JPH0650540Y2 - 薄膜成長装置 - Google Patents

薄膜成長装置

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JPH0650540Y2
JPH0650540Y2 JP4822490U JP4822490U JPH0650540Y2 JP H0650540 Y2 JPH0650540 Y2 JP H0650540Y2 JP 4822490 U JP4822490 U JP 4822490U JP 4822490 U JP4822490 U JP 4822490U JP H0650540 Y2 JPH0650540 Y2 JP H0650540Y2
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JP
Japan
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thin film
film growth
substrate
ultraviolet light
light source
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JP4822490U
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年彦 西森
仁志 坂本
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、薄膜成長装置の光導入に適用される基板に効
率よく紫外光を照射する構成に関する。
〔従来の技術〕
第2図に、従来のものの構造を示す。1は紫外光源ホル
ダ、2は紫外光源、3は薄膜成長室、4は基板、5は基
板ホルダである。
紫外光源2より出た紫外光が基板5の表面に照射され
る。
〔考案が解決しようとする課題〕
従来の光導入法による薄膜成長装置では、紫外光源と基
板の表面までの距離が遠いため、紫外光源を出る紫外光
が離散してしまい、紫外光を基板の表面ほ高率良く照射
することができない。よって原料ガスを基板付近で効率
良く活性化できず、高率のよい薄膜成長が実現できな
い。
〔課題を解決するための手段〕
そのため本考案は、紫外光源の出口から基板表面付近ま
で内面を複合電解研磨したアルミ円筒管を配置したこと
を特徴とする。
〔作用〕
すなわち本考案は、紫外光源が基板の表面より離れてい
ても、外方へ拡散しようとする光を円筒内面で反射させ
て戻すことにより、効率良く光を照射できるようにし、
紫外光により、原料ガスを基板付近で多く活性化し、効
率の良い薄膜成長を実現したものである。
特にアルミ管は他の材料のように紫外光を吸収しないた
め反射効率を高くすることができる。
〔実施例〕
以下図面に示す実施例により、本考案を詳細に説明す
る。第1図に本考案の1実施例にかかる薄膜成長装置に
おける光導入法の一部破断面図を示す。第1図において
符号1〜2、4〜6は第2図に示す従来のものと同様な
ので、説明を省略する。3は複合電解研磨したアルミ円
筒管(Rmax=0.10〜0.20〔μm〕)である。なおRmaxは
粗さの基準であり、複合研磨の上限値である。反射や凹
凸による不純物付着の防止には内面はできるだけ滑らか
にする必要がある。
本実施例は、複合電解研磨したアルミ円筒管3により、
紫外光源2が基板5の表面より離れていても効率良く基
板5の表面に紫外光を照射できる。よって基板付近で多
く原料ガスを活性化ての、効率の良い薄膜成長ができ
る。具体例を示すとアルミ管3として長さ450mm、径45m
mφのものが20mmφの窓に対して使用された。この効果
を実証するため、第3図、第4図のような実験系を組
み、光量を測定する。第3図において、符号1〜4、第
4図において符号1,2,4は上述の第1図に示す装置と同
様なので説明を省略する。7は測定点の水平方向移動装
置で、8は電流計、9は光電素子である。
測定は、第3,4図に示されるa,b,cの高さの位置で水平方
向に測定点水平方向移動装置7で移動し、その移動位置
による光量の変化を光電素子9で電流に変換し、電流計
8で読み取る。
移動位置の零点を装置の中心にとり、向って左を負、右
を正とする。また、a,cの高さは同じであり、bの高さ
は紫外光源2に近接するところである。
以上の測定結果を第5図に示す。図の横軸は移動位置
〔mm〕を示し、縦軸は光量を表す電流値〔μA〕を示
す。第5図においてaの位置でのグラフは紫外光源2の
出口付近での光量分布を表すグラフであり、このグラフ
を基準にb,cの位置での光量分布を比較すれば、紫外光
源2から基板5までの距離による紫外光の離散が複合電
解研磨したアルミ円筒管により防がれていることがわか
る。このことにより紫外光により原料ガスを基板表面付
近で多く活性化でき効率の良い薄膜成長が可能となる。
〔考案の効果〕
本考案は、前記構成として以下の効果が得られるので、
原料ガスを基板表面付近で多く活性化し、効率のよい薄
膜成長に好適である。
複合電解研磨したアルミ円筒管を紫外光源出口より基板
上面までの間に取り付け、基板と紫外光源の距離による
光の離散を防ぎ原料ガスを基板表面付近で多く活性化で
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の1実施例に係る光を用いた薄膜成長装
置の断面図である。 第2図は従来の薄膜成長装置の断面図である。 第3図は本考案による光量分布を測定する実験手法を示
す。 第4図は従来の装置による光量分布を測定する実験手法
を示す。 第5図は実験により得られた光量分布を示すグラフであ
る。 1……紫外光源ホルダー、2……紫外光源、3……複合
電解研磨したアルミ円筒管、4……薄膜成長室、5……
基板、6……基板ホルダー、7……測定点水平方向移動
装置、8……電流計、9……光電素子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】原料ガスが導入される薄膜成長室と、動薄
    膜成長室内に配置される基板に向けて紫外線を照射する
    紫外光源とを有する薄膜成長装置において、上記紫外光
    源が基板に至る光路を内面鏡仕上げの円筒アルミ管で囲
    繞したことを特徴とする薄膜成長装置。
JP4822490U 1990-05-09 1990-05-09 薄膜成長装置 Expired - Lifetime JPH0650540Y2 (ja)

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JPH047657U JPH047657U (ja) 1992-01-23
JPH0650540Y2 true JPH0650540Y2 (ja) 1994-12-21

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JPS51108927U (ja) * 1975-02-25 1976-08-31

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JPH047657U (ja) 1992-01-23

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