JPH06508055A - 選択的に物質の像を形成するシステム - Google Patents

選択的に物質の像を形成するシステム

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JPH06508055A JP5519419A JP51941993A JPH06508055A JP H06508055 A JPH06508055 A JP H06508055A JP 5519419 A JP5519419 A JP 5519419A JP 51941993 A JP51941993 A JP 51941993A JP H06508055 A JPH06508055 A JP H06508055A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 選択的に物質の像を形成するシステム 光電の分野 本発明は、人体の放射線写真分析の分野に係り、より詳細には、人体内の物質を 選択的に像形成するX線システムに係る。
先行挟轡 特定物質のX線吸収は、その物質を貫通するように向けられたX線光rのエネル ギーに基づく。更に、X線吸収とX線エネルギーとに対する関数的な関係は、種 々の物質量で異なる。
種々の物質に対する吸収関数の相違、即ちX線吸収とX線エネルギーとの関係の 相違は、所与のX線ビーム路に沿ったX線の吸収に対して特定人体物質が寄与す る程度を分離するのに利用されている。単一物質の吸収についての定量化測定は 、たとえその物質がX線の伝播方向に沿って他の物質と重畳していてもその物質 を選択的に像形成するのに用いることができる。
この選択的像形成の技術は、例えば、患者の全体的な骨の質量及び骨の密度を測 定して患者の重畳した組織の質量から分離するのに首尾よく適用されている。
骨の密度の測定は、骨多孔症のような骨の疾病を処置したり、骨の移植の成功性 をその移植の近隣における骨の健全さを評価することによって計測するのに重要 である。
所与の質量の2つの異なる人体物質に対する吸収関数の相違は、主として、光電 吸収とコンプトン散乱との2つの吸収メカニズムによるものである。人体物質は 、これらのメカニズムの各々が全X線吸収に対してどの程度寄与するかによって 区別される。又、人体物質に対する吸収関数は、光電吸収及びコンプトン散乱に 対する関数を組み合わせることによって正確にモデル形成できる。この組み合わ せ関数は、光電吸収及びコンプトン散乱関数の和をその特定物質に対する独特の 係数で重み付けしたものである。
光電吸収及びコンプトン散乱の重み付けされた組み合わせによって物質の吸収モ デルを形成できることは、物質の選択的像形成によって重要である。選択的な僧 形成は、2つのX線エネルギーにおいて2つの吸収測定を行い、そして当該人体 物質に関連した係数を前もって知ったLで、それにより得られる2つの独立した 方程式を解き、各物質に関連した全質揄を決定することにより行われる。一般的 に、当該人体物質は3つ以上あるが、多くの診断」二重要なケースにおいては、 物質が骨と組織の2つの分類に分けられ、これは一般にこれらの技術によって区 別することができる。
選択的な像形成のために必要とされる2つのX線エネルギーを形成する便利な方 法は、X線管の電圧を制御することである。典型的なX線管は熱フィラメントを 含むカソードを備え、このカソードはターゲットであるアノードに向けて電子を 発生する。カソード及びアノードは真空の管内に保持され、カソードとアノード の間にバイアス電圧が印加され、電子をアノードに向けて加速する。アノードに 入射する電子のエネルギーの一部分はX線放射に変換され、その含有スペクトル はバイアス電圧によって作用される。ここで、「X線エネルギー」という用語は 、X線ビームを構成する光子の量子エネルギーを意味するものとして使用される 。
従って、2つの異なるX線エネルギーと、これらの異なるエネルギーにおける異 なる吸収性の測定が、単にX線管の電圧を変えるだけで行われる。又、X線管に またがる電圧の変更は、X線の経路にフィルタを機械的に挿入することによって 行われる。これらのフィルタは、あるX線エネルギーにおける光子を優先的に吸 収し、2つのビームのスペクトル分離を増大するように使用される。各電圧がそ れに関連したフィルタをもつようにしてもよいし、両方が同じフィルタを使用し てもよい。
2つのX線エネルギーにおける2つの吸収性の測定が患者の同じ部位から得られ るように確保するために、これらの測定を素早く次々に行うことが望ましい。
さもなくば、患者の動きによってデータが破壊されてしまう。細いX線ビームが 患者の異なる部位を次々にスイープするような走査X線システムの場合は、上記 の条件により、X線ビームをその走査中に2つのエネルギーレベル間で繰り返し 迅速に切り換えることが必要である。
各X線エネルギーに対し、人体を通過した後のX線を受け取る検出器によってX 線吸収に関連した信号が発生される。検出器の一般的な形式は、イオン化チャン バ、シンチレーション検出器及びソリッドステート検出器で、ある固体物質を通 過するX線の作用によって生じたシンチレーションを測定するものである。検出 器の検出効率はさておき、これらの検出器によって発生される電気信号の信号対 雑音比、ひいては、選択的な像形成の質は、主として、X線ビームの東密度、即 ち対象物を透過して検出されるX線光子の数/!11位時間/対象物の単位面積 の関数である。
不都合なことに、検出器によって受け取られる東密度は、X線ビームのエネルギ ーが変化するときに急激にシフトすることがある。一般に、低いX線エネルギー においては人体物質によるX線の減衰が大きい。従って、測定の低エネルギー部 分中に検出器によって受け取られるX線の東密度が比較的減少される。この付加 的な吸収は、X線管が低いエネルギーにおいて低効率であり、従って、低い束密 度のビームを発生するという事実により明らかである。
それにより得られる選択的な物質像の信号対雑音比は、2本のビームの各々によ る測定の信号対雑音比の関数となる。高いエネルギー及び低いエネルギーの小さ い信号対雑音比での測定は、合成信号の信号対雑音比を不均衡な状態で低下させ る。患者の所与のX線露光に対する最終的な結果の質を最適なものにするように 2つの測定の信号対雑音比を調整できるのが理想である。例えば、1989年の ソレンソン、デユーダ及びスミス氏のMed、Phys 16の第75ないし8 0ページを参照されたい。
X線ビームを電気信号に変換するのに使用される検出器の感度の範囲内で、走査 の低エネルギー部分中に発生される信号の信号対雑音比は、走査のその部分中に X線管からのX線ビームの東密度を増加することによって選択的に増加すること ができる。これは、アノード対カソード電圧を一定に保持しながらX線管の電流 を増加し、即ちカソードフィラメント電流、ひいては、カソード温度を増加する ことによって、X線のエネルギーを著しく変化せずに行うことができる。
医療的な像形成の場合に、東密度を増加することによる利益は、イオン化X線放 射に対する患者の全露出量を可能な程度まで低減する必要性によってバランスさ れねばならない。それ故、走査の高エネルギー部分中に東密度を減少することも 所望される。又、これは、カソードの温度を調整することにより、この場合はフ ィラメント電流を低下することにより、行うことができる。
不都合なことに、カソードの温度は迅速に調整することができず、しかも、カソ ードの温度を用いてX線ビームの東密度を制御すると、患者の動きの問題を減少 するために必要な迅速なビームエネルギーの切り換えが妨げられる。切り換え速 度が低速であることは、走査システムにおいて検査時間を著しく長引かせること になり、全てのシステムにおいて患者の不必要な露出を招く。
又、X線管の電流は、グリッド及びそれに関連した制御回路を有するX線管を用 いることによって制御することもできる。例えば、米国特許第4. 361.  901号を参照されたい。これは、X線源の複雑さ及びコストを著しく高める。
穴咀9要旨 本発明は、2つのX線ビームエネルギー間を必要に応じて迅速に切り換えて患者 の動きによるエラーを減少する一方、2つのエネルギー測定中に発生される検出 器信号の信号対雑音比を制御できるようにする手段を提供する。高エネルギー及 び低エネルギーのX線ビーム間を周期的に切り換えるシステムにおいては、シス テムが各状態にある相対的なドウエル時間を切り換えることによって東密度の制 御が達成される。
より詳細には、クロックが第1及び第2状態をもつ周期的な信号を発生し、第2 状態の+jJは第1状態の巾よりも長くされる。X線管制御器は、クロック信号 が第1状態にあるときはX線管に高電圧を供給し、そしてクロックが第2状態に あるときは低電圧を供給して、高及び低エネルギーのX線ビームを各々発生する ようにする。デマルチプレクサは、X線ビームを受け取る検出器によって発生さ れた電気信号を2つの出力信号に分割する。その第1は、第1状態中の電気信号 の値に関連したものであり、そしてその第2は、第2状態中の電気信号の値に関 連したものである。
1つの実施例において、デマルチプレクサは、電気信号を積分して、第1及び第 2出力チヤンネルの信号が各々第1状態及び第2状態中に検出器によって受け取 られた全X線放射に比例するようにする。
本発明の1つの目的は、迅速に切り換えられるX線システムで得られたデータセ ットの相対的な信号対雑音比を制御する機構を提供することである。本発明では 、信号の強度が東密度に比例するだけでなく、測定されたX線光子の全数にも比 例することが確認される。従って、管が高及び低エネルギーレベルにある相対的 なドウエル時間を切り換えることにより、両状態について検出される信号の信号 対雑音比を制御することができる。
本発明の別の目的は、迅速に切り換えるX線システムによる全測定検査時間を最 小にする手段を提供する。別の方法では、各ビームに対するビーム電流が変えら れる。これは、一般に、X線管電圧の少なくとも1つに対するビーム電流を、X 線管によって許容された最大値よりも強制的に小さくさせる。本発明では、X線 管を常に最大許容ビーム電流で動作することができ、X線ビームを切り換える速 度が制限されない。これにより、測定時間が短くなり、考えられる患者の動きに よる影響が低減される。
本発明の他の目的及び効果は、以下に述べる本発明の好ましい実施例の説明から 当業者に容易に明らかであろう。この説明では、本発明の一例を示した添付図面 を参照する。しかしながら、この例は、本発明の種々の別の形態を余すところな く示すものではなく、従って、本発明は、請求の範囲のみによって限定される図 1は、本発明に用いるのに適した走査二重エネルギーX線システムの概略図で、 X線管及びX線検出器の配置を示す図である。
図2は、図1のX線管積分器及びA/Dを制御するクロック信号を示すグラフで ある。
表ましい 施例の詳細な説U 図1を参照すれば、本発明に用いられる形式の二重エネルギーの走査X線装置1 0は、X線源20からのコリメートされたX線ビーム12を線12に沿って患者 18を通して対向する検出器14に投射する。X線源20及び検出器14は、ス テップモータ又はサーボモータ(図示せず)によりラスタ走査パターン24で一 緒に移動するようにキャリッジ22に取り付けられる。ラスタ走査パターン24 は、X線ビーム12がカルテシアン座標系の第3の直交Z軸に平行となる状態で カルテシアン座標系の2つの垂直な軸X及びyの一方に沿って線16を交互に指 向させることにより患者18の長方形エリアにわたって線16をスイープさせる 。
キャリッジ22の移動は、コンピュータ30からの信号を受信するモータ制御器 28によって制御される。X線源20は、X線放射を生じさせるX線管フィルタ (図示せず)を備えている。又、コンピュータ30は、X線制御器32によりX 線源20を制御し、それをオン及びオフに切り換えそして電圧及び/又はフィル タを切り換える。
検出器14からの信号21は、積分器34によって受信されてデマルチプレクス され、A/Dコンバータ35によってデジタル化されそしてコンピュータ30へ 送信される。このコンピュータは、データをコンピュータメモリ(図示せず)又 は大量記憶装置36に記憶する。オペレータはキーボード38及びトラックボー ル40によってコンピュータ30に入力を供給し、この分野で明らかなようにデ ィスプレイスクリーン42にカーソルを位置設定できるようにする。ディスプレ イスクリーン42は、ラスタ走査により得られた情報を表示する手段も構成する 。
ラスタ走査エリーン24にわたる種々の個別の位置において、X線源20により 発生されてX線制御器32により切り換えられる2つのX線エネルギーの各々に おいて検出器14からデータが収集される。従って、各位置において、2つのデ ータサンプルが収集され、それらの値は、両方のX線エネルギーにおけるX線1 2の患者18による吸収量に対応する。6対のサンプルは、そのサンプルが収集 された線16のX及びy座標に対して識別される。これと共に、全テスク走査パ ターンをカバーするサンプル対がデータマトリクスの要素を形成し、その座標は 線16の空間座標に対応する。図1に示すような現在入手できる走査X線装置で は、約9xlOcmのラスタ走査エリアに対しサンプル間に0.6mmの間隔を 得ることができる。
図1及び2を参照すれば、X線制御器32は、制御信号44を発生するための内 部クロック(図示せず)を組み込んでおり、この制御信号は、周期ILIV及び Vl中に高状態を有し、そして周期l5III及びV中に低状態を有し、X線源 20に送られる電圧を、積分器34及びアナログ−デジタル(A/D)コンバー ク35より成るデータ収集システム(DAS)37の動作と同期させる。より詳 細には、図2に示すように、信号44が高状態にあるときには、X線源20への 電圧46が時間周期Wヨ中に高電圧v8まで増加され、そして信号44が低状態 にあるときには、X線源20への電圧46が時間周期W、中に高電圧■1まで減 少される。X線源20の高及び低電圧46は、この分野で一般的に明らかなよう に、X線管のアノード及びカソードをバイアスする電圧を指す。
又、好ましい実施例においては、信号44は、X線ビームをフィルタするのに使 用されるフィルタの切り換えもする。X線管にかかる変化する電圧とフィルタと によって、前記した2つのエネルギー帯域のX線放射が発生される。狭帯域のX 線放射は、各々、高及び低エネルギーX線ビーム12と称する。X線源20にか かる電圧46を低い値から高い値に切り換えると、空間電荷作用によりビーム電 流48が増加される。
X線源20から検出器14によって受け取られた放射線は信号電流を発生し、こ れは積分器34によって積分されて、信号電圧50を生じる。積分器34は、時 間周期lの始めにクリアされ、そして信号50は、この周期Iの間に、X線管電 圧46、電流48及び測定されている患者18に基づき、低エネルギービーム1 2に応答して検出器14により検出された放射線強度に比例して増加する。
信号44から導出されるリセット信号52は、信号44の低レベルから高レベル へ又は高レベルから低レベルへの移行中に立ち上がり縁を有する短い論理パルス を構成する。信号52のパルスのこの立ち−1−かり縁において、A/Dコンバ ータ35は、積分器34の出力である信号50をサンプルしデジタル化する。サ ンプリングが完了した直後に、信号52のパルスは積分器34をクリアする。
時間周期IIの間に、X線管の電圧46及び電流48は、高状態に切り換えられ 、積分器の信号50は、高エネルギービーム12に応答して検出器14により検 出された放射線強度に基づく割合で増加する。信号50は、周期IIの終わりに デジタル化される。周期l及び11は一対のX線測定値を発生する。同様に、周 期III及びIVは一対の二重エネルギーX線測定値を発生し、等々となる。
これら全てのデジタル化された信号はコンピュータ30によって記憶される。
図2において、積分された信号50の値は、全ての高電圧周期(II、IV、V I)の終わりに同じであるとして示されている。同様に、信号50の値は、低エ ネルギー周期(IS I I L V)の終わりにおいても同じである。これは 、もちろん、一般的なケースではない。積分された信号50の値は、ビーム12 が透過する患者18の細部と、X線ビーム12のラスタ走査移動とに基づく。
本発明の動作にとって重要なものは、高及び低エネルギーの時間周期各々WL及 びWIIの時間巾の選択である。低エネルギーの周期WLの巾は、低エネルギー 周期中の低エネルギービーム12の積分強度を制御し、一方、W6は、高エネル ギー周期中の高エネルギービーム12の積分強度を制御する。これらのWL及び W、lを調整することにより、積分強度、ひいては、測定の信号対雑音比が制御 される。低及び高エネルギー測定の信号対雑音比のこの独立した制御により、選 択された物質の像の信号対雑音比を最適化することができる。WL及びWIIの 厳密な値は、患者18による平均減衰量を推定しそして高及び低エネルギー測定 において最適な信号対雑音比を得るようにWL及びW、lを調整することにより 決定される。
低状態及び高状態を含む波形44の1サイクルの後に、低及び高の両エネルギー のX線ビーム12に対しラスタ走査パターン24の1つの点についての吸収デー タが収集される。このときに、X線ビーム12を身体の新たな位置へ移動するよ うにステップモータが作動される。ラスタ走査パターン24の終わりに、デジタ ル化されたデータ要素の配列が形成され、各要素はラスタの特定点に関連されそ して各配列は高エネルギーにおけるX線の吸収又は低エネルギーにおけるX線の 吸収を指示する値を有する。
高及び低エネルギーのX線ビーム12に関連した2つの異なるX線エネルギーの データを使用して、ラスタ走査パターン24の各点における2つの異なる身体物 質の吸収作用を分離することができ、ひいては、アレイの各点における異なる物 質の質量を決定することができる。測定されたX線データを選択的な物質測定値 に変換するためのアルゴリズムは公知である。例えば、1981年、Med。
Phys、8 (5)に掲載されたレーマン氏等の[二重kVpデジタル放射線 写真における一般化した像結合(Generalized Image Com binations in Dual kVp Digital llladi ography)1 、又はソレンソン氏等の前記文献を参照されたい。これら は参考としてここに援用するものである。
本発明の精神及び範囲から逸脱せずに多数の変更がなされ得ることが当業者に明 らかであろう。例えば、3つ以上のX線測定を使用する技術も知られている。
本発明の教示は、3つ以−Lの測定に一般化することができ、この場合に各周期 の相対的なrlは、種々のビームで検出される相対的な積分強度を調整するよう に制御される。更に、上記したように、時間周期WL及びWIIの巾は、走査を 開始する前に、例えば、対象物の厚みの知識及び所望の測定精度を用いて選択さ れる。
別のやり方は、フィードバックを用いてW、及びWnを自動的に調整することで ある。このやり方では、2つのビームに対して測定された積分強度を用いて、所 望の測定の質を維持するように周期の巾が調整される。
更に、測定周期W1.及びWllを有望に選択すれば、制御信号44は完全に周 期的でなくてもよい。例えば、ラスタ走査の一部分が他部分よりも患者18の厚 みのある部分を検査することが分かつている場合には、ラスタ走査の異なる部分 について異なる値のWt及びWIIを使用することができる。又、本発明は、扇 状の放射ビームを検出素子のアレイ及び−次元走査運動と共に使用するシステム や、又は走査運動を全く使用しないエリアビームシステムにも適用できる。
本発明の範囲内に包含される種々の実施例を一般に知らしめるために、請求の範 囲を次のように限定する。
国際調査報告 、 −PCT/US 93103866

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.少なくとも第1及び第2の物質を含む対象物に対し選択的に物質の像を形成 する装置において、 電圧を受け取りそしてその電圧に関連したスペクトル特性を有するX線放射を発 生するX線管と、 第1の巾を有する第1状態と、上記第1の巾とは異なる第2の巾を有する第2状 態とを定めるタイミング制御器と、 上記X線管に上記第1の状態中には高電圧をそして第2の状態中には低電圧を供 給するためのX線管制御器と、 対象物によって減衰された上記X線管からのX線放射を受け取りそしてそのX線 放射の強度に比例した電気信号を発生するための検出器と、上記検出器からの電 気信号を受け取り、上記第1状態中にはその電気信号の値に関連した第1出力チ ャンネル信号を発生しそして上記第2状態中にはその電気信号の値に関連した第 2出力チャンネル信号を発生するためのデータ収集システムと、 上記第1及び第2出力チャンネル信号を合成して、実質的に上記第1物質のみを 指示する像を形成する手段であって、その像の信号対雑音比を最大にするように 上記第1の巾と第2の巾が選択されているような手段とを備えたことを特徴とす る装置。
  2. 2.上記データ収集システムは上記電気信号を積分し、上記第1出力チャンネル 信号は上記第1状態中に検出器によって受け取られた全X線放射に比例し、そし て上記第2出力チャンネル信号は上記第2状態中に検出器によって受け取られた 全X線放射に比例する請求項1に記載の装置。
  3. 3.物体に対し選択的にその物質の像を形成する走査X線システムにおいて、電 圧を受け取りそしてその電圧に関連したスペクトル特性をもちビーム領域を有す るX線放射を発生するX線管と、 上記X線放射のビーム領域を患者の領域上の複数の点においてある走査速度で走 査するための走査手段と、 第1の巾を有する第1状態と、上記第1の巾とは異なる第2の連続する巾を有す る第2状態とを備えた制御信号を各点において発生する手段と、上記制御信号が 第1状態にあるときは上記X線管に高電圧を供給しそして上記制御信号が第2状 態にあるときは低電圧を供給するためのX線管制御器と、対象物によって減衰さ れた上記X線管からのX線放射を受け取りそしてそのX線放射の強度に比例した 電気信号を発生するための検出器と、上記検出器からの電気信号を受け取り、上 記第1状態中にはその電気信号の値に関連した第1出力チャンネル信号を発生し そして上記第2状態中にはその電気信号の値に関連した第2出力チャンネル信号 を発生するためのデータ収集システムとを備えたことを特徴とする走査X線シス テム。
  4. 4.上記データ収集システムは上記電気信号を積分し、上記第1出力チャンネル 信号は上記第1状態中に検出器によって受け取られた全X線放射に比例し、そし て上記第2出力チャンネル信号は上記第2状態中に検出器によって受け取られた 全X線放射に比例する請求項1に記載の装置。
  5. 5.上記第1及び第2の巾は、上記第1及び第2チャンネル出力信号のフィード バックによって制御される請求項2に記載の装置。
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