JPH0660836A - イオン加速装置 - Google Patents
イオン加速装置Info
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- JPH0660836A JPH0660836A JP4209100A JP20910092A JPH0660836A JP H0660836 A JPH0660836 A JP H0660836A JP 4209100 A JP4209100 A JP 4209100A JP 20910092 A JP20910092 A JP 20910092A JP H0660836 A JPH0660836 A JP H0660836A
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Landscapes
- Particle Accelerators (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 真空排気管から発生するX線の量を少なく
し、外部に漏れ出るX線量を低減すること。 【構成】 真空排気管12の内部に、絶縁材21に接着
して取付けられ且つ中央部に孔を有する複数個の電極2
2を取付け、グランド側の取付フランジ23とポンプ接
続管15との間にバイアス電極チャンバ39を介在さ
せ、内部にマイナスのバイアス電極32を取付けてマイ
ナスの電場を形成する。一方、高圧側の取付フランジ2
4と排気管13との間にバイアス電極チャンバ33を介
在させ、内部にバイアス電極31を取付けてプラスの電
場を形成する。 【作用】 真空排気管12の両側にイオンと電子にとっ
て電位的な障壁が形成されるので、電子が管壁に衝突す
ることによって発生するX線量が低減する。
し、外部に漏れ出るX線量を低減すること。 【構成】 真空排気管12の内部に、絶縁材21に接着
して取付けられ且つ中央部に孔を有する複数個の電極2
2を取付け、グランド側の取付フランジ23とポンプ接
続管15との間にバイアス電極チャンバ39を介在さ
せ、内部にマイナスのバイアス電極32を取付けてマイ
ナスの電場を形成する。一方、高圧側の取付フランジ2
4と排気管13との間にバイアス電極チャンバ33を介
在させ、内部にバイアス電極31を取付けてプラスの電
場を形成する。 【作用】 真空排気管12の両側にイオンと電子にとっ
て電位的な障壁が形成されるので、電子が管壁に衝突す
ることによって発生するX線量が低減する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、イオンビーム分析装置
及びイオン注入装置等に使用するイオン加速装置に関す
る。
及びイオン注入装置等に使用するイオン加速装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】図6は、従来のイオン注入装置の全体を
示す平面図で、その走査ユニット18より前段を構成し
ているイオン加速装置は、シールドボックス1の床に取
付けられた絶縁支柱に、高電圧ターミナル2が取付けら
れており、該シールドボックス1の側壁と高電圧ターミ
ナル2の側壁間に加速管3が取付けられている。上記高
電圧ターミナル2内には、イオン源4、質量分離磁石
5、ガスボックス6、イオン源生成用電源7が設置され
ており、外部に取付けられた電力供給装置8とはブッシ
ング9を介して接続され、また高電圧発生装置10とは
ブッシング11を介して接続されている。また、シール
ドボックス1の側壁と高電圧ターミナル2の側壁間に真
空排気管12が取付けられており、一側(図で右側)
は、排気管13及びイオン源排気チャンバ14を介して
イオン源4に接続され、他側(図で左側)は、ポンプ接
続管15を介して、イオン源4を排気するための真空ポ
ンプ16に接続されている。
示す平面図で、その走査ユニット18より前段を構成し
ているイオン加速装置は、シールドボックス1の床に取
付けられた絶縁支柱に、高電圧ターミナル2が取付けら
れており、該シールドボックス1の側壁と高電圧ターミ
ナル2の側壁間に加速管3が取付けられている。上記高
電圧ターミナル2内には、イオン源4、質量分離磁石
5、ガスボックス6、イオン源生成用電源7が設置され
ており、外部に取付けられた電力供給装置8とはブッシ
ング9を介して接続され、また高電圧発生装置10とは
ブッシング11を介して接続されている。また、シール
ドボックス1の側壁と高電圧ターミナル2の側壁間に真
空排気管12が取付けられており、一側(図で右側)
は、排気管13及びイオン源排気チャンバ14を介して
イオン源4に接続され、他側(図で左側)は、ポンプ接
続管15を介して、イオン源4を排気するための真空ポ
ンプ16に接続されている。
【0003】一方、上記加速管3は、シールドボックス
1の外において、該加速管3付近を排気するための真空
ポンプ17を取り付けた走査ユニット18に接続され、
該走査ユニット18は、内部にターゲット(試料ホル
ダ)19を収納したターゲットチャンバ20に接続され
ている。
1の外において、該加速管3付近を排気するための真空
ポンプ17を取り付けた走査ユニット18に接続され、
該走査ユニット18は、内部にターゲット(試料ホル
ダ)19を収納したターゲットチャンバ20に接続され
ている。
【0004】図7は、上記シールドボックス1の側壁と
高電圧ターミナル2の側壁との間に取付けられた従来の
真空排気管12の断面図である。図において、該真空排
気管12の内部は、絶縁材21に接着して取付けられ且
つ中央部を開口した複数個(段)の円板状の金属製電極
22が取付けられて真空を保持しており、その一側(図
で左側)はグランド側取付フランジ23を介してポンプ
接続管15に接続され、他側(図で右側)は、高電圧側
取付フランジ24を介して、排気管13のフランジ13
aに接続されており、これら両取付フランジ23,24
と絶縁材21とは接着されている。なお、図中、25
は、高電圧ターミナル2とシールドボックス1との間の
各段の電極22間に取付けられた抵抗であり、また、2
6はOリングである。
高電圧ターミナル2の側壁との間に取付けられた従来の
真空排気管12の断面図である。図において、該真空排
気管12の内部は、絶縁材21に接着して取付けられ且
つ中央部を開口した複数個(段)の円板状の金属製電極
22が取付けられて真空を保持しており、その一側(図
で左側)はグランド側取付フランジ23を介してポンプ
接続管15に接続され、他側(図で右側)は、高電圧側
取付フランジ24を介して、排気管13のフランジ13
aに接続されており、これら両取付フランジ23,24
と絶縁材21とは接着されている。なお、図中、25
は、高電圧ターミナル2とシールドボックス1との間の
各段の電極22間に取付けられた抵抗であり、また、2
6はOリングである。
【0005】次に、作用について説明する。イオン源4
内は、イオン源排気チャンバ14、排気管13、真空排
気管12及びポンプ接続管15を介して、真空ポンプ1
6によって排気される。該イオン源4内に、ガスボック
ス6内に収納されているガスボンベより材料ガスが導入
され、また同時に、プラズマ発生用電源7よりイオン源
4内にパワーが供給されることによって、該イオン源4
内にプラズマが生成される。生成されたプラズマから数
10kVでイオンが引き出され、質量分離磁石5に入射
すると、イオンは磁場により曲げられるため、所望のイ
オンのみが選別され、イオンは加速管3に入射する。
内は、イオン源排気チャンバ14、排気管13、真空排
気管12及びポンプ接続管15を介して、真空ポンプ1
6によって排気される。該イオン源4内に、ガスボック
ス6内に収納されているガスボンベより材料ガスが導入
され、また同時に、プラズマ発生用電源7よりイオン源
4内にパワーが供給されることによって、該イオン源4
内にプラズマが生成される。生成されたプラズマから数
10kVでイオンが引き出され、質量分離磁石5に入射
すると、イオンは磁場により曲げられるため、所望のイ
オンのみが選別され、イオンは加速管3に入射する。
【0006】一方、高電圧ターミナル2内で消費される
電力は、電力供給装置8により、ブッシング9を介して
該高電圧ターミナル2内に供給される。また、加速管3
に入射したイオンをグランド電位まで加速するために、
高電圧発生装置10により、高電圧ターミナル2に数1
0kVから400kVを越える電圧が印加される。加速
管3に入射したイオンは、高電圧ターミナル2に印加さ
れた電圧とイオンの価数の積のエネルギをもってグラン
ド電位まで加速される。
電力は、電力供給装置8により、ブッシング9を介して
該高電圧ターミナル2内に供給される。また、加速管3
に入射したイオンをグランド電位まで加速するために、
高電圧発生装置10により、高電圧ターミナル2に数1
0kVから400kVを越える電圧が印加される。加速
管3に入射したイオンは、高電圧ターミナル2に印加さ
れた電圧とイオンの価数の積のエネルギをもってグラン
ド電位まで加速される。
【0007】また、電圧を高電圧ターミナル2に印加す
るときは、加速管3内の圧力が高いと該加速管2内部で
放電が起こり易いため、真空ポンプ17で排気してい
る。加速管3で加速されたイオンビームは、走査ユニッ
ト18を作動させることによって、ターゲットチャンバ
20内に設置されたターゲット(試料ホルダ)19上に
到達したイオンを、縦方向と横方向に走査し、試料上の
面内にイオンを照射する。
るときは、加速管3内の圧力が高いと該加速管2内部で
放電が起こり易いため、真空ポンプ17で排気してい
る。加速管3で加速されたイオンビームは、走査ユニッ
ト18を作動させることによって、ターゲットチャンバ
20内に設置されたターゲット(試料ホルダ)19上に
到達したイオンを、縦方向と横方向に走査し、試料上の
面内にイオンを照射する。
【0008】図8(a)〜(d)は、イオン加速時の真
空排気管12を取付けたシールドボックス1の面から漏
洩するX線の生成過程を示す作用説明図であって、図中
の○印は材料ガスの中性粒子(分子、原子状態)、●印
はイオン、・印は電子を示す。
空排気管12を取付けたシールドボックス1の面から漏
洩するX線の生成過程を示す作用説明図であって、図中
の○印は材料ガスの中性粒子(分子、原子状態)、●印
はイオン、・印は電子を示す。
【0009】図8(a)に示すように、ガスボックス6
のガスボンベからイオン源4内に材料ガスが導入され、
プラズマが生成され、イオン源4からイオンがイオン源
排気チャンバ14内に引き出されるが、その引き出され
た直後に、イオンが中性粒子と衝突し不規則な方向の速
度成分を持った中性粒子に変換したり、またイオンが生
成され、そのイオンは、排気管13を通って真空排気管
12に入射する。この時、高電圧ターミナル2は高電圧
電源10によって数100kVの電圧が印加されてお
り、このことから真空排気管12は、電極22とその電
極間の各段に取付けられた抵抗25によって、真空排気
管12内の中央部に加速電場が形成されるため、加速管
3と同様に作用する。
のガスボンベからイオン源4内に材料ガスが導入され、
プラズマが生成され、イオン源4からイオンがイオン源
排気チャンバ14内に引き出されるが、その引き出され
た直後に、イオンが中性粒子と衝突し不規則な方向の速
度成分を持った中性粒子に変換したり、またイオンが生
成され、そのイオンは、排気管13を通って真空排気管
12に入射する。この時、高電圧ターミナル2は高電圧
電源10によって数100kVの電圧が印加されてお
り、このことから真空排気管12は、電極22とその電
極間の各段に取付けられた抵抗25によって、真空排気
管12内の中央部に加速電場が形成されるため、加速管
3と同様に作用する。
【0010】図8(b)は、真空排気管12に入射した
イオンの挙動を示す作用説明図で、該真空排気管12に
入射したイオンは、高電圧ターミナル2の電位からシー
ルドボックス1のグランド電位に向って加速される。ま
た、イオン源4からイオンとして引き出されず、且つプ
ラズマとして電離しなかった材料ガスの中性粒子は、排
気管13を通って真空排気管12に流入する。この真空
排気管12内に流入した中性粒子と真空排気管12内で
加速されたイオンとが衝突し、不規則な速度成分を持っ
たイオンや中性粒子が生成され、その生成されたイオン
や中性粒子が更に中性粒子と衝突し、雪崩現象的にイオ
ンが増加し、グランド電位に向って加速される。
イオンの挙動を示す作用説明図で、該真空排気管12に
入射したイオンは、高電圧ターミナル2の電位からシー
ルドボックス1のグランド電位に向って加速される。ま
た、イオン源4からイオンとして引き出されず、且つプ
ラズマとして電離しなかった材料ガスの中性粒子は、排
気管13を通って真空排気管12に流入する。この真空
排気管12内に流入した中性粒子と真空排気管12内で
加速されたイオンとが衝突し、不規則な速度成分を持っ
たイオンや中性粒子が生成され、その生成されたイオン
や中性粒子が更に中性粒子と衝突し、雪崩現象的にイオ
ンが増加し、グランド電位に向って加速される。
【0011】図8(c)は、真空排気管12内で加速さ
れる状態を示す作用説明図で、該真空排気管12内で加
速され高いエネルギを持ったイオンは、金属製の電極2
2に衝突すると、該電極22の金属表面から2次電子は
放出される。これらの各電極22にイオンが衝突し、そ
の各段の電極から放出された2次電子は、イオンと電気
的に極性が逆なので、真空排気管12内で高電圧ターミ
ナル2の方に向って加速される。
れる状態を示す作用説明図で、該真空排気管12内で加
速され高いエネルギを持ったイオンは、金属製の電極2
2に衝突すると、該電極22の金属表面から2次電子は
放出される。これらの各電極22にイオンが衝突し、そ
の各段の電極から放出された2次電子は、イオンと電気
的に極性が逆なので、真空排気管12内で高電圧ターミ
ナル2の方に向って加速される。
【0012】図8(d)は、高電圧ターミナル2の方向
に加速されている2次電子の状態を示す作用説明図で、
電極22より放出された電子が真空排気管12内に取り
付けられている各電極22の中央部の孔(開口)を通る
ことによって、その電子が放出された各電極より高電圧
側の電極に衝突することなく高いエネルギまで加速さ
れ、高電圧ターミナル2内のイオン源排気チャンバ14
の金属製の管壁に衝突する。特に、ポンプ接続管15の
管壁に高速のイオンが衝突し、その結果、管壁から放出
した2次電子が衝突せずに加速され、イオン源排気チャ
ンバ14の金属製の管壁に高速の電子が衝突した時、X
線(連続及び特性X線)がほぼ等方向に放射し、その一
部はシールドボックス1の壁で吸収されるが、他はシー
ルドボックス1の側壁と真空排気管12との隙間を通り
抜けたり、真空排気管12内を通り、ポンプ接続管15
の管壁を通過して外部へ漏れ出てくる。
に加速されている2次電子の状態を示す作用説明図で、
電極22より放出された電子が真空排気管12内に取り
付けられている各電極22の中央部の孔(開口)を通る
ことによって、その電子が放出された各電極より高電圧
側の電極に衝突することなく高いエネルギまで加速さ
れ、高電圧ターミナル2内のイオン源排気チャンバ14
の金属製の管壁に衝突する。特に、ポンプ接続管15の
管壁に高速のイオンが衝突し、その結果、管壁から放出
した2次電子が衝突せずに加速され、イオン源排気チャ
ンバ14の金属製の管壁に高速の電子が衝突した時、X
線(連続及び特性X線)がほぼ等方向に放射し、その一
部はシールドボックス1の壁で吸収されるが、他はシー
ルドボックス1の側壁と真空排気管12との隙間を通り
抜けたり、真空排気管12内を通り、ポンプ接続管15
の管壁を通過して外部へ漏れ出てくる。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上記したように、従来
の装置では、イオン源排気チャンバ14内から漏れ出た
イオンが排気管13を通り、真空排気管12に入射し、
電極22にイオンが衝突することによって2次電子が発
生し、該2次電子が真空排気管12内で障壁がないため
に加速され、イオン源排気チャンバ14の管壁に衝突す
ることによってX線が発生し、シールドボックス1の外
側に漏れ出てくる。特にグランド電位まで加速され高い
エネルギを持っているイオンがポンプ接続管15の管壁
に衝突し、その金属表面から放出された2次電子が真空
排気管12の電極22の中央部を走行すると、高電圧タ
ーミナル2に印加した電圧(400kV〜500kV)
で加速され、非常に高いエネルギを持ってイオン源排気
チャンバ14の管壁に衝突する。その結果発生するX線
のエネルギは高くなり、また線量も多くなるため、X線
の遮蔽のためのシールドボックス1の壁の厚みを増さな
ければならなくなるという問題点があった。
の装置では、イオン源排気チャンバ14内から漏れ出た
イオンが排気管13を通り、真空排気管12に入射し、
電極22にイオンが衝突することによって2次電子が発
生し、該2次電子が真空排気管12内で障壁がないため
に加速され、イオン源排気チャンバ14の管壁に衝突す
ることによってX線が発生し、シールドボックス1の外
側に漏れ出てくる。特にグランド電位まで加速され高い
エネルギを持っているイオンがポンプ接続管15の管壁
に衝突し、その金属表面から放出された2次電子が真空
排気管12の電極22の中央部を走行すると、高電圧タ
ーミナル2に印加した電圧(400kV〜500kV)
で加速され、非常に高いエネルギを持ってイオン源排気
チャンバ14の管壁に衝突する。その結果発生するX線
のエネルギは高くなり、また線量も多くなるため、X線
の遮蔽のためのシールドボックス1の壁の厚みを増さな
ければならなくなるという問題点があった。
【0014】本発明は、上記した従来技術の問題点を解
決するもので、真空排気管から発生するX線のエネルギ
を低くし、X線量を低減することの可能な真空排気管を
備えたイオン加速装置を提供することを目的としてい
る。
決するもので、真空排気管から発生するX線のエネルギ
を低くし、X線量を低減することの可能な真空排気管を
備えたイオン加速装置を提供することを目的としてい
る。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明は、イオン加速装置を構成する真空排気管
のグランド側のバイアス電極チャンバ内にマイナスのバ
イアス電極を、また高圧側のバイアス電極チャンバ内に
プラスのバイアス電極をそれぞれ取付けたことを特徴と
し、また上記グランド側のバイアス電極の代りに、グラ
ンド側のバイアス電極チャンバ内に1対の永久磁石を取
付けたことを特徴としている。
めに、本発明は、イオン加速装置を構成する真空排気管
のグランド側のバイアス電極チャンバ内にマイナスのバ
イアス電極を、また高圧側のバイアス電極チャンバ内に
プラスのバイアス電極をそれぞれ取付けたことを特徴と
し、また上記グランド側のバイアス電極の代りに、グラ
ンド側のバイアス電極チャンバ内に1対の永久磁石を取
付けたことを特徴としている。
【0016】
【作用】本発明は上記のように構成されているので、真
空排気管内の高電圧側の電極に、高電圧ターミナルの電
位に対して数kV以上(若くはイオン源からイオンを引
き出すために印加した電圧以下)のプラスの電圧を印加
することによって、当該真空排気管の入り口付近にプラ
スの電場が形成され、一方、グランド側の電極に、グラ
ンド電位に対してマイナスの電圧を数kV印加すること
によって、当該真空排気管の出口付近にマイナスの電場
が形成される。
空排気管内の高電圧側の電極に、高電圧ターミナルの電
位に対して数kV以上(若くはイオン源からイオンを引
き出すために印加した電圧以下)のプラスの電圧を印加
することによって、当該真空排気管の入り口付近にプラ
スの電場が形成され、一方、グランド側の電極に、グラ
ンド電位に対してマイナスの電圧を数kV印加すること
によって、当該真空排気管の出口付近にマイナスの電場
が形成される。
【0017】上記のようにして、当該真空排気管の両側
にイオンと電子にとって電位的な障壁が形成されるた
め、高圧側とグランド側で当該真空排気管に入射するイ
オンと電子をせき止め、当該真空排気管内で加速するイ
オンや電子の量を抑制することによって、電子が管壁に
衝突することによって発生するX線量を減らすことがで
きる。
にイオンと電子にとって電位的な障壁が形成されるた
め、高圧側とグランド側で当該真空排気管に入射するイ
オンと電子をせき止め、当該真空排気管内で加速するイ
オンや電子の量を抑制することによって、電子が管壁に
衝突することによって発生するX線量を減らすことがで
きる。
【0018】また、グランド側のバイアス電極の代りに
1対の永久磁石を取付けた場合、該永久磁石の磁場によ
って電子の軌道を偏向し、ポンプ接続管の管壁部分で発
生した2次電子を真空排気管内に入射させないようにす
ることができるので、前記と同様にX線量を減らすこと
ができる。
1対の永久磁石を取付けた場合、該永久磁石の磁場によ
って電子の軌道を偏向し、ポンプ接続管の管壁部分で発
生した2次電子を真空排気管内に入射させないようにす
ることができるので、前記と同様にX線量を減らすこと
ができる。
【0019】
【実施例】次に、本発明の実施例を図面と共に説明す
る。図1(a)は、本発明の一実施例を示す真空排気管
の縦断面図、同図(b)は、同図(a)のI−I線断面
図であり、図中、図7に記載した符号と同一の符号は同
一ないし同類部分を示すものとする。
る。図1(a)は、本発明の一実施例を示す真空排気管
の縦断面図、同図(b)は、同図(a)のI−I線断面
図であり、図中、図7に記載した符号と同一の符号は同
一ないし同類部分を示すものとする。
【0020】図(a)において、真空排気管12の内部
に、絶縁材21に接着して取付けられ且つ中央部に孔を
有する円板状の複数個の金属製電極22が取付けられて
真空を保持しており、一側(図で左側)はグランド側取
付フランジ23を介してポンプ接続管15側に接続さ
れ、他側(図で右側)は高電圧側取付フランジ24を介
して排気管13側に接続されていることは従来例(図
7)と変りはないが、本実施例では、真空排気管12の
高電圧側(図で右側)の排気管13と取付フランジ24
との間に、高電圧ターミナル2の電位に対してプラス電
位のバイアス電極31が取付けられ、一方、グランド側
(図で左側)のポンプ接続管15とグランド側の取付フ
ランジ23との間に、グランド電位に対してマイナス電
位のバイアス電極32が取付けられている点で異ってい
る。
に、絶縁材21に接着して取付けられ且つ中央部に孔を
有する円板状の複数個の金属製電極22が取付けられて
真空を保持しており、一側(図で左側)はグランド側取
付フランジ23を介してポンプ接続管15側に接続さ
れ、他側(図で右側)は高電圧側取付フランジ24を介
して排気管13側に接続されていることは従来例(図
7)と変りはないが、本実施例では、真空排気管12の
高電圧側(図で右側)の排気管13と取付フランジ24
との間に、高電圧ターミナル2の電位に対してプラス電
位のバイアス電極31が取付けられ、一方、グランド側
(図で左側)のポンプ接続管15とグランド側の取付フ
ランジ23との間に、グランド電位に対してマイナス電
位のバイアス電極32が取付けられている点で異ってい
る。
【0021】上記高電圧側のバイアス電極31は金属製
メッシュからなり、取付フランジ24と排気管13との
間に取付けられた高圧側のバイアス電極チャンバ33の
フランジ33aに、4本の固定碍子34が取付けられて
おり、これらの固定碍子34の上に上記金属製メッシュ
のバイアス電極31が載置され、碍子製のねじ35によ
って固定碍子34に取付けられている。
メッシュからなり、取付フランジ24と排気管13との
間に取付けられた高圧側のバイアス電極チャンバ33の
フランジ33aに、4本の固定碍子34が取付けられて
おり、これらの固定碍子34の上に上記金属製メッシュ
のバイアス電極31が載置され、碍子製のねじ35によ
って固定碍子34に取付けられている。
【0022】また上記バイアス電極チャンバ33には、
電流導入端子36が取付けられており、該電流導入端子
36の真空側の導入部の先端はねじになっており、ナッ
トでケーブル37が固定され、該ケーブル37と上記メ
ッシュのバイアス電極31とはスポット溶接されてい
る。上記電流導入端子36には、高電圧ターミナル2の
電位に接地したプラス出力の電源38が接続されてい
る。
電流導入端子36が取付けられており、該電流導入端子
36の真空側の導入部の先端はねじになっており、ナッ
トでケーブル37が固定され、該ケーブル37と上記メ
ッシュのバイアス電極31とはスポット溶接されてい
る。上記電流導入端子36には、高電圧ターミナル2の
電位に接地したプラス出力の電源38が接続されてい
る。
【0023】一方、グランド側では、バイアス電極32
が同様に金属製メッシュで構成され、バイアス電極チャ
ンバ39のフランジ39aに取付けられた4本の固定碍
子40の上に載置され、碍子製ねじ41によって取付け
られている。該メッシュのバイアス電極32は、ケーブ
ル42、電流導入端子43を介して電源44に接続さ
れ、該電源44は接地電位がグランド電位であり、出力
は極性がマイナスである。
が同様に金属製メッシュで構成され、バイアス電極チャ
ンバ39のフランジ39aに取付けられた4本の固定碍
子40の上に載置され、碍子製ねじ41によって取付け
られている。該メッシュのバイアス電極32は、ケーブ
ル42、電流導入端子43を介して電源44に接続さ
れ、該電源44は接地電位がグランド電位であり、出力
は極性がマイナスである。
【0024】次に、作用について図2の模式図を用いて
説明するに、同図(a)は、真空排気管12の両端部に
取付けられた電流導入端子36,43にバイアス電圧を
印加していない状態、つまり従来の真空排気管の動作を
示している。この状態では、図8に示す従来の真空排気
管の動作と同様に、イオン源4から引き出されたイオン
(黒丸印)が、イオン源排気チャンバ14内で中性粒子
(白丸印)と衝突し、排気管13に或る速度で入射する
と、真空排気管12内で加速され高いエネルギをもって
ポンプ接続管15の管壁に衝突し、2次電子(黒点印)
を放出する。この2次電子が逆方向に加速管12で加速
され、イオン源排気チャンバ14の管壁に衝突してX線
が発生するが、この原因は、図2(a)の電位分布図に
示されているように、イオンが一端の加速管に相当する
真空排気管12に入ると、坂道を転がるように加速され
る。このことは、電子にも極性が逆の違いはあるが同様
のことがいえる。
説明するに、同図(a)は、真空排気管12の両端部に
取付けられた電流導入端子36,43にバイアス電圧を
印加していない状態、つまり従来の真空排気管の動作を
示している。この状態では、図8に示す従来の真空排気
管の動作と同様に、イオン源4から引き出されたイオン
(黒丸印)が、イオン源排気チャンバ14内で中性粒子
(白丸印)と衝突し、排気管13に或る速度で入射する
と、真空排気管12内で加速され高いエネルギをもって
ポンプ接続管15の管壁に衝突し、2次電子(黒点印)
を放出する。この2次電子が逆方向に加速管12で加速
され、イオン源排気チャンバ14の管壁に衝突してX線
が発生するが、この原因は、図2(a)の電位分布図に
示されているように、イオンが一端の加速管に相当する
真空排気管12に入ると、坂道を転がるように加速され
る。このことは、電子にも極性が逆の違いはあるが同様
のことがいえる。
【0025】上記のことから、高電圧ターミナル2内で
は、高電圧ターミナル2の電位に対して、図2(b)に
示すように、プラスの電圧を出力する電源38を作動さ
せ、数kVの電圧を電流導入端子36に印加することに
よって、バイアス電極31が高電圧ターミナル2の電位
に対し(+)数kV高くなる。これによりイオン源4か
ら引き出されイオン源排気チャンバ14内で中性粒子と
衝突し、排気管13に或る速度で入射してきたイオンの
エネルギが、メッシュのバイアス電極31に印加した電
圧より低いと、図2(b)の電位分布図に示されている
ように、電位の障壁ができてメッシュのバイアス電極3
1部分近くで跳ね返され、真空排気管12内には入射で
きない。
は、高電圧ターミナル2の電位に対して、図2(b)に
示すように、プラスの電圧を出力する電源38を作動さ
せ、数kVの電圧を電流導入端子36に印加することに
よって、バイアス電極31が高電圧ターミナル2の電位
に対し(+)数kV高くなる。これによりイオン源4か
ら引き出されイオン源排気チャンバ14内で中性粒子と
衝突し、排気管13に或る速度で入射してきたイオンの
エネルギが、メッシュのバイアス電極31に印加した電
圧より低いと、図2(b)の電位分布図に示されている
ように、電位の障壁ができてメッシュのバイアス電極3
1部分近くで跳ね返され、真空排気管12内には入射で
きない。
【0026】一方、グランド側(図で左側)では、従来
の真空排気管12で、図8に示すようにポンプ接続管1
5の管壁付近で生成された電子が該真空排気管12内の
途中で衝突せずに高電圧ターミナル2の電位まで加速さ
れると非常に高いエネルギまで加速され、この電子がイ
オン源排気チャンバ14の管壁で衝突することによりエ
ネルギの高いX線が多量に発生した。これに対し、本実
施例では、真空排気管12のグランド側の電流導入端子
43に、グランド電位に対して(−)数kVの電圧を印
加することによって、メッシュのバイアス電極32部分
がグランド電位よりマイナスになり、図2(b)の電位
分布図に示されているように、電子にとって電位の障壁
となり、高電圧ターミナル2内でイオンが真空排気管1
2に入射できないのと同様に、電子も真空排気管12内
に入ることができない。以上のことから、グランド電位
から高電圧ターミナル2まで加速される電子が減少する
ので、X線量も減少する。
の真空排気管12で、図8に示すようにポンプ接続管1
5の管壁付近で生成された電子が該真空排気管12内の
途中で衝突せずに高電圧ターミナル2の電位まで加速さ
れると非常に高いエネルギまで加速され、この電子がイ
オン源排気チャンバ14の管壁で衝突することによりエ
ネルギの高いX線が多量に発生した。これに対し、本実
施例では、真空排気管12のグランド側の電流導入端子
43に、グランド電位に対して(−)数kVの電圧を印
加することによって、メッシュのバイアス電極32部分
がグランド電位よりマイナスになり、図2(b)の電位
分布図に示されているように、電子にとって電位の障壁
となり、高電圧ターミナル2内でイオンが真空排気管1
2に入射できないのと同様に、電子も真空排気管12内
に入ることができない。以上のことから、グランド電位
から高電圧ターミナル2まで加速される電子が減少する
ので、X線量も減少する。
【0027】図3は、本発明の他の実施例を示す要部説
明図であり、図中、図1に記載した符号と同一の符号は
同一ないし同類部分を示すものとする。この実施例で
は、高電圧側のメッシュのバイアス電極31の電流導入
端子36に印加する電源は、イオン源4の引出し電源5
1の出力端子から並列に接続されており、電流導入端子
36に印加する電圧を調整したい場合は、可変抵抗器5
2を、イオン源引出し電源51の出力端子と高電圧ター
ミナル2の接地電位との間に取付け、該可変抵抗器52
の中間の出力端から電流導入端子36に接続することに
よって、可変抵抗器52の抵抗値を変えて調整する。
明図であり、図中、図1に記載した符号と同一の符号は
同一ないし同類部分を示すものとする。この実施例で
は、高電圧側のメッシュのバイアス電極31の電流導入
端子36に印加する電源は、イオン源4の引出し電源5
1の出力端子から並列に接続されており、電流導入端子
36に印加する電圧を調整したい場合は、可変抵抗器5
2を、イオン源引出し電源51の出力端子と高電圧ター
ミナル2の接地電位との間に取付け、該可変抵抗器52
の中間の出力端から電流導入端子36に接続することに
よって、可変抵抗器52の抵抗値を変えて調整する。
【0028】この実施例によれば、イオン源4より引き
出されたイオンが中性粒子と衝突して真空排気管12内
に入射するイオンのエネルギは、イオン源4より引き出
された電圧(数10kV)よりは低いので、高圧側のバ
イアス電極31に印加する電圧は、そのイオンを引き出
すためのイオン源4に印加した電圧以下の電圧を印加さ
れることになる。
出されたイオンが中性粒子と衝突して真空排気管12内
に入射するイオンのエネルギは、イオン源4より引き出
された電圧(数10kV)よりは低いので、高圧側のバ
イアス電極31に印加する電圧は、そのイオンを引き出
すためのイオン源4に印加した電圧以下の電圧を印加さ
れることになる。
【0029】図4(a)は更に他の実施例を示す要部縦
断面図、同図(b)は同図(a)のIV−IV線断面図であ
って、図中、図1に記載した符号と同一の符号は同一な
いし同類部分を示すものとする。この実施例では、前記
した実施例(図1)においてグランド側のポンプ接続管
15の管壁部分で発生した2次電子を真空排気管12に
入射させないために電気的な遮蔽を用いたのに対し、バ
イアス電極チャンバ39内に1対の永久磁石53を取付
け、磁場によって電子の軌道を偏向し、真空排気管12
内に入射させないようにしている。この実施例によって
も、前記実施例と同様にX線量を減らすことができる。
断面図、同図(b)は同図(a)のIV−IV線断面図であ
って、図中、図1に記載した符号と同一の符号は同一な
いし同類部分を示すものとする。この実施例では、前記
した実施例(図1)においてグランド側のポンプ接続管
15の管壁部分で発生した2次電子を真空排気管12に
入射させないために電気的な遮蔽を用いたのに対し、バ
イアス電極チャンバ39内に1対の永久磁石53を取付
け、磁場によって電子の軌道を偏向し、真空排気管12
内に入射させないようにしている。この実施例によって
も、前記実施例と同様にX線量を減らすことができる。
【0030】図5は、本発明の更に他の実施例を示す要
部縦断面図であって、図中、図1に記載した符号と同一
の符号は同一ないし同類部分を示すものとする。この実
施例では、グランド側のバイアス電極が、金属メッシュ
の代りに円筒電極61で構成されている。この場合、円
筒電極62の内径d1 は電極22の中央部の孔の内径d
2 より大きく構成される。
部縦断面図であって、図中、図1に記載した符号と同一
の符号は同一ないし同類部分を示すものとする。この実
施例では、グランド側のバイアス電極が、金属メッシュ
の代りに円筒電極61で構成されている。この場合、円
筒電極62の内径d1 は電極22の中央部の孔の内径d
2 より大きく構成される。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、内
部にイオン源を有する高電圧ターミナルとその回りを囲
繞するグランド電位のシールドボックスとの間に、イオ
ン源内部を排気するための真空排気管を有するイオン加
速装置において、真空排気管のグランド側のバイアス電
極チャンバ内にマイナスのバイアス電極を、また高圧側
のバイアス電極チャンバ内にプラスのバイアス電極をそ
れぞれ取付けたことにより、真空排気管の高圧側の入口
付近の空間にプラスの電場が形成されるのでイオンにつ
いて電位的な障壁が形成され、イオンが真空排気管に入
射できないので、イオンの衝突によって生成される2次
電子が原因で発生するX線を抑制することができ、ま
た、グランド側の出口付近の空間にマイナスの電場が形
成されるので電子にとって電位的な障壁が形成され、イ
オンの衝突によって生成される2次電子が真空排気管内
に入ることができないので、高いエネルギを持った電子
が管壁に衝突して生ずる高いエネルギのX線は発生され
にくくなり、X線量を減らすことができる。
部にイオン源を有する高電圧ターミナルとその回りを囲
繞するグランド電位のシールドボックスとの間に、イオ
ン源内部を排気するための真空排気管を有するイオン加
速装置において、真空排気管のグランド側のバイアス電
極チャンバ内にマイナスのバイアス電極を、また高圧側
のバイアス電極チャンバ内にプラスのバイアス電極をそ
れぞれ取付けたことにより、真空排気管の高圧側の入口
付近の空間にプラスの電場が形成されるのでイオンにつ
いて電位的な障壁が形成され、イオンが真空排気管に入
射できないので、イオンの衝突によって生成される2次
電子が原因で発生するX線を抑制することができ、ま
た、グランド側の出口付近の空間にマイナスの電場が形
成されるので電子にとって電位的な障壁が形成され、イ
オンの衝突によって生成される2次電子が真空排気管内
に入ることができないので、高いエネルギを持った電子
が管壁に衝突して生ずる高いエネルギのX線は発生され
にくくなり、X線量を減らすことができる。
【0032】また、グランド側のマイナスのバイアス電
極の代りに1対の永久磁石を取付けた場合も、該永久磁
石の磁場によって電子の軌道を偏向し、グランド側の管
壁部分で発生した2次電子を真空排気管内に入射させな
いようにできるので、前記と同様にX線量を減らすこと
ができる。
極の代りに1対の永久磁石を取付けた場合も、該永久磁
石の磁場によって電子の軌道を偏向し、グランド側の管
壁部分で発生した2次電子を真空排気管内に入射させな
いようにできるので、前記と同様にX線量を減らすこと
ができる。
【図1】本発明の一実施例を示し、(a)は真空排気管
の縦断面図、(b)はI−I線断面図である。
の縦断面図、(b)はI−I線断面図である。
【図2】(a),(b)は本発明の真空排気管の異った
動作の模式図と電位分布図である。
動作の模式図と電位分布図である。
【図3】本発明の他の実施例を示す要部説明図である。
【図4】(a)は本発明の他の実施例を示す要部断面
図、(b)はIV−IV線断面図である。
図、(b)はIV−IV線断面図である。
【図5】本発明の更に他の実施例を示す要部断面図であ
る。
る。
【図6】従来のイオン加速装置を備えたイオン注入装置
を示す平面図である。
を示す平面図である。
【図7】従来の真空排気管の断面図である。
【図8】(a)ないし(d)は従来の真空排気管内での
X線の発生機構の模式図である。
X線の発生機構の模式図である。
1 シールドボックス 2 高電圧ターミナル 4 イオン源 12 真空排気管 13 排気管 14 イオン源排気チャンバ 15 ポンプ接続管 16 真空ポンプ 21 絶縁材 22 電極 23,24 取付フランジ 25 抵抗 31,32 バイアス電極 33,39 バイアス電極チャンバ 34,40 固定碍子 35,41 碍子製ねじ 36,43 電流導入端子 37,42 ケーブル 38,44 出力電源 51 イオン源引出し電源 52 可変抵抗器 53 永久磁石 61 円筒電極
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H01L 21/265 H05H 5/02 B 9014−2G
Claims (2)
- 【請求項1】 内部にイオン源を有する高電圧ターミナ
ルとその回りを囲繞するグランド電位のシールドボック
スとの間に、イオン源内部を排気するための真空排気管
を有するイオン加速装置において、真空排気管のグラン
ド側のバイアス電極チャンバ内にマイナスのバイアス電
極を、また高圧側のバイアス電極チャンバ内にプラスの
バイアス電極をそれぞれ取付けたことを特徴とするイオ
ン加速装置。 - 【請求項2】 内部にイオン源を有する高電圧ターミナ
ルとその回りを囲繞するグランド電位のシールドボック
スとの間に、イオン源内部を排気するための真空排気管
を有するイオン加速装置において、真空排気管のグラン
ド側のバイアス電極チャンバ内に1対の永久磁石を取付
け、高圧側のバイアス電極チャンバ内にプラスのバイア
ス電極を取付けたことを特徴とするイオン加速装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4209100A JPH0660836A (ja) | 1992-08-05 | 1992-08-05 | イオン加速装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4209100A JPH0660836A (ja) | 1992-08-05 | 1992-08-05 | イオン加速装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0660836A true JPH0660836A (ja) | 1994-03-04 |
Family
ID=16567291
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4209100A Pending JPH0660836A (ja) | 1992-08-05 | 1992-08-05 | イオン加速装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0660836A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008116467A (ja) * | 2007-12-03 | 2008-05-22 | Ulvac Japan Ltd | 表面分析装置、及び表面分析方法 |
| WO2015137150A1 (ja) * | 2014-03-12 | 2015-09-17 | 株式会社アルバック | イオン照射装置、イオン照射方法 |
| JP2020038776A (ja) * | 2018-09-03 | 2020-03-12 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 荷電粒子装置 |
| JP2024517770A (ja) * | 2021-05-12 | 2024-04-23 | アクセリス テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 複数のバイアス電極を有するイオン源 |
-
1992
- 1992-08-05 JP JP4209100A patent/JPH0660836A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008116467A (ja) * | 2007-12-03 | 2008-05-22 | Ulvac Japan Ltd | 表面分析装置、及び表面分析方法 |
| WO2015137150A1 (ja) * | 2014-03-12 | 2015-09-17 | 株式会社アルバック | イオン照射装置、イオン照射方法 |
| JP5877936B1 (ja) * | 2014-03-12 | 2016-03-08 | 株式会社アルバック | イオン照射装置、イオン照射方法 |
| JP2020038776A (ja) * | 2018-09-03 | 2020-03-12 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | 荷電粒子装置 |
| JP2024517770A (ja) * | 2021-05-12 | 2024-04-23 | アクセリス テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 複数のバイアス電極を有するイオン源 |
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