JPH0658679B2 - 配線間のショート箇所検出方法 - Google Patents

配線間のショート箇所検出方法

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JPH0658679B2
JPH0658679B2 JP62219424A JP21942487A JPH0658679B2 JP H0658679 B2 JPH0658679 B2 JP H0658679B2 JP 62219424 A JP62219424 A JP 62219424A JP 21942487 A JP21942487 A JP 21942487A JP H0658679 B2 JPH0658679 B2 JP H0658679B2
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孝也 佐藤
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、配線間のショート箇所検出方法に関し、特に
集積回路のマスクパターン設計の検証等における電源配
線,グランド配線間のショート箇所を検出する方法に関
する。
「従来の技術〕 従来、集積回路のマスク・パターン・データに於て電源
配線とグランド配線がショートしているときのショート
箇所の検出は、電源配線上に置かれ電源であることを示
す電源ラベルデータとグランド配線上に置かれグランド
であることを示すグランドラベルデータとを結ぶ経路を
見つけることによって行ってきた。
以下、従来のショート箇所検出方法の技術について図面
を用いてさらに詳細に説明する。
第3図に示すように、従来の電源配線,グランド配線間
のショート箇所検出方法は、開始時にショートしている
電源グランド配線のマスク・パターン・データを入力す
るステップBと、配線パターンデータを基本図形に分
割するステップBと、電源ラベル,グランドラベル間
の経路を探索するステップBと、みつけた経路の情報
を出力するステップBとから構成される。
第4図はショートしている電源グランド配線の一部を示
す例である。第5図は第4図で示したデータに対して図
形分割をしたあとの状態を示す。第7図は従来のショー
ト箇所検出方法が第4図のデータに関して出力するショ
ートの例である。
第4図において、5は電源配線,6〜9は電源レベルコ
ンタクト,10は電源ラベルデータ,11はグランド配
線,12〜15はグランドレベルコンタクト,16はグ
ランドラベルデータを示す。17,18は電源配線5と
グランド配線11がショートしているショート箇所であ
る。第5図において、21〜38は基本分割図形であ
る。第7図において、49は従来のショート箇所検出方
法が出力するショート場所のパターンデータである。
次に、従来のショート箇所検出方法の動作を具体的に説
明する。
ステップBでショートしている電源グランド配線を入
力する。次にステップBで配線パタンを基本図形に分
割する。ここでは基本図形21〜38が台形となるよう
に分割する。第5図は図形分割後の状態を示している。
次に、ステップBで電源ラベルデータ10を含む基本
分割図形21からグランド・ラベル・データ16を含む
基本分割図形29までの経路をみつける。経路の探索は
述路法と呼ばれる方法で行う。すなわち出発点である電
源ラベルデータを含む基本分割図形21に1と番号づけ
し、それと隣接するすべての基本分割図形に2と番号付
けし、さらに2と番号付けされた基本分割図形と隣接す
る全ての基本分割図形に3と番号付けするというよう
に、グランドラベルデータ16を含む基本分割図形29
が番号付けされるまで、番号付けの操作をくり返す。番
号付けが終ったらグランドラベルデータ16を含む基本
分割図形29から番号が降順になるようにたどっていけ
ば求める経路がみつかる。第5図に示される例に於ては
基本分割図形21,22,29で示される経路がみつか
る。ステップBでみつけた経路上の基本分割図形とそ
れに含まれる電源ラベルデータ,グランドラベルデータ
を出力する。第4図のような例に関しては第7図のよう
な結果が得られる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の電源配線,グランド配線間のショート箇
所検出方法では電源ラベルデータとグランドラベルデー
タの間の経路を1つしかみつけないので、ショート箇所
が複数あるとき全てのショート箇所をみつけることがで
きない。また、経路上の分割図形データが非常に多数に
なってしまいその中からさらにショート箇所を限定する
作業が必要になる場合があるという欠点がある。
上述した従来の電源配線,グランド配線間のショート箇
所検出方法に対し、本発明は、CMOSプロセス等で基
盤を電源またはグランドレベルに固定するために用いら
れている電源レベルコンタクトやグランドレベルコンタ
クトのような電源に固有のデータおよびグランドに固有
のデータに着目し、情報処理システム上でショートして
いる電源グランド配線のパターンデータを基本図形に分
割し、電源に固有のデータ,グランドに固有のデータと
基本分割図形との包含関係及び電源に固有のデータを含
む基本分割図形とグランドに固有のデータを含む基本分
割図形の間の接続関係を認識することによって全てのシ
ョートしている部分を十分限定された形で同時に複数箇
所みつけるという相違点を有する。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明による検出方法は、複数の電源レベルコンタクト
を有する電源配線および複数のグランドレベルコンタク
トを有するグランド配線のパターンデータを受けこれら
電源およびグランド配線を基本分割図形に分割する手段
と、分割された基本分割図形の中で、前記電源レベルコ
ンタクトを含む基本分割図形および前記グランドレベル
コンタクトを含む基本分割図形をそれぞれ認識する認識
手段と、前記認識手段により認識された基本分割図形の
中から、前記電源レベルコンタクトおよび前記グランド
レベルコンタクトの両方を含む分割図形を認識する手段
とを備えることを特徴としている。
〔実施例〕
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第2図に示すように、本発明の一実施例に用いる情報処
理システムはマスク・パターン・データを入力するため
の磁気テープ装置等のデータ入力手段1と、アプリケー
ションプログラムが走る中央処理装置等の処理実行手段
2と、磁気ディスク装置等の記憶手段3とプロッター等
の作画手段4とから構成される。
第1図に示すように本発明の一実施例は第2図の処理実
行手段2上で走るアプリケーションプログラムで、デー
タ入力ステップAと図形分割ステップAと包含関係
認識ステップA,接続関係認識ステップAと作図デ
ータ出力ステップAの5つのステップからなる。
ステップAでショートしている電源,グランド配線の
データをとり出して入力する。ステップAで電源グラ
ンド配線の配線パターンを基本図形に分割する。本実施
例に於ては、基本図形が台形になるように図形分割す
る。ステップAではステップAで生じた台形と電源
に固有のデータ,グランドに固有のデータの包含関係を
認識する。すなわち、電源に固有のデータを含む台形グ
ランドに固有のデータを含む台形を認識する。また、以
上のような台形が隣りあっているときはそれらを合併し
て1つの分割図形要素とする。またこのステップで電源
に固有のデータとグランドに固有のデータの両方を含む
台形(以後これをショート分割図形と呼ぶ)をみつけ
る。ステップAで電源に固有のデータを含む台形とグ
ランドに固有のデータを含む台形の間を結ぶパス(以後
これをショート・パスと呼ぶ)をみつける。最後にステ
ップAにおいてショートパス上にある台形及びショー
トパスに隣接する台形とそれらに含まれるデータ、さら
にショート分割図形とそれらに含まれるデータを作図用
のデータとして出力する。
従来の配線間のショート箇所検出方法の説明で用いた第
4図のショートしている電源・グランド配線の一部の例
を用いて本実施例を説明する。なお、第4図の例はCM
OS方式により製造する集積回路の電源配線,グランド
配線の一部である。CMOS方式では基盤の電位を電源
レベルまたはグランドレベルに固定しておくため、電源
配線5上に電源レベルコンタクト6〜9と呼ばれるデー
タが、グランド配線11上にはグランドレベルコンタク
ト12〜15と呼ばれるデータが置かれている。本実施
例をCMOS方式の集積回路に適用する場合、電源レベ
ルコンタクト6〜9を電源固有のデータ,グランドレベ
ルコンタクト12〜15をグランド固有のデータとして
扱えばよい。
第5図は、従来の配線間のショート箇所の検出の場合と
同様に、第4図で示したデータに対して第1図のステッ
プAの図形分割を施したあとの状態を示す。第6図
(a)および(b)に示すパターンデータ47,48は本実施
例が第4図のデータに関して出力するショート場所の例
である。
次に、本実施例の全体的な動作を具体的に説明する。
まず、ショートしている電源配線,グランド配線のマス
クパタンデータを第2図のデータ入力手段2を用いてシ
ステムに入力する。ここでは第4図に示されるようなパ
ターンが入力されたと仮定して説明する。ここで、電源
に固有のデータは電源レベルコンタクト6〜9で、グラ
ンドに固有のデータはグランドレベルコンタクト12〜
15である。データが入力された後、配線パターンを図
形分割し、結果を補助記憶手段4に記憶する。第5図は
図形分割後の状態を示している。
次に電源レベルコンタクトを含む台形状の基本分割図
形,グランドレベルコンタクトを含む台形状の基本分割
図形を認識する。第5図の基本分割図形22,24,2
6,28が電源レベルコンタクトを含むもので基本分割
図形22,32,34,37がグランドレベルコンタク
トを含むものである。さらにこの中から電源レベルコン
タクトとグランドレベルコンタクトの両方を含む基本分
割図形(ショート分割図形)をさがし出す。第5図の基
本分割図形22がショート分割図形である。次に、基本
分割図形の接続関係を追うことで電源レベルコンタクト
を含む基本分割図形とグランドレベルコンタクトを含む
基本分割図形を結ぶ経路(ショートパス)を認識する。
第5図の基本分割図形35−36で示される経路がショ
ートパスである。第5図を参照すればわかるようにショ
ート分割図形,ショートパスに対応する分割図形で示さ
れる部分がショートしている部分である。
最後にショートパスに対応する基本分割図形35−36
とショートパスに隣接する基本分割図形28,34,3
7、それらに含まれる電源レベルコンタクト9,グラン
ドレベルコンタクト14,15及びショート分割図形に
対応する基本分割図形22とそれに含まれる電源レベル
コンタクト6,グランドレベルコンタクト12が作図用
データとして出力される。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、情報処理システム上のア
プリケーションプログラムで自動的にマスク・パターン
設計での電源配線,グランド配線の間のショート場所を
みつけるようにしたことで、設計者にほとんど負担をか
けずに全てのショート場所を短時間でみつけることがで
きるようにし、従って集積回路マスク・パターン設計に
要する工数と期間を短縮できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の電源配線,グランド配線間
のショート箇所検出方法の処理フロー図、第2図は第1
図に示す実施例に用いる情報処理システムの機器構成
図、第3図は従来の電源配線,グランド配線間のショー
トのチェック方法の処理フロー図、第4図はショートし
ている電源グランド配線の一例の図、第5図は第4図の
例を基本図形に分割した後の状態を説明する図、第6図
(a)および(b)は第6図の例を第1図に示す実施例で処理
したときの出力パターンを示す図、第7図は第6図の例
を第3図に示す従来の電源配線,グランド配線間のショ
ートチェック方法による出力パターンを示す図である。 1……マスク・パターン・データ入力手段、2……処理
実行手段、3……補助記憶手段、4……作画手段、5…
…電源配線、6〜9……電源レベルコンタクト、10…
…電源ラベルデータ、11……グランド配線、12〜1
5……グランドレベルコンタクト、16……グランドラ
ベルデータ、17,18……ショート箇所、21〜38
……基本分割図形(台形)、47,48……本発明の一
実施例が出力するショート場所のパターンデータ、49
……従来の電源配線,グランド配線間ショート箇所検出
方法が出力するショート場所のパターンデータ、A
…ショートしている電源グランド配線のマスクパターン
データを入力するステップ、A……配線パターンを基
本図形に分割するステップ、A……電源に固有のデー
タ,グランドに固有のデータ分割図形の包含関係を認識
するステップ、A……電源に固有のデータ,グランド
に固有のデータを含む分割図形間の接続関係を認識する
ステップ、A……ショートしている部分の図形データ
を作図用データとして出力するステップ、B……ショ
ートしている電源,グランド配線のマスクパターンデー
タを入力するステップ、B……配線パターンを基本図
形に分割するステップ、B……電源ラベル,グランド
ラベル間の経路を探索するステップ、B……みつけた
経路上の分割図形を出力するステップ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の電源レベルコンタクトを有する電源
    配線および複数のグランドレベルコンタクトを有するグ
    ランド配線のパターンデータを受けこれら電源およびグ
    ランド配線を基本分割図形に分割する手段と、分割され
    た基本分割図形の中で、前記電源レベルコンタクトを含
    む基本分割図形および前記グランドレベルコンタクトを
    含む基本分割図形をそれぞれ認識する認識手段と、前記
    認識手段により認識された基本分割図形の中から、前記
    電源レベルコンタクトおよび前記グランドレベルコンタ
    クトの両方を含む分割図形を認識する手段とを備える配
    線間のショート箇所検出方法。
JP62219424A 1987-09-01 1987-09-01 配線間のショート箇所検出方法 Expired - Lifetime JPH0658679B2 (ja)

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JPS6461865A JPS6461865A (en) 1989-03-08
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS60254379A (ja) * 1984-05-31 1985-12-16 Toshiba Corp パタンの重なり検出装置
JPS6182276A (ja) * 1984-09-29 1986-04-25 Toshiba Corp 集積回路マスク設計検証装置

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