射された後、凹レンズ１７，シリンドリカル凹レンズ
１８を透過後光検知器１９を構成する３つのエレメント
１９ａ，１９ｂ，１９ｃ上に３つのビームとして入射す
る。この際、中央の検知器１９ａは記録担体１２の回転
によりピット１５，ランド１６のいずれかより光スポッ
ト１４ａが反射される時の反射光量の差により担体に記
録された情報を電気信号に変換し、この後ここには特に
図示していない回路により例えばオーディオ信号，ビデ
オ信号，デジタルデータ等として利用される。
又、担体１２は回転に従って面振れ，振動等により対物
レンズ１０の焦点位置より光軸方向に変位する。この焦
点ずれ量は公知の方法（文献(a)）により中央の光検知
器１９ａ上の光束の形状変化より検出され、特に図示し
ないサーボ回路により補正され常にディスク上の光束は
合焦に保たれる。
レンズ１０の焦点位置より光軸方向に変位する。この焦
点ずれ量は公知の方法（文献(a)）により中央の光検知
器１９ａ上の光束の形状変化より検出され、特に図示し
ないサーボ回路により補正され常にディスク上の光束は
合焦に保たれる。
さらに担体１２が回転する際にトラック１３の蛇行，振
動により中央ビーム１４ａがトラック１３の上に正しく
位置しないことに対しては、公知のように該トラックず
れ量を、両側の光検知器１９ｂ，１９ｃの出力差よりト
ラックとスポット１４ａのずれ量として検知し補正する
という手段がとられる（文献(a)参照）。このような光
学ヘッド装置においては、記録担体１２上に蓄積される
情報密度を可能な限り高め、大容量情報媒体として利用
する為に、ピット長及びトラック間隔は、半導体レーザ
より集光レンズに至る光学ヘッドの集光系が回折限界の
理想的状態にある場合に、限界的に読取り得るほどの小
さい寸法となっている。すなわち、典型的にはレーザ波
長λ＝780nm，集光レンズのディスク側の開口数ＮＡ＝
0.5程度の場合には回折限界にて集光されたスポット径
は約λ／ＮＡ＝1.6 μｍ程度であるが、これに合わせて
トラック間隔は 1.6μｍ，最小ピット長は 0.8μｍ、す
なわち最小スポット径の約半分位である。上述したよう
に光学ヘッド装置の集光系が回折限界の集光特性となる
為には、 半導体レーザ４０より出射した光が集光レンズ１０
を通過してスポット１４に至る全光路において無収差に
近い状態に導かれること 半導体レーザ自身が収差をもたないことの２つの条
件が必要である。
動により中央ビーム１４ａがトラック１３の上に正しく
位置しないことに対しては、公知のように該トラックず
れ量を、両側の光検知器１９ｂ，１９ｃの出力差よりト
ラックとスポット１４ａのずれ量として検知し補正する
という手段がとられる（文献(a)参照）。このような光
学ヘッド装置においては、記録担体１２上に蓄積される
情報密度を可能な限り高め、大容量情報媒体として利用
する為に、ピット長及びトラック間隔は、半導体レーザ
より集光レンズに至る光学ヘッドの集光系が回折限界の
理想的状態にある場合に、限界的に読取り得るほどの小
さい寸法となっている。すなわち、典型的にはレーザ波
長λ＝780nm，集光レンズのディスク側の開口数ＮＡ＝
0.5程度の場合には回折限界にて集光されたスポット径
は約λ／ＮＡ＝1.6 μｍ程度であるが、これに合わせて
トラック間隔は 1.6μｍ，最小ピット長は 0.8μｍ、す
なわち最小スポット径の約半分位である。上述したよう
に光学ヘッド装置の集光系が回折限界の集光特性となる
為には、 半導体レーザ４０より出射した光が集光レンズ１０
を通過してスポット１４に至る全光路において無収差に
近い状態に導かれること 半導体レーザ自身が収差をもたないことの２つの条
件が必要である。
近年プラスチックの精密成形技術の進歩に伴なって、前
節で述べたような光学ヘッド装置の集光レンズに成形プ
ラスチックレンズが使われつつある。プラスチックレン
ズは、金型を超精密ＮＣ施盤によって加工しさえすれ
ば、従来ガラス研磨で作っていた球面レンズのような面
形状に対する制約がなく、非球面成形レンズが実現でき
る。この為従来３〜５枚の球面ガラスレンズの組合せで
構成されていた集光レンズを、一枚の非球面プラスチッ
クレンズにおきかえることが可能となった。
節で述べたような光学ヘッド装置の集光レンズに成形プ
ラスチックレンズが使われつつある。プラスチックレン
ズは、金型を超精密ＮＣ施盤によって加工しさえすれ
ば、従来ガラス研磨で作っていた球面レンズのような面
形状に対する制約がなく、非球面成形レンズが実現でき
る。この為従来３〜５枚の球面ガラスレンズの組合せで
構成されていた集光レンズを、一枚の非球面プラスチッ
クレンズにおきかえることが可能となった。
このことは、 プラスチック成形という量産に適した方法でレンズ
を作ることができること， レンズ枚数が大幅に削減できること の２つの理由により、光学ヘッドの低価格化，組立て工
数の減少に寄与する為、今後開発される光学ヘッドに
は、益々プラスチックレンズが多用されるものと予想さ
れる。ところが、従来のガラス組合せレンズから成る集
光レンズではレンズの光軸を中心とする回転方向に対し
て、どのような方向に取り付けても原理的に収差性能に
差がなかったのに対し、成形によって作成されたプラス
チックレンズにおいては、光軸を中心とする回転によ
り、集光される直線偏光に発光する非点収差が変化する
ことが実験的に明らかになった。
を作ることができること， レンズ枚数が大幅に削減できること の２つの理由により、光学ヘッドの低価格化，組立て工
数の減少に寄与する為、今後開発される光学ヘッドに
は、益々プラスチックレンズが多用されるものと予想さ
れる。ところが、従来のガラス組合せレンズから成る集
光レンズではレンズの光軸を中心とする回転方向に対し
て、どのような方向に取り付けても原理的に収差性能に
差がなかったのに対し、成形によって作成されたプラス
チックレンズにおいては、光軸を中心とする回転によ
り、集光される直線偏光に発光する非点収差が変化する
ことが実験的に明らかになった。
次に、プラスチックにより型成形された集光レンズが発
生する収差について、第４図によってより詳細に説明す
る。第４図(a)ないし(b)に示したのは、第４図(c)に示
すように、射出成形により作製したプラスチックレンズ
１０に直線偏光（第４図(a)）あるいは円偏光（第４図
(b)）の平行光束が入射し、ディスク１２の基板の通過
して集光された場合の非点収差，球面収差，コマ収差の
各収差の測定結果である。なお、プラスチックレンズ１
０には、射出成形時に、材料であるプラスチック（ここ
ではＰＭＭＡ）が成型金型に注入された後であるゲート
１００があり、これとレンズ中心を結ぶ方向Ｇが、入射
光の偏光方向Ｅとなす角θとする。測定結果を第４図
(a)および(b)に示す。両図において、横軸は、上記の角
度θであり、縦軸Ｗは上記各収差の標準偏差値（以後ｒ
ｍｓ値と称する）を光束の波長λの単位で表わした値で
ある。なお、本測定は、光学ヘッドの光学部品の収差測
定では、非常に一般的なフィゾー干渉計により行なっ
た。
生する収差について、第４図によってより詳細に説明す
る。第４図(a)ないし(b)に示したのは、第４図(c)に示
すように、射出成形により作製したプラスチックレンズ
１０に直線偏光（第４図(a)）あるいは円偏光（第４図
(b)）の平行光束が入射し、ディスク１２の基板の通過
して集光された場合の非点収差，球面収差，コマ収差の
各収差の測定結果である。なお、プラスチックレンズ１
０には、射出成形時に、材料であるプラスチック（ここ
ではＰＭＭＡ）が成型金型に注入された後であるゲート
１００があり、これとレンズ中心を結ぶ方向Ｇが、入射
光の偏光方向Ｅとなす角θとする。測定結果を第４図
(a)および(b)に示す。両図において、横軸は、上記の角
度θであり、縦軸Ｗは上記各収差の標準偏差値（以後ｒ
ｍｓ値と称する）を光束の波長λの単位で表わした値で
ある。なお、本測定は、光学ヘッドの光学部品の収差測
定では、非常に一般的なフィゾー干渉計により行なっ
た。
測定の結果得られた両図から以下のことがわかった。
直線偏光光を用いた測定では、回転角度θの変化に
対し、非点収差の値のみが大きく変動しており、非点収
差の回転角度依存性が顕著にみられるが、このよう回転
角度依存性は円偏光光を用いた測定ではみられなかっ
た。
対し、非点収差の値のみが大きく変動しており、非点収
差の回転角度依存性が顕著にみられるが、このよう回転
角度依存性は円偏光光を用いた測定ではみられなかっ
た。
他と収差（球面収差，コマ収差）には回転角度依存
性はあまりみられない。
性はあまりみられない。
角度依存性のみられる、直線偏光時の非点収差Ｗは
偏光とゲートの各方向が一致した時、すなわちθ＝０
゜，１８０゜の場合には最小（この場合、約０．０１λ
ｒｍｓ）となり、これと直交する方向で最大（約０．０
４５λｒｍｓ）となる。
偏光とゲートの各方向が一致した時、すなわちθ＝０
゜，１８０゜の場合には最小（この場合、約０．０１λ
ｒｍｓ）となり、これと直交する方向で最大（約０．０
４５λｒｍｓ）となる。
このような測定を１０個の試料について行ったところ、
ここに示したのとほぼ同じ結果が得られた。文献(e)に
よれば、型成形によって得られたプラスチックレンズは
内部の残留応力に起因するひずみによって生じる複屈折
を有しており、これが上記の直線偏光入射時における
非点収差変化の原因と推定される。
ここに示したのとほぼ同じ結果が得られた。文献(e)に
よれば、型成形によって得られたプラスチックレンズは
内部の残留応力に起因するひずみによって生じる複屈折
を有しており、これが上記の直線偏光入射時における
非点収差変化の原因と推定される。
上に述べたプラスチックレンズの発生する非点収差の外
にも従来の光学ヘッド装置において前述した集光系が非
点収差を生じ無収差系から外れる要因が３つ存在した。
１つ目は回折公私３及びハーフミラー４といった平行平
面光学部品の光束透過面が出射光束２の光軸に対して傾
いて垂直でない場合に非点収差が発生する場合，２つ目
は半導体レーザの発光点がコリメートレンズの光軸から
偏芯することにより像高が生じ、コリメート光８に非点
収差が発生し、同時にコリメート光が半導体レーザの偏
芯によって対物レンズ１０に斜め入射して像高が生じ、
非点収差を生ずる場合，３つ目は半導体レーザ４０の出
射光束自体に非点収差がある場合である。
にも従来の光学ヘッド装置において前述した集光系が非
点収差を生じ無収差系から外れる要因が３つ存在した。
１つ目は回折公私３及びハーフミラー４といった平行平
面光学部品の光束透過面が出射光束２の光軸に対して傾
いて垂直でない場合に非点収差が発生する場合，２つ目
は半導体レーザの発光点がコリメートレンズの光軸から
偏芯することにより像高が生じ、コリメート光８に非点
収差が発生し、同時にコリメート光が半導体レーザの偏
芯によって対物レンズ１０に斜め入射して像高が生じ、
非点収差を生ずる場合，３つ目は半導体レーザ４０の出
射光束自体に非点収差がある場合である。
以下上記３つの非点収差の生ずる原因についてより詳細
に説明する。
に説明する。
（ｉ）回折格子またはハーフプリズムの傾き 半導体レーザから出射する光束２は発散光束であり、こ
のような場合でも同様あるが、例えば第５図に図示する
ように、収束状にある光束の光路（開口数ＮＡ＝sin
u）中に平行平板ガラス３０を光軸３１に対してＵｐ′
だけ傾けて配置するとする。このとき発生する非点隔差
量（非点収差）は文献(b)によれば(1)式のように表わさ
れる。
のような場合でも同様あるが、例えば第５図に図示する
ように、収束状にある光束の光路（開口数ＮＡ＝sin
u）中に平行平板ガラス３０を光軸３１に対してＵｐ′
だけ傾けて配置するとする。このとき発生する非点隔差
量（非点収差）は文献(b)によれば(1)式のように表わさ
れる。
なおｌｔ′はガラス板３０の平行平面の法線及び光軸を
含む面（メリジオナル面）内での収束点までの距離，ｌ
ｓ′はこれと直交する面（サジツタル面）での収束点ま
での距離である。今、従来例を示す第３図において平行
平面部品である回折格子３又はハーフプリズム４が傾い
た場合には(1)式に従って非点収差が発生する。その量
の具体例として屈折率Ｎ＝1.5 でｔ′＝1.5 mmの回折格
子及びｔ′＝５mmのハーフプリズムが1.0゜傾いた場合
の発生非点隔差は各々0.17μｍ，0.56μｍとなる。
含む面（メリジオナル面）内での収束点までの距離，ｌ
ｓ′はこれと直交する面（サジツタル面）での収束点ま
での距離である。今、従来例を示す第３図において平行
平面部品である回折格子３又はハーフプリズム４が傾い
た場合には(1)式に従って非点収差が発生する。その量
の具体例として屈折率Ｎ＝1.5 でｔ′＝1.5 mmの回折格
子及びｔ′＝５mmのハーフプリズムが1.0゜傾いた場合
の発生非点隔差は各々0.17μｍ，0.56μｍとなる。
（ii）半導体レーザの偏芯による像高 一般にレンズ系において物点（本例では半導体レーザの
出射点）が光軸からずれて、像高をもつと、非点収差が
発生する。第６図に文献(c)による非点収差発生の計算
例を示す。図の右側に示したグラフのように入射角，す
なわち像高に対して子午光線と球欠光線の欠像位置が分
離していき、非点収差が増加する様子がわかる。光学ヘ
ッド装置用のレンズとして、入射角１゜に相当する像高
に対し、コリメートレンズでは例えば10μｍ，対物レン
ズでは 5μｍの非点収差を生じのものがある。
出射点）が光軸からずれて、像高をもつと、非点収差が
発生する。第６図に文献(c)による非点収差発生の計算
例を示す。図の右側に示したグラフのように入射角，す
なわち像高に対して子午光線と球欠光線の欠像位置が分
離していき、非点収差が増加する様子がわかる。光学ヘ
ッド装置用のレンズとして、入射角１゜に相当する像高
に対し、コリメートレンズでは例えば10μｍ，対物レン
ズでは 5μｍの非点収差を生じのものがある。
（iii）半導体レーザの非点収差 半導体レーザの発光点の面積は通常 2μｍ×0.1μｍ程
度であり、ほぼ点光源と見なしてよい微小面積より光が
出射される。
度であり、ほぼ点光源と見なしてよい微小面積より光が
出射される。
第７図にダブルヘテロ接合半導体レーザの構造の一例を
示す。このような半導体レーザにおいては、第７図
(a)，(b)に示す如く、半導体レーザチップ４０の出射光
束のビームウエストは、半導体接合面（Ｘ−Ｙ軸面）内
とこれに垂直な面（Ｘ−Ｚ軸面）内とでは異なっている
ことがあり、とりわけこの図に示したようなゲイン・ガ
イディング型の半導体レーザにおいてこの差異が大きい
ことが知られている。垂直面（Ｘ−Ｚ軸面）内では鏡面
４１に一致するＡ点がモードウエストとなっているのに
対し接合面（Ｘ−Ｙ軸面）内では若干半導体レーザチッ
プ４０の活性層４２、つまり鏡面４１より奥の共振器内
に入ったＢがモードウエストとなっているのである。こ
の差異は光学上非点収差となり、上記ゲイン・ガイディ
ング型のものはとくにこの差異が大きく、約25μｍも存
在するものがある。
示す。このような半導体レーザにおいては、第７図
(a)，(b)に示す如く、半導体レーザチップ４０の出射光
束のビームウエストは、半導体接合面（Ｘ−Ｙ軸面）内
とこれに垂直な面（Ｘ−Ｚ軸面）内とでは異なっている
ことがあり、とりわけこの図に示したようなゲイン・ガ
イディング型の半導体レーザにおいてこの差異が大きい
ことが知られている。垂直面（Ｘ−Ｚ軸面）内では鏡面
４１に一致するＡ点がモードウエストとなっているのに
対し接合面（Ｘ−Ｙ軸面）内では若干半導体レーザチッ
プ４０の活性層４２、つまり鏡面４１より奥の共振器内
に入ったＢがモードウエストとなっているのである。こ
の差異は光学上非点収差となり、上記ゲイン・ガイディ
ング型のものはとくにこの差異が大きく、約25μｍも存
在するものがある。
さて、回折限界光学系として許容される光学系の許容と
して従来よりMarchalの規範が用いられている、これ
によると波面収差の RMS値（Wrms ）がWrms 0.07λで
なければならない（λ；光の波長）上記３つの場合につ
いて分類して論じた非点隔差量と、波面収差の関係につ
いて第８図のノーテーションで以下に説明する。図中Ｅ
が半径ａの射出ひとみを示しており、ひとみ座標を
（，）で表わす。球欠像面Ｐｓでのｘ方向横収差
ｘ′は波面収差Ｗを用いて(2)式で表わされる（文献(d)
参照）。
して従来よりMarchalの規範が用いられている、これ
によると波面収差の RMS値（Wrms ）がWrms 0.07λで
なければならない（λ；光の波長）上記３つの場合につ
いて分類して論じた非点隔差量と、波面収差の関係につ
いて第８図のノーテーションで以下に説明する。図中Ｅ
が半径ａの射出ひとみを示しており、ひとみ座標を
（，）で表わす。球欠像面Ｐｓでのｘ方向横収差
ｘ′は波面収差Ｗを用いて(2)式で表わされる（文献(d)
参照）。
又、図よりＲ≫Δすなわち非点隔差が非常に小さい場合
には(3)式が成り立つ。
には(3)式が成り立つ。
(2)，(3)式よりｘ′を消去し、波面収差を求めると(4)
式が得られる。但し空気中としてｎ′＝１とする。
式が得られる。但し空気中としてｎ′＝１とする。
(4)式はザイデル形式の非点収差係数を表わし、これを
最良集光点である最小錯乱円点での波面収差の標準偏差
Ｗrms に換算すると、(5)式のようになる。
最良集光点である最小錯乱円点での波面収差の標準偏差
Ｗrms に換算すると、(5)式のようになる。
但し(5)式において であり、ａは第８図に示すように射出ひとみの半径であ
る。
る。
よって、系の開口数Ｎａを与えれば(5)式よりＷrms
0.07λを満たす非点偏差Δがわかる。
0.07λを満たす非点偏差Δがわかる。
例えば光学式ビデオディスク用光学ヘッドではコリメー
トレンズのＮａとして０．２，半導体レーザの波長 0.8
μｍ程度が用いられるが、このとき、Ｗrms 0.07λに
よる非点隔差の許容量は、Δ13.7μｍとなる。よって
この非点隔差許容に対し、とりわけ前記（ｉ），（i
i），（iii）項の要因の複合で生ずる非点収差が全集光
系の回折限界光学系としての機能を阻害し、ＯＴＦの劣
化を通じて書込み／読出し特性を劣化させる要因となっ
ていることがわかる。
トレンズのＮａとして０．２，半導体レーザの波長 0.8
μｍ程度が用いられるが、このとき、Ｗrms 0.07λに
よる非点隔差の許容量は、Δ13.7μｍとなる。よって
この非点隔差許容に対し、とりわけ前記（ｉ），（i
i），（iii）項の要因の複合で生ずる非点収差が全集光
系の回折限界光学系としての機能を阻害し、ＯＴＦの劣
化を通じて書込み／読出し特性を劣化させる要因となっ
ていることがわかる。
なお、第７図において、Ｒ≫Δの関係にある。
又、先に説明したように、光学ヘッド装置に集光レンズ
とプラスチックレンズを用いる場合には、プラスチック
レンズ自身の成形歪により非点差をもち、その値が実験
によると 0.045λにも及ぶ。従って、これだけでも収差
許容0.07λの60％以上に達する場合があることになり、
これも光学ヘッドの良好な書込み／読出し特性を確保す
る上での大きな問題となっていた。
とプラスチックレンズを用いる場合には、プラスチック
レンズ自身の成形歪により非点差をもち、その値が実験
によると 0.045λにも及ぶ。従って、これだけでも収差
許容0.07λの60％以上に達する場合があることになり、
これも光学ヘッドの良好な書込み／読出し特性を確保す
る上での大きな問題となっていた。
この発明は上記のような問題点を解消するためにされた
もので、集光レンズとして成形によって作られたプラス
チックレンズを使用した光学ヘッド装置において、プラ
スチックの歪による非点収差及びその他の光学系の不備
による非点収差を最小の状態とし、レーザからディスク
に至る集光光学系が回折限界光学系として最適に作用し
うるようにすることのできる光学ヘッド装置を提供する
ものである。
もので、集光レンズとして成形によって作られたプラス
チックレンズを使用した光学ヘッド装置において、プラ
スチックの歪による非点収差及びその他の光学系の不備
による非点収差を最小の状態とし、レーザからディスク
に至る集光光学系が回折限界光学系として最適に作用し
うるようにすることのできる光学ヘッド装置を提供する
ものである。
本発明に係る光学ヘッド装置は、記録担体に向けて直線
偏光光を発射するレーザ光源装置と、該レーザ光源装置
の出射光束より、該出射光束に対する上記記録担体から
の反射光束を分離するビームスプリッタ手段と、型を用
いた成形によって製造され上記レーザ光源装置の出射光
束を集光し記録担体の情報記録トラックに照射するとと
もに上記レーザ光源装置から上記記録担体に至る直線偏
光光を集光する集光系の有する非点収差がほぼ最小とな
るように光軸まわりの回転位置が設定された集光レンズ
とを設けることにより、集光レンズ自身が有する非点収
差と、集光光学系を構成するその他の光学要素が有する
非点収差とが互いに打ち消しあうようにして、全体とし
てレーザからディスクに至る集光光学系全体がもつ非点
収差をほぼ最小にするようにしたものである。
偏光光を発射するレーザ光源装置と、該レーザ光源装置
の出射光束より、該出射光束に対する上記記録担体から
の反射光束を分離するビームスプリッタ手段と、型を用
いた成形によって製造され上記レーザ光源装置の出射光
束を集光し記録担体の情報記録トラックに照射するとと
もに上記レーザ光源装置から上記記録担体に至る直線偏
光光を集光する集光系の有する非点収差がほぼ最小とな
るように光軸まわりの回転位置が設定された集光レンズ
とを設けることにより、集光レンズ自身が有する非点収
差と、集光光学系を構成するその他の光学要素が有する
非点収差とが互いに打ち消しあうようにして、全体とし
てレーザからディスクに至る集光光学系全体がもつ非点
収差をほぼ最小にするようにしたものである。
本発明においては、上述のように構成したことにより、
集光光学系全体の非点収差を相殺させ、もって光学ヘッ
ドの回折限界光学系としての性能が最良に発揮される。
集光光学系全体の非点収差を相殺させ、もって光学ヘッ
ドの回折限界光学系としての性能が最良に発揮される。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図は本発明の一実施例を示し、この第１図では第３
図の従来例の構成より、本発明の説明に不要なビームス
プリッタ４によって反射されて光検知器１９に向かう光
路を便宜上省略してある。又、本発明においては、集光
レンズ１０として成形によって作成されたプラスチック
レンズを使用している。１００はプラスチックレンズ１
０の成形時のゲート位置（以後ゲートと呼ぶ）を示して
いる。
図の従来例の構成より、本発明の説明に不要なビームス
プリッタ４によって反射されて光検知器１９に向かう光
路を便宜上省略してある。又、本発明においては、集光
レンズ１０として成形によって作成されたプラスチック
レンズを使用している。１００はプラスチックレンズ１
０の成形時のゲート位置（以後ゲートと呼ぶ）を示して
いる。
次に本発明の動作について述べる。まず半導体レーザ４
０から集光レンズ１０の直前に至る光路において問題点
の項の（ｉ），（ii），（iii）で述べたような原因で
生じている非点収差が比較的小さく、かつ集光レンズ１
０に入射する光線が集光レンズ１０の光軸に対してあま
り傾かず、レンズの有効視野に比して十分小さな像高で
集光される場合について述べる。このような条件により
発生している比点収差が、集光レンズ１０自身の内部歪
によって発生する最小非点数差と同じ程度以下である場
合、すなわち第４図に例として示したレンズでは0.01λ
rms 以下であるようない場合には、ゲート方向とＬＤ出
射光の直線偏光方向を一致させておくことにより、ほぼ
最小の非点収差が得られる。この様子を第２図(a)に示
す。図中、Ｅの矢印は偏光方向を示し、Ｇの矢印はゲー
ト方向を示す。
０から集光レンズ１０の直前に至る光路において問題点
の項の（ｉ），（ii），（iii）で述べたような原因で
生じている非点収差が比較的小さく、かつ集光レンズ１
０に入射する光線が集光レンズ１０の光軸に対してあま
り傾かず、レンズの有効視野に比して十分小さな像高で
集光される場合について述べる。このような条件により
発生している比点収差が、集光レンズ１０自身の内部歪
によって発生する最小非点数差と同じ程度以下である場
合、すなわち第４図に例として示したレンズでは0.01λ
rms 以下であるようない場合には、ゲート方向とＬＤ出
射光の直線偏光方向を一致させておくことにより、ほぼ
最小の非点収差が得られる。この様子を第２図(a)に示
す。図中、Ｅの矢印は偏光方向を示し、Ｇの矢印はゲー
ト方向を示す。
次に、上に述べたよりも、（ｉ），（ii），（iii）の
要因もしくは集光レンズ１０の像高により発生する光点
収差が大きい場合、すなわちこの非点収差がＥとＧを平
行にした場合（第４図(a)における０゜又は180゜の場
合）の非点収差よりも大きい場合には、第２図(b)のよ
うにＥとＧの角度θを調整し、集光レンズの内部歪に起
因し、特選偏光入射の際に発生する非点収差と、これ以
外の要因による非点収差が打ち消し合うようにθを決め
てやることにより、集光系の持つ非点収差を最小に出来
る。
要因もしくは集光レンズ１０の像高により発生する光点
収差が大きい場合、すなわちこの非点収差がＥとＧを平
行にした場合（第４図(a)における０゜又は180゜の場
合）の非点収差よりも大きい場合には、第２図(b)のよ
うにＥとＧの角度θを調整し、集光レンズの内部歪に起
因し、特選偏光入射の際に発生する非点収差と、これ以
外の要因による非点収差が打ち消し合うようにθを決め
てやることにより、集光系の持つ非点収差を最小に出来
る。
なお、以上では対物（集光）レンズの内部歪以外の要因
による非点収差が小さい場合は、ＥとＧを平行にすれば
よいと述べたが、これはあくまで近似的にθ０゜（又
は180゜）付近に全集光系としての非点収差最小の点が
あるという意味であり、厳密に言えばこのような場合に
もθを適当に設定してやることにより、最小の非点収差
にもっていくとこができる。
による非点収差が小さい場合は、ＥとＧを平行にすれば
よいと述べたが、これはあくまで近似的にθ０゜（又
は180゜）付近に全集光系としての非点収差最小の点が
あるという意味であり、厳密に言えばこのような場合に
もθを適当に設定してやることにより、最小の非点収差
にもっていくとこができる。
なお上に述べた実施例では、偏光の方向Ｅと情報トラッ
クの走っている方向の相対位置関係には言及しなかった
が、文献(f)によれば、直線偏光の方向Ｅ（これは半動
体レーザの場合には接合面４２に平行な方向を向いてい
る）がトラック１３の方向と直交している場合の方が、
良好な再生特性を有する光ヘッドを構成できる。これ
は、接合面に垂直な方向の光束出射角の方が、平行な方
向よりも大きいためである。
クの走っている方向の相対位置関係には言及しなかった
が、文献(f)によれば、直線偏光の方向Ｅ（これは半動
体レーザの場合には接合面４２に平行な方向を向いてい
る）がトラック１３の方向と直交している場合の方が、
良好な再生特性を有する光ヘッドを構成できる。これ
は、接合面に垂直な方向の光束出射角の方が、平行な方
向よりも大きいためである。
このことを本発明に当てはめると、Ｅ，Ｇとトラック１
３の方向の相対関係は模式的に第９図に示した如くとな
る。すなわち、偏光方向Ｅを、トラック１３と直角な方
向に設定した場合には、対物（集光）レンズの内部歪に
起因する収差以外の非収差量が小さい場合（典型的には
先の実施例と同様に0.01λrms 以下）にはゲート方向Ｇ
を第９図(a)に示すようにＥと略平行に設定することに
より、最良の集光特性が得られる。又、上記非点収差
が、これよりも大きな場合には、第９図(b)の如く、Ｅ
とＧのなす角θを適当に設定して全集光系のもつ非点収
差が最小になるようにすることができ、もって最良の集
光特性が得られる。
３の方向の相対関係は模式的に第９図に示した如くとな
る。すなわち、偏光方向Ｅを、トラック１３と直角な方
向に設定した場合には、対物（集光）レンズの内部歪に
起因する収差以外の非収差量が小さい場合（典型的には
先の実施例と同様に0.01λrms 以下）にはゲート方向Ｇ
を第９図(a)に示すようにＥと略平行に設定することに
より、最良の集光特性が得られる。又、上記非点収差
が、これよりも大きな場合には、第９図(b)の如く、Ｅ
とＧのなす角θを適当に設定して全集光系のもつ非点収
差が最小になるようにすることができ、もって最良の集
光特性が得られる。
又、以上の実施例は、集光レンズ１０として、無限共役
形（平行入射型）のレンズを使用した場合について説明
したが、第１０図に示したように、ＬＤ４０の出射光
を、集光レンズ１０で直接集光する、有限共役型の成形
プラスチックレンズを使用した光学ヘッド装置において
も、これまでに説明したゲート方向と偏光方向の相対位
置関係を適当に設定することにより、集光形の非点収差
を最小にできる。
形（平行入射型）のレンズを使用した場合について説明
したが、第１０図に示したように、ＬＤ４０の出射光
を、集光レンズ１０で直接集光する、有限共役型の成形
プラスチックレンズを使用した光学ヘッド装置において
も、これまでに説明したゲート方向と偏光方向の相対位
置関係を適当に設定することにより、集光形の非点収差
を最小にできる。
又、近年ガラスの精密プレス技術の進歩により、光ヘッ
ド装置用の集光レンズが発表されているが、これらに関
してもプラスチックと程度の差はあれ、内部残留応力に
よる複屈折が存在することが知られている。従って、こ
れらプレス成型ガラスモールドレンズにおいても、レン
ズの光軸に垂直な面内での回転位置を適当に設定し、集
光系の非点収差を最小の状態にした場合に最良の集光性
能を有する光学ヘッド装置が実現できることに変りはな
い。
ド装置用の集光レンズが発表されているが、これらに関
してもプラスチックと程度の差はあれ、内部残留応力に
よる複屈折が存在することが知られている。従って、こ
れらプレス成型ガラスモールドレンズにおいても、レン
ズの光軸に垂直な面内での回転位置を適当に設定し、集
光系の非点収差を最小の状態にした場合に最良の集光性
能を有する光学ヘッド装置が実現できることに変りはな
い。
以上のように、本発明に係る光学ヘッド装置によれば、
記録担体に向けて直線偏光光を発射するレーザ光源装置
と、該レーザ光源装置の出射光束より、該出射光束に対
する上記記録担体からの反射光束を分離するビームスプ
リッタ手段と、型を用いた成形によって製造され上記レ
ーザ光源装置の出射光束を集光し記録担体の情報記録ト
ラックに照射するとともに上記レーザ光源装置から上記
記録担体に至る直線偏光光を集光する集光系の有する非
点収差がほぼ最小となるように光軸まわりの回転位置が
設定された集光レンズとを設けるようにしたので、光源
から記録担体に至る集光系の有する非点収差がほぼ最小
となるように装置を設定でき、最良の集光性能を得るこ
とができ、型によって成形された集光レンズを採用した
光学ヘッド装置の書込み／再生性能を従来の光学ヘッド
装置に比べて大幅に会ぜできるという効果がある。
記録担体に向けて直線偏光光を発射するレーザ光源装置
と、該レーザ光源装置の出射光束より、該出射光束に対
する上記記録担体からの反射光束を分離するビームスプ
リッタ手段と、型を用いた成形によって製造され上記レ
ーザ光源装置の出射光束を集光し記録担体の情報記録ト
ラックに照射するとともに上記レーザ光源装置から上記
記録担体に至る直線偏光光を集光する集光系の有する非
点収差がほぼ最小となるように光軸まわりの回転位置が
設定された集光レンズとを設けるようにしたので、光源
から記録担体に至る集光系の有する非点収差がほぼ最小
となるように装置を設定でき、最良の集光性能を得るこ
とができ、型によって成形された集光レンズを採用した
光学ヘッド装置の書込み／再生性能を従来の光学ヘッド
装置に比べて大幅に会ぜできるという効果がある。
第１図は本発明の一実施例による光学ヘッド装置の構成
図、第２図は本発明によるレンズの設定法の説明図、第
３図は従来の光学ヘッド装置の構成図、第４図は型成形
レンズの回転による各収差の変化を直線偏光，円偏光別
に示した実験データを表した図、第５図は平行平板によ
る非点収差発生の様子を示す説明図、第６図はレンズの
像高による非点収差発生の様子を示す説明図、第７図は
半導体レーザの非点収差を示す説明図、第８図は非点隔
差と非点収差の対応関係を示す説明図、第９図はトラッ
ク方向と偏光方向とゲート方向の３者を考慮する場合の
３者の相対関係を示す説明図、第１０図は本発明の他の
実施例による光学ヘッド装置の構成図である。 ４０……半導体レーザ（レーザ光源装置）、１０……集
光レンズ、１２……光ディスク（記録担体）、４……ビ
ームスプリッタ。 なお図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
図、第２図は本発明によるレンズの設定法の説明図、第
３図は従来の光学ヘッド装置の構成図、第４図は型成形
レンズの回転による各収差の変化を直線偏光，円偏光別
に示した実験データを表した図、第５図は平行平板によ
る非点収差発生の様子を示す説明図、第６図はレンズの
像高による非点収差発生の様子を示す説明図、第７図は
半導体レーザの非点収差を示す説明図、第８図は非点隔
差と非点収差の対応関係を示す説明図、第９図はトラッ
ク方向と偏光方向とゲート方向の３者を考慮する場合の
３者の相対関係を示す説明図、第１０図は本発明の他の
実施例による光学ヘッド装置の構成図である。 ４０……半導体レーザ（レーザ光源装置）、１０……集
光レンズ、１２……光ディスク（記録担体）、４……ビ
ームスプリッタ。 なお図中同一符号は同一又は相当部分を示す。
Claims (11)
- 【請求項１】記録担体に向けて直線偏光光を発射するレ
ーザ光源装置と、 該レーザ光源装置の出射光束より、該出射光束に対する
上記記録担体からの反射光束を分離するビームスプリッ
タ手段と、 型を用いた成形によって製造され上記レーザ光源装置の
出射光束を集光し記録担体の情報記録トラックに照射す
るとともに上記レーザ光源装置から上記記録担体に至る
直線偏光光を集光する集光系の有する非点収差がほぼ最
小となるように光軸まわりの回転位置が設定された集光
レンズとを備えたことを特徴とする光学ヘッド装置。 - 【請求項２】上記集光レンズが、プラスチックの射出成
形によって製造されたものであり、該集光レンズの成形
時のゲートの方向が上記レーザ光源装置の偏光方向と略
同一の回転方向に設定されていることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の光学ヘッド装置。 - 【請求項３】上記集光レンズが、プラスチックの射出成
形によって製造されたものであり、該集光レンズの成形
時のゲートの方向が上記レーザ光源装置から該プラスチ
ックレンズの直前までの光学系の有する非点収差、並び
に集光レンズで集光される光束が像高をもつことにより
発生する非点収差を打ち消すような回転方向に設定され
ていることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光
学ヘッド装置。 - 【請求項４】上記プラスチック材料がＰＭＭＡであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第２項または第３項記載
の光学ヘッド装置。 - 【請求項５】上記集光レンズが無限共役系の非球面レン
ズであることを特徴とする特許請求の範囲第２項または
第３項記載の光学ヘッド装置。 - 【請求項６】上記集光レンズが有限共役系の非球面レン
ズであることを特徴とする特許請求の範囲第２項または
第３項記載の光学ヘッド装置。 - 【請求項７】上記集光レンズがガラスの成形により製造
されたものであることを特徴とする特許請求の範囲第１
項記載の光学ヘッド装置。 - 【請求項８】上記集光レンズが無限共役系のものである
ことを特徴とする特許請求の範囲第７項記載の光学ヘッ
ド装置。 - 【請求項９】上記集光レンズが有限共役系のものである
ことを特徴とする特許請求の範囲第７項記載の光学ヘッ
ド装置。 - 【請求項１０】上記レーザ光源装置の偏光方向が、上記
トラックと直交する方向になるように配置されているこ
とを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光学ヘッド
装置。 - 【請求項１１】上記レーザ光源装置が半導体レーザから
なるものであることを特徴とする特許請求の範囲第１項
ないし第３項のいずれかに記載の光学ヘッド装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60274024A JPH0648543B2 (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | 光学ヘツド装置 |
| KR1019860008834A KR900006954B1 (ko) | 1985-12-04 | 1986-10-22 | 광학헤드장치 |
| US06/933,805 US4789978A (en) | 1985-12-04 | 1986-11-24 | System and method of astigmatism correction in an optical head apparatus |
| EP86309463A EP0226403B1 (en) | 1985-12-04 | 1986-12-04 | Optical head apparatus |
| DE8686309463T DE3679519D1 (de) | 1985-12-04 | 1986-12-04 | Optische kopfeinrichtungen. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60274024A JPH0648543B2 (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | 光学ヘツド装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62132247A JPS62132247A (ja) | 1987-06-15 |
| JPH0648543B2 true JPH0648543B2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=17535894
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60274024A Expired - Lifetime JPH0648543B2 (ja) | 1985-12-04 | 1985-12-04 | 光学ヘツド装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4789978A (ja) |
| EP (1) | EP0226403B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0648543B2 (ja) |
| KR (1) | KR900006954B1 (ja) |
| DE (1) | DE3679519D1 (ja) |
Families Citing this family (28)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CA1319194C (en) * | 1986-07-28 | 1993-06-15 | Hideaki Satou | Focusing error detector and optical data detecting device incorporating the focusing error detector |
| JPS63268139A (ja) * | 1987-04-24 | 1988-11-04 | Alps Electric Co Ltd | 光学式ピツクアツプの光学装置 |
| JP2561668B2 (ja) * | 1987-06-22 | 1996-12-11 | 株式会社日立製作所 | ２レ−ザ光ヘッド |
| EP0305169B1 (en) * | 1987-08-24 | 1994-05-11 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical pickup apparatus and optical grating assembly therefor |
| JPS6453359A (en) * | 1987-08-24 | 1989-03-01 | Sharp Kk | Optical pickup device |
| JPH07105059B2 (ja) * | 1987-08-26 | 1995-11-13 | シャープ株式会社 | 光学式ピックアップ装置 |
| JPS6478442A (en) * | 1987-09-18 | 1989-03-23 | Sanyo Electric Co | Optical pickup device |
| JPH02276032A (ja) * | 1989-04-17 | 1990-11-09 | Canon Inc | 光学ヘッド |
| US5276663A (en) * | 1989-04-17 | 1994-01-04 | Canon Kabushiki Kaisha | Optical information recording-reproducing apparatus including a condensing lens secured to a lens barrel |
| JP2655923B2 (ja) * | 1990-01-22 | 1997-09-24 | シャープ株式会社 | 光ヘッド装置 |
| JP2894808B2 (ja) * | 1990-07-09 | 1999-05-24 | 旭光学工業株式会社 | 偏光を有する光学系 |
| JPH04251456A (ja) * | 1991-01-08 | 1992-09-07 | Fuji Xerox Co Ltd | 光磁気ピックアップ装置 |
| EP0578499B1 (en) * | 1992-07-10 | 1999-12-01 | Fujitsu Limited | Laser diode module |
| JP3191200B2 (ja) * | 1994-11-10 | 2001-07-23 | コニカ株式会社 | 光情報記録媒体の記録再生装置 |
| JP3104780B2 (ja) * | 1994-12-21 | 2000-10-30 | 松下電器産業株式会社 | 対物レンズ及びそれを用いた光ヘッド装置 |
| US5966362A (en) * | 1995-11-02 | 1999-10-12 | Konica Corporation | Optical system for recording and reproducing for use in optical information recording medium |
| JPH09243805A (ja) * | 1996-03-13 | 1997-09-19 | Sony Corp | レンズ設計方法 |
| JPH1011786A (ja) * | 1996-06-21 | 1998-01-16 | Pioneer Electron Corp | 情報記録媒体の再生用ピックアップ装置 |
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