JPH0658210B2 - 三次元座標計測方法 - Google Patents

三次元座標計測方法

Info

Publication number
JPH0658210B2
JPH0658210B2 JP61275322A JP27532286A JPH0658210B2 JP H0658210 B2 JPH0658210 B2 JP H0658210B2 JP 61275322 A JP61275322 A JP 61275322A JP 27532286 A JP27532286 A JP 27532286A JP H0658210 B2 JPH0658210 B2 JP H0658210B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
point
coordinates
image
dimensional
coordinate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP61275322A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63131007A (ja
Inventor
満徳 川辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yaskawa Electric Corp
Original Assignee
Yaskawa Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yaskawa Electric Corp filed Critical Yaskawa Electric Corp
Priority to JP61275322A priority Critical patent/JPH0658210B2/ja
Publication of JPS63131007A publication Critical patent/JPS63131007A/ja
Publication of JPH0658210B2 publication Critical patent/JPH0658210B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、スリット光を用いる、物体の三次元座標計測
方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の三次元座標計測方法は、座標計算式を簡
単にするために測定系の配置(物体に照射されるスリッ
ト光とカメラの位置関係)に束縛条件を持たせていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の三次元座標計測方法は、測定系の配置あ
るいは座標系のとり方を変えると計算式も変って、汎用
性がなくなり、さらに、測定系の正確な位置設定と位置
測定が必要であり、これらの設定誤差や測定誤差が三次
元座標計測の誤差に大きく影響するという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕 本発明の三次元座標計測方法は、計測しようとする物体
の三次元座標を、スリット光で該物体を照射して撮像さ
れた該物体の画像上の反射光点の画像面座標より変換し
て得る変換マトリックスを有し、物体の位置座標の計測
前に、予め、物体位置の三次元座標およびこれに対応す
る画像面座標を実測して得られたデータから前記変換マ
トリックスの各要素を算出することにより、計算式中の
定数の値を確定し、以後の計測において、物体位置の三
次元座標を該計算式を用いて対応する画像面座標値から
算出する方法である。
〔作用〕
本発明の原理を図面を参照して説明する。
第1図はスリット光で照射された物体の位置座標系と、
物体を撮像するカメラ位置、および物体の画像面座標系
との関係を示す説明図である。
物体位置の座標系をx−y−z座標系とし、カメラ(不
図示)の画像面座標系をu−v座標系として、スリット
光で照射された測定対象物(不図示)がスリット光面1
と交わる線上の点P(x,y,z)は、カメラレンズの
光軸2に垂直な画像面4上の点p(u,v)に結像され
るものとする。このとき、画像面4上の点pは測定すべ
き点Pとカメラのレンズの光心3とを結んだ直線が画像
面4と交わる点で、点Pのu,v座標から点Pのx,
y,z座標値を変換式を用いて計算することができる。
この変換式は、マトリクスによる同次形式を用いて、 で示される。ここで、sは同次座標、m11〜m43は変換
マトリックスの各要素である。式(1)はスリット光によ
る三次元計測の一般的表現式となっており、この変換式
を使えば、x−y−z座標系とu−v座標系はいずれも
直交座標系である必要がなく、さらに、各座標軸の単位
ベクトルも任意にとることが可能である。すなわち、三
次元座標計測を行なうにあたって都合のよい座標系を任
意に設定することができるという利点が生じる。
次に、式(1)における変換マトリックスの較正方式につ
いて説明する。
式(1)は同次形式であるから変換マトリックスの0でな
い要素の1つを1とおくことができ、通常、最終要素m
43は0になることはないのでm43を1として未定要素は
11〜m42の11個となる。
式(1)を展開してsを消去し、変換マトリックスの各要
素m1142に関して整理すると、 を得る。これより、1組の実測データ(x,y,z,
u,v)によって3つの方程式が得られるため、11の未
知要素m11〜m42を解くには最低4点に対応する4組の
実測データが必要である。一般にn組の実測データによ
って解く場合には実測データの組番号を添字として付し
て、 が解くべき変換式を示す。
式(3)の左辺のマトリクスをU,変換マトリックスの要
素のベクトルを,右辺のベクトルをとおくと、式
(3)は、 U= ……(4) で表わされ、マトリックスUの擬似逆マトリックスをU
+とすると、の最小2乗解は、 =U+ ……(5) によって求めることができる。ここで、擬似逆マトリッ
クスU+はUTをUの転置行列として、 U+=(UTU)-1T ……(6) で定義される。
上記の方式によって変換マトリクスの較正を行なえば、
実測データの精度が良くない場合でも実測データの数を
増すことによって高精度の較正が可能になるという利点
も生じる。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明す
る。
第2図は本発明の三次元座標計測方法の一実施例を適用
した、自動車シャーシ取付ナットの有無検査装置による
検査状況を示す外観図である。
自動車のシャーシに取付けられたナットは鋼板の穴の部
分にナットプロジェクションに依って溶接されている。
このナットの有無をナット側(裏側)及び穴側(表側)
のどちらから見る場合に対しても認識できることが要求
されている。通常の2値画像処理ではナット部分の輪郭
を正確に抽出することができないため有無の判定が難し
いが、ナット取付け部分の高さを計測すれば容易に判定
ができる。
本装置は、光源として赤外半導体レーザ装置5を用い
て、そのビームをシリンドリカルレンズによって広げた
スリット光6を使い、このスリット光6がカメラ7の光
軸に対して30°の角度を持つようにカメラ7とレーザ装
置5(波長780nm)をロボット8に固定し、カメラ光軸
が検査対象のプレート9に対して垂直になるように構成
されている。カメラ7には焦点距離50mmのレンズと10mm
の接写リングが装着され、さらに外乱光の影響を避ける
ため、赤色フィルター(R−69)が取付けられ、このフ
ィルターによって通常の蛍光灯による室内照明の場合に
は照明光の影響をほぼ完全に取除くことができる。プレ
ート9は深さ100mmの黒色検査台(不図示)の上に置か
れて穴の裏側からの反射光を受けないようにされてい
る。カメラ7の出力は不図示の画像処理装置により処理
されて、画像面上に映し出される。
検査にあたっては、ロボット8によりレーザ装置5およ
びカメラ7を移動させてプレート9の全面を検査でき
る。
第3図は本発明の三次元座標計測方法の一実施例を適用
した実験装置を示す外観図である。
検査台16上に、調節台17が検査台座標軸(x,y,z−
軸)の方向に合わせて設置されており、調節台17の上に
検査対象の試料10が載せられていて、試料10の位置はね
じ181、182により前後左右に調節できる。レーザ装置5
から放射されたレーザ光はスリット光6の状態とされて
回転ミラー11で反射された後、試料10上に投射される。
カメラ7は、スリット光6で照射された試料10を撮像
し、その画像15が画像処理装置12およびコンソール14に
よりCRT13の画像面上に映し出される。CRT13の画
像面は二次元座標系(u−v座標系)を構成している。
第4図は、以上の二つの装置例において、対象物体の位
置座標を計測する手順を示すフローチャートである。
まず、検査台16上の検査対象のプレート9または試料10
の位置を設定したあと、スリット光6を照射して画像面
上に画像15を映し出す。このようにして、検査対象をス
リット光6が切断する切断線上の点の座標(x,y,
z)と、対応する画像面上の点の座標(u,v)を精密
に実測する(ステップ20)。この操作を目的精度に応じ
て必要回数行ない(ステップ21)、終れば、これらの実
測データを用いて前記式(5)により変換マトリックスの
要素ベクトルを計算する(ステップ22)。
以上の操作により較正が終り、必要な一般変換式が得ら
れたので、以後、自由に検査対象をスリット光6で照射
し、その照射線上の任意の点の画像面上の座標(u,
v)を測定すると(ステップ23)、これらのデータから
その都度、対応する検査対象上の点の位置座標(x,
y,z)を確定された変換式を用いて計測することが可
能となる(ステップ24)。必要回数の座標計算を行ない
(ステップ25)、終ればプログラムを終了する。
なお、上述した実施例では、いずれも二次元撮像素子を
有するカメラを用いているが、一次元撮像素子を有する
カメラを用いるときは計算操作はさらに簡単となる。こ
の場合は、画像は一次元であるから、第1図において画
像素子がu軸上に並んでいると考えてよい。この場合は
v座標の値が常に0であるから式(1)の変換式は、 に書き換えられる。ここでも変換マトリックスの最終要
素m42は1とおいてよいので、二次元の場合と同様に解
くべき方程式は、 となる。変換マトリックスの各要素m11〜m41は擬似逆
行列を使って簡単に求めることができる。この場合は未
定要素m11〜m41の数が7つであるので最低3点の実測
データにより較正が可能である。
〔発明の効果〕 以上説明したように本発明は、計測対象とされる物体位
置の三次元座標を、その画像画面上の対応する物体位置
の二次元座標から計算するための変換マトリックスを有
し、その変換マトリックスの各要素の値を、計測開始前
に物体位置を必要回数実測して得られたデータにより較
正することにより、映像面上座標から物体の位置座標を
得るための一般計算式が得られるので、測定系の配置に
よらない三次元座標の計測が可能となり、さらに測定系
の位置決めや位置測定が不必要となり、これらに起因す
る計測誤差の要因が完全になくなるため、高精度の計測
が可能となる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はスリット光で照射された物体の位置座標系と、
物体を撮像するカメラ位置、および物体の画像面座標系
との関係を示す説明図、第2図は本発明の三次元座標計
測方法の一実施例を適用した自動車シャーシ取付ナット
の有無検査装置による検査状況を示す外観図、第3図は
同様の一実施例を適用した実験装置を示す外観図、第4
図は第2図および第3図の装置の動作を示すフローチャ
ートである。 1…スリット光面、2…レンズ光軸、 3…レンズ光心、4…画像面、 5…レーザ装置、6…スリット光、 7…カメラ、8…ロボット、 9…プレート、10…試料、 11…回転ミラー、12…画像処理装置、 13…CRT、14…コンソール、 15…画像、16…検査台、 17…調節台、181,182…ねじ、 x,y,z,u,v…座標。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】スリット光で物体を照射し、照射された該
    物体の像を画像面上に撮像し、該物体の画像上のスリッ
    ト光による反射光点の画像面座標から該反射光点に対応
    する物体上の点の位置座標を計算式を用いて算出する三
    次元座標計測方法であって、 前記反射光点の画像面上の二次元座標をu,vとし、該
    反射光点に対応する物体上の点の三次元座標をx、y、
    zとして次に示す前記計算式中に変換マトリックスを有
    し、 ここで、sは同次座標、m11〜m43は変換マトリックス
    の各要素であり、 物体上の点の位置座標の計測開始前に、前記スリット光
    で照射された物体上の点の位置の三次元座標およびこれ
    に対応する画像面座標の組を所要組数だけ実測して得ら
    れたデータから計算式(1)中の変換マトリックスの各
    要素m11、m12、…、m43を予め算出して、計算式
    (1)中の定数の値を確定し、 以後の計測において、前記スリット光で照射された物体
    上の点の位置の三次元座標を、計算式(1)を用いて対
    応する画像面座標値から算出する三次元座標計測方法。
  2. 【請求項2】前記変換マトリックスの各要素m11
    12、…、m43は、所要組数の前記実測データから最小
    二乗法を用いて得られる請求項1記載の三次元座標計測
    方法。
JP61275322A 1986-11-20 1986-11-20 三次元座標計測方法 Expired - Fee Related JPH0658210B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61275322A JPH0658210B2 (ja) 1986-11-20 1986-11-20 三次元座標計測方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61275322A JPH0658210B2 (ja) 1986-11-20 1986-11-20 三次元座標計測方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63131007A JPS63131007A (ja) 1988-06-03
JPH0658210B2 true JPH0658210B2 (ja) 1994-08-03

Family

ID=17553834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61275322A Expired - Fee Related JPH0658210B2 (ja) 1986-11-20 1986-11-20 三次元座標計測方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0658210B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07239219A (ja) * 1990-04-30 1995-09-12 Korea Mach Res Inst 非接触式タイヤ端面輪郭形状計測方法および装置
JP2008224370A (ja) * 2007-03-12 2008-09-25 Mitsubishi Electric Corp 3次元形状計測装置のキャリブレーション方法および3次元形状計測方法
JP5234255B2 (ja) * 2008-05-13 2013-07-10 株式会社Ihi レーザレーダ及びレーザレーダの据付方向調整方法
CN111476752A (zh) * 2019-09-30 2020-07-31 国网天津市电力公司电力科学研究院 架空线路弧垂快速测量方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6093424A (ja) * 1983-10-28 1985-05-25 Kawasaki Heavy Ind Ltd 対象物体からこれと同形の物体を形成する方法及び装置
JPS60205311A (ja) * 1984-03-30 1985-10-16 Mitsubishi Electric Corp 三次元座標測定法

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63131007A (ja) 1988-06-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10455216B2 (en) Three-dimensional imager
JPH10311711A (ja) 光学的形状センサ
JP3421299B2 (ja) 輝度の視野角依存性ならびに場所依存性測定装置及びその測定方法
CN107014321B (zh) 一种平面度快速现场测量装置及测量方法
TWI592654B (zh) Inspection equipment and inspection methods
US5090811A (en) Optical radius gauge
EP3709270A1 (en) Registration of individual 3d frames
JP3435019B2 (ja) レンズ特性測定装置及びレンズ特性測定方法
US6730926B2 (en) Sensing head and apparatus for determining the position and orientation of a target object
JP2623367B2 (ja) 三次元形状測定装置の校正方法
JPH0658210B2 (ja) 三次元座標計測方法
JPH07113534B2 (ja) 精密輪郭の視覚測定方法及び装置
JP2001304827A (ja) 断面形状測定装置および断面形状測定方法
CN118392037A (zh) 一种基于成像的三维测量方法及系统
US12209953B2 (en) Non-spatial measurement calibration methods and associated systems and devices
JPH0660807B2 (ja) 光の中心位置の高精度計測方法
JP2012013593A (ja) 3次元形状測定機の校正方法及び3次元形状測定機
JPH0835828A (ja) 3次元計測装置のキャリブレーション方法
JP3369235B2 (ja) 三次元測定に於ける測定歪校正方法
JP3412139B2 (ja) 3次元距離測定装置のキャリブレーション方法
JP2597711B2 (ja) 3次元位置測定装置
CN118777265B (zh) 一种散射激光收集调试系统、调试方法、设备及存储介质
CN119901227B (zh) 一种基于投影条纹的冲击试样视觉检测装置及方法
JP2996063B2 (ja) 塗装面鮮映性自動検査装置
JPH075075A (ja) 光学性能評価測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees