JPH0650814A - 多スペクトル反射率計 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 拡散反射鏡により、光スペクトルの選定領域
における光吸収を測定する反射率計であって、体液内に
存在する成分により吸収を高精度に測定するのに適す
る。 【構成】 被測定試料は、該試料の表面に対して４５゜
の角度で収束光源により照射される。試料面の法線を中
心軸として拡散反射された光は、小円柱状の光ファイバ
束に入射する。光ファイバ束の反対端において、複数本
の光ファイバは、細い矩形状に配置される。この矩形
は、ホログラフィック凹面回折格子の入口スリットを形
成する。格子は、入口スリットの複数の像をフィルム上
または複数の個別検出器から成るアレイ上にスペクトル
を記録するのに適当な平らなフィールドの全体に亘って
スペクトル的に分割して形成する。
における光吸収を測定する反射率計であって、体液内に
存在する成分により吸収を高精度に測定するのに適す
る。 【構成】 被測定試料は、該試料の表面に対して４５゜
の角度で収束光源により照射される。試料面の法線を中
心軸として拡散反射された光は、小円柱状の光ファイバ
束に入射する。光ファイバ束の反対端において、複数本
の光ファイバは、細い矩形状に配置される。この矩形
は、ホログラフィック凹面回折格子の入口スリットを形
成する。格子は、入口スリットの複数の像をフィルム上
または複数の個別検出器から成るアレイ上にスペクトル
を記録するのに適当な平らなフィールドの全体に亘って
スペクトル的に分割して形成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光のスペクトルの複数
の選定領域における光吸収を拡散反射鏡によって測定す
る装置に関し、特に、ホログラフィック格子および光検
出器アレイを使用する反射率計に関する。
の選定領域における光吸収を拡散反射鏡によって測定す
る装置に関し、特に、ホログラフィック格子および光検
出器アレイを使用する反射率計に関する。
【０００２】
【従来の技術】吸収性分析物質を含む試料の特定波長で
の拡散反射率（反射率密度ＤＲ）の負の対数と試料中の
分析物質の濃度Ｃとの間には、非直線性であるが因果的
な以下に示す関係がある。すなわち、
の拡散反射率（反射率密度ＤＲ）の負の対数と試料中の
分析物質の濃度Ｃとの間には、非直線性であるが因果的
な以下に示す関係がある。すなわち、
【数１】 および
【数２】 である。
【０００３】代表的なＤR ／濃度の曲線が第１図に示さ
れている。
れている。
【０００４】したがって、既知試料から拡散する反射エ
ネルギを一の特定波長で測定することにより、既知波長
において関数ｆ（Ｃ）が事前に知られている場合には、
同試料内に存在する吸収性分析物質の濃度を測定でき
る。ＤR ／Ｃ曲線は、通常、既知濃度の分析物質の標準
液を用いて確定される。
ネルギを一の特定波長で測定することにより、既知波長
において関数ｆ（Ｃ）が事前に知られている場合には、
同試料内に存在する吸収性分析物質の濃度を測定でき
る。ＤR ／Ｃ曲線は、通常、既知濃度の分析物質の標準
液を用いて確定される。
【０００５】波長帯は、分析物質固有のものであり、分
析物質の溶液の成分分子に基づいて選定される。波長帯
は、しばしば、吸収スペクトルにより実験的に確定さ
れ、傾き変化率が最大の点で採取される。
析物質の溶液の成分分子に基づいて選定される。波長帯
は、しばしば、吸収スペクトルにより実験的に確定さ
れ、傾き変化率が最大の点で採取される。
【０００６】
【発明の要約】本発明の目的は、既知試料から特定波長
で拡散反射するエネルギを一の波長帯に亘って高精度に
測定できる小型計器を提供することである。
で拡散反射するエネルギを一の波長帯に亘って高精度に
測定できる小型計器を提供することである。
【０００７】上記目的は、以下の５つの主要構成要素を
有する多スペクトル反射率計を提供することにより達成
される。すなわち、１． 既知波長での反射率を測定す
べき試料の画定領域を照明する照明システム。２．
上記試料からの反射エネルギを収集し他端において凹面
格子のための矩形入口スリットを形成する光ファイバ型
集光システム。３． 光ファイバ束の入口スリットによ
って伝送されたスライドからの反射エネルギを受容した
後、その複数の成分波長にスペクトル平面上で分散させ
るホログラフィック記録凹面格子。４． スペクトル平
面に配置された各波長での回折エネルギを検出する光検
出器アレイ。５． 種々の波長において光検出器により
発生された光電流を処理し、既知波長帯域幅内の反射率
値に対応する数値データに変換する電子回路。
有する多スペクトル反射率計を提供することにより達成
される。すなわち、１． 既知波長での反射率を測定す
べき試料の画定領域を照明する照明システム。２．
上記試料からの反射エネルギを収集し他端において凹面
格子のための矩形入口スリットを形成する光ファイバ型
集光システム。３． 光ファイバ束の入口スリットによ
って伝送されたスライドからの反射エネルギを受容した
後、その複数の成分波長にスペクトル平面上で分散させ
るホログラフィック記録凹面格子。４． スペクトル平
面に配置された各波長での回折エネルギを検出する光検
出器アレイ。５． 種々の波長において光検出器により
発生された光電流を処理し、既知波長帯域幅内の反射率
値に対応する数値データに変換する電子回路。
【０００８】上記照明システムは、ハロゲンランプと、
該ハロゲンランプの後方に配置された球面鏡（２色性球
面鏡が望ましい）と、ハロゲンランプの前方に配置され
た１対のレンズおよび熱フィルタとから成ることが望ま
しい。レンズは、ハロゲンランプからの光スポットを試
料スライド上へ収束させる。
該ハロゲンランプの後方に配置された球面鏡（２色性球
面鏡が望ましい）と、ハロゲンランプの前方に配置され
た１対のレンズおよび熱フィルタとから成ることが望ま
しい。レンズは、ハロゲンランプからの光スポットを試
料スライド上へ収束させる。
【０００９】本発明の反射率計は、主として比色測定の
ために開発されたものであるが、少し変更された、すな
わち、照明システムをろ波することにより、測定される
分析物質の特定蛍光励起波長を得ることによるけい光測
定を含むイムノアッセイ測定の分野において広い適用分
野を見出すであろう。反射率計は、種々の波長での反射
率（代表例として、３４０ｎｍ〜７００ｎｍ）を測定す
るので、特有吸収波長帯域を同定するために、または、
逆に、既知試料中の特定の化合物の存否を同定するため
に実験室研究用計器としても適当であろう。
ために開発されたものであるが、少し変更された、すな
わち、照明システムをろ波することにより、測定される
分析物質の特定蛍光励起波長を得ることによるけい光測
定を含むイムノアッセイ測定の分野において広い適用分
野を見出すであろう。反射率計は、種々の波長での反射
率（代表例として、３４０ｎｍ〜７００ｎｍ）を測定す
るので、特有吸収波長帯域を同定するために、または、
逆に、既知試料中の特定の化合物の存否を同定するため
に実験室研究用計器としても適当であろう。
【００１０】
【好適な実施例の詳細な説明】まず、第２図を参照すれ
ば判るように、全体が参照番号１０で表示された本発明
の反射率計は、５個の主要構成要素を有する。すなわ
ち、これらは、照明システム１００、光ファイバ型集光
システム２００，ホログラフィック凹面格子３００、光
検出器アレイ４００、および電子処理回路（図示せず）
である。
ば判るように、全体が参照番号１０で表示された本発明
の反射率計は、５個の主要構成要素を有する。すなわ
ち、これらは、照明システム１００、光ファイバ型集光
システム２００，ホログラフィック凹面格子３００、光
検出器アレイ４００、および電子処理回路（図示せず）
である。
【００１１】照明システム１００は、試料３０（スライ
ド内に格納されていることが望ましい）が照射されるよ
うに、ハウジング２０上に配置されている。試料３０か
ら拡散反射した光エネルギは、収集されたエネルギを矩
形スリットの形状とし凹面回折格子３００に向ける光フ
ァイバ型集光システム２００により集められる。凹面回
折格子３００は、スペクトル平面上において反射エネル
ギをその複数の成分波長に分散させる。光検出器アレイ
４００は、スペクトル平面に配置され、各波長での反射
エネルギを検出する。電子回路（後述する）は、光検出
器アレイ４００により発生された種々の波長での光電流
を処理し、既知波長帯域幅内で、反射率値に対応する数
値データに変換する。
ド内に格納されていることが望ましい）が照射されるよ
うに、ハウジング２０上に配置されている。試料３０か
ら拡散反射した光エネルギは、収集されたエネルギを矩
形スリットの形状とし凹面回折格子３００に向ける光フ
ァイバ型集光システム２００により集められる。凹面回
折格子３００は、スペクトル平面上において反射エネル
ギをその複数の成分波長に分散させる。光検出器アレイ
４００は、スペクトル平面に配置され、各波長での反射
エネルギを検出する。電子回路（後述する）は、光検出
器アレイ４００により発生された種々の波長での光電流
を処理し、既知波長帯域幅内で、反射率値に対応する数
値データに変換する。
【００１２】以下、本発明の各構成要素について更に詳
しく説明する。
しく説明する。
【００１３】照明システム１００は、ランプ１２０、２
色性球面状凹面鏡１３０、および１対のレンズ１４０お
よび１５０から成り、これらは、全てハウジング１６０
内に取り付けられている。ランプ１２０は、光源として
使用されている。球面状凹面鏡１３０（望ましくは、２
色性）は、レンズ１４０および１５０がランプ１２０の
後側および前側から光を得るように、ランプ１２０の後
方に配置されている。ランプ１２０からの直射光と反射
光との複合光は、直径に対する焦点距離の比（ｆ数）が
約０．６〜１．０となり得るレンズ系によって収束され
る。図示された実施例によれば、２個のレンズ１４０お
よび１５０は、ランプ１２０の前方に配置され、約１．
０のｆ数を有し、球面状凹面鏡１３０は、ランプ１２０
と同心となる曲率中心を有する凹面鏡である。ランプ放
射は、４ｍｍ直径の試料面積で試料３０に照射される。
色性球面状凹面鏡１３０、および１対のレンズ１４０お
よび１５０から成り、これらは、全てハウジング１６０
内に取り付けられている。ランプ１２０は、光源として
使用されている。球面状凹面鏡１３０（望ましくは、２
色性）は、レンズ１４０および１５０がランプ１２０の
後側および前側から光を得るように、ランプ１２０の後
方に配置されている。ランプ１２０からの直射光と反射
光との複合光は、直径に対する焦点距離の比（ｆ数）が
約０．６〜１．０となり得るレンズ系によって収束され
る。図示された実施例によれば、２個のレンズ１４０お
よび１５０は、ランプ１２０の前方に配置され、約１．
０のｆ数を有し、球面状凹面鏡１３０は、ランプ１２０
と同心となる曲率中心を有する凹面鏡である。ランプ放
射は、４ｍｍ直径の試料面積で試料３０に照射される。
【００１４】ランプ１２０は、例えば、３，０００゜Ｋ
の色温度で２，０００時間の寿命を有し１．２ｍｍ（直
径）×２．９ｍｍ（長さ）のフィラメント寸法を有す
る。ギルウェイＬ７３９４（６Ｖ，２０Ｗ）のような小
形ハロゲンランプであることが望ましい。ランプ１２０
は、適当なセラミック製ソケット（例えば、ギルウェイ
Ｈ９９４１ソケット）に取付けられ、容易に取外し／交
換するためにバヨネットピンを用いてウオンド内に組込
まれている。
の色温度で２，０００時間の寿命を有し１．２ｍｍ（直
径）×２．９ｍｍ（長さ）のフィラメント寸法を有す
る。ギルウェイＬ７３９４（６Ｖ，２０Ｗ）のような小
形ハロゲンランプであることが望ましい。ランプ１２０
は、適当なセラミック製ソケット（例えば、ギルウェイ
Ｈ９９４１ソケット）に取付けられ、容易に取外し／交
換するためにバヨネットピンを用いてウオンド内に組込
まれている。
【００１５】凹面鏡１３０は、２５ｍｍの半径を有する
２色性球面鏡であることが望ましい。望ましいランプお
よび２色性鏡（これも、ギルウェイから入手できる）の
スペクトルエネルギ分布は、第３図に示されている。
２色性球面鏡であることが望ましい。望ましいランプお
よび２色性鏡（これも、ギルウェイから入手できる）の
スペクトルエネルギ分布は、第３図に示されている。
【００１６】レンズ・熱フィルタ配置の分解図は、第４
図に示されている。熱フィルタ１６０は、ショットＢＧ
４０（二酸化シリコン被覆フィルタ）である。
図に示されている。熱フィルタ１６０は、ショットＢＧ
４０（二酸化シリコン被覆フィルタ）である。
【００１７】試料３０は、通常、従来のスライド（図示
せず）内に格納されている。スライドは、試料３０から
拡散反射された放射を集めるコレクタ２００の上方に配
置されたのぞき窓（図示せず）内に手で装着される。照
明システム１００は、試料３０の約４ｍｍ直径の領域
（中心にある）を照射する。スライドへの光の入射角
は、光ファイバ束の受入れ角内にあるべきではない。図
示された実施例によれば、入射角は、４５゜である。
せず）内に格納されている。スライドは、試料３０から
拡散反射された放射を集めるコレクタ２００の上方に配
置されたのぞき窓（図示せず）内に手で装着される。照
明システム１００は、試料３０の約４ｍｍ直径の領域
（中心にある）を照射する。スライドへの光の入射角
は、光ファイバ束の受入れ角内にあるべきではない。図
示された実施例によれば、入射角は、４５゜である。
【００１８】ランプ１２０から発した光が低温および効
率的方法で試料３０に収束されるモードを第１５図およ
び第１６図に関連して説明する。フィラメントコイル軸
を光軸に対して１５゜にすると、結像した像３２は、３
ｍｍ×２．１ｍｍの寸法を有する４５゜の楕円を満たす
ように出現する。像３２の反射像は、両端コイルの直径
がそれぞれ２ｍｍおよび２．２ｍｍの円錐台に歪められ
る。収束レンズ組立体は、この歪みを約５０％拡大し、
第１５図に示されているように、収差によって試料表面
上で焦点をぼやけさせ、４５゜の角度で見られる最終像
において３ｍｍの円形スポットを生じる。
率的方法で試料３０に収束されるモードを第１５図およ
び第１６図に関連して説明する。フィラメントコイル軸
を光軸に対して１５゜にすると、結像した像３２は、３
ｍｍ×２．１ｍｍの寸法を有する４５゜の楕円を満たす
ように出現する。像３２の反射像は、両端コイルの直径
がそれぞれ２ｍｍおよび２．２ｍｍの円錐台に歪められ
る。収束レンズ組立体は、この歪みを約５０％拡大し、
第１５図に示されているように、収差によって試料表面
上で焦点をぼやけさせ、４５゜の角度で見られる最終像
において３ｍｍの円形スポットを生じる。
【００１９】試料３０から拡散反射された光は、コレク
タ２００により集光される。コレクタ２００は、ハウジ
ング２５０内に取付けられた光ファイバ束であることが
望ましい。コレクタ２００は、スリット寸法を通じて伝
送できるだけの光エネルギを集め後述する凹面格子３０
０の全面を満たす。これを実現するためには、各光ファ
イバは、光ファイバ束の他端に面した格子が張る立体角
に等しいか、または、これよりも大きい立体角を張る源
からの光に備え、これを伝送しなければならない。光フ
ァイバ束の受容能力、すなわち、開口数は、本装置が必
要とする大きさの１と１／２倍〜２倍であることが望ま
しい。したがって、各光ファイバが凹面格子３００の全
面に光を伝送するように、光ファイバ群を源に十分接近
して配置することのみが残された解決法である。凹面格
子３００の過剰充満は、本装置中の散乱光を減少させる
ために、いずれも、遮断され、または、吸収されるべき
である。
タ２００により集光される。コレクタ２００は、ハウジ
ング２５０内に取付けられた光ファイバ束であることが
望ましい。コレクタ２００は、スリット寸法を通じて伝
送できるだけの光エネルギを集め後述する凹面格子３０
０の全面を満たす。これを実現するためには、各光ファ
イバは、光ファイバ束の他端に面した格子が張る立体角
に等しいか、または、これよりも大きい立体角を張る源
からの光に備え、これを伝送しなければならない。光フ
ァイバ束の受容能力、すなわち、開口数は、本装置が必
要とする大きさの１と１／２倍〜２倍であることが望ま
しい。したがって、各光ファイバが凹面格子３００の全
面に光を伝送するように、光ファイバ群を源に十分接近
して配置することのみが残された解決法である。凹面格
子３００の過剰充満は、本装置中の散乱光を減少させる
ために、いずれも、遮断され、または、吸収されるべき
である。
【００２０】適当な光ファイバ型コレクタ２００が第５
図〜第７図に示されている。コレクタ２００は、有孔気
密ハウジング２１０を含む。両端部２２０および２３０
内に、光ファイバ群がエポキシ樹脂により所定位置に保
持されている。他方、中央部２４０内のファイバ群は、
可撓性を維持している（すなわち、固定されていな
い）。第６図に分り易く示されているように、円形横断
面を有する端部２２０は、照明された試料３０から反射
されたエネルギを集めるのに使用される。第７図の端面
図から理解できるように、矩形横断面を有する端部２３
０は、凹面回折格子３００への入口スリットとして機能
する。コレクタ２００は、２５０本の光ファイバを含ん
でいてもよい。各光ファイバは、５０μｍの直径および
０．６の開口数を有する。端部２３０において、光ファ
イバ群は、各列が少なくとも５０本の光ファイバから成
る少なくとも２列に配置されることが望ましく、好適な
実施例によれば５列に配置され、矩形スリットの形状を
形成する。
図〜第７図に示されている。コレクタ２００は、有孔気
密ハウジング２１０を含む。両端部２２０および２３０
内に、光ファイバ群がエポキシ樹脂により所定位置に保
持されている。他方、中央部２４０内のファイバ群は、
可撓性を維持している（すなわち、固定されていな
い）。第６図に分り易く示されているように、円形横断
面を有する端部２２０は、照明された試料３０から反射
されたエネルギを集めるのに使用される。第７図の端面
図から理解できるように、矩形横断面を有する端部２３
０は、凹面回折格子３００への入口スリットとして機能
する。コレクタ２００は、２５０本の光ファイバを含ん
でいてもよい。各光ファイバは、５０μｍの直径および
０．６の開口数を有する。端部２３０において、光ファ
イバ群は、各列が少なくとも５０本の光ファイバから成
る少なくとも２列に配置されることが望ましく、好適な
実施例によれば５列に配置され、矩形スリットの形状を
形成する。
【００２１】本装置の最重要な要素は、格子である。格
子の凹面球面形状によれば、格子は、コレクタ２００の
スリット端部２３０を通じて該格子に照射された反射エ
ネルギを光検出器アレイ上に結像する最重要な機能を果
たす。すなわち、格子は、スペクトル面上でエネルギを
その複数の成分波長に分散させる。この結像機能は、代
表的な場合、２個の重大な欠点を有する。すなわち、直
径が格子の半径に等しいローランド円上のスペクトル像
面の曲率、および、スリット像の収差（主として非点収
差）である。刻線もしくは複製凹面格子を製造する方法
は、２つの欠点、すなわち、溝形成面の凹凸からの分散
光および周期的空間変動によるゴーストをも有する。
子の凹面球面形状によれば、格子は、コレクタ２００の
スリット端部２３０を通じて該格子に照射された反射エ
ネルギを光検出器アレイ上に結像する最重要な機能を果
たす。すなわち、格子は、スペクトル面上でエネルギを
その複数の成分波長に分散させる。この結像機能は、代
表的な場合、２個の重大な欠点を有する。すなわち、直
径が格子の半径に等しいローランド円上のスペクトル像
面の曲率、および、スリット像の収差（主として非点収
差）である。刻線もしくは複製凹面格子を製造する方法
は、２つの欠点、すなわち、溝形成面の凹凸からの分散
光および周期的空間変動によるゴーストをも有する。
【００２２】ホログラフィー記録回折格子は、機械的手
段によってでなく、後の現像処理およびアルミニウム被
覆によって格子の面となる、２本のレーザビームによっ
て作られた３次元干渉パターンによって製作される。こ
の方法は、限定されているが、十分な波長範囲および分
散の全体に亘る平らなスペクトルを有する格子を製作す
る。主収差、すなわち、非点収差は、マグニチュードの
次数によって低減され、散乱は、顕著に低減され、ゴー
ストは、除去される。これらのタイプの格子は、レーナ
ーその他による「刻線回折格子およびホログラフィック
回折格子レビュー」、スピー巻２４０、周期性構造物、
格子、モアレパターンおよび回折現象（１９８０）で論
じられており、この引用により本明細書に組入れられ
る。
段によってでなく、後の現像処理およびアルミニウム被
覆によって格子の面となる、２本のレーザビームによっ
て作られた３次元干渉パターンによって製作される。こ
の方法は、限定されているが、十分な波長範囲および分
散の全体に亘る平らなスペクトルを有する格子を製作す
る。主収差、すなわち、非点収差は、マグニチュードの
次数によって低減され、散乱は、顕著に低減され、ゴー
ストは、除去される。これらのタイプの格子は、レーナ
ーその他による「刻線回折格子およびホログラフィック
回折格子レビュー」、スピー巻２４０、周期性構造物、
格子、モアレパターンおよび回折現象（１９８０）で論
じられており、この引用により本明細書に組入れられ
る。
【００２３】本発明に適したホログラフィー記録格子
（ＨＲＤ）は、外径４０ｍｍ〜２００ｍｍ、溝本数密度
２００本／ｍｍ〜６００本／ｍｍであることが望まし
い。溝本数密度３１０本／ｍｍ、外径５０ｍｍおよび曲
率半径１００ｍｍの合格格子は、インスツルメント エ
ス・エーから入手できる。インスツルメント エス・エ
ーから入手できる他の適当な格子は、溝本数密度３２０
本／ｍｍ、外径２８ｍｍおよび曲率半径４０ｍｍであ
る。特定スペクトル線の０次像からの距離は、１次の基
本格子方程式から計算される。
（ＨＲＤ）は、外径４０ｍｍ〜２００ｍｍ、溝本数密度
２００本／ｍｍ〜６００本／ｍｍであることが望まし
い。溝本数密度３１０本／ｍｍ、外径５０ｍｍおよび曲
率半径１００ｍｍの合格格子は、インスツルメント エ
ス・エーから入手できる。インスツルメント エス・エ
ーから入手できる他の適当な格子は、溝本数密度３２０
本／ｍｍ、外径２８ｍｍおよび曲率半径４０ｍｍであ
る。特定スペクトル線の０次像からの距離は、１次の基
本格子方程式から計算される。
【数３】 ここで、ｎは、μｍ当りの溝本数であり、λは、μｍ単
位の波長であり、角度は、第８図に示されている通りで
ある。第８図は、凹面回折格子３００に対する格子角度
を示している。
位の波長であり、角度は、第８図に示されている通りで
ある。第８図は、凹面回折格子３００に対する格子角度
を示している。
【数４】 および散乱は、以下の式により与えられる。
【数５】
【００２４】溝本数密度３１０本／ｍｍの好適な格子に
対するスペクトル線の計算位置は、表Ｉにより以下のよ
うに示される。
対するスペクトル線の計算位置は、表Ｉにより以下のよ
うに示される。
【００２５】光検出器アレイ４００は、凹面回折格子３
００が試料３０からの拡散反射エネルギを分散させるス
ペクトル平面上に配置されている。光検出器アレイ４０
０は、ハウジング２０に取付けられたサブハウジング４
１０内に適当な手段によって取付けられるべきである。
００が試料３０からの拡散反射エネルギを分散させるス
ペクトル平面上に配置されている。光検出器アレイ４０
０は、ハウジング２０に取付けられたサブハウジング４
１０内に適当な手段によって取付けられるべきである。
【００２６】光検出器アレイ４００は、浜松ホトニクス
から入手できる２５６画素ＰＣＤ直線イメージセンサ
（Ｓ２３０１−２５６Ｑ）であってもよい。このような
光検出器アレイによれば、各フォトダイオード素子は、
３６μｍ×２．５ｍｍの大きさであり、５０μｍのピッ
チを有する。各フォトダイオード素子に対する飽和照射
は、約１００ＰＪである。最大積分時間は、約６ｍｓと
計算され、２０ｐＣ．の飽和電荷を生じる。ノイズは、
約２１．１℃（＝７０゜Ｆ）で約１×１０−３ｐＣ．
（ｒｍｓ）と評価される。したがって、光検出器のダイ
ナミックレンジは、８６ｄＢである。また、光検出器
は、温度および蓄積時間依存性の大暗出力を有する。約
２１．１℃（＝７０゜Ｆ）の１０ｍｓの積分時間におい
て、暗出力は、約０．１３ｐＣ．である。しかし、この
出力は、温度トラックキング回路を有する増幅器におい
てオフセットすることができる。
から入手できる２５６画素ＰＣＤ直線イメージセンサ
（Ｓ２３０１−２５６Ｑ）であってもよい。このような
光検出器アレイによれば、各フォトダイオード素子は、
３６μｍ×２．５ｍｍの大きさであり、５０μｍのピッ
チを有する。各フォトダイオード素子に対する飽和照射
は、約１００ＰＪである。最大積分時間は、約６ｍｓと
計算され、２０ｐＣ．の飽和電荷を生じる。ノイズは、
約２１．１℃（＝７０゜Ｆ）で約１×１０−３ｐＣ．
（ｒｍｓ）と評価される。したがって、光検出器のダイ
ナミックレンジは、８６ｄＢである。また、光検出器
は、温度および蓄積時間依存性の大暗出力を有する。約
２１．１℃（＝７０゜Ｆ）の１０ｍｓの積分時間におい
て、暗出力は、約０．１３ｐＣ．である。しかし、この
出力は、温度トラックキング回路を有する増幅器におい
てオフセットすることができる。
【００２７】第９図は、光検出器アレイ４００からの信
号を駆動し処理するための電子回路のブロック線図であ
る。第１０図は、駆動／増幅ボード４１０の詳細ブロッ
ク線図である。
号を駆動し処理するための電子回路のブロック線図であ
る。第１０図は、駆動／増幅ボード４１０の詳細ブロッ
ク線図である。
【００２８】駆動／増幅ボード４１０（Ｃ２３２５）
は、浜松ホトニクスから入手することができ、第１１図
のタイミング線図に示された必要なすべての制御信号
（３相クロックおよびスタート）を生じる。第１１図
中、実線は、「プラズマ結合素子−ＯＦＦ」を示し、破
線は、「プラズマ結合素子−ＯＮ」を示し、３相クロッ
クφ１，φ２およびφ３のパルス幅は、クロックＣＬＫ
周期の４倍であり、Ｂ−ＥＯＳは、クロックφ２から得
られる。駆動／増幅ボード４１０は、電圧出力（最大６
Ｖ）が駆動／増幅ボード４１０から連続的に得られるよ
うに電荷積分および増幅器（第１０図参照）をも含む。
「ビデオデータ」出力端における総利得は、３×１０１
１Ｖ／クローンである。駆動／増幅ボード４１０は、第
１２図の最上位置に示された回路を有するコントローラ
ボード４２０により供給される外部クロックおよびスタ
ートパルスを必要とする。ボード４１０も、±１５Ｖお
よび＋５Ｖの電源を必要とする。
は、浜松ホトニクスから入手することができ、第１１図
のタイミング線図に示された必要なすべての制御信号
（３相クロックおよびスタート）を生じる。第１１図
中、実線は、「プラズマ結合素子−ＯＦＦ」を示し、破
線は、「プラズマ結合素子−ＯＮ」を示し、３相クロッ
クφ１，φ２およびφ３のパルス幅は、クロックＣＬＫ
周期の４倍であり、Ｂ−ＥＯＳは、クロックφ２から得
られる。駆動／増幅ボード４１０は、電圧出力（最大６
Ｖ）が駆動／増幅ボード４１０から連続的に得られるよ
うに電荷積分および増幅器（第１０図参照）をも含む。
「ビデオデータ」出力端における総利得は、３×１０１
１Ｖ／クローンである。駆動／増幅ボード４１０は、第
１２図の最上位置に示された回路を有するコントローラ
ボード４２０により供給される外部クロックおよびスタ
ートパルスを必要とする。ボード４１０も、±１５Ｖお
よび＋５Ｖの電源を必要とする。
【００２９】コントローラ／メモリ４２０（第１２図に
詳しく示されている）は、３つの主要な目的を達成す
る。すなわち、（１） 浜松ホトニクスの駆動／増幅ボ
ード４１０に対してクロックおよびスタートパルスを供
給すること、（２） アナログプロセッサ４３０に対し
て全ての制御信号を供給すること、および、（３） 非
揮発性ＲＡＭ４２６に全ての波長校正データおよびチャ
ネルの利得／オフセットのデータを格納することであ
る。
詳しく示されている）は、３つの主要な目的を達成す
る。すなわち、（１） 浜松ホトニクスの駆動／増幅ボ
ード４１０に対してクロックおよびスタートパルスを供
給すること、（２） アナログプロセッサ４３０に対し
て全ての制御信号を供給すること、および、（３） 非
揮発性ＲＡＭ４２６に全ての波長校正データおよびチャ
ネルの利得／オフセットのデータを格納することであ
る。
【００３０】駆動／増幅ボード４１０が必要とする１２
５ｋＨｚのクロックは、２ＭＨｚの水晶発振器４２１お
よび２進カウンタ分周器４２２から導出される。駆動／
増幅ボード４１０は、一の素子から次の素子へ走査する
ために４個のクロックパルスを必要とする。空間ドメイ
ン上の各素子は、時間ドメインの３２μｓに対応する。
スタートパルスは、１４ビットカウンタ分周器４２５を
通って１０２８個のクロックパルス毎の後に発生する。
残りのコントローラ機能は、非揮発性ＲＡＭ４２６によ
ってデータ入力が行われるプログラマブルカウンタ４２
４によって、ほとんど実現される。
５ｋＨｚのクロックは、２ＭＨｚの水晶発振器４２１お
よび２進カウンタ分周器４２２から導出される。駆動／
増幅ボード４１０は、一の素子から次の素子へ走査する
ために４個のクロックパルスを必要とする。空間ドメイ
ン上の各素子は、時間ドメインの３２μｓに対応する。
スタートパルスは、１４ビットカウンタ分周器４２５を
通って１０２８個のクロックパルス毎の後に発生する。
残りのコントローラ機能は、非揮発性ＲＡＭ４２６によ
ってデータ入力が行われるプログラマブルカウンタ４２
４によって、ほとんど実現される。
【００３１】各波長チャネルは、２組のデータ、すなわ
ち、第１に開始要素（Ｎｓ）および第２に波長チャネル
に含まれる要素の数（△Ｎ）を有する。第１の数は、位
置に対応し、第２の数は、光検出器アレイ上のチャネル
の帯域幅に対応する。下記表２は、チャネル数、およ
び、これに対応する位置および幅データを示す。
ち、第１に開始要素（Ｎｓ）および第２に波長チャネル
に含まれる要素の数（△Ｎ）を有する。第１の数は、位
置に対応し、第２の数は、光検出器アレイ上のチャネル
の帯域幅に対応する。下記表２は、チャネル数、およ
び、これに対応する位置および幅データを示す。
【表２】
【００３２】これらのデータは、８ビット２進スイッチ
４２７を用いて、手動により波長復号非揮発性ＲＡＭ４
２６に書込まれる。これらのデータは、アナログプロセ
ッサ４３０の積分器が必要とする積分／保持（ＩＮＴ／
ＨＬＤ）パルスを発生する波長カウンタ４２４および４
２５に自動的にロードされる。
４２７を用いて、手動により波長復号非揮発性ＲＡＭ４
２６に書込まれる。これらのデータは、アナログプロセ
ッサ４３０の積分器が必要とする積分／保持（ＩＮＴ／
ＨＬＤ）パルスを発生する波長カウンタ４２４および４
２５に自動的にロードされる。
【００３３】積分／保持パルスは、スタート（ＳＴＲ
Ｔ）パルスの後Ｎｓ×３２μｓにスタートし、△Ｎ×３
２μｓの間ＯＮのままである。積分／保持のコンプリメ
ントもアナログプロセッサ４３０に供給される。
Ｔ）パルスの後Ｎｓ×３２μｓにスタートし、△Ｎ×３
２μｓの間ＯＮのままである。積分／保持のコンプリメ
ントもアナログプロセッサ４３０に供給される。
【００３４】波長チャネルは、手動で（瞬間トグルスイ
ッチを用いて）、または、スタートパルスにより常時ク
ロック信号が供給されるカウンタによって自動的に、一
方から他方へ切替えられる。チャネルデータは、光検出
器アレイ４００が移動される毎に変更される。
ッチを用いて）、または、スタートパルスにより常時ク
ロック信号が供給されるカウンタによって自動的に、一
方から他方へ切替えられる。チャネルデータは、光検出
器アレイ４００が移動される毎に変更される。
【００３５】コントローラ４２０も、アナログプロセッ
サ４３０に対して標本／保持（Ｓ／Ｈ）信号を発生させ
る。この信号は、駆動／増幅ボード４１０からの走査終
了（ＥＯＳ）パルスによってリセットされるフリップフ
ロップにより、積分／保持パルスから導出される。
サ４３０に対して標本／保持（Ｓ／Ｈ）信号を発生させ
る。この信号は、駆動／増幅ボード４１０からの走査終
了（ＥＯＳ）パルスによってリセットされるフリップフ
ロップにより、積分／保持パルスから導出される。
【００３６】第１３図に詳細に示されたアナログプロセ
ッサ４３０は、３つの主な機能を有する。すなわち、
（１） 既知波長チャネル内での光検出器出力の積分
（合計）、（２） 種々の波長チャネルにおいてデジタ
ル制御利得およびオフセット調整を導入すること、およ
び、（３） アナログ・デジタル変換（Ａ／Ｄ）用デジ
タルパネルメータ（ＤＰＭ）のためにアナログデータを
標本化し保持することである。
ッサ４３０は、３つの主な機能を有する。すなわち、
（１） 既知波長チャネル内での光検出器出力の積分
（合計）、（２） 種々の波長チャネルにおいてデジタ
ル制御利得およびオフセット調整を導入すること、およ
び、（３） アナログ・デジタル変換（Ａ／Ｄ）用デジ
タルパネルメータ（ＤＰＭ）のためにアナログデータを
標本化し保持することである。
【００３７】積分器４３１は、積分／保持信号が高の期
間のみ駆動／増幅ボード４１０からのビデオ出力を積分
し、第１４図のタイミング線図に示されているように、
次のスタートパルスによってリセットされるまで積分値
を保持する。積分／保持信号の持続期間は、既知チャネ
ル内での波長帯域幅（光検出器アレイの要素の数も）に
正比例するので、積分器出力は、上記既知チャネルのレ
ンジ内において波長毎の反射率の積分に比例する。第２
の同一積分器４３２は、同一期間、光検出器の暗出力を
積分し保持する。その後、２個の積分・保持出力は、差
動アンプ４３３に供給される。したがって、差動アンプ
４３３の出力は、暗電流によるオフセットエラーがな
い。
間のみ駆動／増幅ボード４１０からのビデオ出力を積分
し、第１４図のタイミング線図に示されているように、
次のスタートパルスによってリセットされるまで積分値
を保持する。積分／保持信号の持続期間は、既知チャネ
ル内での波長帯域幅（光検出器アレイの要素の数も）に
正比例するので、積分器出力は、上記既知チャネルのレ
ンジ内において波長毎の反射率の積分に比例する。第２
の同一積分器４３２は、同一期間、光検出器の暗出力を
積分し保持する。その後、２個の積分・保持出力は、差
動アンプ４３３に供給される。したがって、差動アンプ
４３３の出力は、暗電流によるオフセットエラーがな
い。
【００３８】差動アンプ４３３の出力は、デジタル制御
ゲインアンプに入力される。このデジタル制御ゲインア
ンプは、乗除８ビットデジタル・アナログコンバータ
（ＤＡＣ）４３５がフィードバックループに挿入された
オペアンプ４３４により実現される。したがって、デジ
タル制御ゲインアンプのゲインは、２５５／Ｄである。
Ｄは、デジタル入力（１０進数等価）である。デジタル
入力は、ゲインデータが特定チャネルアドレスにある２
進スイッチ４２７を用いて手動で書込まれた非揮発性Ｒ
ＡＭ４２６から入力される。ゲインデータは、参照スラ
イドがのぞき窓に保持されたとき、全てのチャネル出力
を５Ｖで正規化することにより得られる。最終アナログ
出力は、デジタルデータに変換される前に標本化され保
持される（標本化／保持器４３６により）。標本化／保
持器４３６は、積分器４３１が積分出力を保持している
間のみ標本化し、積分器４３１が積分している間、保持
する。
ゲインアンプに入力される。このデジタル制御ゲインア
ンプは、乗除８ビットデジタル・アナログコンバータ
（ＤＡＣ）４３５がフィードバックループに挿入された
オペアンプ４３４により実現される。したがって、デジ
タル制御ゲインアンプのゲインは、２５５／Ｄである。
Ｄは、デジタル入力（１０進数等価）である。デジタル
入力は、ゲインデータが特定チャネルアドレスにある２
進スイッチ４２７を用いて手動で書込まれた非揮発性Ｒ
ＡＭ４２６から入力される。ゲインデータは、参照スラ
イドがのぞき窓に保持されたとき、全てのチャネル出力
を５Ｖで正規化することにより得られる。最終アナログ
出力は、デジタルデータに変換される前に標本化され保
持される（標本化／保持器４３６により）。標本化／保
持器４３６は、積分器４３１が積分出力を保持している
間のみ標本化し、積分器４３１が積分している間、保持
する。
【００３９】アナログ・デジタル（Ａ／Ｄ）変換は、デ
イテルから入手できる４と１／２桁デジタルパネルメー
タ４４０（第９図参照）内で生じる。コンバータは、変
換速度が最大３／ｓで１００μＶ（１６ビットカウンタ
において±２カウント）の分解能を有するデュアルスロ
ープ積分型である。
イテルから入手できる４と１／２桁デジタルパネルメー
タ４４０（第９図参照）内で生じる。コンバータは、変
換速度が最大３／ｓで１００μＶ（１６ビットカウンタ
において±２カウント）の分解能を有するデュアルスロ
ープ積分型である。
【００４０】代表例 反射率計は、公知のスペクトル線を有する紫外線源を用
いてテストされた。光検出器アレイおよび格子が４３６
ｎｍ線に対して位置決めされ整列されたとき、他のスペ
クトル線（波長範囲全体において５本が存在する）は、
±１．５ｎｍ以内で同定することができた。
いてテストされた。光検出器アレイおよび格子が４３６
ｎｍ線に対して位置決めされ整列されたとき、他のスペ
クトル線（波長範囲全体において５本が存在する）は、
±１．５ｎｍ以内で同定することができた。
【００４１】計器の読みは、デジタルパネルメータ出力
の読みが全ての波長チャネルに対して３．００００ボル
トであるように、各種のチャネルにおいてゲインを設定
することにより標準白スライドを用いて正規化された。
これらのゲイン設定値は、非揮発性ＲＡＭ４２６に格納
された。その後、種々の着色スライド（赤、黄、緑およ
び青のマーカーペンにより着色された）がテストされ
た。予期した通り、テストは、赤に対して約６６０ｎｍ
で、黄に対して約６３０ｎｍで、緑に対して約５５０ｎ
ｍで、青に対して約４５０ｎｍでピークを示した。
の読みが全ての波長チャネルに対して３．００００ボル
トであるように、各種のチャネルにおいてゲインを設定
することにより標準白スライドを用いて正規化された。
これらのゲイン設定値は、非揮発性ＲＡＭ４２６に格納
された。その後、種々の着色スライド（赤、黄、緑およ
び青のマーカーペンにより着色された）がテストされ
た。予期した通り、テストは、赤に対して約６６０ｎｍ
で、黄に対して約６３０ｎｍで、緑に対して約５５０ｎ
ｍで、青に対して約４５０ｎｍでピークを示した。
【００４２】本発明は、好適な実施例に関連して説明さ
れたが、発明の範囲から逸脱することなく他の変形例が
当業者に明らかとなろう。したがって、本発明は明細書
中の具体的開示により限定されるのでなく、特許請求の
範囲にのみ限定されることが望ましい。
れたが、発明の範囲から逸脱することなく他の変形例が
当業者に明らかとなろう。したがって、本発明は明細書
中の具体的開示により限定されるのでなく、特許請求の
範囲にのみ限定されることが望ましい。
【図１】代表的な分析物質の反射率密度（ＤR ）／分析
物質濃度のグラフである。
物質濃度のグラフである。
【図２】本発明の反射率計の側面図である。
【図３】本装置に使用できるランプおよび２色性鏡のス
ペクトルエネルギ分布を示すグラフである。
ペクトルエネルギ分布を示すグラフである。
【図４】本装置のレンズ・熱フィルタ配置を示す分解図
である。
である。
【図５】本装置の光ファイバ型コレクタの一部断面側面
図である。
図である。
【図６】第５図の６−６線に沿うコレクタ端面図であ
る。
る。
【図７】第５図の７−７線に沿うコレクタ端面図であ
る。
る。
【図８】像が格子によって入口スリットから光検出器ア
レイへ反射される際の反射角を示す図である。
レイへ反射される際の反射角を示す図である。
【図９】光検出器アレイを制御し該アレイから受信した
信号を処理する電子回路のブロック線図である。
信号を処理する電子回路のブロック線図である。
【図１０】光検出器アレイの駆動回路／増幅器の概略ブ
ロック線図である。
ロック線図である。
【図１１】駆動回路／増幅器回路のタイミングシーケン
ス図である。
ス図である。
【図１２】コントローラ／メモリの回路のブロック線図
である。
である。
【図１３】アナログプロセッサの回路図である。
【図１４】アナログプロセッサによって行われる積分動
作のタイミングシーケンス図である。
作のタイミングシーケンス図である。
【図１５】試料上に収束される光の光路図である。
【図１６】試料上に収束される光の光路図である。
図１ １…反射率密度ＤR ２…濃度Ｃ 図３ １…透過率（％） ２…波長（ＮＭ） ３…相対エネルギ 図８ １…入口スリット ２…凹面格子 ３…光検出器アレイ 図９ １…光検出器アレイ ２…スタート ３…ビデオ ４…浜松 駆動／増幅ボードＣ２３２５ ５…ビデオデータ ６…トリガ ７…１２５ｋＨｚクロック ８…スタート ９…走査終了 １０…積分／保持 １１…利得データ（８ビット） １２…標本化／保持 ４２０…非揮発性ＲＡＭ付コントローラ ４３０…アナログプロセッサ ４４０…デジタルパネルメータ 図１０ １…スタート ２…ＰＣＤイメージセンサ ３…走査終了 ４…ビデオ ５…スタート ６…走査終了 ７…ビデオ ８…走査スタート ９…クロック１ １０…クロック２ １１…クロック３ １２…オペアンプ１ １３…オペアンプ２ １４…ＰＣＤイメージセンサ駆動回路 １５…コントローラ １６…オペアンプ３ １７…オペアンプ４ １８…アース １９…クロック ２０…スタート ２１…トリガ ２２…Ｂ−走査終了 ２３…ビデオモニタ ２４…ビデオデータ 図１１ １…クロック ２…スタート ３…スタート ４…アナログリセット（内部） ５…クランプ（内部） ６…トリガ ７…ビデオモニタ ８…ビデオデータ ９…Ｂ−走査終了 図１２ １…押してチャネル前進させること ２…ゲート ３…データラッチ ４…Ｄ／Ａコンバータコントローラ ５…６…７…自由運転手動 ８…データラッチ ９…データラッチ １０…データラッチ １１…８ビット チャネル位置データ １２…４ビット チャネル幅データ １３…８ビット 利得データ １４…１２５ｋＨｚクロック １５…走査終了 １６…スタート １７…トリガ １８…フリップフロップ １９…浜松ボードＣ２３２５へ ２０…積分／保持 ２１…走査終了 ２２…フリップフロップ ２３…標本化／保持 ２４…アナログプロセッサへ ４２１…２ＭＨｚ水晶発振器 ４２２…÷１Ｇカウンタ ４２３…ＨＳＴ÷１０２４カウンタ ４２４…８ビットＬＤカウンタ ４２５…４ビットＬＤカウンタ ４２６…非揮発性ＲＡＭ ４２７…２進スイッチ群（８ビット） 図１３ １…スタート ２…積分／保持 ３…ビデオデータ ４…積分／保持 ５…ポテンショメータ ６…ポテンショメータ ７…ポテンショメータ ８…ポテンショメータ ９…タップ１？ １０…タップ２？ １１…タップ３？ １２…ポテンショメータ １３…利得データ １４…標本化／保持 １５…タップ４？ １６…デジタルパネルメータへ 反射率データ １７…保持コンデンサ ４３１…積分器 ４３２…積分器 ４３３…差動アンプ ４３４…オペアンプ ４３５…Ｄ／Ａコンバータ ４３６…標本保持 図１４ １…スタート ２…走査終了 ３…積分／保持 ４…積分 ５…保持 ６…標本化／保持 ７…標本化 ８…保持 ９…標本化 １０…第１積分器出力 １１…第２積分器出力（暗オフセット） １２…デフアンプ 図１５ １…光軸 ２…最終イメージにおける試料表面上の３ｍｍ径スポッ
ト
ト
【表１】
Claims (10)
- 【請求項１】 光スペクトルの複数の選定領域における
試料による光吸収の測定装置であって、 試料照射手段と、 試料からの拡散反射エネルギを集める光ファイバ型コレ
クタであって、光ファイバ型コレクタの出口端の複数本
の光ファイバが矩形スリット状に配置された光ファイバ
型コレクタと、 ホログラフィック凹面回折格子であって、該ホログラフ
ィック凹面回折格子上に照射された反射エネルギを光フ
ァイバ型コレクタのスリットを通してスペクトル平面上
に反射エネルギの複数の成分波長として分散させるホロ
グラフィック凹面回折格子と、 スペクトル平面に配置された複数個の光検出器から成
り、分割されたエネルギをその種々の波長において検出
する光検出器アレイと、 上記種々の波長における光の存在に対応する上記複数の
光検出器により発生された複数の電気信号を処理し、一
の波長帯域幅内の反射率値に対応する数値データを得る
電気信号処理手段とから成る装置。 - 【請求項２】 試料照射手段は、 フィラメントを有するハロゲンランプと、 ハロゲンランプの後方に配置された２色性球面鏡と、 ハロゲンランプおよび２色性球面鏡の前方に配置され、
白熱するフィラメントの連続したアレイの重なった３次
元像を試料上に結像するレンズ系とから成る請求項１記
載の装置。 - 【請求項３】 電気信号処理手段は、 上記電気信号の光検出器からの読出しを制御するための
制御信号を発生する手段と、 光検出器から読出された上記電気信号を増幅する手段
と、 既知波長範囲内のエネルギを検出するように光検出器ア
レイ内に配置された光検出器から電気信号が読出されて
いる所定期間内に上記増幅電気信号を積分する手段と、 上記所定期間後に上記積分電気信号を標本化し保持する
手段と、 上記標本化され保持された積分電気信号をデジタルデー
タに変換する手段とから成る請求項１記載の装置。 - 【請求項４】 電気信号処理手段は、更に、 上記所定期間の間、光検出器の暗出力を積分し保持する
手段と、 上記所定期間の間、上記積分電気信号と上記光検出器と
の間の差を判定し上記光検出器内の暗出力によるオフセ
ットエラーを除去する手段とから成る請求項３記載の装
置。 - 【請求項５】 電気信号処理手段は、更に、 上記積分電気信号を増幅する手段から成り、暗電流によ
るオフセットエラーが上記光検出器間の電気信号出力の
大きさの差による、所定入力に対するエラーをオフセッ
トするように導出された利得係数によって除去される請
求項４記載の装置。 - 【請求項６】 電気信号処理手段は、更に、 電気信号処理手段内でなされる機能を調整するためにク
ロックパルス、および、タイミングパルスを供給する手
段を含む請求項３記載の装置。 - 【請求項７】 電気信号処理手段は、更に、 上記各既知波長範囲内にある光検出器の位置および数に
対応するデータを格納するメモリ手段を含み、一の既知
波長範囲に対する上記格納データは、光検出器からの上
記電気信号の読出し中に各カウンタ内へロードされ、上
記一の既知波長範囲に対する上記所定期間の開始および
終了を設定する請求項３記載の装置。 - 【請求項８】 光スペクトルの複数の選定領域における
試料による光吸収の測定方法であって、 光源からの光を用いて試料を照射する工程と、 試料から反射された光エネルギを光ファイバ型コレクタ
内へ集める工程であって、上記光ファイバ型コレクタの
スリット端部にある複数本の光ファイバが矩形スリット
の形状に配置された工程と、 矩形スリットを通過した反射エネルギをホログラフィッ
ク凹面回折格子上へ投射する工程と、 ホログラフィック凹面回折格子からエネルギを反射させ
ることにより、スペクトル平面上に反射エネルギをその
複数の成分波長に分割する工程と、 検出手段を用いて上記分割エネルギを検出する工程とか
ら成る方法。 - 【請求項９】 上記方法は、検出手段により発生された
複数の電気信号を処理し一の波長帯域幅内の一の反射率
値に対応する数値データを得る電気信号処理工程を含む
請求項８記載の装置。 - 【請求項１０】 電気信号処理工程は、 検出手段から上記電気信号を連続して読出す工程と、 検出手段からの上記読出し電気信号を増幅する工程と、 一の既知波長範囲内のエネルギを検出するように検出手
段から電気信号が読出されている期間内に上記増幅電気
信号を積分する手段と、 上記所定期間後に、上記積分電気信号を標本化し保持す
る工程と、 上記標本化され保持された積分電気信号をデジタルデー
タに変換する工程とから成る請求項９記載の装置。
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US47207590A | 1990-01-30 | 1990-01-30 | |
| US47259190A | 1990-01-30 | 1990-01-30 | |
| US472591 | 1990-01-30 | ||
| US472075 | 1990-01-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0650814A true JPH0650814A (ja) | 1994-02-25 |
Family
ID=27043658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2780991A Pending JPH0650814A (ja) | 1990-01-30 | 1991-01-29 | 多スペクトル反射率計 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0440443A3 (ja) |
| JP (1) | JPH0650814A (ja) |
| CA (1) | CA2035224A1 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0984253A3 (en) * | 1998-09-03 | 2000-11-15 | Foss NIRSystems, Inc. | Spectroscopic instrument with offset grating |
| WO2002039094A1 (en) * | 2000-11-10 | 2002-05-16 | Arkray, Inc. | Measuring method and instrument comprising image sensor |
| US8184289B2 (en) | 2009-04-30 | 2012-05-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Spectral colorimetric apparatus and color image forming apparatus using the same |
| US8462342B2 (en) | 2010-10-28 | 2013-06-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Spectral colorimetric apparatus and image forming apparatus including the same |
| US8705154B2 (en) | 2009-04-30 | 2014-04-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Spectral colorimetric apparatus and image forming apparatus using the same |
| US8851880B2 (en) | 2010-07-06 | 2014-10-07 | Faurecia Interior Systems, Inc. | Powder slush molding process and equipment |
| JP2015215196A (ja) * | 2014-05-09 | 2015-12-03 | 株式会社島津製作所 | 分光センサ |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5387977A (en) * | 1991-09-04 | 1995-02-07 | X-Rite, Incorporated | Multiangular color measuring apparatus |
| US5352582A (en) * | 1993-10-28 | 1994-10-04 | Hewlett-Packard Company | Holographic based bio-assay |
| EP4000109B1 (en) | 2019-07-19 | 2025-08-27 | Evatec AG | Piezoelectric coating and deposition process |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4285596A (en) * | 1977-08-16 | 1981-08-25 | Neotec Corporation | Holographic diffraction grating system for rapid scan spectral analysis |
| US4449821A (en) * | 1982-07-14 | 1984-05-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Process colorimeter |
| EP0296259A1 (en) * | 1987-06-22 | 1988-12-28 | Pacific Scientific Company | Spectrometer with combined visible and ultraviolet sample illumination |
| US4954972A (en) * | 1987-11-09 | 1990-09-04 | Honeywell Inc. | Color signature sensor |
-
1991
- 1991-01-29 CA CA002035224A patent/CA2035224A1/en not_active Abandoned
- 1991-01-29 JP JP2780991A patent/JPH0650814A/ja active Pending
- 1991-01-30 EP EP19910300715 patent/EP0440443A3/en not_active Ceased
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0984253A3 (en) * | 1998-09-03 | 2000-11-15 | Foss NIRSystems, Inc. | Spectroscopic instrument with offset grating |
| WO2002039094A1 (en) * | 2000-11-10 | 2002-05-16 | Arkray, Inc. | Measuring method and instrument comprising image sensor |
| CN1308670C (zh) * | 2000-11-10 | 2007-04-04 | 爱科来株式会社 | 使用图像传感器的测定方法及装置 |
| US7274829B2 (en) | 2000-11-10 | 2007-09-25 | Arkray, Inc. | Measuring method and instrument comprising image sensor |
| US8184289B2 (en) | 2009-04-30 | 2012-05-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Spectral colorimetric apparatus and color image forming apparatus using the same |
| US8705154B2 (en) | 2009-04-30 | 2014-04-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Spectral colorimetric apparatus and image forming apparatus using the same |
| US8851880B2 (en) | 2010-07-06 | 2014-10-07 | Faurecia Interior Systems, Inc. | Powder slush molding process and equipment |
| US8462342B2 (en) | 2010-10-28 | 2013-06-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Spectral colorimetric apparatus and image forming apparatus including the same |
| JP2015215196A (ja) * | 2014-05-09 | 2015-12-03 | 株式会社島津製作所 | 分光センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0440443A3 (en) | 1991-10-09 |
| EP0440443A2 (en) | 1991-08-07 |
| CA2035224A1 (en) | 1991-07-31 |
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