JPH065321A - Ic clip - Google Patents

Ic clip

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Publication number
JPH065321A
JPH065321A JP4182994A JP18299492A JPH065321A JP H065321 A JPH065321 A JP H065321A JP 4182994 A JP4182994 A JP 4182994A JP 18299492 A JP18299492 A JP 18299492A JP H065321 A JPH065321 A JP H065321A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
probe
clip
pins
pin
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4182994A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hisao Kawai
久雄 川井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP4182994A priority Critical patent/JPH065321A/en
Publication of JPH065321A publication Critical patent/JPH065321A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To restrict an inductance component of a probe grounding terminal at a low value by eliminating need of extending the grounding terminal long even when a probe contact is connected to any pin of an IC clip in the IC clip for connecting respective IC lead terminals to the probe. CONSTITUTION:Plural pins 12 are provided in parallel in accordance with lead terminals of an IC. A conductive member 13 which is electrically connected to only one specified pin of these pins is provided along the parallel disposition direction of the pins. In the case a forward end 74 of a probe is applied to contact one pin 12, the conductive member 13 always exists close to it, so a grounding wire 75 of the probe need only be fixed at a constant length.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【技術分野】本発明はICクリップに関し、特に集積回
路装置の複数の端子とこれ等端子の各電気的波形を観測
するためのプローブとを電気的に接続するICクリップ
に関するものである。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to an IC clip, and more particularly to an IC clip for electrically connecting a plurality of terminals of an integrated circuit device and a probe for observing each electric waveform of these terminals.

【0002】[0002]

【従来技術】図5はこの種のプローブの従来例の構造を
示す図であり、(A)はその正面図、(B)はその側面
図である。このICクリップは絶縁体のモールド部分1
1と、図示せぬICの複数の端子に夫々対応して並設さ
れた複数のピン12と、バネ51とにより構成されてい
る。
2. Description of the Related Art FIGS. 5A and 5B are views showing the structure of a conventional example of this type of probe. FIG. 5A is a front view thereof and FIG. 5B is a side view thereof. This IC clip is a molded part 1 of insulator
1, a plurality of pins 12 arranged in parallel corresponding to a plurality of terminals of an IC (not shown), and a spring 51.

【0003】このICクリップを使用する際には、IC
をこのICクリップの先端部分で挟むことによって各ピ
ン12の下端がICの対応端子(リード端子)に夫々接
触するようになるので、ピン12の上端のモールド部分
11から露出した部分を、プローブ(図示せず)により
接触してプロービングすることで、ICの電気的波形の
観測が可能となるのである。
When using this IC clip, the IC
Since the lower end of each pin 12 comes into contact with the corresponding terminal (lead terminal) of the IC by sandwiching the end portion of the IC clip with each other, the portion exposed from the mold portion 11 at the upper end of the pin 12 is connected to the probe ( By contacting and probing with (not shown), the electrical waveform of the IC can be observed.

【0004】この種のICクリップでは、各ピン12の
電位等を測定するために、特定ピン(一般にはグランド
ピン)を基準とするが、この特定ピンにプローブのグラ
ンド端子を接続して、プローブの接触子を測定しようと
するピンに接続させるが、この場合特定ピンと各測定ピ
ンとの距離が全て異なっているために、図6に示す様な
プローブを用いている。
In this type of IC clip, a specific pin (generally a ground pin) is used as a reference in order to measure the potential of each pin 12, and the probe is connected to the specific pin by connecting the ground terminal of the probe. In this case, the probe shown in FIG. 6 is used because the distance between the specific pin and each measuring pin is different.

【0005】このプローブはプローブ本体71と、グラ
ンド線72と、このグランド線の先端に取付けられたワ
ニ口クリップ73と、プローブ先端の接触子74とから
なっている。
This probe comprises a probe main body 71, a ground wire 72, an alligator clip 73 attached to the tip of the ground wire, and a contactor 74 at the tip of the probe.

【0006】このプローブのグランド線72をある程度
の長さに設定しておいて、接触子74を測定すべきピン
に接触したとき、グランド等の基準となるべき特定ピン
が離れていても、このグランド線72により測定を容易
としているのである。
When the ground wire 72 of this probe is set to a certain length and the contactor 74 comes into contact with the pin to be measured, even if a specific pin such as a ground that is to be a reference is separated, The ground wire 72 facilitates the measurement.

【0007】しかしながら、プローブに長いグランド線
72を用いて測定すると、ある程度以上の周波数成分を
有する信号を測定する際に、このグランド線のインダク
タンス成分が影響を及ぼし、正しい測定ができないとい
う欠点がある。
However, when the long ground wire 72 is used for the probe, when measuring a signal having a frequency component above a certain level, the inductance component of this ground wire has an influence, and a correct measurement cannot be performed. .

【0008】この欠点を解決するために、図7の様にグ
ランド線の代りに短いグランド用裸線75を接触子74
の近くに固定し取付けたプローブを用いると、特定ピン
と測定しようとするピンとの間の距離が全て異なってい
るので、測定が容易でなく、また誤接触が生じ易いとい
う欠点がある。
In order to solve this drawback, a short bare wire 75 for ground is used instead of the ground wire as shown in FIG.
If a probe fixed and attached near the pin is used, the distance between the specific pin and the pin to be measured is all different, so that there is a drawback that the measurement is not easy and an erroneous contact is likely to occur.

【0009】[0009]

【発明の目的】本発明の目的は、特定ピンと測定すべき
ピンとの間の距離が異なっていても、容易にかつ確実に
プローブによる測定ができるようにしたICクリップを
提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an IC clip which enables easy and reliable probe measurement even if the distance between a specific pin and the pin to be measured is different.

【0010】[0010]

【発明の構成】本発明によれば、集積回路装置の複数の
端子とこれ等端子の各電気的波形を観測するためのプロ
ーブとを電気的に接続するICクリップであって、前記
端子の各々に夫々対応して並設して設けられた複数のピ
ンと、これ等ピンのうち特定ピンのみに対して電気的に
接続され前記ピンの並設方向に沿って設けられた導電性
部材とを含むことを特徴とするICクリップが得られ
る。
According to the present invention, there is provided an IC clip for electrically connecting a plurality of terminals of an integrated circuit device and a probe for observing respective electric waveforms of these terminals, wherein each of the terminals is provided. A plurality of pins provided in parallel corresponding to each other, and a conductive member electrically connected to only a specific pin among these pins and provided along the juxtaposed direction of the pins. An IC clip characterized by the above is obtained.

【0011】[0011]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
つつ説明する。
Embodiments of the present invention will now be described with reference to the drawings.

【0012】図1は本発明の実施例を示す一部正面図で
あり、本例では簡単化のためにICクリップの片側(右
側)部分のみを示している。ICクリップは図5の従来
例にも示すように左右対象であるから、図1では左側部
分を省略しているが、図示する右側部分の構造と同一で
ある。
FIG. 1 is a partial front view showing an embodiment of the present invention. In this embodiment, for simplification, only one side (right side) of the IC clip is shown. Since the IC clip is symmetrical to the left and right as shown in the conventional example of FIG. 5, the left side portion is omitted in FIG. 1, but it has the same structure as the right side portion shown.

【0013】このICクリップは絶縁体のモールド部1
1と、図示せぬICのリード端子に夫々対応して並設し
て設けられた複数のピン12と、特定のピン(例えばグ
ランドとなるべきピン)とのみ電気的に接続された導電
性部材13,14とを含む。
This IC clip is a molded part 1 of an insulator.
1 and a plurality of pins 12 arranged in parallel corresponding to lead terminals of an IC (not shown), and a conductive member electrically connected only to a specific pin (for example, a pin to be ground). 13 and 14 are included.

【0014】図2及び図3はこの特定ピン12と導電性
部材13,14との具体的構造を示す図であり、図2は
その正面図,図3(A)はその斜視図,(B)はその上
面図である。
2 and 3 are views showing a specific structure of the specific pin 12 and the conductive members 13 and 14. FIG. 2 is a front view thereof, FIG. 3A is a perspective view thereof, and FIG. ) Is the top view.

【0015】特定ピン12と導電性プレート14とは電
気的に接続されており、この導電性プレート14はこれ
等ピン12の並設方向に沿って取付けられる。この導電
性プレート14の上端近傍には、これまた導電性プロー
ブグランド用接触端子板13が取付けられており、この
端子板13もピン12の並設方向に沿って取付けられる
ことになる。
The specific pin 12 and the conductive plate 14 are electrically connected to each other, and the conductive plate 14 is attached along the juxtaposed direction of the pins 12. A conductive probe ground contact terminal plate 13 is also mounted near the upper end of the conductive plate 14, and the terminal plate 13 is also mounted along the direction in which the pins 12 are arranged in parallel.

【0016】図4は本発明の実施例によるICクリップ
に対してプローブ(図7に示すプローブ)を使用する際
の状態を示した図である。
FIG. 4 is a view showing a state when the probe (probe shown in FIG. 7) is used for the IC clip according to the embodiment of the present invention.

【0017】プローブの先端接触子74をどのピンに接
触させても、端子板13が全てのピン12と同一距離に
ある様になっているために、固定されているグランド用
裸線75は必ずこの端子板13に接触可能となり、結果
としてこのグランド用裸線75は特定ピンと電気的に接
続されることになるのである。
No matter which pin the probe tip contactor 74 is in contact with, the terminal board 13 is at the same distance as all the pins 12, so the fixed ground bare wire 75 is indispensable. The terminal board 13 can be contacted, and as a result, the grounding bare wire 75 is electrically connected to the specific pin.

【0018】尚、上記実施例では、特定ピンがICクリ
ップの右側部分に存在する場合について示しているが、
左側部分にも同様に導電性プレート14及びプローブグ
ランド用接触端子板13を取付けて、左右両側の導電性
プレートを内部で電気的に接続する機能を付加する様に
しても良いものである。
In the above embodiment, the specific pin is shown on the right side of the IC clip.
Similarly, the conductive plate 14 and the probe ground contact terminal plate 13 may be attached to the left side portion to add the function of electrically connecting the conductive plates on the left and right sides internally.

【0019】[0019]

【発明の効果】叙上の如く、本発明によれば、特定ピン
に接続された導電性部材がピンの並設方向に沿って全て
のピンとの距離が等しくなる様に設けられているので、
プローブのグランド線をインダクタンスが極めて小とな
る様にすることができると共に、誤接続が生じないとい
う効果がある。
As described above, according to the present invention, the conductive member connected to the specific pin is provided so as to have the same distance from all the pins along the direction in which the pins are juxtaposed.
The inductance of the ground wire of the probe can be made extremely small, and the erroneous connection can be prevented.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施例の一部構成を示す図である。FIG. 1 is a diagram showing a partial configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】図1の更に一部の構造を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a part of the structure of FIG.

【図3】(A)は図2の斜視図であり、(B)はその正
面図である。
3A is a perspective view of FIG. 2, and FIG. 3B is a front view thereof.

【図4】本発明の実施例のICクリップを使用する際の
プローブとの関係を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a relationship with a probe when using the IC clip according to the embodiment of the present invention.

【図5】(A)は従来のICクリップの正面図、(B)
はその側面図である。
5A is a front view of a conventional IC clip, FIG.
Is a side view thereof.

【図6】プローブの一例を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing an example of a probe.

【図7】プローブの他の例を示す図である。FIG. 7 is a diagram showing another example of a probe.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 絶縁性モールド部 12 ピン 13 導電性プローブグランド用接触端子 14 導電性プレート 51 バネ 71 プローブ本体 72 グランド線 73 ワニ口クリップ 74 プローブ先端接触子 75 グランド用裸線 11 Insulating Molded Part 12 Pins 13 Contact Terminal for Conductive Probe Ground 14 Conductive Plate 51 Spring 71 Probe Main Body 72 Ground Wire 73 Alligator Clip 74 Probe Tip Contact 75 Bare Ground Wire

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 集積回路装置の複数の端子とこれ等端子
の各電気的波形を観測するためのプローブとを電気的に
接続するICクリップであって、前記端子の各々に夫々
対応して並設して設けられた複数のピンと、これ等ピン
のうち特定ピンのみに対して電気的に接続され前記ピン
の並設方向に沿って設けられた導電性部材とを含むこと
を特徴とするICクリップ。
1. An IC clip for electrically connecting a plurality of terminals of an integrated circuit device and a probe for observing respective electric waveforms of these terminals, wherein the IC clips are arranged in parallel corresponding to each of the terminals. An IC, comprising: a plurality of pins that are installed and provided; and a conductive member that is electrically connected only to a specific pin among these pins and that is provided along the direction in which the pins are juxtaposed. clip.
【請求項2】 前記導電性部材は、前記ピンの各々に前
記プローブの接触子を接続したときプローブのグランド
端子に対して接触可能な位置に設けられていることを特
徴とする請求項1記載のICクリップ。
2. The conductive member is provided at a position where it can come into contact with the ground terminal of the probe when the contact of the probe is connected to each of the pins. IC clip.
JP4182994A 1992-06-17 1992-06-17 Ic clip Pending JPH065321A (en)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4182994A JPH065321A (en) 1992-06-17 1992-06-17 Ic clip

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JP4182994A JPH065321A (en) 1992-06-17 1992-06-17 Ic clip

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200494988Y1 (en) * 2020-08-27 2022-02-14 주식회사 한국가스기술공사 Instrument probe for terminal measurement

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR200494988Y1 (en) * 2020-08-27 2022-02-14 주식회사 한국가스기술공사 Instrument probe for terminal measurement

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