JPH065129A - NbTi合金系超電導線 - Google Patents
NbTi合金系超電導線Info
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- JPH065129A JPH065129A JP4160974A JP16097492A JPH065129A JP H065129 A JPH065129 A JP H065129A JP 4160974 A JP4160974 A JP 4160974A JP 16097492 A JP16097492 A JP 16097492A JP H065129 A JPH065129 A JP H065129A
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- nbti
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Superconductors And Manufacturing Methods Therefor (AREA)
- Extrusion Of Metal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】中・高磁界下でのJcを向上させたNbTi合
金系超電導線を得る。 【構成】NbTi系合金と、ピンニング点としてのNb
又はNb合金とを複合した構造の超電導フィラメントを
具備するものであって、前記NbTi系合金のTi濃度
を48〜65重量%とし、かつ前記超電導フィラメント
中に占める前記Nb又はNb合金の割合を20〜35体
積%とするか、或いは、NbTi系合金と、ピンニング
点としてのTi又はTi合金とを複合した構造の超電導
フィラメントを具備するものであって、前記NbTi系
合金のTi濃度を25〜45重量%とし、かつ前記超電
導フィラメント中に占める前記Ti又はTi合金の割合
を20〜35体積%とする。
金系超電導線を得る。 【構成】NbTi系合金と、ピンニング点としてのNb
又はNb合金とを複合した構造の超電導フィラメントを
具備するものであって、前記NbTi系合金のTi濃度
を48〜65重量%とし、かつ前記超電導フィラメント
中に占める前記Nb又はNb合金の割合を20〜35体
積%とするか、或いは、NbTi系合金と、ピンニング
点としてのTi又はTi合金とを複合した構造の超電導
フィラメントを具備するものであって、前記NbTi系
合金のTi濃度を25〜45重量%とし、かつ前記超電
導フィラメント中に占める前記Ti又はTi合金の割合
を20〜35体積%とする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はNbTi合金系超電導線
に関する。
に関する。
【0002】
【従来の技術】NbTi合金系の超電導線は、例えばC
u或いはCu合金からなるマトリックス中に1本又は複
数本のNbTi合金系超電導フィラメントが埋め込まれ
た構造を有する。
u或いはCu合金からなるマトリックス中に1本又は複
数本のNbTi合金系超電導フィラメントが埋め込まれ
た構造を有する。
【0003】前記NbTi合金系超電導線の製造方法
は、NbTi合金インゴットをCu或いはCu系の合金
からなる管に挿入し、これらを押し出し加工や伸線加工
によって縮径して複合材とし、更に前記複合材を多数本
束ねて再びCu或いはCu系の合金からなる管に挿入
し、これらを押し出し加工や伸線加工によって縮径する
という一連の工程を再び経て最終線材するのが一般的で
ある。また、近年では出発材料であるNbTi合金中
に、NbTi合金系超電導線が通常使用される環境下
(温度4.2K、及び数テスラの強磁場中)において非
超電導体となり得る金属物質,例えばNbやTi等を予
め埋め込んでおいて、その後の加工は前述した超電導線
の製造方法とほぼ同じ工程を経る製造方法も知られてい
る。前者のNbTi合金系超電導線の製造方法は、超電
導体の重要な特性である臨界電流密度(Jc)を制御す
るため、NbTi合金中の析出物(α−Ti相)がピン
ニング点として利用される。一方、後者のNbTi合金
系超電導線の製造方法は、Jcを制御するため、予め埋
め込んでおいた非超電導物質がピンニング点として利用
される。
は、NbTi合金インゴットをCu或いはCu系の合金
からなる管に挿入し、これらを押し出し加工や伸線加工
によって縮径して複合材とし、更に前記複合材を多数本
束ねて再びCu或いはCu系の合金からなる管に挿入
し、これらを押し出し加工や伸線加工によって縮径する
という一連の工程を再び経て最終線材するのが一般的で
ある。また、近年では出発材料であるNbTi合金中
に、NbTi合金系超電導線が通常使用される環境下
(温度4.2K、及び数テスラの強磁場中)において非
超電導体となり得る金属物質,例えばNbやTi等を予
め埋め込んでおいて、その後の加工は前述した超電導線
の製造方法とほぼ同じ工程を経る製造方法も知られてい
る。前者のNbTi合金系超電導線の製造方法は、超電
導体の重要な特性である臨界電流密度(Jc)を制御す
るため、NbTi合金中の析出物(α−Ti相)がピン
ニング点として利用される。一方、後者のNbTi合金
系超電導線の製造方法は、Jcを制御するため、予め埋
め込んでおいた非超電導物質がピンニング点として利用
される。
【0004】ところで、NbTi合金中にα−Ti相を
析出させてピンニング点を導入する方法では、NbTi
合金中のα−Ti相を有効なピンニング点とするため
に、適度な析出熱処理やそれに付随する冷間加工が要求
される。しかし、線材加工中においてα−Ti相の析出
量や形態を正確に把握することが困難であるため、高精
度のJc設計を難しいものにしている。また、製造プロ
セス全体として長時間に亘る多数の複雑な工程が必要な
ため、生産コストの増大を招く。
析出させてピンニング点を導入する方法では、NbTi
合金中のα−Ti相を有効なピンニング点とするため
に、適度な析出熱処理やそれに付随する冷間加工が要求
される。しかし、線材加工中においてα−Ti相の析出
量や形態を正確に把握することが困難であるため、高精
度のJc設計を難しいものにしている。また、製造プロ
セス全体として長時間に亘る多数の複雑な工程が必要な
ため、生産コストの増大を招く。
【0005】一方、NbTi合金中に非超電導相を埋め
込んでピンニング点を導入する方法では、導入されたピ
ンニング点の量や形態変化をおおよそ把握することがで
きるため、高精度のJc設計が可能である。しかしなが
ら、α−Ti相をピンニング点として導入する方法に比
べて1〜3Tの低磁界側のJcは確実に上昇するが、4
T以上の中・高磁界側のJcが急激に低下してしまうこ
とが報告されている(例えばL.R.MotOw-idlo et al.,
Adv.Cryog.Eng.,vol.36,311(1990) :K.Yamafuji et
el.,Cryogenics、31,431(1991)の文献参照)。このよう
な中・高磁界側のJcの急激な低下を防ぐ対策はまだ確
立されておらず、非超電導相をNbTi中に埋め込む方
法がα−Ti相をピンニング点として導入する方法に比
べて未だに一般的に受け入れられない一因となってい
る。
込んでピンニング点を導入する方法では、導入されたピ
ンニング点の量や形態変化をおおよそ把握することがで
きるため、高精度のJc設計が可能である。しかしなが
ら、α−Ti相をピンニング点として導入する方法に比
べて1〜3Tの低磁界側のJcは確実に上昇するが、4
T以上の中・高磁界側のJcが急激に低下してしまうこ
とが報告されている(例えばL.R.MotOw-idlo et al.,
Adv.Cryog.Eng.,vol.36,311(1990) :K.Yamafuji et
el.,Cryogenics、31,431(1991)の文献参照)。このよう
な中・高磁界側のJcの急激な低下を防ぐ対策はまだ確
立されておらず、非超電導相をNbTi中に埋め込む方
法がα−Ti相をピンニング点として導入する方法に比
べて未だに一般的に受け入れられない一因となってい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、従来の問題
点を解決するためになされたもので、中・高磁界下での
Jcを向上させたNbTi合金系超電導線を提供しよう
とするものである。
点を解決するためになされたもので、中・高磁界下での
Jcを向上させたNbTi合金系超電導線を提供しよう
とするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明は、Nb
Ti系合金と、ピンニング点としてのNb又は該NbT
i系合金よりも臨界温度が低いか、若しくは超電導特性
を示さないNb合金(以下、Nb合金(A)と称す)と
を複合した構造の超電導フィラメントを具備するNbT
i合金系超電導線において、前記NbTi系合金のTi
濃度を48〜65重量%とし、かつ前記超電導フィラメ
ント中に占める前記Nb又はNb合金(A)の割合を2
0〜35体積%としたことを特徴とするNbTi合金系
超電導線である。
Ti系合金と、ピンニング点としてのNb又は該NbT
i系合金よりも臨界温度が低いか、若しくは超電導特性
を示さないNb合金(以下、Nb合金(A)と称す)と
を複合した構造の超電導フィラメントを具備するNbT
i合金系超電導線において、前記NbTi系合金のTi
濃度を48〜65重量%とし、かつ前記超電導フィラメ
ント中に占める前記Nb又はNb合金(A)の割合を2
0〜35体積%としたことを特徴とするNbTi合金系
超電導線である。
【0008】また、本発明に係る別の発明は、NbTi
系合金と、ピンニング点としてのTi又は該NbTi系
合金よりも臨界温度が低いか、若しくは超電導特性を示
さないTi合金(以下、Ti合金(B)と称す)とを複
合した構造の超電導フィラメントを具備するNbTi合
金系超電導線において、前記NbTi系合金のTi濃度
を25〜45重量%とし、かつ前記超電導フィラメント
中に占める前記Ti又はTi合金(B)の割合を20〜
35体積%としたことを特徴とするNbTi合金系超電
導線である。
系合金と、ピンニング点としてのTi又は該NbTi系
合金よりも臨界温度が低いか、若しくは超電導特性を示
さないTi合金(以下、Ti合金(B)と称す)とを複
合した構造の超電導フィラメントを具備するNbTi合
金系超電導線において、前記NbTi系合金のTi濃度
を25〜45重量%とし、かつ前記超電導フィラメント
中に占める前記Ti又はTi合金(B)の割合を20〜
35体積%としたことを特徴とするNbTi合金系超電
導線である。
【0009】前記NbTi系合金としては、例えばNb
−Ti合金;Nb−Ti合金にTa、Hf等の第3,第
4の元素を添加した組成の合金などが挙げられる。な
お、Ta、Hf等の添加によって上部臨界磁場(Bc
2)をより向上させることが可能である。
−Ti合金;Nb−Ti合金にTa、Hf等の第3,第
4の元素を添加した組成の合金などが挙げられる。な
お、Ta、Hf等の添加によって上部臨界磁場(Bc
2)をより向上させることが可能である。
【0010】前記Nb合金(A)としては、例えばNb
にTi、Ta、Al、Mg、Fe、Hf、Cu、Ge、
Ni、Zr、Cr等を添加した組成の合金などが挙げら
れる。
にTi、Ta、Al、Mg、Fe、Hf、Cu、Ge、
Ni、Zr、Cr等を添加した組成の合金などが挙げら
れる。
【0011】前記Ti合金(B)としては、例えばTi
にNb、Ta、Al、Mg、Fe、Hf、Cu、Ge、
Ni、Zr、Cr等を添加した組成の合金などが挙げら
れる。
にNb、Ta、Al、Mg、Fe、Hf、Cu、Ge、
Ni、Zr、Cr等を添加した組成の合金などが挙げら
れる。
【0012】上述したNbTi合金系超電導線は、以下
に説明する(1),(2)の方法により製造できる。
に説明する(1),(2)の方法により製造できる。
【0013】(1)まず、Nb−48〜65重量%Ti
合金とNb又はNb合金(A)とを組合せて配置し、こ
れらを伸線することにより、前記Nb−48〜65重量
%Ti合金と前記Nb又はNb合金(A)とからなる複
合材を形成する。この時、前記複合材に占める前記Nb
又はNb合金(A)の割合が20〜35体積%となるよ
うに調整する。次いで、前記複合材を複数本束ねて一体
化する。その後、必要に応じて更に複合加工及び伸線加
工等を施してNbTi合金系超電導線を製造する。こう
して得られるNbTi合金系超電導線は、NbTi系合
金とピンニング点としてのNb又はNb合金(A)とを
複合した構造の超電導フィラメントを具備するものであ
って、前記NbTi系合金のTi濃度を48〜65重量
%とし、かつ前記超電導フィラメント中に占める前記N
b又はNb合金(A)の割合を20〜35体積%とした
ものとなる。
合金とNb又はNb合金(A)とを組合せて配置し、こ
れらを伸線することにより、前記Nb−48〜65重量
%Ti合金と前記Nb又はNb合金(A)とからなる複
合材を形成する。この時、前記複合材に占める前記Nb
又はNb合金(A)の割合が20〜35体積%となるよ
うに調整する。次いで、前記複合材を複数本束ねて一体
化する。その後、必要に応じて更に複合加工及び伸線加
工等を施してNbTi合金系超電導線を製造する。こう
して得られるNbTi合金系超電導線は、NbTi系合
金とピンニング点としてのNb又はNb合金(A)とを
複合した構造の超電導フィラメントを具備するものであ
って、前記NbTi系合金のTi濃度を48〜65重量
%とし、かつ前記超電導フィラメント中に占める前記N
b又はNb合金(A)の割合を20〜35体積%とした
ものとなる。
【0014】(2)まず、Nb−25〜45重量%Ti
合金とTi又はTi合金(B)とを組合せて配置し、こ
れらを伸線することにより、前記Nb−25〜45重量
%Ti合金と前記Nb又はNb合金(A)とからなる複
合材を形成する。この時、前記複合材に占める前記Ti
又はTi合金(B)の割合が20〜35体積%となるよ
うに調整する。次いで、前記複合材を複数本束ねて一体
化する。その後、必要に応じて更に複合加工及び伸線加
工等を施してNbTi合金系超電導線を製造する。こう
して得られるNbTi合金系超電導線は、NbTi系合
金とピンニング点としてのTi又はTi合金(B)とを
複合した構造の超電導フィラメントを具備するものであ
って、前記NbTi系合金のTi濃度を25〜45重量
%とし、かつ前記超電導フィラメント中に占める前記T
i又はTi合金(B)の割合を20〜35体積%とした
ものとなる。
合金とTi又はTi合金(B)とを組合せて配置し、こ
れらを伸線することにより、前記Nb−25〜45重量
%Ti合金と前記Nb又はNb合金(A)とからなる複
合材を形成する。この時、前記複合材に占める前記Ti
又はTi合金(B)の割合が20〜35体積%となるよ
うに調整する。次いで、前記複合材を複数本束ねて一体
化する。その後、必要に応じて更に複合加工及び伸線加
工等を施してNbTi合金系超電導線を製造する。こう
して得られるNbTi合金系超電導線は、NbTi系合
金とピンニング点としてのTi又はTi合金(B)とを
複合した構造の超電導フィラメントを具備するものであ
って、前記NbTi系合金のTi濃度を25〜45重量
%とし、かつ前記超電導フィラメント中に占める前記T
i又はTi合金(B)の割合を20〜35体積%とした
ものとなる。
【0015】次に、本発明のNbTi合金系超電導線の
作用を説明する。
作用を説明する。
【0016】NbTi合金は全率固溶体であり、その超
電導特性はTi濃度によって強く影響を受ける。例えば
臨界温度(Tc)は、Ti濃度が高まるに連れて単調に
減少する。また、上部臨界磁場(Bc2)は、図1に示
すようにTi濃度がおよそ40重量%未満である時には
Ti濃度が高まると共に増大し、Ti濃度がおよそ40
〜50重量%になると11T以上の値を示し、更にTi
濃度がおよそ50重量%を越えると逆に減少に転じる
(例えばC.Meingast et al.,J.Appl.Phys.,66,5962(1
989)の文献参照)。このようなことから、先の従来技術
の欄に記載した文献で超電導フィラメントに使用された
物質の組合せは、Bc2が高いとされる組成であるNb
−46.5重量%Ti合金にNbをピンニング点として
導入したものである。このNb−46.5重量%Ti合
金は、α−Ti相析出法に使われる一般的なNbTi合
金組成であり、最も生産量が多く、加工性や均一性にも
優れたものである。
電導特性はTi濃度によって強く影響を受ける。例えば
臨界温度(Tc)は、Ti濃度が高まるに連れて単調に
減少する。また、上部臨界磁場(Bc2)は、図1に示
すようにTi濃度がおよそ40重量%未満である時には
Ti濃度が高まると共に増大し、Ti濃度がおよそ40
〜50重量%になると11T以上の値を示し、更にTi
濃度がおよそ50重量%を越えると逆に減少に転じる
(例えばC.Meingast et al.,J.Appl.Phys.,66,5962(1
989)の文献参照)。このようなことから、先の従来技術
の欄に記載した文献で超電導フィラメントに使用された
物質の組合せは、Bc2が高いとされる組成であるNb
−46.5重量%Ti合金にNbをピンニング点として
導入したものである。このNb−46.5重量%Ti合
金は、α−Ti相析出法に使われる一般的なNbTi合
金組成であり、最も生産量が多く、加工性や均一性にも
優れたものである。
【0017】しかしながら、このNb−46.5重量%
Ti合金にNb等を意図的に導入した場合、最適な組成
とは言い難いものとなる。即ち、例えばNbTi合金に
Nbをピンニング点として導入していくと超電導フィラ
メントの平均的な組成がNbリッチ側にシフトしてBc
2が低下する。一方、NbTi合金にTiをピンニング
点として導入していくと超電導フィラメントの平均的な
組成がTiリッチ側にシフトしてBc2が低下する。
Ti合金にNb等を意図的に導入した場合、最適な組成
とは言い難いものとなる。即ち、例えばNbTi合金に
Nbをピンニング点として導入していくと超電導フィラ
メントの平均的な組成がNbリッチ側にシフトしてBc
2が低下する。一方、NbTi合金にTiをピンニング
点として導入していくと超電導フィラメントの平均的な
組成がTiリッチ側にシフトしてBc2が低下する。
【0018】ところで、一般にJc向上のためにはN
b、Ti等の非超電導相導入法においてもα−Ti相析
出法と同様に、導入したNb等の意図的なピンニング点
を伸線加工等の冷間加工によって小さくすることによ
り、ピンニングに最適なサイズに調整する。しかしなが
ら、この時、ピンニング点がNbTi合金のコヒーレン
ス長(例えばBc2=10Tの組成のNbTi合金では
コヒーレンス長が5.7nm)程度まで小さくなるとJ
cが増大するものの、同時にNbTi合金からピンニン
グ点への超電導電子のしみ出し(いわゆる近接効果)が
顕著になってTcやBc2が低下する。本発明者が鋭意
研究を重ねた結果、中・高磁界でのJc特性の低下は、
この近接効果によるBc2の低下と強い相関があること
が分かった。
b、Ti等の非超電導相導入法においてもα−Ti相析
出法と同様に、導入したNb等の意図的なピンニング点
を伸線加工等の冷間加工によって小さくすることによ
り、ピンニングに最適なサイズに調整する。しかしなが
ら、この時、ピンニング点がNbTi合金のコヒーレン
ス長(例えばBc2=10Tの組成のNbTi合金では
コヒーレンス長が5.7nm)程度まで小さくなるとJ
cが増大するものの、同時にNbTi合金からピンニン
グ点への超電導電子のしみ出し(いわゆる近接効果)が
顕著になってTcやBc2が低下する。本発明者が鋭意
研究を重ねた結果、中・高磁界でのJc特性の低下は、
この近接効果によるBc2の低下と強い相関があること
が分かった。
【0019】このようなピンニング点の導入に起因する
Bc2の低下を抑制して中・高磁界でのJc特性を改善
するためには、超電導フィラメントの平均的な組成をB
c2が最大値となる組成に近付けるようにマトリックス
であるNbTi合金の組成、及びNbTi合金と導入す
るピンニング点との割合を調整すればよいと考えられ
る。
Bc2の低下を抑制して中・高磁界でのJc特性を改善
するためには、超電導フィラメントの平均的な組成をB
c2が最大値となる組成に近付けるようにマトリックス
であるNbTi合金の組成、及びNbTi合金と導入す
るピンニング点との割合を調整すればよいと考えられ
る。
【0020】本発明はかかる見地に基づいて見出だされ
たものであり、超電導フィラメントがNbTi系合金と
ピンニング点としてのNb又はNb合金(A)とを複合
した構造である場合には、前記NbTi系合金のTi濃
度を48〜65重量%とし、かつ前記超電導フィラメン
ト中に占める前記Nb又はNb合金(A)の割合を20
〜35体積%とすることによって、ピンニング点の導入
に起因するBc2の低下を抑制して中・高磁界でのJc
特性を改善することが可能となり、また、超電導フィラ
メントがNbTi系合金とピンニング点としてのTi又
はTi合金(B)とを複合した構造である場合には、前
記NbTi系合金のTi濃度を25〜45重量%とし、
かつ前記超電導フィラメント中に占める前記Ti又はT
i合金(B)の割合を20〜35体積%とすることによ
って、ピンニング点の導入に起因するBc2の低下を抑
制して中・高磁界でのJc特性を改善することが可能と
なる。
たものであり、超電導フィラメントがNbTi系合金と
ピンニング点としてのNb又はNb合金(A)とを複合
した構造である場合には、前記NbTi系合金のTi濃
度を48〜65重量%とし、かつ前記超電導フィラメン
ト中に占める前記Nb又はNb合金(A)の割合を20
〜35体積%とすることによって、ピンニング点の導入
に起因するBc2の低下を抑制して中・高磁界でのJc
特性を改善することが可能となり、また、超電導フィラ
メントがNbTi系合金とピンニング点としてのTi又
はTi合金(B)とを複合した構造である場合には、前
記NbTi系合金のTi濃度を25〜45重量%とし、
かつ前記超電導フィラメント中に占める前記Ti又はT
i合金(B)の割合を20〜35体積%とすることによ
って、ピンニング点の導入に起因するBc2の低下を抑
制して中・高磁界でのJc特性を改善することが可能と
なる。
【0021】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を参照して詳細
に説明する。
に説明する。
【0022】実施例1 まず、図2(a)に示すようにNb−52重量%Ti合
金板1とNb板2とを交互に積層し、この積層体を外径
45mmφ、内径35mmφのCu管3内に入れること
により複合ビレットを形成する。この時、前記積層体に
占めるNb板2の割合(Nb板2/NbTi合金板1+
Nb板2)が20体積%となるように調整する。つづい
て、前記複合ビレットに熱間押し出し及び伸線加工を施
すことにより、図2(b)に示すような直径1.3mm
の線材4を形成する。ひきつづき、前記線材4の外周部
のCuを硝酸で溶解除去することにより、図2(c)に
示すような一次複合材5を形成する。
金板1とNb板2とを交互に積層し、この積層体を外径
45mmφ、内径35mmφのCu管3内に入れること
により複合ビレットを形成する。この時、前記積層体に
占めるNb板2の割合(Nb板2/NbTi合金板1+
Nb板2)が20体積%となるように調整する。つづい
て、前記複合ビレットに熱間押し出し及び伸線加工を施
すことにより、図2(b)に示すような直径1.3mm
の線材4を形成する。ひきつづき、前記線材4の外周部
のCuを硝酸で溶解除去することにより、図2(c)に
示すような一次複合材5を形成する。
【0023】次いで、図2(d)に示すように前記一次
複合材5を800本まとめて外径45mmφ、内径35
mmφのCu管6内に挿入した後、これらに熱間押し出
し及び伸線加工を施すことにより、図2(e)に示すよ
うな直径1mmの二次複合材7を形成する。
複合材5を800本まとめて外径45mmφ、内径35
mmφのCu管6内に挿入した後、これらに熱間押し出
し及び伸線加工を施すことにより、図2(e)に示すよ
うな直径1mmの二次複合材7を形成する。
【0024】次いで、図2(f)に示すように前記二次
複合材7を800本まとめて外径45mmφ、内径35
mmφのCu管8内に挿入した後、これらに熱間押し出
し及び伸線加工を施して一連の工程を再び経て最終線材
とする。これにより、Cuマトリックス中に超電導フィ
ラメントが800本埋め込まれた構造を有するNbTi
合金系超電導線9を製造した(図2(g)図示)。
複合材7を800本まとめて外径45mmφ、内径35
mmφのCu管8内に挿入した後、これらに熱間押し出
し及び伸線加工を施して一連の工程を再び経て最終線材
とする。これにより、Cuマトリックス中に超電導フィ
ラメントが800本埋め込まれた構造を有するNbTi
合金系超電導線9を製造した(図2(g)図示)。
【0025】実施例2〜5及び比較例1〜4 NbTi合金板の合金組成、及びNbTi合金板とNb
板との積層体に占めるNb板の割合を下記表1に示すよ
うに調整した以外、実施例1と同様にしてNbTi合金
系超電導線を製造した。
板との積層体に占めるNb板の割合を下記表1に示すよ
うに調整した以外、実施例1と同様にしてNbTi合金
系超電導線を製造した。
【0026】実施例1〜5及び比較例1〜4のNbTi
合金系超電導線について、それぞれ温度4.2Kの液体
ヘリウム中、5Tと8Tの磁場下での臨界電流密度(J
c)を測定した。その結果を下記表1に併記する。
合金系超電導線について、それぞれ温度4.2Kの液体
ヘリウム中、5Tと8Tの磁場下での臨界電流密度(J
c)を測定した。その結果を下記表1に併記する。
【0027】
【表1】 表1から明らかなように実施例1〜5のNbTi合金系
超電導線は、比較例1〜4のNbTi合金系超電導線に
比べて5Tと8Tの磁場下でのJc値が高くなってい
る。これは、各超電導フィラメントが超電導体(マトリ
ックス)であるNbTi合金とピンニング点であるNb
とを複合した構造であって、前記NbTi合金のTi濃
度が48〜65重量%であり、かつ各超電導フィラメン
ト中に占めるNbの割合が20〜35体積%であること
によるものである。
超電導線は、比較例1〜4のNbTi合金系超電導線に
比べて5Tと8Tの磁場下でのJc値が高くなってい
る。これは、各超電導フィラメントが超電導体(マトリ
ックス)であるNbTi合金とピンニング点であるNb
とを複合した構造であって、前記NbTi合金のTi濃
度が48〜65重量%であり、かつ各超電導フィラメン
ト中に占めるNbの割合が20〜35体積%であること
によるものである。
【0028】なお、上記実施例1〜5では、Nbをピン
ニング点として導入した場合について行なったが、T
i、Ta、Al、Mg、Fe、Hf、Cu、Ge、N
i、Zr、Cr等のNb以外の元素が20重量%以下添
加されたNb合金をピンニング点として導入した場合で
あっても同様な結果が得られた。
ニング点として導入した場合について行なったが、T
i、Ta、Al、Mg、Fe、Hf、Cu、Ge、N
i、Zr、Cr等のNb以外の元素が20重量%以下添
加されたNb合金をピンニング点として導入した場合で
あっても同様な結果が得られた。
【0029】実施例6 まず、Nb−38重量%Ti合金板とTi板とを交互に
積層し、この積層体を外径45mmφ、内径35mmφ
のCu管内に入れることにより複合ビレットを形成す
る。この時、前記積層体に占めるTi板の割合(Ti板
/NbTi合金板+Ti板)が20体積%となるように
調整する。つづいて、この複合ビレットに熱間押し出し
及び伸線加工を施すことにより、直径1.3mmの線材
を形成する。ひきつづき、前記線材の外周部のCuを硝
酸で溶解除去することにより、一次複合材を形成する。
積層し、この積層体を外径45mmφ、内径35mmφ
のCu管内に入れることにより複合ビレットを形成す
る。この時、前記積層体に占めるTi板の割合(Ti板
/NbTi合金板+Ti板)が20体積%となるように
調整する。つづいて、この複合ビレットに熱間押し出し
及び伸線加工を施すことにより、直径1.3mmの線材
を形成する。ひきつづき、前記線材の外周部のCuを硝
酸で溶解除去することにより、一次複合材を形成する。
【0030】その後、実施例1と同様に複合加工及び伸
線加工等の一連の工程を2度経ることにより、実施例1
と同じ断面構造を有するNbTi合金系超電導線を製造
した。
線加工等の一連の工程を2度経ることにより、実施例1
と同じ断面構造を有するNbTi合金系超電導線を製造
した。
【0031】実施例7〜10及び比較例5〜8 NbTi合金板の合金組成、及びNbTi合金板とTi
板との積層体に占めるTi板の割合を下記表2に示すよ
うに調整した以外、実施例6と同様にしてNbTi合金
系超電導線を製造した。
板との積層体に占めるTi板の割合を下記表2に示すよ
うに調整した以外、実施例6と同様にしてNbTi合金
系超電導線を製造した。
【0032】実施例6〜10及び比較例5〜8のNbT
i合金系超電導線について、それぞれ温度4.2Kの液
体ヘリウム中、5Tと8Tの磁場下での臨界電流密度
(Jc)を測定した。その結果を下記表2に併記する。
i合金系超電導線について、それぞれ温度4.2Kの液
体ヘリウム中、5Tと8Tの磁場下での臨界電流密度
(Jc)を測定した。その結果を下記表2に併記する。
【0033】
【表2】 表2から明らかなように実施例6〜10のNbTi合金
系超電導線は、比較例5〜8のNbTi合金系超電導線
に比べて5Tと8Tの磁場下でのJc値が高くなってい
る。これは、各超電導フィラメントが超電導体であるN
bTi合金とピンニング点であるTiとを複合した構造
であって、前記NbTi合金のTi濃度が25〜45重
量%であり、かつ各超電導フィラメント中に占めるTi
の割合が20〜35体積%であることによるものであ
る。
系超電導線は、比較例5〜8のNbTi合金系超電導線
に比べて5Tと8Tの磁場下でのJc値が高くなってい
る。これは、各超電導フィラメントが超電導体であるN
bTi合金とピンニング点であるTiとを複合した構造
であって、前記NbTi合金のTi濃度が25〜45重
量%であり、かつ各超電導フィラメント中に占めるTi
の割合が20〜35体積%であることによるものであ
る。
【0034】なお、上記実施例6〜10では、Tiをピ
ンニング点として導入した場合について行なったが、N
b、Ta、Al、Mg、Fe、Hf、Cu、Ge、N
i、Zr、Cr等のTi以外の元素が20重量%以下添
加されたTi合金をピンニング点として導入した場合で
あっても同様な結果が得られた。
ンニング点として導入した場合について行なったが、N
b、Ta、Al、Mg、Fe、Hf、Cu、Ge、N
i、Zr、Cr等のTi以外の元素が20重量%以下添
加されたTi合金をピンニング点として導入した場合で
あっても同様な結果が得られた。
【0035】
【発明の効果】以上詳述した如く、本発明によれば中・
高磁界下でも高いJc値が得られ、ひいてはMRI用マ
グネットとして好適に利用可能なNbTi合金系超電導
線を提供することができる。
高磁界下でも高いJc値が得られ、ひいてはMRI用マ
グネットとして好適に利用可能なNbTi合金系超電導
線を提供することができる。
【図1】NbTi合金のTi濃度に対するBc2の変化
を示す特性図。
を示す特性図。
【図2】実施例1のNbTi合金系超電導線の製造工程
を示す説明図。
を示す説明図。
1…NbTi合金板、2…Nb板、5…一次複合材、7
…二次複合材、9…NbTi合金系超電導線。
…二次複合材、9…NbTi合金系超電導線。
Claims (2)
- 【請求項1】 NbTi系合金と、ピンニング点として
のNb又は該NbTi系合金よりも臨界温度が低いか、
若しくは超電導特性を示さないNb合金(以下、Nb合
金(A)と称す)とを複合した構造の超電導フィラメン
トを具備するNbTi合金系超電導線において、前記N
bTi系合金のTi濃度を48〜65重量%とし、かつ
前記超電導フィラメント中に占める前記Nb又はNb合
金(A)の割合を20〜35体積%としたことを特徴と
するNbTi合金系超電導線。 - 【請求項2】 NbTi系合金と、ピンニング点として
のTi又は該NbTi系合金よりも臨界温度が低いか、
若しくは超電導特性を示さないTi合金(以下、Ti合
金(B)と称す)とを複合した構造の超電導フィラメン
トを具備するNbTi合金系超電導線において、前記N
bTi系合金のTi濃度を25〜45重量%とし、かつ
前記超電導フィラメント中に占める前記Ti又はTi合
金(B)の割合を20〜35体積%としたことを特徴と
するNbTi合金系超電導線。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4160974A JPH065129A (ja) | 1992-06-19 | 1992-06-19 | NbTi合金系超電導線 |
| US08/066,563 US5374320A (en) | 1992-06-19 | 1993-05-25 | Nb-Ti alloy type superconducting wire |
| DE4317703A DE4317703C2 (de) | 1992-06-19 | 1993-05-27 | Supraleitender Draht aus einer Nb-Ti-Legierung und ein Verfahren zu dessen Herstellung |
| FR9306352A FR2692714B1 (fr) | 1992-06-19 | 1993-05-27 | Fil supraconducteur du type a alliage nb-ti et son procede de fabrication. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4160974A JPH065129A (ja) | 1992-06-19 | 1992-06-19 | NbTi合金系超電導線 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH065129A true JPH065129A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=15726177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4160974A Pending JPH065129A (ja) | 1992-06-19 | 1992-06-19 | NbTi合金系超電導線 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5374320A (ja) |
| JP (1) | JPH065129A (ja) |
| DE (1) | DE4317703C2 (ja) |
| FR (1) | FR2692714B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9168682B2 (en) | 2013-12-11 | 2015-10-27 | Matsui Mfg. Co., Ltd. | Medium supply appartus |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1996041382A2 (en) * | 1995-06-07 | 1996-12-19 | Teledyne Industries, Inc. | Niobium 47 weight % titanium by iron addition and method for making superconducting multifilamentary wire |
| US5998336A (en) * | 1997-02-26 | 1999-12-07 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Ceramic/metal and A15/metal superconducting composite materials exploiting the superconducting proximity effect and method of making the same |
| US7608785B2 (en) * | 2004-04-27 | 2009-10-27 | Superpower, Inc. | System for transmitting current including magnetically decoupled superconducting conductors |
| DE602005005044T2 (de) * | 2005-07-19 | 2009-02-26 | Bruker Biospin Ag | Supraleitende Elemente mit Kupfer-Einschlüsse enthaltenden Nb3Sn-Filamenten, sowie ein Verbundwerkstoff und ein Verfahren für ihre Herstellung |
| US8461681B2 (en) * | 2007-04-27 | 2013-06-11 | Medtronic, Inc. | Layered structure for corrosion resistant interconnect contacts |
| JP5276542B2 (ja) * | 2009-07-29 | 2013-08-28 | 株式会社日立製作所 | 超電導回路、超電導接続部の作製方法、超電導マグネット、及び、超電導マグネットの製造方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4564564A (en) * | 1983-08-16 | 1986-01-14 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Superconducting magnet wire |
| US4803310A (en) * | 1987-05-04 | 1989-02-07 | Intermagnetics General Corporation | Superconductors having controlled laminar pinning centers, and method of manufacturing same |
| KR0158459B1 (ko) * | 1989-08-25 | 1998-12-15 | 도모마쯔 켄고 | 초전도선재 및그 제조방법 |
| JPH03263714A (ja) * | 1990-03-12 | 1991-11-25 | Furukawa Electric Co Ltd:The | 超電導材料の製造方法 |
| DE69028172T2 (de) * | 1989-10-23 | 1997-04-10 | Nippon Steel Corp | Supraleitende magnetische Abschirmung und Verfahren zu ihrer Herstellung |
| US5182176A (en) * | 1990-05-17 | 1993-01-26 | Composite Materials Technology, Inc. | Extruded wires having layers of superconducting alloy and refractory meal encased in a normal metal sheath |
| US5226947A (en) * | 1992-02-17 | 1993-07-13 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Niobium-titanium superconductors produced by powder metallurgy having artificial flux pinning centers |
-
1992
- 1992-06-19 JP JP4160974A patent/JPH065129A/ja active Pending
-
1993
- 1993-05-25 US US08/066,563 patent/US5374320A/en not_active Expired - Fee Related
- 1993-05-27 FR FR9306352A patent/FR2692714B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1993-05-27 DE DE4317703A patent/DE4317703C2/de not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9168682B2 (en) | 2013-12-11 | 2015-10-27 | Matsui Mfg. Co., Ltd. | Medium supply appartus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE4317703C2 (de) | 2002-12-05 |
| US5374320A (en) | 1994-12-20 |
| FR2692714A1 (fr) | 1993-12-24 |
| DE4317703A1 (de) | 1993-12-23 |
| FR2692714B1 (fr) | 1996-02-09 |
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