JPH0658862A - 振動式密度計における温度補正方法 - Google Patents
振動式密度計における温度補正方法Info
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- JPH0658862A JPH0658862A JP21435092A JP21435092A JPH0658862A JP H0658862 A JPH0658862 A JP H0658862A JP 21435092 A JP21435092 A JP 21435092A JP 21435092 A JP21435092 A JP 21435092A JP H0658862 A JPH0658862 A JP H0658862A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 振動式密度計における温度補正方法に関し、
被検流体の密度測定に要する時間の短縮を実現した振動
式密度計における振動周期の温度補正方法を提供するこ
とを目的とする。 【構成】 振動セル１２に被検流体１１を導入した後、
該振動セル１２の固有振動周期に基づいて所定の基準温
度Ｋ0 における被検流体１１の密度ρを測定する振動式
密度計において、上記被検流体１１を導入した後の振動
セル１２の温度Ｋと基準温度Ｋ0 との温度差ΔＫ（＝Ｋ
−Ｋ0 ）と該振動セル１２の現在温度Ｋにおける固有振
動周期ＴK とに基づいて、基準温度Ｋ0 における固有振
動周期Ｔ 0 を求める構成とする。
被検流体の密度測定に要する時間の短縮を実現した振動
式密度計における振動周期の温度補正方法を提供するこ
とを目的とする。 【構成】 振動セル１２に被検流体１１を導入した後、
該振動セル１２の固有振動周期に基づいて所定の基準温
度Ｋ0 における被検流体１１の密度ρを測定する振動式
密度計において、上記被検流体１１を導入した後の振動
セル１２の温度Ｋと基準温度Ｋ0 との温度差ΔＫ（＝Ｋ
−Ｋ0 ）と該振動セル１２の現在温度Ｋにおける固有振
動周期ＴK とに基づいて、基準温度Ｋ0 における固有振
動周期Ｔ 0 を求める構成とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は振動式密度計に関し、特
に振動式密度計における温度補正方法に関する。
に振動式密度計における温度補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】振動式密度計は被検流体を収容した振動
セルを振動させて、測定した固有振動周期から被検流体
の密度を演算、出力する装置であり、例えば清涼飲料の
濃度管理等の各種流体の密度測定に利用されている。
セルを振動させて、測定した固有振動周期から被検流体
の密度を演算、出力する装置であり、例えば清涼飲料の
濃度管理等の各種流体の密度測定に利用されている。
【０００３】図２は上記振動式密度計の要部概念図であ
る。図２に示すように、Ｕ字型の振動セル１２は、その
基端部が支持管１４に固定されるとともに、該振動セル
１２の一方の開口端は被検流体１１を導入する導入管１
２ａに接続され、他方の開口端は測定の完了した被検流
体１１を排出する排出管１２ｂに接続されるように支持
管１４内部に配置される。また、該振動セル１２の先端
部には磁石１３が固定され、該磁石１３に対向する位置
に駆動部３１と検出部３２を内蔵したヘッド３が配置さ
れ、さらにその近傍には温度センサ４１が配置されてい
る。
る。図２に示すように、Ｕ字型の振動セル１２は、その
基端部が支持管１４に固定されるとともに、該振動セル
１２の一方の開口端は被検流体１１を導入する導入管１
２ａに接続され、他方の開口端は測定の完了した被検流
体１１を排出する排出管１２ｂに接続されるように支持
管１４内部に配置される。また、該振動セル１２の先端
部には磁石１３が固定され、該磁石１３に対向する位置
に駆動部３１と検出部３２を内蔵したヘッド３が配置さ
れ、さらにその近傍には温度センサ４１が配置されてい
る。
【０００４】また後述する理由から支持管内部空間を所
定の基準温度Ｋ0 に保持するために、恒温媒体２１は該
恒温媒体２１の温度を測定する温度センサ４２を備える
とともに、外面を断熱材２３で被覆しており、上記温度
センサ４２の出力に基づいて温度制御を行なっている。
定の基準温度Ｋ0 に保持するために、恒温媒体２１は該
恒温媒体２１の温度を測定する温度センサ４２を備える
とともに、外面を断熱材２３で被覆しており、上記温度
センサ４２の出力に基づいて温度制御を行なっている。
【０００５】測定にあたっては、まず上記導入管１２ａ
を通じて振動セル１２内に被検流体１１を導入し、図示
しない制御装置より駆動電流を駆動部３１に入力するこ
とによって、上記磁石１３に電磁力が作用し、振動セル
１２が振動を開始する。
を通じて振動セル１２内に被検流体１１を導入し、図示
しない制御装置より駆動電流を駆動部３１に入力するこ
とによって、上記磁石１３に電磁力が作用し、振動セル
１２が振動を開始する。
【０００６】このときの振動周期を検出部３２で検出
し、該検出信号を上記制御装置に入力して、該振動周期
に同期した駆動信号を引き続き、駆動部３１に入力し
て、該振動セル１２を一定の周期で振動させるようにさ
せ、固有振動周期を求めている。
し、該検出信号を上記制御装置に入力して、該振動周期
に同期した駆動信号を引き続き、駆動部３１に入力し
て、該振動セル１２を一定の周期で振動させるようにさ
せ、固有振動周期を求めている。
【０００７】上記固有振動周期をＴとし、被検流体１１
の密度をρとすると、ρは下記(1)式で求まる。
の密度をρとすると、ρは下記(1)式で求まる。
【０００８】
【数１】
【０００９】尚、上記 Ｐ：振動系の振動定数 Ｖ：被検流体１１の体積（振動セル１２の容積） Ｍ：振動セル１２及び磁石１３の質量 上記各Ｐ，Ｖ，Ｍは測定部の構造によって決定される定
数であるから、
数であるから、
【００１０】
【数２】
【００１１】とすると、ρ＝ＡＴ2 −Ｂ …(2) で
表すことができる。ここで、既知の密度（ρw 、ρa ）
をもつ２種類の物質（例えば純水と空気）より求めたこ
の測定部での固有振動周期をＴw 、Ｔa とすると、下記
(3),(4) 式が成りたつ。
表すことができる。ここで、既知の密度（ρw 、ρa ）
をもつ２種類の物質（例えば純水と空気）より求めたこ
の測定部での固有振動周期をＴw 、Ｔa とすると、下記
(3),(4) 式が成りたつ。
【００１２】 ρa ＝ＡＴa 2 −Ｂ …(3) ρw ＝ＡＴw 2 −Ｂ …(4) 従って、上記(3),(4) 式より定数Ａ，Ｂは以下のように
決定される。
決定される。
【００１３】
【数３】
【００１４】上記(5),(6) 式より、(2) 式は下記(7) 式
のように表され、被検流体１１の密度が求まることにな
る。
のように表され、被検流体１１の密度が求まることにな
る。
【００１５】
【数４】
【００１６】ところで、上記定数Ａ，Ｂは、ある基準温
度Ｋ0 の下での特定の２つの物質の密度及び固有振動周
期に基づいて決定した定数であるので、該基準温度Ｋ0
と異なる温度の振動セル１２の固有振動周期に基づいて
出力される被検流体１１の密度は真の値に誤差が生じ
る。
度Ｋ0 の下での特定の２つの物質の密度及び固有振動周
期に基づいて決定した定数であるので、該基準温度Ｋ0
と異なる温度の振動セル１２の固有振動周期に基づいて
出力される被検流体１１の密度は真の値に誤差が生じ
る。
【００１７】そこで上記のように、上記断熱材２３、恒
温媒体２１、及び温度センサ４２等の温度制御手段を用
いて、支持管内部の温度を基準温度Ｋ0 に保持するよう
にし、上記振動セル１２の温度を温度センサ４１で測定
し、基準温度Ｋ0 になった時点での密度を測定するよう
にしている。
温媒体２１、及び温度センサ４２等の温度制御手段を用
いて、支持管内部の温度を基準温度Ｋ0 に保持するよう
にし、上記振動セル１２の温度を温度センサ４１で測定
し、基準温度Ｋ0 になった時点での密度を測定するよう
にしている。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記温度制
御手段を用いて支持管内部を基準 温度Ｋ0 に保持して
も、振動セル１２に導入される被検流体１１の温度は外
気温に依存しているので、導入直後は基準温度Ｋ0 に一
致しない。従って、該導入直後からしばらくの間は振動
セル１２の温度は基準温度Ｋ0 と異なる温度にあり、通
常は振動セル１２への被検流体１１の導入から該振動セ
ル１２が温度平衡に達するまで一定時間（例えば２〜数
分間程度）待機する必要があった。
御手段を用いて支持管内部を基準 温度Ｋ0 に保持して
も、振動セル１２に導入される被検流体１１の温度は外
気温に依存しているので、導入直後は基準温度Ｋ0 に一
致しない。従って、該導入直後からしばらくの間は振動
セル１２の温度は基準温度Ｋ0 と異なる温度にあり、通
常は振動セル１２への被検流体１１の導入から該振動セ
ル１２が温度平衡に達するまで一定時間（例えば２〜数
分間程度）待機する必要があった。
【００１９】その結果、密度の測定１回当たりに要する
時間は試験流体の導入から排出、あるいは振動セル内面
に洗浄等、総計で例えば約１０分程度を見込まねばなら
ず、多数の被検流体を測定する場合、例えば、ジュース
工場での糖濃度（密度）測定等では多大の時間を要して
いた。
時間は試験流体の導入から排出、あるいは振動セル内面
に洗浄等、総計で例えば約１０分程度を見込まねばなら
ず、多数の被検流体を測定する場合、例えば、ジュース
工場での糖濃度（密度）測定等では多大の時間を要して
いた。
【００２０】本発明は上記従来の事情に鑑みて提案され
たものであって、被検流体の密度測定に要する時間の短
縮を実現した振動式密度計における振動周期の温度補正
方法を提供することを目的とする。
たものであって、被検流体の密度測定に要する時間の短
縮を実現した振動式密度計における振動周期の温度補正
方法を提供することを目的とする。
【００２１】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、図１に示すような振動セル１２に被検流体１１を
導入した後、該振動セル１２の固有振動周期に基づいて
所定の基準温度Ｋ0 における被検流体１１の密度を出力
する振動式密度計において、本発明は以下の方法を採用
する。
めに、図１に示すような振動セル１２に被検流体１１を
導入した後、該振動セル１２の固有振動周期に基づいて
所定の基準温度Ｋ0 における被検流体１１の密度を出力
する振動式密度計において、本発明は以下の方法を採用
する。
【００２２】すなわち、上記被検流体１１を導入した後
の振動セル１２の温度Ｋと基準温度Ｋ0 との温度差ΔＫ
＝Ｋ−Ｋ0 と該振動セル１２の現在温度における固有振
動周期ＴK とに基づいて、基準温度Ｋ0 における固有振
動周期Ｔ0 に近似させる温度補正方法である。
の振動セル１２の温度Ｋと基準温度Ｋ0 との温度差ΔＫ
＝Ｋ−Ｋ0 と該振動セル１２の現在温度における固有振
動周期ＴK とに基づいて、基準温度Ｋ0 における固有振
動周期Ｔ0 に近似させる温度補正方法である。
【００２３】具体的には、例えばＴ0 ＝ＴK ×（１−ａ
ΔＫ）〔ａ：定数〕なる一次近似式を用いることができ
る。
ΔＫ）〔ａ：定数〕なる一次近似式を用いることができ
る。
【００２４】
【作用】上記の構成において、振動セル１２の温度Ｋ
が、基準温度Ｋ0 よりも高い場合には、振動セル１２を
含め体積が膨張する等の理由から、該温度Ｋのもとで測
定される固有振動周期ＴK は基準温度Ｋ0 における固有
振動周期Ｔ0 よりも短くなり、逆に上記温度Ｋが、基準
温度Ｋ0 よりも低い場合には、測定される固有振動周期
ＴK は上記固有振動周期Ｔ0 よりも長くなる。
が、基準温度Ｋ0 よりも高い場合には、振動セル１２を
含め体積が膨張する等の理由から、該温度Ｋのもとで測
定される固有振動周期ＴK は基準温度Ｋ0 における固有
振動周期Ｔ0 よりも短くなり、逆に上記温度Ｋが、基準
温度Ｋ0 よりも低い場合には、測定される固有振動周期
ＴK は上記固有振動周期Ｔ0 よりも長くなる。
【００２５】従って、基準温度Ｋ0 における固有振動周
期Ｔ0 と現在温度Ｋにおける固有振動周期ＴK の差は、
基準温度Ｋ0 と該温度Ｋとの温度差ΔＫに依存し、適当
な近似式：Ｆ（ＴK ，ΔＫ）を選定すれば、 Ｔ0 ＝Ｆ（ＴK ，ΔＫ） …(*) として、測定される固有振動周期ＴK を固有振動周期Ｔ
0 に補正し、誤差の少ない密度を出力することができ
る。
期Ｔ0 と現在温度Ｋにおける固有振動周期ＴK の差は、
基準温度Ｋ0 と該温度Ｋとの温度差ΔＫに依存し、適当
な近似式：Ｆ（ＴK ，ΔＫ）を選定すれば、 Ｔ0 ＝Ｆ（ＴK ，ΔＫ） …(*) として、測定される固有振動周期ＴK を固有振動周期Ｔ
0 に補正し、誤差の少ない密度を出力することができ
る。
【００２６】ここで、上記近似式：Ｆ（ＴK ，ΔＫ）＝
ＴK ×（１−ａΔＴ）とすることができる。
ＴK ×（１−ａΔＴ）とすることができる。
【００２７】
【実施例】図１は本発明に係る一実施例のフロー図であ
り、この実施例は、図２に示す構成の振動式密度計に適
用しており、その構成の詳細については前述の通りであ
り、詳細な説明は省略する。
り、この実施例は、図２に示す構成の振動式密度計に適
用しており、その構成の詳細については前述の通りであ
り、詳細な説明は省略する。
【００２８】この振動式密度計での密度測定は、導入管
１２ａを通じて被検流体１１を導入し、該振動セル１２
が被検流体１１で満たされた時点で開始される。まず恒
温媒体２１中の温度センサ４２より出力される媒体温度
検出信号をもとに恒温媒体２１の温度Ｋ0 を測定する
（Ｆ１）とともに、振動セル１２近傍に配置した温度セ
ンサ４１より出力されるセル温度検出信号をもとに該振
動セル１２の温度Ｋを測定し（Ｆ２）、上記温度Ｋと温
度Ｋ0 との差をΔＫとする（Ｆ３）。
１２ａを通じて被検流体１１を導入し、該振動セル１２
が被検流体１１で満たされた時点で開始される。まず恒
温媒体２１中の温度センサ４２より出力される媒体温度
検出信号をもとに恒温媒体２１の温度Ｋ0 を測定する
（Ｆ１）とともに、振動セル１２近傍に配置した温度セ
ンサ４１より出力されるセル温度検出信号をもとに該振
動セル１２の温度Ｋを測定し（Ｆ２）、上記温度Ｋと温
度Ｋ0 との差をΔＫとする（Ｆ３）。
【００２９】この間には、振動セル１２は、検出ヘッド
３に内蔵された駆動部３１でその固有振動周期ＴK で駆
動されるとともに、検出ヘッド３の検出部３２で上記温
度Ｋにおける固有振動周期ＴK が測定される（Ｆ４）。
３に内蔵された駆動部３１でその固有振動周期ＴK で駆
動されるとともに、検出ヘッド３の検出部３２で上記温
度Ｋにおける固有振動周期ＴK が測定される（Ｆ４）。
【００３０】一般に上記振動セル１２の温度Ｋが、基準
温度Ｋ0 よりも高い場合には、振動セル１２を含め体積
が膨張する等の理由から、該温度Ｋのもとで測定される
固有振動周期ＴK は基準温度Ｋ0 における固有振動周期
Ｔ0 よりも短くなり、逆に上記温度Ｋが、基準温度Ｋ0
よりも低い場合には、測定される固有振動周期ＴK は上
記固有振動周期Ｔ0 よりも長くなるところから、適当な
近似式：Ｆ（ＴK ，ΔＫ）に、上記温度差ΔＫ及び温度
Ｋにおける固有振動周期Ｔを代入し、該固有振動周期Ｔ
K を基準温度Ｋ0 における固有振動周期Ｔ0 に近似させ
るようにしている（Ｆ５）。
温度Ｋ0 よりも高い場合には、振動セル１２を含め体積
が膨張する等の理由から、該温度Ｋのもとで測定される
固有振動周期ＴK は基準温度Ｋ0 における固有振動周期
Ｔ0 よりも短くなり、逆に上記温度Ｋが、基準温度Ｋ0
よりも低い場合には、測定される固有振動周期ＴK は上
記固有振動周期Ｔ0 よりも長くなるところから、適当な
近似式：Ｆ（ＴK ，ΔＫ）に、上記温度差ΔＫ及び温度
Ｋにおける固有振動周期Ｔを代入し、該固有振動周期Ｔ
K を基準温度Ｋ0 における固有振動周期Ｔ0 に近似させ
るようにしている（Ｆ５）。
【００３１】本発明では、上記近似式：Ｆ（ＴK ，Δ
Ｋ）を限定しないが、固有振動周期Ｔ K が温度差ΔＫに
対してほぼ直線的に変化することは実験的に確認されて
いる。そこで、近似式：Ｆ（ＴK ，ΔＫ）＝ＴK ×（１
−ａΔＫ）〔ａ：定数〕なる一次式で、温度差ΔＫと固
有振動周期ＴK とから上記基準温度Ｋ0 における固有振
動周期Ｔ0 を求めている。尚、上記定数ａは、振動密度
計の構造より最適の値に決定している。
Ｋ）を限定しないが、固有振動周期Ｔ K が温度差ΔＫに
対してほぼ直線的に変化することは実験的に確認されて
いる。そこで、近似式：Ｆ（ＴK ，ΔＫ）＝ＴK ×（１
−ａΔＫ）〔ａ：定数〕なる一次式で、温度差ΔＫと固
有振動周期ＴK とから上記基準温度Ｋ0 における固有振
動周期Ｔ0 を求めている。尚、上記定数ａは、振動密度
計の構造より最適の値に決定している。
【００３２】そして、上記近似式：Ｆ（ＴK ，ΔＫ）＝
Ｔ0 として得られた値から、従来より採用されている下
記式(2) 再掲 を用いて密度ρを求める（Ｆ６）。 ρ＝ＡＴ2 −Ｂ …(2) ところで、この実施例においては、上記ステップＦ６に
おいて、例えば被検流体１１の導入直後のように温度差
ΔＫの絶対値が比較的大きい場合には、該近似式：Ｆ
（ＴK ，ΔＫ）で、固有振動周期Ｔ0 のよい近似値を得
ることができない。そこで、図示のようにステップＦ６
の後段で、上記密度ρの精度を保証するステップを設け
ている。
Ｔ0 として得られた値から、従来より採用されている下
記式(2) 再掲 を用いて密度ρを求める（Ｆ６）。 ρ＝ＡＴ2 −Ｂ …(2) ところで、この実施例においては、上記ステップＦ６に
おいて、例えば被検流体１１の導入直後のように温度差
ΔＫの絶対値が比較的大きい場合には、該近似式：Ｆ
（ＴK ，ΔＫ）で、固有振動周期Ｔ0 のよい近似値を得
ることができない。そこで、図示のようにステップＦ６
の後段で、上記密度ρの精度を保証するステップを設け
ている。
【００３３】すなわち、１回目の測定では、得られた密
度ρを一旦密度ρ′として所定の記憶手段に記憶させて
おき（Ｆ７YES →Ｆ９）、ステップＦ１に戻る。そし
て、２回目の測定を行って得られた密度ρと上記密度
ρ′とを比較し、その差があれば該２回目の測定で得ら
れた密度ρを更新された密度ρ′として（Ｆ７NO→Ｆ８
YES →Ｆ９）、再度ステップＦ１に戻る。３回目以降の
測定でも同様に行って、上記密度ρと密度ρ′とを比較
し、その差が零になった時点で測定を終了するようにし
ている（Ｆ８YES ）。
度ρを一旦密度ρ′として所定の記憶手段に記憶させて
おき（Ｆ７YES →Ｆ９）、ステップＦ１に戻る。そし
て、２回目の測定を行って得られた密度ρと上記密度
ρ′とを比較し、その差があれば該２回目の測定で得ら
れた密度ρを更新された密度ρ′として（Ｆ７NO→Ｆ８
YES →Ｆ９）、再度ステップＦ１に戻る。３回目以降の
測定でも同様に行って、上記密度ρと密度ρ′とを比較
し、その差が零になった時点で測定を終了するようにし
ている（Ｆ８YES ）。
【００３４】図４はこの実施例及び従来例による純水の
密度測定を行った場合の密度値の経時変化を示したグラ
フであり、図中Ｃ１は実施例の密度曲線、Ｃ２は上記温
度補正を行わない従来例の密度曲線である。尚、参考ま
でに振動セルの温度曲線をＣ３として同時に示す。この
実験では導入前の純水の温度２５℃、測定空間内温度１
５℃、導入量２cm3 としている。
密度測定を行った場合の密度値の経時変化を示したグラ
フであり、図中Ｃ１は実施例の密度曲線、Ｃ２は上記温
度補正を行わない従来例の密度曲線である。尚、参考ま
でに振動セルの温度曲線をＣ３として同時に示す。この
実験では導入前の純水の温度２５℃、測定空間内温度１
５℃、導入量２cm3 としている。
【００３５】図から明らかなように、１５℃での純水の
理論密度値（0.9991g/cm3)を得るまでの時間は、実施例
では約１．５分であるのに対し、従来例では５．５分も
かかっており、本発明を適用した場合、信頼できる密度
値を表示するまでに要する時間を大幅に短縮できた。
理論密度値（0.9991g/cm3)を得るまでの時間は、実施例
では約１．５分であるのに対し、従来例では５．５分も
かかっており、本発明を適用した場合、信頼できる密度
値を表示するまでに要する時間を大幅に短縮できた。
【００３６】また別の実験として、外気温度２８℃、測
定空間内温度２０℃、導入量２０cm 3 とし、４種類の被
検流体を対象に行ったところ、下記表１に示す結果とな
った。表１に示すように、いずれの被検流体においても
測定時間を短縮させることができた。尚、各物質によっ
て短縮できた時間が異なるが、これは膨張係数、比熱等
の固有の物性によるものと推定できる。
定空間内温度２０℃、導入量２０cm 3 とし、４種類の被
検流体を対象に行ったところ、下記表１に示す結果とな
った。表１に示すように、いずれの被検流体においても
測定時間を短縮させることができた。尚、各物質によっ
て短縮できた時間が異なるが、これは膨張係数、比熱等
の固有の物性によるものと推定できる。
【００３７】
【表１】
【００３８】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、振動セ
ルに被検流体を導入した後、該振動セルの固有振動周期
に基づいて所定の基準温度における被検流体の密度を測
定する方法において、基準温度と該振動セルとの温度差
に基づいて、得られる振動周期を基準温度下での固有振
動周期に近似させるようにしているので、上記被検流体
を導入から密度の測定までの時間を短縮できる。これに
よって、多数の試料の密度を測定することができる効果
を奏する。
ルに被検流体を導入した後、該振動セルの固有振動周期
に基づいて所定の基準温度における被検流体の密度を測
定する方法において、基準温度と該振動セルとの温度差
に基づいて、得られる振動周期を基準温度下での固有振
動周期に近似させるようにしているので、上記被検流体
を導入から密度の測定までの時間を短縮できる。これに
よって、多数の試料の密度を測定することができる効果
を奏する。
【図１】本発明の一実施例に係るフロー図である。
【図２】本発明が適用される装置の要部構成図である。
【図３】上記実施例における近似式の概念を示すグラフ
である。
である。
【図４】上記実施例と従来例とによって得られる密度の
経時変化を示すグラフである。
経時変化を示すグラフである。
１１ 被検流体 １２ 振動セル Ｋ0 基準温度 Ｋ 振動セルの温度 ΔＫ 温度差 Ｔ0 基準温度における固有振動周期 ＴK 固有振動周期 ρ 密度 ａ 比例定数
Claims (3)
- 【請求項１】 振動セル(12)に被検流体(11)を導入した
後、該振動セル(12)の固有振動周期に基づいて所定の基
準温度(K0)における被検流体(11)の密度(ρ)を測定する
振動式密度計において、 上記被検流体(11)を導入した後の振動セル(12)の温度
(K) と基準温度(K0)との温度差(ΔK=K-K0)と該振動セル
(12)の現在温度(K) における固有振動周期(TK)とに基づ
いて、基準温度(K0)における固有振動周期(T0)を求める
ことを特徴とする振動式密度計における温度補正方法。 - 【請求項２】 Ｔ0 ＝ＴK ×（１−ａΔＫ）〔ａ：定
数〕なる一次近似式で、基準温度(K0)における固有振動
周期(T0)を求める請求項１に記載の振動式密度計におけ
る温度補正方法。 - 【請求項３】 上記測定を複数回行い、得られた密度
(ρ) と、前回の測定で得られた密度 (ρ′) との差が
零になった場合に測定を終了する請求項１に記載の振動
式密度計における温度補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21435092A JPH0658862A (ja) | 1992-08-11 | 1992-08-11 | 振動式密度計における温度補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21435092A JPH0658862A (ja) | 1992-08-11 | 1992-08-11 | 振動式密度計における温度補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0658862A true JPH0658862A (ja) | 1994-03-04 |
Family
ID=16654319
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21435092A Pending JPH0658862A (ja) | 1992-08-11 | 1992-08-11 | 振動式密度計における温度補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658862A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007521467A (ja) * | 2003-09-29 | 2007-08-02 | マイクロ・モーション・インコーポレーテッド | 振動要素濃度計及びコリオリ流量計における腐食、侵食又は生成物蓄積を検出する方法並びに較正検証方法 |
| US7827844B2 (en) | 2003-09-29 | 2010-11-09 | Micro Motion, Inc. | Method for detecting corrosion, erosion or product buildup on vibrating element densitometers and Coriolis flowmeters and calibration validation |
| JP2011027653A (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-10 | Kyoto Electron Mfg Co Ltd | 振動式密度計 |
| JP2011038810A (ja) * | 2009-08-07 | 2011-02-24 | Kyoto Electron Mfg Co Ltd | 振動式密度測定方法及び振動式密度計 |
-
1992
- 1992-08-11 JP JP21435092A patent/JPH0658862A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007521467A (ja) * | 2003-09-29 | 2007-08-02 | マイクロ・モーション・インコーポレーテッド | 振動要素濃度計及びコリオリ流量計における腐食、侵食又は生成物蓄積を検出する方法並びに較正検証方法 |
| US7827844B2 (en) | 2003-09-29 | 2010-11-09 | Micro Motion, Inc. | Method for detecting corrosion, erosion or product buildup on vibrating element densitometers and Coriolis flowmeters and calibration validation |
| JP2011027653A (ja) * | 2009-07-29 | 2011-02-10 | Kyoto Electron Mfg Co Ltd | 振動式密度計 |
| JP2011038810A (ja) * | 2009-08-07 | 2011-02-24 | Kyoto Electron Mfg Co Ltd | 振動式密度測定方法及び振動式密度計 |
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