JPH0652072A - Ｓｃｓｉ＿ｉ／ｆ試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、ＳＣＳＩのＩ／Ｆの試験を行うＳ
ＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ試験装置に関し、被試験装置のＳＣＳＩ
＿Ｉ／Ｆに擬似Ｉ／Ｏを接続し、状態遷移信号や試験デ
ータを送信してその結果をデータとして受け取ったり、
更に試験用データを送信させてこれを受信してデータ受
信チェックを行い、簡単な構成でＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ試験
を行うことを目的とする。 【構成】 試験機能２を格納した被試験装置１と、この
被試験装置１のＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに接続し、受信した状
態遷移信号を保持し、データとして送出する擬似Ｉ／Ｏ
５とを備え、被試験装置１の試験機能２が状態遷移信号
をＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに送信し、擬似Ｉ／Ｏ５が受信した
状態遷移信号を保持してデータとして送出し、これを受
信した試験機能２がエラー判定するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＳＣＳＩのＩ／Ｆの試
験を行うＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ試験装置に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来、ＳＣＳＩインタフェースのホスト
装置（イニシエータ）のインタフェースを試験する場
合、図１２の（ａ）に示すように、ＳＣＳＩ対応のＨＤ
Ｄ（ハードディスク装置）を接続し、リード／ライト試
験を行ったり、図１２の（ｂ）に示すように、ホスト装
置を疑似的にコントローラ装置（ターゲット）にして対
向接続して試験を行っていた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】このため、前者のハー
ドディスク接続試験では、 ハードディスク装置が高価である ハードディスク装置は機構部があるため、故障、エ
ラーの発生の可能性が高く、設置環境（温度、湿度、振
動など）にも制約が大きい パリティエラーなどの異常処理の試験ができない という問題があった。

【０００４】また、後者の対向試験では、 ホスト装置に疑似的にコントローラとなる回路を余
分に設ける必要がある ホスト装置にそれぞれに専用のテストプログラムを
必要とする という問題があった。

【０００５】本発明は、これらの問題を解決するため、
被試験装置のＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに擬似Ｉ／Ｏを接続し、
状態遷移信号や試験データを送信してその結果をデータ
として受け取ったり、更に試験用データを送信させてこ
れを受信してデータ受信チェックを行い、簡単な構成で
ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ試験を行うことを目的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】図１は、本発明の原理説
明図を示す。図１において、被試験装置１は、ＳＣＳＩ
＿Ｉ／Ｆの試験を行おうとする装置（ホスト装置）であ
る。

【０００７】試験機能２は、被試験装置１内に設け、状
態遷移信号、試験用データをＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに送信し
たり、これら状態遷移信号や試験用データの受信した結
果をデータとして受け取って判定したり、疑似Ｉ／Ｏ５
から送信されてきた試験用データを受信してデータ受信
チェックしたりなどするものである。

【０００８】疑似Ｉ／Ｏ５は、ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに接続
して試験を行うためのものである。

【０００９】

【作用】本発明は、図１に示すように、被試験装置１の
試験機能２が状態遷移信号をＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに送信
し、擬似Ｉ／Ｏ５がこれを受信して保持してデータとし
て送出し、これを受信した試験機能２がエラーか判定す
るようにしている。

【００１０】また、被試験装置１の試験機能２が試験用
データをＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに送信し、擬似Ｉ／Ｏ５がこ
れを受信してエラーチェックしてその結果を保持してデ
ータとして送出し、これを受信した試験機能２がエラー
か判定するようにしている。

【００１１】また、疑似Ｉ／Ｏ５が試験用データを被試
験装置１の試験機能２に送信し、これを受信した試験機
能２がエラーか判定を行うようにしている。従って、被
試験装置１のＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに疑似Ｉ／Ｏ５を接続
し、被試験装置１の試験機能２が状態遷移信号や試験デ
ータを送信して疑似Ｉ／Ｏ５がその結果を返送してエラ
ー判定したり、疑似Ｉ／Ｏ５が試験データを送信して試
験機能１の試験機能２がエラー判定したりすることによ
り、簡単な構成でＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆの試験を自動的に行
うことが可能となる。

【００１２】

【実施例】次に、図１から図１１を用いて本発明の実施
例の構成および動作を順次詳細に説明する。

【００１３】図１において、被試験装置１は、ワークス
テーションなどのコンピュータシステム（ホスト装置）
であって、ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆを持ち、磁気ディスク装置
などのＩ／Ｏ装置と接続し、高速にデータの送受信する
ものである。この被試験装置１は、試験機能（テストプ
ログラム）２、ドライバ／レシーバ３、およびＳＣＳＩ
コントローラ４などから構成されている。

【００１４】試験機能２は、ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ試験を行
うものであって、ここでは、フロッピィディスクからテ
ストプログラムをローディングして動作させる機能であ
る。この試験機能２は、状態遷移信号や試験用データを
ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに送信したり、状態遷移信号や試験用
データの受信した結果について疑似Ｉ／Ｏ５から返送さ
れてきたデータをもともにエラー判定したり、疑似Ｉ／
Ｏ５から送信されてきた試験用データを受信してデータ
受信チェックしたりなどするものである（図５から図１
０参照）。

【００１５】ドライバ／レシーバ３は、ＳＣＳＩインタ
フェース（ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ）との間で信号やデータの
授受を行うものである。ＳＣＳＩコントローラ４は、Ｓ
ＣＳＩインタフェースを介して疑似Ｉ／Ｏ５との間で信
号やデータを送受信を制御するものである。

【００１６】疑似Ｉ／Ｏ５は、ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに接続
して試験を行うためのものであって、受信した状態遷移
信号を保持してデータとして送信したり、受信した試験
用データをチェックしてその結果をデータとして送信し
たり、試験用データを送信したりなどするものである。

【００１７】図２は、本発明の疑似Ｉ／Ｏ５のブロック
図を示す。図２において、レシーバ／ドライバ５１は、
ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆとの間で信号やデータの送受信を行う
ものである。ここでは、信号として、ＢＳＹ、Ｃ／Ｄ、
ＭＳＧ、ＲＥＱ、ＳＥＬ、ＡＴＮ、ＡＣＫ、ＲＳＴなど
がある。データはＤＢ０からＤＢ７、ＤＢＰ（パリティ
ビット）からなる。

【００１８】シーケンスコントローラ５２は、全体を統
括制御するものである。セレクションコントローラ５３
は、疑似Ｉ／Ｏ５が選択されたことを記憶などするもの
である。

【００１９】フェースコントローラ５４は、現在のフェ
ーズを保持したりなどするものである。インクリメント
データジェネレータ５５は、インクリメントした試験用
データ、比較用のデータを発生するものであって、例え
ばデータ００〜ＦＦを順次発生するものである。

【００２０】データコンパレータ５６は、ＳＣＳＩ＿Ｉ
／Ｆを介して受信した試験用データと、インクリメント
データジェネレータ５５によって発生した比較用のデー
タと照合して一致するか否かを判別するものである。一
致しないときにエラーと判定する。

【００２１】パリティチェック／ジェネレータ５７は、
受信したデータのパリティチェックを行ったり、送信す
るときにパリティビットを発生したりなどするものであ
る。ステータスレジスタ５８は、ステータスを保持する
ものである。例えば ・ステータスエラー ・パリティエラー ・信号遷移エラー（状態遷移信号のエラー） ・データエラー ・その他 を保持するレジスタである。

【００２２】図３は、本発明の状態遷移図を示す。これ
は、図１の被試験装置１とＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆを介して接
続した疑似Ｉ／Ｏ５との間の状態の遷移を示したもので
あるる。状態遷移は、図示のように、 ・パスフリーフェーズ ・セレクションフェーズ ・コマンドフェーズ ・データインフェーズ ・データアウトフェーズ ・メッセージインフェーズ ・メッセージアウトフェーズ ・ステータスフェーズ がある。ここで、パスフリーフェーズは電源ＯＮ（ＰＯ
ＷＥＲ ＯＮ）あるいはＲＳＴ＝“１”（リセットコン
ディション）によって設定されるフェーズであって、い
ずれの装置もＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆを使用可の状態である。
セレクションフェーズは、ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに接続され
たある装置を選択する状態である。コマンドフェーズは
コマンド送信して右側に記載したいずれかのフェーズ
（データインフェーズ、データアウトフェーズなど）に
状態遷移するフェーズである。ステータスフェーズはデ
ータインフェーズなどが終了したときに遷移するフェー
ズである。

【００２３】図４は、本発明の試験手順例を示す。これ
は、図１の構成のもとで、図２の状態遷移に従い、試験
を行うときの基本的な手順例である。図４において、
は、本装置（疑似Ｉ／Ｏ５）をリセットする。

【００２４】は、セレクションフェーズにより本装置
（疑似Ｉ／Ｏ５）を選択する（ＳＣＳＩ＿ＩＤ＝Ｘ
Ｘ）。は、ＡＮＴ＝“１”とし、コマンドフェーズと
する。

【００２５】は、ステータスを読み出し、正常である
ことを確認する（ＳＰＳＲ＝Ｘ“Ｃ０”？）。は、デ
ータ転送する。データ転送としては、メッセージインフ
ェーズ、メッセージアウトフェーズ、データインフェー
ズ、データアウトフェーズのいずれかで行う。

【００２６】は、ステータスを読み出し、データ転送
が正常に行われることを確認する。以下にこの基本的な
手順をもとに、状態遷移チェックを図５、図６、送信デ
ータチェックを図７、図８、受信データチェックを図
９、図１０を用いて詳細に説明する。

【００２７】まず、図５および図６を用い、状態遷移チ
ェックについて詳細に説明する。ここで、○１１から○
２１は丸付き数字を表す。図５のから○２１は図６の
から○２１にそれぞれ対応している。この例は、被試
験装置１が ・ＲＳＴ（リセット）＝“１” ・ＡＴＮ（アテンション）＝“１” の状態遷移のチェックのために、、でＳＣＳＩ＿Ｉ
／Ｆを介してそれぞれ送信し、疑似Ｉ／Ｏ５がこれらを
ＲＳＴフラグ＝“１”、ＡＴＮフラグ＝“１”として図
１のステータスレジスタ５８に保持し、これら保持した
結果をデータとして○１４で送信し、被試験装置１が○
１９でチェックしてＮＧ、ＧＯＯＤを判定する。以下順
次説明する。

【００２８】図５において、は、疑似Ｉ／Ｏの初期化
を行うために、ＲＳＴ＝“１”→“０”を送出する（図
６の参照、以下同様）。は、疑似Ｉ／Ｏ５が初期化
され、パスフリーフェイズとなると共に、ＲＳＴフラグ
＝“１”としてＲＳＴ＝“１”を図１のステータスレジ
スタ５８に記憶する。

【００２９】は、被試験装置１がＢＳＹ＝“０”を見
て、パスフリーフェーズを確認する。は、疑似Ｉ／Ｏ
５を選択するＩＤ発行する（ＤＡＴＡ＝“０２Ｈ”）。

【００３０】は、でＤＢ０〜７に送出したデータ
（ＤＡＴＡ＝“０２Ｈ”）を選択する選択信号（ＳＥＬ
＝“１”）を送出する。は、疑似Ｉ／Ｏ５がのデー
タを選択した旨の応答信号（ＢＳＹ＝“１”）を送出す
る。

【００３１】は、の応答信号（ＢＳＹ＝“１”）に
対応して、選択確認する（ＳＥＬ＝“０”）。は、コ
マンド所有者信号を発行する（ＡＴＮ＝“１”）。

【００３２】は、疑似Ｉ／Ｏ５がコマンド要求を行う
（ＲＥＱ＝“１”を送出、ＡＴＮフラグ＝“１”を記
憶）。○１０は、コマンド要求確認する（ＡＴＮ＝
“０”）。

【００３３】○１１は、コマンド発行および応答する
（ＤＡＴＡ＝“０８Ｈ”、ＡＣＫ＝“１”→“０”）。
これにより、コマンドフェーズからステータスフェーズ
へ状態遷移を指示する）。

【００３４】○１２は、疑似Ｉ／Ｏ５がコマンド応答確
認する（ＲＥＱ＝“０”）。○１３は、ステータスフェ
ーズ遷移する（Ｉ／Ｏ＝“１”）。○１４は、ステータ
ス送出する（ＤＡＴＡ＝“Ｃ８Ｈ”、ＲＥＱ＝
“１”）。ここで、ＤＡＴＡ＝“Ｃ８Ｈ”は、矢印を用
いて示したように、で記憶したＲＳＴフラグ＝“１”
およびで記憶したＡＴＮフラグ＝“１”の両者をデー
タで表したものである。

【００３５】○１５は、ステータス受け取り、受け取っ
た旨を応答する（ＡＣＫ＝“１”→“０”）。○１６
は、疑似Ｉ／Ｏ５がステータス応答確認する（ＲＥＱ＝
“０”）。

【００３６】○１７は、コマンドフェーズに遷移する
（Ｉ／Ｏ＝“０”）。○１８は、コマンド要求する（Ｒ
ＥＱ＝“１”）。○１９は、被試験装置１がステータス
確認する（ステータスＤＡＴＡ＝“Ｃ８Ｈ”と等しけれ
ばＧＯＯＤ、等しくなければＮＧ）。

【００３７】○２０は、○１９でＧＯＯＤと判定された
場合に、次のコマンド発行および応答する（ＤＡＴＡ＝
“ＸＸＸ”、ＡＣＫ＝“１”→“０”）。○２１は、○
１９でＮＧと判定された場合に、エラー判定すると共に
異常終了する。

【００３８】以上の手順によって、疑似Ｉ／Ｏ５側で、
のときにＲＳＴフラグ＝“１”として図１のステータ
スレジスタ５８に記憶およびのときにＡＴＮフラグ＝
“１”として図１のステータスレジスタ５８に記憶し、
これらをまとめて○１４でデータ“Ｃ８Ｈ”（正常のと
き）として送出し、被試験装置１側でこのデータ“Ｃ８
Ｈ”を受信し、○１９でＧＯＯＤ（正常）と判定され、
○２０で次に進む。一方、○１９でＮＧ（エラー発生）
と判定された場合は○２１でエラー判定し、異常終了す
る。

【００３９】これら手順により、疑似Ｉ／Ｏ５を設け、
状態遷移について被試験装置１から状態遷移を指示して
その結果を疑似Ｉ／Ｏ５からデータとして受け取り、被
試験装置１のＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆの状態遷移の試験を行う
ことが可能となる。

【００４０】次に、図７および図８を用い、データ送信
チェックについて詳細に説明する。ここで、○１１から
○２０は丸付き数字を表す。図７のから○２０は図８
のから○２０にそれぞれ対応している。この例は、被
試験装置１がデータ送信チェックのために、 ・データＸ“００”〜Ｘ“ＦＦ” をで順次送出し、受信した疑似Ｉ／Ｏ５が内部で発生
させた参照用のデータと比較してその結果がエラーのと
きにＥＲＲフラグ＝“１”を保持し、これら保持した結
果をデータとして○１３で送信し、被試験装置１が○１
８でチェックしてＮＧ、ＧＯＯＤを判定する。以下順次
説明する。

【００４１】図７において、は、疑似Ｉ／Ｏ５がコマ
ンド要求する（ＲＥＱ＝“１”）。は、に対応し
て、被試験装置１がコマンド発行／応答する（ＤＡＴＡ
＝“４０Ｈ”、ＡＣＫ＝“１”→“０”）。

【００４２】は、疑似Ｉ／Ｏ５がコマンド確認する
（ＲＥＱ＝“０”）。は、データアウトフェーズに遷
移する（Ｃ／Ｄ＝“０”）。は、データ要求する（Ｒ
ＥＱ＝“１”）。

【００４３】は、被試験装置１がインクリメントデー
タ送出および応答する（ＤＡＴＡ＝“００Ｈ〜ＦＦ
Ｈ”、ＡＣＫ＝“１”→“０”）。は、データ終了す
る（ＤＡＴＡ＝“ＦＦＨ”となる）。

【００４４】は、疑似Ｉ／Ｏ装置５がデータ送出確認
する（ＲＥＱ＝“０”）。は、データ確認する（ＤＡ
ＴＡ＝インクリメントデータ？、即ち、受信したデータ
と、内部で発生したインクリメントデータとを比較し、
一致するかチェックする）。

【００４５】○１０は、でＮＧであったので、エラー
フラグセットする（ＥＲＲフラグ＝“１”にして記憶す
る）。○１１は、でＯＫであったので、データ終了か
判別する（ＤＡＴＡ＝“ＦＦＨ”か判別する）。ＹＥＳ
の場合には、○１２に進む。ＮＯの場合には、以降を
繰り返す。

【００４６】○１２は、ステータスフェーズに遷移する
（Ｉ／Ｏ＝“１”）。○１３は、ステータスを送出する
（ＤＡＴＡ＝“Ｃ８Ｈ”、ＲＥＱ＝“１”）。

【００４７】○１４は、被試験装置１がステータスを受
け取るおよび応答する（ＡＣＫ＝“１”→“０”）。○
１５は、疑似Ｉ／Ｏ５がステータス応答確認する（ＲＥ
Ｑ＝“０”）。

【００４８】○１６は、コマンドフェーズに遷移する
（Ｉ／Ｏ＝“０”）。○１７は、コマンド要求する（Ｒ
ＥＱ＝“１”）。○１８は、ステータス確認する（ステ
ータスＤＡＴＡ＝“０１”？）。これは、○１４で受信
したステータスが“０１”でエラーがなかったか確認す
る。ＧＯＯＤの場合には、○１９で次のコマンド発行お
よび応答に進む（ＤＡＴＡ＝“ＸＸＨ”、ＡＣＫ＝
“１”→“０”）。

【００４９】○２０は、○１８でＮＧであったので、エ
ラー判定し、異常終了する。以上の手順によって、疑似
Ｉ／Ｏ５側で、受信したデータをチェックしてエラーの
ときに○１０でＥＲＲフラグ＝“１”として図１のステ
ータスレジスタ５８に記憶し、全てのデータについて繰
り返した後、この結果をまとめて○１３でデータ“Ｃ８
Ｈ”（正常のとき）として送出し、被試験装置１側でこ
のデータ“Ｃ８Ｈ”を受信し、○１８でＧＯＯＤ（正
常）と判定され、○１９で次に進む。一方、○１８でＮ
Ｇ（エラー発生）と判定された場合は○２０でエラー判
定し、異常終了する。

【００５０】これら手順により、疑似Ｉ／Ｏ５を設け、
試験装置１からデータ送信したときに当該疑似Ｉ／Ｏ５
が受信してチェックし、その結果をデータとして受け取
ってエラー判定することにより、被試験装置１のＳＣＳ
Ｉ＿Ｉ／Ｆのデータ送信の試験を行うことが可能とな
る。

【００５１】次に、図９および図１０を用い、データ受
信チェックについて詳細に説明する。ここで、○１１か
ら○１８は丸付き数字を表す。図９のから○１８は図
１０のから○１８にそれぞれ対応している。この例
は、疑似Ｉ／Ｏ５がデータ受信チェックのために、 ・データＸ“００”〜Ｘ“ＦＦ” をで順次送出し、受信した被試験装置１が内部で発生
させた参照用のデータと比較してその結果で判定（エラ
ー判定、正常判定）する。以下順次説明する。

【００５２】図９において、は、疑似Ｉ／Ｏ５がコマ
ンド要求する（ＲＥＱ＝“１”）。は、に対応し
て、被試験装置１がコマンド発行／応答する（ＤＡＴＡ
＝“８０Ｈ”、ＡＣＫ＝“１”→“０”）。

【００５３】は、疑似Ｉ／Ｏ５がコマンド確認する
（ＲＥＱ＝“０”）。は、データインフェーズに遷移
する（Ｃ／Ｄ＝“０”、Ｉ／Ｏ＝“１”）。は、イン
クリメントデータ送出する（ＤＡＴＡ＝“００Ｈ〜ＦＦ
Ｈ”、ＲＥＱ＝“１”）。

【００５４】は、被試験装置１がインクリメントデー
タを受け取り、応答する（ＡＣＫ＝“１”→“０”）。
そして、で受け取ったインクリメントデータを確認
（ＤＡＴＡが内部で発生したインクリメントデータと一
致して正しいか確認）する。ＧＯＯＤの場合には、○１
０でデータ終了か判別し（ＤＡＴＡ＝“ＦＦＨ”か判別
し）、ＹＥＳのときに○１２に進み、ＮＯのときにに
進む。一方、でＮＧの場合には、○１８に進む。

【００５５】は、疑似Ｉ／Ｏ５がインクリメントデー
タ受領確認する（ＲＥＱ＝“０”）。は、データ終了
か判別する（ＤＡＴＡ＝“ＦＦＨ”か判別する）。ＹＥ
Ｓの場合には、○１０に進む。ＮＯの場合には、以降
を繰り返す。

【００５６】○１０は、ステータスフェーズに遷移する
（Ｉ／Ｏ＝“１”）。○１１は、ステータスを送出する
（ＤＡＴＡ＝“Ｃ８Ｈ”、ＲＥＱ＝“１”）。

【００５７】○１２は、被試験装置１がステータスを受
け取りおよび応答する（ＡＣＫ＝“１”→“０”）。○
１３は、疑似Ｉ／Ｏ５がステータス応答を確認する（Ｒ
ＥＱ＝“０”）。

【００５８】○１４は、コマンドフェーズ遷移する（Ｉ
／Ｏ＝“０”）。○１５は、コマンド要求する（ＲＥＱ
＝“１”）。○１６は、被試験装置１がステータス確認
する（ステータスＤＡＴＡ＝“０１”で正常か確認す
る）。ＧＯＯＤの場合には、○１７で次のコマンド発行
および応答する（ＤＡＴＡ＝“ＸＸＨ”、ＡＣＫ＝
“１”→“０”）。ＮＧの場合には、○１８に進む。

【００５９】○１８は、でＮＧあるいは○１６のＮＧ
の場合に、エラー判定し、異常終了する。以上の手順に
よって、疑似Ｉ／Ｏ５側から送信されたデータを被試験
装置１側で受信してチェックし、エラーのときに○１８
でエラー判定する。

【００６０】これら手順により、疑似Ｉ／Ｏ５を設け、
疑似Ｉ／Ｏ５から試験データを送信して被試験装置１で
受信し、チェックしてエラー判定することにより、被試
験装置１のＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆのデータ受信の試験を行う
ことが可能となる。

【００６１】図１１は、コマンドデタ／ステータスデー
タ例を示す。図１１の（ａ）は、コマンドデータ例を示
す。このコマンドデータは、１バイトから構成され、各
ビットを図示のように割り当て、ビットをセットして疑
似Ｉ／Ｏ５を制御する。

【００６２】ＰＩＮＶ（ビット０）：データのパリティ
ビットを反転したものである。“０”のとき奇数パリテ
ィ（通常）、“１”のとき偶数パリティ（パリティエラ
ー発生）を表す。

【００６３】ＢＦＲＥＥ（ビット２）：“１”のときバ
スフリーフェーズに遷移する。 ＳＴＡＴ（ビット３）：“１”のときステータスフェー
ズに遷移する。 ＭＯＵＮＴ（ビット４）：“１”のときメセージアウト
フェーズに遷移する。

【００６４】ＭＩＮ（ビット５）：“１”のときメッセ
ージインフェーズに遷移する。 ＤＯＵＴ（ビット６）：“１”のときデータアウトフェ
ーズに遷移する。 ＤＩＮ（ビット７）：“１”のときデータインフェーズ
に遷移する。

【００６５】図１１の（ｂ）は、ステータスデータ例を
示す。このステータスデータは、１バイトから構成さ
れ、各ビットを図示のように割り当て、ビットセットし
て疑似Ｉ／Ｏ５の状態を示す。

【００６６】ＥＮＤ（ビット０）：メッセージアウトフ
ェーズ、メッセージインフェーズ、データアウトフェー
ズ、データインフェーズのいずれかにおいて、２５６バ
イトのデータの転送が終了したことを表す。

【００６７】ＥＲＲ（ビット１）：メッセージアウトフ
ェーズ、データアウトフェーズのいずれかにおいて、イ
ンクリメントデータに異常があったことを表す。 ＰＥＲＲ（ビット２）：メッセージアウトフェーズ、デ
ータアウトフェーズのいずれかにおいて、パイティエラ
ーが発生したことを表す。

【００６８】ＡＴＮ（ビット６）：ＡＴＮ信号が“１”
になったことを表す。 ＲＳＴ（ビット７）：ＲＳＴ信号が“１”になったこと
を表す。

【００６９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被試験装置１のＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに疑似Ｉ／Ｏ５を接続
し、被試験装置１の試験機能２が状態遷移信号や試験デ
ータを送信して疑似Ｉ／Ｏ５がその結果をデータとして
返送してエラー判定したり、疑似Ｉ／Ｏ５が試験データ
を送信して試験機能１の試験機能２がエラー判定したり
する構成を採用しているため、簡単な構成でＳＣＳＩ＿
Ｉ／Ｆの試験を自動的に行うことができる。これらによ
り、 （１） 機種に係わらず汎用的なＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆの試
験を行うことができる。

【００７０】（２） 試験に用いる疑似Ｉ／Ｏ５を小型
化できる。 （３） 低コストな試験装置（擬似Ｉ／Ｏ５）で済む。 （４） ＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに擬似Ｉ／Ｏ５を接続するの
みで、折り返し試験により、各種試験を容易に行うこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】本発明に疑似Ｉ／Ｏのブロック図である。

【図３】本発明の状態遷移図である。

【図４】本発明の試験手順例である。

【図５】本発明の状態遷移チェック手順例である。

【図６】本発明の状態遷移チェック時のタイムチャート
である。

【図７】本発明のデータ送信チェック手順例である。

【図８】本発明のデータ送信時のタイムチャートであ
る。

【図９】本発明のデータ受信チェック手順例である。

【図１０】本発明のデータ受信時のタイムチャートであ
る。

【図１１】本発明のコマンドデータ／ステータスデータ
例である。

【図１２】従来技術の説明図である。

【符号の説明】

１：被試験装置 ２：試験機能 ３、５１：ドライバ／レシーバ ４：ＳＣＳＩコントローラ ５：疑似Ｉ／Ｏ ５２：シーケンスコントローラ ５３：セレクションコントローラ ５４：フェーズコントローラ ５５：インクリメントデータジェネレータ ５６：データコンパレータ ５７：パリティチェック／ジェネレータ ５８：ステータスレジスタ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ＳＣＳＩのＩ／Ｆの試験を行うＳＣＳＩ＿
   Ｉ／Ｆ試験装置において、 試験機能（２）を格納した被試験装置（１）と、 この被試験装置（１）のＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに接続し、受
   信した状態遷移信号を保持し、データとして送出する擬
   似Ｉ／Ｏ（５）とを備え、 上記被試験装置（１）の試験機能（２）が状態遷移信号
   をＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに送信し、擬似Ｉ／Ｏ（５）が受信
   した状態遷移信号を保持してデータとして送出し、これ
   を受信した上記試験機能（２）がエラーか判定するよう
   に構成したことを特徴とするＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ試験装
   置。
2. 【請求項２】ＳＣＳＩのＩ／Ｆの試験を行うＳＣＳＩ＿
   Ｉ／Ｆ試験装置において、 試験機能（２）を格納した被試験装置（１）と、 この被試験装置（１）のＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに接続し、受
   信した試験用データがエラーかチェックしてその結果を
   保持し、これら保持した結果をデータとして送出する擬
   似Ｉ／Ｏ（５）とを備え、 上記被試験装置（１）の試験機能（２）が試験用データ
   をＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆに送信し、擬似Ｉ／Ｏ（５）がエラ
   ーチェックしてその結果を保持してデータとして送出
   し、これを受信した試験機能（２）がエラーか判定する
   ように構成したことを特徴とするＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ試験
   装置。
3. 【請求項３】ＳＣＳＩのＩ／Ｆの試験を行うＳＣＳＩ＿
   Ｉ／Ｆ試験装置において、 試験機能（２）を格納した被試験装置（１）と、 試験用データを上記被試験装置（１）に送信する擬似Ｉ
   ／Ｏ（５）とを備え、 この疑似Ｉ／Ｏ（５）が試験用データを上記被試験装置
   （１）の試験機能（２）に送信し、これを受信した試験
   機能（２）がエラーか判定を行うように構成したことを
   特徴とするＳＣＳＩ＿Ｉ／Ｆ試験装置。