JPH0660561A - 磁気ディスク装置の検査方式 - Google Patents
磁気ディスク装置の検査方式Info
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- JPH0660561A JPH0660561A JP23430692A JP23430692A JPH0660561A JP H0660561 A JPH0660561 A JP H0660561A JP 23430692 A JP23430692 A JP 23430692A JP 23430692 A JP23430692 A JP 23430692A JP H0660561 A JPH0660561 A JP H0660561A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ヘッドディスクアッセンブリ（ＨＤＡ）のア
ナログ検査を効率化した検査方式を提供する＞ 【構成】 評価検査装置７よりＨＤＤ５の制御回路５a
に対してイニシャライズコマンドを指令し、各ディスク
に対してトラックフォーマットをイニシャライズし、ラ
イトコマンド指令により各セクターＳ0 〜Ｓ(m-1) を逐
次に選択し、選択されたセクターのＤＡＴＡ部にアナロ
グのテスト信号を書込み、選択されないセクターのＩＤ
部を不良としてメモリに記憶する。ついで、リードコマ
ンド指令により、上記により選択された各セクターのＩ
Ｄ部とＤＡＴＡ部の読出しを行うとともに、評価検査装
置に対してインヒビット命令を与えてＩＤ部の読出し信
号の処理を禁止し、ＤＡＴＡ部より読出されたテスト信
号に対するアナログ検査を行い、この検査を各ディスク
の各トラックに対して逐次に行う。 【効果】 ＨＤＡに対するアナログ検査時間が、従来よ
り大幅に短縮される。
ナログ検査を効率化した検査方式を提供する＞ 【構成】 評価検査装置７よりＨＤＤ５の制御回路５a
に対してイニシャライズコマンドを指令し、各ディスク
に対してトラックフォーマットをイニシャライズし、ラ
イトコマンド指令により各セクターＳ0 〜Ｓ(m-1) を逐
次に選択し、選択されたセクターのＤＡＴＡ部にアナロ
グのテスト信号を書込み、選択されないセクターのＩＤ
部を不良としてメモリに記憶する。ついで、リードコマ
ンド指令により、上記により選択された各セクターのＩ
Ｄ部とＤＡＴＡ部の読出しを行うとともに、評価検査装
置に対してインヒビット命令を与えてＩＤ部の読出し信
号の処理を禁止し、ＤＡＴＡ部より読出されたテスト信
号に対するアナログ検査を行い、この検査を各ディスク
の各トラックに対して逐次に行う。 【効果】 ＨＤＡに対するアナログ検査時間が、従来よ
り大幅に短縮される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、磁気ディスク装置の
検査方式に関し、詳しくは、磁気ディスクパックが装着
された磁気ディスクドライバに対するアナログ検査の方
式に関する。
検査方式に関し、詳しくは、磁気ディスクパックが装着
された磁気ディスクドライバに対するアナログ検査の方
式に関する。
【０００２】
【従来の技術】コンピュータシステムに使用されるハー
ド磁気ディスクは、製造過程において各種の検査がなさ
れる。図２(a) において、ハード磁気ディスク（以下単
にディスクという）１には多数の同心円のトラックＴR
を設け、各トラックＴR に対してトラックフォーマット
が設定される。トラックフォーマットは、各トラックＴ
R が、インデックス（ＩＮＤ）を起点とし、ギャップＧ
をおいて複数ｍ個のセクターＳ0 〜Ｓ(m-1) に区分され
る。ディスクの検査とトラックフォーマットの設定の概
略の手順を述べると、まず単板検査装置により、ディス
ク１の各トラックＴR に対してアナログのテスト信号が
書込み／読出しされて、信号波形のミッシングや、湧き
だし（エキストラ）、モジュレーションなどのエラーが
アナログ的に検査される。単板検査が終了したディスク
は、図(b) に示すように複数ｎ枚が積層されてディスク
パック２が形成され、その各ディスクに対応する磁気ヘ
ッド群３とによりヘッドディスクアッセンブリ（ＨＤ
Ａ）４が構成される。ディスクパック２はハードディス
クドライバ（ＨＤＤ）５のスピンドル５a に装着されて
回転し、各ディスクに対して上記の単板検査と同様にア
ナログのテスト信号が書込み／読出しされ、ＨＤＡ４が
アナログ的に検査される。これが終了すると、評価検査
装置により、各ディスクの各トラックＴR に対してトラ
ックフォーマットがイニシャライズされる。図２(c) は
トラックフォーマットの展開図を示し、各セクターＳ0
〜Ｓ(m-1)は、セクター番号などの識別用のＩＤ符号や
制御信号などを記憶するＩＤ部と、データを記憶するデ
ータ（ＤＡＴＡ）部とにより構成され、各セクターのＤ
ＡＴＡ部に対してデジタルのテストデータが書込み／読
出しされて、ＨＤＡ４に対する最終的なデジタル評価検
査がなされる。
ド磁気ディスクは、製造過程において各種の検査がなさ
れる。図２(a) において、ハード磁気ディスク（以下単
にディスクという）１には多数の同心円のトラックＴR
を設け、各トラックＴR に対してトラックフォーマット
が設定される。トラックフォーマットは、各トラックＴ
R が、インデックス（ＩＮＤ）を起点とし、ギャップＧ
をおいて複数ｍ個のセクターＳ0 〜Ｓ(m-1) に区分され
る。ディスクの検査とトラックフォーマットの設定の概
略の手順を述べると、まず単板検査装置により、ディス
ク１の各トラックＴR に対してアナログのテスト信号が
書込み／読出しされて、信号波形のミッシングや、湧き
だし（エキストラ）、モジュレーションなどのエラーが
アナログ的に検査される。単板検査が終了したディスク
は、図(b) に示すように複数ｎ枚が積層されてディスク
パック２が形成され、その各ディスクに対応する磁気ヘ
ッド群３とによりヘッドディスクアッセンブリ（ＨＤ
Ａ）４が構成される。ディスクパック２はハードディス
クドライバ（ＨＤＤ）５のスピンドル５a に装着されて
回転し、各ディスクに対して上記の単板検査と同様にア
ナログのテスト信号が書込み／読出しされ、ＨＤＡ４が
アナログ的に検査される。これが終了すると、評価検査
装置により、各ディスクの各トラックＴR に対してトラ
ックフォーマットがイニシャライズされる。図２(c) は
トラックフォーマットの展開図を示し、各セクターＳ0
〜Ｓ(m-1)は、セクター番号などの識別用のＩＤ符号や
制御信号などを記憶するＩＤ部と、データを記憶するデ
ータ（ＤＡＴＡ）部とにより構成され、各セクターのＤ
ＡＴＡ部に対してデジタルのテストデータが書込み／読
出しされて、ＨＤＡ４に対する最終的なデジタル評価検
査がなされる。
【０００３】さて、上記したＨＤＡ４に対するアナログ
検査においては、当初は評価検査装置によりＨＤＡ４に
対して直接、アナログのテスト信号の書込み／読出しが
可能で、問題なく検査がなされた。しかし、最近におけ
るＨＤＤ５においては、ディスクの高密度化と、データ
のアクセスタイムの高速化により、その制御がホストコ
ンピュータの大きい負荷となっており、これを軽減する
ためにＳＣＳＩ（スモール・コンピュータ・システム・
インタフェース）などの国際規格が制定されている。こ
の規格に準拠して、ＨＤＤ５に対してスモールコンピュ
ータ（マイクロプロセッサ）により構成された制御回路
を設けてインタフェースがいわばインテリジェント化さ
れ、ホストコンピュータよりはマクロのコマンド指令を
制御回路に与え、細かい制御は制御回路が分担する方法
が取られている。このためにテスト信号の書込み／読出
しを簡単に行うことができない。すなわち、データの書
込み／読出しに対するコマンド指令は、選択されたセク
ターのＤＡＴＡ部に対する書込み／読出しのみに限定さ
れているため、ＩＤ部に対する書込み／読出しが不可能
で、従ってトラックの全周に対するアナログ検査を行う
ことができないわけである。
検査においては、当初は評価検査装置によりＨＤＡ４に
対して直接、アナログのテスト信号の書込み／読出しが
可能で、問題なく検査がなされた。しかし、最近におけ
るＨＤＤ５においては、ディスクの高密度化と、データ
のアクセスタイムの高速化により、その制御がホストコ
ンピュータの大きい負荷となっており、これを軽減する
ためにＳＣＳＩ（スモール・コンピュータ・システム・
インタフェース）などの国際規格が制定されている。こ
の規格に準拠して、ＨＤＤ５に対してスモールコンピュ
ータ（マイクロプロセッサ）により構成された制御回路
を設けてインタフェースがいわばインテリジェント化さ
れ、ホストコンピュータよりはマクロのコマンド指令を
制御回路に与え、細かい制御は制御回路が分担する方法
が取られている。このためにテスト信号の書込み／読出
しを簡単に行うことができない。すなわち、データの書
込み／読出しに対するコマンド指令は、選択されたセク
ターのＤＡＴＡ部に対する書込み／読出しのみに限定さ
れているため、ＩＤ部に対する書込み／読出しが不可能
で、従ってトラックの全周に対するアナログ検査を行う
ことができないわけである。
【０００４】上記の問題点に対して、この発明の発明者
により、トラックの全周に対するアナログ検査を行う検
査方式が特許出願され、「昭和63年10月17日、第63-249
978号、磁気ディスク装置の検査方式」が公開されてい
る。図３により、上記の特許公開にかかる検査方式の概
要を説明する。図３(a) において、ＨＤＤ５は前記した
制御回路（ＣＯＮＴ）５b を設けてインテリジェント化
されている。アナログ検査においては、ＨＤＤ５に対す
るホストコンピュータ（Ｈ．ＣＰＵ）６の代わりに、評
価検査装置７をバス接続する。ＨＤＤ５に装着されたＨ
ＤＡ４とＣＯＮＴ５b とは既にケーブル接続がなされて
いるので、各ディスクのＩＮＤ信号を取り出すＨＤＡ４
の配線Ｆを、評価検査装置７に接続変更する。評価検査
装置７は入力したＩＮＤ信号により、ＣＯＮＴ５b に対
してライトコマンドを指令し、(b) に示す各セクターＳ
0 〜Ｓ(m-1) のＤＡＴＡ部にアナログテスト信号を書込
み、ディスクのつぎの１回転において、リードコマンド
を指令し、これを読出して第１回のアナログ検査（図示
＃１テスト）を行う。つぎに、上記のＩＮＤ信号を検出
した時点より適当なバイト数遅延した遅延ＩＮＤ信号を
作り、これによるライトコマンドとリードコマンドの指
令により、ＩＤ部とこれに隣接したＤＡＴＡ部に対する
アナログ信号の書込み／読出しを行ってアナログ検査
（図示＃２テスト）がなされる。＃１と＃２の検査領域
は互いにオーバラップしているので、トラックの全周が
漏れなく検査される。
により、トラックの全周に対するアナログ検査を行う検
査方式が特許出願され、「昭和63年10月17日、第63-249
978号、磁気ディスク装置の検査方式」が公開されてい
る。図３により、上記の特許公開にかかる検査方式の概
要を説明する。図３(a) において、ＨＤＤ５は前記した
制御回路（ＣＯＮＴ）５b を設けてインテリジェント化
されている。アナログ検査においては、ＨＤＤ５に対す
るホストコンピュータ（Ｈ．ＣＰＵ）６の代わりに、評
価検査装置７をバス接続する。ＨＤＤ５に装着されたＨ
ＤＡ４とＣＯＮＴ５b とは既にケーブル接続がなされて
いるので、各ディスクのＩＮＤ信号を取り出すＨＤＡ４
の配線Ｆを、評価検査装置７に接続変更する。評価検査
装置７は入力したＩＮＤ信号により、ＣＯＮＴ５b に対
してライトコマンドを指令し、(b) に示す各セクターＳ
0 〜Ｓ(m-1) のＤＡＴＡ部にアナログテスト信号を書込
み、ディスクのつぎの１回転において、リードコマンド
を指令し、これを読出して第１回のアナログ検査（図示
＃１テスト）を行う。つぎに、上記のＩＮＤ信号を検出
した時点より適当なバイト数遅延した遅延ＩＮＤ信号を
作り、これによるライトコマンドとリードコマンドの指
令により、ＩＤ部とこれに隣接したＤＡＴＡ部に対する
アナログ信号の書込み／読出しを行ってアナログ検査
（図示＃２テスト）がなされる。＃１と＃２の検査領域
は互いにオーバラップしているので、トラックの全周が
漏れなく検査される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】さて、最近における磁
気ディスク装置の需要の増加に対応して上記の検査方式
を見直し、検査効率を向上することが要請されている。
これに対して従来の検査手順を検討すると、各ディスク
は単板検査によりアナログ検査がなされているので、Ｈ
ＤＡ４に対する再度のアナログ検査は重複の感じがあ
る。ただし、後者には磁気ヘッド群３を含めてＨＤＡ４
のアナログ特性を評価するための検査であって、両者に
は若干の違いがある。しかし、さらに検討すると、ライ
トコマンドまたはリードコマンド指令によりセクターが
選択できれば、ＩＤ部が正しい筈であり、もし選択が不
能であれば、そのセクターのＩＤ部にはエラーがあるも
のとして差し支えない。そこで、セクターが選択された
ときは、そのＤＡＴＡ部に対するアナログ検査を行う。
また、セクターの選択が不能のときは、そのＩＤ部にエ
ラーがあるとしてアナログ検査を省略する。この発明は
上記の考えにより、ＨＤＡのアナログ検査を効率化した
検査方式を提供することを目的とする。
気ディスク装置の需要の増加に対応して上記の検査方式
を見直し、検査効率を向上することが要請されている。
これに対して従来の検査手順を検討すると、各ディスク
は単板検査によりアナログ検査がなされているので、Ｈ
ＤＡ４に対する再度のアナログ検査は重複の感じがあ
る。ただし、後者には磁気ヘッド群３を含めてＨＤＡ４
のアナログ特性を評価するための検査であって、両者に
は若干の違いがある。しかし、さらに検討すると、ライ
トコマンドまたはリードコマンド指令によりセクターが
選択できれば、ＩＤ部が正しい筈であり、もし選択が不
能であれば、そのセクターのＩＤ部にはエラーがあるも
のとして差し支えない。そこで、セクターが選択された
ときは、そのＤＡＴＡ部に対するアナログ検査を行う。
また、セクターの選択が不能のときは、そのＩＤ部にエ
ラーがあるとしてアナログ検査を省略する。この発明は
上記の考えにより、ＨＤＡのアナログ検査を効率化した
検査方式を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は上記の目的を
達成する磁気ディスク装置の検査方式であって、ディス
クパックが装着されたＨＤＤの制御回路に対して、評価
検査装置よりイニシャライズコマンドを指令し、各ディ
スクに対して複数のセクターよりなるトラックフォーマ
ットをイニシャライズする。これが終了後、ライトコマ
ンド指令により各セクターを逐次に選択し、選択された
セクターのＤＡＴＡ部にアナログのテスト信号を書込
み、選択されないセクターのＩＤ部を不良としてメモリ
に記憶する。ついで、ディスクのつぎの１回転において
リードコマンド指令により、上記により選択された各セ
クターのＩＤ部とＤＡＴＡ部の読出しを行うとともに、
評価検査装置に対してインヒビット命令を与えてＩＤ部
の読出し信号の処理を禁止し、ＤＡＴＡ部より読出され
たテスト信号に対するアナログ検査を行うものである。
達成する磁気ディスク装置の検査方式であって、ディス
クパックが装着されたＨＤＤの制御回路に対して、評価
検査装置よりイニシャライズコマンドを指令し、各ディ
スクに対して複数のセクターよりなるトラックフォーマ
ットをイニシャライズする。これが終了後、ライトコマ
ンド指令により各セクターを逐次に選択し、選択された
セクターのＤＡＴＡ部にアナログのテスト信号を書込
み、選択されないセクターのＩＤ部を不良としてメモリ
に記憶する。ついで、ディスクのつぎの１回転において
リードコマンド指令により、上記により選択された各セ
クターのＩＤ部とＤＡＴＡ部の読出しを行うとともに、
評価検査装置に対してインヒビット命令を与えてＩＤ部
の読出し信号の処理を禁止し、ＤＡＴＡ部より読出され
たテスト信号に対するアナログ検査を行うものである。
【０００７】
【作用】上記の検査方式においては、ＨＤＤに装着され
たディスクパックの各ディスクに対して、評価検査装置
よりのイニシャライズコマンド指令により、制御回路が
各トラックを逐次選択してトラックフォーマットがイニ
シャライズされる。これが終了すると、ライトコマンド
指令により、制御回路がトラックフォーマットの各セク
ターを逐次選択し、選択されたセクターのＤＡＴＡ部に
アナログのテスト信号が書込まれる。選択されないセク
ターがあるときは、そのＩＤ部にエラーがあると判定し
てメモリに記憶する。ついで、つぎのディスクの１回転
において、リードコマンド指令により、上記の選択され
た各セクターのＩＤ部とＤＡＴＡ部が読出されるが、評
価検査装置はインヒビッコマンド命令によりＩＤ部の読
出し信号の処理が禁止されているので、ＤＡＴＡ部より
読出されたアナログテスト信号のみに対してアナログ検
査がなされる。以上により、ＨＤＡに対するアナログ検
査時間が従来より大幅に短縮される。
たディスクパックの各ディスクに対して、評価検査装置
よりのイニシャライズコマンド指令により、制御回路が
各トラックを逐次選択してトラックフォーマットがイニ
シャライズされる。これが終了すると、ライトコマンド
指令により、制御回路がトラックフォーマットの各セク
ターを逐次選択し、選択されたセクターのＤＡＴＡ部に
アナログのテスト信号が書込まれる。選択されないセク
ターがあるときは、そのＩＤ部にエラーがあると判定し
てメモリに記憶する。ついで、つぎのディスクの１回転
において、リードコマンド指令により、上記の選択され
た各セクターのＩＤ部とＤＡＴＡ部が読出されるが、評
価検査装置はインヒビッコマンド命令によりＩＤ部の読
出し信号の処理が禁止されているので、ＤＡＴＡ部より
読出されたアナログテスト信号のみに対してアナログ検
査がなされる。以上により、ＨＤＡに対するアナログ検
査時間が従来より大幅に短縮される。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例を示し、(a) はア
ナログ検査に対する概略のブロック構成図、(b) は検査
範囲と検査手順の説明図である。図１(a) において、Ｈ
ＤＤ５とＨ・ＣＰＵ６は前記した図３(a) のものと同一
とし、同様にＨ・ＣＰＵ６の代わりに評価検査装置７を
バスラインに接続する。ただし、この場合は図３(a) に
おける配線Ｆの接続変更は必要ない。ＨＤＡ４に対する
アナログ検査においては、ＨＤＤ５に装着されたディス
クパック２の各ディスク１-1, １-2, 〜１-n（図２(b)
参照）に対して、評価検査装置７よりのイニシャライズ
コマンドにより、制御回路５b が各トラックＴR を逐次
選択してトラックフォーマットがイニシャライズされ
る。これが終了すると、ライトコマンドにより、制御回
路５b がトラックフォーマットの各セクターＳ0〜Ｓ(m-
1) を逐次選択する。図１(b) において、いまセクター
Ｓ0 が選択されたとすると、評価検査装置７より送出さ
れるアナログテスト信号が、Ｓ1 のＤＡＴＡ部に対して
書込みされる。これに対してつぎのＳ1 が選択されない
とすると、そのＩＤ部にはエラーがあると判定してセク
ター番号Ｓ1 をメモリ７a に記憶し、そのＤＡＴＡ部に
対するテスト信号の書込みを省略する。このようなテス
ト信号の書込みと不良セクターの記憶が、ディスクの１
回転により各セクターＳ0 〜Ｓ(m-1) に対して逐次に行
われる。ついで、つぎのディスクの１回転において、リ
ードコマンドによる制御回路５b の制御により、上記に
より選択された各セクターのＩＤ部とＤＡＴＡ部が読出
されて評価検査装置７に転送される。評価検査装置７に
おいては、インヒビット命令によりＩＤ部の読出し信号
の処理が禁止され、ＤＡＴＡ部より読出されたアナログ
テスト信号に対するアナログ検査がなされる。以上のア
ナログ検査は各ディスクの各トラックに対して逐次にな
され、不良なセクターの番号を記憶して検査を省略し、
良好なセクターのＤＡＴＡ部に対してアナログ検査のみ
を行うことにより、ＨＤＡ４に対する検査時間が従来よ
り大幅に短縮されるものである。
ナログ検査に対する概略のブロック構成図、(b) は検査
範囲と検査手順の説明図である。図１(a) において、Ｈ
ＤＤ５とＨ・ＣＰＵ６は前記した図３(a) のものと同一
とし、同様にＨ・ＣＰＵ６の代わりに評価検査装置７を
バスラインに接続する。ただし、この場合は図３(a) に
おける配線Ｆの接続変更は必要ない。ＨＤＡ４に対する
アナログ検査においては、ＨＤＤ５に装着されたディス
クパック２の各ディスク１-1, １-2, 〜１-n（図２(b)
参照）に対して、評価検査装置７よりのイニシャライズ
コマンドにより、制御回路５b が各トラックＴR を逐次
選択してトラックフォーマットがイニシャライズされ
る。これが終了すると、ライトコマンドにより、制御回
路５b がトラックフォーマットの各セクターＳ0〜Ｓ(m-
1) を逐次選択する。図１(b) において、いまセクター
Ｓ0 が選択されたとすると、評価検査装置７より送出さ
れるアナログテスト信号が、Ｓ1 のＤＡＴＡ部に対して
書込みされる。これに対してつぎのＳ1 が選択されない
とすると、そのＩＤ部にはエラーがあると判定してセク
ター番号Ｓ1 をメモリ７a に記憶し、そのＤＡＴＡ部に
対するテスト信号の書込みを省略する。このようなテス
ト信号の書込みと不良セクターの記憶が、ディスクの１
回転により各セクターＳ0 〜Ｓ(m-1) に対して逐次に行
われる。ついで、つぎのディスクの１回転において、リ
ードコマンドによる制御回路５b の制御により、上記に
より選択された各セクターのＩＤ部とＤＡＴＡ部が読出
されて評価検査装置７に転送される。評価検査装置７に
おいては、インヒビット命令によりＩＤ部の読出し信号
の処理が禁止され、ＤＡＴＡ部より読出されたアナログ
テスト信号に対するアナログ検査がなされる。以上のア
ナログ検査は各ディスクの各トラックに対して逐次にな
され、不良なセクターの番号を記憶して検査を省略し、
良好なセクターのＤＡＴＡ部に対してアナログ検査のみ
を行うことにより、ＨＤＡ４に対する検査時間が従来よ
り大幅に短縮されるものである。
【０００９】
【発明の効果】以上の説明のとおり、この発明による検
査方式においては、インテリジェントなＨＤＤに装着さ
れた各ディスクは、それぞれのトラックに設定されたト
ラックフォーマットの不良なＩＤ部が判明するので、そ
のセクター番号を記憶して検査を省略し、ＤＡＴＡ部に
対するアナログ検査のみを行って検査時間を従来より大
幅に短縮するもので、ＨＤＡに対するアナログ検査に寄
与するところには大きいものがある。
査方式においては、インテリジェントなＨＤＤに装着さ
れた各ディスクは、それぞれのトラックに設定されたト
ラックフォーマットの不良なＩＤ部が判明するので、そ
のセクター番号を記憶して検査を省略し、ＤＡＴＡ部に
対するアナログ検査のみを行って検査時間を従来より大
幅に短縮するもので、ＨＤＡに対するアナログ検査に寄
与するところには大きいものがある。
【図１】 この発明の一実施例を示し、(a) は検査回路
の概略のブロック構成図、(b) は検査範囲と検査手順の
説明図である。
の概略のブロック構成図、(b) は検査範囲と検査手順の
説明図である。
【図２】 (a) は磁気ディスクに設定されるトラックと
セクターの構成図、(b) はヘッドディスクアッセンブリ
（ＨＤＡ）とハードディスクドライバ（ＨＤＤ）の構成
図、(c) はトラックフォーマットの展開図である。
セクターの構成図、(b) はヘッドディスクアッセンブリ
（ＨＤＡ）とハードディスクドライバ（ＨＤＤ）の構成
図、(c) はトラックフォーマットの展開図である。
【図３】 (a) は特許公開にかかる磁気ディスク装置の
検査方式の概略構成図、(b) は(a) に対する検査手順の
説明図である。
検査方式の概略構成図、(b) は(a) に対する検査手順の
説明図である。
１，１-1, 〜１-n, …ハード磁気ディスク、ディスク、
２…磁気ディスクパック、ディスクパック、３…磁気ヘ
ッド群、４…ヘッドディスクアッセンブリ（ＨＤＡ） ５…ディスクドライバ（ＨＤＤ）、５a …スピンドル、
５b …制御回路（ＣＯＮＴ）、６…ホストコンピュータ
（Ｈ・ＣＰＵ）、７…評価検査装置、７a …メモリ。
２…磁気ディスクパック、ディスクパック、３…磁気ヘ
ッド群、４…ヘッドディスクアッセンブリ（ＨＤＡ） ５…ディスクドライバ（ＨＤＤ）、５a …スピンドル、
５b …制御回路（ＣＯＮＴ）、６…ホストコンピュータ
（Ｈ・ＣＰＵ）、７…評価検査装置、７a …メモリ。
Claims (1)
- 【請求項１】 ホストコンピュータよりのコマンド指令
により入出力のインタフェースを制御する制御回路を有
し、磁気ディスクパックが装着されたディスクドライバ
に対する評価検査において、評価検査装置より前記制御
回路に対してイニシャライズコマンドを指令し、前記磁
気ディスクパックの各磁気ディスクのトラックに対し
て、複数のセクターよりなるトラックフォーマットをイ
ニシャライズし、該イニシャライズが終了後、前記評価
検査装置よりのライトデータコマンド指令により、前記
各セクターを逐次に選択し、選択されたセクターのデー
タ部にアナログのテスト信号を書込み、選択されないセ
クターのＩＤ部を不良としてメモリに記憶し、ついで、
つぎの磁気ディスクの１回転において、リードデータコ
マンド指令により、前記選択された各セクターのＩＤ部
とデータ部の読出しを行うとともに、前記評価検査装置
に対してインヒビット命令を与えて該ＩＤ部の読出し信
号の処理を禁止し、前記データ部より読出された前記テ
スト信号に対するアナログ検査を行うことを特徴とす
る、磁気ディスク装置の検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23430692A JPH0660561A (ja) | 1992-08-10 | 1992-08-10 | 磁気ディスク装置の検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23430692A JPH0660561A (ja) | 1992-08-10 | 1992-08-10 | 磁気ディスク装置の検査方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0660561A true JPH0660561A (ja) | 1994-03-04 |
Family
ID=16968937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23430692A Pending JPH0660561A (ja) | 1992-08-10 | 1992-08-10 | 磁気ディスク装置の検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0660561A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR19990075477A (ko) * | 1998-03-20 | 1999-10-15 | 윤종용 | 하드 디스크 드라이브의 검사 방법 |
| KR100482352B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2005-07-29 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크드라이브의성능테스트방법 |
-
1992
- 1992-08-10 JP JP23430692A patent/JPH0660561A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100482352B1 (ko) * | 1997-12-29 | 2005-07-29 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크드라이브의성능테스트방법 |
| KR19990075477A (ko) * | 1998-03-20 | 1999-10-15 | 윤종용 | 하드 디스크 드라이브의 검사 방법 |
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