JPH0658913A - 機械的変形値の測定装置 - Google Patents
機械的変形値の測定装置Info
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Abstract
ポアソン比,内部摩擦などの機械的変形値を広範囲な温
度条件で短時間に、しかも高精度に測定すること。 【構成】 各種固体材料からなる試料3は、外周面に凹
凸を形成した超音波導波体1に取付けられるもので、こ
れら両者には、超音波パルスが発射される。この超音波
導波体1は、試料3を取付けた一端が、広範囲な温度条
件を充す雰囲気炉2内に挿入され、水冷ジャケット8お
よび送受信子9を備えた他端が雰囲気炉2外にあって常
温状態を維持する。超音波パルスの発射は、シングアラ
ウンドユニット11の送信回路から行なわれ、試料3中
の伝搬時間および減衰率を演算処理することにより機械
的変形値を測定する。前記試料3は、送信子9a,受信
子9bをそれぞれ備えた1対の超音波導波体1a,1b
によって挾着保持することも可能であり、測定にあたっ
てはパルスエコー法の適用も可能である。
Description
高分子等の各種固体材料からなる試料に対する機械的変
形値の測定装置に関し、特に、超音波パルスを利用して
試料の物性値が幅広い温度条件下において測定できるよ
うにしたものである。
各種固体材料の機械的変形に関する物性値を測定する装
置としては、縦弾性率については、引張りおよび圧縮試
験機、内部摩擦については、共振方式による測定機が知
られている。
設計では、縦弾性率,横弾性率,体積弾性率,圧縮比,
ラーメ定数,ポアソン比,音速異方性係数および縦・横
内部摩擦が重要な物性値とされている。したがって、こ
れら9つの物性値を広範囲な温度条件ですべて測定でき
る装置の開発が重要な課題となっている。
導波体を利用して、試料の物性値に関するデータが短時
間で、しかも高精度に得られる機械的変形値の測定装置
を提供するものである。
みなされたもので、超音波導波体は、その外周面に凹凸
を形成した棒状体からなり、しかも、雰囲気炉内に挿入
された一端には、機械的変形に関する物性値を測定する
試料が取付けられているとともに、この雰囲気炉外にあ
る他端側には、水冷ジャケットおよび超音波パルスの送
受信子が備えられるようにしたものである。
のものからなり、しかも雰囲気炉内にある挿入端間に試
料が位置するように取付けられ、この挿入端の反対端に
は、常温状態に保持された送信子および受信子がそれぞ
れ備えられるようにした場合も適用される。
音波導波体に取付けられるように構成したものであるか
ら、測定時の操作性が簡単になり、試料測定の活用範囲
が広がるものである。
超音波導波体を介して超音波パルスを印加するように構
成したものであるから、同パルスの伝搬時間および減衰
率の演算処理によって、任意の温度領域における測定が
可能となったものである。
る一実施例について図を参照しながら説明する。
た棒状体からなる超音波導波体であり、その一部は、温
度調整可能な雰囲気炉2内に挿入され、その挿入端に
は、試料3が取付けられるようになっている。
合では、軸部分3aの一端にフランジ3bを形成した断
面略T字形の試料3が適用され、接触媒質4を介して袋
ナット5により取付けられる。この接触媒質は、超音波
導波体1の保護のためおよび超音波パルスの伝達性向上
を意図して介在させたものであり、例えば、Au,P
t,Ta,SUS,Cu,Niなどの金属,テフロン,
ビニールなど適用温度領域によって適宜選択する。ま
た、図2(a)では、円柱状の試料3が適用され、皿ば
ね6を介して袋ナット5により取付けられるようになっ
ている。この場合、試料3は、直接加熱を可能にするた
め、袋ナット5には、窓穴5aが穿設されている。さら
に、図2(b)では、埋込みねじ7を利用して、試料3
を固定するようにしたものである。なお、図2(a)お
よび図2(b)では、接触媒質を介在させていないが、
これは、表面精度を高めれば、必ずしも必要としないこ
とを意味している。
直立軸に取付けられているもので、液体窒素温度から1
700℃程度まで温度コントロールできることが好まし
い。したがって、雰囲気炉2としては、赤外線イメージ
炉、抵抗加熱炉などからなり、前記試料3などが目視可
能となる透明壁を有することが適切である。また、雰囲
気炉2内は、1気圧から5気圧までの空気,窒素アルゴ
ンおよびヘリウム等のガスで置換でき、10-4トールま
での真空を維持することも可能である。さらに、冷却方
法については、液体窒素からの加熱方式でも、クライオ
スタットを用いた冷却方法でもよい。
対端が前記雰囲気炉2から外に出ているもので、反対端
側には、水冷ジャケット8および超音波パルスの送受信
子9が備えられている。これは、水冷ジャケット8によ
り、冷却または保温して、送受信子9を常温に保つ配慮
である。
試料3に対し、音響インピーダンスが等しいかまたは近
接したものが適用される。この理由は、内部摩擦を感度
よく測定するためである。そして、超音波伝搬損失が少
なく耐寒,耐熱性を有する材質が好ましい。例えば測定
温度800℃以下の場合はSUS、1100℃以上の場
合は高密度黒鉛,SiC,Si3N4系焼結体からなる。
この場合、超音波導波体1の外周面に凹凸を形成するよ
うにしたのは、超音波導波体1の側面における超音波パ
ルスの反射波を散乱させ、ノイズエコーを防止するため
である。この凹凸は、例えば凹凸のある焼結肌面をその
まま利用するか、もしくはネジ切り工具で外周ねじを形
成するもので、図1および図2の場合では、袋ナット5
を適用した関係から全長にわたって外周ねじ10を形成
しているものである。
によっって測定される機械的変形に関する物性値は、基
本的には、縦弾性率,横弾性率,体積弾性率,圧縮比,
ラーメ定数,ポアソン比,音速異方性係数および縦・横
内部摩擦の9つである。この測定にあたっては、図1お
よび図3で概念的に示されているように、送受信子9を
介して、シングアラウンドユニット11により測定され
るものである。この場合、シングアラウンドユニット1
1には、測定結果を監視あるいはプリントアウトするた
め波形モニタ12およびパソコン13が接続され、パソ
コン13には、ディスプレイ14およびプリンタ15が
接続される。
1における測定系統図を示したものであり、送信回路1
6で発生した超音波パルスは、送受信子9→超音波導波
体1→試料3→超音波導波体1→送受信子9→アンプ1
7→ゼロクロス検出器18→多段遅延回路19→送信回
路16の経路で循環し、この閉回路によってシングアラ
ウンド測定系を構成する。この場合、前記送受信子9で
は、図1で示されているように、試料3中に放射された
縦波超音波パルスが超音波導波体1を伝搬して、試料3
の界面で反射し、T0′時間で送受信子9に受信される
超音波パルス20と、試料3に入射する超音波21,2
2に分割される。そして、この超音波パルス21,22
は、縦波→縦波モードの超音波パルス21および縦波→
横波→縦波モードの超音波パルス22であり、超音波導
波体1に再入射し、それぞれT1′およびT2′時間で送
受信子9に受信される。
測定系の閉回路中には、超音波パルスのピーク値を検出
するピーク検出器23および超音波パルスの振幅を常に
一定ピーク値とするAGC増幅器24が設けられるとと
もに、前記ゼロクロス検出器18によって受信パルス電
圧が零電圧(零点)を横切るときの時間が計測される。
前記多段遅延回路19は、試料3中の超音波パルスの多
重エコーによる誤差を消去するため挿入されたもので、
超音波遅延線および帰還回路により構成され、この遅延
線の遅延時間の整数倍の正確な遅延時間を発生させてい
る。シングアラウンドグループのn回の平均値周期を測
定すると、周期測定の原理からn倍の測定精度が得ら
れ、高精度の伝搬時間測定が可能になる。
ト25およびカウンタ26がセットされ、超音波パルス
20,21,22の伝搬時間T0′,T1′およびT2′
が計測される。この計測値は、I/O27を経てRS−
232C準処のシリアルインターフェース28からの出
力となる。なお、この自動測定にあたっては、閉回路中
に接続されたソフトウェアをコンピュータ制御部である
CPU29によって演算処理される。
波パルスのタイムチャートである。
受信信号31,ウィンドゲート25の出力信号32,ゼ
ロクロス検出器18の出力信号33および多段遅延回路
19の出力信号34がそれぞれ示されている。
波導波体1から時間T0で試料3に入射した超音波パル
スは、、図5(a)で示されるように、試料中心軸に平
行な縦波35と、中心軸と指向角をもつ縦波36によっ
て構成される。この場合、試料3の側面が平坦に仕上げ
られていると縦波36は、試料3の側面で反射して、縦
波反射波L36と横波反射波S36に分割される。しか
し、縦波反射波L36は、図5(b)で示されるよう
に、臨界角θで消滅し、横波反射波S36のみが存在す
る。そして、試料3中の縦波36および横波35の音速
をVL,VSとすれば(1)式の関係が成立する。
料3の端面で反射して、時間T1で超音波導波体1に入
射し、超音波パルス36は、縦波→横波→縦波と変換し
ながら、試料3の端面で反射して時間T2で超音波導波
体1に入射する。この結果、図5(c)から縦波および
横波の音速は、試料3の長さLおよび直径Dから、
(2)式および(3)式により求められる。ただし、
L》Dtanθとする。
び試料3の密度ρから、固体弾性諸定数が(4)式〜
(8)式で与えられる。
T1で超音波導波体1に入射するとともに、試料3の端
面で反射して、再び同一経路を経て超音波パルスエコー
となり、時間T3で超音波導波体1に入射する。したが
って、T0,T1およびT3の間には、T3−T1=T1−T
0の関係が成立する。
関係を示したもので、時間T1およびT2で超音波導波体
1に入射した超音波パルスの振幅のピーク値A1および
A2がそれぞれ示されている。このピーク値A1およびA
2からは、界面の反射を全反射とすれば、試料3の内部
摩擦Q-1が(9)式で与えられる。
28から出力された時間T0′,T1′およびT2′は、
図4および図5(a)〜(c)から(10)式の時間関
係がある。
ら求められ、T1′およびT2′は、ウインドゲート25
を超音波パルス22,23の計測用に順次セットするこ
とにより求められる。
は、縦・横波音速VLおよびVSが求められ、また、受信
パルス21,22の振幅のピーク値をそれぞれA5およ
びA6とすれば、内部摩擦Q-1は、(9)式によって
(11)式が与えられる。
3の間では、両者の有効断面積変化率Sと両者の接触媒
質4を含めた超音波パルスの往復実効音圧透過率Tか
ら、C=S/Tと表わされるものである。したがって、
Cの値は、前述したCPU29に予じめインプットして
おけばよい。また、前述した受信パルス21,22のピ
ークA5,A6は、ピーク検出器23で検出され、I/O
27を経て、シリアルインターフェース28からの出力
となる。
波体1と試料3のそれぞれの音響インピーダンスをZ1
およびZ2とおいて、接触媒質4を無視すれば(12)
式となり、A6/A5は(13)式によって与えられる。
式から明らかなように、測定温度範囲内にわたって超音
波導波体1と試料3の音響インピーダンスが等しい(Z
1=Z2)か近接(Z1≒Z2)するように超音波導波体1
の材料を構成することが望ましい。また、安定した受信
パルス21,22を受けるためには、超音波導波体1中
の伝搬損失が僅少であることが必要である。
性率,体積弾性率,ポアソン比,音速異方性係数および
内部摩擦について測定できることを詳述したが、ラーメ
定数,圧縮比などの他の変形値は、前述した数値から演
算処理することによって容易に得られるものである。
気炉2内にある試料3は、1対の超音波導波体1a,1
bによって挾着保持されるようにしたものである。この
場合、超音波導波体1a,1bには、水冷ジャケット8
a,8bが取付けられるとともに、一方には、送信子9
a、他方には、受信子9bが備えられる。したがって、
超音波パルスは、送信子9a→超音波導波体1a→試料
3→超音波導波体1b→受信子9bに向って発射され
る。
示しているが、横形の測定装置にも適用できるものであ
る。また、超音波パルスの測定系として、シングアラウ
ンドユニット11による場合を説示したが、送信パルス
から受信パルスまでの時間間隔を測定するようにしたパ
ルスエコー法による場合も適用できるものである。
導波体1,1a,1bおよび試料3に超音波パルスを送
受信して、演算処理された試料3中の伝搬時間および減
衰率から試料3の機械的変形値が広範囲な温度条件下で
測定できるように構成したものである。したがって、従
来、測定できなかった縦・横,体積弾性率,ポアソン比
および内部摩擦などの機械的変形値を同時測定できるも
のである。この結果、材料設計で要求される広範囲にわ
たるデータを短時間で、しかも高精度に提供できるとい
う利点を有する。
例を示す概念的な説明図である。
(a)は袋ナットおよび皿ばねを利用した場合の説明
図,図2(b)は埋込みねじを利用した場合の説明図で
ある。
す系統図である。
図で、図5(a)は、超音波導波体からの超音波パルス
の経路図,図5(b)は、試料中における超音波パルス
の臨界角θによる横波反射波の経路図,図5(c)は、
超音波パルスの伝搬時間および振幅ピーク値の関係図で
ある。
る。
Claims (4)
- 【請求項1】 超音波導波体および試料に超音波パルス
を送受信して、演算処理された試料中の伝搬時間および
減衰率から試料の機械的変形値を測定するようにした機
械的変形値の測定装置において、 前記超音波導波体は、その外周面に凹凸が形成されると
ともに、その一部が温度調整可能な雰囲気炉内に挿入さ
れ、しかもこの雰囲気炉内にある挿入端には、前記試料
が取付けられるようになっており、また、その反対端に
は、超音波パルスの送受信子を常温状態に保持する水冷
ジャケットが備えられていることを特徴とする機械的変
形値の測定装置。 - 【請求項2】 請求項1に記載された送受信子には、超
音波パルスの繰返し発振によって同一閉回路を構成する
測定系のシングアラウンドユニットが接続され、その計
測値が演算処理されるようにした請求項1記載の機械的
変形値の測定装置。 - 【請求項3】 請求項1に記載された超音波導波体は、
1対のものからなり、しかも、前記雰囲気炉内に挿入さ
れた端面間に前記試料が位置するように取付けられると
ともに、挿入端の反対端には、常温状態に保持された送
信子および受信子が備えられている請求項1および請求
項2記載の機械的変形値の測定装置。 - 【請求項4】 請求項1に記載された超音波導波体は、
試料の音響インピーダンスに略等しい材質からなってい
る請求項1ないし請求項3記載の機械的変形値の測定装
置
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP4144851A JP2782025B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 機械的変形値の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP4144851A JP2782025B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 機械的変形値の測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0658913A true JPH0658913A (ja) | 1994-03-04 |
| JP2782025B2 JP2782025B2 (ja) | 1998-07-30 |
Family
ID=15371897
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4144851A Expired - Fee Related JP2782025B2 (ja) | 1992-05-11 | 1992-05-11 | 機械的変形値の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2782025B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS437675Y1 (ja) * | 1965-05-13 | 1968-04-05 | ||
| JPS55112537A (en) * | 1979-02-22 | 1980-08-30 | Toshiba Corp | Ultrasonic buffer rod for high temperature measurement |
| JPS6288959A (ja) * | 1985-10-16 | 1987-04-23 | Showa Denko Kk | 炭素質材料の検査方法 |
| JPH0271146A (ja) * | 1988-04-23 | 1990-03-09 | Sakai Tekkosho:Kk | パルス反射法による超音波の往復時間精密測定法 |
| JPH0328757A (ja) * | 1989-06-26 | 1991-02-06 | Shimizu Corp | 高ダンピング探触子 |
-
1992
- 1992-05-11 JP JP4144851A patent/JP2782025B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2782025B2 (ja) | 1998-07-30 |
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