JPH0650020U - 偏光顕微鏡 - Google Patents
偏光顕微鏡Info
- Publication number
- JPH0650020U JPH0650020U JP9120692U JP9120692U JPH0650020U JP H0650020 U JPH0650020 U JP H0650020U JP 9120692 U JP9120692 U JP 9120692U JP 9120692 U JP9120692 U JP 9120692U JP H0650020 U JPH0650020 U JP H0650020U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 EF値の向上、ひいては試料の像のコントラ
ストの向上した偏光顕微鏡を得ることである。 【構成】 偏光子と検光子とを直交ニコルに設定したと
き観察視野内に現れる暗十字の形状に合わせた像ができ
るような十字形開口絞りを設ける。
ストの向上した偏光顕微鏡を得ることである。 【構成】 偏光子と検光子とを直交ニコルに設定したと
き観察視野内に現れる暗十字の形状に合わせた像ができ
るような十字形開口絞りを設ける。
Description
【0001】
本考案は十字形開口絞りを有する偏光顕微鏡に関するものである。
【0002】
偏光子と検光子とを備えた偏光顕微鏡において、検光子と偏光子とが直交ニコ ル状態に配置されると、観察視野内に暗十字が出現することは従来より知られて いる。
【0003】 また、実開平2−47610号には、暗十字の一部を利用する絞りを有する偏 光顕微鏡が開示されている。
【0004】 またレクチファイヤーという、暗十字が生じないように特殊なレンズと波長板 を組み合わせ、配置した装置がある。
【0005】
従来の開口絞りの形状につき図6及び図7により説明する。図6は従来の開口 絞りの開口部の像と暗十字の位置との関係を示す観察視野図、図7は従来の開口 絞りの構成を示す概略構成図である。 図6(a)は、偏光子と検光子とを直交ニコルに設定したとき観察視野内に現 れる暗十字71を示しており、多角形72は、偏光顕微鏡の本体内部の光路中に 配設された、開口絞りの像を示している。開口絞りは、従来では図7に示すよう に円周方向に沿って重ね合う多数の絞り羽根73によって構成され、この開口絞 りを通った光束により、図6の如く多角形の像72が観察されるものであった。 この像を見れば分かるように、暗十字71以外の領域に対応する光も開口絞り7 3の開口部を通過し、偏光子固有のEF値よりも低下してしまう。そのために、 最終的に得られる試料の像のコントラストも低下してしまうという問題があった 。
【0006】 また実開平2−47610号に開示されている偏光顕微鏡では、図6(b)に 示すように開口絞りの像74を小さく設定し、暗十字71の一部を利用している に過ぎない。この場合は絞りが小さいため光量が少なく観察しにくいという問題 があった。
【0007】 またレクチファイヤーでは、光学系の部品が増え、その位置調整の作業が必要 となり装置の価格が高くなるという問題があった。
【0008】 本考案は上記の課題に鑑み、EF値の向上、ひいては試料の像のコントラスト の向上した偏光顕微鏡を得ることを目的とする。
【0009】
この目的を達成するために、本考案は、直交ニコル状態に配置された検光子と 偏光子とを有し、開口絞りの像を対物レンズの瞳面に結像させるケーラー照明を 用いて偏光観察する偏光顕微鏡において、開口絞りは、その開口形状が、この開 口絞りが不存在時に観察視野内に現れる暗十字の形状に対応した略十字状をして いることを特徴とするものである。 そして、開口絞りは、対物レンズの倍率に応じてこの開口の十字の大きさの異 なるものが具備されることが望ましい。
【0010】
本考案に係る開口絞りを使用すると、開口絞りの開口形状がこの開口絞りを置 かないと観察視野内に現れる暗十字の形状に対応した略十字状をしていて、暗十 字以外の領域からの光を遮断する。 又対物レンズの倍率に応じて開口の十字の大きさの異なる開口絞りを使用する ときは、対物レンズを交換しても、常に暗十字以外の領域からの光を遮断する。
【0011】
【実施例】 本考案の一実施例を図1〜図5に基づいて説明する。 図1は本考案の一実施例にかかる偏光顕微鏡の光学構成図、図2は開口絞りの 薄板の開口部の形状を示す平面図、図3はポラライザーとアナライザーとを直交 ニコルに設定したときに、暗十字が現れ、開口部の像が暗十字の内部に位置して いるときの状態を示す観察視野図、図4(a)、(b)、図5(a)、(b)は 他の実施態様の開口部61、62、63、64の形状を示す平面図である。
【0012】 図1において、光源1からの光束は、コレクタレンズ2及びリレーレンズ3を 経て開口絞りホルダー4の方に投射される。開口絞りホルダー4は図示の如く、 段差付きの内周面が形成されており、段差部には開口絞りの薄板5が取り付けら れている。開口絞りの薄板5には、後述の十字形開口絞りが形成されている。図 示の如く開口絞りホルダー4、開口絞りの薄板5の右方には、ポラライザー(偏 光子)6、視野絞り7、リレーレンズ8及びハーフミラー9が順次配列されてい る。ハーフミラー9で反射した光束は対物レンズ10を通って試料11を照射す る。試料11より射出し、対物レンズ10、ハーフミラー9、アナライザー(検 光子)12、デポラライザー13を通った光束はプリズム14に有する2面の反 射面によって接眼レンズ15の方に投射される。接眼レンズ15の配設による目 視観察の一例を述べたが、プリズム14の代わりにリレーレンズを設けて、その リレーレンズを経て顕微鏡本体にカメラやテレビカメラなどを取り付けておき、 カメラの撮影により観察視野内を撮ることもできる。
【0013】 開口絞りホルダー4に形成された段差付きの内周面には開口絞りの薄板5が保 持されている。開口絞りの薄板5は開口絞りホルダー4を照明光軸に直交する面 内で摺動自在に装入・取外しすることにより光路中に出し入れ可能である。又段 差付きの内周面において回転移動可能である。
【0014】 開口絞りの薄板5には、図2に示すように十字形の開口絞り5aが形成されて いる。そして図1中のポラライザー6とアナライザー12とを直交ニコル状態に 配置した時に、図3に示す暗十字51において、その内部にできた十字形の部分 52は、図2に示す十字形の開口部5aの像を示しており、十字形に形成された 開口部5aの大きさは、図3に示す像52が暗十字51にできるように設定され ている。
【0015】 以上の本実施例において開口部5aの形状は十字形に形成されていることを述 べた。高い効果が得られる形状は上述のものであるが、この形状に限らず、他の 実施態様としては図4(a)に示すように星型でもよく、図4(b)のように図 2に示す十字形の角を丸めた形状や、図5(a)のように図4(a)の角を丸め た形状のものでもよい。また図5(b)に示すように円弧を使用した形状でもよ い。これらの開口部を覆う略十字開口絞りであっても、従来の絞りに比べて高い EF値が得られる。
【0016】 また対物レンズによって暗十字51の大きさが異なるため、十字形開口絞り5 を交換できるようにしておき、暗十字51の大きさに相応しい大きさの十字形開 口絞りを選択し交換することができる。
【0017】 又本実施例では通常の羽根型の開口絞りの代わりに同じ位置に設けるだけで、 高価な部材を使用しないから、廉価にEF値を向上と、それに伴う試料の像のコ ントラストの向上ができる。
【0018】 本考案の他の実施例を図8〜図9に基づいて説明する。一実施例と同一又は類 似の部分は詳述を省略する。図8は本考案の一実施例にかかる偏光顕微鏡の光学 構成図、図9は開口絞りの薄板の開口部の形状を示す平面図である。 図8において、光源1からの光束は、コレクタレンズ2及びリレーレンズ3を 経て開口絞りホルダー24の方に投射される。開口絞りホルダー24はスライダ 保持部材26に保持され、スライダ方式で紙面に垂直方向に摺動可能となってい る。又開口絞りホルダー24にはその平面図を図9に示すように、孔27a、孔 27bが穿設され、それには段差付きの内周面が形成されており、段差部には開 口絞りの薄板25a、薄板25bがそれぞれ内周面に取り付けられている。開口 絞りの薄板25a、薄板25bにはそれぞれ十字形開口絞り25c、25dが形 成されている。
【0019】 開口絞りホルダー24は開口絞りの薄板25a、25bを保持した状態で、照 明光軸に直交する面内で摺動自在にであるから、ある対物レンズに対しては開口 絞りの薄板25aを、又他の対物レンズに対しては開口絞りの薄板25bを、そ れぞれ対応したものを光路中に出し入れ可能である。
【0020】 以上の通り他の実施例において開口絞りの薄板はスライダ方式で交換可能であ ったが、開口絞りの薄板が多数の場合にはターレット方式で交換するようにして もよい。
【0021】 両実施例に述べた偏光顕微鏡は図1及び図8の如く落射式のものであるが、透 過照明の方式を用いた偏光顕微鏡においても、その本体の内部に配設されたポラ ライザーとアナライザーとを直交ニコルに設定した時、暗十字が現れるので、透 過式の顕微鏡本体の内部に、前述の開口部を有する開口絞りの薄板を備えておき 、本実施例と同様に、開口部の像を暗十字の内部に配置させるようにすれば、透 過照明の方式を用いた偏光顕微鏡においても使用が可能であることはいうまでも ない。
【0022】
本考案によれば、開口絞りの開口形状がこの開口絞りを置かないと観察視野内 に現れる暗十字の形状に対応した略十字状をしていて、暗十字以外の領域からの 光を遮断するから、観察視野でEF値が向上し、試料の像のコントラストが向上 し良好な偏光観察を行うことができる。
【0023】 又対物レンズの倍率に応じて開口の十字の大きさの異なる開口絞りを使用する ときは、対物レンズを交換しても、常に暗十字以外の領域からの光を遮断するか ら、異なる対物レンズにたいして、常にEF値が高められ、精緻な偏光観察を行 うことができる。
【図1】本考案の一実施例にかかる偏光顕微鏡の光学構
成図である。
成図である。
【図2】本考案の一実施例にかかる偏光顕微鏡の開口絞
りの薄板の開口部の形状を示す平面図である。
りの薄板の開口部の形状を示す平面図である。
【図3】ポラライザーとアナライザーとを直交ニコルに
設定したときに、暗十字が現れ、開口部の像が暗十字の
内部に位置しているときの状態を示す観察視野図であ
る。
設定したときに、暗十字が現れ、開口部の像が暗十字の
内部に位置しているときの状態を示す観察視野図であ
る。
【図4】他の実施態様の開口部61、62、63、64
の形状を示す平面図である。
の形状を示す平面図である。
【図5】
【図6】従来の開口絞りの開口部の像と暗十字の位置と
の関係を示す観察視野図である。
の関係を示す観察視野図である。
【図7】従来の開口絞りの構成を示す概略構成図であ
る。
る。
【図8】本考案の一実施例にかかる偏光顕微鏡の光学構
成図である。
成図である。
【図9】本考案の一実施例にかかる偏光顕微鏡の開口絞
りの薄板の開口部の形状を示す平面図である。
りの薄板の開口部の形状を示す平面図である。
4・・・開口絞りホルダー 5・・・開口絞りの薄板 5a・・開口部 6・・・ポラライザー 11・・試料 12・・アナライザー 51、71・・暗十字 52、72・・開口像
Claims (2)
- 【請求項1】 直交ニコル状態に配置された検光子と偏
光子とを有し、開口絞りの像を対物レンズの瞳面に結像
させるケーラー照明を用いて偏光観察する偏光顕微鏡に
おいて、前記開口絞りは、その開口形状が、この開口絞
りが不存在時に観察視野内に現れる暗十字の形状に対応
した略十字状をしていることを特徴とする偏光顕微鏡。 - 【請求項2】 前記開口絞りは、対物レンズの倍率に応
じてこの開口の十字の大きさの異なるものが使用される
ことを特徴とする請求項1記載の偏光顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9120692U JPH0650020U (ja) | 1992-12-15 | 1992-12-15 | 偏光顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9120692U JPH0650020U (ja) | 1992-12-15 | 1992-12-15 | 偏光顕微鏡 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0650020U true JPH0650020U (ja) | 1994-07-08 |
Family
ID=14019963
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9120692U Pending JPH0650020U (ja) | 1992-12-15 | 1992-12-15 | 偏光顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0650020U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009229284A (ja) * | 2008-03-24 | 2009-10-08 | Yamatake Corp | 光学軸方位測定装置、光学軸方位測定方法、球状弾性表面波デバイス製造装置及び球状弾性表面波デバイス製造方法 |
-
1992
- 1992-12-15 JP JP9120692U patent/JPH0650020U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009229284A (ja) * | 2008-03-24 | 2009-10-08 | Yamatake Corp | 光学軸方位測定装置、光学軸方位測定方法、球状弾性表面波デバイス製造装置及び球状弾性表面波デバイス製造方法 |
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