JPH0653986U - 開発機器の試験用アダプタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】 アダプタ１はメス部材２とオス部材３とから
なる。オス部材３はメス部材２と平行して、それに一体
的に接続固定される。また、該オス部材３は数種のＩＣ
に対応できる大きさ及び形状としている。メス部材２は
方形の基板２ａと、開発機器の端子のピンを嵌合接続す
るコネクタピン２ｂと、導電パターンとによって構成す
る。オス部材３の基板３ａに設けた接触ターミナル３ｂ
の夫々を、導線３ｃと導電パターンを介してメス部材２
のコネクタピン２ｂに接続する。 【効果】 試験用の基板を別途製作する必要がなく、実
装基板そのもので試験することができる。機能の異なる
複数の開発機器を一台でもって順次試験することができ
る。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は開発機器の試験用アダプタに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

例えば、ソフトウェアを作成する機器等を開発したときには、該機器が正常に 機能するか否かの試験を行うが、従来はこの試験を行うときに、試験用と実装用 の２種類の基板を製作し、試験用の基板を用いて行っていた。そして、そのため に試験用の基板と機器とを一々線材で接続していた。

【０００３】 しかし、このように一々線材で接続するには、非常に手間がかかり、時間的ロ スも大きい。また、この実際に試験に用いた基板を実装用の基板として用いるに は、線材を再度取り外さなければならないし、体裁も悪いことから実際上使用す ることは難しく、結局これが無駄になっていた。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

本考案は上記の点に鑑みなされたものであって、実装用の基板そのものを用い て試験を行うことができると共に、一々線材で接続する手間も省くことができる ようになした開発機器の試験用アダプタを提供せんとするものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】

而して、本考案の要旨とするところは、メス部材と、該メス部材と平行して、 それに一体的に接続固定されたオス部材とからなり、該メス部材は基板と、該基 板の側縁の所定位置に配設された、開発機器の端子のピンを嵌合接続するコネク タピンと、導電パターンとによって構成し、一方該オス部材は、基板と、ＩＣの 接続端子と同様に設けた接触ターミナルと、導線とによって構成し、該オス部材 の接触ターミナルの夫々を、前記メス部材のコネクタピンに、これら導線と導電 パターンを介して接続してなる開発機器の試験用アダプタにある。

【０００６】

【作用】

次に、本考案の作用について説明する。 試験を行うときは、先ず開発機器の端子のピンをアダプタにおけるメス部材の コネクタピンに嵌合接続し、これと同時にアダプタのオス部材を実装基板に固定 されたＩＣ嵌合部に嵌合する。

【０００７】 そしてこの状態において機能試験を行い、試験完了後はオス部材をＩＣ嵌合部 から取り外し、取り外した後に開発機器のＩＣを嵌合するものである。

【０００８】 また、開発機器によってＩＣの種類が異なるものであるが、本考案に係るアダ プタを用いれば、夫々対応するＩＣと基板毎に試験を順次行うことができるもの である。

【０００９】

【実施例】

以下、本考案の実施例について、図面を参照しつつ説明する。 図１は本考案に係るアダプタの一例の正面図、図２は平面図、図３は右側面図 、図４はオス部材の底面図である。

【００１０】 図中、１はアダプタであり、メス部材２とオス部材３とからなるものである。 また、該メス部材２は、方形の基板２ａと、該基板２ａの側縁の所定位置に配設 された、開発機器の端子のピンを嵌合接続するコネクタピン２ｂと、図示しない 導電パターンとによって構成されている。尚、該コネクタピン２ｂは、図示しな い開発機器の端子のピンと一致するように配設されている。

【００１１】 また、前記オス部材３は、数種のＩＣに対応することができる大きさ及び形状 とし、前記メス部材２と平行して、それに一体的に接続固定されている。そして 、該オス部材３の基板３ａの周縁にはＩＣの接続端子と同様に接触ターミナル３ ｂが設けられている。そしてまた、該接触ターミナル３ｂの夫々は、導線３ｃと 図示しない導電パターンを介して前記メス部材２のコネクタピン２ｂに接続され ている。

【００１２】

【考案の効果】

本考案は上記の如き構成、作用であるから、従来の如く試験用の基板を別途製 作する必要がなく、実装基板そのもので試験を行うことができるものである。し たがって、従来の如く結線する手間と時間を省くことができ、また試験用の基板 を無駄にすることもない。更にまた、複数種類のＩＣに対応することもでき、機 能の異なる複数の開発機器を一台でもって順次試験することができるものである 。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係る開発機器の試験用アダプタの一例
の正面図である。

【図２】平面図である。

【図３】右側面図である。

【図４】オス部材の底面図である。

【符号の説明】

１ アダプタ ２ メス部材 ２ａ 基板 ２ｂ コネクタピン ３ オス部材 ３ａ 基板 ３ｂ 接触ターミナル ３ｃ 導線

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 メス部材と、該メス部材と平行して、そ
   れに一体的に接続固定されたオス部材とからなり、該メ
   ス部材は基板と、該基板の側縁の所定位置に配設され
   た、開発機器の端子のピンを嵌合接続するコネクタピン
   と、導電パターンとによって構成し、一方該オス部材
   は、基板と、ＩＣの接続端子と同様に設けた接触ターミ
   ナルと、導線とによって構成し、該オス部材の接触ター
   ミナルの夫々を、前記メス部材のコネクタピンに、これ
   ら導線と導電パターンを介して接続してなる開発機器の
   試験用アダプタ。
2. 【請求項２】 オス部材を、数種のＩＣに対応すること
   ができる大きさ及び形状としてなる請求項１記載の開発
   機器の試験用アダプタ。